KR20120115804A - 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러 - Google Patents

발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러 Download PDF

Info

Publication number
KR20120115804A
KR20120115804A KR1020110033337A KR20110033337A KR20120115804A KR 20120115804 A KR20120115804 A KR 20120115804A KR 1020110033337 A KR1020110033337 A KR 1020110033337A KR 20110033337 A KR20110033337 A KR 20110033337A KR 20120115804 A KR20120115804 A KR 20120115804A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
emitting device
unit
tested
sorting
Prior art date
Application number
KR1020110033337A
Other languages
English (en)
Inventor
김태윤
장태훈
정시환
김형희
Original Assignee
미래산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미래산업 주식회사 filed Critical 미래산업 주식회사
Priority to KR1020110033337A priority Critical patent/KR20120115804A/ko
Publication of KR20120115804A publication Critical patent/KR20120115804A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67271Sorting devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/67333Trays for chips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구와 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 갖는 분류기구, 상기 분류기구가 제1축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제1결합기구, 상기 제1결합기구가 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제2결합기구, 및 상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위한 이동유닛을 포함하는 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 작업의 정확성을 향상시킴으로써 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.

Description

발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러{Luminous Element Sorting Apparatus and Luminous Element Test Handler}
본 발명은 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러에 관한 것이다.
발광소자(Luminous element)는 전기를 빛으로 변환하는 반도체를 이용한 소자로, 엘이디(LED, Light-emitting Diode), 반도체 레이저(Semiconductor laser) 등을 말하며, 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프, 숫자표시 장치나 계산기의 카드 판독기, 백라이트 등 각종 분야에서 널리 사용되고 있다.
이러한 발광소자는 여러 가지 공정을 거쳐 제조되는데, 이 공정에는 발광소자가 가지는 성능을 테스트하는 공정, 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정 등이 포함된다.
상술한 바와 같은 공정들을 거쳐 정상적으로 작동되지 않는 발광소자를 제외시키는 한편, 정상적으로 작동되는 발광소자를 그 성능에 따라 등급별로 구분하여 출하하게 되는데, 이러한 공정들이 제대로 이루어지지 않는다면 정상적으로 작동되는 발광소자임에도 폐기되거나 발광소자가 실제로 가지는 성능과 다른 등급으로 구분되어 출하될 수 있다. 이에 따라 발생되는 손실 등이 발광소자에 대한 제조단가를 높일 수 있고, 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 저하시킴으로써, 제품의 경쟁력을 약화시키는 결과를 초래할 수 있다.
따라서, 발광소자가 갖춘 성능에 대해 향상된 신뢰도를 구현할 수 있으면서도, 발광소자에 대한 제조단가를 낮출 수 있도록 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 장치의 개발이 필요하다.
본 발명은 상술한 바와 같은 필요를 해소하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있는 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러를 제공하는 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명에 따른 발광소자 분류장치는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구와 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 갖는 분류기구, 상기 분류기구가 제1축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제1결합기구, 상기 제1결합기구가 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제2결합기구, 및 상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위한 이동유닛을 포함할 수 있다. 상기 이동유닛은 상기 분류기구를 상기 제1축방향으로 회전시키는 제1구동기구, 및 상기 제1결합기구를 상기 제2축방향으로 회전시키는 제2구동기구를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러는 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부, 발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부, 테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부, 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 발광소자 분류장치, 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 발광소자 분류장치로 이송하는 이송부를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.
본 발명은 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 작업의 정확성을 향상시킴으로써 발광소자가 갖춘 성능에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치가 설치된 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도
도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 분류기구의 개략적인 사시도
도 4는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도
도 5는 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 평면도
도 6은 본 발명에 따른 분류기구가 회전하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도
도 7은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 개략적인 사시도
도 8은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 사시도
도 9는 도 7에서 본 발명에 따른 수납부가 개방된 상태를 나타낸 개략적인 사시도
도 10은 본 발명에 따른 공급부, 픽커부, 테스트부, 및 이송부의 개략적인 사시도
도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 로딩위치, 테스트위치, 및 언로딩위치에 대한 개념도
도 12는 본 발명에 따른 접속유닛의 개략적인 사시도
이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
<발광소자 분류장치>
도 1은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치가 설치된 발광소자 테스트 핸들러의 개략적인 사시도, 도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 분류기구의 개략적인 사시도, 도 4는 본 발명에 따른 분류부의 개략적인 사시도, 도 5는 본 발명에 따른 전달기구의 개략적인 평면도, 도 6은 본 발명에 따른 분류기구가 회전하는 상태를 설명하기 위한 개략적인 작동상태도, 도 7은 본 발명에 따른 발광소자 분류장치의 개략적인 사시도, 도 8은 본 발명에 따른 수납부의 개략적인 사시도, 도 9는 도 7에서 본 발명에 따른 수납부가 개방된 상태를 나타낸 개략적인 사시도이다.
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 발광소자 테스트 핸들러(100)에 설치된다. 상기 발광소자 테스트 핸들러(100)에서는 테스트될 발광소자를 공급하는 공정, 공급된 발광소자를 테스트하는 테스트공정 등이 이루어진다. 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하는 공정을 수행한다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자(미도시)를 등급별로 분류하기 위한 분류부(1)를 포함한다. 상기 분류부(1)는 테스트된 발광소자에 대한 테스트 결과에 따라 해당 발광소자에 부여된 등급 정보를 제공받을 수 있다. 상기 분류부(1)는 제공된 등급 정보에 기초하여 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 테스트된 발광소자에 부여된 등급 정보는 상기 발광소자 테스트 핸들러(100, 도 1에 도시됨)에 설치된 테스터(미도시)로부터 제공될 수 있다.
도 2를 참고하면, 상기 분류부(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 분류기구(11), 상기 분류기구(11)가 제1축방향(X축 방향)으로 회전 가능하게 결합되는 제1결합기구(12), 상기 제1결합기구(12)가 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 가능하게 결합되는 제2결합기구(13), 및 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로부터 반출되는 방향을 변경시키기 위한 이동유닛(14)을 포함한다. 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)은 서로 수직한 방향이다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)는 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구(111, 도 2에 도시됨) 및 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구(112, 도 2에 도시됨)를 포함한다. 상기 분류기구(11)는 상기 반입구(111) 및 상기 반출구(112) 각각에 연통되게 연결되는 이동로(미도시)를 포함할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반입구(111)를 통해 상기 분류기구(11)로 진입할 수 있고, 상기 이동로를 거쳐 상기 반출구(112)를 통해 상기 분류기구(11)로부터 반출될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)에 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 가능하게 결합된다. 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전함에 따라, 상기 반출구(112)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전함에 따라 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전함에 따라, 상기 반출구(112)는 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 상기 분류기구(11)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전함으로써, 테스트된 발광소자가 상기 반출구(112)로부터 반출되는 방향을 변경할 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자는 등급별로 상기 반출구(112)로부터 서로 다른 방향으로 반출됨으로써, 등급별로 분류될 수 있다.
본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우와 대비하여 볼 때, 다음과 같은 작용 효과를 도모할 수 있다.
우선, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 직선 이동하면서 테스트된 발광소자를 분류하는 경우, 상기 분류기구(11)가 직선 이동함에 따라 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위한 반입구(111)의 위치 또한 직선 이동하게 된다. 따라서, 상기 분류기구(11)가 이동함에 따라 테스트된 발광소자가 반입구(111)로 진입하기 위해 이동되는 거리 또한 달라지므로, 상기 분류기구(11)의 위치에 따라 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 이동하는 거리가 증가할 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하는데 걸리는 시간이 증가할 수 있다.
다음, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하면서 테스트된 발광소자를 분류한다. 따라서, 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 분류하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하여도, 상기 반입구(111)의 위치가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 변경 없이 유지될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 이동하는 거리가 소정 범위 내로 유지될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하기 위해 이동하는 거리를 줄일 수 있고, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 진입하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 분류기구(11)에는 상기 이동로가 상기 반입구(111)에서 상기 반출구(112)를 향할수록 크기가 감소되게 형성될 수 있다. 이에 따라, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로 반입되기 위한 통로 면적을 넓힐 수 있고, 테스트된 발광소자가 상기 분류기구(11)로부터 반출되기 위한 통로 면적을 좁힐 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 걸림 등에 의해 상기 분류기구(11)로 반입되지 못하는 등 오작동이 발생할 가능성을 줄일 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 테스트된 발광소자가 테스트 결과에 따른 등급에 정확하게 분류되도록 할 수 있다.
상기 분류기구(11)는 테스트된 발광소자가 통과할 수 있도록 전체적으로 중공의 원통 형태로 형성될 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 반입구(111)에서 상기 반출구(112)를 향할수록 직경이 감소되게 형성될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 분류기구(11)는 전체적으로 중공의 사각 형태 등 다각형 형태로 형성될 수도 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1결합기구(12)에는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전 가능하게 결합된다. 도 2에 점선으로 도시된 바와 같이 상기 분류기구(11)는 상기 제1결합기구(12)에 결합된 상태로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다.
상기 제1결합기구(12)에는 제1구동회전부재(121) 및 제1종동회전부재(122)가 결합된다. 상기 제1구동회전부재(121)에는 상기 분류기구(11)의 일측이 결합된다. 상기 제1종동회전부재(122)에는 상기 분류기구(11)의 타측이 결합된다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1구동회전부재(121)와 상기 제1종동회전부재(122)를 제1회전축(12a)으로 하여 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 즉, 상기 분류기구(11)는 양측이 상기 제1결합기구(12)에 지지된 상태로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)의 일측 또는 타측만 상기 제1결합기구(12)에 결합된 것과 비교할 때, 상기 분류기구(11)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1결합기구(12)에 견고하게 지지된 상태로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 반복적으로 회전함에 따라 상기 분류기구(11)와 상기 제1결합기구(12) 간의 결합력이 약화됨으로써 상기 분류기구(11)가 상기 제1결합기구(12)로부터 분리되는 것을 방지할 수 있다.
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1구동회전부재(121)는 상기 분류기구(11)를 기준으로 상기 제1종동회전부재(122) 반대편에 위치되게 설치된다. 상기 제1구동회전부재(121)는 상기 제1결합기구(12)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 제1구동회전부재(121)는 상기 이동유닛(14)에 연결된다. 상기 제1구동회전부재(121)는 상기 이동유닛(14)으로부터 제공되는 회전력에 의해 회전된다. 상기 제1구동회전부재(121)가 회전함에 따라, 상기 분류기구(11)가 회전할 수 있다. 상기 제1구동회전부재(121)와 상기 제1결합기구(12) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1종동회전부재(122)는 상기 제1결합기구(12)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1종동회전부재(122)와 상기 제1구동회전부재(121) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 제1종동회전부재(122)는 상기 분류기구(11)가 회전함에 따라 회전할 수 있다. 상기 제1종동회전부재(122)와 상기 제1결합기구(12) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제1결합기구(12)에는 제1설치공(123)이 형성된다. 상기 제1설치공(123)은 상기 제1결합기구(12)를 관통하여 형성될 수 있다. 상기 분류기구(11)는 상기 제1설치공(123)에 삽입된 상태로 상기 제1결합기구(12)에 결합될 수 있다. 상기 분류기구(11)가 제1축방향(X축 방향)으로 회전하는 것에 상기 제1결합기구(12)가 방해되지 않도록, 상기 제1설치공(123)은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 길게 형성될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2결합기구(13)에는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전 가능하게 결합된다. 도 3에 도시된 바와 같이 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2결합기구(13)에 결합된 상태로 상기 제2축방향(X축 방향)으로 회전할 수 있다. 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전함에 따라, 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 상기 분류기구(11)는 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하면서 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
상기 제2결합기구(13)에는 제2구동회전부재(131) 및 제2종동회전부재(132)가 결합된다. 상기 제2구동회전부재(131)에는 상기 제1결합기구(12)의 일측이 결합된다. 상기 제2종동회전부재(132)에는 상기 제1결합기구(12)의 타측이 결합된다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2구동회전부재(131)와 상기 제2종동회전부재(132)를 제2회전축(13a)으로 하여 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 즉, 상기 제1결합기구(12)는 양측이 상기 제2결합기구(13)에 지지된 상태로 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)의 일측 또는 타측만 상기 제2결합기구(13)에 결합된 것과 비교할 때, 상기 제1결합기구(12)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)를 지지하기 위한 지지력을 증가시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.
첫째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2결합기구(13)에 견고하게 지지된 상태로 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 반복적으로 회전함에 따라 상기 제1결합기구(12)와 상기 제2결합기구(13) 간의 결합력이 약화됨으로써 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2결합기구(13)로부터 분리되는 것을 방지할 수 있다.
둘째, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 제1결합기구(12)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하고 정지함에 따라 발생하는 진동 등을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하는 공정에 대한 정확성을 향상시킬 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2구동회전부재(131)는 상기 제1결합기구(12)를 기준으로 상기 제2종동회전부재(132) 반대편에 위치되게 설치된다. 상기 제2구동회전부재(131)는 상기 제2결합기구(13)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 제2구동회전부재(131)는 상기 이동유닛(14)에 연결된다. 상기 제2구동회전부재(131)는 상기 이동유닛(14)으로부터 제공되는 회전력에 의해 회전된다. 상기 제2구동회전부재(131)가 회전함에 따라, 상기 제1결합기구(12)가 회전할 수 있다. 상기 제2구동회전부재(131)와 상기 제2결합기구(13) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2종동회전부재(132)는 상기 제2결합기구(13)에 회전 가능하게 결합된다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2종동회전부재(132)와 상기 제2구동회전부재(131) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 제2종동회전부재(132)는 상기 제1결합기구(12)가 회전함에 따라 회전할 수 있다. 상기 제2종동회전부재(132)와 상기 제2결합기구(13) 사이에는 베어링이 설치될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 제2결합기구(13)에는 제2설치공(133)이 형성된다. 상기 제2설치공(133)은 상기 제2결합기구(13)를 관통하여 형성될 수 있다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2설치공(133)에 삽입된 상태로 상기 제2결합기구(13)에 결합될 수 있다. 상기 제1결합기구(12)는 상기 제2설치공(133)에 의해 상기 제2결합기구(13)에 방해되지 않고 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 이동유닛(14)은 상기 분류기구(11)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시키는 제1구동기구(141) 및 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전시키는 제2구동기구(142)를 포함한다.
상기 제1구동기구(141)는 상기 분류기구(11)를 상기 제1회전축(12a)을 중심으로 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1구동회전부재(121)에 연결된다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1구동회전부재(121)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시킴으로써, 상기 분류기구(11)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 회전시킬 수 있다. 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1결합기구(12)에 설치된다. 상기 제1결합기구(12)가 상기 제2구동기구(142)에 의해 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전되면, 상기 제1구동기구(141)는 상기 제1결합기구(12)와 함께 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다.
상기 제1구동기구(141)는 제1모터(1411)와, 상기 제1모터(1411)에 의해 제공되는 회전력을 상기 제1구동회전부재(121)에 전달하기 위한 제1연결수단(1412)를 포함할 수 있다. 상기 제1모터(1411)는 상기 제1결합기구(12)에 설치된다. 상기 제1연결수단(1412)은 일측이 상기 제1모터(1411)에 연결되고, 타측이 상기 제1구동회전부재(121)에 연결된다. 상기 제1연결수단(1412)은 풀리, 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다.
상기 제2구동기구(142)는 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2회전축(13a)을 중심으로 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전시킬 수 있다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제2구동회전부재(131)에 연결된다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제2구동회전부재(131)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전시킴으로써, 상기 제1결합기구(12)를 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(11)가 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 상기 제2구동기구(142)는 상기 제2결합기구(13)에 설치된다.
상기 제2구동기구(142)는 제2모터(1421)와, 상기 제2모터(1421)에 의해 제공되는 회전력을 상기 제2구동회전부재(131)에 전달하기 위한 제2연결수단(1422)를 포함할 수 있다. 상기 제2모터(1421)는 상기 제2결합기구(13)에 설치된다. 상기 제2연결수단(1422)은 일측이 상기 제2모터(1421)에 연결되고, 타측이 상기 제2구동회전부재(131)에 연결된다. 상기 제2연결수단(1422)은 풀리, 체인, 벨트 등을 포함할 수 있다.
도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 분류부(1)는 상기 반출구(112, 도 6에 도시됨)로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달기구(15)를 포함한다. 도 6에 도시된 전달기구는 도 5의 A-A 선을 기준으로 한 단면도이다. 상기 전달기구(15)는 지지프레임(16, 도 4에 도시됨)에 결합된다. 상기 지지프레임(16)에는 상기 제2결합기구(13)가 결합된다. 상기 제2결합기구(13)는 상기 지지프레임(16)을 기준으로 상기 전달기구(15) 반대편에 위치되게 상기 지지프레임(16)에 결합될 수 있다. 예컨대, 상기 제2결합기구(13)는 상기 지지프레임(16)의 윗면에 결합될 수 있고, 상기 전달기구(15)는 상기 지지프레임(16)의 밑면에 결합될 수 있다.
도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자가 통과하기 위한 전달공(151, 도 5에 도시됨)이 복수개 형성된다. 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 분류기구(11)는 상기 반출구(112)가 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전할 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 반출구(112)를 통해 상기 분류기구(11)로부터 반출된 후, 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 통해 상기 전달기구(15)를 통과할 수 있다. 상기 전달공(151)은 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 테스트된 발광소자가 통과할 수 있는 형태이면 직방체 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다.
도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하는 개수의 전달공(151, 도 5에 도시됨)이 형성될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 반출구(112)가 테스트된 발광소자의 등급과 일치하는 전달공(151)을 향하도록 함으로써, 테스트된 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다. 상기 전달기구(15)에는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수보다 많은 개수의 전달공(151)이 형성될 수도 있다.
도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 전달기구(15)에는 상기 전달공(151)들이 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되어 격자 형태를 이루며 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하면, 상기 반출구(121)는 상기 전달공(151)들 중 어느 하나를 향하도록 회전할 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 전달공(151)들은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 형성되어 복수개의 행을 이룰 수 있다. 상기 행들에는 서로 동일한 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있고, 서로 다른 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있다. 상기 행들은 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되어 복수개의 열을 이룰 수 있다. 상기 열들에는 서로 동일한 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있고, 서로 다른 개수의 전달공(151)들이 포함될 수도 있다.
도 4 내지 도 6을 참고하면, 상기 전달기구(15)는 상기 분류기구(11)가 상기 제1축방향(X축 방향)과 상기 제2축방향(Y축 방향)으로 회전하기 위한 이동홈(152, 도 6에 도시됨)을 포함한다. 이에 따라, 상기 분류기구(11) 및 상기 전달기구(15)는 상기 반출구(112) 및 상기 전달공(151)들이 서로 근접하게 위치되도록 설치될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 상기 반출구(112)를 통해 반출된 테스트된 발광소자가 상기 전달공(151)으로 정확하게 이동하도록 구현될 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 테스트된 발광소자가 상기 반출구(112)에서 상기 전달공(151)으로 이동하기 위한 거리 및 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 개수의 발광소자를 분류할 수 있다. 상기 이동홈(152)은 전체적으로 반구 형태로 형성될 수 있다.
도 6 내지 도 9를 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류부(1)로부터 이송된 발광소자를 수납하기 위한 수납부(2)를 포함한다.
상기 수납부(2)는 상기 분류부(1)에 의해 분류되는 발광소자를 등급별로 구분하여 수납할 수 있다. 상기 수납부(2)는 상기 분류부(1) 아래에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 반출구(112, 도 6에 도시됨)로부터 반출된 발광소자는 상기 전달공(151, 도 6에 도시됨)들 중 어느 하나를 통과한 후 상기 수납부(2)에 수납될 수 있다.
상기 수납부(2)는 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납기구(21, 도 8에 도시됨)를 포함한다. 상기 수납부(2)는 상기 수납기구(21)를 복수개 포함한다. 상기 수납부(2)는 테스트된 발광소자를 분류하고자 하는 등급 개수와 대략 일치하거나 등급 개수보다 많은 개수의 수납기구(21)를 포함할 수 있다. 상기 분류부(1)는 상기 수납기구(21)들 중에서 테스트된 발광소자가 테스트 결과에 따른 등급에 해당하는 수납기구(21)에 수납되도록 분류할 수 있다. 상기 수납기구(21)는 전체적으로 일측이 개방된 직방체 형태로 형성될 수 있다. 테스트된 발광소자는 개방된 일측을 통해 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 수납기구(21)는 전체적으로 일측이 개방된 원통 형태 등 다른 형태로 형성될 수도 있다. 상기 수납기구(21)들은 상기 분류부(1) 아래에 위치되게 설치될 수 있다.
상기 수납기구(21)에는 상기 분류기구(11)로부터 반출된 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 분류부(1)가 상기 전달기구(15)를 포함하는 경우, 상기 수납기구(21)에는 상기 분류기구(11)로부터 반출되어 상기 전달기구(15)를 통과한 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 전달기구(15)는 상기 분류기구(11) 및 상기 수납부(2) 사이에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 전달기구(15)는 상기 수납기구(21)의 개수와 대략 일치하는 개수의 전달공(151)을 포함할 수 있다.
도 6 내지 도 9를 참고하면, 본 발명에 따른 수납부(2)는 상기 수납기구(21)가 설치되는 수납유닛(22) 및 상기 수납유닛(22)이 설치되는 수납본체(23)를 포함한다.
상기 수납유닛(22)은 상기 수납기구(21)가 삽입되기 위한 삽입공(221, 도 8에 도시됨)을 포함한다. 상기 수납기구(21)는 상기 삽입공(221)에 삽입됨으로써 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있다. 상기 수납기구(21)는 상기 삽입공(221)으로부터 이탈됨으로써 상기 수납유닛(22)으로부터 분리될 수 있다. 상기 수납유닛(22)은 상기 수납기구(21)가 복수개 설치될 수 있도록 상기 삽입공(221)을 복수개 포함할 수 있다. 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있는 수납기구(21)의 개수와 상기 삽입공(221)의 개수는 대략 일치할 수 있다.
상기 수납본체(23)에는 상기 수납유닛(22)이 개폐(開閉) 가능하도록 이동 가능하게 결합된다. 즉, 상기 수납유닛(22)은 개방(開放)된 상태 또는 폐쇄(閉鎖)된 상태로 되도록 이동할 수 있다. 개방된 상태라 함은, 도 9에 도시된 바와 같이 상기 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 있는 상태이다. 상기 수납유닛(22)이 개방된 상태에서, 테스트된 발광소자로 채워진 수납기구(21)가 상기 수납유닛(22)으로부터 분리된 후에 비어있는 수납기구(21)로 교체될 수 있다. 폐쇄된 상태라 함은, 도 7에 도시된 바와 같이 상기 수납기구(21, 도 8에 도시됨)가 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내어지거나 상기 수납유닛(22)에 설치될 수 없는 상태이다. 상기 수납유닛(22)이 폐쇄된 상태일 때, 상기 수납기구(21)에는 발광소자가 수납될 수 있다. 상기 수납본체(23)에는 LM 레일이 결합될 수 있다. 상기 수납유닛(22)에는 상기 LM 레일에 이동 가능하게 결합되는 LM 블럭이 결합될 수 있다.
도 1, 도 6 내지 도 9를 참고하면, 상기 수납부(2)는 연결유닛(24)을 포함한다. 상기 연결유닛(24)은 상기 전달기구(15, 도 6에 도시됨) 및 상기 수납기구(21, 도 8에 도시됨) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 연결유닛(24)은 연결기구(241) 및 연결부재(242)를 포함한다.
상기 연결기구(241)는 일측이 상기 수납기구(21)에 연결된다. 상기 연결기구(241)는 일측이 상기 수납기구(21)에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 전달공(151, 도 6에 도시됨)에 연결된다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 전달공(151)에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(15)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(11), 상기 전달기구(15) 및 상기 연결기구(241)를 지나 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 상기 연결유닛(24)은 복수개의 연결기구(241)를 포함한다. 상기 연결유닛(24)은 상기 수납기구(21)들의 개수와 대략 일치하는 개수의 연결기구(241)를 포함할 수 있다. 상기 연결기구(241)들은 각각 일측이 상기 수납기구(21)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 상기 연결기구(241)들은 각각 상기 전달공(151)들 중 어느 하나에 연통되게 연결되도록 상기 전달기구(15)에 결합된다.
상기 연결기구(241)로 인해 상기 분류기구(11)와 상기 수납부(2)는 서로 소정 거리 이격된 위치에 설치될 수 있다. 상기 연결기구(241)들은 상기 분류기구(11)에서 상기 수납기구(21)를 향할수록 서로 간에 이격된 거리가 증가되게 형성될 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는 거리를 줄이면서도, 상기 수납기구(21)들이 서로 충분한 거리로 이격되도록 구현될 수 있다. 상기 연결기구(241)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 연결기구(241)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.
도 1, 도 6 내지 도 9를 참고하면, 상기 연결부재(242)는 상기 연결기구(241)의 아래에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(242)는 상기 수납기구(21) 위에 위치되게 설치된다. 상기 연결부재(242)는 발광소자가 통과할 수 있는 복수개의 연결공(2421, 도 7에 도시됨)을 포함한다. 상기 연결기구(241)는 타측이 상기 연결공(2421)에 연통되게 연결되도록 상기 연결부재(242)에 결합된다. 테스트된 발광소자는 상기 분류기구(11), 상기 전달기구(15) 및 상기 연결기구(241)를 지나 상기 연결공(2421)을 통과하여 상기 수납기구(21)에 수납될 수 있다. 상기 연결부재(242)는 상기 연결기구(241)와 대략 일치하는 개수의 연결공(2421)을 포함할 수 있다. 도 7에는 일부의 연결기구(241)만 도시되어 있으나, 상기 연결기구(241)가 도시되지 않은 연결공(2421)들 각각에도 도 1에 도시된 바와 같이 상기 연결기구(241)들이 연결될 수 있다.
<발광소자 테스트 핸들러>
이하에는 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 10은 본 발명에 따른 공급부, 픽커부, 테스트부, 및 이송부의 개략적인 사시도, 도 11은 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러에서 로딩위치, 테스트위치, 및 언로딩위치에 대한 개념도, 도 12는 본 발명에 따른 접속유닛의 개략적인 사시도이다.
도 1 및 도 10을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위한 발광소자 분류장치(10, 도 1에 도시됨), 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부(3), 테스트될 발광소자를 이송하는 픽커부(4), 테스트될 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어지는 테스트부(5), 및 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(5)에서 상기 발광소자 분류장치(10)로 이송하기 위한 이송부(6)를 포함한다. 상기 공급부(3)가 테스트될 발광소자를 공급하면, 상기 픽커부(4)가 상기 공급부(3)에서 상기 테스트부(5)로 테스트될 발광소자를 이송한다. 상기 테스트부(5)에서 테스트될 발광소자에 대한 테스트가 완료되면, 상기 이송부(6)는 테스트된 발광소자를 상기 테스트부(5)에서 상기 발광소자 분류장치(10)로 이송한다. 상기 이송부(6)에 의해 이송된 테스트된 발광소자는, 상기 발광소자 분류장치(10)에 의해 테스트 결과에 따라 등급별로 분류된다.
상기 발광소자 분류장치(10)는 상기 분류부(1) 및 상기 수납부(2)를 포함한다. 상기 발광소자 분류장치(10)는 상술한 바와 같으므로, 이에 대한 구체적인 설명은 생략한다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 공급부(3)는 테스트될 발광소자를 공급한다. 상기 공급부(3)는 상기 픽커부(4)가 테스트될 발광소자(미도시)를 픽업할 수 있는 위치에 테스트될 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(3)는 저장기구(31), 운반기구(32), 및 안착기구(33)를 포함한다.
상기 저장기구(31)는 테스트될 발광소자를 복수개 저장할 수 있다. 상기 저장기구(31)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 상기 운반기구(32)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장기구(31)는 테스트될 발광소자들이 상기 운반기구(32)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수 있다.
도 11을 참고하면, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)에 있어서, 상기 수납유닛(22)은 상기 저장기구(31)가 위치된 방향 쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 상기 저장기구(31)가 도 11을 기준으로 위쪽에 위치되게 설치된 경우, 상기 수납유닛(22)은 도 11을 기준으로 위쪽으로 개폐 가능하게 설치될 수 있다. 따라서, 작업자가 상기 저장기구(31)에 테스트될 발광소자를 추가로 저장시키기 위한 작업공간과, 상기 수납기구(21)를 상기 수납유닛(22)으로부터 꺼내거나 상기 수납기구(21)를 상기 수납유닛(22)에 설치하기 위한 작업공간을 일치시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)를 여러 대 설치할 때, 충분한 작업공간이 확보될 수 있도록 하면서 동일한 설치공간에 더 많은 대수를 설치할 수 있도록 설치공간을 효율적으로 활용하여 설치할 수 있다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 운반기구(32)는 상기 저장기구(31)로부터 공급된 테스트될 발광소자들을 상기 안착기구(33)로 이송한다. 상기 운반기구(32)는 진동을 이용하여 테스트될 발광소자들을 이송할 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 운반기구(32)는 테스트될 발광소자들을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 테스트될 발광소자들이 이송될 수 있다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 안착기구(33)에는 상기 운반기구(32)로부터 이송된 테스트될 발광소자가 안착된다. 상기 안착기구(33)는 테스트될 발광소자가 안착되는 홈(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 안착기구(33)는 상기 픽커부(4)가 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 설치될 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 공급부(3)는 감지부를 더 포함할 수 있다. 상기 감지부는 안착기구(33)에 설치되고, 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치하는지 여부를 감지한다. 상기 감지부로 광센서가 이용될 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 없는 것이 확인되면, 상기 운반기구(32)는 상기 안착기구(33)로 테스트될 발광소자를 이송할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치함에도 상기 운반기구(32)가 다른 테스트될 발광소자를 이송함으로써 발광소자들이 충돌에 의해 손상되거나 상기 픽커부(4)가 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
상기 감지부가 획득한 정보로부터 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 있는 것이 확인되면, 상기 픽커부(4)는 안착기구(33)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 안착기구(33)에 테스트될 발광소자가 위치하지 않음에도 상기 픽커부(4)가 작동됨으로써 발광소자를 픽업하지 못하는 등으로 인해 발생되는 에러를 방지할 수 있다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 공급부(3)는 복수개의 테스트될 발광소자를 공급할 수도 있다. 상기 공급부(3)는 상기 픽커부(4)가 한번에 픽업할 수 있는 발광소자의 개수와 동일한 개수의 발광소자를 공급할 수 있다. 상기 공급부(3)로 보울 피더(bowl feeder)가 사용될 수 있다.
도 1, 도 10 및 도 11을 참고하면, 상기 픽커부(4)는 테스트될 발광소자를 상기 공급부(3)에서 상기 테스트부(5)로 이송한다. 상기 픽커부(4)는 상기 안착기구(33)에 위치된 테스트될 발광소자를 픽업하여 상기 테스트부(5)로 이송할 수 있다. 상기 픽커부(4)는 상기 공급부(3) 및 상기 테스트부(5) 사이에 설치될 수 있다.
상기 픽커부(4)는 발광소자를 흡착할 수 있는 픽커(41) 및 상기 픽커(41)를 이동시키기 위한 이동기구(42)를 포함할 수 있다. 상기 픽커부(4)는 복수개의 픽커(41)를 포함할 수도 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)가 상기 공급부(3)에서 테스트될 발광소자를 픽업할 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(41)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)가 상기 테스트부(5)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치에 위치되게 상기 픽커(41)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동기구(42)는 상기 픽커(41)를 승하강시킬 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 테스트부(5)에서는 테스트할 발광소자를 테스트하는 공정이 이루어진다. 상기 테스트부(5)는 소켓(51), 지지부재(52), 및 구동유닛(53)을 포함한다. 상기 테스트부(5)에는 발광소자를 테스트하는 테스트유닛(54)이 설치된다. 상기 테스트부(5)는 상기 픽커부(4) 옆에 위치되게 설치될 수 있다.
상기 소켓(51)에는 발광소자가 안착될 수 있다. 상기 소켓(51)에 안착되는 발광소자는 흡착장치(미도시)에 의해 상기 소켓(51)에 흡착될 수 있다. 상기 소켓(51)은 상기 지지부재(52)에 복수개가 설치될 수 있다.
도 11을 참고하면, 상기 소켓(51)들은 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(4a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 순차적으로 위치될 수 있다. 상기 로딩위치(4a)는 상기 픽커부(4, 도 10에 도시됨)가 상기 소켓(51)에 테스트될 발광소자를 안착시킬 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(5a)는 상기 테스트유닛(54, 도 10에 도시됨)이 발광소자를 테스트할 수 있는 위치이다. 상기 테스트위치(5a)에는 상기 테스트유닛(54)이 설치된다. 상기 언로딩위치(6a)는 상기 이송부(6, 도 10에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 1에 도시됨)로 이송할 수 있는 위치이다. 상기 언로딩위치(6a)에는 상기 이송부(6)가 설치된다.
상기 소켓(51)들은 각각 테스트될 발광소자가 로딩되는 로딩위치(4a), 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(52)에 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 로딩위치(4a)에서는 상기 픽커부(4, 도 10에 도시됨)가 상기 소켓(51)에 테스트될 발광소자를 로딩하는 공정이 수행되고, 상기 테스트위치(5a)에서는 상기 테스트유닛(54, 도 10에 도시됨)이 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자를 테스트하는 공정이 수행되며, 상기 언로딩위치(6a)에서는 상기 이송부(6, 도 10에 도시됨)가 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 6에 도시됨)로 이송하는 공정이 수행된다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 지지부재(52)에는 상기 소켓(51)이 복수개 설치될 수 있다. 상기 지지부재(52)는 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 상기 소켓(51)들이 순차적으로 위치되도록 상기 구동유닛(53, 도 10에 도시됨)에 의해 회전될 수 있다. 상기 지지부재(52)는 상기 구동유닛(53)에 의해 회전축(52a, 도 10에 도시됨)을 중심으로 회전될 수 있다.
상기 지지부재(52)에는 상기 소켓(51)들이 회전축(52a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되어서 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지부재(52)가 회전축(52a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 소켓(51)들은 각각 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 동시에 위치될 수 있다.
상기 지지부재(52)에는 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 동시에 위치되는 소켓(51)들 외에 더 많은 개수의 소켓(51)이 설치될 수도 있다. 이에 따라, 상기 구동유닛(53)이 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시키는 각도를 줄일 수 있고, 상기 소켓(51)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 짧은 시간에 더 많은 발광소자들이 테스트되도록 할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 발광소자를 등급별로 분류할 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 구동유닛(53)은 테스트될 발광소자가 상기 소켓(51)에 로딩되는 로딩위치(4a), 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치(5a), 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓(51)으로부터 언로딩되는 언로딩위치(6a)에 상기 소켓(51)들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지부재(52)를 회전시킨다. 상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 구동유닛(53)이 상기 지지부재(52)를 회전축(52a)을 중심으로 회전시킴으로써, 상기 소켓(51)들은 상기 로딩위치(4a), 상기 테스트위치(5a), 및 상기 언로딩위치(6a)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다.
상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)에 직접 결합되어 상기 지지부재(52)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)이 소정 거리로 이격되어 설치되는 경우, 상기 구동유닛(53)은 상기 지지부재(52)의 회전축(52a)에 결합되는 샤프트, 상기 샤프트와 상기 모터를 연결하는 연결수단을 포함할 수 있다. 상기 연결수단은 풀리, 벨트 등을 포함할 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 테스트유닛(54)은 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자를 테스트할 수 있다. 발광소자는 상기 소켓(51)에 안착된 상태로 상기 테스트위치(5a)에 위치될 수 있다. 상기 테스트부(5)에는 복수개의 테스트유닛(54)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(54)은 발광소자의 테스트 결과 정보를 분석하는 테스터(미도시)에 연결될 수 있다. 상기 테스터는 테스트 결과 정보를 분석하여 발광소자가 가지는 성능에 따라 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(1)에 제공할 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 테스트유닛(54)은 접속유닛(541, 도 12에 도시됨) 및 측정유닛(542, 도 10에 도시됨)을 포함한다.
상기 접속유닛(541)은 상기 소켓(51)에 안착된 발광소자에 접속된다. 상기 접속유닛(541)은 발광소자에 접속되어 발광소자가 가지는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 접속유닛(541)은 발광소자를 발광시킬 수 있다. 상기 측정유닛(542)은 발광소자가 방출한 광으로부터 발광소자가 가지는 광특성을 측정할 수 있다.
상기 접속유닛(541)은 제1접속부재(541a, 도 12에 도시됨) 및 제2접속부재(541b, 도 12에 도시됨)를 포함할 수 있다. 상기 제1접속부재(541a) 및 제2접속부재(541b)는 서로 가까워지거나 멀어지게 이동될 수 있다. 상기 제1접속부재(541a) 및 제2접속부재(541b)가 서로 가까워지게 이동되면 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자에 접속될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 측정유닛(542)은 상기 테스트위치(5a)에 위치된 발광소자가 갖는 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(542)이 광특성 정보를 상기 테스터에 제공하면, 상기 테스터는 광특성 정보를 분석하여 발광소자가 갖춘 성능에 해당하는 등급을 부여한 후에, 이 등급 정보를 상기 분류부(1)에 제공할 수 있다.
상기 측정유닛(542)은 휘도, 파장 등을 포함하는 발광소자의 광특성을 측정할 수 있다. 상기 측정유닛(542)으로 휘도측정용 수광기, 파장측정용 수광기 등이 이용될 수 있으며, 측정하고자 하는 발광소자의 광특성에 해당하는 여러 종류의 장치가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 측정유닛(542)으로 발광소자의 광도, 광속, 조도, 분광분포, 색온도 등을 측정할 수 있는 장치가 이용될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 테스트부(5)에는 복수개의 테스트유닛(54)이 설치될 수 있다. 상기 테스트유닛(54)들은 각각 접속유닛(541) 및 측정유닛(542)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(54)들은 각각 발광소자를 테스트할 수 있다. 상기 소켓(51)들은 발광소자가 테스트되는 복수개의 테스트위치(5a)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 지지부재(52)에 설치될 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 이송부(6)는 테스트된 발광소자를 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송할 수 있다. 발광소자는 상기 픽커부(4)에 의해 상기 공급부(3)에서 픽업되어 상기 로딩위치(4a)에 위치된 소켓(51)에 안착된다. 발광소자는 상기 테스트위치(5a)로 이동되어 테스트된 후에, 상기 언로딩위치(6a)로 이동되어 상기 이송부(6)에 의해 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1, 도 1에 도시됨)로 이송될 수 있다. 상기 분류부(1)로 이송된 발광소자는 테스트 결과에 따라 등급별로 분류되고, 상기 수납부(2, 도 1에 도시됨)에 등급별로 구분되어 수납될 수 있다. 본 발명에 따른 발광소자 테스트 핸들러(100)는 상기 분류부(1), 상기 수납부(2) 및 상기 이송부(6)를 각각 복수개 포함할 수 있다.
도 1, 도 10 내지 도 12를 참고하면, 상기 이송부(6)는 이송유닛(61, 도 10에 도시됨) 및 전달부재(62, 도 10에 도시됨)를 포함할 수 있다.
상기 이송유닛(61)은 테스트된 발광소자를 상기 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송할 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 유체를 분사하는 유체분사장치(미도시)가 설치될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체분사장치로부터 제공되는 분사력에 의해 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 유체를 흡입하는 유체흡입장치(미도시)가 설치될 수도 있다. 테스트된 발광소자는 상기 유체흡입장치로부터 제공되는 흡인력에 의해 상기 언로딩위치(6a)에 위치된 소켓(51)에서 상기 분류부(1)로 이송될 수 있다. 상기 이송유닛(61)에는 상기 유체분사장치 및 상기 유체흡입장치가 모두 설치될 수도 있다.
상기 전달부재(62)는 일측이 상기 이송유닛(61)에 결합되고, 타측이 상기 분류기구(11, 도 4에 도시됨)에 결합된다. 상기 전달부재(62)는 상기 반입구(111, 도 2에 도시됨)에 연통되게 연결되도록 상기 분류기구(11)에 결합될 수 있다. 테스트된 발광소자는 상기 전달부재(62)를 지나 상기 분류부(1)로 이송될 수 있다. 상기 분류기구(11)가 테스트된 발광소자를 등급별로 분류하기 위해 이동하는데 방해되지 않도록 상기 전달부재(62)로 호스가 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 전달부재(62)로 고무호스, 플라스틱호스, 또는 메탈호스 등이 이용될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
10 : 발광소자 분류장치 1 : 분류부 2 : 수납부 3 : 공급부
4 : 픽커부 5 : 테스트부 6 : 이송부 11 : 분류기구
12 : 제1결합기구 13 : 제2결합기구 14 : 이동유닛 15 : 전달기구
16 : 지지프레임 21 : 수납기구 22 : 수납유닛 23 : 수납본체

Claims (10)

  1. 테스트된 발광소자가 반입되기 위한 반입구와 테스트된 발광소자가 반출되기 위한 반출구를 갖는 분류기구;
    상기 분류기구가 제1축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제1결합기구;
    상기 제1결합기구가 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향으로 회전 가능하게 결합되는 제2결합기구; 및
    상기 반출구가 향하는 방향을 변경하기 위한 이동유닛을 포함하고,
    상기 이동유닛은 상기 분류기구를 상기 제1축방향으로 회전시키는 제1구동기구, 및 상기 제1결합기구를 상기 제2축방향으로 회전시키는 제2구동기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1결합기구에는 상기 분류기구의 일측이 결합되는 제1구동회전부재, 및 상기 분류기구의 타측이 결합되는 제1종동회전부재가 결합되고;
    상기 분류기구는 상기 제1구동회전부재와 상기 제1종동회전부재를 제1회전축으로 하여 상기 제1축방향으로 회전하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2결합기구에는 상기 제1결합기구의 일측이 결합되는 제2구동회전부재, 및 상기 제1결합기구의 타측이 결합되는 제2종동회전부재가 결합되고;
    상기 제1결합기구는 상기 제2구동회전부재와 상기 제2종동회전부재를 제2회전축으로 하여 상기 제2축방향으로 회전하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구를 포함하고;
    상기 분류기구는 상기 반출구가 상기 전달공들 중 어느 하나를 향하도록 상기 제1축방향과 상기 제2축방향으로 회전하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구를 포함하고;
    상기 전달기구에는 상기 전달공들이 상기 제1축방향과 상기 제2축방향으로 서로 이격되어 격자 형태를 이루며 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달기구를 포함하고;
    상기 전달기구는 상기 분류기구가 상기 제1축방향과 상기 제2축방향으로 회전하기 위한 이동홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 분류기구는 상기 반입구와 상기 반출구 각각에 연통되게 연결되는 이동로를 포함하되, 상기 이동로는 상기 반입구에서 상기 반출구를 향할수록 크기가 감소되게 형성된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 반출구로부터 반출된 발광소자가 통과하기 위한 전달공이 복수개 형성된 전달기구 및 상기 전달공들을 통과한 테스트된 발광소자를 수납하기 위한 수납부를 포함하고;
    상기 수납부는 테스트된 발광소자가 수납되는 복수개의 수납기구, 및 상기 전달기구와 상기 수납기구들 사이에 설치되는 복수개의 연결기구를 포함하며;
    상기 연결기구들은 각각 일측이 상기 수납기구들 중 어느 하나에 연결되고, 타측이 상기 전달공들 중 어느 하나에 연결된 것을 특징으로 하는 발광소자 분류장치.
  9. 테스트될 발광소자를 공급하는 공급부;
    발광소자를 테스트하기 위한 테스트유닛이 설치되는 테스트부;
    테스트될 발광소자를 상기 공급부에서 상기 테스트부로 이송하는 픽커부;
    테스트된 발광소자를 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하기 위한 제1항 내지 제8항 중 어느 하나의 발광소자 분류장치; 및
    테스트된 발광소자를 상기 테스트부에서 상기 발광소자 분류장치로 이송하는 이송부를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러.
  10. 제9항에 있어서, 상기 테스트부는
    발광소자가 안착되는 소켓;
    상기 소켓이 복수개 설치되는 지지기구; 및
    테스트될 발광소자가 상기 소켓에 로딩되는 로딩위치, 상기 소켓에 안착된 발광소자가 테스트되는 테스트위치, 및 테스트된 발광소자가 상기 소켓으로부터 언로딩되는 언로딩위치에 상기 소켓들이 순차적으로 위치되도록 상기 지지기구를 회전시키는 회전유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자 테스트 핸들러.
KR1020110033337A 2011-04-11 2011-04-11 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러 KR20120115804A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110033337A KR20120115804A (ko) 2011-04-11 2011-04-11 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110033337A KR20120115804A (ko) 2011-04-11 2011-04-11 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20120115804A true KR20120115804A (ko) 2012-10-19

Family

ID=47284362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110033337A KR20120115804A (ko) 2011-04-11 2011-04-11 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20120115804A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103041997A (zh) * 2012-12-20 2013-04-17 广东志成华科光电设备有限公司 一种led分光机的高速分料装置
KR101871648B1 (ko) * 2018-01-08 2018-06-27 (주)이즈미디어 카메라모듈 검사용 소켓유닛과 이를 이용한 카메라모듈 검사장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103041997A (zh) * 2012-12-20 2013-04-17 广东志成华科光电设备有限公司 一种led分光机的高速分料装置
KR101871648B1 (ko) * 2018-01-08 2018-06-27 (주)이즈미디어 카메라모듈 검사용 소켓유닛과 이를 이용한 카메라모듈 검사장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100931323B1 (ko) 엘이디 칩 분류장치
KR101020703B1 (ko) 발광소자 테스트 핸들러 및 발광소자 분류방법
KR100955698B1 (ko) 발광소자 테스트 핸들러
KR100935706B1 (ko) 엘이디 칩 테스트장치 및 그 전달부재
KR101090745B1 (ko) 발광소자 수납장치, 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR20120115804A (ko) 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR101305078B1 (ko) 발광소자 테스트장치 및 이를 포함하는 발광소자 테스트 핸들러
KR101055219B1 (ko) 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR100984513B1 (ko) 발광소자 테스트 핸들러
TW201543047A (zh) 電子元件檢測分選之搬送方法及裝置
KR101020702B1 (ko) 발광소자 테스트 핸들러
KR101206765B1 (ko) 발광소자 테스트 핸들러
US20120249172A1 (en) Alignment system for electronic device testing
KR20120117021A (ko) 발광소자 분류장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR101855885B1 (ko) 전자부품 분류장치 및 전자부품 분류장치의 프로브유닛
KR101070834B1 (ko) 엘이디 칩 테스트장치 및 엘이디 칩 분류장치
KR20110048327A (ko) 발광소자 이송장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR101931200B1 (ko) 전자부품 검사 및 분류장치
KR101102258B1 (ko) 발광소자 분류장치
KR20110051081A (ko) 발광소자 접속장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR20110051079A (ko) 발광소자 이송장치 및 발광소자 테스트 핸들러
KR20120114547A (ko) 발광소자 테스트 핸들러
KR101515714B1 (ko) 벨트 컨베이어 타입 패키지 테스트 장치 및 그를 적용한 테스트 핸들러
KR20120111512A (ko) 발광소자 테스트 핸들러
KR101270299B1 (ko) 반도체 패키지 소팅 장치 및 그를 적용한 테스트 핸들러

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination