TWI522633B - Transmission and classification of electronic components and devices - Google Patents

Description

電子元件之搬送、分類方法及裝置

本發明係有關於一種搬送、分類方法及裝置，尤指一種在進行檢測分選過程中對電子元件執行搬送的電子元件之搬送、分類方法及裝置。

按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類，由於電子元件的微細化及量大屬性，用於作檢測、分選的裝置必須提供精密、迅速的搬送，此外，由於製程因素，同一電子元件的物理特性愈來愈多樣化，因此分選的BIN數被要求須愈多，故檢測、分選的裝置成本將愈來愈高，基於此因素，將相近的不同電子元件作共通性的搬送，將可以減輕裝置設備的製造成本。

以發光二極體(LED)之檢測為例，一般以體型略呈方型的發光二極體(LED)中，其大致屬於發光面在上方的上側發光(Top view)類型，而其導電層在下方，故在檢測時需在上方設檢測單元及在下方設導電端子，其在搬送方式上常採用震動送料機配合周緣開有環列佈設多個相間隔缺槽狀而開口朝外容置空間的轉盤，使震動送料機的輸送槽道出口直接對應轉盤旋轉中心及容置空間之開口，而將待搬送之元件直接正向自輸送槽道出口推送進入容置空間中，以藉由轉盤作旋轉搬送以進行檢測，並檢測後，依檢測結果所呈現取得的物理特性數據，將元件以氣壓排出轉盤，並以擺臂導引而選擇性地移至多個排出管路之一，並排入收集盒被收集。

然而，先前技術並未考慮到當發光二極體(LED)為長方型及側面發光(Side view)的狀況，此種側面發光(Side view)的發光二極體，其發光面在側邊，而導電層在上方，故在檢測時需在側邊設檢測單元及在上方設導電端子，故當發光二極體(LED)為此種長方型及側面發光(Side view)時，其在震動送料機的輸送槽道中無法被以橫設且垂直槽道輸送方向的方式被輸送，因此當長方型發光二極體被迫須以長側邊平行槽道輸送方向的方式被從輸送出口推出時，其自轉盤容置空間開口進入時，該發光二極體側面發光部位將被缺槽狀容置空間的側邊所遮檔，而無法在側邊設檢測單元進行檢測；另一方面，由於以擺臂導引而選擇性地移至多個排出管路之一的排入收集盒被收集方式，由於擺臂導引的分配數量有限，對於需要較高數量分類BIN數的分選作業將不敷使用。

爰是，本發明之目的，在於提供一種使搬送、分類更具有共用性及多選擇性的電子元件之搬送、分類方法。

本發明另一目的，在於提供一種使搬送、分類更具有共用性及多選擇性的電子元件之搬送、分類裝置。

本發明又一目的，在於提供一種用以執行如申請專利範圍第1至之13項任一項所述電子元件之搬送、分類方法的裝置。

依據本發明目的之電子元件之搬送、分類方法，包括：一檢測搬送程序，以一第一間歇旋轉流路對待測元件進行搬送，在該流路中對待測元件之物理特性進行檢測；一分類搬送程序，接收由前述第一間歇旋轉流路所移送來的元件，以一第二間歇旋轉流路對該元件進行搬送，該第二間歇旋轉流路上，設有複數個分配座，分配座上設有複數個搬送空間， 每一分配座上複數個搬送空間各在同一徑向上排列，各搬送空間可在間歇旋轉時與一排出管對應；元件被選擇性置於分配座上一特定的搬送空間中被搬送，直到被設定由其排出之排出管與該特定的搬送空間相對應時，在經由氣壓吹送下，將受搬送之元件吹經該排出管而排出受收集。

依據本發明另一目的之電子元件之搬送、分類裝置，包括：一測盤，周緣開有環列佈設多個相間隔的容置空間，以間歇旋轉方式對待測元件進行搬送，可在該搬送中對待測元件之物理特性進行檢測；一分類機構，接收由測盤移送來的元件，包括一作間歇旋轉的盤體，盤體上設有複數個分配座，分配座上設有複數個搬送空間，每一分配座上複數個搬送空間各在同一徑向上排列，各搬送空間各與排出管對應。

依據本發明又一目的之電子元件之搬送、分類裝置，包括：可用以執行如申請專利範圍第1至13項所述電子元件之搬送、分類方法的裝置。

本發明實施例之電子元件之搬送、分類方法及裝置，藉由一檢測搬送程序的整列輸出步驟，使該輸送機構的輸送槽道之輸送路徑與形成第一間歇旋轉流路的測盤中心間保持一大於測盤半徑之間距，而呈與測盤外圓周幾近相切之狀態；及以一入料步驟使位於測盤之容置空間11朝外之開口及入料機構間的待測元件，在維持該第一置設方向下隨後被入料機構以垂直該第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被推動移送，使上側發光之發光二極體A或側面發光的發光二極體待測元件皆可被搬送進入測盤的容置空間中受搬送及檢測；同時，檢測後的元件可在被移送機構移送進入分類機構中被執行分類搬送程序，經由形成第二間歇旋轉流路的盤體上可選擇性複數個分配座上的可選擇性複數個搬送空間，以將檢測後的元件逐一 經排出管排出及由收集盒進行收集，使電子元件之檢測搬送、分類更具有共用性及多選擇性。

A‧‧‧上側發光的發光二極體

A1‧‧‧發光面

A2‧‧‧導電層

A3‧‧‧檢冊測單元

A4‧‧‧導電端子

A5‧‧‧長側邊

B‧‧‧側面發光的發光二極體

B1‧‧‧發光面

B2‧‧‧導電層

B3‧‧‧檢測單元

B4‧‧‧導電端子

B5‧‧‧長側邊

C‧‧‧機台

C1‧‧‧台面

1‧‧‧測盤

11‧‧‧容置空間

111‧‧‧開口

112‧‧‧底側邊

113‧‧‧旁側邊

114‧‧‧氣道

2‧‧‧輸送機構

21‧‧‧輸送槽道

22‧‧‧輸出口

3‧‧‧入料機構

4‧‧‧分類機構

41‧‧‧盤體

42‧‧‧分配座

421‧‧‧搬送空間

422‧‧‧氣室

423‧‧‧隔板

424‧‧‧貫通孔

43‧‧‧排出管

431‧‧‧入口

432‧‧‧出口

433‧‧‧感應器

44‧‧‧收集盒

5‧‧‧移送機構

第一圖係本發明實施例中上側發光(Top view)的發光二極體進行檢測之立體分解示意圖。

第二圖係本發明實施例中側面發光(Side view)的發光二極體進行檢測之立體分解示意圖。

第三圖係本發明實施例之裝置上各機構配置示意圖。

第四圖係本發明實施例檢測搬送程序之部份放大示意圖。

第五圖係本發明實施例進行上側發光(Top view)的發光二極體搬送之部份放大示意圖。

第六圖係本發明實施例進行側面發光(Side view)的發光二極體搬送之部份放大示意圖。

第七圖係本發明實施例中分類搬送程序之機構示意圖。

第八圖係本發明實施例中分配座與排出管之配置關係部份放大示意圖。

第九圖係本發明實施例中移送機構與第一、第二間歇旋轉流路之設置關係部份放大示意圖。

第十圖係本發明實施例中元件置於分配座上一特定搬送空間的部份放大示意圖。

第十一圖係本發明實施例中元件在分配座上一特定搬送空間中被噴推往排出管搬送的部份放大示意圖。

請參閱第一圖，本發明實施例電子元件檢測分選之搬送、分類方法及裝置，可使用在長方形且上側發光(Top view)的發光二極體(LED)A中，其發光面A1在上方，而導電層A2在下方，故在檢測時需在上方設檢測單元A3及在下方設導電端子A4；另請參閱第二圖，本發明實施例亦可使用在長方型且側面發光(Side view)的發光二極體(LED)B，此種側面發光(Side view)的發光二極體，其發光面B1在側邊，而導電層B2在上方，故在檢測時需在側邊設檢測單元B3及在上方設導電端子B4；除了長方形且上側發光(Top view)、側面發光(Side view)的發光二極體(LED)外，包括方形其他形狀亦都可依本發明實施例所揭露之特徵等效或同理轉用。

請參閱第三圖，本發明實施例電子元件之搬送、分類方法及裝置，可藉由圖中所示之裝置來實施，圖中以長方形且上側發光(Top view)之發光二極體(LED)A為例作為待測元件來說明；該裝置包括執行：一檢測搬送程序，以一測盤1所形成的第一間歇旋轉流路對待測元件進行搬送，在該流路中進行對待測元件之物理特性進行檢測；其中，以一進行元件整列輸送之輸送機構2將元件進行整列後輸出，再以一入料機構3將整列輸出之元件移送進入測盤1進行搬送；一分類搬送程序，接收由前述測盤1之第一間歇旋轉流路所移送來的元件，以一分類機構4上盤體41所形成的第二間歇旋轉流路對該元件進行搬送，該第二間歇旋轉流路上設有複數個分配座42，分配座42上設有複數個搬送空間421，各搬送空間421可在間歇旋轉時與一排出管43對應；元件被選擇性置於分配座42上一特定的搬送空間421中被搬送，直到被設 定由其排出之排出管43與該特定的搬送空間421相對應時，在經由氣壓吹送下，將受搬送之元件吹經該排出管43而排出受收集；其中，該測盤1之第一間歇旋轉流路與分類機構4上盤體41所形成的第二間歇旋轉流路共同設於同一機台C之一台面C1上，二者在其旋轉中心連線之水平方向保持一間距，該間距供設置一移送機構5以將第一間歇旋轉流路上的完成檢測的元件移送至第二間歇旋轉流路。

請配合參閱第四、五圖，其中：該測盤1，執行所述檢測搬送程序，其設於一機台C之一台面C1上，可受驅動在台面C1上作間歇性旋轉而形成所述第一間歇旋轉流路，其周緣開有環列佈設多個相間隔缺槽狀而開口111徑向朝外的容置空間11，該測盤1底面與機台C之台面C1貼靠，所述容置空間11各設有一靠盤面中心之底側邊112，及位於底側邊112兩側之旁側邊113，其中底側邊112長度較旁側邊113長，並於測盤1下方設有由底側邊112朝盤面中心延設之氣道114，該氣道114與容置空間11相通；在該測盤1之第一間歇旋轉流路中可設有各種檢測機構可對待測元件之物理特性進行檢測；該輸送機構2，其可為一振動送料機，並設有一輸送槽道21，該輸送槽道21位於與測盤1相同的台面C1上，並設有一輸出口22，用以將多數的上側發光之發光二極體A待測元件進行整列，並由該輸出口22排出並輸送進入該測盤1所述容置空間11。

本發明實施例電子元件之搬送、分類方法中，在執行所述檢測搬送程序時，執行包括：一整列輸出步驟，使該輸送機構2的輸送槽道21之輸送路徑與測盤1中心間保持一大於測盤1半徑之間距，而呈與測盤1外圓周幾近相切之狀 態；上側發光之發光二極體A待測元件被以一長側邊A5平行輸送槽道21輸送方向的第一搬送路徑被從輸送口22推送出時，上側發光之發光二極體A待測元件維持一第一置設方向，其恰位於測盤1之容置空間11朝外之開口111及入料機構3前方，亦為二者之間，且以其長側邊A5對應容置空間11朝外之開口111，並保持發光面A1朝上的狀態；一入料步驟，位於測盤1之容置空間11朝外之開口111及入料機構3間的上側發光之發光二極體A待測元件，在維持該第一置設方向下隨後被入料機構3以垂直該第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被推動移送，而以長側邊A5自開口111進入容置空間11，上側發光之發光二極體A待測元件並在容置空間11中受氣道114施以負壓，而將上側發光之發光二極體A待測元件自開口111吸入測盤1之容置空間11中，而使長側邊A5貼靠容置空間11之底側邊112下被限定方定位，俾藉由測盤1將上側發光之發光二極體A待測元件進行搬送、進行各項檢測及後續程序。

請參閱第六圖，在所述檢測搬送程序的整列輸出步驟中，當被搬送之待測元件為一側面發光(Side view)的發光二極體(LED)B時，其被以長側邊B5平行輸送槽道21輸送方向的方式被從輸送口22推出時，係以其長側邊B5對應容置空間11朝外之開口111，並保持發光面B1背向測盤1之開口111方向的狀態，隨後被入料機構3推移而以發光面B1背側之長側邊B5自開口111進入容置空間11，側面發光的發光二極體B待測元件並在容置空間11中受氣道114中的負壓所吸附，而以發光面B1背側之長側邊B5貼靠容置空間11之底側邊112定位；此時側面發光的發光二極體B待測元件以發光面B1朝開口111外、導電層B2在上方的方式被定位，俾藉由測盤1將側面發光的發光二極體B待測元件進行搬送以進行各 項檢測及後續程序。

請參閱第七圖，續以長方形且上側發光(Top view)之發光二極體(LED)A待測元件為例來說明本發明所述分類搬送程序：當位於測盤1中經搬送及進行檢測後之上側發光的發光二極體A元件，其被測盤1順時針旋轉九十度，將容置空間11中之上側發光之發光二極體A待測元件旋轉搬送至測盤1中心及分類機構4盤體41中心二者間連線所形成的卸料路徑上時，將使載有上側發光之發光二極體A元件之容置空間11開口111對應測盤1與分類機構4間該卸料路徑上之移送機構5；該分類機構4具有圓形之盤體41，其位於與測盤1相同的台面C1上，並以間歇性旋轉形成所述第二間歇旋轉流路；盤體41上設有等角度分割之可選擇性置放受搬送元件的複數個分配座42，各分配座42以徑向輻設方向環列佈設在盤體41上近周緣處，每一分配座42上各在同一徑向上排列分設可選擇性置放受搬送元件的複數個鏤空圓形槽狀構造的搬送空間421，除與該移送機構5對應的一個分配座42以外，其餘每一分配座42上方各對應設有排出管43，排出管43以徑向輻設方向環列佈設在盤體41上近周緣處，而各在同一徑向上以複數個排列分設地與各搬送空間421可在間歇旋轉停止時逐一對應，同一徑向上的排出管43數目與所對應的分配座42上搬送空間421數目相同。

請參閱第七圖，該與移送機構5對應之分配座42係與卸料路徑上載有上側發光之發光二極體A元件之測盤1容置空間11對應；其中，該移送機構5於測盤1之容置空間11與分配座42間作元件之移送，而以例如負壓吸附的方式，將元件自測盤1之容置空間11予以吸附後，依元件檢測之數據，在元件不限定方位下選擇性地移送及轉置於複數個中之一分 配座42的複數個搬送空間421其中之一。

請參閱第八圖，每一分配座42上方的排出管43係在每一搬送空間421上方各對應一透明材質且具撓性之排出管43，各排出管43的入口431與其所對應的搬送空間421並不固接，而係可在分類機構4之盤體41所形成的第二間歇旋轉流路旋轉時與搬送空間421呈相對運動，並在盤體41間歇旋轉停止時與搬送空間421對應，各排出管43的入口431僅會在盤體41間歇旋轉時對應一個特定的搬送空間421，而各排出管43的出口432則各對應一個收集盒44；分類機構4之盤體41上，於每一分配座42下方各設有氣室422，排出管43的入口431至出口432間設有感應器433，該感應器433一個較佳的設置位置係位於排出管43的最上方，可藉由例如紅外線的發射與接收方式感測通過的元件；鏤空圓形槽狀構造的搬送空間421下方與氣室422間設有隔板423，隔板423上設有複數個貫通孔424(請參閱第九圖)，自盤體41下方通入氣室422的正壓或負壓氣體可經隔板423上貫通孔424而進入搬送空間421中。

請參閱第九、十圖，移送機構5自測盤1之容置空間11移入分配座42的上側發光之發光二極體A元件係每次一個，且依其已檢測之物理特性被置入分配座42上其中之一特定的搬送空間421中，由於受搬送元件與搬送空間421的輪廓形狀並不對應，故被置於搬送空間421中的上側發光之發光二極體A元並不須被限定方位，此時，盤體41下方可即時通入氣室422負壓，使負壓可經隔板423上貫通孔424對搬送空間421中的上側發光之發光二極體A元件進行吸附，使其在搬送中維持停留在該特定的搬送空間421中；請參閱第十一圖，在盤體41間歇旋轉搬送下，一旦旋轉到預先設定應該作對應之排出管43的入口431時，盤體41下方將即 時通入氣室422正壓氣體，使正壓氣體可經隔板423上貫通孔424進入搬送空間421中，並噴推搬送空間421中上側發光之發光二極體A元件，使其往上進入與其對應的排出管43之入口431，而沿管內的通道往收集盒44被正壓氣體搬送，並在通過感應器433時被感應計算通過的數量。

本發明實施例進行電子元件之搬送、分類方法及裝置，藉由一檢測搬送程序的整列輸出步驟，使該輸送機構2的輸送槽道21之輸送路徑與形成第一間歇旋轉流路的測盤1中心間保持一大於測盤1半徑之間距，而呈與測盤1外圓周幾近相切之狀態；及以一入料步驟使位於測盤1之容置空間11朝外之開口111及入料機構3間的待測元件，在維持該第一置設方向下隨後被入料機構3以垂直該第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被推動移送，使上側發光之發光二極體A或側面發光的發光二極體B待測元件皆可被搬送進入測盤1的容置空間11中受搬送及檢測；同時，檢測後的元件可在被移送機構5移送進入分類機構4中被執行分類搬送程序，經由形成第二間歇旋轉流路的盤體41上可選擇性複數個分配座42上的可選擇性複數個搬送空間421，以將檢測後的元件逐一經排出管43排出及由收集盒44進行收集；若盤體41上的分配座42設有12個，扣除與移送機構5對應的該分配座42，以每個分配座42設四個搬送空間421，即有11*4=44個分類(BIN)選擇，同理，欲求較高的分類選擇，則可以增加盤體41上的分配座42及分配座42上的搬送空間421數來達成，而同時排出管43數量亦隨著相對增加；例如，設置對應有排出管的43的分配座42三十二個，每個分配座32設八個搬送空間421，則可以有256個分BIN的分類選擇，使電子元件之檢測搬送、分類更具有共用性及多選擇性。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限 定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

C‧‧‧機台

C1‧‧‧台面

1‧‧‧測盤

2‧‧‧輸送機構

3‧‧‧入料機構

4‧‧‧分類機構

41‧‧‧盤體

42‧‧‧分配座

421‧‧‧搬送空間

43‧‧‧排出管

5‧‧‧移送機構

Claims (22)

1. 一種電子元件之搬送、分類方法，包括：一檢測搬送程序，以一第一間歇旋轉流路對待測元件進行搬送，在該流路中對待測元件之物理特性進行檢測；一分類搬送程序，接收由前述第一間歇旋轉流路所移送來的元件，以一第二間歇旋轉流路對該元件進行搬送，該第二間歇旋轉流路上，設有複數個分配座，分配座上設有複數個搬送空間，每一分配座上複數個搬送空間各在同一徑向上排列，各搬送空間可在間歇旋轉時與一排出管對應；元件被選擇性置於分配座上一特定的搬送空間中被搬送，直到被設定由其排出之排出管與該特定的搬送空間相對應時，在經由氣壓吹送下，將受搬送之元件吹經該排出管而排出受收集。
2. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該檢測搬送程序包括：一整列輸出步驟，以一輸送機構的輸送槽道之輸送路徑，使待測元件被輸送槽道從一輸送口送出；一入料步驟，以一入料機構將從輸送口推出的待測元件移送進入一測盤之容置空間，並使待測元件於測盤的容置空間中被定位、搬送。
3. 如申請專利範圍第2項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該輸送機構的輸送槽道之輸送路徑與測盤中心保持一大於測盤半徑之間距，而呈與測盤外圓周幾近相切之狀態。
4. 如申請專利範圍第2項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該待測元件被從輸送口送出時，恰位於測盤之容置空間朝外之開口及入料機構前方。
5. 如申請專利範圍第2項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該待測元件被從輸送口送出時，以其長側邊對應容置空間朝外之一開口。
6. 如申請專利範圍第2項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該入料步驟中，待測元件被入料機構以待測元件之一長側邊自一開口進入容置空間，而以長側邊貼靠容置空間之一底側邊定位。
7. 如申請專利範圍第2項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該待測元件被以長側邊平行輸送槽道輸送方向的方式被從輸送口送出。
8. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該檢測搬送程序包括：使待測元件被輸送槽道以第一搬送路徑從輸送口送出時，維持一第一置設方向；使待測元件在維持一第一置設方向下，被以垂直第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被移送，而自一開口進入一測盤之容置空間。
9. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該被搬送之待測元件為側面發光的發光二極體，在該檢測搬送程序中，其被一輸送槽道輸送而從一輸送口推出，並在保持發光面背側朝一測盤的容置空間開口方向的狀態被移送進入該容置空間，待測元件並在容置空間中受負壓所吸附，而以發光面背側之側邊貼靠容置空間之底側邊定位下被搬送。
10. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該分類搬送程序由一盤體形成該第二間歇旋轉流路，所述分配座設於盤體上，排出管與該特定的搬送空間相對應時，氣壓由分配座下方往上吹送，將受搬送之元件吹經該排出管。
11. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該檢測搬送程序的第一間歇旋轉流路與分類搬送程序的第二間歇旋轉流路係在同一機台台面上。
12. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該檢測搬送程序的第一間歇旋轉流路中，待測元件在被限定方定位下受搬送，而在分類搬送程序的第二間歇旋轉流路中，被置於搬送空間中的元件並不被限定方位。
13. 如申請專利範圍第1項所述電子元件之搬送、分類方法，其中，該分類搬送程序中，各排出管與搬送空間在第二間歇旋轉流路旋轉時與搬送空間呈相對運動，並在間歇旋轉停止時與搬送空間對應。
14. 一種電子元件之搬送、分類裝置，包括：一測盤，周緣開有環列佈設多個相間隔的容置空間，以間歇旋轉方式對待測元件進行搬送，可在該搬送中對待測元件之物理特性進行檢測；一分類機構，接收由測盤移送來的元件，包括一作間歇旋轉的盤體，盤體上設有複數個分配座，分配座上設有複數個搬送空間，每一分配座上複數個搬送空間各在同一徑向上排列，各搬送空間各與排出管對應。
15. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，更包括：一輸送機構，其設有一輸送槽道，輸送槽道設有一輸出口，進行整列後的待測元件由該輸出口排出；一入料機構，設於所述輸送機構將待測元件輸送進入該測盤所述容置空間之輸送路徑上，可受驅動作間歇性往復位移； 由該輸出口排出的待測元件經入料機構間歇性往復位移的移送，而依序進入測盤周緣的容置空間被搬送。
16. 如申請專利範圍第15項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，該入料機構前端前、後往復位移運動路徑之軸線通過測盤的中心。
17. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，所述容置空間各設有一靠盤面中心之底側邊，及位於底側邊兩側之旁側，其中底側邊長度較旁側邊長，並於測盤下方設有由底側邊朝盤面中心延設之氣道，該氣道與容置空間相通。
18. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，該盤體上分配座以等角度分割之徑向輻設方向環列佈設在盤體上近周緣處。
19. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，該排出管以徑向輻設方向環列佈設在盤體上近周緣處，而各在同一徑向上以複數個排列分設地與各搬送空間可在間歇旋轉停止時逐一對應，同一徑向上的排出管數目與所對應的分配座上搬送空間數目相同。
20. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，該分類機構之盤體上，於每一分配座下方各設有氣室，搬送空間下方與氣室間設有隔板，隔板上設有複數個貫通孔，自盤體下方通入氣室的正壓或負壓氣體可經隔板上貫通孔而進入搬送空間中。
21. 如申請專利範圍第14項所述電子元件之搬送、分類裝置，其中，該排出管的入口至出口間設有感應器感測通過的元件。
22. 一種電子元件之搬送、分類裝置，包括：可用以執行如申請專利範圍第1至13項所述電子元件之搬送、分類方法的裝置。