TWI590876B - Electronic component classification method and device - Google Patents

Description

電子元件分類方法及裝置

本發明係有關於一種分類方法及裝置，尤指使用在具有不同特性之電子元件上，將複數個電子元件各自依其特性分配至不同收集區之電子元件分類方法及裝置。

按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類，由於電子元件的微細化及量大屬性，用於作檢測、分類的裝置必須提供精密、迅速的搬送，此外，由於製程因素，同一電子元件的物理特性愈來愈多樣化，因此分類裝置之可分類級(Bin)數被要求日益提升，由早期的32級增加到64級，至目前常用之128級或256級，甚至業界已有512級之分類裝置出現，隨著電子元件分類級數之提升且因其物理特性具有集中於部分料碼(Bin Code)之情形，遂有如專利號第I402108號「用於測試和分類電子元件的系統」之方式，以兩個輸送管道將不同特性之電子元件由旋轉台移動到高速容器盤或常規容器盤來提高分類速度，其中，高速容器盤之接收座數量小於常規容器盤。

惟，習知之兩個輸送管道搭配兩個接收座數量不同之容器盤之分類方式雖可提高分類速度，但需使用在電子元件之特性集中在少數料碼之前提下，一般係適用於128級以下之分類，若係使用於256級以上之分類，此種集中在少數料碼之情形雖然還是會存在，但因級數之增加，原本高速容器盤之接收座數量亦需提升，且以256級之分類為例，在分成一個係1至128料碼之容器盤，另一個係129至256料碼之容器盤，在兩個輸送管道 搭配兩個容器盤之情形下，請參閱圖10，電子元件由旋轉台間歇旋轉搬運到定位排出會有四種邏輯，只要電子元件有從旋轉台排出一次，就需等待一次電子元件在輸送管道內移動至容器盤之移動時間，只有在皆不需要排出之〔無；無〕情形，才可節省該次之移動時間，使旋轉台快速轉動至下一排出情形發生，因在256級之分類下電子元件特性一般會較集中於第1至128料碼之區間，故有一輸送管道單獨使用佔了85%之比例，這意謂著另一輸送管道有85%比例閒置，而可節省移動時間之〔無；無〕情形僅有5%比例；換言之，隨著高速容器盤之接收座數量提升甚至等同於常規容器盤之接收座數量時，將會導致一個輸送管道處於過於忙碌狀態，而另一個輸送管道大部分處於閒置狀態，產生電子元件在旋轉台內耗費額外時間等待進入輸送管道處之情形，無法均勻分配兩個輸送管道之效能，電子元件分類速度受到限制。

爰是，本發明的目的，在於提供一種有效提高電子元件分類速度之電子元件分類方法。

本發明的另一目的，在於提供一種有效提高電子元件分類速度之電子元件分類裝置。

依據本發明目的之電子元件分類方法，包括：使複數個電子元件被一檢測機構進行搬送及特性檢測，當電子元件被檢測出其料碼歸類為單數時，將該電子元件由一第一排出管經一第一分配裝置至設有複數個第一類料盒之一第一收集區中預定之第一類料盒收集；當電子元件被檢測出其料碼歸類為雙數時，將該電子元件由一第二排出管經一第二分配裝置至設有複數個第二類料盒之一第二收集區中預定之第二類料盒收集。

依據本發明另一目的之電子元件分類裝置，包括：用以執行如所述種電子元件分類方法之裝置。

依據本發明另一目的之另一電子元件分類裝置，包括：一檢測機構，執行一間歇旋轉之電子元件搬運流路並檢測電子元件之特性，該檢測機構設有一測盤，該測盤周緣等距環列佈設有複數個容槽供電子元件容置；一第一收集區，該第一收集區設有複數個第一類料盒，用以收集檢測後料碼歸類為單數之電子元件；一第二收集區，該第二收集區設有複數個第二類料盒，用以收集檢測後料碼歸類為雙數之電子元件；一第一分配裝置，該第一分配裝置與一第一排出管連通，該第一排出管對應該測盤其中一容槽，該第一分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性之移動對應至一分配座之複數分配管其中之一，該分配管與該第一收集區之該第一類料盒相對應；一第二分配裝置，該第二分配裝置與一第二排出管連通，該第二排出管對應該測盤其中一容槽，該第二分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性之移動對應至一分配座之複數分配管其中之一，該分配管與該第二收集區之該第二類料盒相對應。

本發明實施例之電子元件分類方法及裝置，依電子元件檢測後被歸類之料號，將單數料號之電子元件，藉由第一排出管排出至第一分配裝置，經水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移之移動路徑，最後落下至第一收集區之預定之第一類料盒被收集；而雙數料號之電子元件，藉由第二排出管與第二分配裝置，經水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移之移動路徑，最後落下至第二收集區之預定之第二類料盒被收集；因第一收集區與第二收集區分別收集單數與雙數料號之電子元件，第一類料盒與第二類料盒總數相等，且電子元件由測盤至第一收集區或第二收集區之路徑長度相等，可降低電子元件單一集中使用於第一排出管或第二排出管之比例，請參閱圖11，因電子元件均勻分配至第一收集區與第二收集區，故測盤排出之四種邏輯會趨向各25%之 比例分配，這意謂著可節省時間之〔無；無〕情形比例提升，將可有效提高電子元件整體分類之速度。

A‧‧‧檢測機構

A1‧‧‧測盤

A11‧‧‧容槽

A2‧‧‧送料機

A21‧‧‧輸送槽道

A3‧‧‧檢測儀器

A4‧‧‧第一排出管

A5‧‧‧第二排出管

B‧‧‧第一收集區

B1‧‧‧第一類料盒

B2‧‧‧導料件

B3‧‧‧拖架

B31‧‧‧拖座

B311‧‧‧握把

B4‧‧‧載台

B5‧‧‧撓性管

C‧‧‧第二收集區

C1‧‧‧第二類料盒

D‧‧‧第一分配裝置

D1‧‧‧模座

D11‧‧‧操作區間

D12‧‧‧第一側座

D13‧‧‧第二側座

D14‧‧‧第三側座

D15‧‧‧滑軌

D2‧‧‧第一驅動件

D21‧‧‧皮帶

D3‧‧‧第二驅動件

D31‧‧‧輸出軸

D32‧‧‧驅動臂

D33‧‧‧連動臂

D4‧‧‧移擺機構

D41‧‧‧第一固定座

D42‧‧‧嵌輪

D43‧‧‧轉軸

D44‧‧‧嵌溝

D45‧‧‧第二固定座

D46‧‧‧撥架

D47‧‧‧分配頭

D48‧‧‧樞座

D5‧‧‧分配座

D51‧‧‧上端緣

D6‧‧‧分配管

D61‧‧‧端口

D’‧‧‧第一分配裝置

D1’‧‧‧模座

D11’‧‧‧操作區間

D12’‧‧‧第一側座

D13’‧‧‧第二側座

D14’‧‧‧第三側座

D2’‧‧‧第一驅動件

D21’‧‧‧輸出軸

D22’‧‧‧樞座

D23’‧‧‧嵌溝

D3’‧‧‧第一滑軌

D4’‧‧‧第二滑軌

D5’‧‧‧第二驅動件

D51’‧‧‧輸出軸

D52’‧‧‧驅動臂

D53’‧‧‧連動臂

D6’‧‧‧滑座

D61’‧‧‧第一固定座

D62’‧‧‧第二固定座

D63’‧‧‧第一嵌輪

D64’‧‧‧第二嵌輪

D65’‧‧‧皮帶

D66’‧‧‧第三滑軌

D67’‧‧‧第三固定座

D7’‧‧‧分配頭

D8’‧‧‧分配座

D9’‧‧‧分配管

D91’‧‧‧端口

E‧‧‧第二分配裝置

E’‧‧‧第二分配裝置

T‧‧‧機台

W‧‧‧電子元件

圖1係本發明實施例之電子元件分類裝置之示意圖。

圖2係本發明實施例之第一收集區之第一類料盒與第二收集區之第二類料盒料碼配置之示意圖。

圖3係本發明實施例之第一收集區之立體示意圖。

圖4係本發明實施例之第一分配裝置之立體示意圖。

圖5係本發明實施例之分配座之立體示意圖。

圖6係本發明實施例之第一分配裝置與第一收集區之側面示意圖。

圖7係本發明實施例之第一分配裝置之俯視示意圖。

圖8係本發明另一實施例之第一分配裝置之立體示意圖。

圖9係本發明另一實施例之第一分配裝置之俯視示意圖。

圖10係本發明比較例之電子元件排出邏輯比例示意圖。

圖11係本發明實施例之電子元件排出邏輯比例示意圖。

請參閱圖1，本發明實施例之電子元件分選方法可以圖中所示分選裝置為例作說明，包括：一檢測機構A，包括一可作間歇旋轉之測盤A1，該測盤A1受架高於一機台T台面上，周緣環列佈設等間距凹設之容槽A11，可藉自震動送料機A2之輸送槽道A21承載電子元件W以間歇性旋轉流路搬送電子元件W；測盤A1上方可設置各種物理特性檢測儀器A3以對位於測盤A1周緣容槽A11中之電子元件W進行檢測；檢測機構A設有一第一排出管A4與一第二排出 管A5，該第一排出管A4與該第二排出管A5分別各對應連通測盤A1之不同容槽A11，可用以將完成檢測之電子元件W依其物理特性所歸類之料碼為單數或雙數，分別由第一排出管A4或第二排出管A5予以排出分類；一第一收集區B，該第一收集區B設於機台T台面下方，用以收集檢測後料碼歸類為單數之電子元件W；一第二收集區C，該第二收集區C設於機台T台面下方，用以收集檢測後料碼歸類為雙數之電子元件W；一第一分配裝置D，該第一分配裝置D設於第一收集區B上方，並與第一排出管A4連通，料碼為單數之電子元件W經第一分配裝置D落下至第一收集區B；一第二分配裝置E，該第二分配裝置E設於第二收集區C上方，並與第二排出管A5連通，料碼為雙數之電子元件W經第二分配裝置E落下至第二收集區C。

請參閱圖1、2，該第一收集區B與第二收集區C內各設有複數個第一類料盒B1與第二類料盒C1，該第一類料盒B1係提供料碼為單數之電子元件W之存儲空間，該第二類料盒C1係提供料碼為雙數之電子元件W之存儲空間，該第一類料盒B1之總數等於該第二類料盒C1總數且分別以矩陣方式排列，在本發明實施例中，係將電子元件W分成256級，故第一收集區B之複數個第一類料盒B1之料碼分別為1、3、5、...、255，第二收集區C之複數個第二類料盒C1之料碼分別為2、4、6、...、256，各採13×10之矩陣排列且各有兩個位於角落之第一類料盒B1與第二類料盒C1閒置未使用。

請參閱圖1、3，第一收集區B與第二收集區C左右對稱且具有相同之機構，在此僅以第一收集區B作為表示，第一收集區B包括：複數個 第一類料盒B1與複數個導料件B2；複數個第一類料盒B1以矩陣方式排列於一拖架B3中，該拖架B3下部設有一拖座B31，該拖座B31上設有可供手執拖移之握把B311；該複數個導料件B2各為管狀體且以矩陣方式排列於一載台B4上，各導料件B2分別各對應一種料號之第一類料盒B1，並各位於所對應第一類料盒B1之相對上方。

請參閱圖1、4，第一分配裝置D與第二分配裝置E左右對稱且具有相同之機構僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D作為表示，第一分配裝置D包括：一設於機台T上之模座D1，其設有一鏤空之操作區間D11，並經由該鏤空之操作區間D11將模座D1區隔出位於操作區間D11一側之第一側座D12，以及對應第一側座D12並與其平行且位於操作區間D11另一側之第二側座D13，和位於第一側座D12與第二側座D13間，朝相對遠離測盤A1方向之操作區間D11另一側之第三側座D14；該第一側座D12上方設有由馬達構成之第一驅動件D2，其輸出軸(圖中未示)平行第一側座D12表面，並朝在遠離測盤A1之方向伸設；第二側座D13下方設有一由馬達構成之第二驅動件D3，其偏靠朝遠離測盤A1之方向設置，其輸出軸D31垂直第二側座D13表面，並凸伸於第二側座D13表面；第三側座D14上設置一移擺機構D4，其以一第一固定座D41樞設一嵌輪D42，嵌輪D42中設有一轉軸D43，該轉軸D43之圓周設有軸向嵌溝D44，轉軸D43之軸向與該第一側座D12上之第一驅動件D2輸出軸平行，轉軸D43之一端凸伸於嵌輪D42後端，轉軸D43藉該嵌溝D44嵌卡並與嵌輪D42旋轉連動，但轉軸D43可自由伸經嵌輪D42並於其中前後滑移；該轉軸D43位於嵌輪D42之另一端伸經第一固定座D41而與一第二固定座D45固定並在軸向位移上連動，但轉軸D43之旋轉不與第二固定座D45連動；該第二固定座D45呈L型而以一側設於第二側座D13上一滑軌D15，該滑軌D15與轉 軸D43之軸向平行；轉軸D43伸經第二固定座D45前方並於端部固設一與轉軸D43軸向垂直之撥架D46，撥架D46底端設有一分配頭D47，該分配頭D47連通第一排出管A4尾端以承接電子元件W；該第一側座D12上之第一驅動件D2輸出軸(圖中未示)以一與輸出軸軸向垂直圈設之皮帶D21與移擺機構D4嵌輪D42形成連動，使水平設置之轉軸D43可被驅動進行間歇性轉動，而帶動其前端之撥架D46進行與轉軸D43軸向垂直之間歇性旋擺運動；該第二側座D13之第二驅動件D3之輸出軸D31固設一與輸出軸D31垂直設置之驅動臂D32一端，驅動臂D32另一端則樞設一連動臂D33一端，該連動臂D33另一端則與該移擺機構D4第二固定座D45上一樞座D48樞設，並藉此形成連動，以藉單獨驅動第二固定座D45在滑軌D15上滑移作間歇性直線運動時，將帶動轉軸D43可沿轉軸軸向作間歇性水平位移，並連動撥架D46及其上分配頭D47在轉軸D43軸向前、後伸移地作間歇性水平位移，此時分配頭D47之移動路徑為一直線並與轉軸D43軸向在相隔一間距下相互平行；請同時配合參閱圖5、6，在鏤空之操作區間D11下方設有一三度空間之矩形立體向下凹陷之凹弧狀平面之分配座D5，其三度空間之矩形立體向下凹陷之凹弧狀平面兩側上端緣D51分別各固設於操作區間D11兩側之第一側座D12及第二側座D13上，而由兩側之第一側座D12及第二側座D13處向下凹陷弧設，分配座D5矩形之凹弧狀平面上設有複數個分配管D6，各分配管D6之配設呈由上往下之扇形放射狀配置，其下端各分別接設一透明撓性管B5至對應之導料件B2，各分配管D6上方端口D61呈凹弧狀平面排列佈設，分配頭D47係在各分配管D6上方端口D61排列佈設之凹弧狀平面作上、下之弧形擺移。

請參閱圖1、6、7，本發明實施例之電子元件分類裝置在實施上，使複數個電子元件W容置於檢測機構A之測盤A1之容槽A11中被測盤A1進行搬送及受測盤A1上方之檢測儀器A3檢測，當電子元件W被檢測出其料碼歸類為單數時，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D之分配頭D47，在電子元件W尚未經分配頭D47排進預定分配管D6前，第一驅動件D2驅動嵌輪D42連動轉軸D43旋轉，使撥架D46載動分配頭D47作間歇性旋擺運動，並貼靠在分配座D5上方凹弧狀平面排列佈設之各分配管D6上方端口D61上緣作上、下之弧形擺移，同時第二驅動件D3也使驅動臂D32驅動連動臂D33使第二固定座D45在滑軌D15上以間歇性直線運動作前、後之水平位移，以連動撥架D46載動分配頭D47作前或後位移，而由該弧形擺移配合直線滑移將撥架D46上分配頭D47選擇性之移動到預定之分配管D6上方端口D61，以令第一排出管A4中之電子元件W經分配頭D47被卸放至預定之分配管D6中再自撓性管B5落下至第一收集區B預定之第一類料盒B1被收集；而當電子元件W被檢測出其料碼歸類為雙數時，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經第二分配裝置E至第二收集區C被收集，因第二分配裝置E、第二收集區C與第一分配裝置D、第一收集區B之機構相同，實施方式相同於上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測盤A1排出至第一收集區B之移動路徑長度等於排出至第二收集區C之移動路徑長度。

請參閱圖1、8、9，本發明另一實施例之第一分配裝置D’與第二分配裝置E’左右對稱且具有相同之機構僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D’作為表示，第一分配裝置D’包括：一設於機台T上之模座D1’，其設有一操作區間D11’，並經由該操作區間D11’將模座D1’區隔出位於操作區間D11’一側之第一側座D12’，以及對應第一側座D12’並與其平行且位 於操作區間D11’另一側之第二側座D13’，和位於第一側座D12’與第二側座D13’間，且朝相對遠離測盤A1方向之操作區間D11’另一側之第三側座D14’；該第一側座D12’上方設有由馬達構成之第一驅動件D2’，其輸出軸D21’平行第一側座D12’表面，並朝在靠近測盤A1之方向伸設，輸出軸D21’末端與模座D1’上一樞座D22’樞設；第一側座D12’同時設有第一滑軌D3’，該第一滑軌D3’與輸出軸D21’平行並位於輸出軸D21’與操作區間D11’間；該第二側座D13’上設有一第二滑軌D4’設於第二側座D13’上並與第一滑軌D3’平行；該第三側座D14’下方設有一由馬達構成之第二驅動件D5’，其輸出軸D51垂直第二側座D13’表面，並凸伸於第二側座D13’表面；輸出軸D51’固設一與輸出軸D51’垂直設置之驅動臂D52’一端，驅動臂D52’另一端則樞設一連動臂D53’一端，連動臂D53’另一端則與一滑座D6’樞接並與其連動；該第二驅動件D5’之輸出軸D51’位於第二側座D13’一端之外側朝遠離測盤A1之方向設置，其並位於第一滑軌D3’與第二滑軌D4’間；該滑座D6’與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直並設於其上，可受該第二驅動件D5’之連動臂D53’一端連動，而受第二驅動件D3’驅動在第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上作滑移；滑座D6’之兩端各伸跨該第一側座D12’、第二側座D13’之上方，且兩端對應在近第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上方處分別各設有第一固定座D61’、第二固定座D62’，第一固定座D61’上設有第一嵌輪D63’，第二固定座D62’上設有第二嵌輪D64’，其中，第一驅動件D2’之輸出軸D21’樞經第一嵌輪D63’並藉輸出軸D21’上設有軸向嵌溝D23’而與其嵌設並連動進行轉動，但第一嵌輪D63’則可於輸出軸D21’上隨第一固定座D61’作滑移，同時於第一嵌輪D63’、第二嵌輪D64’之間繞設有一皮帶 D65’；該滑座D6’上設有一橫跨兩端並與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直之第三滑軌D66’，皮帶D65’在保持一上、下之間距下設於滑座D6’之第三滑軌D66’上方，第三滑軌D66’上設有一第三固定座D67’，其與繞設之皮帶D65’下方段固設並受其連動地可在第三滑軌D66’上作間歇性位移，第三固定座D67’上設有一分配頭D7’；該分配頭D7’一端以該第三固定座D67’設於第三滑軌D66’上而僅能作第一方向之位移，其與該電子元件W之第一排出管A4連結且呈懸空於該第三滑軌D66’外一側之分配座D8’上方；該分配頭D7’一端連接第一排出管A4以承接電子元件W，其下方位於該操作區間D11’上方；該操作區間D11’中設有分配座D8’，其上設有多數個分配管D9’，其各分配管D9’之配設呈由上往下之直向狀配置，其下端各分別接設一透明撓性管B5至對應之導料件B2(圖6)，各分配管D9’上方端口D91’呈平面排列佈設，分配頭D7’係在各分配管D9’上方端口D91’排列佈設之平面作前、後、左、右之位移。

本發明另一實施例之電子元件分類裝置在實施上，使複數個電子元件W容置於於檢測機構A之測盤A1之容槽A11中被測盤A1進行搬送及受測盤A1上方之檢測儀器A3檢測，當電子元件W被檢測出其料碼歸類為單數時，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D’之分配頭D7’，在電子元件W尚未經分配頭D7’排進預定分配管D9’前，第一驅動件D2’驅動第一嵌輪D63’旋轉以連動皮帶D65’繞轉，使帶動第三固定座D67’在第三滑軌D66’上作間歇性位移，並載動分配頭D7’以間歇性直線運動作面對操作者左、右水平直線之第一方向位移，並貼靠在分配座D8’上方平面排列佈設之各分配管D9’上方端口D91’上緣作左、右水平直線位移，同時第二驅動件D5’也使驅動臂D52’驅動連動臂D53’使該滑座D6’在第一滑軌D3’、第二滑軌D4’上以間歇性直線運動作面對操作者前、後水平直線之 第二方向位移，以連動分配頭D7’作前、後位移，而由該左、右水平直線位移配合前、後之水平直線位移將分配頭D7’選擇性之移動到預定之分配管D9’上方端口D91’，以令第一排出管A4中之電子元件W經分配頭D7’被卸放至預定之分配管D9’再自撓性管B5落下至第一收集區B預定之第一類料盒B1被收集；而當電子元件W被檢測出其料碼歸類為雙數時，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經第二分配裝置E’至第二收集區C被收集，因第二分配裝置E’、第二收集區C與第一分配裝置D’、第一收集區B之機構相同，實施方式相同於上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測盤A1排出至第一收集區B之移動路徑長度等於排出至第二收集區C之移動路徑長度。

本發明實施例之電子元件分類方法及裝置，依電子元件W檢測後被歸類之料號，將單數料號之電子元件W，藉由第一排出管A4排出至第一分配裝置D，經水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移之移動路徑，最後落下至第一收集區B之預定之第一類料盒B1被收集；而雙數料號之電子元件W，藉由第二排出管A5與第二分配裝置E，經水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移之移動路徑，最後落下至第二收集區C之預定之第二類料盒C1被收集；因第一收集區B與第二收集區C分別收集單數與雙數料號之電子元件W，第一類料盒B1與第二類料盒C1總數相等，且電子元件W由測盤A1至第一收集區B或第二收集區C之路徑長度相等，可降低電子元件W單一集中使用於第一排出管A4或第二排出管A5之比例，請參閱圖11，因電子元件W均勻分配至第一收集區B與第二收集區C，故測盤A1排出之四種邏輯會趨向各25%之比例分配，這意謂著可節省時間之〔無；無〕情形比例提升，將可有效提高電子元件W整體分類之速度。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

A‧‧‧檢測機構

A1‧‧‧測盤

A11‧‧‧容槽

A2‧‧‧送料機

A21‧‧‧輸送槽道

A3‧‧‧檢測儀器

A4‧‧‧第一排出管

A5‧‧‧第二排出管

B‧‧‧第一收集區

C‧‧‧第二收集區

D‧‧‧第一分配裝置

D’‧‧‧第一分配裝置

E‧‧‧第二分配裝置

E’‧‧‧第二分配裝置

T‧‧‧機台

W‧‧‧電子元件

Claims (10)

1. 一種電子元件分類方法，包括：使複數個電子元件被一檢測機構進行搬送及特性檢測，當電子元件被檢測出其料碼歸類為單數時，將該電子元件由一第一排出管經一第一分配裝置至設有複數個第一類料盒之一第一收集區中預定之第一類料盒收集；當電子元件被檢測出其料碼歸類為雙數時，將該電子元件由一第二排出管經一第二分配裝置至設有複數個第二類料盒之一第二收集區中預定之第二類料盒收集。
2. 一種電子元件分類裝置，包括：用以執行如申請專利範圍第1項所述種電子元件分類方法之裝置。
3. 一種電子元件分類裝置，包括：一檢測機構，執行一間歇旋轉之電子元件搬運流路並檢測電子元件之特性，該檢測機構設有一測盤，該測盤周緣等距環列佈設有複數個容槽供電子元件容置；一第一收集區，該第一收集區設有複數個第一類料盒，用以收集檢測後料碼歸類為單數之電子元件；一第二收集區，該第二收集區設有複數個第二類料盒，用以收集檢測後料碼歸類為雙數之電子元件；一第一分配裝置，該第一分配裝置與一第一排出管連通，該第一排出管對應該測盤其中一容槽，該第一分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性之移動對應至一分配座之複數分配管其中之一，該分配管與該第一收集區之該第一類料盒相對應；一第二分配裝置，該第二分配裝置與一第二排出管連通，該第二排出管對應該測盤其中一容槽，該第二分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性 之移動對應至一分配座之複數分配管其中之一，該分配管與該第二收集區之該第二類料盒相對應。
4. 如申請專利範圍第3項所述電子元件分類裝置，其中，該第一收集區之該第一類料盒總數等於該第二收集區之該第二類料盒總數。
5. 如申請專利範圍第3項所述電子元件分類裝置，其中，該電子元件由該測盤排出至該第一收集區之移動路徑長度等於排出至該第二收集區之移動路徑長度。
6. 如申請專利範圍第3項所述電子元件分類裝置，其中，該第一收集區之複數個第一類料盒與該第二收集區之複數個第二類料盒分別以矩陣方式排列且各有兩個第一類料盒與第二類料盒未使用。
7. 如申請專利範圍第3項所述電子元件分類裝置，其中，該第一分配裝置與該第二分配裝置分別設有一移擺機構，該分配座設有一呈三度空間之矩形立體向下凹陷之凹弧面，該分配頭受該移擺機構之驅動在該凹弧面上方水平位移與上下弧形擺移至對應之分配管。
8. 如申請專利範圍第7項所述電子元件分類裝置，其中，該移擺機構設有一水平設置之轉軸，轉軸一端設有一撥架並與其連動，該分配頭設於該撥架上，該轉軸受一第一驅動件驅動可作間歇性轉動，及受一第二驅動件驅動可沿轉軸軸向作間歇性水平位移。
9. 如申請專利範圍第3項所述電子元件分類裝置，其中，該分配座設有一水平面，該分配頭在該水平面上方以一第一方向與一第二方向水平位移至對應之分配管。
10. 如申請專利範圍第9項所述電子元件分類裝置，其中，該分配頭以一第一驅動件驅動一第一嵌輪旋轉以連動一皮帶繞轉，帶動該分配頭以 間歇性直線運動作第一方向位移；該分配頭以一第二驅動件使一驅動臂驅動一連動臂，以連動分配頭作第二方向位移。