CN112108389A - 电子元件分类方法及装置 - Google Patents
电子元件分类方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112108389A CN112108389A CN202010189803.1A CN202010189803A CN112108389A CN 112108389 A CN112108389 A CN 112108389A CN 202010189803 A CN202010189803 A CN 202010189803A CN 112108389 A CN112108389 A CN 112108389A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electronic components
- workstation
- sorting
- detection
- electronic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 41
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 38
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 24
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 6
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 5
- 239000004299 sodium benzoate Substances 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004289 sodium hydrogen sulphite Substances 0.000 description 3
- GEHJYWRUCIMESM-UHFFFAOYSA-L sodium sulphite Substances [Na+].[Na+].[O-]S([O-])=O GEHJYWRUCIMESM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 3
- 239000004285 Potassium sulphite Substances 0.000 description 2
- 239000004295 calcium sulphite Substances 0.000 description 2
- 238000012840 feeding operation Methods 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 239000004297 potassium metabisulphite Substances 0.000 description 2
- 239000004296 sodium metabisulphite Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
Landscapes
- Sorting Of Articles (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明是一种电子元件分类方法及装置，包括：使多个电子元件由一入料工作站进入一测盘后以间歇性旋转流路搬送，并依电子元件进入该测盘的时间先后，将电子元件归类为单数与双数；使归类为单数的电子元件被搬送至一第一检测工作站进行检测并由一第一分类工作站排出该测盘；使归类为双数的电子元件被搬送至一第二检测工作站进行检测并由一第二分类工作站排出该测盘。
Description
【技术领域】
本发明是有关于一种分类方法及装置，尤指一种可使电子元件受载盘以间歇性旋转流路搬送至检测工作站进行检测后，再搬送至分类工作站进行分类的电子元件分类方法及装置。
【背景技术】
按，一般电子元件如发光二极管(LED)或被动元件…等，由于具有不同的物理特性，通常会先进行物理特性的检测后再进行分类或包装；请参阅图1，此种对电子元件进行检测与分类的电子元件分类装置，通常设有：一测盘X1，其周缘等距环列布设有多个容槽X11供电子元件W容置，该测盘X1可执行一间歇性旋转的搬送流路搬送电子元件W；一入料工作站X2，可将电子元件W依序送入该测盘X1的容槽X11；一检测工作站X3，可检测该容槽X11内的电子元件W；一分类工作站X4，可使检测后的电子元件W排出该测盘X1并选择性的被配送至对应的料盒内；该入料工作站X2、该检测工作站X3与该排料工作站X4皆可各自对应多个容槽X11其中之一，使三个工作站在该测盘X1间歇性旋转中间的停止时间内，可同时对不同电子元件W进行不同作业，并等待三个工作站皆完成作业后，该测盘X1才能再次旋转；其中，该测盘X1与入料工作站X2的相关构造可如专利号第I587935号「压块机构及使用该压块机构的入料方法及装置」所示；该检测工作站X3的相关构造可如专利号第M571966号「量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置」所示；该分类工作站X4的相关构造可如专利号第I546240号「电子元件分选装置」所示。
【发明内容】
惟，现有技术的电子元件分类装置在实际使用上，请参阅图2，单次入料作业的时间约为10毫秒，单次检测作业与单次分类作业的时间约为110毫秒，虽然入料作业的时间明显低于检测作业与分类作业的时间，但因每次需等待三种作业皆完成后才能再次旋转测盘，故每次测盘的停止时间至少需要110毫秒，在暂不纳入测盘转动时间的情况下，电子元件分类装置的总体作业时间，将为欲分类的电子元件数量乘以每次测盘的停止时间，对于动辄以万计数的电子元件分类作业而言，加乘的下的总体作业时间将不容小觑，故如何在更短的时间内处理更多的电子元件，改善电子元件分选装置的产能，成为业界长期关注的议题。
爰是，本发明的目的，在于提供一种可提升产能的电子元件分类方法。
本发明的另一目的，在于提供一种可提升产能的电子元件分类装置。
依据本发明目的的电子元件分类方法，包括：使多个电子元件由一入料工作站进入一测盘后以间歇性旋转流路搬送，并依电子元件进入该测盘的时间先后，将电子元件归类为单数与双数；使归类为单数的电子元件被搬送至一第一检测工作站进行检测并由一第一分类工作站排出该测盘；使归类为双数的电子元件被搬送至一第二检测工作站进行检测并由一第二分类工作站排出该测盘。
依据本发明目的的另一电子元件分类方法，包括：当归类为单数的电子元件进入一测盘时，使一第一检测工作站、一第二检测工作站、一第一分类工作站与一第二分类工作站不进行任何作业；当归类为双数的电子元件进入该测盘时，使该第一检测工作站、该第二检测工作站分别同时对归类为单数与双数的电子元件进行检测且该第一分类工作站与该第二分类工作站亦同时分别使归类为单数与双数的电子元件排出该测盘。
依据本发明另一目的的电子元件分类装置，包括：用以执行如所述电子元件分类方法的装置。
依据本发明另一目的的另一电子元件分类装置，包括：一测盘，设有多个容槽供多个归类为单数与双数的电子元件容置并以间歇性旋转流路搬送电子元件；一第一检测工作站，可对归类为单数的电子元件进行检测；一第一分类工作站，可自该测盘排出受该第一检测工作站检测后的电子元件；一第二检测工作站，可对归类为双数的电子元件进行检测；一第二分类工作站，可自该测盘排出受该第二检测工作站检测后的电子元件。
本发明实施例的电子元件分类方法及装置，在相同的单位时间内可对更多电子元件进行检测与分类，可有效提升电子元件分选装置的产能。
【附图说明】
图1是现有技术的电子元件分类装置各工作站分布的示意图。
图2是现有技术的电子元件分类装置作业时间的示意图。
图3是本发明实施例中电子元件分类装置各工作站分布的示意图。
图4是本发明实施例中电子元件分类装置的立体图。
图5是本发明实施例中第一检测工作站检测电子元件的示意图。
图6是本发明实施例中第一分配机构的俯视示意图。
图7是本发明实施例中电子元件分类装置作业时间的示意图。
【具体实施方式】
请参阅图3，本发明实施例的电子元件分选方法可以图中所示电子元件分选装置为例作说明，其设有：
一测盘A，设有多个容槽A1环列布设于该测盘A的周缘，该多个容槽A1可供多个归类为单数与双数的电子元件W容置，并以顺时针方向之间歇性旋转流路搬送电子元件W，该多个电子元件W各自容置于对应的容槽A1内并在该测盘A的旋转方向上依序以单数、双数循环排列；在本发明实施例中，该测盘A设有50个容槽A1，但依电子元件W体积的差异亦可设为25个或100个容槽A1；
一入料工作站B，设于该测盘A周缘处与其中一个容槽A1(第1个)对应，该入料工作站B可提供电子元件W进入该测盘A的容槽A1；
一第一检测工作站C，设于该测盘A周缘处与其中一个容槽A1(第11个)对应，该第一检测工作站C在电子元件W的搬送流路上位于该入料工作站B的下一站，且该第一检测工作站C所对应的容槽A1与该入料工作站B所对应的容槽A1在顺时针方向上相隔奇数个容槽A1，该第一检测工作站C可对归类为单数的电子元件W进行检测；
一第二检测工作站D，设于该测盘A周缘处与其中一个容槽A1(第26个)对应，该第二检测工作站D在电子元件W的搬送流路上位于该第一检测工作站C的下一站，且该第二检测工作站D所对应的容槽A1与该入料工作站B所对应的容槽A1在顺时针方向上相隔偶数个容槽A1，该第二检测工作站D可对归类为双数的电子元件W进行检测；
一第一分类工作站E，设于该测盘A周缘处与其中一个容槽A1(第33个)对应，该第一分类工作站E在电子元件W的搬送流路上位于该第二检测工作站D的下一站，且该第一分类工作站E所对应的容槽A1与该入料工作站B所对应的容槽A1在顺时针方向上相隔奇数个容槽A1，该第一分类工作站E可自该测盘A排出并分类受该第一检测工作站C检测后的电子元件W；
一第二分类工作站F，设于该测盘A周缘处与其中一个容槽A1(第42个)对应，该第二分类工作站F在电子元件W的搬送流路上位于该第一分类工作站E的下一站，且该第二分类工作站F所对应的容槽A1与该入料工作站B所对应的容槽A1在顺时针方向上相隔偶数个容槽A1，该第二分类工作站F可自该测盘A排出并分类受该第二检测工作站D检测后的电子元件W。
请参阅图3、4，该测盘A受架高于一机台T台面上，该入料工作站B设有一震动送料机B1与一输送槽道B2，该多个电子元件W可由该震动送料机B1经该输送槽道B2排列整序后送入该测盘A对应的容槽A1内。
请参阅图4、5，该第一检测工作站C与该第二检测工作站D具有相同的机构，在此仅以该第一检测工作站C作为说明；该第一检测工作站C设有一光学检测器C1与一探针组C2，两者分别位于该测盘A的上、下两侧与该容槽A1对应；该电子元件W为例如发光二极管(LED)的元件，该探针组C2的探针C21可上升碰触该电子元件W下方的电极部W1，使该电子元件W上方的发光部W2可发光穿透一透光件C3，由该光学检测器C1收集并检测该电子元件W的光学特性。
请参阅图4、6，该第一分类工作站E与该第二分类工作站F左右对称且具有相同的机构，在此仅以该第一分类工作站E作为说明；该第一分类工作站E设有一排出机构E1与一分配机构E2；该排出机构E1可将该检测工作站C检测完成后的电子元件W由该测盘A排出并经一排料管E11传递至该分配机构E2进行光学特性的分类；
该分配机构E2设有一分配座E21与、一平移机构E22与一分配器E23；该分配座E21上设有多个分配管E211，各分配管E211的配设呈由上往下的直向状配置，其下端各分别接设至预设的料盒(图未示)各分配管E211上方端口呈平面排列布设；该平移机构E22设有一第一驱动件E221与一第二驱动件E222，该第一驱动件E221驱动一嵌轮E223旋转以连动一皮带E224绕转，带动该分配器E23作第一方向(X轴方向)位移；该第二驱动件E222使一驱动臂E225驱动一连动臂E226，以连动该配器E23作第二方向(Y轴方向)位移；该分配器E23与该第一排料管E11相连通，并受该平移机构E22的作动，在呈平面排列布设的分配管E211上方作前、后、左、右的水平位移至对应的分配管E211。
本发明实施例在实施上，使多个电子元件W依序由该入料工作站B进入该测盘A对应的容槽A1内，并依电子元件E进入该测盘A的时间先后，将电子元件W归类为单数与双数；本发明实施例以先进入该测盘A的电子元件W归类为单数，接续归类为单数的电子元件W之后进入该测盘A的电子元件W归类为双数，接续归类为双数的电子元件W之后进入该测盘A的电子元件W再归类为单数------，以此类推使多个电子元件W反复以单数与双数的循环排列；
在该测盘A周缘的容槽A1依序循环排列单数与双数的电子元件W后，该测盘A持续以顺时针方向之间歇性旋转流路搬送电子元件W；因该第一检测工作站C、该第一分类工作站E与该第二检测工作站D、该第二分类工作站F分别设于相隔该入料工作站B奇数个与偶数个容槽A1的位置；故如图7所示，当归类为单数的电子元件W进入该测盘A时，该第一检测工作站C、该第二检测工作站D、该第一分类工作站E与该第二分类工作站F无需进行任何作业；当归类为双数的电子元件W进入该测盘A时，该第一检测工作站C、该第二检测工作站D分别同时对归类为单数与双数的电子元件W进行相同物理特性的检测，且该第一分类工作站E与该第二分类工作站F的排出机构E1亦同时分别使归类为单数与双数的电子元件W排出该测盘A，再以分配机构E2选择性地分配该电子元件W至对应物理特性的料盒中作收集。
本发明实施例的电子元件分类方法及装置，将进入该测盘A的电子元件W归类为单数与双数，并在归类为单数的电子元件W进入该测盘A时，使第一检测工作站C、该第二检测工作站D、该第一分类工作站E与该第二分类工作站F不需进行任何作业；在归类为双数的电子元件W进入该测盘A时，使归类为单数的电子元件W由该第一检测工作站C与该第一分类工作站E专属检测与分类，同时使归类为双数的电子元件W由该第二检测工作站D与该第二分类工作站F专属检测与分类；可参阅图7所示，本发明实施例在360毫秒的时间内，可对6个电子元件W进行检测与分类，平均1个电子元件W花费60毫秒的时间，相较于图2的现有技术，在440毫秒的时间内，仅可对4个电子元件W进行检测与分类，平均1个电子元件W花费110毫秒的时间，意谓着本发明在相同的单位时间内可对更多电子元件W进行检测与分类，可有效提升电子元件分选装置的产能。
惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。
【符号说明】
A 测盘 A1 容槽
B 入料工作站 B1 震动送料机
B2 输送槽道 C 第一检测工作站
C1 光学检测器 C2 探针组
C21 探针 C3 透光件
D 第二检测工作站 E 第一分类工作站
E1 排出机构 E11 排料管
E2 分配机构 E21 分配座
E211 分配管 E22 平移机构
E221 第一驱动件 E222 第二驱动件
E223 嵌轮 E224 皮带
E225 驱动臂 E226 连动臂
E23 分配器 F 第二分类工作站
W 电子元件 W1 电极部
W2 发光部 X1 测盘
X11 容槽 X2 入料工作站
X3 检测工作站 X4 分类工作站
Claims (13)
1.一种电子元件分类方法，其特征在于，包括：
使多个电子元件由一入料工作站进入一测盘后以间歇性旋转流路搬送，并依电子元件进入该测盘的时间先后，将电子元件归类为单数与双数；
使归类为单数的电子元件被搬送至一第一检测工作站进行检测并由一第一分类工作站排出该测盘；
使归类为双数的电子元件被搬送至一第二检测工作站进行检测并由一第二分类工作站排出该测盘。
2.如权利要求1所述的电子元件分类方法，其特征在于，先进入该测盘的电子元件归类为单数，接续归类为单数的电子元件之后进入该测盘的电子元件归类为双数，接续归类为双数的电子元件之后进入该测盘的电子元件再归类为单数，如此反复单数与双数的循环。
3.如权利要求1所述的电子元件分类方法，其特征在于，该第一检测工作站与该第二检测工作站分别同时检测归类为单数与双数的电子元件。
4.如权利要求3所述的电子元件分类方法，其特征在于，该第一检测工作站与该第二检测工作站同时进行相同特性的检测。
5.如权利要求1所述的电子元件分类方法，其特征在于，该第一分类工作站与该第二分类工作站同时分别使归类为单数与双数的电子元件排出该测盘。
6.一种电子元件分类方法，其特征在于，包括：
当归类为单数的电子元件进入一测盘时，使一第一检测工作站、一第二检测工作站、一第一分类工作站与一第二分类工作站不进行任何作业；
当归类为双数的电子元件进入该测盘时，使该第一检测工作站、该第二检测工作站分别同时对归类为单数与双数的电子元件进行检测且该第一分类工作站与该第二分类工作站亦同时分别使归类为单数与双数的电子元件排出该测盘。
7.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：用以执行如权利要求1至6项任一项所述的电子元件分类方法的装置。
8.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：
一测盘，设有多个容槽供多个归类为单数与双数的电子元件容置并以间歇性旋转流路搬送电子元件；
一第一检测工作站，可对归类为单数的电子元件进行检测；
一第一分类工作站，可自该测盘排出受该第一检测工作站检测后的电子元件；
一第二检测工作站，可对归类为双数的电子元件进行检测；
一第二分类工作站，可自该测盘排出受该第二检测工作站检测后的电子元件。
9.如权利要求8所述的电子元件分类装置，其特征在于，该多个容槽环列布设于该测盘的周缘，该多个电子元件各自容置于对应的容槽内并在该测盘的旋转方向上依序以单数、双数循环排列。
10.如权利要求8所述的电子元件分类装置，其特征在于，该第一检测工作站与该第二检测工作站分别设有一光学检测器与一探针组，两者分别位于该测盘的上下两侧与该容槽对应。
11.如权利要求8所述的电子元件分类装置，其特征在于，该第一分类工作站与该第二分类工作站分别设有一排出机构与一分配机构。
12.如权利要求11所述的电子元件分类装置，其特征在于，该分配机构设有一分配座与、一平移机构与一分配器；该分配座上设有多个分配管，各分配管上方端口呈平面排列布设；该分配器受该平移机构的作动，在呈平面排列布设的分配管上方作水平位移至对应的分配管。
13.如权利要求12所述的电子元件分类装置，其特征在于，该平移机构设有一第一驱动件与一第二驱动件，该第一驱动件驱动一嵌轮旋转以连动一皮带绕转，带动该分配头作第一方向位移；该第二驱动件使一驱动臂驱动一连动臂，以连动该分配头作第二方向位移。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW108121377 | 2019-06-19 | ||
| TW108121377A TWI710410B (zh) | 2019-06-19 | 2019-06-19 | 電子元件分類方法及裝置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112108389A true CN112108389A (zh) | 2020-12-22 |
Family
ID=73798951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202010189803.1A Pending CN112108389A (zh) | 2019-06-19 | 2020-03-18 | 电子元件分类方法及装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112108389A (zh) |
| TW (1) | TWI710410B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20230110007A (ko) * | 2022-01-14 | 2023-07-21 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들링 장치 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012228638A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Young Tek Electronics Corp | 実装チップ検査・選別装置 |
| CN103878126A (zh) * | 2014-04-08 | 2014-06-25 | 苏州嘉大电子有限公司 | 一种led器件分选机 |
| CN205270178U (zh) * | 2015-12-16 | 2016-06-01 | 四川峻豪电子科技有限公司 | 一种自动测试分选机 |
| CN106607340A (zh) * | 2015-10-23 | 2017-05-03 | 万润科技股份有限公司 | 电子元件分类方法及装置 |
| CN106938255A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-07-11 | 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 | 芯片测试分类机器人 |
| CN109143013A (zh) * | 2017-06-28 | 2019-01-04 | 万润科技股份有限公司 | 电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWM381788U (en) * | 2009-10-29 | 2010-06-01 | wei-xin Wei | Inductance test sieving machine |
| CN202066797U (zh) * | 2011-04-18 | 2011-12-07 | 久元电子股份有限公司 | 多轨式检测装置 |
| JP5975556B1 (ja) * | 2015-12-11 | 2016-08-23 | 上野精機株式会社 | 移載装置 |
| TWM551617U (zh) * | 2017-06-09 | 2017-11-11 | All Ring Tech Co Ltd | 電子元件分選裝置 |
-
2019
- 2019-06-19 TW TW108121377A patent/TWI710410B/zh active
-
2020
- 2020-03-18 CN CN202010189803.1A patent/CN112108389A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012228638A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Young Tek Electronics Corp | 実装チップ検査・選別装置 |
| CN103878126A (zh) * | 2014-04-08 | 2014-06-25 | 苏州嘉大电子有限公司 | 一种led器件分选机 |
| CN106607340A (zh) * | 2015-10-23 | 2017-05-03 | 万润科技股份有限公司 | 电子元件分类方法及装置 |
| CN205270178U (zh) * | 2015-12-16 | 2016-06-01 | 四川峻豪电子科技有限公司 | 一种自动测试分选机 |
| CN106938255A (zh) * | 2017-04-28 | 2017-07-11 | 扬州爱迪秀自动化科技有限公司 | 芯片测试分类机器人 |
| CN109143013A (zh) * | 2017-06-28 | 2019-01-04 | 万润科技股份有限公司 | 电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW202100251A (zh) | 2021-01-01 |
| TWI710410B (zh) | 2020-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7973259B2 (en) | System for testing and sorting electronic components | |
| CN107533993B (zh) | 高速旋转分拣器 | |
| CN201235348Y (zh) | 电子元件检测包装机 | |
| KR100686376B1 (ko) | 복식 발광 다이오드 검사장치 | |
| JP2012522224A (ja) | 電子デバイスの検査のための改善されたシステム及び方法 | |
| KR20150109305A (ko) | 반도체 패키지 핸들러 | |
| CN112108389A (zh) | 电子元件分类方法及装置 | |
| US20130338818A1 (en) | Device and method for removing tested semiconductor components | |
| TWI464428B (zh) | Electronic component sorting method and device | |
| CN106064154B (zh) | 电子元件分类方法及装置 | |
| TWI522634B (zh) | Method and device for conveying electronic component detection sorting | |
| TWI385388B (zh) | Micro - sensing IC test classification machine | |
| CN102439707A (zh) | 基片的系统及处理 | |
| TWM551617U (zh) | 電子元件分選裝置 | |
| KR20150109132A (ko) | 반도체 패키지 핸들러 | |
| TWI590876B (zh) | Electronic component classification method and device | |
| US6970008B2 (en) | Chip testing machine with rotary conveying disk set for receiving and conveying the chips for testing | |
| TWI442499B (zh) | Semi - packaged stacking wafer testing | |
| CN109013395B (zh) | 电子元件分选方法及装置 | |
| TWI522633B (zh) | Transmission and classification of electronic components and devices | |
| KR20130069584A (ko) | 전자 소자들의 개선된 테스트를 위한 시스템 및 방법 | |
| TW201519343A (zh) | 多軌進料之旋轉式晶粒檢測設備 | |
| CN204102921U (zh) | Led封装芯片检测装置 | |
| TW201902798A (zh) | 電子元件分選方法及裝置 | |
| CN221302394U (zh) | 镍片检测设备 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20201222 |