CN201235348Y - 电子元件检测包装机 - Google Patents
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Abstract
一种电子元件检测包装机,其特征在于:包括底座、工作平台、输料装置、高压测试治具、电气功能测试治具、水平校正平台、光学镜头、包装装置和控制装置;还包括第一机械手、第二机械手和第三机械手,第一机械手与高压测试区、高压不良品出口配合;第二机械手与电气功能测试治具的测试位、电气功能不良品出口配合;第三机械手与水平校正平台、外观测试区的红外线扫描仪、第一光学镜头、第二光学镜头、外观不良品出口、包装装置配合。由于有采用这样的结构,与现有技术相比,生产效率高,产能稳定。并节约资源和管理成本;自动化作业,基本不需要手工接触产品,保证产品质量;检测可信度高,减少客诉;操作简单;节约人力成本;总占地空间小。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种可对电子元器件产品进行Hi-Pot(高压)、电气功能、铁芯超高露件、印字面、PIN脚平整度及PIN距进行检测的设备,并在检测后能够进行自动包装作业以及自动分类回收不良品的检测包装设备。
背景技术
目前现有技术,对于电子元器件如变压器、电感器、滤波器、转换器、连结器、LanMate..等产品,其生产过程普遍是以全手工作业或半人半机作业,在制程的检测及包装过程中,特别是Hi-Pot检测、电气功能检测、印字面检测、PIN脚平整度及PIN距检测,虽有各种检测仪器,但大多是进行单一项目的检测,各工站间必须依赖人工进行产品汇整与搬运作业,使整个检测包装过程中人工涉及的频率过高,易出现漏测、误判、混料等不确定因素,特别是在PIN脚平整度检测中,是通过投影设备将PIN脚投影到一标有刻度的屏幕上,再以肉眼借助标示刻度判断PIN脚是否平整,而PIN距及产品印字面完全依赖检验人员的肉眼进行判断是否正常。同时,也易出现手工接触产品过多造成PIN脚被碰伤的二次品质问题,且产能不易稳定,人工成本较高。
发明内容
本实用新型的目的是:克服现有技术中的不足,提供一种集Hi-Pot检测、电气功能检测、印字面检测、PIN脚平整度、PIN距检测和包装为一体的电子元件检测包装机,它能有效地提高工作效率,提高产品质量。
本实用新型是这样实现的:一种电子元件检测包装机,其特殊之处在于:包括底座、工作平台、输料装置、高压测试治具、电气功能测试治具、水平校正平台、光学镜头、包装装置和控制装置;
所述输料装置由步进电机、弹匣座、弹匣固定件、弹匣和料管,步进电机固定在弹匣座上,弹匣座上有卸料口,弹匣固定件与步进电机轴固定联接,弹匣与弹匣固定件可拆卸联接,弹匣上呈环形均匀分布着若干个出料口,弹匣上的出料口在某些相位与卸料口相对应构成卸料通道,弹匣座固定在底座上;
工作平台安装在底座的上方,工作平台上依次安装有高压测试治具、电气功能测试治具、水平校正平台、外观测试区,包装装置位于工作平台的尾端;
高压测试治具上有测试区,测试区依次安装有气缸、待测试区、高压测试区;一进料滑道一端安装在高压测试治具上与待测试区配合、另一端与卸料口配合,进料滑道内安装有传感器;高压测试治具与电气功能测试治具之间的工作平台上、有高压不良品出口;
电气功能测试治具上有若干个测试位;电气功能测试治具与水平校正平台之间的工作平台上有电气功能不良品出口;
水平校正平台的后端安装有红外扫描仪,上方有第一光学镜头,水平校正平台与包装装置之间的工作平台上有外观不良品出口,水平校正平台的上方为外观测试区,外观测试区的一侧有第二光学镜头、另一侧有CCD光源;
还包括第一机械手、第二机械手和第三机械手,第一机械手与高压测试区、高压不良品出口配合;第二机械手与电气功能测试治具的测试位、电气功能不良品出口配合;第三机械手与水平校正平台、外观测试区的红外线扫描仪、第一光学镜头、第二光学镜头、外观不良品出口、包装装置配合。
所述的电子元件检测包装机,其特殊之处在于:所述弹匣有二个以上扇形的半匣构成,一弹匣固定件与半匣联接成一体,弹匣固定件与步进电机轴固定联接。
所述的电子元件检测包装机,其特殊之处在于:所述包装装置由包装带、空包装盘、收料包装盘和驱动电机构成,收料包装盘固定在主动轴上,空包装盘固定在从动轴上,包装带绕在空包装盘上,包装带上有被包装产品的嵌位。
所述的电子元件检测包装机,其特殊之处在于:所述包装装置有二组并列设置。
所述的电子元件检测包装机,其特殊之处在于:还包括一不良品的分类传送装置,它包括主动轮、从动轮和传送带构成,在传送带上方的高压不良品出口、电子功能不良品出口、外观不良品出口处分别有高压分类导向板,电子功能分类导向板、外观不良分类导向板,传送带端部有高压不良产品滑道、电气功能不良品滑道和外观不良品滑道。
本实用新型电子元件检测包装机,与现有技术相比,本发明的优点:
1、生产效率高,产能稳定。并节约资源和管理成本。
2、自动化作业,基本不需要手工接触产品,保证产品质量。
3、检测可信度高,减少客诉。
4、操作简单,无须专业培训。
5、节约大量的人力成本。
6、总占地空间小。
附图说明
图1是本实用新型的立体爆炸图。
图2是本实用新型的局部立体爆炸图。
图3是本实用新型的高压品导向板、电气功能不良品导向板和外观不良品导向板与分类板配合示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。
如图1所示,一种电子元件检测包装机,包括底座(图中未示出)、工作平台1、输料装置2、高压测试治具3、电气功能测试治具4、水平校正平台5、光学镜头、包装装置6和控制装置;
如图2所示,所述输料装置2由步进电机21、弹匣座22、弹匣固定件23,弹匣24和料管25,步进电机21固定在弹匣座22上,弹匣座22上有卸料口221,弹匣固定件23与步进电机轴固定联接,弹匣24与弹匣固定件23可拆卸联接,弹匣固定件23上的销柱231,弹匣24上有销孔243,销柱231与销孔243配合。弹匣24上呈环形均匀分布着若干个出料口241,弹匣24上的出料口241在某些相位与卸料口221相对应构成卸料通道,弹匣座22固定在底座上,出料口上安装有料管25;这样当弹匣24上料管25里的产品全部卸出后,可方便地更换弹匣24。
工作平台1安装在底座的上方,工作平台1上依次安装有高压测试治具3、电气功能测试治具4、水平校正平台5、外观测试区,包装装置6位于工作平台1的端部;
高压测试治具3上有测试区,测试区内依次安装有气缸、待测试区和高压测试区32;一进料滑道7一端安装在高压测试治具3上与待测试区配合、另一端与卸料口241配合,进料滑道7内安装在传感器;高压测试治具3与电气功能测试治具4之间的工作平台1上、有高压不良品出口33;
电气功能测试治具4上有三个测试位;电气功能测试治具4与水平校正平台5之间的工作平台1上有电气功能不良品出口41;
水平校正平台5的后端安装有红外扫描仪51,上方有第一光学镜头52,水平校正平台5与包装装置6之间的工作平台上有外观不良品出口53,水平校正平台5的上方为外观测试区,外观测试区的一侧有第二光学镜头54,另一侧有CCD光源55。
还包括第一机械手81、第二机械手82和第三机械手83,第一机械手81与高压测试区、高压不良品出口33配合;第二机械手82与电气功能测试治具4的测试位、电气功能不良品出口41配合;第三机械手83与水平校正平台5、外观不良品出口53、外观测试区的第二光学镜头54配合。
如图2所示,所述弹匣24有二个半圆形的半匣242构成,一弹匣固定件23将二个半匣242联接成一体,弹匣固定件23与步进电机轴固定联接。
所述包装装置6由包装带61、空包装盘62、收料包装盘63和驱动电机(图中未示出)构成,包装带61上有被包装产品的嵌位611。
收料包装盘63固定在主动轴上,空包装盘62固定在从动轴上,包装带61绕在空包装盘62上,收料包装盘通过包装带带动空包装盘转动。
如图3所示,还包括一不良品的传送装置9,它包括主动轮91、从动轮(图中未示出)和传送带92构成,在传送带92的端部有一分类板93,分类板93上的高压不良产品滑道931、电气功能不良品滑道932和外观不良品滑道933。在工作平台1的下表面,高压不良品出口33、电气功能不良品出口41和外观不良品出口53处分别装有高压不良品导向板10、电气功能不良品导向板11、外观不良品导向板12。
本实用新型在使用时,弹匣24由一个步进电机21带动,待测产品从料管25进入进料口241、卸料口221、经进料滑道7,滑入待测区,再由位移气缸31将产品推入Hi-Pot的高压测试区,如为良品,则由第一机械臂81将其抓到电气功能测试治具4,电气功能测试的良品由第二机械臂82,抓送到水平校正平台5做印字面检测,并同时检测产品底部铁芯有无超高露件,如为良品,则由第三机械臂83抓起在悬空状态下检测PIN脚平整度及PIN距,如为良品,则直接由第三机械臂83将产品送到包装轨道上进行包装。
高压测试区检测出的不良品则由第一机械臂81将其抓送到高压不良品出口33,经过传送装置9进行回收;
电气功能测试治具4检测出的不良品由第二机械臂82将其抓送到电气功能不良品出口41,经过传送装置9进行回收;
水平校正平台5上测试出的印字面不良品及产品底部铁芯超高露件由第三机械臂83将其抓送到外观不良品出口53,经过传送装置9进行回收;经过第二光学镜头54,CCD检测的PIN脚及PIN距不良品由第三机械臂83将其抓送到外观不良品出口53,经过传送装置9进行回收。
在进料滑道7上的传感器,一旦侦测到料管25中产品出料完毕,设备会自动给步进电机21信号,弹匣24转动,使下一个料管25的出料口241与弹匣座22的卸料口221对接,产品经进料滑道7进入待高压测试治具4的待测试区。一旦感应器侦测到待测区有产品且高压测试区上无产品时,位移气缸会将产品由待测区推至高压测试区。
电气功能测试的良品由第二机械臂82抓送到水平校正平台5后,第二机械臂82离开,然后通过第一光学镜头52检测印字面,并同时通过红外设备检测底部超高露件的情况,如果为良品,则由第三机械臂83将产品抓起,在悬空状态下通过第二光学镜头54检测产品一侧的PIN脚平整度和PIN距,然后机械臂会旋转180度检测另一侧的PIN脚平整度和PIN距,两侧均合格的产品被视为良品进行包装,不合格的进行回收。包装装置6的驱动电机的步进信号由控制装置给出。CCD检测过后的良品由第三机械臂83首先送到包装带61上进行包装,如果包装带61上产品已满,设备会发出提示信号,并指令第三机械臂83自动将下一产品送入另一包装带61进行包装作业。
Claims (5)
1、一种电子元件检测包装机,其特征在于:包括底座、工作平台、输料装置、高压测试治具、电气功能测试治具、水平校正平台、光学镜头、包装装置和控制装置;
所述输料装置由步进电机、弹匣座、弹匣固定件、弹匣和料管,步进电机固定在弹匣座上,弹匣座上有卸料口,弹匣固定件与步进电机轴固定联接,弹匣与弹匣固定件可拆卸联接,弹匣上呈环形均匀分布着若干个出料口,弹匣上的出料口在某些相位与卸料口相对应构成卸料通道,弹匣座固定在底座上;
工作平台安装在底座的上方,工作平台上依次安装有高压测试治具、电气功能测试治具、水平校正平台、外观测试区,包装装置位于工作平台的尾端;
高压测试治具上有测试区,测试区依次安装有气缸、待测试区、高压测试区;一进料滑道一端安装在高压测试治具上与待测试区配合、另一端与卸料口配合,进料滑道内安装有传感器;高压测试治具与电气功能测试治具之间的工作平台上、有高压不良品出口;
电气功能测试治具上有若干个测试位;电气功能测试治具与水平校正平台之间的工作平台上有电气功能不良品出口;
水平校正平台的后端安装有红外扫描仪,上方有第一光学镜头,水平校正平台与包装装置之间的工作平台上有外观不良品出口,水平校正平台的上方为外观测试区,外观测试区的一侧有第二光学镜头、另一侧有CCD光源;
还包括第一机械手、第二机械手和第三机械手,第一机械手与高压测试区、高压不良品出口配合;第二机械手与电气功能测试治具的测试位、电气功能不良品出口配合;第三机械手与水平校正平台、外观测试区的红外线扫描仪、第一光学镜头、第二光学镜头、外观不良品出口、包装装置配合。
2、根据权利要求1所述的电子元件检测包装机,其特征在于:所述弹匣有二个以上扇形的半匣构成,一弹匣固定件与半匣联接成一体,弹匣固定件与步进电机轴固定联接。
3、根据权利要求1所述的电子元件检测包装机,其特征在于:所述包装装置由包装带、空包装盘、收料包装盘和驱动电机构成,收料包装盘固定在主动轴上,空包装盘固定在从动轴上,包装带绕在空包装盘上,包装带上有被包装产品的嵌位。
4、根据权利要求1所述的电子元件检测包装机,其特征在于:所述包装装置有二组并列设置。
5、根据权利要求1、2、3或4所述的电子元件检测包装机,其特征在于:还包括一不良品的分类传送装置,它包括主动轮、从动轮和传送带构成,在传送带的上方高压不良品出口、电子功能不良品出口、外观不良品出口处分别有高压分类导向板,电子功能分类导向板、外观不良分类导向板,传送带端部有高压不良产品滑道、电气功能不良品滑道和外观不良品滑道。
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20090513 Termination date: 20110714 |