CN212944180U - 电子元件自动测试设备 - Google Patents
电子元件自动测试设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN212944180U CN212944180U CN202021322774.3U CN202021322774U CN212944180U CN 212944180 U CN212944180 U CN 212944180U CN 202021322774 U CN202021322774 U CN 202021322774U CN 212944180 U CN212944180 U CN 212944180U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- testing
- tray
- electronic component
- transition
- electronic components
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开一种电子元件自动测试设备,该电子元件自动测试设备包括机架、设置在所述机架上的测试装置,所述测试装置的一侧设置有上料装置,所述上料装置包括用于装载电子元件的第一过渡盘;所述测试装置的另一侧设置有下料装置,所述下料装置包括用于装载电子元器件的第二过渡盘;所述上料装置与所述下料装置之间设置有转运装置,所述转运装置用于从所述第一过渡盘上抓取电子元件至测试装置上和用于将所述测试装置上的电子元件抓取至第二过渡盘上。本实用新型有利于降低电子元件自动测试设备的体积。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元件测试设备技术领域,具体涉及一种电子元件自动测试设备。
背景技术
近年来,随着电子元件的高度集成及不断的升级细化,使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件,在工厂生产加工后,需对其电性能参数进行测试,以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性,进而保证电子产品的质量。
现有申请号为CN201810897638.8的中国专利公开了一种测试设备,如图1所示,上料装置和下料装置共用转盘,从而上料装置将待测物料输送至转盘上和利用下料装置将测试完成的物料从转盘上取出,以完成物料的自动测试。但是,优选转盘上一般需要设置多个用于放置物料的治具,从而使得转盘的体积较大,因增大了设备的体积。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提出一种电子元件自动测试设备,以解决现有测试设备体积较大的技术问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提出一种电子元件自动测试设备,该电子元件自动测试设备包括机架、设置在所述机架上的测试装置,所述测试装置的一侧设置有上料装置,所述上料装置包括用于装载电子元件的第一过渡盘;所述测试装置的另一侧设置有下料装置,所述下料装置包括用于装载电子元器件的第二过渡盘;所述上料装置与所述下料装置之间设置有转运装置,所述转运装置用于从所述第一过渡盘上抓取电子元件至测试装置上和用于将所述测试装置上的电子元件抓取至第二过渡盘上。
优选地,所述转运装置包括第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓取组件和第二抓取组件,所述第一抓取组件用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试装置上,所述第二抓取组件用于将位于所述测试装置上的电子元件运输至所述第二过渡盘上,所述第一抓取组件与所述第二抓取组件结构一致,分别包括滑动设置在所述第一安装板上并可沿水平方向移动滑座、滑动设置在所述滑座上并可沿竖直方向滑动的支撑臂和设置在所述支撑臂上的第一真空吸嘴,且所述第一过渡盘、第一真空吸嘴、测试平台和第二过渡盘依次沿直线状态布置。
优选地,所述第一过渡盘上具有多个用于容纳单个电子元件的第一容纳腔,所述第二过渡盘上设置有多个用于容纳单个电子元件的第二容纳腔,所述测试装置具备多个用于测试单个电子元件的测试腔,所述第一真空吸嘴、第一容纳腔、第二容纳腔以及测试腔的数量相同并按同一规则排布。
优选地,
所述上料装置还包括用于输送料盘的第一输送装置和用于将位于料盘内的电子元件抓取至所述第一过渡盘上的第一机械手。
优选地,所述第一机械手包括第一横梁、第一安装座和第一摆臂机构,所述第一横梁设置在所述第一输送装置的上方;所述第一安装座滑动设置在所述第一横梁上并可沿垂直于所述第一输送装置输送方向的水平方向移动;所述第一摆臂机构包括设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第二真空吸嘴;所述第一过渡盘转动设置所述第一安装座上并可承接位于所述第二真空吸嘴上的电子元件,且多个所述第一容纳腔呈环状布置。
优选地,所述上料装置还包括用于输送料盘的第二输送装置和用于将位于料盘内的电子元件抓取至所述第二过渡盘上的第二机械手。
优选地,所述第二机械手包括第二横梁、第二安装座和第二摆臂机构,所述第二横梁设置在所述第二输送装置的上方;所述第二安装座滑动设置在所述第二横梁上并可沿垂直于所述第二输送装置输送方向的水平方向移动;所述第二摆臂机构包括设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第三真空吸嘴;所述第二过渡盘转动设置所述第二安装座上并可承接位于所述第三真空吸嘴上的电子元件,且多个所述第二容纳腔呈环状布置。
优选地,所述测试平台包括测试下模和滑动设置在所述机架上并位于所述测试下模正上方的测试上模,所述测试腔位于所述测试下模上,所述测试腔和/或所述测试上模上设置有可与电子元件电连接的测试探针。
优选地,所述电子元件自动测试设备还包括摄像装置,所述摄像装置包括第一CCD组件和第二CCD组件,所述第一CCD组件包括竖直向上布置的第一相机和位于所述第一相机正上方的第一光源,且所述第一相机可对位于所述转运装置上的电子元件进行拍摄;所述第二CCD组件包括竖直向下布置的第二相机和位于所述第二相机正下方的第二光源,且所述第二相机可对位于所述第二过渡盘上的电子元件进行拍摄。
优选地,所述电子元件自动测试设备还包括位于所述第二横梁下方的储料平台,所述储料平台包括第二安装板和多个收纳盒,所述第二安装板通过直线导轨设置在所述机架上并可沿平行于所述第二输送装置输送料盘移动的方向移动,多个所述收纳盒位于在所述第二安装板上并沿所述第二安装板的移动方向依次布置。
本实用新型实施例提供的电子元件自动测试设备,通过针对上料过程设置第一过渡盘和针对下料过程设置第二过渡盘,从而有利于避免出现因设置共用转盘导致测试设备体积过大的现象,以此有利于降低测试设备的体积。
附图说明
图1为本实用新型中电子元件自动测试设备一实施例的结构示意图;
图2为图1中所示的上料装置的结构示意图;
图3为图1中所示的电子元件自动测试设备部分结构的结构示意图;
图4为图1中所示的转运装置的结构示意图;
图5为图2中所示第一过渡盘和第一机械手部分结构的示意图;
图6为图1中所示的测试装置的结构示意图;
图7为图2中所示的第一输送装置、第一放盘部和第一收盘部的结构示意图;
图8为图1中所示的储料平台的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型提出一种电子元件自动测试设备,其可用于IC芯片及硅麦等电子产品的电性能参数测试(包括电流、电压及相位等),包括但不限于此。如图1至图3所示,该电子元件自动测试设备包括机架100、设置在所述机架100上的测试装置200,所述测试装置200的一侧设置有上料装置300,所述上料装置300包括用于装载电子元件的第一过渡盘310;所述测试装置200的另一侧设置有下料装置400,所述下料装置400包括用于装载电子元器件的第二过渡盘410;所述上料装置300与所述下料装置400之间设置有转运装置500,所述转运装置500用于从所述第一过渡盘310上抓取电子元件至测试装置200上和用于将所述测试装置200上的电子元件抓取至第二过渡盘410上。
本实施例中,优选上料装置300、测试装置200以及下料装置400依次呈直线状态布置,此时上料装置300包括用于装载电子元件的第一过渡盘310,下料装置400包括用于装载电子元件的第二过渡盘410,从而方便转运装置500分别将位于第一过渡盘310上的电子元件输送至测试装置200上和将位于测试装置200上的电子元件输送至第二过渡盘410上。其中,第一过渡盘310的上料方式可以是人工上料,也可以是采用机械手的形式进行上料,至于转运装置500的形式可以是参照现有的多轴机械手进行布置即可。本实施例中,通过针对上料过程设置第一过渡盘310和针对下料过程设置第二过渡盘410,从而有利于避免出现因设置共用转盘导致测试设备体积过大的现象,以此有利于降低测试设备的体积。
在一较佳实施例中,如图1和图4所示,转运装置500包括第一安装板510、第一抓取组件520和第二抓取组件530,其中第一抓取组件520用于将位于第一过渡盘310上的电子元件运输至测试装置200上,第二抓取组件530用于将位于测试装置200上的电子元件运输至第二过渡盘410上,第一抓取组件520与第二抓取组件530结构相同,现以第一抓取组件520进行具体描述。第一抓取组件520包括滑座521、支撑臂522和第一真空吸嘴523,滑座521滑动设置在第一安装板510上并可沿水平方向滑动(即在第一过渡盘310与测试装置200之间滑动),支撑臂522滑动设置在滑座521上并沿竖直方向滑动,至于驱动滑座521和支撑臂522滑动的形式可以是丝杠组件、同步带组件和直线气缸等任意一种直线驱动机构。本实施例中,通过真空吸附的方式即可方便运输电子元件。
在一较佳实施例中,如图5所示,第一过渡盘310上具有多个用于容纳单个电子元件的第一容纳腔311,第二过渡盘410上设置有多个用于容纳单个电子元件的第二容纳腔,测试装置200具备多个用于测试单个电子元件的测试腔,第一真空吸嘴523、第一容纳腔311、第二容纳腔以及测试腔的数量相同并按同一规则排布。此时,优选第一真空吸嘴523、第一容纳腔311、第二容纳腔以及测试腔均呈环状布置,从而方便第一抓取组件520一次性将第一过渡盘310上的多个电子元件运输至测试装置200上,以便于测试装置200同时对多个电子元件进行测试。
在一较佳实施例中,如图1、图2和图5所示,上料装置300包括设置在机架上的第一输送装置320和第一机械手330,第一输送装置320输送料盘的方式可以是输送带的形式,也可以是采用驱动机构推动料盘移动的方式。第一机械手330即可对位于料盘内的电子元件进行抓取的方式可以是在料盘移动的过程中进行抓取,也可以是在料盘的运输的过程中的停止点进行抓取,即料盘移动的过程中具有多个停止点,即料盘达到停止点后即停止运动,在第一机械手330抓取预设位置的电子在元件后,由第一输送装置320带动料盘移动至下一个停止点,至于第一机械手330的形式可以是参照现有的六轴、四轴或三轴机械手进行布置即可,而第一机械手330抓取电子元件的方式可以是真空吸附式,也可以是夹持式。
在一较佳实施例中,如图2和图5所示,第一机械手330包括第一横梁331、第一安装座332和第一摆臂机构333。其中,第一横梁331通过两个支撑柱安装在机架100上并跨设在第一输送装置320的上方,而第一安装座332滑动设置在第一横梁331上,并优选可沿垂直于料盘移动方向的水平方向移动,至于驱动第一安装座332移动的方式采用丝杠组件、同步带组件均可。第一摆臂机构333包括第一皮带传动单元、第一活动曲柄334、第一连杆335以及第二真空吸嘴336,第一皮带传动单元沿竖直方向设置在第一安装座332上,优选利用步进电机驱动皮带传动单元转动,第一活动曲柄334的数量为两个,分别与第一皮带传动单元的两个输出轴连接,且第一连杆335分别与两个第一活动曲柄334转动连接,第二真空吸嘴336位于第一连杆335上。其中,第二真空吸嘴336的数量为一个,从而方便吸取单个电子元件,此时还可优选第二真空吸嘴336与第一连杆335为弹性连接,从而有利于防止第二真空吸嘴336与电子元件接触时损坏电子元件。第一过渡盘310转动设置在第一安装座332上,此时优选多个第一容纳腔311呈环状布置,而驱动第一过渡盘310转动的形式可以是电机或同步带组件,以此驱动第一过渡盘310转动,从而方便利用第一摆臂机构333将料盘内的电子元件一一对应放置在第一容纳腔311内。本实施例中,通过采用摆臂机构的形式在两个固定点位之间运输电子元件,有利于增加运输电子元件的效率。
在一较佳实施例中,如图1和图3所示,所述上料装置300还包括用于输送料盘的第二输送装置420和用于将位于料盘内的电子元件抓取至所述第二过渡盘410上的第二机械手430。所述第二机械手430包括第二横梁、第二安装座和第二摆臂机构,所述第二横梁设置在所述第二输送装置420的上方;所述第二安装座滑动设置在所述第二横梁上并可沿垂直于所述第二输送装置420输送方向的水平方向移动;所述第二摆臂机构包括设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第三真空吸嘴;所述第二过渡盘410转动设置所述第二安装座上并可承接位于所述第三真空吸嘴上的电子元件,且多个所述第二容纳腔呈环状布置。第二输送装置420与第一输送装置320的结构一致,第二机械手430与第一机械手330的结构一致,参照上的方式进行布置即可,在此不作详细说明。
在一较佳实施例中,如图1和图6所示,为了方便同时对电子元件进行测试,测试装置200包括测试下模210和测试上模220,测试下模210设置在机架100上,测试上模220滑动设置在机架100上并位于测试下模210的正上方,驱动测试上模220沿竖直方向移动的方式可以是采用丝杠组件、直线气缸和同步带组件中的任意一种。此时,测试腔位于测试下模210上,而测试探针可以是位于测试腔内和/或测试上模220上,当测试腔内和测试上模220上均布置有测试探针时即可无需调整电子元件位于测试腔内的正反状态。本实施例中,通过转运装置500将位于第一过渡盘310上的电子元件抓取至测试腔内后即可同时对多个电子元件进行测试。
在一较佳实施例中,如图3所示,电子元件自动测试设备还包括摄像装置600,摄像装置600包括第一CCD组件610和第二CCD组件620,第一CCD组件610包括设置在机架100上并竖直向上布置的第一相机611和位于第一相机611正上方的第一光源612,且第一相机611可对位于第二抓取组件530上的电子元件进行拍摄;第二CCD组件620包括设置在第二安装座上并竖直向下布置的第二相机621和位于第二相机621正下方的第二光源622,且第二相机621可对位于第二过渡盘410上的电子元件进行拍摄。本实施例中,第一CCD组件610可用于拍摄第二抓取组件530上的电子元件底面的外观和/或编号信息,第二CCD组件620可用于拍摄第二过渡盘410上的电子元件顶面的外观和/或编号信息。
当然,第二CCD组件620中的第二光源622的数量可以为两个,其中一个第二光源622设置第二安装座上,并位于第二相机621的正下方,另一个第二光源622设置在第二横梁上并位于第二过渡盘410靠近第二抓取组件530一端的停止位置(即第二抓取组件530释放电子元件的位置),且该第二光源622还可位于第二相机621的正下方,从而方便通过不同的光源控制第二相机621拍摄的信息,即:位于第二横梁上的第二光源622工作时,第二相机621用于拍摄第二过渡盘410上的电子元件顶面的外观和/或编号信息,位于第二安装座上的第二光源622工作时,第二相机621用于拍摄第二过渡盘410上是否还存在电子元件。
进步一地,摄像装置还可在包括设置在测试上模220上的第三CCD组件,以方便获取测试下模210上电子元件的状态信息,如外观、数量以及编号信息。
在一较佳实施例中,如图3和图8所示,电子元件自动测试设备还包括设置在机架100上并位于第二横梁下方的储料平台700,储料平台700包括第二安装板710和多个收纳盒720,第二安装板710通过直线导轨设置在机架100上并可沿与平行于第二输送装置420输送料盘移动的方向移动,至于驱动第二安装板710移动的方式可以是丝杠组件和同步带组件中的任意一种。多个收纳盒720位于在第二安装板710上并沿第二安装板710的移动方向依次布置。收纳盒720的形状以及容量可根据实际情况进行布置,且收纳盒720的数量可根据产品的规格等级对应设置,如等级的数量等于收纳盒720的数量,以此方便将各个规格的产品进行分类收纳。当然,收纳盒720还可以是呈环状布置在第二安装板710上,此时驱动第二安装板710进行自转即可,从而方便第二摆臂机构将位于第二过渡盘410上的电子元件抓取对应的收纳盒720内。本实施例中,通过驱动收纳盒720进行移动,从而便于现有第二摆臂机构将不同规格的产品移动至固定位置后释放产品即可。此时第二输送装置420与储料平台700可以混合使用,即第二输送装置420上的料盘收纳需要料盘摆放的合格电子元件,而储料平台700可以是收纳不合格的电子品或用于根据测试结果收纳不同等级的电子元件。
在一较佳实施例中,如图8所示,储料平台700还包括多个围板730,若干围板730设置在第二安装板710上并依次围绕多个收纳盒720布置,从而即可利用第二安装板710与多个围板730构成可容纳若干收纳盒720的容纳腔。其中,优选多个围板730对若干收纳盒720形成夹持状态,从而对若干收纳盒720进行固定,而围板730与第二安装板710以及相邻围板730之间连接的方式可以是通过螺钉即可。当然,还可以是在收纳盒720的外围侧壁上设置卡块,而围板730上则设置有与卡块对应的卡腔,以形成卡接配合,以增加收纳盒720固定的牢固度。此时,优选若干收纳盒720呈直列状态布置,从而方便利用围板730对收纳盒720进行固定。
在一较佳实施例中,优选围板730为四个,且两两相对布置。此时,优选沿收纳盒720排列方向上布置的一对相对布置的围板730中的任意一个围板730与第二安装板710滑动连接,且该两个围板730可相互靠近或远离,从而即可通过改变两个围板730之间的距离来增加或减少收纳盒720的数量。同时,优选储料平台700还包括弹性件,该弹性件优选为复位弹簧,且复位弹簧的两端分别与该两个围板730连接,从而方便自动驱动两个围板730对收纳盒720进行夹持。
在一较佳实施例中,如图8所示,储料平台700还包括防尘罩740,且收纳盒720可在防尘罩740内移动。此时,防尘罩740的顶部设置有可供产品通过的通孔741,且该通孔741可在收纳盒720移动后与对应的收纳盒720开口端一一对接,从而方便产品穿过通孔741后收纳在对应的收纳盒720内。
在一较佳实施例中,如图8所示,储料平台700还包括光电开关750,且光电开关750设置在防尘罩740顶部并位于通孔741的入口端,从而方便检测产品是否穿过该通孔741,以及即可判断产品是否进入对应的收纳盒720。当然,此时还可联合下述位于收纳盒720内的压力传感器进行判断产品是否进入对应的收纳盒720内,如压力传感器检测的压力数据是否存在变动。
在一较佳实施例中,储料平台700还包括设置在收纳盒720底部的压力传感器,从而方便在各个收纳盒720内收纳至预设重量的产品后发出警报信息,以提醒操作人员更换收纳盒720或取出该收纳盒720内的产品。
在一较佳实施例中,如图2和图7所示,第一输送装置320包括两个第一支撑板321和第一拨盘机构322,两个第一支撑板321平行布置在机架100上,至于两个第一支撑板321之间的距离等于料盘的宽度即可,且第一支撑板321的上端朝向另一个第一支撑板321的一侧面设置有第一导向条323,从而方便利用两个第一导向条323分别承接料盘的两相对边侧。同时,第一拨盘机构322位于两个第一支撑板321之间,可以是设置在机架100上也可以是设置在两个第一支撑板321上,从而方便利用第一拨盘机构322驱动位于第一导向条323上的料盘移动。其中,第一拨盘机构322的形式可以为包括推板和驱动推板沿第一导向条323的延伸方向水平移动的驱动装置,在料盘位于两个第一导向条323上后,利用驱动装置即可驱动推板移动,以此带动位于第一导向条323上的料盘移动。当然,推板带动料盘移动的方式可以是直接与料盘的后端贴合后以此带动料盘移动,也可以是通过真空吸附或夹持的方式固定料盘后带动料盘移动。上料装置300还包括位于第一输送装置320输入端的第一放盘部340和位于第一输送装置320输出端的第一收盘部350,通过第一输送装置320将位于第一放盘部340释放的料盘(即装有电子元件的料盘)依次输送至第一收盘部350,以利用第一收盘部350对空料盘进行收纳,至于第一放盘部340和第一收盘部350收纳料盘的方式可以是采用堆叠式即可,从而有利于增加存储料盘的数量。为了方便料盘的释放和收纳,第一放盘部340与第一收盘部350的机构相同,现具体对第一放盘部340进行详细描述,而第一收盘部350参照第一放盘部340进行布置即可。第一放盘部340包括第一堆垛架341、第一承载组件342和第一举升机构343,第一堆垛架341由四个分别竖直设置在两个第一支撑板321上的限位板围合而成,优选限位板有横截面为L型的长条形板体,以此构成与料盘相匹配的第一料盘放置空间,该第一料盘放置空间内可叠层放置多个料盘。此时,即可将第一料盘放置空间的料盘出口针对第一输送装置320布置。第一承载组件342的数量优选为两个,具体可以是两个第一支撑板321上分别布置一个第一承载组件342并位于第一料盘放置空间的周向上。其中,第一承载组件342包括第一承载柱和第一驱动部,优选第一承载柱为条形柱体,且该第一承载柱呈水平状态布置。此时,驱动第一承载柱运动的形式可以是采用直线气缸,即第一驱动部为直线气缸,且第一承载柱与直线气缸的输出端连接,以此利用直线气缸驱动第一承载柱水平移动,从而使第一承载柱位于第一料盘放置空间内承接位于第一料盘放置空间内的料盘,或第一承载柱位于第一料盘放置空间外释放位于第一料盘放置空间内的料盘。
当然,第一收盘部350中的第一承载组件342的形式还可以是第一驱动部的形式还可以是为扭簧,此时第一承载柱包括与第一支撑板321连接的安装部和与所述安装部转动连接的承接部,且扭簧套设在其转轴上并分别与安装部和承接部连接,同时,安装部上具有限位结构,以限制承接部向下翻转并保持水平状态,以使承接部可对料盘的底部进行支撑。此时,第一收盘部350对料盘进行收纳时只需第一举升机构343带动料盘移动至第一料盘放置空间内的过程中即可驱动承接部向上转动至竖直状态,并在料盘上升至预设高度后在扭簧的作用下复位至水平状态,然后该料盘跟随第一举升机构343下降并使该料盘的底部与承接部贴合即可完成对料盘的收纳工作。
第一举升机构343包括第一承载板和第二驱动部,优选第一承载板位于两个第一支撑板321之间位于第一料盘放置空间的料盘出口的正下方,而第二驱动部的输出端与第一承载板连接,以方便驱动第一承载板朝向第一料盘放置空间移动。此时,第二驱动部的形式可以是现有的直线驱动机构均可,如直线气缸、电机丝杠组件、齿轮齿条组件以及同步带组件。本实施例中,物料框的运输方式为,当需要向第一输送装置320输送料盘时,第一承载板上行并与第一堆垛架341(即第一料盘放置空间)内最下层的料盘的底部贴合后,两个第一承载柱相背移动从而释放第一堆垛架341内的料盘,然后第一承载板下行预设距离(即一个料盘厚度的距离),再利用两个第一承载柱相向移动并与该料盘的上一个料盘的底部抵接,最后第一承载板继续下行并使该料盘的底部分别与两个第一导向条323贴合,从而利用第一拨盘机构322驱动料盘移动。当然,输送料盘的方式还可以是将两个导向条替换为输送带,从而带动料盘移动,此时则不需要设置第一拨盘机构322。
在一较佳实施例中,如图1和图3所示,下料装置400还包括分别位于第二输送装置420输送方向两端的第二放盘部和第二收盘部,第二输送装置420包括两个第二支撑板和第二拨盘机构,两个第二支撑板平行设置在机架100上,且第二支撑板上设置有用于承接料盘的第二导向条;第二拨盘机构设置在机架100上并位于两个第二支撑板之间,且第二拨盘机构可驱动位于第二导向条上的料盘移动;第二放盘部用于依次将空料盘放置在第二输送装置420的输入端,第二收盘部用于将位于第二输送装置420输出端装有电子元件的料盘依次进行收纳,且第二放盘部与所述第二收盘部结构一致,分别包括:
第二堆垛架,第二堆垛架具有位于第二输送装置420上方的第二料盘放置空间,第二料盘放置空间的料盘出口正对第二输送装置420;
第二承载组件,两个第二承载组件相对设置在第二堆垛架的相对两侧上,第二承载组件包括第二承载柱和用于驱动第二承载柱可朝向第二料盘放置空间移动以用于托举料盘的第五驱动部;
第二举升机构,第二举升机构包括第二承载板和用于驱动第二承载板可朝向第二料盘放置空间内移动以用于承接第二料盘放置空间内的料盘的第六驱动部。本实施例中,下料装置400与上料装置300的结构一致,参照上料装置300进行布置即可,在此不作详细描述,具体的不同点在于,下料装置400的数量为两个。
以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例,无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围,凡是在与本实用新型一个整体的构思下,利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换,或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。
Claims (10)
1.一种电子元件自动测试设备,其特征在于,包括机架、设置在所述机架上的测试装置,所述测试装置的一侧设置有上料装置,所述上料装置包括用于装载电子元件的第一过渡盘;所述测试装置的另一侧设置有下料装置,所述下料装置包括用于装载电子元器件的第二过渡盘;所述上料装置与所述下料装置之间设置有转运装置,所述转运装置用于从所述第一过渡盘上抓取电子元件至测试装置上和用于将所述测试装置上的电子元件抓取至第二过渡盘上。
2.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述转运装置包括第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓取组件和第二抓取组件,所述第一抓取组件用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试装置上,所述第二抓取组件用于将位于所述测试装置上的电子元件运输至所述第二过渡盘上,所述第一抓取组件与所述第二抓取组件结构一致,分别包括滑动设置在所述第一安装板上并可沿水平方向移动滑座、滑动设置在所述滑座上并可沿竖直方向滑动的支撑臂和设置在所述支撑臂上的第一真空吸嘴,且所述第一过渡盘、第一真空吸嘴、测试平台和第二过渡盘依次沿直线状态布置。
3.根据权利要求2所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述第一过渡盘上具有多个用于容纳单个电子元件的第一容纳腔,所述第二过渡盘上设置有多个用于容纳单个电子元件的第二容纳腔,所述测试装置具备多个用于测试单个电子元件的测试腔,所述第一真空吸嘴、第一容纳腔、第二容纳腔以及测试腔的数量相同并按同一规则排布。
4.根据权利要求3所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述上料装置还包括用于输送料盘的第一输送装置和用于将位于料盘内的电子元件抓取至所述第一过渡盘上的第一机械手。
5.根据权利要求4所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述第一机械手包括第一横梁、第一安装座和第一摆臂机构,所述第一横梁设置在所述第一输送装置的上方;所述第一安装座滑动设置在所述第一横梁上并可沿垂直于所述第一输送装置输送方向的水平方向移动;所述第一摆臂机构包括设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第二真空吸嘴;所述第一过渡盘转动设置所述第一安装座上并可承接位于所述第二真空吸嘴上的电子元件,且多个所述第一容纳腔呈环状布置。
6.根据权利要求3所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述上料装置还包括用于输送料盘的第二输送装置和用于将位于料盘内的电子元件抓取至所述第二过渡盘上的第二机械手。
7.根据权利要求6所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述第二机械手包括第二横梁、第二安装座和第二摆臂机构,所述第二横梁设置在所述第二输送装置的上方;所述第二安装座滑动设置在所述第二横梁上并可沿垂直于所述第二输送装置输送方向的水平方向移动;所述第二摆臂机构包括设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第三真空吸嘴;所述第二过渡盘转动设置所述第二安装座上并可承接位于所述第三真空吸嘴上的电子元件,且多个所述第二容纳腔呈环状布置。
8.根据权利要求3所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,所述测试平台包括测试下模和滑动设置在所述机架上并位于所述测试下模正上方的测试上模,所述测试腔位于所述测试下模上,所述测试腔和/或所述测试上模上设置有可与电子元件电连接的测试探针。
9.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,还包括摄像装置,所述摄像装置包括第一CCD组件和第二CCD组件,所述第一CCD组件包括竖直向上布置的第一相机和位于所述第一相机正上方的第一光源,且所述第一相机可对位于所述转运装置上的电子元件进行拍摄;所述第二CCD组件包括竖直向下布置的第二相机和位于所述第二相机正下方的第二光源,且所述第二相机可对位于所述第二过渡盘上的电子元件进行拍摄。
10.根据权利要求7所述的电子元件自动测试设备,其特征在于,还包括位于所述第二横梁下方的储料平台,所述储料平台包括第二安装板和多个收纳盒,所述第二安装板通过直线导轨设置在所述机架上并可沿平行于所述第二输送装置输送料盘移动的方向移动,多个所述收纳盒位于在所述第二安装板上并沿所述第二安装板的移动方向依次布置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202021322774.3U CN212944180U (zh) | 2020-07-06 | 2020-07-06 | 电子元件自动测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202021322774.3U CN212944180U (zh) | 2020-07-06 | 2020-07-06 | 电子元件自动测试设备 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN212944180U true CN212944180U (zh) | 2021-04-13 |
Family
ID=75390609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202021322774.3U Active CN212944180U (zh) | 2020-07-06 | 2020-07-06 | 电子元件自动测试设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN212944180U (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113933681A (zh) * | 2021-09-13 | 2022-01-14 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 一种芯片测试设备 |
CN113998457A (zh) * | 2021-09-13 | 2022-02-01 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 多芯片检测系统 |
CN114148752A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-08 | 深圳市久久犇自动化设备股份有限公司 | 片状工件全自动生产线 |
CN114906396A (zh) * | 2022-06-08 | 2022-08-16 | 安徽工业大学 | 一种新型全自动双路产品入料机构 |
-
2020
- 2020-07-06 CN CN202021322774.3U patent/CN212944180U/zh active Active
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113933681A (zh) * | 2021-09-13 | 2022-01-14 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 一种芯片测试设备 |
CN113998457A (zh) * | 2021-09-13 | 2022-02-01 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 多芯片检测系统 |
CN113998457B (zh) * | 2021-09-13 | 2024-02-02 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 多芯片检测系统 |
CN113933681B (zh) * | 2021-09-13 | 2024-03-08 | 深圳格芯集成电路装备有限公司 | 一种芯片测试设备 |
CN114148752A (zh) * | 2021-12-03 | 2022-03-08 | 深圳市久久犇自动化设备股份有限公司 | 片状工件全自动生产线 |
CN114906396A (zh) * | 2022-06-08 | 2022-08-16 | 安徽工业大学 | 一种新型全自动双路产品入料机构 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN212944180U (zh) | 电子元件自动测试设备 | |
CN109712924B (zh) | 一种红外焦平面阵列芯片自动化测试设备 | |
CN111606021B (zh) | 一种上下料装置 | |
CN111606022B (zh) | 一种上下料装置 | |
CN210171833U (zh) | 一种lcd屏全自动点胶设备 | |
CN112298889A (zh) | 一种高速轻量型仓储设备 | |
CN115123815B (zh) | 自动上下料测试设备 | |
CN114408563A (zh) | 一种具有暂存功能并共用托盘和盒子的收放板机 | |
CN218014213U (zh) | 一种sip模块缺陷异常检测设备 | |
CN115963062A (zh) | 半导体载板缺陷检测及标识系统 | |
TWI671847B (zh) | 電子元件作業設備 | |
CN111477942A (zh) | 用于电池高温化成的自动下料设备 | |
CN114348596B (zh) | 一种自动焊接组装包装机 | |
CN108971027B (zh) | 一种电池检测机构 | |
CN113019988B (zh) | 视觉检测设备 | |
JPH06252594A (ja) | 電子部品の自動装着装置 | |
CN211034357U (zh) | 电路板装入tray盘设备 | |
CN218370397U (zh) | 上下料机构及外观检测装置 | |
CN115106299B (zh) | 一种电路板检测产线 | |
CN114148753B (zh) | 片状工件上下料设备 | |
CN111003248A (zh) | 一种调整纸箱变形的装置、系统及打包机 | |
CN212965233U (zh) | 电子元件自动测试设备 | |
CN114148752A (zh) | 片状工件全自动生产线 | |
CN114530398A (zh) | 一种半导体模组芯片溅镀制程后的高精度顶胶取放设备 | |
CN113546855A (zh) | 一种基于plc的零件快速全检设备及其检测方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |