CN212965233U - 电子元件自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，上料平台与下料平台结构相同，上料平台包括第一过渡盘和第一摆臂机构，第一过渡盘转动设置在机架上，第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；第一摆臂机构包括设置在机架上的第一安装座、设置在第一安装座上的第一皮带传动单元、与第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个第一活动曲柄转动连接的第一连杆、位于第一连杆上的第一真空吸嘴以及设置在第一安装座上并位于第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱。本实用新型有利于提高电子元件测试的效率。

Description

电子元件自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试设备技术领域，具体涉及一种电子元件自动测试设备。

背景技术

近年来，随着电子元件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

然而，传统电子元件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元件的产量需求。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提出一种电子元件自动测试设备，以解决传统的电子元件的测试效率相对较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，其中：

所述供料平台包括设置在所述机架上的圆振、与所述圆振的出料口对接的上料导轨以及位于所述上料导轨下方的直振；

所述上料平台包括第一过渡盘和用于将位于所述上料导轨上的电子元件输送至所述第一过渡盘上的第一摆臂机构，所述第一过渡盘转动设置在所述机架上，所述第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；所述第一摆臂机构包括设置在所述机架上的第一安装座、设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第一真空吸嘴，所述第一摆臂机构还包括设置在所述第一安装座上并位于所述第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱；

所述测试平台具有用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；

所述下料平台包括第二过渡盘和用于将位于所述第二过渡盘上的电子元件输送至所述储料平台内的第二摆臂机构，所述第二过渡盘转动设置在所述机架上，所述第二过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构包括设置在所述机架上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱；

所述转运机械手设置在所述机架上并用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试平台上和用于将位于所述测试平台上的电子元件运输至所述第二过渡盘上；

所述储料平台设置在所述机架上并用于收纳测试后的电子元件。

优选地，所述测试平台包括底座和滑动设置在所述底座上并可沿竖直方向滑动的上盖，所述底座上设置测试下模，所述上盖上设置有测试上模，所述测试空间由所述测试下模和测试上模组合构成，所述测试探针位于所述测试下模和/或测试上模上。

优选地，所述测试下模上具有多个呈环状布置的测试腔，且所述测试腔的数量、所述第一容纳腔的数量以及所述第二容纳腔的数量相同；所述转运机械手包括设置在所述机架上的第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓取组件和第二抓取组件，所述第一抓取组件用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试下模上，所述第二抓取组件用于将位于所述测试下模上的电子元件运输至所述第二过渡盘上，所述第一抓取组件与所述第二抓取组件结构一致，分别包括：

滑动设置在所述第一安装板上的支撑臂和设置在所述支撑臂上的多个呈环状布置的第三真空吸嘴，且所述第三真空吸嘴的数量与所述第一容纳腔的数量相同，所述第三真空吸嘴可一一对应吸附位于所述第一容纳腔内的电子元件。

优选地，所述电子元件自动测试设备还包括设置在所述机架上的标准电子元件平台，所述标准电子元件平台包括标准电子元件治具和盖板，所述标准电子元件治具设置在所述机架上并具有多个用于放置单个标准电子元件的第三容纳腔，所述第三容纳腔的数量与所述第一容纳腔的数量相同并呈环状布置；所述盖板覆盖设置在所述标准电子元件治具上以封堵所述第一容纳腔的开口端；所述转运机械手可将位于所述标准电子元件平台上的标准电子元件输送至所述测试平台上。

优选地，所述盖板转动设置在所述标准电子元件治具上，且所述盖板上开设有与所述第三容纳腔一一对应的取料口。

优选地，所述储料平台包括第二安装板和多个第一收纳盒，所述第二安装板通过直线导轨设置在所述机架上并可沿水平方向移动，多个所述第一收纳盒位于所述第二安装板上并沿所述第二安装板的移动方向依次布置。

优选地，所述储料平台还包括罩设在多个所述第一收纳盒上的防尘罩，且所述防尘罩的顶部具有一个与所述第一收纳盒的开口端对接的通孔。

优选地，所述储料平台还包括设置在所述防尘罩顶部并位于所述通孔处的光电开关。

优选地，所述电子元件自动测试设备还包括摄像装置，所述摄像装置包括第一CCD组件、第二CCD组件和第三CCD组件，所述第一CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述上料导轨出料口出的电子元件，所述第二CCD组件设置在所述测试平台上并用于拍摄位于所述测试平台上的电子元件，所述第三CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述第二过渡盘上的电子元件。

优选地，所述电子元件自动测试设备还包括设置在所述机架上并位于所述第一真空吸嘴移动路径正下方的第二收纳盒。

本实用新型实施例提供的电子元件自动测试设备，通过利用第一摆臂机构抓取位于上料导轨上的电子元件，并利用转运机械手将位于第一过渡盘上的电子元件放置在测试空间内进行自动测试，且在测试完成后利用转运机械手将测试后的电子元件放置在第二过渡盘上，并利用第二摆臂机构将电子元件储料平台内，以此完成电子元件的自动测试与收纳，从而有利于提高电子元件测试的效率。

附图说明

图1为本实用新型中电子元件自动测试设备一实施例的结构示意图；

图2为图1中所示的电子元件自动测试设备一部分结构的示意图；

图3为图1中所示的电子元件自动测试设备又一部分结构的示意图；

图4为图2中所示的第一过渡盘、标准电子元件平台以及第二收纳盒的结构示意图；

图5为图2中所示的第一摆臂机构的结构示意图；

图6为图1中所示的测试平台的结构示意图；

图7为图1中所示的转运机械手的结构示意图；

图8为图1中所示的储料平台的结构示意图；

图9为图8中所示的储料平台部分结构的示意图；

图10为图8中A部结构的放大示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提出一种电子元件自动测试设备，其可用于IC芯片及硅麦等电子产品的电性能参数测试(包括电流、电压及相位等)，包括但不限于此。如图1至图5所示，该电子元件自动测试设备包括机架100、供料平台200、上料平台300、测试平台400、下料平台500、转运机械手600和储料平台700，其中：

所述供料平台200包括设置在所述机架100上的圆振210、与所述圆振 210的出料口对接的上料导轨220以及位于所述上料导轨220下方的直振230；

所述上料平台300包括第一过渡盘310和用于将位于所述上料导轨220 上的电子元件输送至所述第一过渡盘310上的第一摆臂机构320，所述第一过渡盘310转动设置在所述机架100上，所述第一过渡盘310上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔311；所述第一摆臂机构320包括设置在所述机架100上的第一安装座321、设置在所述第一安装座321上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄322、分别与两个所述第一活动曲柄322转动连接的第一连杆323以及位于所述第一连杆323上的第一真空吸嘴324，所述第一摆臂机构320还包括设置在所述第一安装座321上并位于所述第一活动曲柄322移动轨迹上的第一限位柱325；

所述测试平台400具有用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；

所述下料平台500包括第二过渡盘510和用于将位于所述第二过渡盘510 上的电子元件输送至所述储料平台700内的第二摆臂机构520，所述第二过渡盘510转动设置在所述机架100上，所述第二过渡盘510上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构520包括设置在所述机架100上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构520还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱；

所述转运机械手600设置在所述机架100上并用于将位于所述第一过渡盘310上的电子元件运输至所述测试平台400上和用于将位于所述测试平台 400上的电子元件运输至所述第二过渡盘510上；

所述储料平台700设置在所述机架100上并用于收纳测试后的电子元件。

本实施例中，供料平台200还包括圆振210、上料导轨220和直振230。圆振210设置在机架100上，从而方便利用圆振210存储电子产品，上料导轨220的进料口与圆振210的出料口对接，直振230位于上料导轨220的下方，从而方便利用直振230驱动位于上料导轨220内的电子产品移动至上料导轨220的出料口处。

上料平台300包括第一过渡盘310和第一摆臂机构320，第一过渡盘310 转动设置在机架100上，第一过渡盘310上具有多个呈环状布置并可容纳单个电子产品的第一容纳腔311，至于驱动第一过渡盘310转动的方式可以是利用电机即可。第一摆臂机构320包括第一安装座321、第一皮带传动单元、第一活动曲柄322、第一连杆323以及第一真空吸嘴324，第一安装座321设置在机架100上，优选第一皮带传动单元沿水平方向设置在第一安装座321上，优选利用步进电机驱动第一皮带传动单元转动，第一活动曲柄322的数量为两个，分别与第一皮带传动单元的两个输出轴连接，且第一连杆323分别与两个第一活动曲柄322转动连接，第一真空吸嘴324位于第一连杆323上。此时，第一真空吸嘴324的数量为一个，从而方便吸取单个电子元件，此时还可优选第一真空吸嘴324与第一连杆323为弹性连接，从而有利于防止第一真空吸嘴324与电子元件接触时损坏电子元件。其中，第一真空吸嘴324 在第一皮带传动单元的驱动下分别在两个固定点(即上料点和下料点)往复移动，即上料导轨220的出料口和第一过渡盘310处往复移动，以此将上料导轨220上的电子元件输送至第一过渡盘310上。具体运输时，第一过渡盘 310接收一个电子元件后即转动预设角度，以使后一个第一容纳腔311位于第一真空吸嘴324的下料点处，从而依次利用将第一过渡盘310上的第一容纳腔311全部放置电子元件。当然，第一安装座321上还可设置第一限位柱325，优选第一限位柱325的数量为两个，并均位于第一活动曲柄322移动的轨迹上，且其中一个第一限位柱325可在第一真空吸嘴324吸附位于第一过渡盘 310上的电子元件时与其中一个第一活动曲柄322抵接，另一个第一限位柱 325可在第一真空吸嘴324吸将电子元件放置在第一过渡盘310上时与另中一个第一活动曲柄322抵接，从而方便利用第一限位柱325限制第一真空吸嘴 324在两个固定点移动的精确度。当然，还可在第一限位柱325与第一活动曲柄322接触的地方设置压力传感器，从而在压力传感器检测到预设大小的压力值时即代表第一真空吸嘴324完成取料或放料的动作，然后利用第一皮带传动单元驱动第一活动曲柄322反向转动即可。当然，还可以是第一限位柱325与设置在第一安装座321上的微动开关的传动连接，从而在第一限位柱 325受到第一活动曲柄322的驱动过后发出对应的信号，以此表示第一真空吸嘴324已经移动至其中的一个极限位置。

测试平台400具备用于放置电子元件的测试空间，且测试空间内设置有可与电子元件贴合的测试探针，以达到对电子元件供电和/或信号传递的目的，以此完成对位于测试空间内的电子元件进行自动测试。

所述下料平台500包括第二过渡盘510和用于将位于所述第二过渡盘510 上的电子元件输送至所述储料平台700内的第二摆臂机构520，所述第二过渡盘510转动设置在所述机架100上，所述第二过渡盘510上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构520包括设置在所述机架100上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构520还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱。其中，下料平台500的结构与上料平台300的结构一致，参照上料平台300进行即可，在此不作详细描述。

转运机械手600设置在机架100上，并用于将位于第一过渡盘310上的电子元件运输至测试平台400上和用于将位于测试平台400上的电子元件运输至第二过渡盘510上。其中，转运机械手600的形式可以是六轴、四轴或三轴机械手中的任意一种，至于抓取电子元件的方式可以是真空吸附式，也可以是夹持式。

储料平台700设置在机架100上，用于存储测试后的电子元件，具体的方式可以是利用料盘或盒体对电子元件进行收纳均可。

本实施例中，通过利用第一摆臂机构320抓取位于上料导轨220上的电子元件，并利用转运机械手600将位于第一过渡盘310上的电子元件放置在测试空间内进行自动测试，且在测试完成后利用转运机械手600将测试后的电子元件放置在第二过渡盘510上，并利用第二摆臂机构520将电子元件储料平台700内，以此完成电子元件的自动测试与收纳，从而有利于提高电子元件测试的效率。

在一较佳实施例中，如图1和图6所示，测试平台400与机架100分离布置，即机架100上设置有供测试平台400避位的避位空间，从而有利于避免圆振210产生的振动影响电子元件的测试结果。测试平台400包括底座410 和上盖420，此时底座410可随机架100布置在底面上，而上盖420则滑动设置在底座410上并可沿竖直方向移动，至于驱动上盖420移动的方式可以是任意直线驱动机构即可，如丝杆组件、直线气缸或同步带组件。底座410上设置有测试下模411，上盖420上设置有测试上模421，测试下模411与测试上模421组合即可构成测试空间，至于测试探针则可布置在测试上模421和/ 或测试下模411上，当测试下模411和测试上模421上均布置有测试探针时即可无需调整电子元件位于测试腔内的正反状态。此时，优选测试下模411 上具有多个可容纳单个电子元件的测试腔，以此方便同时对多个电子元件进行测试。本实施例中，通过转运机械手600将位于第一过渡盘310上的电子元件抓取至测试腔内后即可同时对多个电子元件进行测试。

在一较佳实施例中，如图1和图7所示，优选多个测试腔呈环状布置，且测试腔的数量、第一容纳腔311的数量以及第二容纳腔的数量相同，即测试腔、第一容纳腔311以及第二容纳腔按照相同规则进行布置。

此时，转运机械手600包括第一安装板610、第一抓取组件620和第二抓取组件630，其中第一抓取组件620用于将位于第一过渡盘310上的电子元件运输至测试下模411(即测试腔内)上，第二抓取组件630用于将位于测试下模411上的电子元件运输至第二过渡盘510上，第一抓取组件620与第二抓取组件630结构相同，现以第一抓取组件620进行具体描述。第一抓取组件 620包括滑座621、支撑臂622和多个第三真空吸嘴623，滑座621滑动设置在第一安装板610上，并可在第一过渡盘310与测试下模411之间滑动，支撑臂622滑动设置在滑座621上并可沿竖直方向滑动，至于驱动滑座621和支撑臂622滑动的形式可以是丝杠组件、同步带组件和直线气缸等任意一种直线驱动机构。多个第三真空吸嘴623呈环状布置在支撑臂622上，且第三真空吸嘴623的数量与第一容纳腔311、第二容纳腔以及测试腔的数量一致，即多个第三真空吸嘴623排布的规则与第一容纳腔311排布的规则一致，从而方便第一抓取组件620一次性将第一过渡盘310上的电子元件运输至测试下模411上。

在一较佳实施例中，如图2和图4所示，电子元件自动测试设备还包括设置在机架100上的标准电子元件平台800，标准电子元件平台800包括标准电子元件治具810和盖板820，标准电子元件治具810设置在机架100上，且标准电子元件治具810上具有多个用于放置单个标准电子元件的第三容纳腔 811，同时优选第三容纳腔811的数量与第一容纳腔311的数量相同并呈环状布置，即第三容纳腔811的布置规则与第一容纳腔311的布置规则一致，而盖板820覆盖设置在标准电子元件治具810上，以可封堵第三容纳腔811的开口端，从而有利于避免异物进入第三容纳腔811内，打开盖板820的方式可以是手动，也可以是通过驱动机构自动打开均可。至于将位于第三容纳腔 811内的标准电子元件运输至测试平台400(即测试腔内)上的方式可以是通过转运机械手600即可(此时即需标准电子元件平台800位于转运机械手600 的移动轨迹上)，当然，也可以是单独设置相应的机械手。本实施例中，通过设置用于放置标准电子元件的标准电子元件平台800，从而方便标准电子元件的保存和自动对测试平台400进行校准。

在一较佳实施例中，如图4所示，优选标准电子元件平台800和盖板820 均由圆形板体构成，且多个第三容纳腔811围绕标准电子元件治具810的中心位置(即圆心)呈环状布置。盖板820的中心位置(即圆心)通过转轴与标准电子元件治具810的中心位置(即圆心)转动连接，且盖板820上开设有与第三容纳腔811一一对应的取料口821，此时，取料口821也呈环状布置，以方便与第一容纳腔311一一对应。当盖板820绕转轴转动预设角度后即可使取料口821与第三容纳腔811的开口端正对应，从而方便转运机械手600 中的第三真空吸嘴623穿过取料口821抓取位于第三容纳腔811内的标准电子元件。当测试平台400校准完成后转运机械手600即可将标准电子元件放置在第三容纳腔811内，且转动盖板820预设角度后盖板820上的取料口821 即可与第三容纳腔811的开口端错位布置，从而封堵第三容纳腔811的开口端。此时，驱动盖板820绕转轴转动的方式可以采用电机或旋转气缸，旋转气缸作为优选。本实施例中，通过盖板820与标准电子元件治具810转动连接，即可通过转动盖板820预设角度即可打开或关闭第三容纳腔811的开口端，从而方便标准电子元件的保存。

在一较佳实施例中，如图1和图8所示，储料平台700包括第二安装板 710和多个第一收纳盒720，第二安装板710通过直线导轨设置在机架100上并可沿水平方向移动，至于驱动第二安装板710移动的方式采用丝杠组件和同步带组件均可，以此方便驱动第二安装板710移动。多个第一收纳盒720 位于第二安装板710上并沿第二安装板710的移动方向依次布置。第一收纳盒720的形状以及容量可根据实际情况进行布置，且第一收纳盒720的数量可根据产品的规格等级对应设置，如等级的数量等于第一收纳盒720的数量，以此方便将各个规格的产品进行分类收纳。当然第一收纳盒720还可以是呈环状布置在第二安装板710上，此时利用驱动机构驱动第二安装板710进行自转即可，从而方便第二摆臂机构520将位于第二过渡盘510上的电子元件抓取对应的第一收纳盒720内。本实施例中，第一收纳盒720的移动，从而便于现有第二摆臂机构520将不同规格的产品移动至固定位置后释放产品即可。

在一较佳实施例中，如图8和图9所示，储料平台700还包括多个围板 730，若干围板730设置在第二安装板710上并依次围绕多个收纳盒布置，从而即可利用第二安装板710与多个围板730构成可容纳若干第一收纳盒720 的容纳腔。其中，优选多个围板730对若干第一收纳盒720形成夹持状态，从而对若干第一收纳盒720进行固定，而围板730与第二安装板710以及相邻围板730之间连接的方式可以是通过螺钉即可。当然，还可以是在第一收纳盒720的外围侧壁上设置卡块，而围板730上则设置有与卡块对应的卡腔，以形成卡接配合，以增加第一收纳盒720固定的牢固度。此时，优选若干第一收纳盒720呈直列状态布置，从而方便利用围板730对第一收纳盒720进行固定。

在一较佳实施例中，优选围板730为四个，且两两相对布置。此时，优选沿第一收纳盒720排列方向上布置的一对相对布置的围板730中的任意一个围板730与第二安装板710滑动连接，且该两个围板730可相互靠近或远离，从而即可通过改变两个围板730之间的距离来增加或减少第一收纳盒720 的数量。同时，优选储料平台700还包括弹性件，该弹性件优选为复位弹簧，且复位弹簧的两端分别与该两个围板730连接，从而方便自动驱动两个围板 730对第一收纳盒720进行夹持。

在一较佳实施例中，如图8所示，储料平台700还包括防尘罩740，且第一收纳盒720可在防尘罩740内移动。此时，防尘罩740的顶部设置有可供产品通过的通孔，且该通孔可在第一收纳盒720移动后与对应的第一收纳盒 720开口端一一对接，从而方便产品穿过通孔后收纳在对应的第一收纳盒720 内。

在一较佳实施例中，如图8和图10所示，储料平台700还包括光电开关 750，且光电开关750设置在防尘罩740顶部并位于通孔的入口端，从而方便检测产品是否穿过该通孔，以及即可判断产品是否进入对应的第一收纳盒 720。当然，此时还可联合下述位于第一收纳盒720内的压力传感器进行判断产品是否进入对应的第一收纳盒720内，如压力传感器检测的压力数据是否存在变动。

在一较佳实施例中，储料平台700还包括设置在第一收纳盒720底部的压力传感器，从而方便在各个第一收纳盒720内收纳至预设重量的产品后发出警报信息，以提醒操作人员更换第一收纳盒720或取出该第一收纳盒720 内的产品。

在一较佳实施例中，如图1、图2、图3和图6所示，电子元件自动测试设备还包括摄像装置900，摄像装置900包括第一CCD组件910、第二CCD 组件920和第三CCD组件930，第一CCD组件910设置在机架100上并用于拍摄位于上料导轨220出料口出的电子元件，第二CCD组件920设置在测试平台400上并用于拍摄位于测试平台400上的电子元件，第三CCD组件930 设置在机架100上并用于拍摄位于第二过渡盘510上的电子元件。其中，第一CCD组件910的数量可以为两个，分别位于上料导轨220出料口的正上方 (此时该第一CCD组件910布置在第一安装座321上)和正下方(该第一 CCD组件910布置在机架100上)，以此方便获取该处电子元件的外观信息和编号信息；第二CCD组件920优选位于上盖420上，以用于拍摄测试腔的电子元件的数量和外观；第三CCD组件930位于第二过渡盘510的正上方，以用于拍摄第二过渡盘510上是否还存在电子元件，此时第三CCD组件930优选位于第二安装座上。

在一较佳实施例中，如图2和图4所示，电子元件自动测试设备还包括设置在机架100上并位于第一真空吸嘴324移动路径正下方的第二收纳盒 110，从而方便在第一CCD组件910检测到有损坏的电子元件后利用第一真空吸嘴324将该电子元件放置在第二收纳盒110内，以此有利于不良电子元件的收纳。

以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件自动测试设备，其特征在于，包括机架、供料平台、上料平台、测试平台、下料平台、转运机械手和储料平台，其中：

所述供料平台包括设置在所述机架上的圆振、与所述圆振的出料口对接的上料导轨以及位于所述上料导轨下方的直振；

所述上料平台包括第一过渡盘和用于将位于所述上料导轨上的电子元件输送至所述第一过渡盘上的第一摆臂机构，所述第一过渡盘转动设置在所述机架上，所述第一过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第一容纳腔；所述第一摆臂机构包括设置在所述机架上的第一安装座、设置在所述第一安装座上的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第一活动曲柄、分别与两个所述第一活动曲柄转动连接的第一连杆以及位于所述第一连杆上的第一真空吸嘴，所述第一摆臂机构还包括设置在所述第一安装座上并位于所述第一活动曲柄移动轨迹上的第一限位柱；

所述测试平台具有用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；

所述下料平台包括第二过渡盘和用于将位于所述第二过渡盘上的电子元件输送至所述储料平台内的第二摆臂机构，所述第二过渡盘转动设置在所述机架上，所述第二过渡盘上呈环状设置有多个可容纳单个电子元件的第二容纳腔；所述第二摆臂机构包括设置在所述机架上的第二安装座、设置在所述第二安装座上的第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的两输出轴分别连接的两个第二活动曲柄、分别与两个所述第二活动曲柄转动连接的第二连杆以及位于所述第二连杆上的第二真空吸嘴，所述第二摆臂机构还包括设置在所述第二安装座上并位于所述第二活动曲柄移动轨迹上的第二限位柱；

所述转运机械手设置在所述机架上并用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试平台上和用于将位于所述测试平台上的电子元件运输至所述第二过渡盘上；

所述储料平台设置在所述机架上并用于收纳测试后的电子元件。

2.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述测试平台包括底座和滑动设置在所述底座上并可沿竖直方向滑动的上盖，所述底座上设置测试下模，所述上盖上设置有测试上模，所述测试空间由所述测试下模和测试上模组合构成，所述测试探针位于所述测试下模和/或测试上模上。

3.根据权利要求2所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述测试下模上具有多个呈环状布置的测试腔，且所述测试腔的数量、所述第一容纳腔的数量以及所述第二容纳腔的数量相同；所述转运机械手包括设置在所述机架上的第一安装板以及设置在所述第一安装板上的第一抓取组件和第二抓取组件，所述第一抓取组件用于将位于所述第一过渡盘上的电子元件运输至所述测试下模上，所述第二抓取组件用于将位于所述测试下模上的电子元件运输至所述第二过渡盘上，所述第一抓取组件与所述第二抓取组件结构一致，分别包括：

滑动设置在所述第一安装板上的支撑臂和设置在所述支撑臂上的多个呈环状布置的第三真空吸嘴，且所述第三真空吸嘴的数量与所述第一容纳腔的数量相同，所述第三真空吸嘴可一一对应吸附位于所述第一容纳腔内的电子元件。

4.根据权利要求3所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，还包括设置在所述机架上的标准电子元件平台，所述标准电子元件平台包括标准电子元件治具和盖板，所述标准电子元件治具设置在所述机架上并具有多个用于放置单个标准电子元件的第三容纳腔，所述第三容纳腔的数量与所述第一容纳腔的数量相同并呈环状布置；所述盖板覆盖设置在所述标准电子元件治具上以封堵所述第一容纳腔的开口端；所述转运机械手可将位于所述标准电子元件平台上的标准电子元件输送至所述测试平台上。

5.根据权利要求4所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述盖板转动设置在所述标准电子元件治具上，且所述盖板上开设有与所述第三容纳腔一一对应的取料口。

6.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述储料平台包括第二安装板和多个第一收纳盒，所述第二安装板通过直线导轨设置在所述机架上并可沿水平方向移动，多个所述第一收纳盒位于所述第二安装板上并沿所述第二安装板的移动方向依次布置。

7.根据权利要求6所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述储料平台还包括罩设在多个所述第一收纳盒上的防尘罩，且所述防尘罩的顶部具有一个与所述第一收纳盒的开口端对接的通孔。

8.根据权利要求7所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述储料平台还包括设置在所述防尘罩顶部并位于所述通孔处的光电开关。

9.根据权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，还包括摄像装置，所述摄像装置包括第一CCD组件、第二CCD组件和第三CCD组件，所述第一CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述上料导轨出料口出的电子元件，所述第二CCD组件设置在所述测试平台上并用于拍摄位于所述测试平台上的电子元件，所述第三CCD组件设置在所述机架上并用于拍摄位于所述第二过渡盘上的电子元件。

10.根据权利要求9所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，还包括设置在所述机架上并位于所述第一真空吸嘴移动路径正下方的第二收纳盒。

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