CN210270034U - 电子元件自动测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括物料测试装置、自动上料装置、第一转运机械手、第二转运机械手和自动下料装置，自动上料装置包括上料输送机构和上料机械手，上料机械手包括上料治具和取料部件；物料测试装置包括容置电子元件的测试空间，测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；自动下料装置包括下料输送机构和下料机械手，下料机械手包括下料治具和送料部件；第一转运机械手用于将上料治具上的电子元件转移至测试空间内；第二转运机械手用于将测试空间内的电子元件转移至下料治具上。本实用新型有效的提高了电子元件的测试效率。

Description

电子元件自动测试设备

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试领域，具体涉及一种电子元件自动测试设备。

背景技术

近年来，随着电子元件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

然而，传统电子元件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元件的产量需求。因此，亟需一种自动化程度较高的电子元件自动测试设备。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种电子元件自动测试设备，旨在解决人工检测电子元件的效率较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种电子元件自动测试设备，该电子元件自动测试设备包括

包括物料测试装置，以及围绕所述物料测试装置布置的自动上料装置、第一转运机械手、第二转运机械手和自动下料装置，其中：

所述自动上料装置包括用于输送物料盘的上料输送机构和位于所述上料输送机构上方的上料机械手，所述上料机械手包括可在所述上料输送机构的上方运动的上料治具和与所述上料治具联动、以用于将所述物料盘中的电子元件转移至所述上料治具上的取料部件，所述上料治具上具有用于放置电子元件的放置位；

所述物料测试装置包括用于放置电子元件的测试空间，测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；

所述自动下料装置包括用于输送物料盘的下料输送机构和位于所述下料输送机构上方的下料机械手，所述下料机械手包括可在所述下料输送机构的上方运动的下料治具和与所述下料治具联动、以用于将所述下料治具上电子元件转移至所述物料盘中的送料部件，所述下料治具上具有用于放置电子元件的放置位；

所述第一转运机械手用于将所述上料治具上的电子元件转移至所述测试空间内；

所述第二转运机械手用于将所述测试空间内的电子元件转移至所述下料治具上。

优选地，还包括位于所述物料测试装置和自动下料装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机位于所述下料治具的上方且所述CCD相机的镜头竖直朝下布置，所述光源组件位于所述CCD相机的下方。

优选地，所述第一转运机械手和第二转运机械手结构相同，分别包括：

安装座、设置在所述安装座上的滑块、设置在所述滑块上并可上下移动的悬臂和设置在所述悬臂上的第一吸附部，其中：

在所述第一转运机械手中，其滑块可在所述自动上料装置与物料测试装置之间往返运动；

在所述第二转运机械手中，其滑块可在所述自动下料装置与物料测试装置之间往返运动。

优选地，所述上料输送机构与所述下料输送机构结构相同，分别包括：

布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的物料盘中分离一物料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空物料盘叠放至预设位置的收盘机构；

所述取料部件与送料部件结构相同，分别包括：

摆臂机构和设置在所述摆臂机构的输出端上的第二吸附部。

优选地，所述分盘机构包括分别设置在所述两第一支撑板上的承载组件以及用于举升或下降所述物料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述物料盘的两侧设有凹槽；

所述承载组件包括设置在所述第一支撑板上并可沿垂直于物料盘的输送方向水平运动的联动板，所述联动板包括在位于所述第一支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；

所述第一升降组件包括可沿竖直方向往复运动的第一传动板以及设于所述第一传动板上的第一导柱，在所述第一导柱的顶端设置有第一升降板。

优选地，所述拨盘机构包括位于两所述第一支撑板之间并可与所述直线导轨上的物料盘抵接的拨杆以及驱动所述拨杆沿物料盘的输送方向往复运动的直线模组。

优选地，所述收盘机构包括在所述第一支撑板上的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件；其中，

所述第二升降组件包括可沿竖直方向往复运动的第二传动板以及设于所述第二传动板上的第二导柱，在所述第二导柱的顶端设置有第二升降板；

所述定位支撑组件包括设置在所述第一支撑板上的固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的物料盘的推动下朝向所述第一支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。

优选地，所述摆臂机构包括沿竖直方向设置的皮带传动单元、与所述皮带传动单元的两输出轴分别连接的两活动曲柄以及位于所述两活动曲柄之间的连杆，所述两活动曲柄分别与所述连杆转动连接，所述第二吸附部位于所述连杆上。

优选地，还包括位于所述物料测试装置和自动下料装置之间的物料盒移送部件，所述物料盒移送部件包括其上布置有盖板的两第二支撑板、位于两第二支撑板之间的直线传动组件以及与所述直线传动组件的执行端连接的载盒框，所述盖板上开设有可供电子元件通过的入料孔。

优选地，所述盖板上设置有光电开关，所述光电开关的发射端和接收端相对布置在所述入料孔的周向上。

本实用新型中实施例提供的电子元件自动测试设备，在机架上依次布置有自动上料装置、第一转运机械手、物料测试装置、第二转运机械手及自动下料装置，通过自动上料装置配合第一转运机械手将待检测的电子元件转移至物料测试装置上，物料测试装置通过测试探针，将待检测电子元件与测试仪电性连接，以通过测试仪检测电子元件的电性能参数(电流、电压、相位等)；而后，自动下料装置配合第二转运机械手将测试装置上的电子元件放置在物料盘上(即成品放置区与次品放置区)。如此，本实用新型所提出的电子元件测试设备可自动对电子元件进行测试，有效的提高电子元件的测试效率。

附图说明

图1为本实用新型中电子元件自动测试设备一实施例的整体结构示意图；

图2为图1中所示的自动上料装置的结构示意图；

图3为图1中所示的自动上料装置的部分结构示意图；

图4为图1中所示的物料测试装置的部分结构示意图；

图5为图4中所示的A处的放大示意图；

图6为图1中所示的第一转运机械手的结构示意图；

图7为图1中所示的视觉检测装置的结构示意图；

图8为图1中所示的上料输送机构的结构示意图；

图9为图8中所示的承载组件的结构示意图；

图10为图8中所示的第一升降组件的结构示意图；

图11为图8中所示的定位支撑组件的结构示意图；

图12为图1中所示的物料盒移送部件的结构示意图；

图13为图12中所示的物料盒移送部件的部分结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种电子元件自动测试设备，其可用于IC芯片及硅麦等电子产品的电性能参数测试(包括电流、电压及相位等)，包括但不限于此。如图1所示，电子元件自动测试设备具体包括依次沿X轴方向布置的自动上料装置1、第一转运机械手2、物料测试装置3、第二转运机械手4和自动下料装置5。同时为了方便各个部件的安装，还设置有机架8，自动上料装置1、第一转运机械手2、物料测试装置3、第二转运机械手4和自动下料装置5均布置在机架8的安装面上，机架8的底部还可以设置万向轮和脚杯，以方便机架8的移动。

其中，自动上料装置1包括上料输送机构11和上料机械手12，上料输送机构11输送物料盘的方式可以是采用传送带式或滚筒式，其中上料输送机构11沿Y轴方向输送物料盘。上料机械手12可以是采用直角坐标式、圆柱坐标式、极坐标式和多关节式中的任意一种形式。

具体的，如图2和图3所示，上料机械手12包括第一横梁121、第一滑座122、上料治具123和取料部件124。第一横梁121布置在上料输送机构11的上方，且第一横梁121的长度方向沿X轴布置。第一滑座122通过导轨设置在第一横梁121上并可沿X轴方向滑动，驱动第一滑座122移动的方式可以采用丝杠组件和同步带组件中的任意一种。上料治具123和取料部件124均设置在第一滑座122上，且上料治具123上具有多个放置位，放置位具体为十六个，优选放置位为与电子元件相匹配的凹腔，以此与配合取料部件124同时输送多个电子元件。当然，上料治具123也可单独设置机架8上。为了方便上料治具123分别沿X轴和Y轴方向移动，还包括通过导轨设置在第一滑座122上的第一安装板125，且该导轨沿Y轴方向布置，第一滑座122上设置有驱动第一安装板125沿Y轴方向移动的驱动源，该驱动源可以为丝杠组件或同步带组件中的任意一种。上料治具123通过导轨设置在第一安装板125上，且该导轨沿X轴方向布置，第一安装板125上设置有驱动上料治具123沿X轴方向移动的驱动源，该驱动源可以为丝杠组件或同步带组件中的任意一种。

其中，为了方便取料部件124将物料盘上的电子元件转移至上料治具123内，取料部件124包括第二吸附部1241和与第二吸附部1241连接用于带动第二吸附部1241自物料盘中吸取电子元件并置于上料治具123上的摆臂机构1242。当然，取料部件124还可以为直角坐标式、圆柱坐标式、极坐标式和多关节式中的任意一种形式。第二吸附部1241优选采用真空吸嘴，且真空吸嘴的数量可以根据实际情况进行布置，本实施中优选真空吸嘴的数量为一个，以方便吸取物料盘上不同间距放置的电子元件。摆臂机构1242包括有沿Z轴方向设置在第一滑座122上的上下两活动曲柄1244、连接于两活动曲柄1244上的连杆1245以及用于驱动两活动曲柄1244转动的皮带传动单元1243，皮带传动单元1243的动力源采用伺服电机，可提高两活动曲柄1244的精准性，具体的连接方式为两活动曲柄上分别设置有皮带轮并通过皮带连接，电机的输出轴与其中一个皮带轮连接。两活动曲柄1244与连杆1245之间通过转轴连接，由伺服电机驱动两活动曲柄1244转动，进而带动连接有第二吸附部1241的连杆1245执行取料动作。

如图1和图4所示，为了方便对电子元件进行测试，物料测试装置3为用于放置电子元件的测试模具，其中测试模具的第一部分和第二部分之间形成容置电子元件的测试空间，具体的，第一部分为下模31，第二部分为上模32，上模32上具有用于导通待测电子元件的测试探针，从而方便利用与测试探针电连接的测试仪判别被测电子元件的好坏，下模31上具有与上料治具123上的数量一致的放置位。为了方便驱动上模32移动，机架8上设置有多个竖直布置的支撑杆81、设置在支撑杆81上的第二安装板82和设置在所述第二安装板82上的电机丝杠组件，其中，电机丝杠组件与上模32传动连接。具体的连接方式为，第二安装板82上还设置有多个与第二安装板82滑动连接的滑柱821和设置在滑柱821上的第三安装板822，电子丝杠组件中的丝杠上的螺母与第二安装板82转动连接，丝杠的一端与第三安装板822连接，另一端穿过第二安装板82与上模32连接，电机丝杠组件中的电机设置在第二安装板82上并通过皮带驱动丝杠上的螺母转动，从而驱动上模32上的测试探针靠近或远离下模31移动。如图4和图5所示，此时，为了避免电子元件自动测试设备工作时的振动影响电子元件的测试，机架8的安装面上开设有避位孔，下模31位于避位孔内，下模31不与机架8连接，下模31的底部可设置万向轮和脚杯。此时，上模32与电机丝杠组件中的丝杠的连接方式为丝杠上设置有第四安装板83，且第四安装板83还与滑柱821连接，第四安装板83上设置有多个连接件84，连接件84包括连接块841和连接柱842，连接块841上设置有贯穿其相对侧的安装孔，其该安装孔的一端较大，另一端较小，从而呈喇叭状，连接柱842的一端上设置有限制连接柱842从安装孔的较小端穿过的限位部，限位部呈球形或锥形。连接柱842通过远离限位部的一端从安装孔的较大端穿入并从较小端穿出后与第四安装板83连接，连接块841上位于安装孔较大端的一侧面与上模32连接，从而形成容纳限位部的容置腔，以使限位部可在容置腔内沿Z轴方向移动。本实施例中，当上模32与下模31对接后电机丝杠组件继续驱动连接柱842继续移动预设距离，从而使连接柱842与连接块841呈分离状态，以达到在对电子元件测试时避免振动对测试结果产生影响。

自动下料装置5包括下料输送机构51和下料机械手52，下料输送机构51输送物料盘的方式可以是采用传送带式或滚筒式，其中下料输送机构51沿X轴方向输送物料盘，在本实施例中，下料输送机构51与上料输送机构11的结构一致，在此不作详细说明。下料机械手52可以是采用直角坐标式、圆柱坐标式、极坐标式和多关节式中的任意一种形式。下料机械手52包括第二横梁、第二滑座、下料治具和送料部件，具体的布置方式与上料机械手12一致，在此不作详细说明。

如图1和图6所示，第一转运机械手2和第二转运机械手4的结构一致，采用的形式可以是直角坐标式、圆柱坐标式、极坐标式和多关节式中的任意一种形式。在此以第一转运机械手2作为具体说明，第一转运机械手2包括安装座21、滑块22、悬臂23和第一吸附部24。安装座21设置在机架8上，滑块22通过导轨设置在安装座21上，且该导轨沿X轴方向布置，从而使第一吸附部24在上料治具123和下模31之间运输电子元件，具体驱动滑块22移动的方式可以是同步带组件、直线气缸和丝杠组件中的任意一种，同步带组件作为优选。悬臂23设置在滑块22上并可沿Z轴方向移动，具体的连接方式可以是通过导轨设置在滑块22上，驱动的方式可以采用同步带组件、直线气缸和丝杠组件中的任意一种，直线气缸作为优选。第一吸附部24设置在悬臂23上，第一吸附部24优选采用真空吸嘴，真空吸嘴的数量与上料治具上放置位的数量一致，从而方便一次性将上料治具123上的电子元件转移至下模31上。因第二转运机械手4的结构与第一转运机械手2的结构一致，在此不作详细说明，但是第二转运机械手4与第一转运机械手2中的安装座21可以为同一个。

本实施例中，通过设置自动上料装置1配合第一转运机械手2对下模31上料和第二转运机械手4配合自动下料装置5对下模31下料，从而即可完成对电子元件的自动检测。同时，通过上料治具123可分别沿X轴和Y轴方向移动，有利于配合取料部件124一次性运输多个电子元件。

如图1和图7所示，在本实用新型一优选实施例中，电子元件自动测试设备还包括设置在物料测试装置3和自动下料装置5之间的视觉检测装置6，视觉检测装置6包括CCD相机61和光源组件62。CCD相机61设置在下料治具的上方且CCD相机61的镜头沿Z轴方向朝下布置，光源组件62位于CCD相机61正下方。CCD相机61通过获取下料治具及放置在其内的电子元件的图像，并上传至控制系统，由控制系统对电子元件的位置及数量进行分析。本实用新型所提出的视觉检测装置6可用于对下料治具上的电子元件的外观检测，即对电子元件是否存在外观缺陷，如凹坑、裂纹及刮痕等，包括但不限于此。当然，还可以在自动上料装置1和测试装置3之间布置视觉检测装置6，以用于对上料治具上的电子元件进行检测，若出现电子元件的位置放偏或者漏放电子元件，则停止设备运行并发出警报，待人为调整之后再启动运行。

如图1和图8所示，上料输送机构11与下料输送机构51的结构一致，在此以上料输送机构11作为具体说明，上料输送机构11包括有布置在机架8上的两第一支撑板111，在该两第一支撑板111上分别安装有供物料盘在两第一支撑板111之间移动的直线导轨1111。其中，直线导轨1111与第一支撑板111可以是一体成形的钣金件，也可以是通过焊接、螺纹连接或铆接等连接方式固定在一起。在本实用新型所提出的上料输送机构中，两间隔设置的第一支撑板111与机架8之间形成了供物料盘进出的通道，该通道在其长度方向上被划分为进盘口、上料区及出盘口。装有电子元件的物料盘被叠放在进盘口处，被叠放在进盘口处的物料盘需通过分盘机构113，自若干物料盘中分离出最底部的一物料盘至直线导轨1111上，以供拨盘机构114将其推动至上料区进行上料。本实用新型上料输送机构11中提及的分盘机构113，其主要目的是通过机械传动结构之间的相互配合，以自叠放在直线导轨1111上方的物料盘中分离出一物料盘至直线导轨1111上。

为实现上述目的，如图8和图9所示，在本实用新型的一优选实施例中，分盘机构113包括分别设置在两第一支撑板111上的承载组件1131和用于举升或下降物料盘至预设高度的第一升降组件1132。承载组件1131包括有联动板11311、设置在联动板11311上且位于直线导轨1111上方的定位凸板11313、驱动源以及导套导柱等结构，其中，定位凸板11313的主要作用在于定位、支撑物料盘，以通过设置在两第一支撑板111上的至少四定位凸板11313，将物料盘叠放在直线导轨1111的上方。更具体的，联动板11311由平行第一支撑板111设置的U形板和间隔布置在第一支撑板111的上端面上的连接部11312构成，用于定位、支撑的定位凸板11313则设置在连接部11312上；而U形板上还布置有用于连接导套导柱及驱动源输出轴的安装孔和/或安装槽。进一步的，驱动源可以采用直线驱动机构，如伺服电机或步进电机等，也可以采用驱动气缸驱动，驱动电机的精度虽高于驱动气缸，但考虑到制造成本，在能够满足需要的前提下，本实用新型优先选择气缸作为驱动源。如图8和图10所示，本实用新型一优选实施例中的第一升降组件1132亦包括有驱动源、与驱动源的输出轴连接的第一传动板11321、设置在第一传动板11321上的至少四第一导柱11322以及设置在两第一导柱11322之间的升降板31323；其中，至少四根第一导柱11322沿物料盘的移动方向两两间隔设置，第一导柱11322上下贯穿机架8的安装面布置，其可在驱动源的驱动下沿Z轴方向往复运动。为提高第一导柱11322运动的准确性，在机架8上布置有与第一导柱11322相匹配的导套。在第一升降组件1132中，驱动源采用两行程不一的气缸进行驱动(即一长行程气缸和另一短行程气缸)，以配合承载组件1131完成物料盘的分盘动作，也可以采用丝杠组件作为驱动源。为实现本实用新型技术方案，用于放置电子元件的物料盘的两侧设置有与定位凸板11313相匹配的凹槽，该凹槽在与定位凸板11313触碰后，可保证物料盘叠放在直线导轨1111的上方。本实用新型所提出的分盘机构113的具体动作原理为：两气缸同时向上顶持第一传动板11321，由于两气缸的行程不同，在短行程气缸的活塞移动半行程后，其停止在预设高度位置，而长行程气缸继续向上顶持第一传动板11321，以带动第一导柱11322继续上升，使得物料盘与定位凸板11313分离；在定位凸板11313与物料盘分离后，联动板11311沿远离第一支撑板111的方向运动，以带动定位凸板11313远离物料盘，同时，长行程气缸向下移动以返回至初始状态；长行程气缸返回途中，在其下行一定距离后，到达短行程气缸所在位置，此时，短行程气缸与长行程气缸同时顶持第一传动板11321；之后，长行程气缸继续下行，与第一传动板11321分离，由短行程气缸顶持第一传动板11321；由于物料盘上开设有凹槽，上下两相邻放置的物料盘在凹槽位置处具有可供定位凸板11313插入的空间，因此，在物料盘到达短行程气缸所在位置后，联动板11311沿靠近第一支撑板111的方向运动，以使得定位凸板11313插入至上述空间内；最后，由短行程气缸带动物料盘向下运动，由于在最底部与上一物料盘之间插入有定位凸板11313，因此，最底部以上的物料盘被限制在定位凸板11313上，无法移动，而最底部的物料盘在短行程气缸的带动下，向下运动至直线导轨1111上，从而实现物料盘的分离。在上述实例中，第一升降组件1132中的驱动源亦可选择驱动电机，利用驱动电机的精准定位，控制第一导柱11322的停止位置。

在物料盘被分离至直线导轨1111上后，由设置在两第一支撑板111之间的拨盘机构114，将位于直线导轨1111上的物料盘移动至上料区，以供取料部件124进行上料动作。如图8所示，本实用新型所提出的一优选实施例中，拨盘机构114由布置在机架8上的线性模组1141，带动与其执行端连接的拨杆1142，沿长度方向移动位于直线导轨1111上的物料盘至上料区，从而完成物料盘的位置转移。物料盘被转移至上料区，即取料部件124的正下方后，由取料部件124抓取物料盘中的原料。

取料部件124重复上述取料动作，直至将物料盘内的电子元件被吸取完。待物料盘内的电子元件被全部取出后，此时，拨盘机构114再次启动，通过拨杆1142将直线导轨1111上的物料盘移动至出盘口，而后，拨杆1142返回至进盘口处继续自进盘口移动物料盘至上料区。如图8所示，为方便物料盘的收集，本实用新型提出一种可自动回收一定数量物料盘的收盘机构112。其中，若收盘机构112采用与分盘机构113相同的结构，亦能实现自动收盘的功能。然而，为节省制造成本，本实用新型选择另一机械传动机构。在物料盘被移动至出盘口处的直线导轨1111上之后，通过位于物料盘下方的第二升降组件1122，将物料盘向上升起；由于第二升降组件1122的结构与第一升降组件1132的结构及功能基本相同，故在此不再赘述，其主要包括有第二传动板、第二导柱及第二升降板。但是考虑到制造成本及实际需要，本实用新型的第二升降组件1122无需采用两行程不一的气缸相互配合，仅通过一直线气缸即可实现第二升降组件1122所要达到的技术效果。如图8和图11所示，定位支撑组件1121分别设置在两第一支撑板111上，其主要包括固定座11211、贯穿固定座11211设置的旋转轴11212以及套设在旋转轴11212上的旋转凸板11213。其中，旋转凸板11213与第一支撑板111的上端面所形成的夹角位于0-90°之间。本实施中所提出的定位支撑组件1121，其通过固定座11211固定在第一支撑板111上，而固定座11211内布置有连接一旋转凸板11213的旋转轴11212；旋转凸板11213在空物料盘上升的过程中，受到来自空物料盘的作用力，绕旋转轴11212向上翻转(即旋转凸板11213可在物料盘向上的作用力下张开一定角度)，从而脱离旋转凸板11213的限制；而在到达一定高度后，旋转凸板11213与空物料盘完全分离，其在自身重力的作用下，回复至初始状态(即图11中旋转凸板11213所处状态)，而在初始状态下的旋转凸板11213，其被限制在该位置无法继续向下转动。如此，在第二升降组件1122下行的过程中，空物料盘通过两侧间隔设置的凹槽，托挂在间隔设置的旋转凸板11213上，进而实现空物料盘的叠放动作。上述定位支撑组件1121亦可采用套设在旋转轴11212上扭簧实现旋转凸板11213的复位，还可通过连接驱动机构等方式实现，包括但不限于此。

如图1、图12和图13所示，为了方便将品质不一样的电子元件分开收集，电子元件自动测试设备还包括设置在机架8上的物料盒移送部件，物料盒移送部件7包括其上布置有盖板71的两第二支撑板72、位于两第二支撑板72之间的直线传动组件73以及与直线传动组件73的执行端连接的载盒框74。盖板71上开设有与送料部件中的第二吸附部相匹配的入料孔711，其中，两第二支撑板72中的一块支撑板与第一支撑板111共用。本实用新型所提出的物料盒移送部件7，其内布置的载盒框74可在直线传动组件73的驱动下，可沿Y轴方向往复运动，载盒框74内可安装多个物料盒741。物料盒移送部件7的动作原理为：第二滑座沿X轴方向移动并使送料部件中的第二吸附部1241可与入料孔711对接后，第二吸附部1241自下料治具中吸取电子元件，并将其转移至入料孔711的正上方；而后，第二吸附部1241释放电子元件，其在自身重力的作用下掉入至下方的物料盒741内。具体放置电子元件的方式可以为在前一物料盒741装满电子元件后，直线传动组件73驱动载盒框74沿出盘口的方向移动，以使后一物料盒741移动至入料孔711的正下方位置处；还可以是每个物料盒741内放置不同品质的电子元件，通过物料测试装置3和视觉检测装置6检测的信息判断下料治具上某一位置的电子元件的品质，从而在取料部件上的第二吸附部1241吸取该位置的电子元件时，直线传动组件73可驱动对应的物料盒741位于入料孔711的下方，以方便收集相应品质的电子元件。进一步的，考虑到操作人员的观察，本实用新型一优选实施例中，盖板71采用亚克力板。为了方便检测下料部件是否将电子元件通过入料孔711投放至物料盒741内，盖板71上还设置有光电开关，光电开关的发射端和接收端相对布置在入料孔711的周向上，从而即可检测第二吸附部上的电子元件是否通过入料孔711进入物料盒741内。

以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件自动测试设备，其特征在于，包括物料测试装置，以及围绕所述物料测试装置布置的自动上料装置、第一转运机械手、第二转运机械手和自动下料装置，其中：

所述自动上料装置包括用于输送物料盘的上料输送机构和位于所述上料输送机构上方的上料机械手，所述上料机械手包括可在所述上料输送机构的上方运动的上料治具和与所述上料治具联动、以用于将所述物料盘中的电子元件转移至所述上料治具上的取料部件，所述上料治具上具有用于放置电子元件的放置位；

所述物料测试装置包括用于放置电子元件的测试空间，所述测试空间内设有用于与电子元件电连接的测试探针；

所述自动下料装置包括用于输送物料盘的下料输送机构和位于所述下料输送机构上方的下料机械手，所述下料机械手包括可在所述下料输送机构的上方运动的下料治具和与所述下料治具联动、以用于将所述下料治具上电子元件转移至所述物料盘中的送料部件，所述下料治具上具有用于放置电子元件的放置位；

所述第一转运机械手用于将所述上料治具上的电子元件转移至所述测试空间内；

所述第二转运机械手用于将所述测试空间内的电子元件转移至所述下料治具上。

2.如权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，还包括位于所述物料测试装置和自动下料装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机位于所述下料治具的上方且所述CCD相机的镜头竖直朝下布置，所述光源组件位于所述CCD相机的下方。

3.如权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述第一转运机械手和第二转运机械手结构相同，分别包括：

安装座、设置在所述安装座上的滑块、设置在所述滑块上并可上下移动的悬臂和设置在所述悬臂上的第一吸附部，其中：

在所述第一转运机械手中，其滑块可在所述自动上料装置与物料测试装置之间往返运动；

在所述第二转运机械手中，其滑块可在所述自动下料装置与物料测试装置之间往返运动。

4.如权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述上料输送机构与所述下料输送机构结构相同，分别包括：

布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的物料盘中分离一物料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空物料盘叠放至预设位置的收盘机构；

所述取料部件与送料部件结构相同，分别包括：

摆臂机构和设置在所述摆臂机构的输出端上的第二吸附部。

5.如权利要求4所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述分盘机构包括分别设置在所述两第一支撑板上的承载组件以及用于举升或下降所述物料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述物料盘的两侧设有凹槽；

所述承载组件包括设置在所述第一支撑板上并可沿垂直于物料盘的输送方向水平运动的联动板，所述联动板包括在位于所述第一支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；

所述第一升降组件包括可沿竖直方向往复运动的第一传动板以及设于所述第一传动板上的第一导柱，在所述第一导柱的顶端设置有第一升降板。

6.如权利要求4所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述拨盘机构包括位于两所述第一支撑板之间并可与所述直线导轨上的物料盘抵接的拨杆以及驱动所述拨杆沿物料盘的输送方向往复运动的直线模组。

7.如权利要求4所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述收盘机构包括在所述第一支撑板上的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件；其中，

所述第二升降组件包括可沿竖直方向往复运动的第二传动板以及设于所述第二传动板上的第二导柱，在所述第二导柱的顶端设置有第二升降板；

所述定位支撑组件包括设置在所述第一支撑板上的固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的物料盘的推动下朝向所述第一支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。

8.如权利要求4所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述摆臂机构包括沿竖直方向设置的皮带传动单元、与所述皮带传动单元的两输出轴分别连接的两活动曲柄以及位于所述两活动曲柄之间的连杆，所述两活动曲柄分别与所述连杆转动连接，所述第二吸附部位于所述连杆上。

9.如权利要求1所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，还包括位于所述物料测试装置和自动下料装置之间的物料盒移送部件，所述物料盒移送部件包括其上布置有盖板的两第二支撑板、位于两第二支撑板之间的直线传动组件以及与所述直线传动组件的执行端连接的载盒框，所述盖板上开设有可供电子元件通过的入料孔。

10.如权利要求9所述的电子元件自动测试设备，其特征在于，所述盖板上设置有光电开关，所述光电开关的发射端和接收端相对布置在所述入料孔的周向上。

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