CN108828372B - 电子元器件测试设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括转盘装置、自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，转盘装置包括驱动部件及多工位转盘；自动上料装置包括第一进出盘部件及取料部件，取料部件横跨于第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动；物料测试装置包括测试仪及测试探针；物料扫描装置用于读取条形码中储存的信息，其包括第一扫描机构和第二扫描机构；自动下料装置包括第二进出盘部件、物料盒移送部件以及送料部件，送料部件横跨于第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动。本发明电子元器件测试设备可有效的提高电子元器件的测试效率。

Description

电子元器件测试设备

技术领域

本发明涉及电子元器件测试领域，具体涉及一种电子元器件测试设备。

背景技术

近年来，随着电子元器件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元器件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元器件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

然而，传统电子元器件的电性能测试，其主要依靠人工将待检测电子元器件与对应的测试仪器进行电连接，通过测试仪器的显示屏，显示正在检测的电子元器件的电性能参数，以供检测人员参考；检测完成后，再由检测人员依据检测结果，手动筛选出成品与次品并将其置于不同的区域。此种检测方式，虽可满足对电子元器件的电性能参数测试，但其自动化程度较低，导致了测试效率相对较低的缺陷，其无法满足市场对于各类电子元器件的产量需求。因此，亟需一种自动化程度较高的电子元器件测试设备。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种电子元器件测试设备，以解决传统的电子元器件的测试效率相对较低的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明提出一种电子元器件测试设备，该电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；所述自动上料装置包括用于自动进出所述物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动；所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行、垂直所述物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动。

优选地，所述电子元器件测试设备还包括设置在所述物料测试装置和物料扫描装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机设置在所述转盘上方且所述CCD相机的镜头朝向所述转盘，所述光源组件位于所述CCD相机正下方。

优选地，所述电子元器件测试设备还包括用于将所述取料部件上的物料转移至所述转盘上的上料转送装置及用于将所述转盘上的物料转移至所述送料部件上的下料转送装置；其中，所述上料转送装置位于所述自动上料装置和转盘装置之间，所述上料转送装置包括用于自所述取料部件上吸取物料并将其放置在所述转盘上的第一吸附机构，以及与所述第一吸附机构连接用于驱动所述第一吸附机构在所述取料部件与转盘之间执行取料、放料动作的第一驱动机构；所述下料转送装置位于所述转盘装置和自动下料装置之间，所述下料转送装置包括用于自所述转盘上吸取物料并将其放置在所述送料部件上的第二吸附机构，以及与所述第二吸附机构连接用于驱动所述第二吸附机构在所述转盘与送料部件之间执行取料、放料动作的第二驱动机构。

优选地，所述第一进出盘部件与所述第二进出盘部件结构相同，分别包括：布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的物料盘中分离一物料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空物料盘叠放至预设位置的收盘机构；所述取料部件与送料部件结构相同，分别包括：吸嘴、可转动的圆盘治具以及与所述吸嘴连接用于带动所述吸嘴自物料盘中吸取物料并置于所述圆盘治具中的摆臂机构。

优选地，所述分盘机构包括分别设置在所述两第一支撑板上的承载组件以及用于举升或下降所述物料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述物料盘的两侧设有凹槽；所述承载组件包括可沿垂直第一支撑板的方向往复运动的联动板，所述联动板包括在物料盘移动方向上间隔设置并位于所述第一支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；所述第一升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第一传动板以及设于所述第一传动板上且贯穿所述工作台的第一导柱，在所述第一导柱的顶端设置有第一升降板。

优选地，所述拨盘机构包括布置在工作台上的线性模组以及与所述线性模组的执行端连接的拨杆。

优选地，所述收盘机构包括在所述第一支撑板上并沿物料盘移动方向设置的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件；其中，所述第二升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第二传动板以及设于所述第二传动板上且贯穿所述工作台的第二导柱，在所述第二导柱的顶端设置有第二升降板；所述定位支撑组件包括固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的物料盘的推动下朝向所述支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。

优选地，所述摆臂机构包括竖向设置的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两活动曲柄以及位于所述两活动曲柄之间的连杆，所述两活动曲柄中的一个与所述连杆转动连接，另一个与所述连杆滑动连接且可相对转动，所述连杆还与所述吸嘴连接。

优选地，所述物料盒移送部件包括其上布置有盖板的两第二支撑板、位于两第二支撑板之间的直线传动组件以及与所述直线传动组件的执行端连接的载盒框，所述盖板上开设有与所述吸嘴相匹配的通孔。

优选地，所述电子元器件测试设备还包括用于在所述转盘装置与物料测试装置之间转移物料的旋转装置，所述旋转装置包括第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的输出轴连接的旋转座以及设置在所述旋转座上且可沿上下方向运动的第三吸附机构。

本发明所提出的电子元器件测试设备，在工作台上沿着装盘装置的转动方向，依次布置有自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置及自动下料装置。自动上料装置将待检测的物料转移至转盘装置上，转盘装置转动预设角度，将待检测物料传送至物料测试装置下方；物料测试装置通过测试探针，将待检测物料与测试仪电性连接，以通过测试仪检测物料的电性能参数(电流、电压、相位等)；测试完成后，各物料的检测结果将被录入至其表面贴设的条形码中；而后，转盘装置再次转动，将已检测完毕的物料转移至物料扫描装置的下方，通过物料扫描装置的扫描枪读取条形码中储存的信息，并上传至电子元器件测试设备的控制系统；最后，控制系统依据各物料的检测结果，控制自动下料装置，自转盘装置上吸取物料并将其放置在不同的区域(即成品放置区与次品放置区)。如此，本发明所提出的电子元器件测试设备，其自动化程度较高，可有效的提高电子元器件的测试效率。

附图说明

图1为本发明电子元器件测试设备一实施例的结构示意图；

图2为本发明电子元器件测试设备中转盘装置、物料测试装置、物料扫描装置、上料转送装置及视觉检测装置一实施例的结构示意图；

图3为本发明电子元器件测试设备中转盘装置一实施例的结构示意图；

图4为本发明电子元器件测试设备中第一进出盘部件一实施例的结构示意图；

图5为本发明电子元器件测试设备中承载组件一实施例的结构示意图；

图6为本发明电子元器件测试设备中第一升降组件一实施例的结构示意图；

图7为本发明电子元器件测试设备中定位支撑组件一实施例的结构示意图；

图8为本发明电子元器件测试设备中第二升降组件一实施例的结构示意图；

图9为本发明电子元器件测试设备中摆臂机构一实施例的结构示意图；

图10为本发明电子元器件测试设备中物料检测装置一实施例的结构示意图；

图11为本发明电子元器件测试设备中第一扫描机构和下料转送装置一实施例的结构示意图；

图12为本发明电子元器件测试设备中第二扫描机构一实施例的结构示意图；

图13为图11中A处的局部放大图；

图14为本发明电子元器件测试设备中视觉检测装置一实施例的结构示意图；

图15为本发明电子元器件测试设备中上料转送装置一实施例的结构示意图；

图16为本发明电子元器件测试设备中旋转装置一实施例的结构示意图；

图17为本发明电子元器件测试设备中物料盒移送部件一实施例的结构示意图；

图18为本发明电子元器件测试设备中直线传动组件及载盒框一实施例的结构示意图；

图19为本发明电子元器件测试设备中物料盘一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为解决上述技术问题，本发明提出一种全自动化电子元器件测试设备，其可用于IC芯片及硅麦等电子产品的电性能参数测试(包括电流、电压及相位等)，包括但不限于此。参见图1和图2，电子元器件测试设备具体包括有转盘装置2以及沿转盘装置2的转动方向依次设置的自动上料装置3、物料测试装置4、物料扫描装置5及自动下料装置6。转盘装置2包括驱动部件21及与其执行端连接的多工位转盘22，多工位转盘22在驱动部件21的驱动下旋转，以传送转盘22上的电子元器件至指定位置。其中，为实现转盘22的精准定位及分度，转盘装置2还在驱动部件21与转盘22之间布置有凸轮分割器；凸轮分割器的输入轴与驱动部件21连接，其输出轴与转盘22连接。与分割器的输入轴连接的驱动部件21可采用皮带轮、链轮、同步带轮、齿轮及联轴器等，包括但不限于此。参见图3，作为本发明一优选实施例，转盘装置2采用皮带齿轮驱动，为进一步提高转盘装置2的旋转精度，采用伺服电机作为其动力源。而转盘22上的工位数量，可根据实际需求进行布置，在本发明实施例中，选择4工位的转盘22。

在转盘22的周侧布置有自动上料装置3，即电子元器件的入料口，其包括有用于自动进出物料盘12的第一进出盘部件31以及用于将物料盘12中的物料转移至转盘22上的取料部件32。其中，取料部件32横跨于第一进出盘部件31的上方且可沿垂直物料盘12的移动方向运动。参见图4，为实现物料盘12的自动进出，第一进出盘部件31包括有布置在工作台11上的两第一支撑板311，在该两第一支撑板311上分别安装有供物料盘5在两第一支撑板311之间移动的直线导轨311a。其中，直线导轨311a与第一支撑板311可以是一体成形的钣金件，也可以是通过焊接、螺纹连接或铆接等连接方式固定在一起。在本发明所提出的第一自动进出盘部件31中，两间隔设置的第一支撑板311与工作台11之间形成了供物料盘12进出的通道，参见图4，该通道在其长度方向上被划分为进盘口、上料区及出盘口。物料盘12被叠放在进盘口处，被叠放在进盘口处的物料盘12需通过分盘机构313，自若干物料盘12中分离出一物料盘12至直线导轨311a上，以供拨盘机构312将其推动至上料区进行上料。本发明第一自动进出盘部件31中提及的分盘机构313，其主要目的是通过机械传动结构之间的相互配合，以自叠放在直线导轨311a上方的物料盘12中分离出一物料盘12至直线导轨311a上。

为实现上述目的，在本发明的一优选实施例中，分盘机构313包括分别设置在两第一支撑板311上的承载组件3131和用于举升或下降物料盘12至预设高度的第一升降组件3132。参见图5可知，承载组件3131包括有联动板31311、设置在联动板31311上且位于直线导轨311a上方的定位凸板31311b、驱动源以及导套导柱等结构，其中，定位凸板31311b的主要作用在于定位、支撑物料盘12，以通过设置在两第一支撑板311上的至少四定位凸板31311b，将物料盘12叠放在直线导轨311a的上方。更具体的，联动板31311由平行第一支撑板311设置的U形板和间隔布置在第一支撑板311的上端面上的连接部31311a构成，用于定位、支撑的定位凸板31311b则设置在连接部31311a上；而U形板上还布置有用于连接导套导柱及驱动源输出轴的安装孔和/或安装槽。进一步的，驱动源可以采用驱动电机，如伺服电机或步进电机等，也可以采用驱动气缸驱动，驱动电机的精度虽高于驱动气缸，但考虑到制造成本，在能够满足需要的前提下，本发明优先选择气缸作为驱动源。参见图6，本发明一优选实施例中的第一升降组件3132亦包括有驱动源、与驱动源的输出轴连接的传动板31321、设置在传动板31321上的至少四第一导柱31322以及设置在两第一导柱31322之间的升降板31323；其中，至少四根第一导柱31322沿物料盘12的移动方向两两间隔设置，第一导柱31322上下贯穿工作台11，其可在驱动源的驱动下沿垂直工作台11的方向往复运动。为提高第一导柱31322运动的准确性，在工作台11上布置有与第一导柱31322相匹配的导套。在第一升降组件3132中，驱动源采用两行程不一的气缸进行驱动(即一长行程气缸和另一短行程气缸)，以配合承载组件3131完成物料盘12的分盘动作。为实现本发明技术方案，参见图19，用于放置电子元器件的物料盘12的两侧设置有与定位凸板31311b相匹配的凹槽121，该凹槽121在与定位凸板31311b触碰后，可保证物料盘12叠放在直线导轨311a的上方。本发明所提出的分盘机构313的具体动作原理为：两气缸同时向上顶持传动板31321，由于两气缸的行程不同，在短行程气缸的活塞移动半行程后，其停止在预设高度位置，而长行程气缸继续向上顶持传动板31321，以带动导柱31322继续上升，使得物料盘12与定位凸板31311b分离；在定位凸板31311b与物料盘12分离后，联动板31311沿远离第一支撑板311的方向运动，以带动定位凸板31311b远离物料盘12，同时，长行程气缸向下移动以返回至初始状态；长行程气缸返回途中，在其下行一定距离后，到达短行程气缸所在位置，此时，短行程气缸与长行程气缸同时顶持传动板31321；之后，长行程气缸继续下行，与传动板31321分离，由短行程气缸顶持传动板31321；由于物料盘12上开设有凹槽121，上下两相邻放置的物料盘12在凹槽121位置处具有可供定位凸板31311b插入的空间，因此，在物料盘12到达短行程气缸所在位置后，联动板31311沿靠近第一支撑板311的方向运动，以使得定位凸板31311b插入至上述空间内；最后，由短行程气缸带动物料盘12向下运动，由于在最底部与上一物料盘12之间插入有定位凸板31311b，因此，最底部以上的物料盘5被限制在定位凸板31311b上，无法移动，而最底部的物料盘12在短行程气缸的带动下，向下运动至直线导轨311a上，从而实现物料盘12的分离。在上述实例中，第一升降组件3132中的驱动源亦可选择驱动电机，利用驱动电机的精准定位，控制第一导柱31322的停止位置。

在原料盘12被分离至直线导轨311a上后，参见图4，由设置在两第一支撑板311之间的拨盘机构312，将位于直线导轨311a上的原料盘12移动至上料区，以供取料部件32进行上料动作。本发明所提出的一优选实施例中，拨盘机构312由布置在工作台11上的线性模组3121，带动与其执行端连接的拨杆3122，沿长度方向移动位于直线导轨311a上的物料盘12至上料区，从而完成物料盘12的位置转移。物料盘12被转移至上料区，即取料部件32的正下方后，由取料部件32抓取物料盘12中的原料。参见图9，取料部件32主要包括吸嘴321、用于放置多个原料的圆盘治具322以及用于带动吸嘴321执行取料动作的摆臂机构323，取料部件32通过直线传动装置实现沿垂直物料盘12移动的方向往复运动。更进一步的，摆臂机构323包括有竖向设置的上下两活动曲柄3232、连接于两活动曲柄3232上的连杆3233以及用于驱动两活动曲柄3232转动的第一皮带传动单元3231，第一皮带传动单元3231的动力源采用伺服电机，可提高两活动曲柄3232的精准性。两活动曲柄3232与连杆3233之间通过转轴连接，由伺服电机驱动两活动曲柄3232转动，进而带动连接有吸嘴321的连杆3233执行取料动作。圆盘治具322的转动，通过布置的驱动电机驱动，在本发明的优选实施例中，具体为步进电机。

取料部件32重复上述取料动作，直至将物料盘12内的物料被吸取完。待物料盘12内的电子元器件被全部取出后，此时，拨盘机构312再次启动，通过拨杆3122将直线导轨311a上的物料盘12移动至出盘口，而后，拨杆3122返回至进盘口处继续自进盘口移动物料盘12至上料区。为方便物料盘12的收集，本发明提出一种可自动回收一定数量物料盘12的收盘机构314。其中，若收盘机构314采用与分盘机构313相同的结构，亦能实现自动收盘的功能。然而，为节省制造成本，本发明选择另一机械传动机构。具体参见图7和图8，在物料盘12被移动至出盘口处的直线导轨311a上之后，通过位于物料盘12下方的第二举升组件3142，将物料盘12向上升起；由于第二举升组件3142的结构与第一举升组件3132的结构及功能基本相同，故在此不再赘述，其主要包括有第二传动板31421、第二导柱31422及第二升降板31423。但是考虑到制造成本及实际需要，本发明的第二举升组件3142无需采用两行程不一的气缸相互配合，仅通过一驱动气缸即可实现第二举升组件3142所要达到的技术效果。而定位支撑组件3141分别设置在两第一支撑板311上，其主要包括固定座31411、贯穿固定座31411设置的旋转轴31412以及套设在旋转轴31412上的旋转凸板31413，其中，旋转凸板31413与第一支撑板311的上端面所形成的夹角位于0-90°之间。本实施中所提出的定位支撑组件3141，其通过固定座31411固定在第一支撑板311上，而固定座31411内布置有连接一旋转凸板31413的旋转轴31412；旋转凸板31412在空物料盘12上升的过程中，受到来自空物料盘12的作用力，绕旋转轴31412向上翻转(即旋转凸板31413可在物料盘12向上的作用力下张开一定角度)，从而脱离旋转凸板31413的限制；而在到达一定高度后，旋转凸板31413与空物料盘12完全分离，其在自身重力的作用下，回复至初始状态(即图7中旋转凸板31413所处状态)，而在初始状态下的旋转凸板31413，其被限制在该位置无法继续向下转动。如此，在第二举升组件3142下行的过程中，空物料盘12通过两侧间隔设置的凹槽121，托挂在间隔设置的旋转凸板31413上，进而实现空物料盘12的叠放动作。上述定位支撑组件3141亦可采用弹簧实现旋转凸板31412的复位，还可通过连接驱动机构等方式实现，包括但不限于此。

在圆盘治具322载满电子元器件后，由直线传动装置通过滑鞍，带动取料部件32沿靠近上料转送装置8的方向移动。上料转送装置8位于自动上料装置3和转盘装置2之间，上料转送装置8包括用于自取料部件32上吸取物料并将其放置在转盘22上的第一吸附机构81，以及与第一吸附机构81连接用于驱动第一吸附机构81在取料部件32与转盘22之间执行取料、放料动作的第一驱动机构82。待取料部件32到达指定位置后，由第一驱动机构82驱动第一吸附机构81，自取料部件32上吸取物料，并转移至其下方位置处的转盘22上。其中，在本发明一优选实施例中，上述第一驱动机构82采用与摆臂机构323相同的结构。参见图15，第一吸附机构81包括具有多个吸头的吸盘，吸盘的大小及形状均与圆盘治具322相匹配，其上设置的吸头的数量与圆盘治具322上设置的用于放置原料的模腔的数量相匹配，如此，通过吸盘可将圆盘治具322上放置的原料一次性吸出，并放置到转盘22上。吸盘与吸嘴321的工作原理相同，均是通过真空发生装置产生一预设真空度，以将原料吸附至吸嘴321或吸头上，并通过电磁阀控制空气的流动方向，从而控制原料的吸附及吹出动作。由于吸盘具有多个吸头，为实现控制吸盘内产生的真空度的目的，本发明一优选实施例中，在安装座上布置有四组真空开关，每组真空开关对应控制各吸头内的真空度。其中，吸盘上设置的吸头的数量可根据实际需要进行设置，但需与圆盘治具322上布置的用于放置原料的模腔的数量相同。其中，为便于工作人员的观察及操作，进一步的，本发明所提出的真空开关采用具有显示屏和操作按钮的CKD真空开关，包括但不限于此。

待上料转送装置8将物料自圆盘治具322上转移至转盘22的工位(圆盘治具)上后，转盘22在驱动部件21的驱动下旋转至物料测试装置4所在位置处。参见图10，物料测试装置4主要包括有测试仪41和测试探针，测试探针用于导通待测电子元器件和测试仪41。在本发明一优选实施例中，参见图2和图16，在转盘装置2和物料测试装置4之间设置有用于转移物料的旋转装置10。旋转装置10包括第二皮带传动单元101、与第二皮带传动单元101的输出轴连接的旋转座102以及设置在旋转座102上且可沿上下方向运动的第三吸附机构103。上述旋转装置10还可采用其它的驱动方式，以驱动旋转座102的旋转，包括第二皮带传动单元101，但不限于此。第三吸附机构103通过一“T”字形结构的连接板与旋转座102滑动连接，具体为滑块与导轨的结构，本发明所选择的导轨为交叉滚子导轨，其具有滑动摩擦力小、安装方便、使用寿命长、速度块及承载能力大等特点。该“T”字形结构的连接板的另一端亦设置有交叉滚子导轨，但未布置驱动其运动的驱动装置，其主要作用在于对第三吸附机构103放料过程中的缓冲，减弱其与测试仪41的承载平台的冲击力，以延长使用寿命。该旋转座102对称布置有结构完全相同的两第三吸附机构103，通过旋转座102的转动及第三吸附机构103的运动，可实现转盘22与测试仪41之间的物料转移。上述所提及的第三吸附机构103，其具体结构与第一吸附机构81的结构相同，以实现物料的转移。旋转装置10的具体动作原理为：转盘22将放置有待检测电子元器件的工位，转动至第三吸附机构103的正下方；驱动气缸驱动第三吸附机构103沿靠近转盘的方向运动，以吸取该工位上放置的待检测电子元器件；吸取完毕后，第三吸附机构103返回至初始状态；上述第三吸附机构103在吸取工位上放置的物料的同时，另一对称设置的第三吸附机构103则吸取经测试仪41测试完毕后的电子元器件；而后，旋转座102在第二皮带传动单元101的驱动下旋转180度，以使得吸附有待检测电子元器件的第三吸附机构103位于测试仪41的测试平台上方，而吸附有检测完毕的电子元器件的第三吸附机构103位于上述工位的上方；最后，吸附有待检测电子元器件的第三吸附机构103，将其放置在测试仪41的测试平台上进行测试，吸附有检测完毕的电子元器件的第三吸附机构103则将其放置在上述工位上，由转盘22将其传送至下一工位。

在上述实施例中，参见图10可知，物料测试装置4具体包括有可沿垂直工作台11的方向往复运动的第一测试组件，以及设置第一测试组件下方、用于布置测试仪41的测试箱，待检测电子元器件则被放置在该测试箱上。在该测试箱与第一测试组件上均布置有用于导通待检测电子元器件与测试仪41的测试探针，在待检测电子元器件被放置到测试箱上之后，第一测试组件在在驱动装置的驱动下向下运动，以通过第一测试组件及测试箱上分别设置的测试探针，导通电子元器件与测试仪41，从而实现电子元器件的测试。在本发明一较佳实施例中，测试箱的底部还布置有用于其滑动的直线导轨，以通过该直线导轨，将测试箱移动至合适的位置进行维修或更换。当然，测试箱在直线导轨上的移动，可通过驱动机构实现，亦可通过在测试箱上设置肘夹，以实现测试箱在直线导轨上的移动及固定。考虑到维修及更换测试箱的频率较低，本发明优先选择肘夹，通过肘夹固定测试箱，避免其在测试过程中发生移动，影响测试精度；在需要移动测试箱时，松开肘夹，人工推动测试箱，以将其沿直线导轨移动至合适位置，进行维修工作。

物料扫描装置5主要包括条码扫描枪，而条码扫描枪一般包由光源、光学透镜、光电转换器及译码接口电路等构成。条码扫描枪在进行扫描时，其内部设置的光源朝向条形码照射并产生反射光；该发射光经光学透镜聚焦后，照射到光电转换器上；而后，由光电转换器将接收到的反射光信号转换为相应的电信号；最后，通过译码接口电路译成数字信息。如此，便实现了条形码的识别及信息读取。考虑到电子元器件测试设备在布置上的紧凑型及密闭性(如布置的外部防护罩及各组成部件的上下设置)，可能导致待检测的电子元器件在进行扫描的过程中，存在着光线不足的情况，进而影响条形码的识别及信息读取。为此，本发明在条码扫描枪朝向电子元器件的方向上布置有用于增加光源强度的光源增强组件，该光源增强组件可在扫描过程中，对扫描枪进行补光，以使得扫描枪快速识别条形码。

为实现物料扫描装置5对条形码的识别，在扫描过程中，物料扫描装置5的条码扫描枪需与条形码相向设置，方可使得物料扫描装置5发射的光源照射至条形码上。然而，在实际测试时，因电子产品的条形码贴设位置的不同，存在着电子产品的条形码处于背对扫描枪的位置，从而导致物料扫描部件2无法对该电子产品的条形码进行识别的缺陷。如硅麦产品，包括有前进音孔和后进音孔两种，其中，前进音孔类硅麦的条形码与其进音孔位于同一平面，由于在测试时，需将进音孔朝下放置进行检测，因此，此种情况下的条形码需通过位于其下方的扫描枪进行识别；而后进音孔类硅麦的条形码与其进音孔则设置在相对的上下两面，测试时，设置有进音孔的一面朝下放置，此种情况下的条形码则需要通过位于其上方的扫描枪进行扫描、识别。考虑到上述情况的发生，本发明所提出的物料扫描装置5包括有第一扫描机构51和第二扫描机构52，通过第一扫描机构51和第二扫描机构52，可分别实现对不同位置上的条形码的扫描及识别。具体参见图11至图13，第一扫描机构51设置在电子元器件承载平台的上方且朝向电子元器件，其包括在X轴方向上布置的第一直线传动组件、在Y轴方向上布置的第二直线传动组件、与第二直线传动组件的执行端连接的安装箱以及与安装箱连接的安装凸板，在安装凸板上沿Z轴方向布置有第一扫描枪以及位于第一扫描枪下方的第一光源组件。该第一扫描机构51通过第一直线传动组件及第二直线传动组件，可带动第一扫描枪及第一光源组件在X轴和Y轴方向上的运动，进而实现第一扫描枪的扫描及识别。第二扫描机构52布置在电子元器件承载平台的下方并朝向电子元器件，其包括固定设置在工作台11上的安装座，在安装座上沿Z轴方向布置有第二扫描枪及位于其正上方的第二光源组件。由于第二扫描机构52，其针对于朝下方向的条形码的扫描及识别；若要实现对该条形码的扫描及识别，需通过下料转送装置9，将已检测完毕的电子元器件抓取并转移至第二扫描枪的上方位置处。下料转送装置9可在X轴、Y轴及Z轴方向上移动，其在X轴及Y轴方向上移动的主要作用在于：通过具有多个吸头的吸盘，将电子元器件转移至第二扫描枪的上方，实现条形码的扫描及识别；同时，下料转送装置9还可在Z轴方向上往复运动，其主要作用在于：通过Z轴方向的运动，使得位于电子元器件承载平台上方的吸盘，将电子元器件自其下方吸附，并在靠近自动下料装置6后，通过Z轴方向的运动，将吸盘吸附的电子元器件下放至自动下料装置6上。

下料转送装置9位于转盘装置2和自动下料装置6之间，下料转送装置9包括用于自转盘22上吸取物料并将其放置在送料部件63上的第二吸附机构91，以及与第二吸附机构91连接用于驱动第二吸附机构91在转盘22与送料部件63之间执行取料、放料动作的第二驱动机构92。参见图11和图13，作为本发明一优选实施例，考虑到制造成本及安装空间，本发明所提出的下料转送装置9与物料扫描装置5并排设置在安装凸板上，如此，下料转送装置9可在第一直线传动组件及第二直线传动组件的带动下，沿X轴和Y轴方向运动，无需再单独设置X轴及Y轴的传动组件，只需在安装凸板上布置一实现吸盘在Z轴方向上的运动的驱动机构即可。下料转送装置5具体包括有吸盘、连接板、布置在连接板上的弹性压持机构以及驱动机构，其中连接板的一端与吸盘连接，另一端与安装凸板连接；而驱动机构包括有用于连接板进行导向的导柱以及驱动气缸，驱动气缸的执行端正对弹性压持机构设置。下料转送装置5在Z轴方向上的动作原理为：驱动气缸的输出轴伸出并抵持在弹性压持机构上，弹性压持机构在驱动气缸的作用下朝靠近第二扫描枪的方向运动；由于弹性压持机构与连接板连接，而连接板的另一端则与吸盘连接，进而带动吸盘朝靠近第二扫描枪的方向运动；下料转送装置5在返回初始位置时，驱动气缸的输出轴缩回，此时，弹性压持机构在弹簧的作用下，带动吸盘朝远离第二扫描枪的方向运动。

电子元器件在扫描完毕后，其检测结果将被上传至电子元器件测试设备的控制系统，而后由控制系统控制自动下料装置6的运动。首先，自动下料装置6将沿X轴方向做靠近下料转送装置9的运动，以使下料转送装置9将吸盘所吸附的若干电子元器件放置在圆盘治具322上；其次，电子元器件转移后，送料部件63返回至下料区，以通过吸嘴和摆臂组件将电子元器件放置在物料盘12或物料盒13中，从而实现电子元器件的自动下料。在本发明所提出的自动下料装置6中，下料区布置有并排放置的成品区和次品区，自动下料部件4根据电子元器件的检测结果，将其分别放置，以实现电子元器件的自动筛选。进一步的，还可在下料区内布置并排设置的若干物料放置区，该物料放置区依据电子元器件的偏差值(即偏离标准参考值的大小)，将其划分为第一物料区、第二物料区及第三物料区等，从而实现对电子元器件品质的进一步细分。本发明实施例中，送料部件63与取料部件32的结构相同，故在此不再赘述。

在本发明实施例中，自动下料装置6包括有第二进出盘部件61、物料盒移送部件62及送料部件63。由于第二进出盘部件61与第一进出盘部件31的结构相同，而送料部件63与取料部件32的结构相同，故在此不再赘述。参见图1、图17和图18，物料盒移送部件62包括其上布置有盖板621的两第二支撑板622、位于两第二支撑板622之间的直线传动组件623以及与直线传动组件623的执行端连接的载盒框624，盖板621上开设有与吸嘴321相匹配的通孔6211，其中，两第二支撑板622中的一块支撑板与第一支撑板311共用。本发明所提出的物料盒移送部件62，其内布置的载盒框624可在直线传动组件623的驱动下，载着物料盒13沿Y轴方向往复运动。物料盒移送部件62的动作原理为：送料部件63朝远离下料转送装置9的X轴方向运动，以将其移动至指定位置；在到达指定位置后，吸嘴321自圆盘治具322中吸取电子元器件，并将其转移至通孔6211的正上方；而后，吸嘴321释放电子元器件，其在自身重力的作用下掉入至下方的物料盒13内。在第一物料盒13装满电子元器件后，直线传动组件623驱动载盒框624沿出盘口的方向移动，以使第二物料盒13移动至通孔6211的正下方位置处。进一步的，考虑到操作人员的观察，本发明一优选实施例中，盖板621采用亚克力板。

参见图14，在本发明一优选实施例中，电子元器件测试设备还包括设置在物料测试装置4和物料扫描装置5之间的视觉检测装置7，视觉检测装置7包括CCD相机71和光源组件72，CCD相机71设置在转盘22上方且CCD相机71的镜头朝向转盘22，光源组件72位于CCD相机71正下方。CCD相机71通过获取圆盘治具及放置在其内的电子元器件的图像，并上传至控制系统，由控制系统对电子元器件的位置及数量进行分析；若出现电子元器件的位置放偏或者漏放电子元器件，则停止设备运行并发出警报，待人为调整之后再启动运行。当然，本发明所提出的视觉检测装置7还可用于电子元器件的外观检测，即对电子元器件是否存在外观缺陷，如凹坑、裂纹及刮痕等，包括但不限于此。

以上所述的仅为本发明的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围，凡是在与本发明一个整体的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。

Claims (9)

1.一种电子元器件测试设备，所述电子元器件的表面贴设有用于储存信息的条形码并被放置在物料盘或物料盒中，其特征在于，所述电子元器件测试设备包括用于传送物料的转盘装置以及沿所述转盘装置的转动方向依次布置的自动上料装置、物料测试装置、物料扫描装置和自动下料装置；其中，

所述转盘装置包括驱动部件以及与所述驱动部件的执行端连接的多工位转盘；

所述自动上料装置包括用于自动进出物料盘的第一进出盘部件以及用于将所述物料盘中的物料转移至所述转盘上的取料部件，所述取料部件横跨于所述第一进出盘部件的上方且可沿垂直物料盘的移动方向运动，所述第一进出盘部件包括布置有直线导轨的两第一支撑板、位于两第一支撑板之间用于驱动物料盘在所述直线导轨上沿进盘口至出盘口方向移动的拨盘机构、位于所述进盘口处用于自叠放的物料盘中分离一物料盘至所述直线导轨上的分盘机构、以及位于所述出盘口处用于将所述直线导轨上的空物料盘叠放至预设位置的收盘机构；

所述物料测试装置包括用于对物料的电性能参数进行检测的测试仪以及用于连接所述测试仪与待测物料的测试探针；

所述物料扫描装置用于读取所述条形码中储存的信息，其包括可沿平行和垂直物料盘的移动方向运动的第一扫描机构，以及位于所述第一扫描机构下方的第二扫描机构；

所述自动下料装置包括用于自动进出所述物料盘的第二进出盘部件、与所述第二进出盘部件并排设置的物料盒移送部件以及用于将所述转盘上的物料转移至所述物料盘或物料盒中的送料部件，所述送料部件横跨于所述第二进出盘部件与物料盒移送部件的上方且可沿垂直所述物料盘的移动方向运动；

所述电子元器件测试设备还包括用于在所述转盘装置与物料测试装置之间转移物料的旋转装置，所述旋转装置包括第二皮带传动单元、与所述第二皮带传动单元的输出轴连接的旋转座以及设置在所述旋转座上且可沿上下方向运动的第三吸附机构。

2.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，还包括设置在所述物料测试装置和物料扫描装置之间的视觉检测装置，所述视觉检测装置包括CCD相机和光源组件，所述CCD相机设置在所述转盘上方且所述CCD相机的镜头朝向所述转盘，所述光源组件位于所述CCD相机正下方。

3.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，还包括用于将所述取料部件上的物料转移至所述转盘上的上料转送装置及用于将所述转盘上的物料转移至所述送料部件上的下料转送装置；其中，

所述上料转送装置位于所述自动上料装置和转盘装置之间，所述上料转送装置包括用于自所述取料部件上吸取物料并将其放置在所述转盘上的第一吸附机构，以及与所述第一吸附机构连接用于驱动所述第一吸附机构在所述取料部件与转盘之间执行取料、放料动作的第一驱动机构；

所述下料转送装置位于所述转盘装置和自动下料装置之间，所述下料转送装置包括用于自所述转盘上吸取物料并将其放置在所述送料部件上的第二吸附机构，以及与所述第二吸附机构连接用于驱动所述第二吸附机构在所述转盘与送料部件之间执行取料和放料动作的第二驱动机构。

4.如权利要求1所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述取料部件与送料部件结构相同，分别包括：

吸嘴、可转动的圆盘治具以及与所述吸嘴连接用于带动所述吸嘴自物料盘中吸取物料并置于所述圆盘治具中的摆臂机构。

5.如权利要求4所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述分盘机构包括分别设置在所述两第一支撑板上的承载组件以及用于举升或下降所述物料盘至预设高度的第一升降组件；其中，所述物料盘的两侧设有凹槽；

所述承载组件包括可沿垂直第一支撑板的方向往复运动的联动板，所述联动板包括在物料盘移动方向上间隔设置并位于所述第一支撑板的上端面之上的两连接部以及设置在所述连接部上的定位凸板，所述定位凸板与所述凹槽相匹配；

所述第一升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第一传动板以及设于所述第一传动板上且贯穿所述工作台的第一导柱，在所述第一导柱的顶端设置有第一升降板。

6.如权利要求4所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述拨盘机构包括布置在工作台上的线性模组以及与所述线性模组的执行端连接的拨杆。

7.如权利要求4所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述收盘机构包括在所述第一支撑板上并沿物料盘移动方向设置的定位支撑组件，以及与所述定位支撑组件的位置相对应的第二升降组件；其中，

所述第二升降组件包括可沿垂直工作台的方向往复运动的第二传动板以及设于所述第二传动板上且贯穿所述工作台的第二导柱，在所述第二导柱的顶端设置有第二升降板；

所述定位支撑组件包括固定座、贯穿所述固定座设置的旋转轴以及套设在所述旋转轴上的旋转凸板，所述旋转凸板可在位于其下方的物料盘的推动下朝向所述第一支撑板的外侧翻转至预设角度并复位。

8.如权利要求4所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述摆臂机构包括竖向设置的第一皮带传动单元、与所述第一皮带传动单元的两输出轴分别连接的两活动曲柄以及位于所述两活动曲柄之间的连杆，所述两活动曲柄中的一个与所述连杆转动连接，另一个与所述连杆滑动连接且可相对转动，所述连杆还与所述吸嘴连接。

9.如权利要求4所述的电子元器件测试设备，其特征在于，所述物料盒移送部件包括其上布置有盖板的两第二支撑板、位于两第二支撑板之间的直线传动组件以及与所述直线传动组件的执行端连接的载盒框，所述盖板上开设有与所述吸嘴相匹配的通孔。

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