CN115291031A - 电性测试设备 - Google Patents

Abstract

本申请属于电性测试技术领域，尤其涉及一种电性测试设备，该电性测试设备，包括机架、输送装置、上料装置、测试装置和下料装置，输送装置包括驱动组件和转盘，驱动组件安装于机架上，驱动组件与转盘驱动连接，并能够驱动转盘转动；转盘上开设有多个用于容纳电子元器件的容纳孔；上料装置内形成有多个上料通道，各上料通道的出料口分别与各容纳孔一一对应连通；测试装置包括多个测试件，各测试件分别与各容纳孔一一对应设置，并能够与对应的容纳孔内的电子元器件的引脚接触；下料装置用于将测试完成后的电子元器件从容纳孔内排出。在大批量测试时，可减少电性测试设备数量，从而减少设备占地和人员配置，进而减少测试成本。

Description

电性测试设备

技术领域

本申请属于电性测试技术领域，尤其涉及一种电性测试设备。

背景技术

目前，电子元器件封装完成后，通常会采用电性测试设备进行电性测试，但现有的电性测试设备多采用的是单轨道测试方式，单轨道测试方式效率低，针对大批量的测试生产要求，测试企业必须有足够大的生产场、足够多的电性测试设备及足够多的作业员来保证企业的生产，大量的设备和人员会增加电子元器件的测试成本。

发明内容

本申请的目的在于提供一种电性测试设备，旨在解决现有技术中的单轨道测试方法效率低且测试成本高的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：一种电性测试设备，其特征在于：包括机架、输送装置、上料装置、测试装置和下料装置，所述输送装置包括驱动组件和转盘，所述驱动组件安装于所述机架上，所述驱动组件与所述转盘驱动连接，并能够驱动所述转盘转动；所述转盘上开设有多个用于容纳电子元器件的容纳孔，所述容纳孔沿所述转盘的径向方向间隔分布；

所述上料装置、所述测试装置和所述下料装置安装于所述机架上并沿所述转盘的转动方向布设；

所述上料装置内形成有多个上料通道，各所述上料通道的出料口分别与各所述容纳孔一一对应连通；

所述测试装置包括多个测试件，各所述测试件分别与各所述容纳孔一一对应设置，并能够与对应的所述容纳孔内的电子元器件的引脚接触；

所述下料装置用于将测试完成后的电子元器件从所述容纳孔内排出。

可选地，所述转盘上沿同一径向方向布设的所述容纳孔为一列容纳孔，所述转盘上设置有多列所述容纳孔，多列所述容纳孔沿所述转盘的转动方向布设。

可选地，所述上料装置还包括入料组件，所述入料组件包括上料块和测试安装板，所述上料块安装于所述测试安装板上，所述测试安装板安装于所述机架上；

所述上料通道形成于所述上料块内并贯穿所述上料块且均倾斜设置；所述测试安装板开设有多个连通通道，各所述连通通道分别连通对应的各所述上料通道和各所述容纳孔并均与所述转盘垂直布设；所述转盘倾斜设置，各所述上料通道和各所述连通通道均沿所述转盘的转动方向延伸。

可选地，所述测试安装板设置有毛刷和多个检测光纤，各所述检测光纤沿所述转盘的径向方向间隔设置且分别与各所述容纳孔一一对应设置并能够检测对应的所述容纳孔是否存在电子元器件，所述毛刷沿所述转盘的径向方向布设；所述连通通道、所述检测光纤和所述毛刷沿所述转盘的转动方向布设。

可选地，所述入料组件还包括第一连接板、第二连接板、直线导轨和第一微调平台，所述第一微调平台安装于所述机架上，所述第一微调平台的移动端与所述第二连接板连接，所述第一连接板与所述测试安装板连接，所述第一连接板和所述第二连接板通过所述直线导轨上下滑动连接。

可选地，所述上料装置还包括储料组件，所述储料组件包括直振器、料斗、第一支架、第二支架、第二微调平台、锁紧件和锁紧手柄，所述直振器具有多条直振轨道，所述料斗设置于多条所述直振轨道的上方，并能够将所述料斗内电子元器件导入到各所述直振轨道内，各所述直振轨道分别位于各所述上料通道的上方并与各所述上料通道一一对应设置，所述第一支架的一端与所述机架转动连接，所述锁紧件和所述第二微调平台安装于所述第一支架的另一端上，所述直振器和所述料斗均与所述第二微调平台的移动端连接；

所述第二支架安装于所述机架上，所述锁紧手柄安装于所述第二支架上，并能够与所述锁紧件锁止连接。

可选地，所述机架上设置有底板，所述底板上设置有容纳槽，所述转盘转动安装于所述容纳槽内，所述容纳腔的腔底面设置有多圈真空环形槽，每圈所述真空环形槽分别与各所述容纳孔对应连通。

可选地，所述测试装置包括上测试组件和下测试组件，所述上测试组件包括测试安装基板和测试模块，所述测试件包括上测试头和测试探针，所述上测试头安装于所述测试模块上并用于电子元器件上表面的引脚接触，所述测试模块安装于所述测试安装基板上，所述测试安装基板的一侧转动安装于所述底板上；

所述下测试组件包括真空安装板，所述真空安装板安装于所述底板的背面，所述真空安装板形成有沿所述转盘径向方向延伸的真空长条槽，各所述真空环形槽均与所述真空长条槽连通，所述测试探针安装于所述真空安装板上，并用于与电子元器件下表面的引脚接触。

可选地，所述测试模块包括腔体安装块、玻璃套、活塞和顶针，所述腔体安装块安装于所述测试安装基板上，所述玻璃套安装于所述腔体安装块内，所述活塞安装于所述玻璃套内，所述顶针的一端与所述活塞连接，所述顶针的另一端从所述腔体安装块穿出并与所述上测试头连接。

可选地，所述下料装置包括下料基板、滑动柱、滑动架和多个下料管道，所述滑动柱安装于所述机架上，各所述下料管道均安装于所述下料基板上，并与各所述容纳孔一一对应设置，且能够将所述容纳孔内的电子元器件吸出；

所述滑动架与所述下料基板连接，所述滑动架滑动套设于所述滑动柱上，并能够带动所述下料基板上下移动。

本申请提供的电性测试设备中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：工作时，驱动组件驱动转盘转动，当驱动组件驱动转盘上的容纳孔移动到上料装置处时，多个上料通道内的电子元器件同时进入与之对应的容纳孔内，而随着驱动组件继续驱动转盘继续转动，当容纳孔内的电子元器件移动到测试装置处时，多个测试头可同时对与之对应容纳孔内的电子元器件进行测试；测试完成后，随着转盘的继续转动，电子元器件移动到下料装置处进行下料处理，如此便实现了电子元器件电性测试的自动化测试；该电性测试设备能够实现多个电子元器件的上料和测试，从而大大提高了测试效率，从而在大批量测试时，可减少电性测试设备数量，从而减少设备占地和人员配置，进而减少测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的电性测试设备的结构示意图。

图2为图1中的电性测试设备部分部件的第一视角的结构示意图。

图3为图1中的电性测试设备部分部件的第二视角的结构示意图。

图4为图1中的电性测试设备部分部件的第三视角的结构示意图。

图5为图4所示部件的部分剖面图。

图6为图5中A处的局部放大图。

图7为图4中的驱动组件的结构示意图。

图8为图3中的入料组件的结构示意图。

图9为图3中的储料组件的结构示意图。

图10为本申请实施例提供的电性测试设备的测试结构简图。

图11为图3中的上测试组件的结构示意图。

图12为图11中的测试模块的结构示意图。

图13为图12中的测试模块的截面图。

图14为图12中的测试模块部分部件的结构示意图。

图15为图4中的下测试组件的结构示意图。

图16为图2中的下料装置的第一视角的结构示意图。

图17为图2中的下料装置的第二视角的结构示意图。

其中，图中各附图标记：

10、机架；11、底板；12、显示屏；13、工控机；14、指示灯；15、测试仪；16、支脚；17、万向轮；20、输送装置；21、驱动组件；22、转盘；30、上料装置；31、入料组件；32、储料组件；40、测试装置；41、测试件；42、上测试组件；43、下测试组件；50、下料装置；51、下料基板；52、滑动柱；53、滑动架；54、下料管道；55、提升手柄；56、缓冲块；57、第二限位手柄；58、搭扣锁扣；59、第三限位块；61、旋转轴；62、收料盒；70、电容；111、第二钩设件；112、真空环形槽；113、穿设孔；114、安装底座；211、连接盘；212、安装架；214、传动机构；215、张紧气缸；216、编码器；221、容纳孔；311、上料块；312、测试安装板；313、第一连接板；314、第二连接板；315、直线导轨；316、第一微调平台；317、感应器；318、第一限位块；321、直振器；322、料斗；323、第一支架；324、第二支架；325、第二微调平台；326、锁紧件；327、锁紧手柄；328、转动手柄；411、上测试头；412、测试探针；421、测试安装基板；422、测试模块；423、第二限位块；424、扣紧手柄；425、第一钩设件；426、抬升手柄；427、测试气路；431、真空安装板；432、走线板；433、连接杆；434、真空接头；1141、第一限位手柄；2136、马达；2241、主动轮；2242、从动轮；2243、同步带；3111、上料通道；3121、连通通道；3122、毛刷；3123、检测光纤；3124、电机；3125、吹气接头；3211、直振轨道；4201、遮挡板；4202、第一接头；4203、第二接头；4204、信号线；4205、复位弹性件；4221、腔体安装块；4222、玻璃套；4223、活塞；4224、顶针；4225、接线安装块；4226、测试安装块；4227、连接块；4228、连接件；4229、第三连接板；4231、限位孔；4311、真空长条槽。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图1～17中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图1～17描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。

还需说明的是，本申请实施例中以同一附图标记表示同一组成部分或同一零部件，对于本申请实施例中相同的零部件，图中可能仅以其中一个零件或部件为例标注了附图标记，应理解的是，对于其他相同的零件或部件，附图标记同样适用。

在本申请中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

如图1～17所示，在本申请的一个实施例中，提供一种电性测试设备，能够获取电子元器件的电性参数(如：电流、电阻、电压、容值、充放电时的电性参数等)，从而实现电子元件的电性测试，其中，电子元器件可为电容70、电阻、电感等元件。

为了方便清楚地描述本申请的技术方案，本申请以电子元器件为电容70且以电容70的分选测试为例进行描述。

结合图1、图2、图3所示，本申请实施例的电性测试设备包括机架10、输送装置20、上料装置30、测试装置40和下料装置50，包括机架10、输送装置20、测试装置40和下料装置50；请一并参阅图4所示，输送装置20包括驱动组件21和转盘22，驱动组件21安装于机架10上，驱动组件21与转盘22驱动连接，并能够驱动转盘22转动；转盘22上开设有多个用于容纳电容70的容纳孔221，容纳孔221沿转盘22的径向方向间隔分布；上料装置30、测试装置40和下料装置50安装于机架10上并沿转盘22的转动方向布设；可以理解的是，随着驱动组件21驱动转盘22转动的过程中，转盘22会带动容纳孔221依次经过上料装置30、测试装置40和下料装置50。

在本实施例中，请一并参阅图5和图6所示，上料装置30内形成有多个上料通道3111，各上料通道3111的出料口分别与各容纳孔221一一对应连通；可以理解的是，当转盘22上的容纳孔221转动到上料装置30处时，电容70从上料通道3111的出料口排出后进入容纳孔221内，实现电容70的上料。

在本实施例中，测试装置40包括多个测试件41，各测试件41分别与各容纳孔221一一对应设置，并能够与对应的容纳孔221内的电容70的引脚接触；可以理解的是，当转盘22带动电容70转动到测试装置40处时，各测试件41分别与各容纳孔221内电容70的引脚接触，以电性导通电容70，实现电容70的电性测试。

在本实施例中，下料装置50用于将测试完成后的电容70从容纳孔221内排出。可以理解的是，测试完成后，随着转盘22的转动，电容70移动到下料装置50处，下料装置50将测试完成后的电容70从容纳孔221内排出，电容70排出后，空的容纳孔221在转盘22的转动在此转动到上料装置30处进行上料，如此循环，便可实现了电容70的连续化测试，有利于提高测试效率。

本申请实施例的电性测试设备，工作时，驱动组件21驱动转盘22转动，当驱动组件21驱动转盘22上的容纳孔221移动到上料装置30处时，多个上料通道3111内的电容70同时进入与之对应的容纳孔221内，而随着驱动组件21继续驱动转盘22继续转动，当容纳孔221内的电容70移动到测试装置40处时，多个测试头可同时对与之对应容纳孔221内的电容70进行测试；测试完成后，随着转盘22的继续转动，电容70移动到下料装置50处进行下料处理，如此便实现了电容70电性测试的自动化测试；该电性测试设备能够实现多个电容70的上料和测试，从而大大提高了测试效率，从而在大批量测试时，可减少电性测试设备数量，从而减少设备占地和人员配置，进而减少测试成本。

结合图1所示，机架10上还设有显示屏12、工控机13、指示灯14、测试仪15等部件，以协助该电性测试设备。机架10的底部还设置有可升降的支脚16和万向轮17，以方便该电性测试设备的移动和固定。

在本申请的另一个实施例中，参阅图2所示，提供的该电性测试设备的转盘22上沿同一径向方向布设的容纳孔221为一列容纳孔221，转盘22上设置有多列容纳孔221，多列容纳孔221沿转盘22的转动方向布设。在具体测试过程中，多列容纳孔221的设置，能够实现电容70的连续上料、连续测试和连续下料，从而大大提高测试效率。

在本申请的另一个实施例中，结合图2、图5和图6所示，提供的该电性测试设备的上料装置30还包括入料组件31，入料组件31包括上料块311和测试安装板312，上料块311安装于测试安装板312上，测试安装板312安装于机架10上；上料通道3111形成于上料块311内并贯穿上料块311且均倾斜设置；测试安装板312开设有多个连通通道3121，各连通通道3121分别连通对应的各上料通道3111和各容纳孔221并均与转盘22垂直布设；具体地，电容70在自身重力作用下沿倾斜的上料通道3111进入连通通道3121内，再从连通通道3121进入容纳孔221内实现上料，而在此过程中，电容70完全靠自身重力移动无需采用其他驱动件，其结构简单，有利于加工制作；另外，连通通道3121垂直于转盘22设置，这样连通通道3121内的电容70可垂直落入转盘22上的容纳孔221内，从而提高电容70进入容纳孔221内的成功率；另外，转盘22倾斜设置，这样电容70到达转盘22处时，也处于倾斜状态，而处于倾斜状态的电容70会在自身重力作用下转动变换角度，使得电容70能够更为容易进入容纳孔221内，提高电容70进入容纳孔221的成功率，提高上料效率；同时，各上料通道3111和连通通道3121均沿转盘22的转动方向延伸；一方面，一个连通通道3121可与多列中的容纳孔221连通，那么可实现多列容纳孔221的同时上料，从而提高上料率；另一方面，连通通道3121同时连通的多个容纳孔221也呈多角度分布，这样使得电容70能够容易地进入容纳孔221内，提高上料率。

在本实施例中，结合图2、图5和图6所示，转盘22倾斜设置，可以理解为，转盘22与水平面呈夹角设置，具体地，转盘22与水平面之间夹角α的角度范围为60°～80°。转盘22与水平面的夹角的角度α设置上述范围内，转盘22的倾斜角度合适，使得电容70发生转动的同时还能够稳定固定于容纳孔221，可避免因转盘22倾斜角度过大而导致电容70脱出容纳孔221，也可避免因转盘22倾斜角度过小而导致电容70不发生转动或者转动速度慢而无法快速进入容纳孔221。具体地，夹角α的角度可为60°、62°、64°、66°、68°、70°、72°、74°、76°、78°或80°；优选地，夹角α的角度为70°，此时转盘22倾斜的角度最为合适，既能够保证电容70能够稳定可靠地位于容纳孔221内，也可以保证电容70能够快速地转动，从而调整到合适的角度，进而顺利快速地进入容纳孔221内，入料效率高。

在本实施例中，结合图2、图5和图6所示，上料通道3111与水平面C呈夹角设置，可以理解的是，上料通道3111的轴线B与水平面C呈夹角β设置，这样上料通道3111内的电容70在自身重力作用下可沿着上料通道3111倾斜的侧壁进行滑动，而在电容70在上料通道3111内滑动过程中，电容70的侧面会贴合在倾斜的侧壁进行滑动，使得电容70的姿态得以调整，从而更为容易地进入容纳孔221内，电容70的上料成功率更高。具体地，夹角β的范围为50°～80°。该夹角β的范围的设置，可保证电容70能够以合适的速度和预设的姿态准确地进入容纳孔221内，有利于提高电容70的上料成功率和上料效率；若该夹角β设置过小，电容70在上料通道3111内的流动速度缓慢，上料效率差；若该夹角β设置过大，电容70无法有效地贴合沿着上料通道3111倾斜的侧壁进行滑动，使得电容70的姿态调整效果差，降低上料成功率。细化地，该夹角可为50°、52°、54°、56°、58°、60°、62°、64°、66°、68°、70°、72°、74°、76°、78°或者80°。优选地，该夹角为65°，此时，可同时兼顾较好的上料效率和上料成功率。

在本申请的另一个实施例中，结合图8所示，提供的该电性测试设备的测试安装板312设置有毛刷3122和多个检测光纤3123，各检测光纤3123沿转盘22的径向方向间隔设置且分别与各容纳孔221一一对应设置并能够检测对应的容纳孔221是否存在电容70，毛刷3122沿转盘22的径向方向布设；连通通道3121、检测光纤3123和毛刷3122沿转盘22的转动方向布设。具体地，随着转盘22的转动，容纳孔221经过连通通道3121后依次经过检测光纤3123和毛刷3122，其中，检测光纤3123用于检测容纳孔221内是否存在电容70，以方便后续的测试，而毛刷3122能够清除转盘22表面的灰尘等杂质，以保证后续的测试。

在另一实施例中，测试安装板312上设置有电机3124，电机3124的输出轴与毛刷3122的端部连接，电机3124带动毛刷3122旋转，旋转的毛刷3122将转盘22上的灰尘等杂质扫除，实现转盘22的表面清洁。

在另一实施例中，测试安装板312设置有吹气接头3125，从吹气接头3125进入的气体会进入入料通道内，从而吹动电容70翻转，避免电容70堵塞入料通道，保证入料的通畅性，减少维修，提高入料效率和测试效率。

在本申请的另一个实施例中，结合图8所示，提供的该电性测试设备的入料组件31还包括第一连接板313、第二连接板314、直线导轨315和第一微调平台316，第一微调平台316安装于机架10上，第一微调平台316的移动端与第二连接板314连接，第一连接板313与测试安装板312连接，第一连接板313和第二连接板314通过直线导轨315上下滑动连接。具体地，通过第一微调平台316调整上料块311和安装块的位置，从而保证连通通道3121能够准确地与容纳孔221对准，提高上料成功率；另外，在直线导轨315的导向作用下，可拉动第一连接板313相对于第二连接板314向上滑动，从而将测试安装板312抬起，以方便转盘22的更换。其中，第一微调平台316可为XYZR微调平台；当然在其他实施例中还可以为其他类型的微调平台。

在另一实施例中，第二连接板314的上端设置有感应器317和第一限位块318，其中，感应器317能够感应第一连接板313的位置，而第一限位块318能够与第一连接板313抵接，从而使得第一连接板313不会过渡上移而导致第一连接板313和第二连接板314分离。

在本申请的另一个实施例中，结合图9所示，提供的该电性测试设备的上料装置30还包括储料组件32，储料组件32包括直振器321、料斗322、第一支架323、第二支架324、第二微调平台325、锁紧件326和锁紧手柄327，直振器321具有多条直振轨道3211，料斗322设置于多条直振轨道3211的上方，并能够将料斗322内电子元器件导入到各直振轨道3211内，各直振轨道3211分别位于各上料通道3111的上方并与各上料通道3111一一对应设置，具体地，上料时，只需将电容70倒入料斗322内，料斗322会将电容70导入到各直振轨道3211内，再经过直振轨道3211振动后以预设的角度进入入料通道内，实现电容70的上料，该上料方式简单方便快捷，同时直振轨道3211能够将电容70振动到预设的角度从而进入上料通道3111，这有利于提高电容70进入容纳孔221内的成功率。

在本实施例中，第一支架323的一端与机架10转动连接，锁紧件326和第二微调平台325安装于第一支架323的另一端上，直振器321和料斗322均与第二微调平台325的移动端连接；具体地，第二微调平台325能够调节料斗322和直振器321的位置，从而保证各直振轨道3211能够准确地与各入料通道对应连通，从而实现直振轨道3211的电容70能够准确地落入入料通道内，提高电容70的上料效率和成功率；同时，还可以通过第一支架323的转动从而将料斗322和直振器321等部件转动到机架10的侧方，从而方便转盘22的更换以及上料组件的调试。

在本实施例中，第二支架324安装于机架10上，锁紧手柄327安装于第二支架324上，且当第一支架323相对于机架10转动到预设位置(图9所示的位置)时能够与锁紧件326锁止连接。当该电性测试设备处于正常工作状态时，第一支架323与第二支架324之间通过锁紧件326和锁紧手柄327锁止连接，从而实现料斗322和直振器321的稳定固定，保证上料的稳定可靠地进行；而采用锁紧件326与锁紧手柄327的锁止连接方式，其锁止连接操作简单，方便快捷；其中，第二微调平台325可为XR微调平台。

在具体实施例中，锁紧件326设置有锁紧孔，锁紧手柄327螺接于第二支架324上，当锁紧手柄327插入锁紧件326的锁紧孔内的同时，拧紧锁紧手柄327将锁紧件326压紧固定于第二支架324上，如此便实现了第一支架323和第二支架324的锁止连接；另外，拧松锁紧手柄327，锁紧件326即可从锁紧手柄327与第二支架324之间移出，实现第一支架323和第二支架324的分离，以方便第一支架323的转动，方便维护和调试。

在另一实施例中，第一支架323上还设有转动手柄328，方便人员握持转动第一支架323。

在本申请的另一个实施例中，结合图5和图6所示，提供的该电性测试设备的机架10上设置有底板11，底板11上设置有容纳槽，转盘22转动安装于容纳槽内，容纳腔的腔底面设置有多圈真空环形槽112，每圈真空环形槽112分别与各容纳孔221对应连通。具体地，容纳槽能够收容转盘22，从而使得转盘22不会图伸出底板11外；同时，真空环形槽112对容纳孔221内抽真空，从而将电容70吸入并固定于容纳孔221内，以保证后续测试件41准确地与电容70上的引脚接触，从而保证测试的准确性；另外，真空环形槽112呈环形槽，那么容纳孔221随转盘22转动时均能够与容纳孔221连通，从而使得电容70稳定可靠地吸附固定于容纳孔221内，避免电容70掉落出容纳孔221外。

在具体实施例中，结合图4和图7所示，驱动组件21包括连接盘211、安装架212以及安装于安装架212上的马达2136和传动机构214，安装架212安装于底板11的背面，马达2136的输出轴与传动机构214的输入端连接，转盘22与连接盘211连接，容纳槽的底面开设有穿设孔113，传动机构214的输出端穿过穿设孔113与连接盘211连接，马达2136的输出的旋转动力通过传动机构214传带动连接盘211转动，连接盘211转动进而带动转盘22的转动，如此便实现了转盘22的转动。

结合图7所示，传动机构214包括主动轮2241、从动轮2242和同步带2243，主动轮2241与电机3124的输出轴连接，主动轮2241和从动轮2242间隔安装于安装架212上，从动轮2242的转轴穿过穿设孔113与连接盘211连接，同步带2243绕设于主动轮2241和从动轮2242上，电机3124带动主动轮2241转动，主动轮2241通过同步带2243带动从动轮2242转动，进而带动连接盘211和转盘22转动，如此便实现了转盘22的转动；同步带2243的侧方设置有张紧气缸215，张紧气缸215能够推动同步带2243张紧，避免同步带2243出现打滑现象，保证转盘22转动的稳定性和测试的准确性；从动轮2242的转轴上安装有编码器216，通过编码器216实现转盘22的角度控制，方便实现测试的自动化控制。

在本申请的另一个实施例中，结合图4、图10和图11所示，提供的该电性测试设备的测试装置40包括上测试组件42和下测试组件43，上测试组件42包括测试安装基板421和测试模块422，测试件41包括上测试头411和测试探针412，上测试头411安装于测试模块422上并用于电容70上表面的引脚接触，测试模块422安装于测试安装基板421上，测试安装基板421的一侧转动安装于底板11上；具体地，通过测试安装基板421相对于底板11的转动，可将测试模块422和上测试头411移动到转盘22的侧方，从而方便转盘22的更换。

在本实施例中，参阅图15所示，下测试组件43包括真空安装板431，真空安装板431安装于底板11的背面，真空安装板431形成有沿转盘22径向方向延伸的真空长条槽4311，各真空环形槽112均与真空长条槽4311连通，测试探针412安装于真空安装板431上，并用于与电容70下表面的引脚接触。具体地，当容纳孔221的电容70移动到测试装置40处，上测试头411和测试探针412分别与电容70上下表面上的引脚接触，从而实现了电容70的电性测试；另外，对真空长条槽4311抽真空即可实现多圈真空环形槽112抽真空，该结构简单，方便加工制作。

在本实施例中，参阅图15所示，真空长条槽4311的数量为多个，多个真空长条槽4311沿真空环形槽112的周向均匀间隔分布，这样真空环形槽112的周向方向上有多个真空位置，真空环形槽112的周向方向上吸附力均匀分布均匀，那么与之对应连通的容纳孔221内电容70吸附固定效果好；真空安装板431设置有多个真空接头434，各真空接头434分别与各真空长条槽4311连通，并能够对对应的真空长条槽4311抽真空，各真空接头434均与真空发生器连通，从而对各真空长条孔内抽真空，进而实现容纳孔221内的电容70吸附固定。下测试组件43还包括走线板432和连接杆433，连接杆433的两端分别与真空安装板431和走线板432连接，走线板432的设置能够方便与测试探针412相连接的导线进行走线。

在另一实施例中，参阅图15所示，测试探针412设置多列，每列测试探针412均包括多个沿转盘22的径向方向分布的测试探针412，多列测试探针412沿转盘22的转动方向间隔分布，同时，测试模块422的数量也为多个，测试模块422沿转盘22的周向间隔分布，且每个测试模块422上设置有多个沿转盘22的径向方向分布的上测试头411，这样便可同时实现多列容纳孔221内电容70的电性测试，从而极大地提高了测试效率，降低了测试成本。

在本实施例中，参阅图11所示，底板11上设置有安装底座114，测试安装基板421与安装底座114之间通过旋转轴61转动连接，测试安装基板421设置有第二限位块423，安装底座114上设置有第一限位手柄1141，第二限位块423设置有限位孔4231，当测试安装基板421向上翻转到位时，第一限位手柄1141能够插入限位孔4231内，从而将测试安装基板421固定，这样一直支撑测试安装基板421即可实现转盘22的更换，其更换操作更为简单。

在本实施例中，参阅图3和图11所示，测试安装基板421设置有扣紧手柄424和第一钩设件425，扣紧手柄424转动安装于测试安装基板421上，扣紧手柄424的一端与第一钩设件425转动连接，第一钩设件425的一端与测试安装基板421转动连接，测试安装基板421的另一端钩设于底板11上的第二钩设件111上，如此便将测试安装基板421固定在底板11上，从而保证上测试头411能够稳定地与电容70的引脚接触，实现电容70的电性测试；另外，转动扣紧手柄424即可带动第一钩设件425转动，从而使得第一钩设件425与第二钩设件111分离，从而解锁底板11与测试安装基板421，以方便后续测试安装基板421的翻转，进而方便转盘22的更换；测试安装基板421上还设置有抬升手柄426，以方便测试安装基板421的向上翻转。

在本实施例中，测试装置40内设置多个测试模块422，多个测试模块422沿转盘22的转动方向布设，这样可同时满足转盘22上沿转动方向上的多列容纳孔221内的电容70的测试需求，进一步地，提高测试效率，降低测试成本。

在本申请的另一个实施例中，结合图12和图13所示，提供的该电性测试设备的测试模块422包括腔体安装块4221、玻璃套4222、活塞4223和顶针4224，腔体安装块4221安装于测试安装基板421上，玻璃套4222安装于腔体安装块4221内，活塞4223安装于玻璃套4222内，顶针4224的一端与活塞4223连接，顶针4224的另一端从腔体安装块4221穿出并与上测试头411连接。具体地，通过向气腔内玻璃套4222通入气体，气体推动玻璃套4222内活塞4223移动，活塞4223移动从而带动顶针4224推动上测试头411压紧在电容70的引脚上，而通入不同压力的气体，上测试头411压紧在电容70的引脚上的压紧力也不同，如此便实现了上测试头411与电容70之间压紧力的调节，从而能够满足不同尺寸和不同类型电容70的不同压紧力的测试需求，有利于提高测试准确性，也能够提高测试准确性。

在本实施例中，玻璃套4222内设置有复位弹性件4205，复位弹性件4205的上下两端分别抵接在腔体安装块4221内腔体的上腔壁和活塞4223上，那么在电容70测试时，有的电容70会将上测试头411顶起时，会压缩复位弹性件4205，而随着转盘22的继续转动，当上测试头411与电容70分离后，复位弹性件4205会在自身弹性作用力带动活塞4223下移复位，活塞4223下移复位从而带动测试针复位，以保证下一次测试的准确性，从而使得在大批量测试时，活塞4223不会在玻璃套4222内无序的上下跳动，而导致玻璃套4222、活塞4223以及顶针4224等部件的损坏。其中，复位弹性件4205可为弹簧等具有弹性的部件。

在本实施例中，请一并参阅图14所示，测试模块422还包括接线安装块4225、测试安装块4226和多个连接块4227，测试安装块4226内设置有连接件4228，顶针4224的端部插入测试安装块4226内并与连接件4228相抵，多个连接块4227均通过转动轴转动安装于测试安装块4226上，各连接块4227上均设置有上测试头411，且连接件4228与多个连接块4227相抵，顶针4224向下移动时带动连接件4228下移，连接件4228下移带动连接件4228带动多个连接块4227向下翻转，从而带动多个上测试头411同步向下移动压紧在电容70的引脚上，这样通过一个顶针4224即可实现多个上测试头411的下压，测试模块422的零部件少，方便加工制作；另外，在具体应用时，可将用于测试同一电容70的测试探针412可由同一连接件4228驱动，电容70的引脚均受到同一压紧力，电容70的测试结果准确性更好。测试模块422上设置有测试气路427，测试气路427能够与气腔连通，从而给气腔内充入气体。测试安装块4226内可设置多个玻璃套4222、活塞4223和顶针4224，从而满足径向多个电容70的测试需求，进一步地提高测试效率，降低测试成本。接线安装块4225上设置有第一接头4202；接线安装块4225上设置有第一接头4202，连接块4227上设置有第二接头4203，第一接头4202与第二接头4203之间通过信号线4204连通，第一接头4202和测试探针412与工控机13和/或测试仪15通过导线连通，如此便实现了测试电路的导通，在此需要说明的是，其具体的测试电路可参阅现有技术中的电容70分选测试电路进行设定，在此不再赘述。

在本实施例中，上测试头411为测试轮，测试轮转动安装于连接块4227上，这样在转盘22转动过程中，测试轮与电容70的引脚分离时，测试轮转动，使得测试轮与引脚之间的摩擦变为滚动摩擦，从而能够减少测试轮的磨损，延长测试轮的使用寿命，降低测试成本。

在本实施例中，测试安装块4226扣合安装于腔体安装块4221的下方，接线安装块4225位于腔体安装块4221的上方，接线安装块4225和测试安装块4226分别与第三连接板4229的上下端固定连接，并且第三连接板4229与腔体安装块4221之间设置有遮挡板4201，遮挡板4201用于遮挡信号线4204，对信号线4204起到防护作用。

在本申请的另一个实施例中，结合图16和图17所示，提供的该电性测试设备的下料装置50包括下料基板51、滑动柱52、滑动架53和多个下料管道54，滑动柱52安装于机架10上，各下料管道54均安装于下料基板51上，并与各容纳孔221一一对应设置，且能够将容纳孔221内的电容70吸出；滑动架53与下料基板51连接，滑动架53滑动套设于滑动柱52上，并能够带动下料基板51上下移动。具体地，当电容70随转盘22转动到下料管道54处时，下料管道54内通入负压从而将电容70从容纳孔221内吸出，如此便实现了电容70的下料；另外，可向上提升拉动滑动架53，使得滑动架53相对于滑动柱52向上移动，同时，滑动架53带动下料基板51向上移动，从而方便更换转盘22。

在本实施例中，滑动架53上设置有提升手柄55，方便人员握持以提升滑动架53；滑动柱52的侧面设置有缓冲块56，当滑动架53移动到下止点(如图16所示)时，滑动架53抵接在缓冲块56上，从而避免滑动坏过度向下移动，从而避免下料基板51与底板11和转盘22相撞击。另外，当滑动架53移动到下止点时，滑动架53通过搭扣锁扣58锁止在滑动柱52上，这样可将滑动架53稳定地固定在滑动柱52上，避免在下料过程中，下料基板51上下晃动而影响下料。滑动架53设置有第二限位手柄57，滑动柱52上设置有第三限位块59，当滑动架53向上移动到滑动架53的第三限位块59处时，第二限位手柄57与第三限位块59抵接，从而限制，继续滑动架53的向上移动，避免滑动架53过度向上移动，从而导致滑动架53与滑动柱52脱离。

在本实施例中，结合图2所示，机架10上设置有收料盒62，下料管道54排出的电容70通过收料盒62进行收集，方便电容70的后续操作。其中，收料盒62的数量为多个，多个收料盒62可用于装载良品和不同类型故障的不良品，以实现良品和不良品的区分。

以上仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电性测试设备，其特征在于：包括机架、输送装置、上料装置、测试装置和下料装置，所述输送装置包括驱动组件和转盘，所述驱动组件安装于所述机架上，所述驱动组件与所述转盘驱动连接，并能够驱动所述转盘转动；所述转盘上开设有多个用于容纳电子元器件的容纳孔，所述容纳孔沿所述转盘的径向方向间隔分布；

所述上料装置、所述测试装置和所述下料装置安装于所述机架上并沿所述转盘的转动方向布设；

所述上料装置内形成有多个上料通道，各所述上料通道的出料口分别与各所述容纳孔一一对应连通；

所述测试装置包括多个测试件，各所述测试件分别与各所述容纳孔一一对应设置，并能够与对应的所述容纳孔内的电子元器件的引脚接触；

所述下料装置用于将测试完成后的电子元器件从所述容纳孔内排出。

2.根据权利要求1所述的电性测试设备，其特征在于：所述转盘上沿同一径向方向布设的所述容纳孔为一列容纳孔，所述转盘上设置有多列所述容纳孔，多列所述容纳孔沿所述转盘的转动方向布设。

3.根据权利要求1所述的电性测试设备，其特征在于：所述上料装置还包括入料组件，所述入料组件包括上料块和测试安装板，所述上料块安装于所述测试安装板上，所述测试安装板安装于所述机架上；

所述上料通道形成于所述上料块内并贯穿所述上料块且均倾斜设置；所述测试安装板开设有多个连通通道，各所述连通通道分别连通对应的各所述上料通道和各所述容纳孔并均与所述转盘垂直布设；所述转盘倾斜设置，各所述上料通道和各所述连通通道均沿所述转盘的转动方向延伸。

4.根据权利要求3所述的电性测试设备，其特征在于：所述测试安装板设置有毛刷和多个检测光纤，各所述检测光纤沿所述转盘的径向方向间隔设置且分别与各所述容纳孔一一对应设置并能够检测对应的所述容纳孔是否存在电子元器件，所述毛刷沿所述转盘的径向方向布设；所述连通通道、所述检测光纤和所述毛刷沿所述转盘的转动方向布设。

5.根据权利要求3所述的电性测试设备，其特征在于：所述入料组件还包括第一连接板、第二连接板、直线导轨和第一微调平台，所述第一微调平台安装于所述机架上，所述第一微调平台的移动端与所述第二连接板连接，所述第一连接板与所述测试安装板连接，所述第一连接板和所述第二连接板通过所述直线导轨上下滑动连接。

6.根据权利要求3所述的电性测试设备，其特征在于：所述上料装置还包括储料组件，所述储料组件包括直振器、料斗、第一支架、第二支架、第二微调平台、锁紧件和锁紧手柄，所述直振器具有多条直振轨道，所述料斗设置于多条所述直振轨道的上方，并能够将所述料斗内电子元器件导入到各所述直振轨道内，各所述直振轨道分别位于各所述上料通道的上方并与各所述上料通道一一对应设置，所述第一支架的一端与所述机架转动连接，所述锁紧件和所述第二微调平台安装于所述第一支架的另一端上，所述直振器和所述料斗均与所述第二微调平台的移动端连接；

所述第二支架安装于所述机架上，所述锁紧手柄安装于所述第二支架上，并能够与所述锁紧件锁止连接。

7.根据权利要求3所述的电性测试设备，其特征在于：所述机架上设置有底板，所述底板上设置有容纳槽，所述转盘转动安装于所述容纳槽内，所述容纳腔的腔底面设置有多圈真空环形槽，每圈所述真空环形槽分别与各所述容纳孔对应连通。

8.根据权利要求7所述的电性测试设备，其特征在于：所述测试装置包括上测试组件和下测试组件，所述上测试组件包括测试安装基板和测试模块，所述测试件包括上测试头和测试探针，所述上测试头安装于所述测试模块上并用于电子元器件上表面的引脚接触，所述测试模块安装于所述测试安装基板上，所述测试安装基板的一侧转动安装于所述底板上；

所述下测试组件包括真空安装板，所述真空安装板安装于所述底板的背面，所述真空安装板形成有沿所述转盘径向方向延伸的真空长条槽，各所述真空环形槽均与所述真空长条槽连通，所述测试探针安装于所述真空安装板上，并用于与电子元器件下表面的引脚接触。

9.根据权利要求8所述的电性测试设备，其特征在于：所述测试模块包括腔体安装块、玻璃套、活塞和顶针，所述腔体安装块安装于所述测试安装基板上，所述玻璃套安装于所述腔体安装块内，所述活塞安装于所述玻璃套内，所述顶针的一端与所述活塞连接，所述顶针的另一端从所述腔体安装块穿出并与所述上测试头连接。

10.根据权利要求1～9任一项所述的电性测试设备，其特征在于：所述下料装置包括下料基板、滑动柱、滑动架和多个下料管道，所述滑动柱安装于所述机架上，各所述下料管道均安装于所述下料基板上，并与各所述容纳孔一一对应设置，且能够将所述容纳孔内的电子元器件吸出；

所述滑动架与所述下料基板连接，所述滑动架滑动套设于所述滑动柱上，并能够带动所述下料基板上下移动。

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