CN111044832A

CN111044832A - 电性测试装置

Info

Publication number: CN111044832A
Application number: CN201911407690.1A
Authority: CN
Inventors: 陈林山; 王建勇; 李茂贵
Original assignee: Shenzhen Shenkeda Semiconductor Technology Co ltd
Current assignee: Shenzhen Shenkeda Semiconductor Technology Co ltd
Priority date: 2019-12-31
Filing date: 2019-12-31
Publication date: 2020-04-21

Abstract

本发明提供了一种电性测试装置，主要应用于sop系列产品的分选机中，包括：旋转驱动件；卫星盘，由旋转驱动件驱动旋转；至少两个吸嘴座，周向间隔设于卫星盘，吸嘴座具有用于放置待测件的放置位；下压机构，用于下压吸嘴座上的待测件进行电性测试；以及联测机构，用于上顶接触吸嘴座上的待测件进行电性测试。本发明提供的电性测试装置，其中一个吸嘴座接收主转盘上料，另一个吸嘴座受到下压组件下压和联测机构上顶，对待测件进行电性测试，在该吸嘴座上的待测件检测完毕后，能够迅速将主转盘处的吸嘴座转移至下压机构及联测机构处，继续进行测试。可以提高下压机构和联测机构的利用率，减少主转盘的等待时间，加快电性测试装置的检测效率。

Description

电性测试装置

技术领域

本发明属于电工设备技术领域，更具体地说，是涉及一种电性测试装置。

背景技术

目前市场上材料测试的方式有并测和串测两种方式。机台上一般是有4个测试站，站与站之间都是挨着分布在主转盘的一侧，材料从主转盘进入测试站。串测的检测方式是材料通过主转盘的旋转和上下运动逐一通过4个测试站的检测完成测试；并测的检测方式是主转盘旋转运送4颗材料陆续到四个测试站上方(4个吸嘴对应4个测试站)，此时吸嘴同时下压到测试座接触测试片进行检测，检测完成之后吸嘴同时取料完成电性测试。无论是串测还是并测，主转盘停止等待材料检测完成的时间较长，机台的测试效率均较低。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电性测试装置，以解决现有技术中存在的机台测试效率低的技术问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：提供一种电性测试装置，包括：

旋转驱动件；

卫星盘，由所述旋转驱动件驱动旋转；

至少两个吸嘴座，周向间隔设于所述卫星盘，所述吸嘴座具有用于放置待测件的放置位；

下压机构，用于下压所述吸嘴座上的待测件进行电性测试；以及

联测机构，用于上顶接触所述吸嘴座上的待测件进行电性测试。

在一个实施例中，所述吸嘴座的数量为两个，两个所述吸嘴座以所述卫星盘的中心对称设置。

在一个实施例中，所述放置位的数量为多个，每个所述放置位内均具有放置待测件的治具。

在一个实施例中，所述吸嘴座呈扇形，各个治具沿所述吸嘴座的边缘均匀分布。

在一个实施例中，所述下压机构包括第一驱动件以及由所述第一驱动件驱动上下移动的测试柱组件，所述测试柱组件设于所述卫星盘的上方。

在一个实施例中，所述下压机构还包括用于检测所述测试柱组件是否下压到位的传感器，所述传感器固定于所述第一驱动件，所述测试柱组件上设有用于触发所述传感器的触发片。

在一个实施例中，所述测试柱组件包括测试架、弹性件以及测试柱，所述测试架连接于所述第一驱动件的输出端，所述弹性件的两端分别连接于所述测试架和所述测试柱。

在一个实施例中，所述联测机构包括第二驱动件以及由所述第二驱动件驱动上下移动的联测座，所述联测座设于所述卫星盘的下方。

在一个实施例中，同一所述吸嘴座中，放置位的数量为2n或者2n-1，所述联测机构的数量为n，其中n≥1。

在一个实施例中，所述卫星盘的表面具有用于遮挡所述吸嘴座的盖板，所述盖板于所述卫星盘的上料端开设有使所述放置位外露的上料口，所述盖板于所述卫星盘的测试端开设有使所述放置位外露的测试口。

本发明提供的电性测试装置的有益效果在于：与现有技术相比，本发明电性测试装置包括旋转驱动件、卫星盘、至少两个吸嘴座、下压机构和联测机构。旋转驱动件驱动卫星盘旋转，使其中一个吸嘴座的放置位与上料的主转盘的吸嘴正对，主转盘上料至该吸嘴座的放置位，另一个吸嘴座此时受到下压组件的下压以及联测机构的上顶对待测件进行电性测试，在该吸嘴座上的待测件检测完毕后，能够迅速将主转盘处的吸嘴座转移至下压机构及联测机构处，继续进行测试，而检测完毕的待测件则由主转盘上的吸嘴取走。如此，可以提高下压机构和联测机构的利用率，减少主转盘的等待时间，加快电性测试装置的检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的电性测试装置的立体结构图；

图2为本发明实施例提供的电性测试装置的俯视图；

图3为本发明实施例提供的下压机构的立体结构图；

图4为本发明实施例提供的联测机构的立体结构图；

图5为本发明实施例提供的卫星盘的俯视图。

其中，图中各附图标记：

1-旋转驱动件；2-卫星盘；3-吸嘴座；31-放置位；32-治具；4-下压机构；41-第一驱动件；42-测试柱组件；421-测试架；422-弹性件；423-测试柱；43-第一滑轨；44-第一滑块；45-触发片；46-传感器；5-联测机构；51-第二驱动件；52-联测座；6-盖板；61-上料口；62-测试口。

具体实施方式

为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

现对本发明实施例提供的电性测试装置进行说明。电性测试装置用于对贴片元器件如SOP-8系列的产品进行电性测试。

请参阅图1及图2，在其中一个实施例中，电性测试装置包括旋转驱动件1、卫星盘2、至少两个吸嘴座3、下压机构4和联测机构5，每个吸嘴座3均具有用于防止待测件的放置位31。旋转驱动件1用于驱动卫星盘2旋转，旋转驱动件1可选为电机等输出旋转运动的机构。卫星盘2固定连接于旋转驱动件1的输出端，用于支撑连接吸嘴座3。各个吸嘴座3周向间隔设于卫星盘2，卫星盘2在旋转时，带动各个吸嘴座3一同旋转。下压机构4用于下压吸嘴座3上的待测件，联测机构5用于上顶吸嘴座3上的待测件，下压机构4下压和联测机构5上顶，使得联测机构5能够和吸嘴座3中的待测件相紧贴，保证联测机构5的联测座52和待测件紧密接触，从而保证待测件检测结果的准确性。卫星盘2上连接有至少两个吸嘴座3。更具体地，卫星盘2上连接有两个吸嘴座3，其中一个吸嘴座3位于用于上料的主转盘时，另一个吸嘴座3则位于下压机构4和联测机构5之间。即，其中一个吸嘴座3在接收主转盘上料时，另一个吸嘴座3位于下压机构4和联测机构5之间，下压机构4下压吸嘴座3中的待测件，联测机构5上顶并与待测件进行接触，从而对待测件进行电性检测，在对待测件检测的过程中，另一个吸嘴座3上料完成，主转盘及卫星盘2等待待测件检测完毕后，卫星盘2转动，使检测后的待测件转动至主盘，由主转盘下料，重复上述步骤。这样可以极大地减小主转盘等待的时间，提高检测效率。

上述实施例中的电性测试装置，包括旋转驱动件1、卫星盘2、至少两个吸嘴座3、下压机构4和联测机构5。旋转驱动件1驱动卫星盘2旋转，使其中一个吸嘴座3与上料的主转盘正对，主转盘上料至该吸嘴座3，另一个吸嘴座3此时受到下压组件的下压以及联测机构5的上顶对待测件进行电性测试，在该吸嘴座3上的待测件检测完毕后，能够迅速将主转盘处的吸嘴座3转移至下压机构4及联测机构5处，继续进行测试。如此，可以提高下压机构4和联测机构5的利用率，减少主转盘的等待时间，加快电性测试装置的检测效率。

请参阅图1及图2，在电性测试装置的其中一个实施例中，吸嘴座3的数量为两个，两个吸嘴座3以卫星盘2的中心对称设置，使两个吸嘴座3转动至主转盘的时间相等，从而使每次的检测节拍一致。当然，吸嘴座3的数量也可为三个、四个等，沿卫星盘2的周向间隔设置，吸嘴座3的数量此处不作限定。

可选地，吸嘴座3内的待测件采用真空吸附等方法固定于吸嘴座3中。待测件的具体固定方法此处不作限定。

请参阅图2，在吸嘴座3的其中一个实施例中，同一吸嘴座3中，放置位31的数量为多个，每个放置位31内均具有放置待测件的治具32，治具32用于对待测件进行定位。放置位31的数量有多个，则代表可以同时放置多个待测件在同一个吸嘴座3上，可以同时检测多个待测件，提高检测效率。治具32的内腔形状与待测件的形状相匹配，而且治具32具有使待测件的引脚穿出的引脚孔。待测件的引脚穿出引脚孔可以和联测机构5接触。

更进一步地，吸嘴座3呈扇形，各个治具32沿吸嘴座3的边缘均匀分布，即各个治具32沿卫星盘2的周向依次分布。这样，随着卫星盘2的旋转，主转盘能够将待测件一颗一颗分别放置在同一吸嘴座3的各个治具32中。

请参阅图3，在下压机构4的其中一个实施例中，下压机构4包括第一驱动件41和测试柱组件42，第一驱动件41驱动测试柱组件42上下移动，第一驱动件41可选为气缸，或者为电机和丝杠等将旋转运动转换为直线运动的机构组合而成。测试柱组件42设于卫星盘2的上方，用于下压待测件，使待测件与联测组件压紧。测试柱组件42的数量可为多个，测试柱组件42的数量和吸嘴座3的放置位31的数量相等。

请参阅图3，在下压机构4的其中一个实施例中，测试柱组件42包括测试架421、弹性件422和测试柱423，测试架421连接于第一驱动件41的输出端，弹性件422的两端分别连接于测试架421和测试柱423。弹性件422可选为弹簧等可以变形的器件，弹性件422的作用在于缓冲测试柱423下压的压力，防止测试柱423和待测件硬接触而导致待测件破裂。更具体地，在第一驱动件41带动测试架421下移时，测试柱423随测试架421一同下移，当测试柱423接触到待测件时，受到待测件的挤压，弹性件422被压缩，待测件相应被压紧，此时可以进行测试。

可选地，下压机构4还包括第一滑块44和第一滑轨43，第一滑轨43固定于测试架421，第一滑块44固定于测试柱423，使得测试柱423相对测试架421上下移动时，第一滑块44和第一滑轨43对测试柱423进行导向，防止测试架421左右晃动。

请参阅图3，在其中一个实施例中，下压机构4包括第一驱动件41、测试柱组件42、传感器46和触发片45。传感器用于检测测试柱组件42是否下压到位，下压到位后反馈至联测机构5对待测件进行检测。传感器46固定于第一驱动件41，触发片45固定于测试柱组件42，当然，传感器46也可固定在其他位置，只要固定不动即可。更具体地，触发片45固定于测试架421,。触发片45随测试柱组件42的上下移动而移动，当测试柱组件42中的测试柱423到位时，待测件被压紧，可以进行电性测试。传感器46可选为光电传感器，在被触发片45遮挡时，则被触发。

请参阅图4，在联测机构5的其中一个实施例中，联测机构5包括第二驱动件51以及由第二驱动件51驱动上下移动的联测座52，联测座52设于卫星盘2的下方。第二驱动件51可选为气缸，或者为电机和丝杠等将旋转运动转换为直线运动的机构组合而成。联测座52设于卫星盘2的下方，用于上顶待测件与待测件压紧，以便进行测试。联测座52与待测件的引脚连接，联测座52的结构可参照现有技术中电性测试座的结构，此处不作赘述。

可选地，同一吸嘴座3中，放置位31的数量为2n或者2n-1，联测机构5的数量为n，其中n≥1。例如，联测机构5的数量为两个，放置位31的数量为三个，其中一个联测机构5上设置有两个联测座52，另一个联测机构5上设置有一个联测座52；联测机构5的数量为两个，放置位31的数量为四个，每个联测机构5上均设置有两个联测座52。当吸嘴座3的放置位31较多时，可设置多个联测机构5，便于用户选择性地使用联测机构5，使联测机构5的适用性更强，即使吸嘴座3中的放置位31数量改变，也可以继续使用。而且，便于调节联测座52的径向位置。

请参阅图5，在其中一个实施例中，卫星盘2的表面具有用于遮挡吸嘴座3的盖板6，盖板6于卫星盘2的上料端开设有使放置位31外露的上料口61，盖板6于卫星盘2的测试端开设有使放置位31外露的测试口62。盖板6的作用在于保护吸嘴座3，防止灰尘、杂物等进入吸嘴座3，延长吸嘴座3的使用寿命。上料口61的数量可选为一个，通过主转盘上料，主转盘每次只有一个上料口61与放置位31相正对，因此每次只需将一个放置位31外露。测试口62的数量和同一吸嘴座3上的放置位31的数量相同，以便同时检测多个待测件。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims

1.电性测试装置，其特征在于，包括：

旋转驱动件；

卫星盘，由所述旋转驱动件驱动旋转；

2.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于：所述吸嘴座的数量为两个，两个所述吸嘴座以所述卫星盘的中心对称设置。

3.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于：所述放置位的数量为多个，每个所述放置位内均具有放置待测件的治具。

4.如权利要求3所述的电性测试装置，其特征在于：所述吸嘴座呈扇形，各个治具沿所述吸嘴座的边缘均匀分布。

5.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于：所述下压机构包括第一驱动件以及由所述第一驱动件驱动上下移动的测试柱组件，所述测试柱组件设于所述卫星盘的上方。

6.如权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于：所述下压机构还包括用于检测所述测试柱组件是否下压到位的传感器，所述传感器固定于所述第一驱动件，所述测试柱组件上设有用于触发所述传感器的触发片。

7.如权利要求5所述的电性测试装置，其特征在于：所述测试柱组件包括测试架、弹性件以及测试柱，所述测试架连接于所述第一驱动件的输出端，所述弹性件的两端分别连接于所述测试架和所述测试柱。

8.如权利要求1所述的电性测试装置，其特征在于：所述联测机构包括第二驱动件以及由所述第二驱动件驱动上下移动的联测座，所述联测座设于所述卫星盘的下方。

9.如权利要求8所述的电性测试装置，其特征在于：同一所述吸嘴座中，放置位的数量为2n或者2n-1，所述联测机构的数量为n，其中n≥1。

10.如权利要求1-9任一项所述的电性测试装置，其特征在于：所述卫星盘的表面具有用于遮挡所述吸嘴座的盖板，所述盖板于所述卫星盘的上料端开设有使所述放置位外露的上料口，所述盖板于所述卫星盘的测试端开设有使所述放置位外露的测试口。