CN114994505B - 测试设备 - Google Patents

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Abstract

本申请提供了一种测试设备,包括机架;主转盘,主转盘上安装有多个吸嘴;主驱动件,安装于机架上并与主转盘连接;上料组件,安装于上料位;绝缘检测组件,安装于绝缘检测位;性能检测组件,安装于性能检测位;引脚检测组件,安装于引脚检测位;下料组件,安装于下料位。通过上料组件可实现产品的自动上料,通过主驱动件驱动主转盘转动,通过绝缘检测组件、性能检测组件和引脚检测组件可分别对产品的绝缘性能、性能参数和引脚进行检测。检测完毕后的产品被移送至下料位,各吸嘴可在下料位将产品释放于下料组件中实现存储。因此,该测试设备可实现对产品的绝缘性能、性能参数和引脚的全面检测,相较于单独检测方式来说,有助于提高检测效率。

Description

测试设备
技术领域
本申请属于半导体芯片测试技术领域,更具体地说,是涉及一种测试设备。
背景技术
半导体芯片在出厂之前,需要对其进行绝缘性能检测、性能参数检测、引脚检测等,以确保半导体芯片达到质量要求。然而,目前对于半导体芯片的多种检测通常是独立作业完成的,导致半导体芯片的全面检测效率低。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种测试设备,以解决相关技术中存在的:对半导体芯片的多种检测独立分开,影响检测效率的问题。
为实现上述目的,本申请实施例采用的技术方案是:
提供一种测试设备,包括:
机架,所述机架上环型阵列设有上料位、绝缘检测位、性能检测位、引脚检测位和下料位;
主转盘,所述主转盘上环型阵列安装有多个吸嘴;
主驱动件,安装于所述机架上并与所述主转盘连接,用于驱动所述主转盘转动以使各所述吸嘴依次经过所述上料位、所述绝缘检测位、所述性能检测位、所述引脚检测位和所述下料位;
上料组件,安装于所述上料位,用于供应产品并由相应所述吸嘴吸取;
绝缘检测组件,安装于所述绝缘检测位,用于检测所述产品的绝缘性能;
性能检测组件,安装于所述性能检测位,用于检测所述产品的性能参数;
引脚检测组件,安装于所述引脚检测位,用于检测所述产品的引脚;
下料组件,安装于所述下料位,用于存储经检测后的所述产品。
此结构,通过上料组件可实现产品的自动上料,主转盘上的多个吸嘴可将上料组件输送来的多个产品吸附固定;通过主驱动件驱动主转盘转动,各吸嘴吸附的产品可依次经过绝缘检测组件、性能检测组件和引脚检测组件,通过绝缘检测组件、性能检测组件和引脚检测组件可分别对产品的绝缘性能、性能参数和引脚进行检测。检测完毕后的产品被移送至下料位,各吸嘴可在下料位将产品释放于下料组件中实现存储。因此,该测试设备可实现对产品的绝缘性能、性能参数和引脚的全面检测,相较于单独检测方式来说,有助于提高检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的测试设备的立体结构示意图;
图2为本申请实施例提供的测试设备的等效示意图;
图3为本申请实施例提供的产品的立体结构示意图;
图4为本申请实施例提供的旋转组件的立体结构示意图;
图5为本申请实施例提供的上料组件的立体结构示意图;
图6为本申请实施例提供的承托座的立体结构示意图;
图7为本申请实施例提供的搬运单元和托料单元的立体结构示意图;
图8为本申请实施例提供的旋转下料单元的立体结构示意图;
图9为本申请实施例提供的绝缘检测组件的立体结构示意图;
图10为本申请实施例提供的测试座与测试驱动单元连接的立体结构示意图;
图11为图10的主视图;
图12为本申请实施例提供的性能检测组件的立体结构示意图;
图13为本申请实施例提供的引脚检测组件的立体结构示意图;
图14为本申请实施例提供的第一收料单元的立体结构示意图;
图15为本申请实施例提供的第二收料单元的立体结构示意图;
图16为本申请实施例提供的清料组件的立体结构示意图。
其中,图中各附图主要标记:
100、产品;11、第一待测面;12、第二待测面;13、第三待测面;14、第四待测面;15、第五待测面;16、槽部;17、导电针;
200、机架;201、主驱动件;202、打标组件;
300、上料组件;31、物料管;32、上料座;321、收料盒;33、承托架;331、承托座;3311、凹槽;332、卡料单元;34、搬运单元;341、搬运座;3411、卡槽;342、搬运动力单元;35、旋转下料单元;351、旋转座;352、夹料单元;3521、第一夹板;3522、第二夹板;3523、夹料气缸;353、旋转驱动气缸;354、抵挡座;355、敲料件;356、角度限位单元;3561、第一限位座;3562、第二限位座;36、托料单元;361、托料板;362、托料驱动气缸;37、上料导轨;38、抵推单元;
400、绝缘检测组件;41、检测副盘;42、承载座;43、动力输出单元;44、测试座;441、第一导针;442、第二导针;443、测试基座;444、第一压头;445、第二压头;45、测试驱动单元;451、支撑座;452、测试滑动座;453、滑动驱动单元;454、连杆;455、抵推座;456、驱动电机;457、偏心轮;46、位移调节单元;461、横移驱动模组;462、纵移驱动模组;
500、性能检测组件;51、检测底座;52、检测滑动座;53、检测导针;54、检测驱动单元;55、检测调节单元;551、检测横移模组;552、检测纵移模组;
600、引脚检测组件;61、引脚底座;62、摄像模组;
700、下料组件;71、第一收料单元;711、第一收料底座;712、收料滑动座;713、第一吹料导轨座;714、第一吹料嘴;715、第一收料动力模组;72、第二收料单元;721、第二收料底座;722、第二收料管;723、第二吹料导轨座;724、第二吹料嘴;725、第二收料动力模组;
800、旋转组件;81、旋转基座;82、旋转底座;821、定位槽;83、旋转电机;84、检料光纤;85、旋转位移调节单元;
900、清料组件;91、清料盒;92、清料光纤。
具体实施方式
为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
在整个说明书中参考“一个实施例”或“实施例”意味着结合实施例描述的特定特征,结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此,“在一个实施例中”或“在一些实施例中”的短语出现在整个说明书的各个地方,并非所有的指代都是相同的实施例。此外,在一个或多个实施例中,可以以任何合适的方式组合特定的特征,结构或特性。
为了方便描述,定义空间上相互垂直的三个坐标轴分别为X轴、Y轴和Z轴,同时,沿X轴的方向为纵向,沿Y轴的方向为横向,沿Z轴方向为竖向;其中X轴与Y轴为同一水平面相互垂直的两个坐标轴,Z轴为竖直方向的坐标轴;X轴、Y轴和Z轴位于空间相互垂直有三个平面分别为XY面、YZ面和XZ面,其中,XY面为水平面,XZ面和YZ面均为竖直面,且XZ面与YZ面垂直。空间中三轴为X轴、Y轴和Z轴,沿空间上三轴移动指沿空间上相互垂直的三轴移动,特指在空间上沿X轴、Y轴和Z轴移动;而平面移动,则为在XY面移动。
请参阅图1和图2,现对本申请实施例提供的测试设备进行说明。该测试设备包括机架200、主转盘(图未示)、主驱动件201、上料组件300、绝缘检测组件400、性能检测组件500、引脚检测组件600和下料组件700。其中,机架200上环型阵列设有上料位、绝缘检测位、性能检测位、引脚检测位和下料位,上料位、绝缘检测位、性能检测位、引脚检测位和下料位可沿逆时针方向依次间隔设置。主转盘上环型阵列安装有多个吸嘴(图未标),各吸嘴可实现正负压的切换,从而可实现对产品100的吸附与释放。其中,吸嘴的数量可以根据实际需要进行对应性调节,在此不作唯一限定。主驱动件201安装于机架200上并与主转盘连接,用于驱动主转盘转动,主转盘上的各吸嘴可依次经过上料位、绝缘检测位、性能检测位、引脚检测位和下料位,以实现在不同工位处对产品100进行处理。其中,主驱动件201可为电机。
上料组件300安装于上料位,上料组件300的出料端可与主转盘接驳,即吸嘴可位于出料端的上方,当产品100由出料端输出时,吸嘴可将产品100吸取。绝缘检测组件400安装于绝缘检测位,用于检测产品100的绝缘性能。性能检测组件500安装于性能检测位,用于检测产品100的性能参数。引脚检测组件600安装于引脚检测位,用于检测产品100的引脚。下料组件700安装于下料位,用于存储经检测后的产品100。
使用时,上料组件300供应产品100并由吸嘴吸取,主驱动件201驱动主转盘转动,产品100依次由绝缘检测组件400进行绝缘测试,由性能检测组件500进行性能测试,由引脚检测组件600进行引脚测试,最后由吸嘴将检测后的产品100释放于下料组件700中实现存储。因此,该测试设备可实现对产品100的绝缘性能、性能参数和引脚的全面检测,相较于单独检测方式来说,有助于提高检测效率。
在一个实施例中,请参阅图2,该测试设备还包括安装于机架200上的多个旋转组件800,具体地,旋转组件800的数量可为三个,其中一个旋转组件800设于上料组件300与绝缘检测组件400之间,第二个旋转组件800设于绝缘检测组件400与性能检测组件500之间,第三个旋转组件800设于引脚检测组件600与下料组件700之间。由于产品100存在引脚的原因,在绝缘检测、性能检测和引脚检测之前,需要通过旋转组件800调节产品100的位置,进而对产品100的引脚进行调节,以满足各种检测的方位需求。
在一个实施例中,请参阅图4,各旋转组件800可包括旋转基座81、用于支撑产品100的旋转底座82和用于驱动旋转底座82转动的旋转电机83,旋转电机83安装于旋转基座81上并与旋转底座82连接。通过旋转电机83驱动旋转底座82转动,以实现对产品100的方位进行定向调节。其中,旋转底座82的顶部开设有定位槽821,可实现对产品100的定位。定位槽821的底面可开设有吸附孔,该吸附孔可与抽气设备连接,以实现对产品100的吸附固定,避免产品100在转动的过程中发生位置偏移。
在一个实施例中,请参阅图4,各旋转组件800还可包括安装于旋转基座81的两端的检料光纤84,旋转底座82可设于两个检料光纤84之间。两个检料光纤84用于检测旋转底座82上是否有产品100。若有产品100,旋转电机83工作并驱动旋转底座82转动,以对产品100的位置进行调节。
在一个实施例中,请参阅图4,各旋转组件800还可包括安装于机架200上的旋转位移调节单元85,该旋转位移调节单元85可与旋转基座81连接,从而可对旋转底座82的位置进行调节。具体地,该旋转位移调节单元85可包括用于驱动旋转底座82横向移动(沿X轴方向)的旋转横移调节单元、用于驱动旋转底座82纵向移动(沿Y轴方向)的旋转纵移调节单元和用于驱动旋转底座82升降(沿Z轴方向)的旋转升降调节单元中的一种或多种,从而可实现旋转底座82沿XYZ轴方向的多方位调节。旋转横移调节单元、旋转纵移调节单元和旋转升降调节单元均可为微分头调节机构、微调螺杆调节机构、丝杆传动机构等,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图2,机架200上还设有打标位,打标位设于性能检测位和引脚检测位之间;该测试设备还包括设于打标位的打标组件202,该打标组件202可对产品100进行打标。
具体地,打标组件202包括打标副盘、多个打标座、打标机和打标电机。其中,多个打标座环型阵列安装于打标副盘上,各打标座可实现对产品100的支撑定位。打标座的数量可以根据实际需要进行对应性调节,在此不作唯一限定。打标电机安装于机架200上并与打标副盘连接,用于驱动打标副盘转动。打标机安装于机架200上并与打标电机间隔设置,打标机可设于打标副盘的上方,以便于对产品100进行打标作业。其中,打标机可为激光打标机,为市面上普遍使用的设备,在此不再一一赘述。
在一个实施例中,该打标组件202还可包括用于对产品100进行除尘的除尘器和用于检测打标后的产品100的字符检测器,除尘器可设于打标机的前端,字符检测器可设于打标机的后端。其中,字符检测器可为CCD(charge coupled device camera,电荷耦合器件)相机。使用时,打标副盘的转动方向与主转盘的转动方向保持一致,当主转盘上的吸嘴吸附的产品100放置于打标座上时,打标座上的产品100可先由除尘器进行除尘作业;随后由打标机对产品100的除尘面进行激光打标,再由字符检测器检测产品100上的打标信息是否完全。经字符检测器检测后的产品100符合打标要求后,可通过主转盘上的吸嘴将打标座上的产品100吸取并移送至下一工位。
在一个实施例中,请参阅图5,上料组件300用于与物料管31配合,物料管31可呈片状结构,即物料管31的横截面为长方形,多个产品100可呈排收纳于物料管31中。上料组件300可包括上料座32、承托架33、搬运单元34和旋转下料单元35。其中,上料座32可安装于机架200上,上料座32上设有供料位和移料位,供料位可理解为承托架33供应物料管31的位置,移料位可理解为旋转下料单元35拾取物料管31的位置。承托架33安装于上料座32上并设于供料位,多个物料管31可沿Z轴方向堆叠放置于承托架33上。搬运单元34安装于上料座32上,并设于供料位与移料位之间,搬运单元34可将承托架33上的多个物料管31逐一移送至移料位。旋转下料单元35安装于上料座32上并设于移料位,该旋转下料单元35用于在移料位拾取物料管31,并驱动物料管31转动后以使物料管31倾斜,倾斜后的物料管31中的多个产品100可在其自身重力作用下自动滑出,以实现产品100的自动上料。通过搬运单元34可逐一将承托架33上的多个物料管31移出,实现物料管31的自动上料;通过旋转下料单元35拾取并驱动物料管31倾斜,可实现物料管31中的多个产品100的自动下料。
在一个实施例中,请参阅图5和图6,承托架33包括两个承托座331和两个卡料单元332,两个承托座331相对间隔安装于上料座32上,两个卡料单元332分别安装于两个承托座331上。各承托座331上开设有凹槽3311,两个凹槽3311相对设置,各凹槽3311沿相应承托座331的长度方向(Z轴方向)设置。当承托架33承载多个物料管31时,各物料管31的两端分别伸入两个凹槽3311中,实现对各物料管31的限位。两个卡料单元332可分别插入倒数第一根物料管31的两端,从而可实现对多个物料管31的支撑。通过两个卡料单元332的打开与闭合,可将物料管31逐一释放于搬运单元34上。
其中,各卡料单元332可包括卡料板和用于驱动卡料板进出物料管31中的卡料气缸。各承托座331上开设有供相应卡料板穿过的通孔。当各卡料气缸驱动相应卡料板插入物料管31中时,可将物料管31支撑;当各卡料气缸驱动相应卡料板伸出物料管31时,可解除对物料管31的支撑,以将物料管31释放于搬运单元34上。
在一个实施例中,请参阅图7,该上料组件300还包括托料单元36,该托料单元36可包括两个托料板361和两个托料驱动气缸362,两个托料驱动气缸362分别安装于上料座32上,两个托料驱动气缸362分别与两个托料板361连接,搬运单元34可设于两个托料驱动气缸362之间,各托料驱动气缸362用于驱动相应托料板361升降(沿Z轴方向)。使用时,两个托料驱动气缸362驱动两个托料板361上升并与倒数第一根物料管31抵接,两个卡料单元332分别伸出倒数第一根物料管31,两个托料驱动气缸362驱动两个托料板361下降一根物料管31的厚度的距离,两个卡料单元332伸入倒数第二根物料管31中,两个托料驱动气缸362继续驱动两个托料板361下降,直至将物料管31放置于搬运单元34上,从而实现对物料管31的过渡移送。通过重复上述作业,可实现物料管31的连续自动上料。
在一个实施例中,请参阅图7,搬运单元34包括搬运座341和搬运动力单元342,搬运座341用于支撑物料管31,搬运座341可安装于搬运动力单元342上,搬运动力单元342用于驱动搬运座341在供料位和移料位之间往复移动,以实现物料管31的连续上料。其中,搬运动力单元342可为丝杆传动机构、滑台直线电机、皮带传动机构等,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图7,搬运座341上开设有卡槽3411,卡槽3411的长度方向与物料管31的长度方向(Y轴方向)保持一致。通过卡槽3411可实现对物料管31的定位,避免搬运座341在移动的过程中,物料管31发生位置偏移。
在一个实施例中,请参阅图8,旋转下料单元35包括旋转座351、夹料单元352和旋转驱动气缸353。旋转座351可转动安装于上料座32上;夹料单元352可安装于旋转座351上,用于在移料位夹取物料管31;旋转驱动气缸353安装于上料座32上并与旋转座351连接,旋转驱动气缸353可驱动旋转座351转动。夹料单元352夹持物料管31后,旋转驱动气缸353驱动旋转座351转动以使物料管31倾斜;物料管31倾斜后,多个产品100可在自身重力作用下滑出物料管31,以实现产品100的自动上料。
在一个实施例中,请参阅图8,旋转下料单元35还可包括用于抵挡物料管31的抵挡座354,该抵挡座354可安装于旋转座351上。当夹料单元352夹持物料管31的一端时,抵挡座354可将物料管31的另一端抵挡,以实现对物料管31的限位。
在一个实施例中,请参阅图8,该旋转下料单元35还可包括安装于旋转座351上的敲料件355,抵挡座354可设于夹料单元352和敲料件355之间。其中,该敲料件355可为气缸、电缸、油缸等。敲料件355可敲击物料管31远离夹料单元352的一端,以将物料管31中的多个产品100敲出,避免出现卡料现象。
在一个实施例中,请参阅图8,夹料单元352包括第一夹板3521、第二夹板3522和夹料气缸3523。第一夹板3521安装于旋转座351上;第二夹板3522与第一夹板3521平行间隔设置;夹料气缸3523安装于旋转座351上,夹料气缸3523与第二夹板3522连接。当夹料气缸3523驱动第二夹板3522靠近第一夹板3521时,第二夹板3522与第一夹板3521配合夹持物料管31。
在一个实施例中,请参阅图8,旋转下料单元35还包括用于限制旋转座351的转动角度的角度限位单元356,该角度限位单元356可包括安装于上料座32上的第一限位座3561和安装于旋转座351上的第二限位座3562,第一限位座3561可与旋转座351配合抵挡,第二限位座3562可与上料座32配合抵挡。
在一个实施例中,请参阅图5,该上料组件300还包括收料盒321,该收料盒321安装于上料座32上,且该收料盒321设于旋转下料单元35的下方。当倾斜的物料管31中的多个产品100下料完毕后,旋转下料单元35驱动物料管31反向转动至水平位置,夹料单元352解除对物料管31的夹持,物料管31在其自身重力作用下掉落至收料盒321中实现存储。
在一个实施例中,请参阅图5,上料组件300还可包括安装于上料座32上的上料导轨37和用于抵推产品100以实现逐一上料的抵推单元38,上料导轨37的一端用于与物料管31的出料端接驳,上料导轨37的另一端与抵推单元38接驳。抵推单元38可安装于上料座32上,具体可包括抵推基座和用于驱动抵推基座往复移动的抵推气缸,该抵推气缸与抵推基座连接,或通过凸轮连接等。由倾斜的物料管31自动滑落的多个产品100可进入上料导轨37中,并由抵推单元38将各产品100推出,并由主转盘上的多个吸嘴依次吸取。
在一个实施例中,请参阅图9,绝缘检测组件400包括检测副盘41、多个承载座42、动力输出单元43、测试座44和测试驱动单元45。其中,多个承载座42环型阵列安装于检测副盘41上,各承载座42用于支撑产品100;承载座42的数量可根据实际需要进行调节。动力输出单元43安装于机架200上并与检测副盘41连接,用于驱动检测副盘41转动。其中,动力输出单元43可为电机。如图11所示,测试座44的两端分别安装有第一导针441和第二导针442,第一导针441和第二导针442可与外部测试机构或测试设备自带的测试系统电连接。测试驱动单元45安装于机架200上并与测试座44连接,用于驱动测试座44靠近或远离承载座42。当测试驱动单元45驱动测试座44靠近承载座42时,测试座44与产品100贴合,第一导针441和第二导针442分别与产品100的两端电连接,从而可对产品100进行绝缘性能检测。
在一个实施例中,请参阅图10,测试驱动单元45包括支撑座451、测试滑动座452和滑动驱动单元453。其中,测试滑动座452沿Z轴滑动安装于支撑座451上。测试滑动座452与支撑座451之间可通过导轨副连接,以提高测试滑动座452往复移动的可靠性。滑动驱动单元453安装于支撑座451上,滑动驱动单元453与测试滑动座452连接,用于驱动测试滑动座452在支撑座451上往复移动。测试座44安装于测试滑动座452上,从而可一并由滑动驱动单元453驱动,以实现测试座44靠近或远离产品100。
在一个实施例中,请参阅图10,滑动驱动单元453包括连杆454、抵推座455、驱动电机456和偏心轮457。其中,连杆454的中部位置铰接安装于支撑座451上,抵推座455沿Z轴方向滑动安装于支撑座451上。抵推座455与支撑座451之间可通过导轨副连接,以提高抵推座455往复移动的可靠性。连杆454的一端与测试滑动座452连接,连杆454的另一端与抵推座455的一端抵接,抵推座455的另一端开设有缺口,该缺口大致呈U型结构,偏心轮457设于该缺口中。驱动电机456安装于支撑座451上,偏心轮457安装于驱动电机456的输出轴上。当驱动电机456驱动偏心轮457转动时,偏心轮457在缺口内转动时可一并驱动抵推座455往复移动,并通过连杆454可带动测试滑动座452在支撑座451上往复移动。当然,在其它实施例中,滑动驱动单元453也可为直接与测试滑动座452连接的气缸、电缸等,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图10,该绝缘检测组件400还包括支撑测试驱动单元45的位移调节单元46,该位移调节单元46可驱动测试驱动单元45移动以调节测试座44的位置,以实现测试座44与产品100的正确对位。具体地,位移调节单元46可包括横移驱动模组461和纵移驱动模组462,测试驱动单元45的支撑座451安装于纵移驱动模组462上,纵移驱动模组462安装于横移驱动模组461上。纵移驱动模组462可用于驱动测试驱动单元45纵向移动(图中Y轴方向),横移驱动模组461可用于驱动测试驱动单元45横向移动(图中X轴方向),并配合测试驱动单元45驱动测试座44沿Z轴方向往复移动,从而可控制测试座44沿XYZ轴方向移动,以实现对测试座44的多方位调节。其中,横移驱动模组461和纵移驱动模组462均可为微分头调节机构、微调螺杆机构、丝杆传动机构等,在此都不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图11,测试座44包括测试基座443、第一压头444和第二压头445。其中,测试基座443可安装于测试驱动单元45的测试滑动座452上;第一压头444、第二压头445、第一导针441和第二导针442分别安装于测试基座443上。如图3所示,产品100可大致呈长方体结构,产品100的待测面可包括两个相对设置的第一待测面11,位于顶部的第二待测面12与第三待测面13,连接第二待测面12与第三待测面13的第四待测面14和连接两个第一待测面11的第五待测面15,与第五待测面15相对的侧面引出导电针17(即产品100的引脚),导电针17可与第二导针442电连接。第二待测面12上开设有槽部16,该槽部16可为圆柱体结构,第一导针441可为导电杆,第一导针441可伸入槽部16中,并与产品100的一端电连接,导电杆的外周面可与槽部16的内侧壁贴合。第一压头444大致呈“匚”型结构,其包括用于与两个第一待测面11分别贴合的第一贴合面、用于与第二待测面12贴合的第二贴合面、用于与第四待测面14贴合的第三贴合面和用于与第五待测面15贴合的第四贴合面;第二压头445包括用于与第三待测面13贴合的第五贴合面。第一压头444和第二压头445可分别与产品100的待测面贴合,并通过第一压头444和第二压头445实现与产品100的电连接,以实现对产品100的全方位绝缘性能检测。
在一个实施例中,请参阅图12,性能检测组件500包括检测底座51、检测滑动座52、检测导针53和检测驱动单元54。其中,检测底座51可安装于机架200上。检测滑动座52可沿Z轴方向滑动安装于检测底座51上,检测滑动座52与检测底座51之间可通过导轨副实现连接,以提高检测滑动座52往复移动的可靠性。检测导针53和检测驱动单元54可分别安装于检测底座51上,检测导针53可与产品100上的导电针17电连接,以实现与产品100的电性导通,检测导针53可与外部测试机构或测试设备自带的测试系统电连接。检测驱动单元54与测试驱动单元45的结构相同,在此不再一一赘述。吸嘴可将经绝缘检测后的产品100放置于检测滑动座52上,检测驱动单元54驱动检测滑动座52上升并靠近检测导针53,以使检测导针53与导电针17电连接,以实现对产品100的性能检测。
在一个实施例中,请参阅图12,该性能检测组件500还可包括检测调节单元55,该检测调节单元55可驱动检测驱动单元54移动以调节检测滑动座52的位置,以实现检测导针53与导电针17的正确对位。具体地,检测调节单元55可包括检测横移模组551和检测纵移模组552,检测底座51可安装于检测横移模组551上,检测横移模组551安装于检测纵移模组552上。检测纵移模组552可用于驱动测试滑动座452纵向移动(图中Y轴方向),检测横移模组551可用于驱动测试滑动座452横向移动(图中X轴方向),并配合检测驱动单元54驱动测试滑动座452沿Z轴方向往复移动,从而可控制测试滑动座452沿XYZ轴方向移动,以实现对测试滑动座452的多方位调节。其中,检测横移模组551和检测纵移模组552均可为微分头调节机构、微调螺杆机构、丝杆传动机构等,在此都不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图13,经打标组件202打标后的产品100被移送至引脚检测组件600,引脚检测组件600可对产品100的引脚进行检测,即对产品100的导电针17进行检测。具体地,引脚检测组件600可包括安装于机架200上的引脚底座61和安装于引脚底座61上的摄像模组62,该摄像模组62可为CCD相机。通过摄像模组62获取产品100的外形图像,可对产品100的引脚进行检测。
在一个实施例中,请参阅图1和图2,经引脚检测组件600检测后的产品100被移送至下料组件700进行下料作业。具体地,下料组件700可包括第一收料单元71和第二收料单元72,第一收料单元71和第二收料单元72分别安装于机架200上,第一收料单元71可设于第二收料单元72的前端。第一收料单元71用于存储不合格的产品100,第二收料单元72用于存储合格的产品100,从而可实现对产品100的分类存储。
在一个实施例中,请参阅图14,第一收料单元71包括第一收料底座711、收料滑动座712、多个第一收料管(图未示)、第一吹料导轨座713、第一吹料嘴714和第一收料动力模组715。其中,第一收料底座711可安装于机架200上;收料滑动座712可沿Z轴方向滑动安装于第一收料底座711上;多个第一收料管可沿Z轴方向层叠安装于收料滑动座712上;第一吹料导轨座713和第一收料动力模组715可分别安装于第一收料底座711上,第一吹料导轨座713可设于收料滑动座712与主转盘之间,第一吹料嘴714可安装于第一吹料导轨座713靠近主转盘的一端;第一收料动力模组715安装于第一收料底座711上并与收料滑动座712连接,用于驱动收料滑动座712沿Z轴方向往复移动。不合格的产品100可由吸嘴放置于第一吹料导轨座713上,并由第一吹料嘴714吹至对应的第一收料管中。第一收料管的结构与物料管31的结构相同。当一个第一收料管装满产品100后,第一收料动力模组715驱动收料滑动座712升降,以使空的第一收料管与第一吹料导轨座713接驳,以实现连续收料。其中,第一收料动力模组715可为丝杆传动机构、滑台直线机构、皮带传动机构等,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图2,第一收料单元71的数量可为多个,如两个等,以实现不合格产品100的多位置下料,提高下料效率。当然,第一收料单元71的数量也可以根据实际需要进行调节,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图15,第二收料单元72包括第二收料底座721、多个第二收料管722、第二吹料导轨座723、第二吹料嘴724和第二收料动力模组725。其中,第二收料底座721可安装于机架200上,第二收料底座721可倾斜于水平面设置,以供产品100可在其自身重力下滑至第二收料管722中。多个第二收料管722可层叠安装于第二收料底座721上,各第二收料管722均倾斜于水平面设置。第二吹料导轨座723和第二收料动力模组725可分别安装于第二收料底座721上,第二吹料导轨座723可设于主转盘与多个第二收料管722之间,第二吹料嘴724可安装于第二吹料导轨座723靠近主转盘的一端。第二收料动力模组725用于抵推各第二收料管722与第二吹料导轨座723接驳。合格的产品100由吸嘴释放于第二吹料导轨座723上,第二吹料嘴724将产品100吹至第二收料管722中。当一个第二收料管722收集满产品100后,第二收料动力模组725将该第二收料管722地推出,并使另一个第二收料管722与第二吹料导轨座723接驳,以实现产品100的连续下料。其中,第二收料动力模组725的结构可与搬运单元34的结构相同,在此不再一一赘述。
在一个实施例中,请参阅图2,第二收料单元72的数量可为多个,如两个等,以实现合格产品100的多位置下料,以提高下料效率。当然,第二收料单元72的数量也可以根据实际需要进行调节,在此不作唯一限定。
在一个实施例中,请参阅图2和图16,不合格的产品100由第一收料单元71存储后,合格的产品100由第二收料单元72存储后,若吸嘴上还吸附有产品100,则需要通过清料组件900进行清理。具体地,清料组件900可设于第二收料单元72和上料组件300之间,并具体可包括安装于机架200上的清料盒91和安装于清料盒91上的清料光纤92,清料盒91的开口端可正对于吸嘴设置。当清料光纤92检测吸嘴还吸附有产品100时,向该吸嘴发出指令,吸嘴将吸附的产品100释放于清料盒91中,以使吸嘴在上料位重新吸取未检测的产品100。
需要说明的是,图2中所示的数字1-30可指代吸嘴的作业工位,也可指代吸嘴的数量为30个;符号B1-B9可指代绝缘检测工位,也可指代检测副盘41上的承载座42的数量为9个;符号C1-C6可指代打标工位,也可指代打标副盘上的打标座的数量为6个。
请结合图2,本申请实施例提供的测试设备的具体步骤如下:
1、上料组件300在上料位供应产品100,主转盘的吸嘴在上料位吸取产品100;
2、位于上料位与绝缘检测位之间的旋转组件800调节产品100的位置,即驱动产品100逆时针转动90度;
3、吸嘴将调整位置后的产品100移送至绝缘检测组件400并进行绝缘性能检测,检测完毕后,由吸嘴重新吸取移出;
4、位于绝缘检测位与性能检测位之间的旋转组件800继续调节产品100的位置,即驱动产品100顺时针转动180度;
5、吸嘴将调整位置后的产品100移送至性能检测组件500并进行性能参数检测,检测完毕后,由吸嘴重新吸取移出;
6、吸嘴将经性能参数检测后的产品100移送至打标组件202并进行打标,打标完毕后,由吸嘴重新吸取移出;
7、吸嘴将经打标后的产品100移送至引脚检测组件600并进行引脚检测,检测完毕后,由吸嘴重新吸取移出;
8、位于引脚检测位与下料位之间的旋转组件800继续调节产品100的位置,即驱动产品100逆时针转动90度后恢复至上料时的位置状态;
9、吸嘴将不合格的产品100移送至第一收料单元71并下料,将合格的产品100移送至第二收料单元72并下料;
10、清料组件900清除吸嘴上残余的产品100。
如此重复上述作业,可实现多个产品100的连续检测,效率高。
以上所述仅为本申请的可选实施例而已,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (9)

1.测试设备,其特征在于,包括:
机架,所述机架上环型阵列设有上料位、绝缘检测位、性能检测位、引脚检测位和下料位;
主转盘,所述主转盘上环型阵列安装有多个吸嘴;
主驱动件,安装于所述机架上并与所述主转盘连接,用于驱动所述主转盘转动以使各所述吸嘴依次经过所述上料位、所述绝缘检测位、所述性能检测位、所述引脚检测位和所述下料位;
上料组件,安装于所述上料位,用于供应产品并由相应所述吸嘴吸取;所述上料组件包括安装于所述机架上的上料座、用于承载多个堆叠设置的物料管的承托架、用于将所述承托架上的各所述物料管移出的搬运单元和用于拾取并旋转所述搬运单元上的所述物料管,以使所述物料管中的多个产品自动滑出的旋转下料单元;所述承托架、所述搬运单元和所述旋转下料单元分别安装于所述上料座上;多个所述产品呈排收纳于所述物料管中;所述承托架包括两个承托座和两个卡料单元,两个所述承托座相对间隔安装于所述上料座上,两个所述卡料单元分别安装于两个所述承托座上,各所述承托座上开设有凹槽,两个所述凹槽相对设置,各所述凹槽沿相应所述承托座的长度方向设置;各所述卡料单元包括卡料板和用于驱动所述卡料板进出所述物料管中的卡料气缸,各所述承托座上开设有供相应所述卡料板穿过的通孔;所述上料组件还包括托料单元,所述托料单元包括两个托料板和两个托料驱动气缸,两个所述托料驱动气缸分别安装于所述上料座上,两个所述托料驱动气缸分别与两个所述托料板连接,所述搬运单元设于两个所述托料驱动气缸之间,各所述托料驱动气缸用于驱动相应所述托料板升降;所述搬运单元包括搬运座和搬运动力单元,所述搬运座用于支撑所述物料管,所述搬运座安装于所述搬运动力单元上,所述搬运动力单元用于驱动所述搬运座在供料位和移料位之间往复移动,以实现所述物料管的连续上料;所述搬运座上开设有卡槽,所述卡槽的长度方向与所述物料管的长度方向保持一致;
绝缘检测组件,安装于所述绝缘检测位,用于检测所述产品的绝缘性能;
性能检测组件,安装于所述性能检测位,用于检测所述产品的性能参数;
引脚检测组件,安装于所述引脚检测位,用于检测所述产品的引脚;
下料组件,安装于所述下料位,用于存储经检测后的所述产品。
2.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述测试设备还包括安装于所述机架上的多个旋转组件,各所述旋转组件用于调节所述产品的位置;所述上料组件与所述绝缘检测组件之间设有所述旋转组件,所述绝缘检测组件与所述性能检测组件之间设有所述旋转组件,所述引脚检测组件与所述下料组件之间设有所述旋转组件。
3.如权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述机架上还设有打标位,所述打标位设于所述性能检测位和所述引脚检测位之间;所述测试设备还包括用于对所述产品进行打标的打标组件,所述打标组件设于所述打标位。
4.如权利要求3所述的测试设备,其特征在于:所述打标组件包括打标副盘、环型阵列安装于所述打标副盘上的多个打标座、安装于所述机架上的打标机和用于驱动所述打标副盘转动的打标驱动件,所述打标驱动件安装于所述机架上,所述打标驱动件与所述打标副盘连接。
5.如权利要求1-4任一项所述的测试设备,其特征在于:所述绝缘检测组件包括检测副盘、环型阵列安装于所述检测副盘上的多个承载座、用于驱动所述检测副盘转动的动力输出单元、用于与所述产品的待测面贴合并与所述产品电连接的测试座和用于驱动所述测试座靠近或远离所述产品的测试驱动单元;所述动力输出单元安装于所述机架上,所述动力输出单元与所述检测副盘连接,所述测试驱动单元安装于所述机架上,所述测试驱动单元与所述测试座连接。
6.如权利要求1-4任一项所述的测试设备,其特征在于:所述性能检测组件包括安装于所述机架上的检测底座、安装于所述检测底座上的检测滑动座、用于与所述产品电连接的检测导针和用于驱动所述检测滑动座靠近或远离所述检测导针的检测驱动单元,所述检测驱动单元和所述检测导针分别安装于所述检测底座上,所述检测驱动单元与所述检测滑动座连接。
7.如权利要求1-4任一项所述的测试设备,其特征在于:所述下料组件包括用于存储不合格的产品的第一收料单元和用于存储合格的产品的第二收料单元,所述第一收料单元和所述第二收料单元分别安装于所述机架上。
8.如权利要求7所述的测试设备,其特征在于:所述第一收料单元包括安装于所述机架上的第一收料底座、安装于所述第一收料底座上的收料滑动座、层叠安装于所述收料滑动座上的多个第一收料管、安装于所述第一收料底座上的第一吹料导轨座、安装于所述第一吹料导轨座上的第一吹料嘴和用于驱动所述收料滑动座移动以使各所述第一收料管与所述第一吹料导轨座接驳的第一收料动力模组,所述第一收料动力模组安装于所述第一收料底座上,所述第一收料动力模组与所述收料滑动座连接。
9.如权利要求7所述的测试设备,其特征在于:所述第二收料单元包括安装于所述机架上的第二收料底座、层叠安装于所述第二收料底座上的多个第二收料管、安装于所述机架上的第二吹料导轨座、安装于所述第二吹料导轨座上的第二吹料嘴和用于抵推各所述第二收料管与所述第二吹料导轨座接驳的第二收料动力模组,所述第二收料动力模组安装于所述第二收料底座上。
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Address after: 1st-3rd, 5th-8th Floor, Building A, Tea Tree, Tongfuyu Industrial Park, Inner Ring Road, Sanwei Community, Hangcheng Street, Baoan District, Shenzhen, Guangdong, China

Applicant after: Shenzhen Biaopu Semiconductor Co.,Ltd.

Address before: 518000 1st, 2nd, 3rd, 5th, 7th and 8th floors, building a, tea tree, tongfuyu Industrial Park, inner ring road, Sanwei community, Hangcheng street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province

Applicant before: SHENZHEN BIAOPU SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY Co.,Ltd.

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