CN216560796U - 一种多工位测试机 - Google Patents

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梁广赞
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Abstract

本实用新型属于测试机技术领域,尤其涉及一种多工位测试机,包括机架,还包括送料机构、旋转传输机构、下压测试机构和下料机构;送料机构设置于所述机架,并用于将电子工件输送至旋转传输机构;旋转传输机构设置于所述机架上,并用于带动电子工件旋转;下压测试机构设置于机架上,并用于对电子工件测试;所述下料机构设置于所述机架上,并用于收集测试完的电子工件。本实用新型在测试需要测试的电子工件时,首先通过送料机构,将电子工件输送至所述旋转传输机构,所述旋转传输机构带动电子工件旋转,所述下压测试机构在电子工件旋转的过程中对电子工件进行测试,测试完成后,由所述下料机构收集,实现了机械化电子工件的测试,提升生产效率。

Description

一种多工位测试机
技术领域
本实用新型属于测试机技术领域,尤其涉及一种多工位测试机。
背景技术
电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分,其本身常由若干零件构成,可以在同类产品中通用。常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件,是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。常见的有二极管等。
常见的元器件,如保险丝,其主要是起过载保护作用,电路中正确安置保险丝,保险丝就会在电流异常升高到一定的高度和热度的时候,自身熔断切断电流,保护了电路安全运行。又如电阻电容等元器件,均是电路中不可或缺的一部分。
目前,如保险丝以及电阻类的元器件在出厂前,均需要对电性能进行测试,但是,市面上还是存在人工测试及通过人工分拣的情况,导致了测试效率低及误差率高的情况。因此,实有必要设计一种多工位测试机。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种多工位测试机,旨在解决现有技术中在金属保险丝及电阻的电性能测试时测试效率低的技术问题。
为实现上述目的,本实用新型实施例提供一种多工位测试机,包括机架,还包括送料机构、旋转传输机构、下压测试机构和下料机构;其中,
所述送料机构设置于所述机架,并用于将电子工件输送至所述旋转传输机构;
所述旋转传输机构设置于所述机架上,并用于带动电子工件旋转;
所述下压测试机构设置于所述机架和所述旋转传输机构上,并用于对电子工件测试;
所述下料机构设置于所述机架上,并用于收集测试完的电子工件。
可选地,所述旋转传输机构包括承载支架、第一驱动机构和旋转转盘;所述承载支架设置于所述机架上,所述第一驱动机构安装于所述机架上,所述旋转转盘安装于所述承载支架上,所述旋转转盘与所述第一驱动机构的输出端驱动连接,以使所述第一驱动机构驱动所述旋转转盘转动,所述旋转站盘带动电子工件旋转。
可选地,所述旋转转盘包括基盘、环形件和载料盘;所述基盘安装于所述承载支架上,所述环形件安装于所述基盘上,所述环形件的侧边设有一进料缺口,所述进料缺口与所述送料机构的出料端连通,所述载料盘安装于所述环形件,所述环形件还与所述第一驱动机构的输出端驱动连接;所述载料盘上环设有工件放置位,所述送料机构输送的电子工件经所述进料缺口传输至所述工件放置位。
可选地,所述第一驱动机构包括第一驱动电机、第一联轴器和第一转轴,所述第一驱动电机安装于所述机架,所述第一联轴器与所述第一驱动电路驱动连接,所述第一转轴与所述第一联轴器连接,所述第一转轴与所述载料盘连接;所述第一驱动电机带动所述联轴器,以使所述第一联轴器带动所述第一转轴转动,所述第一转轴带动所述载料盘转动。
可选地,所述下压测试机构包括支撑柱、升降气缸、滑块固定块、探针安装座、测试探针和测试仪;所述支撑柱安装于所述承载支架上,所述升降气缸安装于所述支撑柱上,所述滑块固定块与所述升降气缸驱动连接,所述探针安装座与所述滑块固定块连接,所述测试探针安装于所述探针安装座,所述测试仪安装于所述机架上,且所述测试仪与所述测试探针电连接。
可选地,所述测试探针的数量为多个,各所述测试探针均安装于所述探针安装座。
可选地,所述下料机构包括下料驱动组件、下料管和收料盒;所述下料驱动组件安装于所述承载支架上,所述基盘的侧面设有推料槽,所述下料驱动组件的驱动端伸入所述推料槽,所述推料槽的底部设置有下料孔,所述承载支架上设有与所述下料孔相匹配的贯穿孔,所述下料管与所述贯穿孔连通,所述收料盒与所述下料管连通,所述收料盒可抽拉地安装于所述机架。
可选地,所述收料盒的数量为多个,各所述收料盒均可抽拉地安装于所述机架
可选地,所述下料驱动组件包括下料气缸和推料块,所述下料气缸安装于所述承载支架,所述推料块与所述下料气缸连接,所述下料气缸驱动所述推料块伸入所述推料槽。
可选地,所述送料机构包括振动盘、平行轨道和振动底座;所述振动盘设置于所述机架上,所述平行轨道的一端连通所述振动盘的出料口,所述平行轨道的另一端连通所述进料缺口,所述振动底座安装于所述机架,所述振动底座的顶端与所述平行轨道连接。
本实用新型实施例提供的多工位测试机中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一:
本实用新型通过设置机架用于承载所述送料机构、是旋转传输机构、所述下压测试机构和所述下料机构,使在测试需要测试的电子工件时,首先通过所述送料机构,将电子工件输送至所述旋转传输机构,所述旋转传输机构带动电子工件旋转,所述下压测试机构在电子工件旋转的过程中对电子工件进行测试,测试完成后,由所述下料机构收集,实现了机械化电子工件的测试,进一步地实现对金属保险丝或者电阻等元器件的电性能测试时的高效快捷测试,提升生产效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的多工位测试机的整体结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的下料机构和旋转传输机构的组合结构示意图;
图3为图2隐藏了第一驱动机构后的结构示意图;
图4为本实用新型实施例提供的旋转盘和下料机构组合后的拆分状态结构示意图;
图5为图4的另一视角的结构示意图。
其中,图中各附图标记:
100、送料机构;110、振动盘;120、平行轨道;130、振动底座;200、旋转传输机构;210、承载支架;220、第一驱动机构;221、第一驱动电机;222、第一联轴器;223、第一转轴;230、旋转转盘;231、基盘;232、环形件;233、载料盘;234、进料缺口;235、工件放置位;236、推料槽;237、下料孔;238、贯穿孔;300、下压测试机构;310、支撑柱;320、升降气缸;330、滑块固定块;340、探针安装座;350、测试探针;360、测试仪;400、下料机构;410、下料驱动组件;411、下料气缸;412、推料块;420、下料管;430、收料盒。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本实用新型的实施例,而不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型实施例的描述中,需要理解的是,术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型实施例和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型实施例的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本实用新型实施例中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型实施例中的具体含义。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,提供一种多工位测试机,包括机架500、送料机构100、旋转传输机构200、下压测试机构300和下料机构400。
其中,所述送料机构100设置于所述机架,并用于将电子工件输送至所述旋转传输机构200;
所述旋转传输机构200设置于所述机架上,并用于带动电子工件旋转;
所述下压测试机构300设置于所述机架和所述旋转传输机构200上,并用于对电子工件测试;
所述下料机构400设置于所述机架上,并用于收集测试完的电子工件。
具体地,电子工件包括但不限于保险管、保险丝、电阻器或者电容器。
本实用新型通过设置机架用于承载所述送料机构100、是旋转传输机构200、所述下压测试机构300和所述下料机构400,使在测试需要测试的电子工件时,首先通过所述送料机构100,将电子工件输送至所述旋转传输机构200,所述旋转传输机构200带动电子工件旋转,所述下压测试机构300在电子工件旋转的过程中对电子工件进行测试,测试完成后,由所述下料机构400收集,实现了机械化电子工件的测试,进一步地实现对金属保险丝或者电阻等元器件的电性能测试时的高效快捷测试,提升生产效率。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述旋转传输机构200 包括承载支架210、第一驱动机构220和旋转转盘230;所述承载支架210设置于所述机架上,所述第一驱动机构220安装于所述机架上,所述旋转转盘230 安装于所述承载支架210上,所述旋转转盘230与所述第一驱动机构220的输出端驱动连接,以使所述第一驱动机构220驱动所述旋转转盘230转动,所述旋转站盘带动电子工件旋转。具体地,电子工件经所述送料机构100输送后,输送至所述旋转转盘230上,所述第一驱动机构220驱动所述旋转转盘230转动,所述旋转站盘带动电子工件旋转。进一步地,所述旋转转盘230的旋转的过程中,间歇性停止,每停止一次,所述下压测试机构300便可以对电子工件进行测试,这样在旋转的过程中,逐渐有新的电子工件被输送,提升测试效率。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述旋转转盘230包括基盘231、环形件232和载料盘233;所述基盘安装于所述承载支架210上,所述环形件232安装于所述基盘231上,所述环形件232的侧边设有一进料缺口 234,所述进料缺口234与所述送料机构100的出料端连通,所述载料盘233安装于所述环形件232,所述环形件232还与所述第一驱动机构220的输出端驱动连接;所述载料盘233上环设有工件放置位235,所述送料机构100输送的电子工件经所述进料缺口234传输至所述工件放置位235。具体地,通过所述环形件232的设置,使所述载料盘233能够在所述环形件232所围设的空间内转动,进而提升所述载料盘233在转动过程中的稳定性。并且,通过所述进料缺口234 的设置,使电子工件能够通过所述进料缺口234进入所述工件放置位235,进而随着所述载料盘233的转动,实现将所述送料机构100输送的电子工件依次传送。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述第一驱动机构220 包括第一驱动电机221、第一联轴器222和第一转轴223,所述第一驱动电机221 安装于所述机架,所述第一联轴器222与所述第一驱动电路驱动连接,所述第一转轴223与所述第一联轴器222连接,所述第一转轴223与所述载料盘233 连接;所述第一驱动电机221带动所述联轴器,以使所述第一联轴器222带动所述第一转轴223转动,所述第一转轴223带动所述载料盘233转动。具体地,所述第一驱动机构220工作时,所述第一驱动电机221带动所述联轴器,以使所述第一联轴器222带动所述第一转轴223转动,所述第一转轴223带动所述载料盘233转动,进而带动所述工件放置位235的电子工件转动。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述下压测试机构300 包括支撑柱310、升降气缸320、滑块固定块330、探针安装座340、测试探针 350和测试仪360;所述支撑柱310安装于所述承载支架210上,所述升降气缸 320安装于所述支撑柱310上,所述滑块固定块330与所述升降气缸320驱动连接,所述探针安装座340与所述滑块固定块330连接,所述测试探针350安装于所述探针安装座340,所述测试仪360安装于所述机架上,且所述测试仪360 与所述测试探针350电连接。具体地,测试时,所述升降气缸320驱动所述滑块固定块330向下运动,直至所述探针安装座340上安装的测试探针350伸入至所述工件放置位235内,并与所述工件放置位235内的电子工件接触,接着,所述测试仪360对电子工件的电性能进行测试。
进一步地,所述测试仪360为现有技术中成熟且成型的技术,由本领域技术人员根据实际需求选型购买或自行制作并使用,对于其如何在测试探针350 对电子工件接触后对电子工件的电性能进行测试,理应由本领域技术人员所熟知并掌握,因此,本申请对此部分不作具体阐述。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述测试探针350的数量为多个,各所述测试探针350均安装于所述探针安装座340。通过设置多个测试探针350进行测试,进而实现多工位同时测试,提升测试效率。
在本发明一个实施例中,所述测试探针350的数量为两组,两组测试探针 350分别对同一个电子工件进行测试,也即测试两次,这样实现了两次测试后再分选,进而实现准确高效测试后分选。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述下料机构400包括下料驱动组件410、下料管420和收料盒430;所述下料驱动组件410安装于所述承载支架210上,所述基盘231的侧面设有推料槽236,所述下料驱动组件 410的驱动端伸入所述推料槽236,所述推料槽236的底部设置有下料孔237,所述承载支架210上设有与所述下料孔237相匹配的贯穿孔238,所述下料管 420与所述贯穿孔238连通,所述收料盒430与所述下料管420连通,所述收料盒430可抽拉地安装于所述机架。
具体地,所述收料盒430的数量为多个,各所述收料盒430均可抽拉地安装于所述机架
进一步地,所述下料驱动组件410包括下料气缸411和推料块412,所述下料气缸411安装于所述承载支架210,所述推料块412与所述下料气缸411连接,所述下料气缸411驱动所述推料块412伸入所述推料槽236。其中,所述下料驱动组件410的数量可以为多个,分别用于将合格和不合格的产品进行收集。
具体地,以收集合格的电子工件为例,当测试合格时,所述下料气缸411 带动所述推料块412收缩,不再遮挡所述推料槽236内的下料孔237,所述工件放置位235上的合格电子工件经所述下料孔237掉落至所述贯穿孔238,进而经所述下料管420掉落至所述收料盒430,进而实现收料。
进一步地,通过设置所述收料盒430可抽拉地安装于所述机架上,进而实现抽拉即可对所述收料盒430的取出与放置,方便快捷。
在本实用新型的一个实施例中,如图1-图2所示,所述送料机构100包括振动盘110、平行轨道120和振动底座130;所述振动盘110设置于所述机架上,所述平行轨道120的一端连通所述振动盘110的出料口,所述平行轨道120的另一端连通所述进料缺口234,所述振动底座130安装于所述机架,所述振动底座130的顶端与所述平行轨道120连接。具体地,电子工件经所述振动盘110、所述平行轨道120后,被输送至所述旋转传输机构200。
在本实用新型的另一个实施例中,所述多工位测试机还包括电控装置(图为示),所述电控装置与所述送料机构100、所述旋转传输机构200、所述下压测试机构300和所述下料机构400均电连接。所述电控装置用于控制所述送料机构100、所述旋转传输机构200、所述下压测试机构300和所述下料机构400 机械化自动运行。
需要说明的是,所述电控装置为现有技术中成熟且成型的技术,可以由本领域技术人员根据实际需求选择如PLC控制装置类的器件,并做相应编程控制处理,对此控制部分为现有技术,且并非本申请保护重点,故对此,本申请不作具体阐述。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种多工位测试机,包括机架,其特征在于,还包括送料机构、旋转传输机构、下压测试机构和下料机构;其中,
所述送料机构设置于所述机架,并用于将电子工件输送至所述旋转传输机构;
所述旋转传输机构设置于所述机架上,并用于带动电子工件旋转;
所述下压测试机构设置于所述机架和所述旋转传输机构上,并用于对电子工件测试;
所述下料机构设置于所述机架上,并用于收集测试完的电子工件。
2.根据权利要求1所述的多工位测试机,其特征在于,所述旋转传输机构包括承载支架、第一驱动机构和旋转转盘;所述承载支架设置于所述机架上,所述第一驱动机构安装于所述机架上,所述旋转转盘安装于所述承载支架上,所述旋转转盘与所述第一驱动机构的输出端驱动连接,以使所述第一驱动机构驱动所述旋转转盘转动,所述旋转站盘带动电子工件旋转。
3.根据权利要求2所述的多工位测试机,其特征在于,所述旋转转盘包括基盘、环形件和载料盘;所述基盘安装于所述承载支架上,所述环形件安装于所述基盘上,所述环形件的侧边设有一进料缺口,所述进料缺口与所述送料机构的出料端连通,所述载料盘安装于所述环形件,所述环形件还与所述第一驱动机构的输出端驱动连接;所述载料盘上环设有工件放置位,所述送料机构输送的电子工件经所述进料缺口传输至所述工件放置位。
4.根据权利要求3所述的多工位测试机,其特征在于,所述第一驱动机构包括第一驱动电机、第一联轴器和第一转轴,所述第一驱动电机安装于所述机架,所述第一联轴器与所述第一驱动电路驱动连接,所述第一转轴与所述第一联轴器连接,所述第一转轴与所述载料盘连接;所述第一驱动电机带动所述联轴器,以使所述第一联轴器带动所述第一转轴转动,所述第一转轴带动所述载料盘转动。
5.根据权利要求2-4任一项所述的多工位测试机,其特征在于,所述下压测试机构包括支撑柱、升降气缸、滑块固定块、探针安装座、测试探针和测试仪;所述支撑柱安装于所述承载支架上,所述升降气缸安装于所述支撑柱上,所述滑块固定块与所述升降气缸驱动连接,所述探针安装座与所述滑块固定块连接,所述测试探针安装于所述探针安装座,所述测试仪安装于所述机架上,且所述测试仪与所述测试探针电连接。
6.根据权利要求5所述的多工位测试机,其特征在于,所述测试探针的数量为多个,各所述测试探针均安装于所述探针安装座。
7.根据权利要求3或4所述的多工位测试机,其特征在于,所述下料机构包括下料驱动组件、下料管和收料盒;所述下料驱动组件安装于所述承载支架上,所述基盘的侧面设有推料槽,所述下料驱动组件的驱动端伸入所述推料槽,所述推料槽的底部设置有下料孔,所述承载支架上设有与所述下料孔相匹配的贯穿孔,所述下料管与所述贯穿孔连通,所述收料盒与所述下料管连通,所述收料盒可抽拉地安装于所述机架。
8.根据权利要求7所述的多工位测试机,其特征在于,所述收料盒的数量为多个,各所述收料盒均可抽拉地安装于所述机架。
9.根据权利要求7所述的多工位测试机,其特征在于,所述下料驱动组件包括下料气缸和推料块,所述下料气缸安装于所述承载支架,所述推料块与所述下料气缸连接,所述下料气缸驱动所述推料块伸入所述推料槽。
10.根据权利要求3或4所述的多工位测试机,其特征在于,所述送料机构包括振动盘、平行轨道和振动底座;所述振动盘设置于所述机架上,所述平行轨道的一端连通所述振动盘的出料口,所述平行轨道的另一端连通所述进料缺口,所述振动底座安装于所述机架,所述振动底座的顶端与所述平行轨道连接。
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