CN114994473B - 电性耐压测试机 - Google Patents

Abstract

本申请属于电子元器件电测试技术领域，尤其涉及一种电性耐压测试机构，该电性耐压测试机包括机架、输送机构、上料机构、测试机构和排料机构；机架设置有支撑平台；输送机构安装于支撑平台上并用于输送电子元器件，电子元器件沿输送机构的输送方向分为若干组电子元器件，每组电子元器件的数量为a，且a≥3；上料机构安装于支撑平台上，并用于将电子元器件输送到输送机构上；测试机构包括a个测试站，测试站安装于支撑平台上并沿输送机构的输送方向分布，各测试站分别用于一一对应地测试每组电子元器件中的电子元器件；排料机构设置于机架，并位于输送机构的出料口处，并用于经测试机构测试后的电子元器件排出。该电性耐压测试机构的测试效率高。

Description

电性耐压测试机

技术领域

本申请属于电子元器件电测试技术领域，尤其涉及一种电性耐压测试机构。

背景技术

目前，电子元器件在封装之前，需要进行测试，其中，测试指的是电子元器件的耐压电测试；电性耐压测试机包括上料机构、输送机构、测试机构和排料机构，上料机构将电子元器件输送到输送机构上，输送机构再将电子元器件输送测试机构处进行耐压测试，当耐压测试完成后，输送机构再将电子元器件输送到后续工序中，同时，排料机构将测试完成的电子元器件排出；但目前的电性耐压测试机一次只能测试一个电子元器件，电子元器件的测试耗时较长，耐压测试设备的运行速度慢，测试效率低下。

发明内容

本申请的目的在于提供一种电性耐压测试机，旨在解决现有技术中的电性耐压测试机由于一次只能测试一个电子元器件，电子元器件的测试耗时较长，耐压测试设备的运行速度慢、测试效率低下的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：一种电性耐压测试机，包括：

机架，所述机架设置有支撑平台；

输送机构，所述输送机构安装于所述支撑平台上，并用于输送电子元器件，其中，所述电子元器件沿所述输送机构的输送方向分为若干组所述电子元器件，每组所述电子元器件的数量为a，且a≥3；

上料机构，所述上料机构安装于所述支撑平台上，并用于将所述电子元器件输送到所述输送机构上；

测试机构，所述测试机构包括a个测试站，所述测试站安装于所述支撑平台上，并沿所述输送机构的输送方向分布，各所述测试站分别用于一一对应地测试每组所述电子元器件中的所述电子元器件；

排料机构，所述排料机构设置于所述机架，并位于所述输送机构的出料口处，并用于经所述测试机构测试后的所述电子元器件排出。

可选地，所述输送机构包括转盘和设置于所述支撑平台上的旋转驱动件，所述旋转驱动件的驱动端与所述转盘连接，并用于驱动所述转盘转动；所述转盘的周缘处设置有用于容纳所述电子元器件的容纳槽，所述容纳槽的数量大于等于a，所述容纳槽沿所述转盘的周向间隔设置，所述测试站沿所述转盘的转动方向分布。

可选地，当a＝5时，所述容纳槽的数量为50时，以与所述上料机构相对的所述容纳槽为第1个，并沿所述转盘的转动方向依次编号，5个所述测试站依次设置于在第10个所述容纳槽的位置、第17个所述容纳槽的位置、第23个所述容纳槽的位置、第29个所述容纳槽的位置和第36个所述容纳槽的位置。

可选地，所述电性耐压测试机还包括设置于所述机架上的分离机构，所述分离机构位于所述上料机构的出料口和所述输送机构的进料口之间，且用于将所述上料机构输送而来相邻的两个所述电子元器件分离。

可选地，所述分离机构包括第一电磁铁、第一复位件、分离针和与所述支撑平台连接的安装座，所述安装座形成有用于连通所述输送机构的进料口和所述上料机构的出料口的进料槽；

所述第一电磁铁安装于所述安装座上，所述第一电磁铁具有可伸缩的第一衔铁轴，所述第一衔铁轴与所述分离针连接，并用于在所述第一电磁铁通电时，推动所述分离针退出所述进料槽；

所述第一复位件连接于所述安装座与所述第一衔铁轴之间，并用于在所述第一电磁铁断电时，推动所述第一衔铁轴复位移动，且所述第一衔铁轴在复位移动时带动所述分离针插入所述进料槽，以将相邻的两个所述电子元器件分离。

可选地，所述安装座包括安装架、底板、进料板和移动板，所述进料板和所述移动板间隔安装于所述底板上，并围设形成所述进料槽；所述底板安装于所述支撑平台，所述第一电磁铁设置于所述安装架上，所述第一复位件连接于所述安装架与所述第一衔铁轴之间；

所述底板内设置有与所述进料槽相连通的进料通道，所述上料通道用于将所述上料机构输送而来的所述电子元器件吸入所述进料槽内。

可选地，所述分离机构还包括吹气组件和位移驱动件，所述底板开设有排料通道，所述位移驱动件与所述支撑架连接，所述位移驱动件的驱动端与所述移动板连接，并用于驱动所述移动板移动，以开闭所述排料通道的进料口；所述吹气组件的出气口与所述排料通道的进料口相对设置，并用于在所述排料通道的进料口开启时，将歪斜的所述电子元器件吹入所述排料通道内。

可选地，所述测试站包括支撑座、滑动座、第二电磁铁、第二复位件和用于耐压测试的探针，所述支撑座安装于所述支撑平台上，所述第二电磁铁安装于所述支撑座上，所述第二电磁铁具有可伸缩的第二衔铁轴，所述滑动座与所述支撑座滑动连接，所述探针与所述滑动座连接；

所述第二衔铁轴与所述滑动座连接，并用于在所述第二电磁铁通电时，驱动所述滑动座移动，以使得所述探针与所述电子元器件电性接触；

所述第二复位件连接于所述滑动座与所述支撑座之间，并用于在所述第二电磁铁断电时，驱动所述滑动座反向移动，以使得所述探针与所述电子元器件分离。

可选地，所述探针为片式探针。

可选地，所述排料机构包括设置于所述机架上的良品通道和不良品通道，所述良品通道用于将测试合格的所述电子元器件排出；所述不良品通道用于将测试不合格的所述电子元器件排出。

本申请提供的电性耐压测试机中的上述一个或多个技术方案至少具有如下技术效果之一：工作时，上料机构将电子元器件放置在输送机构上进行输送，当电子元器件输送到测试站处时，测试站对电子元器件进行电性测试；测试完成后，输送机构将电子元器件继续向前输送，当电子元器件输送到排料机构处，排料机构将测试完成的电子元器件排出，如此便实现了电子元器件的电性耐压测试；由于该电性耐压测试机包括至少三个以上的测试站，那么在测试过程中，三个以上的测试站可对三个以上电子元器件进行同时测试，这样可一次实现多颗电子元器件的测试，大大缩短了测试时间，提高了电性耐压测试机的运行速度，同时也提高了测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的电性耐压测试机的结构示意图。

图2为图1所示的电性耐压测试机隐藏固定柜后的结构示意图。

图3为图1所示的电性耐压测试机中的输送机构、工作平台和测试站的第一视角的结构示意图。

图4为图1所示的电性耐压测试机中的输送机构、工作平台和测试站的第二视角的结构示意图。

图5为图1所示的电性耐压测试机中的输送机构的结构示意图。

图6为图1所示的电性耐压测试机中的分离机构的第三视角的结构示意图。

图7为图1所示的电性耐压测试机中的分离机构的第四视角的结构示意图。

图8为图7中A处的局部放大图。

图9为图6中的分离机构中的安装座、第一电磁铁、第一复位件和分离针的结构示意图。

图10为图1所示的电性耐压测试机中的测试站的结构示意图。

其中，图中各附图标记：

10—机架 11—支撑平台 12—支架

13—固定架 14—工作平台 20—输送机构

21—转盘 22—旋转驱动件 23—编码器

30—上料机构 31—储料斗 32—震动盘

40—测试机构 41—测试站 42—装置主体

50—排料机构 51—良品通道 52—不良品通道

53—气管 60—分离机构 61—第一电磁铁

62—第一复位件 63—分离针 64—安装座

65—位移驱动件 66—检测组件 71—报警装置

72—操作面板组件 73—开关门组件 74—万向轮

75—支脚 76—储料盒 77—固定柜

80—电子元器件 141—固定圈 142—阻挡圈

211—容纳槽 411—支撑座 412—滑动座

413—第二电磁铁 414—探针 611—第一衔铁轴

640—进料槽 641—安装架 642—底板

643—进料板 644—移动板 645—接近开关

646—排料管 661—第一光纤传感器 662—装配架

663—摆臂 664—固定座 4111—绝缘板

4112—支撑架 4131—第二衔铁轴 6421—排料通道。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图1~10中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图1~10描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

以下结合具体附图及实施例进行详细说明：

请一并参阅图1及图2，本申请实施例提供的电性耐压测试机主要用于实现对电子元器件80的电性耐压测试，其中，该电子元器件80可以为电感元件、电阻、电容、LED等元器件。

该电性耐压测试机包括机架10、输送机构20、上料机构30、测试机构40和排料机构50，机架10设置有支撑平台11；可以理解的是，机架10作为该电性耐压测试机的支撑平台11的安装机构，而支撑平台11可以是设置于机架10上的平板等能够支撑的结构；输送机构20安装于支撑平台11上，并用于输送电子元器件80，其中，电子元器件80沿输送机构20的输送方向分为若干组电子元器件80，每组电子元器件80的数量为a，且a≥3；可以理解的是，输送机构20能够沿输送方向依次输送电子元器件80，即电子元器件80沿输送方向依次输送，而电子元器件80在输送方向被分为多组，每组电子元器件80的数量均相同，且每组电子元器件80的数量大于等于3，具体地，每组电子元器件80的数量可为3、4、5或者6以上；上料机构30安装于支撑平台11上，并用于将电子元器件80输送到输送机构20上；测试机构40包括a个测试站41，测试站41安装于支撑平台11上，并沿输送机构的输送方向分布，各测试站41分别用于一一对应地测试每组电子元器件80中的电子元器件80；可以理解的是，测试站41的数量与每组电子元器件80的数量相同，且各测试站41分别用于与每组中的电子元器件80一一对应设置，即各测试站41分别测试每组中不同的电子元器件80；排料机构50设置于机架10，并位于输送机构20的出料口处，并用于经测试机构40测试后的电子元器件80排出。

在具体的实施例中，该电性耐压测试机的工作原理为：上料机构30将电子元器件80放置在输送机构20上进行输送，当电子元器件80输送到测试站41处时，测试站41对电子元器件80进行电性测试；测试完成后，输送机构20将电子元器件80继续向前输送，当电子元器件80输送到排料机构50处，排料机构50将测试完成的电子元器件80排出，如此便实现了电子元器件80的电性耐压测试；由于该电性耐压测试机包括至少三个以上的测试站41，那么在测试过程中，三个以上的测试站41可对三个以上电子元器件80进行同时测试，这样可一次实现多颗电子元器件80的测试，大大缩短了测试时间，提高了电性耐压测试机的运行速度，同时也提高了测试效率。

在此需要说明的是，三个以上的测试站41可以同时测试相邻的三个以上的电子元器件80，三个以上的测试站41也可以同时测试不同组内的电子元器件80，保证在输送机构20的电子元器件80均受到电性耐压测试即可，在此不做限定。

在本实施例中，机架10包括支架12和固定架13，支撑平台11安装于支架12上，固定架13设置有支撑平台11上，上料机构30位于固定架13的左侧，输送机构20安装于固定架13内，各测试站41和排料机构50均安装于固定架13内，并沿输送机构20的输送方向依次设置，如此布置，有利于各个机构的机构设置和安装。

在本实施例中，支撑平台11上还设有报警装置71、操作面板组件72、开关门组件73等其他组合件用于协助操作的设备。

在本实施例中，支架12的底部设有万向轮74，以便于移动整台设备，同时，机架10的底部还设有可升降的支脚75，当整台设备需要固定时，可将支脚75放下，以支撑整台设备。

在本申请的另一个实施例中，结合图3、图4和图5所示，提供的该电性耐压测试机的输送机构20包括转盘21和设置于支撑平台11上的旋转驱动件22，旋转驱动件22的驱动端与转盘21连接，并用于驱动转盘21转动；转盘21的周缘处设置有用于容纳电子元器件80的容纳槽211，容纳槽211的数量大于等于a，容纳槽211沿转盘21的周向间隔设置，测试站41沿转盘21的转动方向分布。具体地，旋转驱动件22驱动转盘21转动，这样容纳槽211内的电子元器件80也随之转动，从而移动到不同的测试站41处，不同的测试站41同时对不同的容纳槽211内电子元器件80进行电性测试，这样便可实现多个电子元器件80的同时测试，另外，容纳槽211为电子元器件80提供一个单独的容纳空间，使得电子元器件80能够准确地移动到测试站41的测试位，提高测试精度。同时，在测试过程中，随着转盘21的转动，同一电子元器件80也可以多次经过同一测试站41，从而实现电子元器件80的循环测试。

在本实施例中，机架10还包括工作平台14，工作平台14设置有固定架13上，转盘21安装于工作平台14上，旋转驱动件22安装于固定架13内，工作平台14上设置有固定圈141，固定圈141套设于转盘21外，以阻挡电子元器件80在转盘21旋转过程中从容纳槽211内脱出，固定圈141的左侧开设有用于供上料组件将电子元器件80输送到容纳槽211内的进料缺口；固定圈141上叠成设置有阻挡圈142，阻挡圈142沿转盘21的周缘处布置，并遮蔽容纳槽211，这样在容纳槽211内的电子元器件80，其上部受到阻挡圈142的阻挡，其侧部受到固定圈141的阻挡，使得电子元器件80在转盘21转动的过程中不会从容纳槽211脱出，另外，在转盘21转动的过程中，固定圈141和阻挡圈142对容纳槽211的电子元器件80的阻挡导向，使得电子元器件80调整到预设的姿态，以保证后续测试站41能够准确地与电子元器件80准确对接，完成电性测试。

在本实施例中，工作平台14在进料缺口处设置有吸料通道，吸料通道用于将上料机构30输送而来的电子元器件80吸入容纳槽211，以实现输送机构20的上料。其中，吸料通道连接有真空发生器，通过真空发生器对吸料通道内抽真空，从而将电子元器件80吸入容纳槽211内，实现转盘21的上料；当然在其他实施例中，吸料通道还可以通过其他方式实现抽真空，在此不作限定。

在本申请的另一个实施例中，结合图4所示，提供的该电性耐压测试机，当a＝5，容纳槽211的数量为50时，以与上料机构30相对的容纳槽211为第1个，并沿转盘21的转动方向依次编号，可以理解的是，转盘21上与阻挡圈142的进料缺口相对的容纳槽211为第1个；5个测试站41依次设置于在第10个容纳槽211的位置、第17个容纳槽211的位置、第23个容纳槽211的位置、第29个容纳槽211的位置和第36个容纳槽211的位置。具体地，在测试过程中，转盘21上每相邻的五个电子元器件80分为一组，这样当转盘21上的电子元器件80分为10组，10组电子元器件80沿转盘21的转动方向依次编号，那么5个测试站41分别测试第二组中第五个电子元器件80、第四组中的第二个电子元器件80、第五组中的第三个电子元器件80、第六组中的第四个电子元器件80和第八组中的第二个电子元器件80，这样随着转盘21每次转动，5个测试站41会分别对每一组不同的电子元器件80进行测试，从而保证每一颗电子元器件80均可以被电性测试到，另外，这样测试站41间隔分布，方便部件的安装和布置。

在本申请的另一个实施例中，结合图1和图6所示，提供的该电性耐压测试机的电性耐压测试机还包括设置于机架10上的分离机构60，分离机构60位于上料机构30的出料口和输送机构20的进料口之间，且用于将上料机构30输送而来相邻的两个电子元器件80分离。具体地，上料机构30将电子元器件80输送到分离机构60处，分离机构60将相邻的两个电子元器件80进行分离后，电子元器件80再输送到转盘21的容纳槽211内，这样相邻的两个电子元器件80不会相互挤压，一方面，保证一个容纳槽211进入一个电子元器件80；另一方面，防止电子元器件80因挤压而出现倾斜而导致上料堵塞的问题。

在本申请的另一个实施例中，结合图1、图6和图9所示，提供的该电性耐压测试机的分离机构60包括第一电磁铁61、第一复位件62、分离针63和与支撑平台11连接的安装座64，安装座64形成有用于连通输送机构20的进料口和上料机构30的出料口的进料槽640；具体地，安装座64安装于工作平台14上，并位于进料缺口内，进料槽640用于连通上料机构30的出料口和转盘21上的容纳槽211，且测试时，进料槽640正对的容纳槽211为第1个容纳槽211；第一电磁铁61安装于安装座64上，第一电磁铁61具有可伸缩的第一衔铁轴611，第一衔铁轴611与分离针63连接，并用于在第一电磁铁61通电时，推动分离针63退出进料槽640；第一复位件62连接于安装座64与第一衔铁轴611之间，并用于在第一电磁铁61断电时，推动第一衔铁轴611复位移动，且第一衔铁轴611在复位移动时带动分离针63插入进料槽640，以将相邻的两个电子元器件80分离。

具体地，当上料机构30将电子元器件80输送到进料槽640内时，第一电磁铁61断电，第一复位件62驱动件带动第一衔铁轴611移动，第一衔铁轴611移动驱动分离针63插入进料槽640内，并插入相邻的两个电子元器件80之间，通过分离针63的阻挡作用，使得输送在后的电子元器件80无法继续向前移动，从而避免在后的电子元器件80挤压在前的电子元器件80，从而保证电子元器件80以预设的姿态顺利进入容纳槽211内；当在前的电子元器件80进入容纳槽211后，转盘21转动将下一个空的容纳槽211对准进料槽640，同时，第一电磁铁61通电，第一衔铁轴611在第一电磁铁61的磁场作用下移动，并压缩第一复位件62，同时，第一衔铁轴611在移动过程中，带动分离针63移动，使得分离针63退出进料槽640，当分离针63退出进料槽640后，在后的电子元器件80会在上料机构30的输送下继续向前运动，当该电子元器件80越过分离针63后，第一电磁铁61会断电，分离针63再次插入进料槽640，阻挡后面的电子元器件80，同时，该电子元器件80被吸入空的容纳槽211内，如此往复，即可实现转盘21的连续上料。

在本申请的另一个实施例中，结合图1、图7和图8所示，提供的该电性耐压测试机的安装座64包括安装架641、底板642、进料板643和移动板644，进料板643和移动板644间隔设置于底板642上，并围设形成进料槽640；这样通过进料板643、移动板644和底板642共同围设形成进料槽640，这样无需开槽操作，其加工制作更为容易；底板642安装于支撑平台11，第一电磁铁61设置于安装架641上，第一复位件62连接于安装架641与第一衔铁轴611之间；具体地，安装架641安装于固定架13内，底板642设置于工作平台14上，第一电磁铁61和第一复位件62均位于固定架13内，可避免第一电磁铁61和第一复位件62外露，使得分离机构60的运行稳定可靠性好，底板642开设有与进料槽640连通的穿设孔，分离针63穿设于穿设孔内，并通过在穿设孔内移动，从而实现分离针63插入和退出进料槽640；底板642内设置有与进料槽640相连通的进料通道，进料通道用于将上料机构30输送而来的电子元器件80吸入进料槽640内。当上料机构30将电子元器件80输送到进料槽640处时，进料通道能够将电子元器件80吸入进料槽640内，使得在前的电子元器件80与在后的电子元器件80分离，同时，在前的电子元器件80与在后的电子元器件80之间会形成间隔，该间隔为后续分离针63的插入提供插入空间。

在本实施例中，第一电磁铁61内还具有第一线圈，第一衔铁轴611穿设于第一线圈内，第一电磁铁61通电，即第一线圈通电，第一线圈通电产生磁场从而带动第一衔铁轴611移动并压缩第一复位件62；第一电磁铁61断电，即第一线圈断电，磁场消失，此时，第一衔铁轴611在第一复位件62的带动下反向移动，如此便实现了分离针63插入和退出进料槽640。其中，第一复位件62为弹簧等其他具有弹性的部件。

在本实施例中，进料通道连接有真空发生器，通过真空发生器对进料通道内抽真空，从而将电子元器件80吸入进料槽640内；当然在其他实施例中，吸料通道还可以通过其他方式实现抽真空，在此不作限定。

在本申请的另一个实施例中，结合图1、图7和图8所示，提供的该电性耐压测试机的分离机构60还包括吹气组件和位移驱动件65，底板642开设有排料通道6421，位移驱动件65与机架10连接，位移驱动件65的驱动端与移动板644连接，并用于驱动移动板644移动，以开闭排料通道6421的进料口；吹气组件用于在排料通道6421的进料口开启时，将歪斜的电子元器件80和/或杂质吹入排料通道6421内。具体地，位移驱动件65驱动移动板644移动，将排料通道6421的进料口打开后，吹气组件将歪斜的电子元器件80和/或杂质吹入排料通道6421，如此便将歪斜的电子元器件80和杂质排出，保证电子元器件80输送的通畅性，提高测试效率。其中，位移驱动件65可为气缸、直线模组或者其他能够驱动移动板644移动的部件，在此不做限定。杂质可以是电子元器件上的碎料或者运行过程中进入的外部部件等物质。

在本实施例中，吹气组件可为设置于机架10内通道，当通道通负压时，通道内形成负压可将电子元器件80吸入转盘21的容纳槽211内；当通道通正压时，通道内吹出气体，从而将歪斜的电子元器件80和杂质吹入排料通道6421内，当然在其他实施例中，吹气组件还可为气枪等其他能够吹气的部件，在此不做限定。

在本实施例中，排料通道6421通过排料管646与真空发生器连接，通过真空发生器对排料通道6421内抽真空并形成负压，这样在吹气组件和排料通道6421的负压双重作用下，歪斜的电子元器件80更容易进入排料管646内排出，歪斜的电子元器件80排出的效果更好；当然在其他实施例中，吸料通道内还可以通过其他方式形成负压，在此不作限定。

在本实施例中，结合图1、图7和图8所示，分离机构60还包括检测组件66，检测组件66包括用于检测电子元器件80进料槽640内的第一光纤传感器661，第一光纤传感器661检测到电子元器件80进入进料槽640内后，触发第一电磁铁61断电，使得分离针63插入进料槽640内，阻挡在后的电子元器件80；其中，检测组件66还包括装配架662、摆臂663和固定座664，装配架662安装于工作平台14上，固定座664与装配架662转动连接，第一光纤传感器661安装于固定座664上，固定座664设置于进料槽640，并封闭进料槽640的部分开口，进料槽640处于半封闭状态，使得电子元器件80更容易被吸入容纳槽211和排料通道6421内；同时，摆臂663的一端与装配架662连接，摆臂663的另一端抵接在固定座664，以使得固定座664抵紧在进料板643和移动板644上，以稳定可靠地封闭进料槽640上方部分开口，以提高电子元器件80被吸入容纳槽211和排料通道6421内的顺畅性也就更好；另外，由于固定座664与装配架662转动连接，当歪斜的电子元器件80或杂质无法吸入排料通道6421内时，能够向上转动固定座664，以将进料槽640的开口打开，方便操作人员手动将歪斜的电子元器件80或杂质取出，手动解决上料堵塞问题。

在本实施例中，安装架641设置有用于检测第一衔铁轴611位置的接近开关645，当接近开关645检测到第一衔铁轴611处在顶起不到位或者卡顿时，也就是说，第一衔铁轴611顶到电子元器件80，即电子元器件80处于歪斜状态，同时，接近开关645触发位移驱动件65将移动板644打开，实现歪斜的电子元器件80的排出。

在本申请的另一个实施例中，结合图10所示，提供的该电性耐压测试机的测试站41包括支撑座411、滑动座412、第二电磁铁413、第二复位件和用于耐压测试的探针414，其中，探针414与电子元器件80的引脚接触，以实现电子元器件80的电性耐压测试；支撑座411安装于支撑平台11上，第二电磁铁413安装于支撑座411上，第二电磁铁413具有可伸缩的第二衔铁轴4131，滑动座412与支撑座411滑动连接，探针414与滑动座412连接；第二衔铁轴4131与滑动座412连接，并用于在第二电磁铁413通电时，驱动滑动座412移动，以使得探针414与电子元器件80电性接触；第二复位件连接于滑动座412与支撑座411之间，并用于在第二电磁铁413断电时，驱动滑动座412反向移动，以使得探针414与电子元器件80分离。

具体地，当电子元器件80移动到测试站41处时，给第二电磁铁413通电，第二衔铁轴4131移动并驱动滑动座412移动，滑动座412移动带动探针414移动，从而与电子元器件80的引脚接触，实现耐压测试电路的导通；当测试完成后，第二电磁铁413断电，第二复位件驱动滑动座412反向移动，使得探针414与电子元器件80分离，从而实现测试电路的断开。

在本实施例中，支撑座411包括绝缘板4111和安装于绝缘板4111上的支撑架4112，支撑架4112安装于固定架13内，第二电磁铁413和滑动座412均安装于支撑架4112上并位于转盘21的下方；绝缘板4111位于转盘21和支撑架4112之间，并用于支撑容纳槽211内的电子元器件80，绝缘板4111开设有探针孔，探针414的测试角穿设于探针孔内，并能够在滑动座412的带动下，使得探针414的测试角伸出探针孔外，以与电子元器件80的引脚接触，实现测试电路的导通，当滑动座412的带动下，探针414的测试角缩回探针孔内，此时，探针414的测试角与电子元器件80的引脚分离，如此便实现测试电路的断开。其中，绝缘板4111为陶瓷板等其他具有绝缘性能的板件。具体地，绝缘板4111包括板体和镶嵌在板体上的陶瓷，并通过陶瓷实现绝缘，当然在其他实施例中，绝缘板4111还可以是其他类型结构的绝缘形式，在此不做限定。

在本实施例中，滑动座412通过滑动导轨或者滑动杆等滑动结构与支撑架4112滑动连接，当然在其他实施例中，还可以是其他结构。

在本实施例中，第二电磁铁413内还具有第二线圈，第二衔铁轴4131穿设于第二线圈内，第二电磁铁413通电，即第二线圈通电，第二线圈通电产生磁场从而带动第二衔铁轴4131移动并压缩第二复位件；第二电磁铁413断电，即第二线圈断电，磁场消失，此时，第二衔铁轴4131在第二复位件的带动下反向移动，如此便实现了探针414与电子元器件80的电性接触和分离。其中，第二复位件为弹簧等其他具有弹性的部件。

在本实施例中，结合图1所示，各测试站41还包括装置主体42，装置主体42与探针414电性连接，其中，该装置主体42为目前市面上用于电性耐压测试的测试装置，其具体的结构在此不在赘述。机架10的右侧还包括固定柜77，各测试站41的装置主体42从上到下依次安装于固定柜77的隔层内。

在本申请的另一个实施例中，提供的该电性耐压测试机的探针414为片式探针414。探针414常用片状结构，探针414与电子元器件80的引脚之间的接触面积大，探针414与电子元器件80之间的接触可靠性好，测试精度高，另外，电子元器件80与探针414之间在高压环境下也不会出现打火现象。

在本申请的另一个实施例中，结合图4所示，提供的该电性耐压测试机的排料机构50包括设置于机架10上的良品通道51和不良品通道52，良品通道51用于将测试合格的电子元器件80排出；不良品通道52用于将测试不合格的电子元器件80排出。电子元器件80经过测试后，合格的电子元器件80进入良品通道51内；而检测不合格的不良品进入不良品通道52内，从而实现了电子元器件80的不良品和良品的分选。

在本实施例中，良品通道51和不良品通道52贯穿阻挡圈142、固定圈141和工作平台14，并沿转盘21的周向间隔设置，良品通道51和不良品通道52的进料口处均设置有气管53；当转盘21转动到对应的良品通道51和不良品通道52，且不需要排料时，气管53连通负压，将电子元器件80吸附到对应的位置；当需要排料时，气管53连通正压，将电子元器件80吹入对应的通道内排料。支架12内设置有储料盒76，良品会沿着良品通道51进入与之对应连通的储料盒76内进行储存；同理，不良品会沿着不良品通道52进入对应的储料盒76内进行储存。其中，不良品通道52的数量可为多个，不良品通道52可根据电子元器件80不同的缺陷进行分类，且不良品通道52与储料盒76一一对应设置，这样便将不同缺陷的不良品进行分类，以方便后续电子元器件80的缺陷分析。

在本实施例中，结合图1和图2所示，排料机构50还包括多个第二光纤传感器，第二光纤传感器安装于阻挡圈142上，并与良品通道51和不良品通道52一一对应设置，第二光纤传感器检测容纳槽211内的良品和不良品有没有正确地从对应的良品通道51和不良品通道52排出。在本实施例中，旋转驱动件22可为电机，电机上设置有编码器23，编码器23能够记录电机的输出轴旋转角度，从而检测转盘21上电子元器件80的移动位置，并为后续的良品和不良品排出提供位置参考，以保证良品和不良品准确地落入良品通道51和不良品通道52内。

在本实施例中，结合图1和图2所示，上料机构30包括安装于支撑平台11上的储料斗31和震动盘32，储料斗31安装于支撑平台11上，储料斗31位于震动盘32的上方，震动盘32的出料口与进料槽640连通；在具体使用时，操作人员将电子元器件80倒入储料斗31内，电子元器件80从储料斗31的底部流出后进入震动盘32内，震动盘32把电子元器件80有序地以预设的姿态连续送入进料槽640内，如此便实现了电子元器件80的自动化上料。

以上仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种电性耐压测试机，其特征在于，包括：

机架，所述机架设置有支撑平台；

输送机构，所述输送机构安装于所述支撑平台上，并用于输送电子元器件，其中，所述电子元器件沿所述输送机构的输送方向分为若干组所述电子元器件，每组所述电子元器件的数量为a，且a≥3；

上料机构，所述上料机构安装于所述支撑平台上，并用于将所述电子元器件输送到所述输送机构上；

测试机构，所述测试机构包括a个测试站，所述测试站安装于所述支撑平台上，并沿所述输送机构的输送方向分布，各所述测试站分别用于一一对应地测试每组所述电子元器件中的所述电子元器件；

排料机构，所述排料机构设置于所述机架，并位于所述输送机构的出料口处，并用于经所述测试机构测试后的所述电子元器件排出；

所述电性耐压测试机还包括设置于所述机架上的分离机构，所述分离机构位于所述上料机构的出料口和所述输送机构的进料口之间，且用于将所述上料机构输送而来相邻的两个所述电子元器件分离；

所述分离机构包括第一电磁铁、第一复位件、分离针和与所述支撑平台连接的安装座，所述安装座形成有用于连通所述输送机构的进料口和所述上料机构的出料口的进料槽；

所述第一电磁铁安装于所述安装座上，所述第一电磁铁具有可伸缩的第一衔铁轴，所述第一衔铁轴与所述分离针连接，并用于在所述第一电磁铁通电时，推动所述分离针退出所述进料槽；

所述第一复位件连接于所述安装座与所述第一衔铁轴之间，并用于在所述第一电磁铁断电时，推动所述第一衔铁轴复位移动，且所述第一衔铁轴在复位移动时带动所述分离针插入所述进料槽，以将相邻的两个所述电子元器件分离

所述安装座包括安装架、底板、进料板和移动板，所述进料板和所述移动板间隔设置于所述底板上，并围设形成所述进料槽；所述底板安装于所述支撑平台，所述第一电磁铁设置于所述安装架上，所述第一复位件连接于所述安装架与所述第一衔铁轴之间；

所述底板内设置有与所述进料槽相连通的进料通道，所述进料通道用于将所述上料机构输送而来的所述电子元器件吸入所述进料槽内；

所述分离机构还包括吹气组件和位移驱动件，所述底板开设有排料通道，所述位移驱动件与所述机架连接，所述位移驱动件的驱动端与所述移动板连接，并用于驱动所述移动板移动，以开闭所述排料通道的进料口；所述吹气组件用于在所述排料通道的进料口开启时，将歪斜的所述电子元器件和/或杂质吹入所述排料通道内；

所述测试站包括支撑座、滑动座、第二电磁铁、第二复位件和用于耐压测试的探针，所述支撑座安装于所述支撑平台上，所述第二电磁铁安装于所述支撑座上，所述第二电磁铁具有可伸缩的第二衔铁轴，所述滑动座与所述支撑座滑动连接，所述探针与所述滑动座连接；

所述第二衔铁轴与所述滑动座连接，并用于在所述第二电磁铁通电时，驱动所述滑动座移动，以使得所述探针与所述电子元器件电性接触；

所述第二复位件连接于所述滑动座与所述支撑座之间，并用于在所述第二电磁铁断电时，驱动所述滑动座反向移动，以使得所述探针与所述电子元器件分离。

2.根据权利要求1所述的电性耐压测试机，其特征在于：所述输送机构包括转盘和设置于所述支撑平台上的旋转驱动件，所述旋转驱动件的驱动端与所述转盘连接，并用于驱动所述转盘转动；所述转盘的周缘处设置有用于容纳所述电子元器件的容纳槽，所述容纳槽的数量大于等于a，所述容纳槽沿所述转盘的周向间隔设置，所述测试站沿所述转盘的转动方向分布。

3.根据权利要求2所述的电性耐压测试机，其特征在于：当a＝5时，所述容纳槽的数量为50时，以与所述上料机构相对的所述容纳槽为第1个，并沿所述转盘的转动方向依次编号，5个所述测试站依次设置于在第10个所述容纳槽的位置、第17个所述容纳槽的位置、第23个所述容纳槽的位置、第29个所述容纳槽的位置和第36个所述容纳槽的位置。

4.根据权利要求1所述的电性耐压测试机，其特征在于：所述探针为片式探针。

5.根据权利要求1~3任一项所述的电性耐压测试机，其特征在于：所述排料机构包括设置于所述机架上的良品通道和不良品通道，所述良品通道用于将测试合格的所述电子元器件排出；所述不良品通道用于将测试不合格的所述电子元器件排出。

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