CN113770045A - 直进上料式分光机 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种直进上料式分光机，包括主转盘组件、供料组件、分离针组件、测试组件、收料组件和下料组件。供料组件向主转盘组件供应分选件，分选件在主转盘组件的驱动下由上料位输送至下料位。在此过程中，测试组件可对分选件进行测试；下料组件可根据测试结果将分选件输送至收料组件的指定位置处，实现分类存储。通过将供料组件与主转盘组件的上料位直接接驳，可实现分选件的直接上料；通过分离针组件可将供料组件上的相邻两个分选件隔开，以供前一个分选件输送至主转盘组件上，并将后一个分选件抵挡，可提高分选件的上料可靠性。本申请实施例提供的直进上料式分光机取消了吸嘴旋转摆臂，从而克服了分选件易脱离吸嘴，影响上料效率的问题。

Description

直进上料式分光机

技术领域

本申请属于分光机技术领域，更具体地说，是涉及一种直进上料式分光机。

背景技术

分光机是按照波长、亮度、工作电压等参数将LED(Light Emitting Diode，发光二极管)芯片分成多个组别以进行分类的设备。LED芯片在上料的过程中，通常由吸嘴旋转摆臂将振动送料组件输送来的LED芯片吸取后，随后转移至转盘的定位槽中实现吸附固定。

但是，对于尺寸较大的LED芯片来说，通过吸嘴旋转摆臂来转移LED芯片，对于吸嘴的要求较高，LED芯片易脱离吸嘴，从而影响LED芯片的上料效率。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种直进上料式分光机，以解决相关技术中存在的：分光机采用吸嘴旋转摆臂将LED芯片由振动送料组件转移至转盘上，LED芯片易脱离吸嘴，上料效率低的问题。

为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：

提供一种直进上料式分光机，包括：

主转盘组件，具有上料位和下料位，用于将分选件由所述上料位输送至所述下料位；

供料组件，与所述上料位接驳，用于向所述主转盘组件供应所述分选件；

分离针组件，用于伸入所述供料组件上的相邻两个所述分选件之间，以供前一个所述分选件输送至所述主转盘组件上，并将后一个所述分选件抵挡；

测试组件，设于所述上料位与所述下料位之间，用于测试所述分选件；

收料组件，用于分类存储所述分选件；

下料组件，连接所述收料组件与所述下料位，用于将所述主转盘组件上的所述分选件输送至所述收料组件中。

此结构，供料组件向主转盘组件供应分选件，分选件在主转盘组件的驱动下由上料位输送至下料位。在此过程中，测试组件可对分选件进行测试；下料组件可根据测试结果将分选件输送至收料组件的指定位置处，从而实现对分选件的分选存储。本申请通过将供料组件与主转盘组件的上料位直接接驳，可实现分选件的直接上料；而且，通过分离针组件可将供料组件上的相邻两个分选件隔开，以供前一个分选件输送至主转盘组件上，并将后一个分选件抵挡，从而可提高分选件的上料可靠性。因此，本申请实施例提供的直进上料式分光机取消了吸嘴旋转摆臂，从而克服了分选件易脱离吸嘴，影响上料效率的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或示范性技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的直进上料式分光机的部分立体结构示意图一；

图2为本申请实施例提供的直进上料式分光机的部分立体结构示意图二；

图3为本申请实施例提供的分离针组件的立体结构示意图；

图4为本申请实施例提供的分离针与送料架连接的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的主转盘组件的立体结构示意图；

图6为图2中A处的放大示意图；

图7为图5中B处的放大示意图；

图8为本申请实施例提供的直进上料式分光机的部分立体结构示意图三；

图9为本申请实施例提供的校正组件的立体结构示意图；

图10为图9的部分分解示意图；

图11为本申请实施例提供的测试组件的立体结构示意图；

图12为图11的分解示意图；

图13为本申请实施例提供的第一探针或第二探针的分解示意图；

图14为本申请实施例提供的下料组件的立体结构示意图；

图15为本申请实施例提供的收料组件的立体结构示意图。

其中，图中各附图主要标记：

1、主转盘组件；11、转盘；111、转环；112、定位槽；1120、气孔；12、直进盘电机；

2、供料组件；21、料斗；22、振动盘；221、送料架；2210、通孔；

3、分离针组件；31、支撑座；311、基座；312、升降动力单元；3121、升降导轨；3122、升降旋钮；313、纵移动力单元；3131、纵移导轨；3132、纵移旋钮；3133、纵移滑块；314、横移动力单元；3141、横移导轨；3142、横移旋钮；3143、横移滑块；32、分离针；321、斜面；33、升降驱动单元；331、电磁铁；

4、测试组件；41、测试座；411、测试顶座；412、测试升降单元；4121、测试竖导轨；4122、升降调节旋钮；413、测试纵移单元；4131、测试纵导轨；4132、纵向调节旋钮；4133、纵向滑块；414、测试横移单元；4141、测试横导轨；4142、横向调节旋钮；4143、横向滑块；42、第一探针；421、探针底座；4211、凹槽；4212、引导槽；422、探针上盖；423、探针本体；4231、限位块；424、探针弹簧；43、第二探针；44、测试驱动单元；441、抵挡块；442、凸轮；443、测试电机；444、复位弹簧；

5、收料组件；51、箱架；52、料筒；53、抽屉；54、插管；55、盖板；56、导向板；

6、下料组件；61、下料座；62、吹嘴；63、下料管；

7、机架；70、积分球；71、吹料座；72、吹料针；73、助吹电磁阀；74、吸料座；740、吸料孔；75、反吹电磁阀；76、接头；77、离子风机；78、电脑主机；79、显示器；700、打印机；701、控制面板；702、报警器；

8、检测单元；81、转动臂；82、对射光纤；83、角度调节旋钮；

9、校正组件；91、校正座；911、校正底座；912、校正顶座；9120、腰型孔；9121、第二锁紧件；913、第一锁紧件；92、定位座；93、校正环；94、弹性件；

100、分选件。

具体实施方式

为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在整个说明书中参考“一个实施例”或“实施例”意味着结合实施例描述的特定特征，结构或特性包括在本申请的至少一个实施例中。因此，“在一个实施例中”或“在一些实施例中”的短语出现在整个说明书的各个地方，并非所有的指代都是相同的实施例。此外，在一个或多个实施例中，可以以任何合适的方式组合特定的特征，结构或特性。

为了方便描述，定义空间上相互垂直的三个坐标轴分别为X轴、Y轴和Z轴，同时，沿X轴的方向为纵向，沿Y轴的方向为横向，沿Z轴方向为竖向；其中X轴与Y轴为同一水平面相互垂直的两个坐标轴，Z轴为竖直方向的坐标轴；X轴、Y轴和Z轴位于空间相互垂直有三个平面分别为XY面、YZ面和XZ面，其中，XY面为水平面，XZ面和YZ面均为竖直面，且XZ面与YZ面垂直。空间中三轴为X轴、Y轴和Z轴，沿空间上三轴移动指沿空间上相互垂直的三轴移动，特指在空间上沿X轴、Y轴和Z轴移动；而平面移动，则为在XY面移动。

请参阅图1和图2，现对本申请实施例提供的直进上料式分光机进行说明。该直进上料式分光机包括主转盘组件1、供料组件2、分离针组件3、测试组件4、收料组件5和下料组件6。其中，该直进上料式分光机还可包括机架7，主转盘组件1、供料组件2、分离针组件3、测试组件4、收料组件5和下料组件6可分别安装于该机架7上，以方便组装、移动、搬运及使用。

其中，供料组件2可包括分别安装于机架7上的料斗21和振动盘22，料斗21用于向振动盘22供应分选件100。其中，分选件100可为LED芯片。振动盘22的进料端与料斗21的出料端接驳，振动盘22的出料端与主转盘组件1的上料位接驳。振动盘22具有送料架221，振动盘22可通过振动方式将位于送料架221上的多个分选件100排队且逐一输送至主转盘组件1上。

主转盘组件1可安装于机架7上，主转盘组件1具有与供料组件2的出料端接驳的上料位和用于排出分选件100的出料位。在主转盘组件1的驱动作用下，可将分选件100由上料位输送至下料位。

请参阅图4，分离针组件3可安装于机架7上，分离针组件3可设于供料组件2靠近主转盘组件1的一端。当供料组件2向主转盘组件1输送分选件100时，靠近主转盘组件1的两个分选件100在振动盘22的作用下向靠近主转盘组件1的方向移动。此时，分离针组件3可伸入这两个分选件100之间，在振动盘22的继续振动作用下，位于分离针组件3前面一个分选件100可顺利输送至主转盘组件1上，后一个分选件100可被分离针组件3抵挡，从而可避免后一个分选件100对前一个分选件100的抵推，导致前一个分选件100的上料不稳定。

测试组件4可安装于机架7上，测试组件4可设于上料位与下料位之间。当主转盘组件1驱动分选件100由上料位输送至下料位的过程中，各分选件100可经过测试组件4，该测试组件4可对各分选件100进行性能测试。

收料组件5可安装于机架7上并位于主转盘组件1的下方。当测试组件4对各分选件100进行性能测试后，下料组件6可在对应地的下料位将分选件100输送至收料组件5对应的位置处，以实现对不同品质的分选件100进行分类存储。

下料组件6可安装于机架7上，下料组件6可将主转盘组件1的下料位与收料组件5连接。下料组件6可将经测试组件4测试后的分选件100由不同的下料位输送至收料组件5中进行分类存储。

此结构，供料组件2向主转盘组件1供应分选件100，分选件100在主转盘组件1的驱动下由上料位输送至下料位。在此过程中，测试组件4可对分选件100进行测试；下料组件6可根据测试结果将分选件100输送至收料组件5的指定位置处，实现分类存储。本申请通过将供料组件2与主转盘组件1的上料位接驳，可实现分选件100的直接上料；而且，通过分离针组件3可将供料组件2上的相邻两个分选件100隔开，以供前一个分选件100输送至主转盘组件1上，并将后一个分选件100抵挡，从而可提高分选件100的上料可靠性。因此，本申请实施例提供的直进上料式分光机取消了吸嘴旋转摆臂，从而克服了分选件100易脱离吸嘴，影响上料效率的问题。

在一个实施例中，请参阅图3和图4，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，分离针组件3包括设于供料组件2靠近主转盘组件1的一端之下方的支撑座31、安装于支撑座31上的分离针32和安装于支撑座31上并与分离针32相连的升降驱动单元33；供料组件2上开设有供分离针32穿过的通孔2210。具体地，支撑座31可安装于机架7上；送料架221上开设有该通孔2210。此结构，当送料架221在振动盘22的振动作用下朝靠近主转盘组件1的方向移动时，在升降驱动单元33的驱动作用下，分离针32可穿过通孔2210并伸入位于送料架221最前端的两个分选件100之间。送料架221在振动盘22的继续振动作用下，位于主转盘组件1与分离针32之间的分选件100可被输送至主转盘组件1上，另一个分选件100可被分离针32抵挡，避免将前一个分选件100从主转盘组件1上抵推出去。

在一个实施例中，请参阅图3，升降驱动单元33可包括安装于分离针32上的磁性件(图未示)和安装于支撑座31上的电磁铁331。其中，磁性件可为铁、镍等金属件。此结构，当电磁铁331通电时，磁性件与电磁铁331吸合,；当电磁铁331断电时，磁性件通过弹簧作用力实现与电磁铁331分离，从而可实现分离针32的上下移动，并实现分离针32进出通孔2210。当然，在其它实施例中，升降驱动单元33也可为与分离针32相连的气缸、电缸、油缸等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图3，支撑座31可包括分别支撑分离针32与升降驱动单元33的基座311、用于驱动基座311升降(图中的Z轴方向)的升降动力单元312、用于驱动基座311纵向移动(图中的Y轴方向)的纵移动力单元313和用于驱动基座311横向移动(图中的X轴方向)的横移动力单元314；横移动力单元314可安装于机架7上，纵移动力单元313安装于横移动力单元314上，升降动力单元312安装于纵移动力单元313上，基座311安装于升降动力单元312上。此结构，通过升降动力单元312、纵移动力单元313和横移动力单元314可对分离针32的位置进行多方位调节。

在一个实施例中，请参阅图3，横移动力单元314可包括安装于机架7上的横移导轨3141、安装于横移导轨3141上的横移旋钮3142和安装于横移导轨3141上的横移滑块3143，横移滑块3143上开设有供横移旋钮3142的螺杆伸入的螺丝孔；纵移动力单元313可安装于横移滑块3143上。此结构，通过调节横移旋钮3142，进而可带动横移滑块3143、纵移动力单元313和分离针32横向移动。当然，在其它实施例中，横移动力单元314也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图3，纵移动力单元313可包括安装于横移滑块3143上的纵移导轨3131、安装于纵移导轨3131上的纵移旋钮3132和安装于纵移导轨3131上的纵移滑块3133，纵移滑块3133上开设有供纵移旋钮3132的螺杆伸入的螺丝孔；升降动力单元312可安装于纵移滑块3133上。此结构，通过调节纵移旋钮3132，进而可带动纵移滑块3133、升降动力单元312和分离针32纵向移动。当然，在其它实施例中，纵移动力单元313也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图3，升降动力单元312可包括滑动安装于纵移滑块3133上的升降导轨3121和安装于升降导轨3121上的升降旋钮3122，纵移滑块3133上开设有供升降旋钮3122的螺杆伸入的螺丝孔，基座311安装于升降导轨3121上。此结构，通过调节升降旋钮3122，进而可带动升降导轨3121、基座311和分离针32升降。当然，在其它实施例中，升降动力单元312也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图4，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，分离针32远离升降驱动单元33的一端设有斜面321，斜面321朝远离主转盘组件1的方向倾斜设置。此结构，当分离针32在升降驱动单元33的作用下上升至相邻两个分选件100之间时，斜面321可将位于后面的分选件100向后抵推，达到较好的分离效果。当分离针32在升降驱动单元33的作用下下降时，斜面321可起到连接作用，便于后面的分选件100继续向前移动，起到过料作用。

在一个实施例中，请参阅图5至图7，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，主转盘组件1包括转盘11和与转盘11连接的直进盘电机12，直进盘电机12可安装于机架7上。转盘11的边沿朝远离直进盘电机12的方向设置有转环111，转环111上环型阵列开设有多个定位槽112，各定位槽112的底面开设有气孔1120，转盘11上开设有连接各气孔1120的通道(图未示)，该通道可与外部气源连接。当外部气源抽气时，可实现多个气孔1120的抽真空，从而实现对分选件100的吸附。当外部气源排气时，多个气孔1120排气，可解除对分选件100的吸附，并能对气孔1120进行反吹清理异物或灰尘，防止堵塞。该直进上料式分光机还包括安装于机架7上的吹料座71，以及分别安装于吹料座71上的吹料针72与助吹电磁阀73，该助吹电磁阀73与吹料针72相连。此结构，当助吹电磁阀73排气时，吹料针72可将位于分离针32前面的分选件100朝相应定位槽112的方向吹，实现一次加速上料，有助于提高分选件100的上料效率。

在一个实施例中，请参阅图2，该直进上料式分光机还包括安装于机架7上的积分球70，该积分球70可设于分离针组件3与测试组件4之间，积分球70的收光口中心与相应定位槽112上的气孔1120的中心对齐。积分球70是在分选件100被点亮时，对分选件100发出的光线进行收集，通过与积分球70连接的光谱仪可获得分选件100的光学数据。

在一个实施例中，请参阅图6和图8，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，直进上料式分光机还包括用于将供料组件2上的分选件100吸至相应定位槽112中的吸料座74、开设于吸料座74上的吸料孔740和与吸料孔740连通的反吹电磁阀75，吸料座74安装于吹料座71上，吹料针72和吸料座74分别设于上料位的两侧，反吹电磁阀75可设于机架7上。具体地，转盘11的转环111可设于吸料座74与吹料针72之间。此结构，当反吹电磁阀75吸气时，吸料座74通过吸料孔740可将位于分离针32前面的分选件100朝相应定位槽112的方向吸，实现二次加速上料，并配合吹料针72的吹料加速，可进一步提高分选件100的上料效率，进而提高分选效率。而且，当反吹电磁阀75排气时，可将吸料孔740和定位槽112中的杂质排出。

在一个实施例中，请参阅图6和图8，直进上料式分光机还包括用于检测定位槽112上是否有分选件100的检测单元8，该检测单元8可设置于吹料座71上。此结构，通过检测单元8确保定位槽112上存在分选件100，从而保证后续正常作业。

在一个实施例中，请参阅图8，该检测单元8可包括转动安装于吹料座71上的转动臂81和安装于转动臂81之两端的对射光纤82，两个对射光纤82之间间隔形成供转盘11的转环111穿过的通道。转动臂81与水平面倾斜设置，从而可保证两个对射光纤82的连线倾斜于水平面，从而有助于提高监测效果。转动臂81与吹料座71之间可通过角度调节旋钮83连接。通过对角度调节旋钮83的调节，可对两个对射光纤82的倾斜角度进行调节。

在一个实施例中，请参阅图2，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，直进上料式分光机还包括用于对各定位槽112中的分选件100进行位置校正的校正组件9，校正组件9设于分离针组件3与测试组件4之间。此结构，通过校正组件9可将分选件100的位置进行校正，以保证后续分选件100的测试精度。

在一个实施例中，请参阅图9和图10，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，校正组件9包括校正座91、间隔安装于校正座91上的两个定位座92、安装于各定位座92上的校正环93和弹性抵推相应校正环93的弹性件94，各弹性件94的一端与相应定位座92抵接，各弹性件94的另一端与相应校正环93抵接；两个校正环93分别设于各定位槽112的两侧。具体地，两个校正环93之间间隔形成供转盘11的转环111穿过的通道。此结构，当转盘11转动的过程中，转环111的两端可分别与两个校正环93抵接。当定位槽112经过两个校正环93时，两个校正环93的弧形面可在弹性件94的缓冲作用下将分选件100的位置进行校正。其中，弹性件94可为弹簧。

在一个实施例中，请参阅图10，校正座91可包括安装于机架7上的校正底座911和安装于校正底座911上的校正顶座912，校正顶座912与校正底座911之间可通过第一锁紧件913锁紧连接，从而可调节校正顶座912在校正底座911上的安装高度，进而可调节两个校正环93的高度。校正顶座912上开设有腰型孔9120，腰型孔9120中安装有两个第二锁紧件9121，各第二锁紧件9121与定位座92连接。通过调节两个锁紧件在腰型孔9120中的锁紧位置，从而可调节两个定位座92与两个校正环93之间的间距，以适应于不同尺寸大小的分选件100。其中，第一锁紧件913和第二锁紧件9121可为螺丝、螺栓等。

在一些实施例中，校正组件9也可为机械手臂，或者是抵推杆与气缸的组合构件，通过气缸启动抵推杆移动，抵推杆抵推分选件100，从而可对分选件100的位置进行调节。当然，在其它实施例中，校正组件9的结构也可以根据实际需要进行调节，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图11和图12，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，测试组件4包括测试座41、安装于测试座41上的第一探针42、用于与第一探针42配合夹持分选件100的第二探针43和用于驱动第二探针43与第一探针42相互靠近或远离的测试驱动单元44，测试驱动单元44安装于测试座41上，测试驱动单元44与第二探针43相连。具体地，第一探针42与第二探针43之间间隔形成供转环111通过的通道。此结构，当分选件100通过转盘11转动至第一探针42与第二探针43之间时，测试驱动单元44驱动第一探针42和第二探针43相互靠近，第一探针42和第二探针43可将分选件100夹持，从而可分别与分选件100的引脚连通，分选件100通电后被点亮，并对分选件100的性能参数进行测试。

在一个实施例中，请参阅图12，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，测试驱动单元44包括安装于测试座41上抵挡块441、安装于第二探针43与抵挡块441之间的凸轮442和安装于测试座41上并与凸轮442连接的测试电机443。此结构，测试电机443驱动凸轮442转动时，凸轮442在转动的过程中可间歇性抵推第二探针43，实现第二探针43与第一探针42的相互远离与靠近。

在一个实施例中，请参阅图12，第二探针43与抵挡块441之间可通过复位弹簧444连接，有助于第二探针43的复位。

在一个实施例中，请参阅图11和图12，测试座41可包括分别支撑第一探针42、第二探针43与测试驱动单元44的测试顶座411，用于驱动测试顶座411升降(图中的Z轴方向)的测试升降单元412，用于驱动测试顶座411纵向移动(图中的Y轴方向)的测试纵移单元413，以及用于驱动测试顶座411横向移动(图中的X轴方向)的测试横移单元414；测试横移单元414可安装于机架7上，测试纵移单元413安装于测试横移单元414上，测试升降单元412安装于测试纵移单元413上，测试顶座411安装于测试升降单元412上。此结构，通过测试升降单元412、测试纵移单元413和测试横移单元414可对第一探针42与第二探针43的位置进行多方位调节。

在一个实施例中，请参阅图11，测试横移单元414可包括安装于机架7上的测试横导轨4141、安装于测试横导轨4141上的横向调节旋钮4142和安装于测试横导轨4141上的横向滑块4143，横向滑块4143上开设有供横向调节旋钮4142的螺杆伸入的螺丝孔；测试纵移单元413安装于横向滑块4143上。此结构，通过调节横向调节旋钮4142，进而可带动横向滑块4143横向移动。当然，在其它实施例中，测试横移单元414也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图12，测试纵移单元413可包括安装于横向滑块4143上的测试纵导轨4131、安装于测试纵导轨4131上的纵向调节旋钮4132和安装于测试纵导轨4131上的纵向滑块4133，纵向滑块4133上开设有供纵向调节旋钮4132的螺杆伸入的螺丝孔；测试升降单元412安装于纵向滑块4133上。此结构，通过调节纵向调节旋钮4132，进而可带动纵向滑动纵向移动。当然，在其它实施例中，测试纵移单元413也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图12，测试升降单元412可包括安装于纵向滑块4133上的测试竖导轨4121和安装于测试竖导轨4121上的升降调节旋钮4122，测试顶座411上开设有供升降调节旋钮4122的螺杆伸入的螺丝孔，测试定做安装于测试竖导轨4121上。此结构，通过调节升降调节旋钮4122，进而可带动测试顶座411升降。当然，在其它实施例中，测试升降单元412也可为丝杆传动机构、滑台直线电机或气缸传动机构等，在此不作唯一限定。

在一个实施例中，请参阅图13，由于第一探针42与第二探针43的结构相同，即仅以第一探针42的结构进行说明。第一探针42可包括探针底座421、与探针底座421可拆卸连接的探针上盖422、滑动安装于探针底座421上的探针本体423和用于弹性抵推该探针本体423的探针弹簧424；探针底座421上开设有容置探针弹簧424的凹槽4211，凹槽4211的两端分别开设有引导槽4212，探针本体423的两端分别安装于两个引导槽4212中，且探针本体423的探测端伸出探针底座421。探针本体423上设有限位块4231，探针弹簧424套设于探针本体423上，探针弹簧424的一端与限位块4231抵接，探针弹簧424的另一端与凹槽4211的内侧壁抵接。此结构，当第一探针42与第二探针43相互靠近夹持分选件100时，探针弹簧424可起到对探针本体423的缓冲保护作用，避免对分选件100造成损坏。

在一个实施例中，请参阅图14，作为本申请实施例提供的直进上料式分光机的一种具体实施方式，下料组件6包括下料座61、安装于下料座61上的吹嘴62和与吹嘴62相对设置的下料管63，下料管63安装于下料座61上，吹嘴62和下料管63分别位于下料位的两侧，下料管63远离吹嘴62的一端与收料组件5连接。具体地，吹嘴62与下料管63之间间隔形成供转盘11的转环111穿过的通道。此结构，吹嘴62可与供气设备连接，当吹嘴62吹气时，可将定位槽112中的分选件100吹至下料管63中，在下料管63的引导作用下，分选件100进入收料组件5实现分类存储。

在一个实施例中，请参阅图14，下料座61可安装于机架7上，下料座61可呈弧形设置，转盘11上设置有多个下料位，下料座61上对应于各下料位的位置处分别设置有一个吹嘴62和一个下料管63。当测试组件4对各分选件100进行测试后，系统根据测试结果可将分选件100从对应的下料位排出，从而实现分选。

在一个实施例中，请参阅图1和图2，机架7上可间隔安装有多个接头76，接头76的数量与下料管63的数量相同。各下料管63远离下料座61的一端与相应接头76连接，各接头76与收料组件5之间可通过料管连接。目前，通常是直接将下料管63与收料组件5连接，如果下料管63发生故障需要更换，需要将整个下料管63拆解下来，这就导致下料管63的换管长度较大。而在本申请实施例中，将下料管63分为两节，并通过接头76实现连接。仅需更换一节下料管63即可，从而减少换管长度，降低成本。

在一个实施例中，请参阅图15，收料组件5包括箱架51和安装于箱架51上的多个料筒52，多个料筒52与下料管63是一一对应，各下料管63远离下料座61的一端与相应料筒52相连，从而通过料筒52来收集相应下料管63排出的分选件100，实现分选作业。

在一个实施例中，请参阅图15，收料组件5还包括抽屉53、插管54和盖板55，各料筒52安装于抽屉53中，以通过抽屉53来支撑各料筒52。抽屉53滑动安装在箱架51中，以方便取放料筒52，进而方便料筒52的更换。插管54与料筒52是一一对应，并且插管54与下料管63相连，各插管54安装在盖板55上，通过盖板55来支撑插管54，这样方便将下料管63与料筒52连通。从而在使用时，拉出抽屉53，可以将料筒52从箱架51中取出，以方便更换料筒52；而当抽屉53插入箱架51中后，各插管54与相应料筒52对应，以将料筒52与对应下料管63相连，组装方便。

在一个实施例中，请参阅图15，收料组件5还包括导向板56，各料筒52安装在导向板56中，以通过导向板56与抽屉53配合来支撑料筒52，以稳定支撑料筒52。

在一个实施例中，请参阅图1，机架7中可安装有控制系统，该控制系统可用于分别对主转盘组件1、供料组件2、分离针组件3、测试组件4、下料组件6等部件进行电气控制。机架7上还设有离子风机77，离子风机77位于机架7上靠近振动盘22的位置，以清除振动盘22上分选件100携带的静电。机架7上还安装有电脑主机78、显示器79和人机交互界面。电脑主机78设置于机架7的顶部；显示器79设置于机架7的顶部且位于电脑主机78的右侧。在电脑主机78的下侧，还设置有控制面板701，方便对分光机进行自动化控制。机架7的顶部且位于显示器79的右侧设置有打印机700，以便打印各料筒52内分选件100的信息。机架7的顶部并靠近打印机700的位置处设置有报警器702，当设备发生故障时，可进行报警提示。机架7中安装有真空泵(图未示)，以保证负压充足。真空来源不限定于真空泵，亦可由厂家集中提供并通过接头接入到设备中。

本申请实施例提供的直进上料式分光机的具体操作步骤如下：

1、供料组件2向主转盘组件1上料。具体地，振动盘22通过送料架221逐一将分选件100上料至主转盘组件1的各定位槽112中。在上料的过程中，分离针组件3可通过分离针32伸入相邻两个分选件100之间配合抵挡，实现分选件100的逐一有序上料。通过吹料针72与助吹电磁阀73可对分选件100进行吹料，实现分选件100的一次加速上料。通过吸料座74上的吸料孔740与反吹电磁阀75可对分选件100进行吸料，实现分选件100的二次加速上料。通过定位槽112中的气孔1120可将分选件100吸附固定。通过检测单元8可确保各定位槽112中均设置有分选件100。

2、校正组件9对各定位槽112中的分选件100进行位置校正。具体地，通过两个校正环93对分选件100的位置进行调节。

3、积分球70对分选件100的光学数据进行测试。

4、测试组件4对分选件100进行性能测试。通过第一探针42与第二探针43将分选件100夹持点亮，并对分选件100的性能参数进行测试。

5、下料组件6将分选件100输送至收料组件5中。具体地，下料组件6根据测试组件4的测试数据，转盘11可将分选件100输送至对应的下料位，并通过对应的吹嘴62及下料管63，将分选件100吹至对应的收料组件5的料筒52中。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。比如，步骤2、步骤3和步骤4的顺序可以互换等。

以上所述仅为本申请的可选实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.直进上料式分光机，其特征在于，包括：

主转盘组件，具有上料位和下料位，用于将分选件由所述上料位输送至所述下料位；

供料组件，与所述上料位接驳，用于向所述主转盘组件供应所述分选件；

分离针组件，用于伸入所述供料组件上的相邻两个所述分选件之间，以供前一个所述分选件输送至所述主转盘组件上，并将后一个所述分选件抵挡；

测试组件，设于所述上料位与所述下料位之间，用于测试所述分选件；

收料组件，用于分类存储所述分选件；

下料组件，连接所述收料组件与所述下料位，用于将所述主转盘组件上的所述分选件输送至所述收料组件中。

2.如权利要求1所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述分离针组件包括设于所述供料组件的下方的支撑座、安装于所述支撑座上的分离针和安装于所述支撑座上并与所述分离针相连的升降驱动单元；所述供料组件上开设有供所述分离针穿过的通孔。

3.如权利要求2所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述分离针远离所述升降驱动单元的一端设有斜面，所述斜面朝远离所述主转盘组件的方向倾斜设置。

4.如权利要求1所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述主转盘组件包括转盘和与所述转盘连接的直进盘电机，所述转盘上环型阵列开设有多个定位槽，各所述定位槽的底面开设有气孔；所述直进上料式分光机还包括吹料座、用于将所述供料组件上的所述分选件吹至相应所述定位槽中的吹料针和安装于所述吹料座上并与所述吹料针连接的助吹电磁阀，所述吹料针设于所述供料组件靠近所述转盘的一端。

5.如权利要求4所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述直进上料式分光机还包括用于将所述供料组件上的所述分选件吸至相应所述定位槽中的吸料座、开设于所述吸料座上的吸料孔和与所述吸料孔连通的反吹电磁阀，所述吸料座安装于所述吹料座上，所述吹料针和所述吸料座分别设于所述上料位的两侧。

6.如权利要求4所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述直进上料式分光机还包括用于对各所述定位槽中的所述分选件进行位置校正的校正组件，所述校正组件设于所述分离针组件与所述测试组件之间。

7.如权利要求6所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述校正组件包括校正座、间隔安装于所述校正座上的两个定位座、安装于各所述定位座上的校正环和弹性抵推相应所述校正环的弹性件，各所述弹性件的一端与相应所述定位座抵接，各所述弹性件的另一端与相应所述校正环抵接；两个所述校正环分别设于各所述定位槽的两侧。

8.如权利要求1-7任一项所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述测试组件包括测试座、安装于所述测试座上的第一探针、用于与所述第一探针配合夹持所述分选件的第二探针和用于驱动所述第二探针与所述第一探针相互靠近或远离的测试驱动单元，所述测试驱动单元安装于所述测试座上，所述测试驱动单元与所述第二探针相连。

9.如权利要求8所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述测试驱动单元包括安装于所述测试座上抵挡块、安装于所述第二探针与所述抵挡块之间的凸轮和安装于所述测试座上并与所述凸轮连接的测试电机。

10.如权利要求1-7任一项所述的直进上料式分光机，其特征在于：所述下料组件包括下料座、安装于所述下料座上的吹嘴和与所述吹嘴相对设置的下料管，所述下料管安装于所述下料座上，所述吹嘴和所述下料管分别位于所述下料位的两侧，所述下料管远离所述吹嘴的一端与所述收料组件连接。

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