TWM473603U - 電子元件轉向裝置 - Google Patents
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Description
本新型係有關於一種轉向裝置，尤指在檢測間歇性搬運流路上之電子元件極性後，將電子元件移出間歇性搬運流路進行轉向後，再移入至間歇性搬運流路並防止電子元件在此移出或移入期間被極性轉向機構剪損之電子元件轉向裝置。
習知電子元件如被動元件或發光二極體(LED)等，在產出後通常會進行物理特性之檢測與電性之量測，以進行良品的包裝與不良品的分類，此等檢測常以設有多個檢測或量測工作站之測盤作為搬運機構，使待測電子元件大量投置於震動送料機中，使其依隨機方式被整列依序輸送於測盤周緣所環列佈設之載槽中，受間歇性旋轉之搬送流路作位移搬送，而分別間歇性停留於各檢測或量測工作站中被進行極性檢測、極性轉向、電性量測、包裝、分類…等作業；其中，由於電子元件在進入測盤周緣容槽時，由於係在震動送料機中被輸送排列，其僅能將電子元件做形狀分辨而作輸送方向的排列，無法判定所輸送之電子元件係以何種極性(陽極或陰極)朝外或朝內被排列運送，故在極性檢測工作站對電子元件檢測後，會進行極性的對齊處理，將各電子元件的極
性朝同一方向排列，以供下一電性量測之機構或儀器可以取用正確之極性端作正確的量測；在檢測極性時，若搬運輸送前來的電子元件擺置方向使極性檢測顯示為正確，搬運機構在移動過程中將使該電子元件直接通過極性轉向機構；若搬運輸送前來的電子元件極性與預設者相反，則將其從測盤容槽排出至位於測盤徑向外側之極性轉向機構中，經過轉向後再將極性正確之電子元件送回到測盤容槽中進行後續之電性量測作業程序。
此種在間歇性旋轉之搬送流路上作極性轉向之習知技術，例如公告號第M393789號「往復式電子元件極性反轉裝置」，即揭露一種電子元件轉向裝置，在電子元件被依序輸送在以間歇性旋轉之搬運流路作搬送的測盤旁側，設有具有反轉軌道的反轉盤，使電子元件由反轉軌道的一端進入後，反轉盤即進行180度的旋轉，使電子元件轉向後回到測盤中，以符合預設極性之方向繼續被搬送。
該習知之公告號第M393789號「往復式電子元件極性反轉裝置」專利案之技術，在電子元件尚未完全離開或進入反轉盤之反轉軌道時，反轉盤可能就開始進行轉向；或者，電子元件已順利進入反轉盤之反轉軌道，但在轉向過程中，又因離心力被甩出反轉盤之反轉軌道，使反轉盤在進行轉向時，電子元件一部份外凸於反轉盤周緣，導致反轉盤被卡住而無法順利轉向，甚至發生電子元件被反轉盤剪損之情形。
爰是，本新型之目的，在於提供一種在進行電子元件轉向作業時防止電子元件被反轉盤剪損之電子元件轉向裝置。
依據本新型目的之電子元件轉向裝置，包括：一測盤，執行一間歇旋轉之電子元件搬運流路，其周緣等距環列佈設有複數個容槽；一轉向盤，設於該測盤旁側，其上設有一轉向區用以承接由測盤移出之電子元件予以轉向；一阻隔元件，設於測盤與轉向盤之間，其可選擇性的阻隔電子元件移出轉向盤或測盤。
本新型實施例所提供之電子元件轉向裝置，藉由在形成第一旋轉流路且流路上載有被間歇旋轉位移之電子元件的測盤，與形成第二旋轉流路其可承接所述第一旋轉流路上之電子元件予以轉向的轉向盤之間的輸送道中設置阻隔元件，使該阻隔元件可開啟或關閉電子元件自第一旋轉流路受第二旋轉流路承接之輸送道，並可選擇性的阻隔電子元件移出轉向盤或測盤；且阻隔元件之周緣緊靠於測盤與轉向盤之周緣，使阻隔元件與測盤及轉向盤之周緣間無電子元件可留置之間隙，經由測盤、轉向盤之轉定定位與第一感應器及第二感應器之感應控制阻隔元件之上下作動，使阻隔元件在下降時，電子元件可自由的在測盤與轉向盤間移動，在阻隔元件上升時，發揮了阻擋之作用，確保電子元件完全留置於測盤之容槽或轉向盤之轉向區，防止電子元件部份外凸而被轉向盤或測盤剪損之情形發生。
1‧‧‧電子元件轉向裝置
11‧‧‧測盤
111‧‧‧容槽
112‧‧‧通氣孔
12‧‧‧轉向盤
121‧‧‧轉向區
122‧‧‧進入口
123‧‧‧排出口
124‧‧‧旋轉體
13‧‧‧阻隔元件
14‧‧‧限制片
141‧‧‧輸送道
142‧‧‧通氣孔
2‧‧‧機台台面
21‧‧‧氣道
22‧‧‧氣道
3‧‧‧感應器
31‧‧‧第一感應器
32‧‧‧第二感應器
33‧‧‧發射器
A1‧‧‧氣壓源
A2‧‧‧氣壓源
B‧‧‧動力源
C‧‧‧動力源
第一圖係本新型實施例之電子元件轉向裝置示意圖。
第二圖係本新型實施例之測盤、轉向盤與阻隔元件配置示意圖。
第三圖係本新型實施例之電子元件轉向裝置部份剖面示意圖。
請參閱第一圖，本新型實施例之電子元件轉向裝置1，包括：一測盤11，設於機台台面2上，測盤11周緣等距環列佈設有複數個容槽111，該測盤1執行一間歇旋轉之搬運流路，以帶動容槽111中之電子元件E作間歇旋轉位移；一轉向盤12，設於該測盤11旁側，其上設有一轉向區121，當在容槽111內之電子元件E需進行極性轉向時，承接由測盤11移出之電子元件E並予以轉向；一阻隔元件13，設於測盤11與轉向盤12之間，可依電子元件E所在位置之不同而進行昇降，選擇性的阻擋電子元件E進出轉向121區或測盤11。
請參閱第二圖，轉向盤12外周緣設有一限制片14，其厚度與轉向盤12之厚度約略相近，但略高於該轉向盤12之厚度，且形成一C型之造型而於中央形成鏤空狀限位區間，其內徑較轉向盤12外徑略大，故限制片14可以圍設於轉向盤12周緣，主要用以限制電子元件E在轉向過程中因離心力而被拋出，在限制片14靠近測盤11之一側開設有一輸送道141，位處測盤11之容槽111與轉向盤12之轉向區121之間並與兩者相連通，使在測盤11容槽111內之電子元件E可經由輸送道141進出轉向盤12之轉向區121；
轉向盤12之轉向區121兩端開口分別為一進入口122與一排出口123，其中該進入口122之寬度朝轉向盤12內漸縮，而該排出口123之寬度朝轉向盤12外漸縮，方便電子元件E之進入與排出轉向盤12；阻隔元件13設於輸送道141中，其周緣相切於輸送道141之兩側並緊靠於測盤11與轉向盤12之周緣，且測盤11、轉向盤12與阻隔元件13之圓心位處同一直線上。
請參閱第三圖，在電子元件轉向裝置1上另設有一感應器3，該感應器3分置阻隔元件13兩側，由設置在測盤11處之第一感應器31與設置轉向盤12處之第二感應器32所組成，其中該第一感應器31為一接收器，其下方對應處設有另一發射器33，而第二感應器32為一反射式感應器；在測盤11之容槽111後側設有一通氣孔112，底部與一氣道21相連，在限制片14遠離測盤11之一側設有一通氣孔142，底部與另一氣道22相連，兩氣道21、22兩者分別與氣壓源相連結；轉向盤12係藉一動力源B驅動轉向盤12底部與轉向盤12連結之旋轉體124而使轉向盤12進行180度之轉向，該動力源B可為馬達透過皮帶或馬達直驅等方式驅動旋轉體124；阻隔元件13由一動力源C所驅動，進行上下之作動，該動力源C可利用電磁鐵吸附一端設有彈性件之驅動件，在無吸力情況下驅動件受彈性件張力頂伸而使與驅動件連結之阻隔元件13向上作動，在有吸力情況下驅動件受電磁鐵吸引而使阻隔元件13向下作動。
本新型實施例在實施上，在電子元件E需要進行極性轉向時，執行間歇旋轉搬運流路之測盤11旋轉到定位後，阻隔
元件13向下作動，通氣孔112產生正壓且通氣孔142產生負壓，使電子元件E由測盤11之容槽111移出，經過限制片14之輸送道141由較寬之進入口122進入並被負壓吸引到轉向盤12之轉向區121後端，當位於轉向盤12轉向區121前端之第二感應器32感應到電子元件E經過下方產生ON-OFF之訊息時，阻隔元件13向上作動，阻擋轉向盤12進入口122，並使轉向盤12進行轉向；當轉向盤12轉向到定位後，阻隔元件13向下作動，通氣孔112產生負壓且通氣孔142產生正壓，使電子元件E由轉向盤12之排出口123又經輸送道141移入測盤11之容槽111，當位於容槽111上之第一感應器31感應到電子元件E留置於容槽111內產生ON之訊息時，阻隔元件13向上作動，阻擋測盤11之容槽111入口，並使測盤11繼續進行間歇旋轉；歸納上述電子元件轉向裝置在實施上包括進行以下步驟：一電子元件移出步驟，在測盤11旋轉定位後，阻隔元件13向下作動，使電子元件E由測盤11移出至轉向盤12，直到轉向盤12之第二感應器32感應到電子元件E後再使阻隔元件13向上作動以阻擋轉向盤12進入口122；一電子元件移入步驟，在轉向盤12轉向定位後，阻隔元件13向下作動，使電子元件E由轉向盤12移入至測盤11，直到測盤11之第一感應器31感應到電子元件E後再使阻隔元件13向上作動以阻擋測盤11之容槽111入口；藉由阻隔元件13之上、下作動，及分別阻擋轉向盤12進入口122或測盤11之容槽111入口，防止電子元件E在移入轉向盤12之轉向區121或測盤11之容槽111後再因離心力因素移出，以
避免受轉向盤12或測盤11剪損。
本新型實施例所提供之電子元件轉向裝置，藉由在形成第一旋轉流路且流路上載有被間歇旋轉位移之電子元件的測盤11，與形成第二旋轉流路其可承接所述第一旋轉流路上之電子元件予以轉向的轉向盤12之間的輸送道141中設置阻隔元件13，使該阻隔元件13可開啟或關閉電子元件自第一旋轉流路受第二旋轉流路承接之輸送道141，並可選擇性的阻隔電子元件移出轉向盤或測盤；且阻隔元件13之周緣緊靠於測盤11與轉向盤12之周緣，使阻隔元件13與測盤11及轉向盤12之周緣間無電子元件可留置之間隙，經由測盤11、轉向盤12之轉定定位與第一感應器31及第二感應器32之感應控制阻隔元件13之上下作動，使阻隔元件13在下降時，電子元件E可自由的在測盤11與轉向盤12間移動，在阻隔元件13上升時，發揮了阻擋之作用，確保電子元件E完全留置於測盤11之容槽111或轉向盤12之轉向區121，防止電子元件E部份外凸而被轉向盤12或測盤剪損之情形發生。
惟以上所述者，僅為本新型之較佳實施例而已，當不能以此限定本新型實施之範圍，即大凡依本新型申請專利範圍及新型說明書內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本新型專利涵蓋之範圍內。
1‧‧‧電子元件轉向裝置
11‧‧‧測盤
111‧‧‧容槽
12‧‧‧轉向盤
121‧‧‧轉向區
13‧‧‧阻隔元件
2‧‧‧機台台面
E‧‧‧電子元件
Claims (9)
- 一種電子元件轉向裝置，包括：一測盤，執行一間歇旋轉之電子元件搬運流路，其周緣等距環列佈設有複數個容槽；一轉向盤，設於該測盤旁側，其上設有一轉向區用以承接由測盤移出之電子元件予以轉向；一阻隔元件，設於測盤與轉向盤之間，其可選擇性的阻隔電子元件移出轉向盤或測盤。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該阻隔元件設於測盤之容槽與轉向盤之轉向區兩者間之一輸送道中。
- 如申請專利範圍第2項所述電子元件轉向裝置，其中，該輸送道提供電子元件在測盤與轉向盤兩者間輸送之空間。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該阻隔元件之周緣緊靠於測盤與轉向盤之周緣。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該測盤、轉向盤與阻隔元件之圓心位處同一直線上。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該測盤之容槽設有一感應器。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該轉向盤之轉向區處設有一感應器。
- 如申請專利範圍第1項所述電子元件轉向裝置，其中，該轉向區兩端分別設有一進入口與一排出口。
- 如申請專利範圍第8項所述電子元件轉向裝置，其中，該進 入口之寬度朝內漸縮，而該排出口之寬度朝外漸縮。
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