TWI555989B - The cover of the electronic component sorting device - Google Patents

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TWI555989B
TWI555989B TW105114081A TW105114081A TWI555989B TW I555989 B TWI555989 B TW I555989B TW 105114081 A TW105114081 A TW 105114081A TW 105114081 A TW105114081 A TW 105114081A TW I555989 B TWI555989 B TW I555989B
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Fang-Xu Lin
Rong-Zong Chen
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All Ring Tech Co Ltd
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電子元件分選裝置之遮罩
本發明係有關於一種分選裝置之遮罩,尤指一種對電子元件進行檢測其物理特性後予以分類的電子元件分選裝置之遮罩。
按,一般電子元件由於具有不同的物理特性,故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類,由於電子元件的微細化及量大屬性,用於作檢測、分選的裝置必須提供迅速而精確的搬送,這些被檢測、分選的電子元件例如被動元件或LED發光二極體。
先前技術在進行檢測時,常採用可作間歇旋轉的測盤,在測盤周緣環列佈設等間距凹設之載槽,藉以自震動送料機的輸送槽道承載受檢測元件以間歇性旋轉流路搬送,歷經多個檢測站之程序後依其檢測出之物理特性,予以排出至不同的管路,以輸送至特定的收集盒進行收集;但由測盤進入各不同管路前,需經由一分選機構依受檢測元件的檢測結果進行分類,此種分選機構常採用一表面開有多數孔道的凹球形分配盤,並以一位於凹球形分配盤中央上方的分配頭作對應各孔道的逐一分配。
然而,分選機構採用表面開有多數孔道的凹球形分配盤,由於凹球形本身為一三度空間的立體位移空間,其凹球形的真圓度加工精度必須非常高,否則分配頭與其表面各孔道間發生餘隙,容易使體積極為微細的受檢測元件漏出或卡料,同時用以操作分配頭的驅動機構要使其在凹球形的三度空間立體表面作位移,其機構的複雜性與精度也相對較高,相對使成本增加;因此,有些分選機採用以平面配置及以弧型排列多數孔道 的分配盤,並使分配頭在這些弧型排列的孔道上方作弧形擺移,以進行受測元件的分配。
然而,採用以平面配置及以弧型排列多數孔道的分配盤者,其經常在設置分配頭的滑座上設置驅動滑座位移的驅動件,例如馬達,這使得馬達的重量造成滑座的滑動速度受到影響,相對影響分配頭的分配速度!另一方面,驅動滑座做X、Y軸水平及垂直位移的機構若佔用過多的機台空間,則相對使分配盤的面積受到限制,當然其上可設分配孔道的數量亦受到限制,因此如何簡化及適當的佈設驅動機構的配置佔重要關鍵!另一方面,由於一般進行檢測分選的電子元件例如被動元件或LED發光二極體等,其通常具有相當程度的粉塵,這些粉塵容易隨著大量的檢測輸送過程而掉落於分選機構中,並嵌塞於分配頭與分配盤的凹球形表面間造成卡料。
爰是,本發明之目的,在於提供一種使分選機構避免沾附粉塵的電子元件分選裝置之遮罩。
依據本發明目的之電子元件分選裝置之遮罩,該遮罩設於一檢測機構與一分選機構之間,該檢測機構設有將完成檢測的受測元件予以排出的管路,該分選機構設有可在一設有複數個分配管的分配座上位移的分配頭,該分配頭與檢測機構的受測元件排出管路連結,該遮罩設有鏤空區間,該鏤空區間可供檢測機構管路穿經。
本發明實施例之電子元件分選裝置之遮罩,由於進行檢測分選的電子元件粉塵可以被遮罩所阻擋,分選機構中的分配頭與分配座的表面間造成卡料機會可以降低。
1‧‧‧檢測機構
11‧‧‧測盤
12‧‧‧管路
2‧‧‧機台
3‧‧‧分選機構
31‧‧‧模座
311‧‧‧操作區間
312‧‧‧第一側座
313‧‧‧第二側座
314‧‧‧第三側座
32‧‧‧第一驅動件
321‧‧‧輸出軸
322‧‧‧樞座
33‧‧‧第一滑軌
34‧‧‧第二滑軌
35‧‧‧第二驅動件
351‧‧‧輸出軸
352‧‧‧驅動臂
353‧‧‧連動臂
36‧‧‧滑座
361‧‧‧第一固定座
362‧‧‧第二固定座
363‧‧‧第一嵌輪
364‧‧‧第二嵌輪
365‧‧‧皮帶
366‧‧‧第三滑軌
367‧‧‧第三固定座
37‧‧‧分配頭
371‧‧‧排出部
38‧‧‧分配座
381‧‧‧上表面
382‧‧‧嵌孔
39‧‧‧分配管
391‧‧‧端口
392‧‧‧嵌管
393‧‧‧套管
394‧‧‧嵌抵段
395‧‧‧樞管段
396‧‧‧錐孔部
4‧‧‧遮罩
41‧‧‧固定罩件
411‧‧‧視窗
412‧‧‧鏤空區間
413‧‧‧遮件
42‧‧‧活動罩件
421‧‧‧握扣部位
第一圖係本發明實施例中檢測機構、分選機構、固定罩件之配置示意圖。
第二圖係本發明實施例中固定罩件及活動罩件之立體分解示意圖。
第三圖係本發明實施例中遮罩之罩覆狀況示意圖。
第四圖係本發明實施例中分選機構之立體示意圖。
第五圖係本發明實施例中分選機構之俯視示意圖。
第六圖係本發明實施例中分選機構之第一驅動件輸出軸構造立體示意圖。
第七圖係本發明實施例中分配座上分配管構造剖面示意圖。
請參閱第一圖,本發明實施例以圖中所示之電子元件分選裝置為例作說明,包括:一檢測機構1,包括一可作間歇旋轉的測盤11,其受架高於機台2台面上,測盤11周緣環列佈設等間距凹設之載槽,可藉自震動送料機(圖中未示)的輸送槽道承載受檢測元件以間歇性旋轉流路搬送受測元件;測盤11上方可設置各種物理特性檢測儀器以進行對位於測盤11周緣載槽中的受測元件的檢測;檢測機構1同時設有二個排出管路12,可用以將完成檢測的受測元件予以排出分類;一分選機構3,設於機台2台面上,其承接前述檢測機構1管路12所傳送來受測元件,並進行分類至不同的收集盒進行收集,在本實施例中,分選機構3設有兩組,其機構相同僅左、右配置相反;一遮罩4,設於檢測機構1與分選機構3之間,其設有透明可窺見分選機構3之視窗411,另在對應檢測機構1的方向設有鏤空區間412,該鏤空區間 412可供檢測機構1管路12穿經,並於該管路12與鏤空區間42間餘隙以撓性遮件413予以包覆封罩。
請參閱第一、二圖,該遮罩4可以包括常置性固定於機台2台面的固定罩件41,及一可拆卸組合於該固定罩件41的活動罩件42,其中該固定罩件41設置所述視窗411、鏤空區間412、撓性遮件413及供管路12穿經,並靠近及對應該檢測機構1方向;該活動罩件42設有可供提握將活動罩件42搬卸用的凹設握扣部位421,活動罩件42並設於遠離檢測機構1的固定罩件41另一側。
請參閱第一、三圖,該固定罩件41及活動罩件42組合時,將機台2台面上方的分選機構3完全遮罩封閉,僅供管路12可穿經鏤空區間412、撓性遮件413而伸入其內。
請參閱第四至六圖,該分選機構3包括一設於機台2上模座31,其設有一操作區間311,並經由該操作區間311將模座31區隔出位於操作區間311一側的第一側座312,以及對應第一側座312並與其平行且位於操作區間311另一側的第二側座313,和位於第一側座312與第二側座313間,且朝相對遠離第一圖中測盤1的方向的操作區間311另一側的第三側座314;該第一側座312上方設有由馬達構成的第一驅動件32,其輸出軸321平行第一側座312表面,並朝在靠近第一圖中測盤1的方向伸設,輸出軸321末端與模座31上一樞座322樞設;第一側座312同時設有第一滑軌33,該第一滑軌33與輸出軸321平行並位於輸出軸321與操作區間311間;第二側座313上設有一第二滑軌34設於第二側座313上並與第一滑軌33平行;第三側座314下方設有一由馬達構成的第二驅動件35,其輸出軸351垂直第二側座313表面,並凸伸於第二側座313表面;輸出軸351固設一與輸出 軸351垂直設置的驅動臂352一端,驅動臂352另一端則樞設一連動臂353一端,連動臂353另一端則與一滑座36樞接並與其連動;該第二驅動件35的輸出軸351位於第二側座313一端的外側朝遠離第一圖中測盤1的方向設置,其並位於第一滑軌33與第二滑軌34間;該滑座36與第一滑軌33、第二滑軌34垂直並設於其上,可受該第二驅動件35的連動臂353一端連動,而受第二驅動件33驅動在第一滑軌33與第二滑軌34上作滑移;滑座36的兩端各伸跨該第一側座312、第二側座313的上方,且兩端對應在近第一滑軌33與第二滑軌34上方處分別各設有第一固定座361、第二固定座362,第一固定座361上設有第一嵌輪363,第二固定座362上設有第二嵌輪364,其中,第一驅動件32的輸出軸321樞經第一嵌輪363並藉輸出軸321上設有軸向嵌溝323而與其嵌設並連動進行轉動,但第一嵌輪363則可於輸出軸321上隨第一固定座361作滑移,同時於第一嵌輪363、第二嵌輪364之間繞設有一皮帶365;該滑座36上設有一橫跨兩端並與第一滑軌33、第二滑軌34垂直的第三滑軌366,皮帶365在保持一上、下之間距下設於滑座36的第三滑軌366上方,第三滑軌366上設有一第三固定座367,其與繞設的皮帶365下方段固設並受其連動地可在第三滑軌366上作間歇性位移,第三固定座367上設有一分配頭37;該分配頭37一端以該第三固定座367設於第三滑軌366上而僅能作第一方向之位移,其與該受測元件的排出管路12連結的排出部371呈懸空於該第三滑軌366外一側的分配座38上方;該分配頭37一端連接管路12以承接受測元件,其下方位於該操作區間311上方;該操作區間311中設有分配座38,其上設有多數個分配管39,其各分配管39的配設呈由上往下的直向狀配置,其下端各分別接設收集容器(圖中未示),各分配管39上方端口391呈平面排列佈設,分配頭37係在各分配管39上方端口381排列佈設的平面作前、後、左、右的位移。
本發明實施例中的分選機構3在進行分類時,當受測元件自第一圖中檢測機構1完成檢測而被設定必須經一特定分配管39排出至一特定收集容器時,受測元件經管路12排出檢測機構1而自分配頭37排進分配管39前,第一驅動件32驅動第一嵌輪363旋轉以連動皮帶365繞轉,使帶動第三固定座367在第三滑軌366上作間歇性位移,並載動分配頭37以間歇性直線運動作面對操作者左、右水平直線的第一方向位移,並貼靠在分配座38上方平面排列佈設的各分配管39上方端口391上緣作左、右水平直線位移,同時第二驅動件35也使驅動臂352驅動連動臂353使該滑座36在第一滑軌33、第二滑軌34上以間歇性直線運動作面對操作者前、後水平直線的第二方向位移,以連動分配頭37作前、後位移,而由該左、右水平直線位移配合前、後的水平直線位移將分配頭37帶到預定的分配管39上方端口391,以令管路12中的受測元件被卸放至預定的分配管39中被排放收集。
請參閱第七圖,該分配管39上方端口391凸出於分配座38上方平面的上表面381一段高度,分配管39本身為一金屬材質的嵌管392及一撓性材質的套管393所套接而成,該嵌管392包括外徑較大的嵌抵段394,以及嵌抵段394下方外徑較小的樞管段395;嵌管392自分配座38平面的上表面381上方以樞管段395穿樞於分配座38上的嵌孔382,直至嵌抵段394下緣抵扣嵌孔382上緣,並以膠材膠固,使嵌抵段394留置於分配座38平面的上表面362上方,故分配頭37位移時,其底緣與分配座38平面的上表面362間保持一嵌抵段394高度的間距;嵌管392上端管徑內周緣形成一上大內小的錐孔部396,而穿經分配座38的樞管段395則供撓性材質的套管393所套接。
本發明實施例之電子元件分選裝置之遮罩,由於進行檢測分選的電子元件粉塵可以被遮罩4所阻擋,分選機構3中的分配頭37與分配座38的表面間造成卡料機會。
惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
1‧‧‧檢測機構
11‧‧‧測盤
12‧‧‧管路
2‧‧‧機台
3‧‧‧分選機構
4‧‧‧遮罩
41‧‧‧固定罩件
411‧‧‧視窗
412‧‧‧鏤空區間
413‧‧‧遮件

Claims (8)

  1. 一種電子元件分選裝置之遮罩,該遮罩設於一檢測機構與一分選機構之間,該檢測機構設有將完成檢測的受測元件予以排出的管路,該分選機構設有可在一設有複數個分配管的分配座上位移的分配頭,該分配頭與檢測機構的受測元件排出管路連結,該遮罩設有鏤空區間,該鏤空區間可供檢測機構管路穿經。
  2. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該管路與鏤空區間餘隙以撓性遮件予以包覆封罩。
  3. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該遮罩設有透明可窺見分選機構之視窗。
  4. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該遮罩包括常置性固定於機台台面的固定罩件,及一可拆卸組合於該固定罩件的活動罩件。
  5. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該固定罩件設置透明可窺見分選機構之視窗及該可供檢測機構管路穿經的鏤空區間,並靠近及對應該檢測機構方向。
  6. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該活動罩件設有透明可窺見分選機構之視窗,可供提握將活動罩件搬卸用的凹設握扣部位,活動罩件並設於遠離檢測機構的固定罩件另一側。
  7. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該遮罩將機台台面上方的分選機構完全遮罩封閉,僅供管路可穿經鏤空區間、撓性遮件而伸入其內。
  8. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分選裝置之遮罩,其中,該檢測機構設有二個排出管路;該分選機構設有兩組,其機構相同僅左、右配置相反。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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TW200809880A (en) * 2006-06-07 2008-02-16 3M Innovative Properties Co Closure with wrapped cable
TWM340862U (en) * 2008-04-24 2008-09-21 lian-heng Liao Electronic part sorting machine

Patent Citations (2)

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