CN105478379A - 电子元件分选方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明揭示一种电子元件分选方法及装置，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构，其设有水平设置的转轴，转轴一端设一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；一分配座，设有多个分配管分别接设收集容器；该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。
Description
【技术领域】
本发明是有关于一种分选方法及装置，尤指一种对电子元件进行检测其物理特性后予以分选分类的电子元件分选方法及装置。
【背景技术】
按，一般电子元件由于具有不同的物理特性，故常需经由检测、分选的程序来进行包装或分类，由于电子元件的微细化及量大属性，用于作检测、分选的装置必须提供迅速而精确的搬送，该多个被检测、分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管。
先前技术在进行检测时，常采用可作间歇旋转的测盘，在测盘周缘环列布设等间距凹设的载槽，借以自震动送料机的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送，历经多个检测站的程序后依其检测出的物理特性，予以排出至不同的管路，以输送至特定的收集盒进行收集；但由测盘进入各不同管路前，需经由一分选机构依受检测元件的检测结果进行分类，此种分选机构常采用一表面开有多数孔道的凹球形分配盘，并以一位于凹球形分配盘中央上方的分配头作对应各孔道的逐一分配。
【发明内容】
然而，分选机构采用表面开有多数孔道的凹球形分配盘，由于凹球形本身为一三度空间的立体位移空间，其凹球形的真圆度加工精度必须非常高，否则分配头与其表面各孔道间发生余隙，容易使体积极为微细的受检测元件漏出或卡料，同时用以操作分配头的驱动机构要使其在凹球形的三度空间立体表面作位移，其机构的复杂性与精度也相对较高，相对使成本增加；另一方面，由于一般进行检测分选的电子元件例如被动元件或LED发光二极管等，其通常具有相当程度的粉尘，该多个粉尘容易随着大量的检测输送过程而掉落于分选机构中，并嵌塞于分配头与分配盘的凹球形表面间造成卡料。
爰是，本发明的目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选方法。
本发明的另一目的，在于提供一种使分选机构简单，成本降低的电子元件分选装置。
本发明的又一目的，在于提供一种使分选机构避免沾附粉尘线的电子元件分选装置。
本发明的再一目的，在于提供一种用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。
依据本发明目的的电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：使一分配头与一受测元件的排出管路连结；使一向下凹陷的凹弧状平面的分配座上设置多个分配管；操作分配头作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，以令管路中的受测元件被卸放至预定的分配管中被排放收集。
依据本发明目的的另一电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：使一拨架上的分配头受一转轴驱动作间歇性旋摆运动；使该转轴同时作间歇性直线运动；使分配头与一受测元件的排出管路连结；借所述间歇性旋摆运动配合间歇性直线运动，以令管路中的受测元件被卸放至一分配座上预定的分配管中被排放收集。
依据本发明另一目的的电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构，其设有一水平设置的转轴，转轴一端设有一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；一分配座，设有多个分配管，各分配管分别接设收集容器；该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。
依据本发明又一目的的电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括一移摆机构以一分配头在一设有多个分配管分配座上移摆，该分配头与一检测机构受测元件排出的管路连结；一遮罩，设于检测机构与分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供检测机构管路穿经。
依据本发明再一目的的电子元件分选装置，用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。
本发明实施例的电子元件分选方法及装置，由于分选机构采用凹弧状平面的分配座，其凹弧状平面由两侧的第一侧座及第二侧座处往下弧凹，分配座上设有多个分配管，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管上方端口呈凹弧状平面排列布设，故分配座的加工容易，无须考量真圆度问题；而分配管上方端口凸出于分配座上方凹弧状平面的上表面一段高度，并由一金属材质的嵌管及一挠性材质的套管所套接而成，可使分配座的加工成本节省；同时用以操作分配头的驱动机构仅须作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，其机构简单，精度需求也较低，相对使成本降低；另一方面，由于进行检测分选的电子元件粉尘可以被遮罩所阻挡，分选机构中的分配头与分配座的表面间造成卡料机会可以降低。
【附图说明】
图1是本发明实施例中检测机构、分选机构、固定罩件的配置示意图。
图2是本发明实施例中固定罩件及活动罩件的立体分解示意图。
图3是本发明实施例中遮罩的罩覆状况示意图。
图4是本发明实施例中分选机构之后侧立体示意图。
图5是本发明实施例中主轴的部分立体示意图。
图6是本发明实施例中分选机构之前侧立体示意图。
图7是本发明实施例中分配座之前侧示意图。
图8是本发明实施例中分配座的立体示意图。
图9是本发明实施例中分选机构的俯视示意图。
图10是本发明实施例中分选机构之前侧视示意图。
图11是本发明实施例中分配座上分配管构造剖面示意图。
【符号说明】
1检测机构11测盘
12管路2机台
3分选机构31模座
311操作区间312第一侧座
313第二侧座314第三侧座
32第一驱动件33第二驱动件
331输出轴332驱动臂
333连动臂34移摆机构
341第一固定座342嵌轮
343转轴344嵌沟
345第二固定座346拨架
347分配头35分配座
351上端缘352上表面
353嵌孔36分配管
361上方端口362嵌管
363套管364嵌抵段
365枢管段366锥孔部
4遮罩41固定罩件
411视窗412镂空区间
413遮件42活动罩件
421视窗422握扣部位
【具体实施方式】
请参阅图1，本发明实施例的电子元件分选方法可以图中所示分选装置为例作说明，包括：
一检测机构1，包括一可作间歇旋转的测盘11，其受架高于机台2台面上，测盘11周缘环列布设等间距凹设的载槽，可借自震动送料机(图中未示)的输送槽道承载受检测元件以间歇性旋转流路搬送受测元件；测盘11上方可设置各种物理特性检测仪器以进行对位于测盘11周缘载槽中的受测元件的检测；检测机构1同时设有二个排出管路12，可用以将完成检测的受测元件予以排出分类；
一分选机构3，设于机台2台面上，其承接前述检测机构1管路12所传送来受测元件，并进行分类至不同的收集盒进行收集，在本实施例中，分选机构3设有两组，其机构相同仅左、右配置相反；
一遮罩4，设于检测机构1与分选机构3之间，其在面对操作者的方向设有透明可窥见分选机构3的视窗411，另在对应检测机构1的方向设有镂空区间412，该镂空区间412可供检测机构1管路12穿经，并于该管路12与镂空区间42间余隙以挠性遮件413予以包覆封罩；
请参阅图1、2，该遮罩4可以包括常置性固定于机台2台面的固定罩件41，及一可拆卸组合于该固定罩件41的活动罩件42，其中该固定罩件41设置所述视窗411、镂空区间412、挠性遮件413及供管路12穿经，并靠近及对应该检测机构1方向；该活动罩件42仅设有透明可窥见分选机构3的视窗421，可供提握将活动罩件42搬卸用的凹设握扣部位422，活动罩件42并设于远离检测机构1的固定罩件41另一侧。
请参阅图1、3，该固定罩件41及活动罩件42组合时，将机台2台面上方的分选机构3完全遮罩封闭，仅供管路12可穿经镂空区间412、挠性遮件413而伸入其内。
请参阅图4～6，该分选机构3包括一设于机台2上模座31，其设有一镂空的操作区间311，并经由该镂空的操作区间311将模座31区隔出位于操作区间311一侧的第一侧座312，以及对应第一侧座312并与其平行且位于操作区间311另一侧的第二侧座313，和位于第一侧座312与第二侧座313间，且朝相对远离图1中测盘1的方向的操作区间311另一侧的第三侧座314；该第一侧座312上方设有由马达构成的第一驱动件32，其输出轴(图中未示)平行第一侧座312表面，并朝在远离图1中测盘1的方向伸设；第二侧座313下方设有一由马达构成的第二驱动件33，其偏靠朝远离图1中测盘1的方向设置，其输出轴331垂直第二侧座313表面，并凸伸于第二侧座313表面；第三侧座314上设置一移摆机构34，其以一第一固定座341枢设一嵌轮342，嵌轮342中设有一转轴343，该转轴343的圆周设有轴向嵌沟344，转轴343的轴向与该第一侧座312上的第一驱动件32输出轴平行，转轴343的一端凸伸于嵌轮342后端，转轴343借该嵌沟344嵌卡并与嵌轮342旋转连动，但转轴343可自由伸经嵌轮342并于其中前后滑移；该转轴343位于嵌轮342的另一端伸经第一固定座341而与一第二固定座345固定并在轴向位移上连动，但转轴343的旋转不与第二固定座345连动；该第二固定座345呈L型而以一侧设于第二侧座313上一滑轨315，该滑轨315与转轴343的轴向平行；转轴343伸经第二固定座345前方并于端部固设一与转轴343轴向垂直的拨架346，拨架346底端设有一分配头347，该分配头347连接管路12以承接受测元件；该第一侧座312上的第一驱动件32输出轴(图中未示)以一与输出轴轴向垂直圈设的皮带321与移摆机构34嵌轮342形成连动，使水平设置的转轴343可被驱动进行间歇性转动，而带动其前端的拨架346进行与转轴343轴向垂直的间歇性旋摆运动；该第二侧座313的第二驱动件33的输出轴331固设一与输出轴331垂直设置的驱动臂332一端，驱动臂332另一端则枢设一连动臂333一端，连动臂333另一端则与该移摆机构34第二固定座345上一枢座348枢设，并借此形成连动，以借单独驱动第二固定座345在滑轨315上滑移作间歇性直线运动时，将带动转轴343可沿转轴轴向作间歇性直线位移，并连动拨架346及其上分配头347在转轴343轴向前、后伸移地作间歇性直线位移，此时分配头347的移动动路为一直线并与转轴343轴向在相隔一间距下相互平行；请同时配合参阅图6～8，在镂空的操作区间311下方设有一三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面的分配座35，其三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面两侧上端缘351分别各固设于操作区间311两侧的第一侧座312及第二侧座313上，而由两侧的第一侧座312及第二侧座313处向下凹陷弧设，分配座35矩形的凹弧状平面上设有多个分配管36，各分配管36的配设呈由上往下的扇形放射状配置，其下端各分别接设收集容器(图中未示)，各分配管36上方端口361呈凹弧状平面排列布设，分配头347(参阅图11)是在各分配管36上方端口361排列布设的凹弧状平面作上、下的弧形摆移。
请参阅图9、10，本发明实施例中的分选机构3在进行分类时，当受测元件自图1中检测机构1完成检测而被设定必须经一特定分配管36排出至一特定收集容器时，受测元件经管路12排出检测机构1而自分配头347排进分配管36前，第一驱动件32驱动嵌轮342连动转轴343旋转，使拨架346载动分配头347作间歇性旋摆运动，并贴靠在分配座35上方凹弧状平面排列布设的各分配管36上方端口361上缘作上、下的弧形摆移，同时第二驱动件33也使驱动臂332驱动连动臂333使第二固定座345在滑轨315上以间歇性直线运动作前、后的水平直线滑移，以连动拨架346载动分配头347作前或后位移，而由该弧形摆移配合直线滑移将拨架346上分配头347带到预定的分配管36上方端口361，以令管路12中的受测元件被卸放至预定的分配管36中被排放收集。
请参阅图11，该分配管36上方端口361凸出于分配座35上方凹弧状平面的上表面352一段高度，分配管36本身为一金属材质的嵌管362及一挠性材质的套管363所套接而成，该嵌管362包括外径较大的嵌抵段364，以及嵌抵段364下方外径较小的枢管段365；嵌管362自分配座35凹弧状平面的上表面352上方以枢管段365穿枢于分配座35上的嵌孔354，直至嵌抵段364下缘抵扣嵌孔353上缘，并以胶材胶固，使嵌抵段364留置于分配座35凹弧状平面的上表面352上方，故分配头347弧形摆移时，其底缘与分配座35凹弧状平面的上表面352间保持一嵌抵段364高度的间距；上端管径内周缘形成一上大内小的锥孔部366，而穿经分配座35的枢管段365则供挠性材质的套管363所套接。
本发明实施例的电子元件分选方法及装置，由于分选机构3采用凹弧状平面的分配座35，其凹弧状平面由两侧的第一侧座312及第二侧座313处往下弧凹，分配座35上设有多个分配管36，各分配管36的配设呈由上往下的扇形放射状配置，各分配管36上方端口呈凹弧状平面排列布设，故分配座35的加工容易，无须考量真圆度问题；而分配管36上方端口361凸出于分配座35上方凹弧状平面的上表面352一段高度，并由一金属材质的嵌管362及一挠性材质的套管363所套接而成，可使分配座35的加工成本节省；同时用以操作分配头347的驱动机构仅须作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，其机构简单，精度需求也较低，相对使成本降低；另一方面，由于进行检测分选的电子元件粉尘可以被遮罩4所阻挡，分选机构3中的分配头347与分配座35的表面间造成卡料机会可以降低。
惟以上所述者，仅为本发明的较佳实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明申请专利范围及发明说明内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。
Claims (27)
1.一种电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：
使一分配头与一受测元件的排出管路连结；
使一向下凹陷的凹弧状平面的分配座上设置多个分配管；
操作分配头作上、下的弧形摆移配合前、后的水平直线滑移，以令管路中的受测元件被卸放至预定的分配管中被排放收集。
2.如权利要求1所述电子元件分选方法，其特征在于，该分配管上方端口凸出于分配座上方凹弧状平面的上表面一段高度，分配头是在各分配管上方端口作上、下的弧形摆移。
3.一种电子元件分选方法，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：
使一拨架上的分配头受一转轴驱动作间歇性旋摆运动；
使该转轴同时作间歇性直线运动；
使分配头与一受测元件的排出管路连结；
借所述间歇性旋摆运动配合间歇性直线运动，以令管路中的受测元件被卸放至一分配座上预定的分配管中被排放收集。
4.如权利要求3所述电子元件分选方法，其特征在于，该间歇性直线运动是经由一第二固定座在一滑轨上作间歇性直线位移，而连动转轴连动分配头在转轴轴向前、后伸移。
5.如权利要求3所述电子元件分选方法，其特征在于，该间歇性直线运动单独带动转轴连动分配头的移动动路为一直线，并与转轴轴向在相隔一间距下相互平行。
6.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：
一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；
一分选机构，包括一移摆机构，其设有一水平设置的转轴，转轴一端设有一拨架并与其连动，拨架上设有一分配头，转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性直线位移；
一分配座，设有多个分配管，各分配管分别接设收集容器；
该分配头与受测元件的排出管路连结，以令管路中的受测元件被卸放至分配座上预定的分配管中被排放收集。
7.如权利要求6所述电子元件分选装置，其特征在于，该移摆机构、第一驱动件、第二驱动件、分配座同设于一模座上。
8.如权利要求7所述电子元件分选装置，其特征在于，该模座设有一镂空的操作区间将模座区隔出位于操作区间一侧的第一侧座，以及对应第一侧座位于操作区间另一侧的第二侧座，和位于第一侧座与第二侧座间的第三侧座。
9.如权利要求8所述电子元件分选装置，其特征在于，该第一驱动件设于第一侧座上，其输出轴平行第一侧座表面并以一皮带与移摆机构中一嵌轮形成连动，该转轴的轴向与该第一驱动件输出轴平行。
10.如权利要求8所述电子元件分选装置，其特征在于，该第二驱动件设于第二侧座下方，其输出轴垂直第二侧座表面，并凸伸于第二侧座表面。
11.如权利要求8所述电子元件分选装置，其特征在于，该移摆机构设于第三侧座，其以一第一固定座枢设一嵌轮，嵌轮中设该转轴，转轴的一端凸伸于嵌轮后端，该转轴位于嵌轮的另一端伸经第一固定座并于端部固设该拨架。
12.如权利要求11所述电子元件分选装置，其特征在于，该转轴的圆周设有轴向嵌沟，转轴借该嵌沟嵌卡并与嵌轮旋转连动，但转轴可自由伸经嵌轮并于其中前后滑移。
13.如权利要求11所述电子元件分选装置，其特征在于，该转轴与一第二固定座固定并在轴向位移上连动，但转轴的旋转不与第二固定座连动；该第二固定座设于第二侧座上一滑轨，该滑轨与转轴的轴向平行，第二固定座受第二驱动件驱动可沿滑轨轴向作间歇性直线位移。
14.如权利要求13所述电子元件分选装置，其特征在于，该第二驱动件的输出轴固设一与输出轴垂直设置的驱动臂一端，驱动臂另一端则枢设一连动臂一端，连动臂另一端则与该移摆机构的第二固定座枢设并形成连动。
15.如权利要求8所述电子元件分选装置，其特征在于，该分配座设于该镂空的操作区间中，其两侧上端缘分别各固设于操作区间两侧的第一侧座及第二侧座上，而由两侧的第一侧座及第二侧座处形成向下凹陷的凹弧状平面。
16.如权利要求6所述电子元件分选装置，其特征在于，该分配座呈一三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧状平面，其设有多个分配管，各分配管的配设呈由上往下的扇形放射状配置，其上方端口呈凹弧状平面排列布设。
17.如权利要求16所述电子元件分选装置，其特征在于，该分配管上方端口凸出于分配座上方凹弧状平面的上表面一段高度。
18.如权利要求17所述电子元件分选装置，其特征在于，该分配管为一金属材质的嵌管及一挠性材质的套管所套接而成。
19.如权利要求18所述电子元件分选装置，其特征在于，该嵌管包括外径较大的嵌抵段，以及嵌抵段下方外径较小的枢管段；嵌管自分配座凹弧状平面的上表面上方以枢管段穿枢于分配座上的嵌孔，直至嵌抵段下缘抵扣嵌孔上缘，使嵌抵段留置于分配座凹弧状平面的上表面上方，而穿经分配座的枢管段则供挠性材质的套管所套接。
20.如权利要求16所述电子元件分选装置，其特征在于，该分配管上端管径内周缘形成一上大内小的锥孔部。
21.一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，其特征在于，包括：
一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；
一分选机构，包括一移摆机构以一分配头在一设有多个分配管分配座上移摆，该分配头与一检测机构受测元件排出的管路连结；
一遮罩，设于检测机构与分选机构之间，其设有镂空区间，该镂空区间可供检测机构管路穿经。
22.如权利要求21所述电子元件分选装置，其特征在于，该管路与镂空区间余隙以挠性遮件予以包覆封罩。
23.如权利要求21所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮罩在设有透明可窥见分选机构的视窗。
24.如权利要求21所述电子元件分选装置，其特征在于，该遮罩包括常置性固定于机台台面的固定罩件，及一可拆卸组合于该固定罩件的活动罩件。
25.如权利要求24所述电子元件分选装置，其特征在于，该固定罩件设置透明可窥见分选机构的视窗及该可供检测机构管路穿经的镂空区间，并靠近及对应该检测机构方向。
26.如权利要求24所述电子元件分选装置，其特征在于，该活动罩件设有透明可窥见分选机构的视窗，可供提握将活动罩件搬卸用的凹设握扣部位，活动罩件并设于远离检测机构的固定罩件另一侧。
27.一种电子元件分选装置，包括用以执行如权利要求1至5所述电子元件分选方法的装置。
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