TW201638600A - 電子元件分類方法及裝置 - Google Patents

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Ming-Bin Gao
An-Tian Wang
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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
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    • B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B07C5/38—Collecting or arranging articles in groups

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract

本發明提供一種電子元件分類方法及裝置，包括：使複數個受測元件被一第一旋轉流路進行搬送及檢測電性，當檢測出其為落料頻率較高的受測元件時，受測元件被搬送進入另一第二間歇性旋轉流路，並由該第二間歇性旋轉流路的排出通道排入一第一料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第一料盒；當檢測出其為落料頻率較低的受測元件時，受測元件由該第一間歇性旋轉流路上一共通管排出至一第二料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第二料盒；藉此使不同落料頻率的受測元件可分別輸送，令產能效率有效提高。

Description

電子元件分類方法及裝置
本發明係有關於一種分類方法及裝置，尤指一種用以對落料之受測元件，其電性規格具較高集中度的電子元件進行分類的電子元件分類方法及裝置。
按，一般電子元件由於具有不同的物理特性，故常需經由檢 測、分選的程序來進行包裝或分類，由於電子元件的微細化及量大屬性，用於作檢測、分選的裝置必須提供迅速而精確的搬送，這些被檢測、分選的電子元件例如被動元件或LED發光二極體。
先前技術在進行檢測時，常採用可作間歇旋轉的測盤，在測 盤周緣環列佈設等間距凹設之載槽，藉以自震動送料機的輸送槽道承載受檢測元件以間歇性旋轉流路搬送，歷經多個檢測站之程序後依其檢測出之電性，予以排出至不同的管路，以輸送至特定的收集盒進行收集；但由測盤進入各不同管路前，需經由一分配機構依受檢測元件的檢測結果進行分類，此種分配機構常採用一表面開有多數孔道的分配盤，並以一位於分配盤中央上方的分配頭作對應各孔道的逐一分配。
另一種先前技術，採用在一測盤上進行多個檢測站之程序後 ，將其排至另一個周緣環列佈設等間距凹設之載槽的轉盤，再由該轉盤上的噴出機構將各載槽中電子元件噴出至各自對應並以排出管接設的料盒，而為增加分BIN數，可以採用多個轉盤。
另一種先前技術，採用在一轉塔式轉盤所形成的量測平台， 使落料頻率較高的受測元件經一分配的孔板被導入距轉塔式轉盤所形成的量測平台較近的料盒，落料頻率較低的受測元件被導入距轉塔式轉盤所形成的量測平台較遠的料盒。
然而，先前技術在進行分類時，大多未考慮進行分類的電子 元件具有在電性條件檢測上電性規格落料頻率高、低之狀況，因為每批量之受測元件其電性規格常會在某一規格範圍具有較多的數量，這些電性規格具較高集中度的受測元件若與其他電性規格較分散的受測元件以同一分類機構或條件進行分類時，並無法經由差異化的考量，使整個分類的效率提昇；另一方面，電性規格具較高集中度的電子元件顯然會具有較高的落料頻率及較高的數量，當用以容載具有較高數量電子元件的料盒參雜在其他具有較低數量電子元件的料盒間，其不容易被發現已裝載滿料，在管理上不具方便性，在後續收集搬送上亦大為不便！且具有較高數量電子元件的分類機構顯然會有較高的故障及損耗機率，其與進行其他具有較低數量電子元件的分類機構併存在一起，將在維修上不具方便性，並影響整體機構的使用壽命！雖然先前技術亦有提供以料盒距轉塔式轉盤所形成的量測平台的遠、近，來將落料頻率較高與落料頻率較低的受測元件作分別輸送，但該設計採轉塔式轉盤，其能僅適用檢測分選大尺寸的受測元件，且其承接落料頻率較高與落料頻率較低的受測元件的料盒係以距量測平台遠、近作區別設計，其必須採高、低配置，致使料盒高度受到限制，產能效率過低，且雖然承接落料頻率較高的受測元件的料盒其距量測平台較近，但量測平台至料盒的路徑中為增加分BIN數而設有分配的孔板，其等於在落料路徑中形成阻滯，使落料速度減緩，致整體效能並未因其料盒距量測平台較近而提昇。
爰是，本發明的目的，在於提供一種藉由落料頻率差異化的考量，使整個分類的效率提昇的電子元件分類方法。
本發明的另一目的，在於提供一種藉由落料頻率差異化的考量，使整個分類的效率提昇的電子元件分類裝置。
本發明的又一目的，在於提供一種用以執行申請專利範圍第1至3項任一項所述電子元件分類方法的裝置。
依據本發明目的之電子元件分類方法，包括： 使複數個受測元件被一第一旋轉流路進行搬送及檢測電性，當檢測出其為落料頻率較高的受測元件時，受測元件被搬送進入另一第二間歇性旋轉流路，並由該第二間歇性旋轉流路的排出通道排入一第一料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第一料盒；當檢測出其為落料頻率較低的受測元件時，受測元件由該第一間歇性旋轉流路上一共通管排出至一第二料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第二料盒。
依據本發明另一目的之電子元件分類裝置，包括：一第一轉盤，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之複數個載槽，其形成一第一間歇旋轉流路並以該載槽承收自一輸送槽道輸入的受測元件，該第一間歇旋轉流路上設有一電性檢測單元及一共通管； 一第二轉盤，其承接該第一轉盤傳送來的受測元件並以一第二間歇旋轉流路進行搬送，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之複數個載槽，各載槽分別對應設有排出通道；該第一轉盤、第二轉盤間以一連接單元形成搬送流路的連接；當受測元件經電性檢測單元進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較高的受測元件時，該受測元件被搬送到達該連接單元處時，由連接單元進入第二轉盤的第二間歇性旋轉流路的載槽被搬送，並依電性檢測結果被排入預設的載槽分別各自對應的排出通道，以排出第二轉盤的第二間歇性旋轉流路；當受測元件經電性檢測單元進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較低的受測元件時，該受測元件被由共通管排出第一轉盤的第一間歇性旋轉流路。
依據本發明又一目的之電子元件分類裝置，包括用以執行申請專利範圍第1至3項任一項所述電子元件分類方法之裝置。
本發明實施例之子元件分類方法及裝置，由於第一轉盤、第二轉盤、連接單元同設在該水平檢測台面上；落料頻率較高的受測元件，經第二轉盤的排出通道排出後，直接經由排出管毫無阻滯並直通地排入對第一料盒，其可以簡化排料路徑的阻滯而使落至第一料盒的速度較快；落料頻率較低的受測元件在經由共通管排出後，因其落料頻率較低，時間效率上可允許經一排出管進入一分配機構，並經由該分配機構將受測元件依其電性檢測結果進行分配以傳送至第二料盒，如此使不同落料頻率的受測元件不僅可分別輸送，同時具落料頻率較高之數量較高的電子元件可被較大容量的第一料盒承載，具落料頻率較低之較少數量電子元件可被較小容量的第一料盒承載，對落料量容置管控更恰當；而第一料盒及第二料盒可不受高度、距檢測台面遠近限制而提高容量，使產能效率有效提高。
請參閱圖1、3，本發明實施例之電子元件分類方法及裝置可 以如圖所示之使用在以LED發光二極體為受測元件的分類裝置來作說明，該裝置包括：        一檢測台面A，呈水平設置於機台台面H(請配合參閱第三圖)上之一適當高度，設有輸送槽道A1輸送由震動送料機A2(圖示於第三圖)整列傳送的受測元件；        一第一轉盤B，設於該檢測台面A上，並以一第一間歇性旋轉流路進行搬送，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之載槽B1，環列佈設之載槽B1外周設有限位件B2，以防止旋轉搬送的受測元件受離心力拋出；該第一轉盤B形成一順時針的第一間歇性旋轉流路並承收自輸送槽道A1輸入的受測元件，該第一間歇性旋轉流路上依序設有一電性檢測單元B3、一共通管B4；       一第二轉盤C，設於該檢測台面A上，並以一第二間歇性旋轉流路進行搬送，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之載槽C1，環列佈設之載槽B1外周設有限位件C2，以防止旋轉搬送的受測元件受離心力拋出；該第二轉盤C形成一順時針的第二間歇性旋轉流路，並與該第一轉盤B鄰近；該第二間歇性旋轉流路上的各載槽C1分別各自對應設有排出通道C3；        該第一轉盤B、第二轉盤C間以一連接單元D形成搬送流路的連接，其可為一通道或以吸附搬送方式傳遞受測元件於第一轉盤B之載槽B1及第二轉盤C之載槽C1間的傳送機構；第一轉盤B、第二轉盤C、連接單元D同設在該水平檢測台面A上；該共通管B4位於越過該連接單元D的後段第一間歇性旋轉流路上，如此可避開與前段第一間歇性旋轉流路上各種檢測單元或裝置的干涉；        該第一轉盤B進行搬送的第一間歇性旋轉流路在該連接單元D處形成二個相分叉的流路；當受測元件經電性檢測單元B3進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較高的受測元件時，該受測元件被搬送到達該連接單元D處時，將由第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路自水平徑向排出，並進入連接單元D，再以水平徑向進入第二轉盤C的第二間歇性旋轉流路的載槽C1被搬送，並依電性檢測結果被排入預設的載槽C1分別各自對應的排出通道C3，以排出第二轉盤C的第二間歇性旋轉流路；當受測元件經電性檢測單元B4進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較低的受測元件時，該受測元件被搬送到達該連接單元D處時，將續循第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路被搬送越過連接單元D，而到達共通管B4，並由共通管B4排出第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路；        該第一轉盤B之圓徑較第二轉盤C的圓徑小，使受測元件可以在較小的第一間歇性旋轉流路完成電性檢測後，儘快被搬送至第二轉盤C的各排出通道C3以及由共通管B4排出第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路，同時亦因第二轉盤C的圓徑較大，故可以在較大的第二間歇性旋轉流路中排列更多的分BIN。
請參閱圖2、3，落料頻率較高的受測元件經第二轉盤C的排出通道C3排出後，將直接經由排出管C4毫無阻滯並直通地排入對應設於檢測台面A下方的第一料盒裝置E中複數個中的一個被預先設定的第一料盒E1；落料頻率較低的受測元件在經由共通管B4排出檢測台面A上第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路後，將經一排出管B41進入一分配機構F，並經由該分配機構F將受測元件依其電性檢測結果進行分配，以傳送至預定的導管F6被排入對應設於該分配機構F下方的第二料盒裝置G中複數個中的一個被預先設定的第二料盒G1；該分配機構F與震動送料機A2位同一側，並與檢測台面A分別位於機台台面H不同的兩側，該分配機構F並位於機台台面H上，其較檢測台面A處於較低的階層；            其中，用以承收落料頻率較高的受測元件之第一料盒裝置E被配置在靠第二轉盤C一側下方且為對應檢測台面A的下方；用以承收落料頻率較低的受測元件之二料盒裝置G被配置在靠第一轉盤B一側下方且為對應分配機構F的下方；該第一料盒裝置E中的第一料盒E1呈一圓筒狀並具有圓形截面；該第二料盒裝置G中的第二料盒G1呈一長方筒狀並具有一方矩形截面；該第一料盒E1容積較大以承接並收容數量較多的落料頻率較高的受測元件，而第二料盒G1容積較小，以承接並收容數量較少之落料頻率較低的受測元件，並因第二料盒G1容積設計為較小，故可配合落料頻率較低的受測元件其分BIN必須較多的需求，使第二料盒裝置G可以較小的體積容置較多的第二料盒G1；而第一料盒E1與第二料盒G1分別設為圓筒狀及長方筒狀等二種不同形狀，可用以區別其中承收落料頻率較高、較低的不同受測元件。
請參閱圖4、5，該分配機構F包括設於機台台面H上的模座F1，其設有一鏤空的操作區間F11，並經由該鏤空的操作區間F11將模座F1區隔出位於操作區間F11一側的第一側座F12，以及對應第一側座F12並與其平行且位於操作區間F11另一側的第二側座F13，和位於第一側座F12與第二側座F13間的第三側座F14；該第一側座F12上方設有由馬達構成的第一驅動件F2，其輸出軸(圖中未示)平行第一側座F12表面，並朝第三側座F14的方向伸設；第二側座F13下方設有一由馬達構成的第二驅動件F3，其偏靠第三側座F14的方向設置，其輸出軸F31垂直第二側座F13表面，並凸伸於第二側座F13表面；第三側座F14上設置一移擺機構F4，其以一第一固定座F41樞設一嵌輪F42，嵌輪F42中設有一轉軸F43，該轉軸F43的圓周設有軸向嵌溝F44，轉軸F43的軸向與該第一側座F12上的第一驅動件F2輸出軸平行，轉軸F43的一端凸伸於嵌輪F42後端，轉軸F43藉該嵌溝F44嵌卡並與嵌輪F42旋轉連動，但轉軸F43可自由伸經嵌輪F42並於其中前後滑移；該轉軸F43位於嵌輪F42的另一端伸經第一固定座F41而與一第二固定座F45固定並在軸向位移上連動，但轉軸F43的旋轉不與第二固定座F45連動；該第二固定座F45呈L型而以一側設於第二側座F13上一滑軌F15，該滑軌F15與轉軸F43之軸向平行；轉軸F43伸經第二固定座F45前方並於端部固設一與轉軸F43軸向垂直的撥架F46，撥架F46底端設有一分配頭F47，該分配頭F47藉排出管B41連接共通管B4(參閱圖3)以承接受測元件；        該第一側座F12上的第一驅動件F2輸出軸(圖中未示)以一與輸出軸軸向垂直圈設的皮帶F21與移擺機構F4嵌輪F42形成連動，使水平設置的轉軸F43可被驅動進行間歇性轉動，而帶動其前端的撥架F46進行與轉軸F43軸向垂直的間歇性旋擺運動；        該第二側座F13的第二驅動件F3之輸出軸F31固設一與輸出軸F31垂直設置的驅動臂F32一端，驅動臂F32另一端則樞設一連動臂F33一端，連動臂F33另一端則與該移擺機構F4第二固定座F45上一樞座F48樞設，並藉此形成連動，以藉單獨驅動第二固定座F45在滑軌F15上滑移作間歇性直線運動時，將帶動轉軸F43可沿轉軸軸向作間歇性直線位移，並連動撥架F46及其上分配頭F47在轉軸F43軸向前、後伸移地作間歇性直線位移，此時分配頭F47的移動動路為一直線並與轉軸F43軸向在相隔一間距下相互平行。
請同時參閱圖6、7，在鏤空的操作區間F11下方設有一三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面的分配座F5，其三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面兩側上端緣F51分別各固設於操作區間F11兩側的第一側座F12及第二側座F13上，而由兩側的第一側座F12及第二側座F13處向下凹陷弧設，分配座F5矩形的凹弧狀平面上設有複數個管座F52，各管座F52的配設呈由上往下的扇形放射狀配置，其下端各分別接設連至第二料盒裝置G中的第二料盒G1的導管F6 (參閱圖2、3)，各管座F52上方端口F53呈凹弧狀平面排列佈設，分配頭F47係在各管座F52上方端口F53排列佈設的凹弧狀平面作上、下的弧形擺移。
請參閱第九、十圖，本發明實施例中的分配機構F 在進行分 類時，當受測元件自第一圖中第一轉盤B的共通管B4排出至分配頭F47時，第一驅動件F2驅動嵌輪F42連動轉軸F43旋轉，使撥架F46載動分配頭F47作間歇性旋擺運動，並貼靠在分配座F5上方凹弧狀平面排列佈設的各管座F52上方端口F53上緣作上、下的弧形擺移，同時第二驅動件F3也使驅動臂F32驅動連動臂F33使第二固定座F45在滑軌F15上以間歇性直線運動作前、後的水平直線滑移，以連動撥架F46載動分配頭F47作前或後位移，而由該弧形擺移配合直線滑移將撥架F46上分配頭F47帶到預定的管座F52上方端口F53，以令排出管B41中的受測元件被卸放至預定的管座F52中被排放收集。
本發明實施例之電子元件分類方法及裝置，由於第一轉盤B、 第二轉盤C、連接單元D同設在該水平檢測台面A上；落料頻率較高的受測元件，使其經第二轉盤C的排出通道C3排出後，直接經由排出管C4毫無阻滯並直通地排入對應設於檢測台面A下方的第一料盒裝置E中複數個中的一個被預先設定的第一料盒E1，其可以簡化排料路徑的阻滯而使落至第一料盒E1的速度較快；落料頻率較低的受測元件在經由共通管B4排出檢測台面A上之第一轉盤B的第一間歇性旋轉流路後，因其落料頻率較低，時間效率上可允許經一排出管B41進入一分配機構F，並經由該分配機構F將受測元件依其電性檢測結果進行分配，以傳送至預定的導管F6被排入對應設於該分配機構F下方的第二料盒裝置G中複數個中的一個被預先設定的第二料盒G1，如此使不同落料頻率的受測元件不僅可分別輸送，同時具落料頻率較高之數量較高的電子元件可被較大容量的第一料盒裝置E中第一料盒E1承載，具落料頻率較低之較少數量電子元件可被較小容量的第二料盒裝置G中第一料盒G1承載，對落料量容置管控更恰當；而第一料盒裝置E中的第一料盒E1及第二料盒裝置G中的第二料盒G1受可不受高度、距檢測台面A遠近限制而提高容量，使產能效率有效提高。
惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此 限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。
A‧‧‧檢測台面
A1‧‧‧輸送槽道
A2‧‧‧震動送料機
B‧‧‧第一轉盤
B1‧‧‧載槽
B2‧‧‧限位件
B3‧‧‧電性件測單元
B4‧‧‧共通管
B41‧‧‧排出管
C‧‧‧第二轉盤
C1‧‧‧載槽
C2‧‧‧限位件
C3‧‧‧排出通道
C4‧‧‧排出管
D‧‧‧連接單元
E‧‧‧第一料盒裝置
E1‧‧‧第一料盒
F‧‧‧分配機構
F1‧‧‧模座
F11‧‧‧操作區間
F12‧‧‧第一側座
F13‧‧‧第二側座
F14‧‧‧第三側座
F15‧‧‧滑軌
F2‧‧‧第一驅動件
F21‧‧‧皮帶
F3‧‧‧第二驅動件
F31‧‧‧輸出軸
F32‧‧‧驅動臂
F33‧‧‧連動臂
F4‧‧‧移擺機構
F41‧‧‧第一固定座
F42‧‧‧嵌輪
F43‧‧‧轉軸
F44‧‧‧嵌溝
F45‧‧‧第二固定座
F46‧‧‧撥架
F47‧‧‧分配頭
F48‧‧‧樞座
F5‧‧‧分配座
F51‧‧‧上端緣
F52‧‧‧管座
F53‧‧‧上方端口
F6‧‧‧導管
G‧‧‧第二料盒裝置
G1‧‧‧第二料盒
H‧‧‧機台台面
圖1係本發明實施例中第一轉盤及第二轉盤在檢測台面上之立體示意圖。 圖2係本發明實施例中第一轉盤及第二轉盤在檢測台面上與第一料盒裝置及第二料盒裝置間聯結關係之正面示意圖。 圖3係本發明實施例中第一轉盤及第二轉盤在檢測台面上與第一料盒裝置及第二料盒裝置間聯結關係之立體示意圖。 圖4係本發明實施例中分配機構之立體示意圖。 圖5係本發明實施例中分配機構之俯視示意圖。 圖6係本發明實施例中分配機構之正面示意圖。 圖7係本發明實施例中分配機構之分配座立體示意圖。
A‧‧‧檢測台面
B‧‧‧第一轉盤
B4‧‧‧共通管
B41‧‧‧排出管
C‧‧‧第二轉盤
C3‧‧‧排出通道
C4‧‧‧排出管
E‧‧‧第一料盒裝置
E1‧‧‧第一料盒
F6‧‧‧導管
G‧‧‧第二料盒裝置
G1‧‧‧第二料盒

Claims (14)

  1. 一種電子元件分類方法，包括：       使複數個受測元件被一第一旋轉流路進行搬送及檢測電性，當檢測出其為落料頻率較高的受測元件時，受測元件被搬送進入另一第二間歇性旋轉流路，並由該第二間歇性旋轉流路的排出通道排入一第一料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第一料盒；當檢測出其為落料頻率較低的受測元件時，受測元件由該第一間歇性旋轉流路上一共通管排出至一第二料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第二料盒。
  2. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分類方法，其中，該落料頻率較低的受測元件由共通管排出後，係被一排出管排至一分配機構，而以一分配頭在一具有複數連接導管的管座上擺移，並將排出管中的受測元件卸放至分配座上預定的管座中，由其接設的導管排放至被預先設定的第二料盒。
  3. 如申請專利範圍第1項所述電子元件分類方法，其中，該第一轉盤、第二轉盤間以一連接單元形成搬送流路的連接，該共通管位於越過該連接單元的後段第一間歇性旋轉流路上。
  4. 一種電子元件分類裝置，包括：        一第一轉盤，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之複數個載槽，其形成一第一間歇旋轉流路並以該載槽承收自一輸送槽道輸入的受測元件，該第一間歇旋轉流路上設有一電性檢測單元及一共通管；       一第二轉盤，其承接該第一轉盤傳送來的受測元件並以一第二間歇旋轉流路進行搬送，周緣環列佈設等間距且設有朝外開口之複數個載槽，各載槽分別對應設有排出通道；        該第一轉盤、第二轉盤間以一連接單元形成搬送流路的連接；當受測元件經電性檢測單元進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較高的受測元件時，該受測元件被搬送到達該連接單元處時，由連接單元進入第二轉盤的第二間歇性旋轉流路的載槽被搬送，並依電性檢測結果被排入預設的載槽分別各自對應的排出通道，以排出第二轉盤的第二間歇性旋轉流路；當受測元件經電性檢測單元進行電性檢測的結果為屬於落料頻率較低的受測元件時，該受測元件被由共通管排出第一轉盤的第一間歇性旋轉流路。
  5. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分類裝置，其中，該落料頻率較高的受測元件由一第一料盒裝置中呈一圓筒狀並具有圓形截面的第一料盒承收，落料頻率較低的受測元件由一第二料盒裝置中呈一長方筒狀並具有一方矩形截面的第二料盒承收，第一料盒容積較第二料盒容積大。
  6. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分類裝置，其中，該第一轉盤之圓徑較第二轉盤的圓徑小。
  7. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分類裝置，其中，該第一轉盤、第二轉盤、連接單元同設在呈水平設置於機台台面上之一適當高度的檢測台面上。
  8. 如申請專利範圍第7項所述電子元件分類裝置，其中，該分配機構與一震動送料機位同一側，並與檢測台面分別位於一機台台面不同的兩側，該分配機構並位於機台台上，其較檢測台面處於較低的階層。
  9. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分類裝置，其中，該落料頻率較高的受測元件經第二轉盤的排出通道排出後，直接經由排出管毫無阻滯並直通地排入一第一料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第一料盒。
  10. 如申請專利範圍第9項所述電子元件分類裝置，其中，該用以承收落料頻率較高的受測元件之第一料盒裝置被配置在靠第二轉盤一側下方。
  11. 如申請專利範圍第4項所述電子元件分類裝置，其中，該落料頻率較低的受測元件在經由共通管排出後，經一排出管進入一分配機構，並經由該分配機構將受測元件依其電性檢測結果進行分配，以傳送至預定的導管被排入對應設於該分配機構下方的第二料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第二料盒。
  12. 如申請專利範圍第11項所述電子元件分類裝置，其中，該用以承收落料頻率較低的受測元件之第二料盒裝置被配置在靠第一轉盤一側下方且為對應分配機構的下方。
  13. 如申請專利範圍第11項所述電子元件分類裝置，其中，該分配機構包括一移擺機構，其設有一水平設置的轉軸，轉軸一端設有一撥架並與其連動，撥架上設有一分配頭， 轉軸受一第一驅動件驅動可作間歇性轉動，及受一第二驅動件驅動可沿轉軸軸向作間歇性直線位移，以帶動分配頭在一設有複數個管座且各管座分別各接設該導管的分配座上擺移；該分配頭藉排出管連接共通管以承接受測元件，並將排出管中的受測元件卸放至分配座上預定的管座中，由其接設的導管排放至第二料盒裝置中複數個中的一個被預先設定的第二料盒。
  14. 一種電子元件分類裝置，包括用以執行申請專利範圍第1至3項任一項所述電子元件分類方法之裝置。
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