KR101127806B1 - 전자부품 공급장치 - Google Patents

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KR101127806B1
KR101127806B1 KR1020110000273A KR20110000273A KR101127806B1 KR 101127806 B1 KR101127806 B1 KR 101127806B1 KR 1020110000273 A KR1020110000273 A KR 1020110000273A KR 20110000273 A KR20110000273 A KR 20110000273A KR 101127806 B1 KR101127806 B1 KR 101127806B1
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정재홍
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미래산업 주식회사
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    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
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Abstract

본 발명은 전자부품을 저장하기 위한 저장홈을 포함하는 공급유닛; 전자부품을 수납하기 위한 수납홈이 복수개 형성된 릴부재; 상기 공급유닛과 상기 릴부재 사이에 위치되게 설치되고, 상기 공급유닛으로부터 공급된 전자부품을 상기 수납홈들 중에서 공급위치에 위치된 수납홈에 수납시키는 픽업유닛; 및 상기 릴부재가 결합되고, 상기 수납홈들이 상기 공급위치 및 전자부품이 픽업되기 위한 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 릴부재를 순환 이동시키는 이동유닛을 포함하는 전자부품 공급장치에 관한 것으로,
본 발명에 따르면, 캐리어테이프에 전자부품들을 수납시키고 커버테이프를 부착시키는 공정을 생략함으로써 전자부품을 공급하기 위한 준비공정에 걸리는 시간을 줄일 수 있다.

Description

전자부품 공급장치{Apparatus for Feeding Electronic components}
본 발명은 표면실장기에 전자부품을 공급하기 위한 전자부품 공급장치에 관한 것이다.
집적회로, 저항기, 스위치 등(이하, '전자부품'이라 함)은 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board) 등과 같은 기판에 실장되어 전기적으로 연결된다. 이러한 전자부품들을 표면실장기술(SMT, Surface Mount Technology)을 이용하여 기판에 자동으로 실장하는 장비가 표면실장기이며, 마운터(Mounter)라고도 한다.
도 1은 일반적인 표면실장기를 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 1을 참고하면, 일반적인 표면실장기(10)는 기판(S)에 전자부품을 실장하는 마운터헤드(11), 및 기판(S)을 이송하는 이송부(12)를 포함한다. 상기 마운터헤드(11)에 의해 기판(S)에 전자부품들이 실장되는 동안, 기판(S)은 실장위치(A)에 위치된다.
상기 표면실장기(10)에는 전자부품을 공급하기 위한 테이프피더(20)가 복수개 설치된다. 상기 마운터헤드(11)는 상기 테이프피더(20)로부터 전자부품을 픽업하여 상기 실장위치(A)로 이동한 후에, 픽업한 전자부품들을 상기 실장위치(A)에 위치된 기판(S)에 실장한다.
상기 테이프피더(20)는 캐리어테이프를 이용하여 상기 마운터헤드(11)가 전자부품을 픽업할 수 있는 픽업위치에 전자부품을 공급할 수 있다. 상기 캐리어테이프에는 전자부품들이 소정 거리로 이격되어서 수납되어 있고, 전자부품들의 상면 측에 커버테이프가 부착되어 있다.
여기서, 상기 테이프피더(20)를 이용하여 상기 표면실장기(10)에 전자부품을 공급하기 위해서는, 전자부품들을 상기 캐리어테이프에 수납시키고, 전자부품들의 상면 측에 커버테이프를 부착시키는 공정이 필요하다. 상기 캐리어테이프에 수납된 모든 전자부품이 소진된 경우에는 해당 테이프피더(20)를 교체하거나 캐리어테이프를 교체하는 공정이 필요한데, 이 경우 상기 표면실장기(10)가 수행하는 실장작업을 중지시켜야 하므로, 작업 시간에 대한 손실이 발생되는 문제가 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제를 해결하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 캐리어테이프에 전자부품들을 수납시키고 커버테이프를 부착시키는 공정을 생략할 수 있고, 간단한 작업으로 전자부품을 보충할 수 있는 전자부품 공급장치를 제공하는 것이다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 전자부품 공급장치는 전자부품을 저장하기 위한 저장홈을 포함하는 공급유닛; 전자부품을 수납하기 위한 수납홈이 복수개 형성된 릴부재; 상기 공급유닛과 상기 릴부재 사이에 위치되게 설치되고, 상기 공급유닛으로부터 공급된 전자부품을 상기 수납홈들 중에서 공급위치에 위치된 수납홈에 수납시키는 픽업유닛; 및 상기 릴부재가 결합되고, 상기 수납홈들이 상기 공급위치 및 표면실장기가 갖는 마운터헤드가 전자부품을 픽업하기 위한 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 릴부재를 순환 이동시키는 이동유닛을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 전자부품 공급장치는 전자부품을 저장하기 위한 저장홈을 포함하는 공급유닛; 전자부품을 수납하기 위한 수납홈이 복수개 형성된 릴부재; 상기 공급유닛과 상기 릴부재 사이에 위치되게 설치되고, 상기 공급유닛으로부터 공급된 전자부품을 상기 수납홈들 중에서 공급위치에 위치된 수납홈에 수납시키는 픽업유닛; 및 상기 릴부재가 결합되고, 상기 수납홈들이 상기 공급위치 및 전자부품이 픽업되기 위한 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 릴부재를 순환 이동시키는 이동유닛을 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.
본 발명은 캐리어테이프에 전자부품들을 수납시키고 커버테이프를 부착시키는 공정을 생략함으로써 전자부품을 공급하기 위한 준비공정에 걸리는 시간을 줄일 수 있다.
도 1은 일반적인 표면실장기를 개략적으로 나타낸 평면도
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 사시도
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도
도 4는 도 3의 I-I 선에 대한 측단면도
도 5는 도 3의 Ⅱ-Ⅱ 선에 대한 측단면도
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도
도 7은 본 발명에 따른 픽업유닛의 개략적인 사시도
도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도
도 9는 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도
도 10은 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도
도 11은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 사시도
도 12는 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도
도 13은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 테스트유닛의 개략적인 평면도
도 14는 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도
도 15는 본 발명에 따른 테스트유닛의 변형된 실시예에 대한 개략적인 평면도
이하에서는 본 발명에 따른 전자부품 공급장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명에 따른 전자부품 공급장치는 크게 제1실시예 내지 제4실시예를 포함하는데, 이하에서는 각 실시예들을 순차적으로 설명한다.
<제1실시예>
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 사시도, 도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도, 도 4는 도 3의 I-I 선에 대한 측단면도, 도 5는 도 3의 Ⅱ-Ⅱ 선에 대한 측단면도이다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 전자부품을 저장하기 위한 공급유닛(2), 전자부품이 픽업되기 위한 픽업위치(PP, 도 3에 도시됨)로 전자부품을 이동시키기 위한 릴부재(3), 상기 릴부재(3)를 순환 이동시키기 위한 이동유닛(4), 및 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 릴부재(3)로 이송하기 위한 픽업유닛(5)을 포함한다. 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 종래 기술에 따른 테이프피더(20, 도 1에 도시됨)를 대신하여 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 전자부품을 공급할 수 있다.
이하에서는 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 및 상기 픽업유닛(5)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 공급유닛(2)에는 전자부품이 저장된다. 전자부품은 상기 픽업유닛(5)에 의해 상기 공급유닛(2)에서 상기 릴부재(3)으로 이송될 수 있다. 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 설치된 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)는 상기 릴부재(3)로부터 전자부품을 픽업하여 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장할 수 있다. 전자부품은 집적회로, 저항기, 스위치, 엘이디(Light Emitting Diode, LED) 등과 같은 발광소자(Luminous element) 등일 수 있다. 예컨대, 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)는 백라이트유닛(Back-light Unit)에 사용될 기판(S, 도 1에 도시됨)에 엘이디를 실장할 수 있고, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 엘이디를 공급할 수 있다. 상기 백라이트유닛은 액정표시장치(LCD, Liquid Crystal Display) 등에 광원으로 이용되는 것이다. 상기 공급유닛(2)은 저장기구(21) 및 운반기구(22)를 포함할 수 있다.
상기 저장기구(21)는 복수개의 전자부품을 저장하기 위한 저장홈(211)을 포함한다. 상기 저장홈(211)으로 인해 상기 저장기구(21)는 일측이 개방된 형태로 형성될 수 있다. 전자부품들은 상기 저장홈(211)을 통해 상기 저장기구(21)에 저장될 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 종래 기술에서와 같이 캐리어테이프에 전자부품들을 수납시키고 커버테이프를 부착시키는 공정을 생략할 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 저장홈(211)을 통해 상기 저장기구(21)에 전자부품을 저장시키는 것만으로 전자부품을 보충할 수 있고, 이 과정에서 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 및 상기 픽업유닛(5)이 정지하지 않고 계속하여 동작할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 저장기구(21)에 전자부품을 보충하는 작업이 이루어지는 동안에도 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 계속하여 전자부품을 공급할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)가 계속하여 기판(S, 도 1에 도시됨)에 전자부품을 실장할 수 있도록 함으로써 작업 시간이 손실되는 것을 방지할 수 있다.
상기 저장기구(21)는 진동 등을 이용하여 상기 저장홈(211)에 저장되어 있는 전자부품들을 상기 운반기구(22)로 순차적으로 공급할 수 있다. 상기 저장기구(21)는 전자부품들이 상기 운반기구(22)로 이송되도록 안내하는 나선형 홈(미도시)을 포함할 수도 있다. 상기 저장기구(21)는 전체적으로 일측이 개방된 반구 형태로 형성될 수 있고, 상기 저장홈(211)은 반구 형태의 홈으로 형성될 수 있다. 상기 저장기구(21)로 보울피더(Bowl Feeder)가 이용될 수 있다.
상기 운반기구(22)는 상기 저장기구(21)로부터 이송되는 전자부품이 삽입되기 위한 운반홈(221, 도 3에 도시됨)을 포함한다. 전자부품은 상기 저장기구(21)에서 상기 운반홈(221)의 일측으로 공급되고, 상기 운반홈(221)을 따라 상기 운반홈(221)의 타측으로 이동될 수 있다. 상기 운반기구(22)는 진동 등을 이용하여 상기 운반홈(211)에 삽입된 전자부품을 이송할 수 있다. 상기 운반기구(22)로 리니어피더(Linear Feeder)가 이용될 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 운반기구(22)는 전자부품을 이송하는 벨트, 벨트의 양단에 연결된 구동풀리와 종동풀리, 및 상기 구동풀리를 회전시키는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터가 구동풀리를 회전시킴에 따라 상기 벨트가 이동됨으로써 상기 벨트에 안착되어 있는 전자부품들이 이송될 수 있다. 상기 벨트는 상기 운반홈(221)에 삽입되게 설치될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 릴부재(3)는 전자부품을 수납한다. 상기 릴부재(3)는 상기 픽업유닛(5)으로부터 전자부품을 공급받고, 공급받은 전자부품을 상기 픽업위치(PP, 도 3에 도시됨)로 이동시킨다. 상기 픽업위치(PP)에 위치된 전자부품은 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)가 갖는 마운테헤드(11, 도 1에 도시됨)에 의해 픽업되어 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장된다. 상기 릴부재(3)는 전체적으로 폐쇄된 고리 형태로 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 릴부재(3)는 상이 이동유닛(4)에 의해 순환 이동되면서 상기 픽업유닛(5)으로부터 전자부품을 공급받고, 공급받은 전자부품을 상기 픽업위치(PP)로 이동시키는 작업을 반복적으로 수행할 수 있다. 상기 릴부재(3)는 전자부품을 수납하기 위한 복수개의 수납홈(31)을 포함한다.
상기 수납홈(31)들은 상기 릴부재(3)가 이동함에 따라, 상기 픽업유닛(5)이 전자부품을 수납시킬 수 있는 공급위치(SP) 및 상기 픽업위치(PP)에 순차적으로 위치될 수 있다. 상기 릴부재(3)가 순환 이동함에 따라, 상기 수납홈(31)들은 상기 공급위치(SP) 및 상기 픽업위치(PP)에 순차적으로 위치되면서 순환 이동할 수 있다. 상기 공급위치(SP) 및 상기 픽업위치(PP)에는 각각 상기 수납홈(31)이 적어도 하나 이상이 위치될 수 있다. 도 3에는 상기 공급위치(SP)에 2의 수납홈(31)이 위치되고 상기 픽업위치(PP)에는 12개의 수납홈(31)이 위치되는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 공급위치(SP) 및 상기 픽업위치(PP)에는 각각 상기 수납홈(31)이 적어도 하나 이상씩 위치될 수 있다. 상기 공급위치(SP)에 위치되는 수납홈(31)들의 개수는 상기 픽업유닛(5)이 한번에 픽업할 수 있는 전자부품의 개수와 대략 일치할 수 있다. 상기 픽업위치(PP)에 위치된 수납홈(31)들의 개수는 상기 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)가 한번에 픽업할 수 있는 전자부품의 개수와 대략 일치할 수 있다.
상기 수납홈(31)들은 상기 릴부재(3)의 외면(3a)에 형성된다. 상기 수납홈(31)들은 전자부품과 대략 일치하는 형태 및 크기를 갖도록 형성된다. 상기 수납홈(31)은 전체적으로 소정 두께를 갖는 사각판형으로 형성될 수 있다. 상기 수납홈(31)들에 수납된 전자부품들은 상기 릴부재(3)에 지지된다. 상기 릴부재(3)에는 상기 수납홈(31)들이 행렬(Matrix)을 이루며 형성될 수 있다. 예컨대, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 공급위치(SP)에 상기 수납홈(31)들이 (1 X 2) 행렬을 이루며 위치되고, 상기 픽업위치(PP)에 상기 수납홈(31)들이 (6 X 2) 행렬을 이루며 위치되도록, 상기 릴부재(3)에는 상기 수납홈(31)들이 행렬을 이루며 형성될 수 있다. 상기 수납홈(31)들은 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 서로 소정 거리 이격되게 형성된다. 상기 수납홈(31)들은 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B 화살표 방향)으로 동일한 간격으로 이격되게 형성될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 릴부재(3)는 복수개의 관통공(32)을 더 포함한다. 상기 관통공(32)들은 상기 릴부재(3)를 관통하여 형성된다. 상기 이동유닛(4)은 상기 관통공(32)들에 순차적으로 삽입되고 이탈됨으로써 상기 릴부재(3)를 이동시킬 수 있다. 상기 관통공(32)들은 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B)으로 소정 거리 이격되게 형성된다. 상기 관통공(32)들은 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B)으로 동일한 간격으로 이격되게 형성될 수 있다. 상기 관통공(32)들은 상기 릴부재(3)가 이동하는 방향(B 화살표 방향)에 대해 수직한 방향(C 화살표 방향)으로 상기 수납홈(31)들로부터 소정 거리 이격되게 형성될 수 있다. 상기 관통공(32)들은 상기 릴부재(3)의 양측면(3b, 3c)에 형성될 수 있다. 상기 수납홈(31)들은 상기 릴부재(3)의 양측면(3b, 3c)에 형성된 관통공(32)들 사이에 위치되게 형성될 수 있다. 상기 관통공(32)은 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 이동유닛(4)이 상기 관통공(32)에 삽입되고 이탈될 수 있는 형태이면 타원형의 원반형태, 직방체 형태 등 다른 형태로도 형성될 수 있다.
도 2 내지 도 4를 참고하면, 상기 이동유닛(4)에는 상기 릴부재(3)가 결합된다. 상기 이동유닛(4)은 상기 수납홈(31)들이 상기 공급위치(SP)와 상기 픽업위치(PP)에 순차적으로 위치되면서 순환 이동될 수 있도록 상기 릴부재(3)를 순환 이동시킬 수 있다. 상기 이동유닛(4)은 제1이동기구(41, 도 4에 도시됨), 제2이동기구(42, 도 4에 도시됨), 및 회전기구(43, 도 3에 도시됨)를 포함할 수 있다.
상기 제1이동기구(41)는 상기 제2이동기구(42)로부터 이격되게 설치된다. 상기 제1이동기구(41)는 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B 화살표 방향)으로 상기 제2이동기구(42)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 릴부재(3)는 상기 제1이동기구(41)와 상기 제2이동기구(42)에 감기게 결합될 수 있다. 즉, 상기 제1이동기구(41)와 상기 제2이동기구(42)는 상기 릴부재(3)의 내면(3d, 도 4에 도시됨)에 접촉된다. 상기 제1이동기구(41)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있다.
상기 제2이동기구(42)는 상기 제1이동기구(41)로부터 이격되게 설치된다. 상기 제2이동기구(42)는 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B 화살표 방향)에 대해 반대되는 방향으로 상기 제2이동기구(42)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 제2이동기구(42)는 전체적으로 원통 형태로 형성될 수 있다. 상기 제2이동기구(42)는 상기 제1이동기구(41)와 대략 일치하는 형태 및 크기로 형성될 수 있다. 상기 공급위치(SP)와 상기 픽업위치(PP)는 상기 제2이동기구(42)와 상기 제1이동기구(41) 사이에 위치될 수 있다.
상기 회전기구(43, 도 3에 도시됨)는 상기 제1이동기구(41)를 회전시킨다. 상기 회전기구(43)가 상기 제1이동기구(41)를 회전시킴에 따라, 상기 제1이동기구(41)와 상기 릴부재(3) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 릴부재(3)가 이동할 수 있다. 상기 릴부재(3)가 상기 제1이동기구(41)에 의해 이동하면, 상기 릴부재(3)와 상기 제2이동기구(42) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 제2이동기구(42)가 회전할 수 있다. 즉, 상기 회전기구(43)가 상기 제1이동기구(41)를 회전시킴에 따라, 상기 릴부재(3)는 순환 이동할 수 있다. 상기 회전기구(43)는 상기 제1이동기구(41)를 시계방향과 반시계방향 중 어느 한 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(43)는 상기 수납홈(31)들이 상기 공급위치(SP)를 거쳐 상기 픽업위치(PP)로 이동하는 방향으로 상기 제1이동기구(41)를 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(43)는 회전력을 제공하는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 제1이동기구(41)의 회전축(41a)에 직접 결합되어서 상기 제1이동기구(41)를 회전시킬 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 제1이동기구(41)의 회전축(41a)과 상기 모터가 소정 거리로 이격되게 설치된 경우, 상기 회전기구(43)는 상기 제1이동기구(41)의 회전축(41a)과 상기 모터를 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수 있다.
상기 회전기구(43, 도 3에 도시됨)는 상기 제2이동기구(42)를 회전시킬 수도 있다. 상기 회전기구(43)가 상기 제2이동기구(42)를 회전시킴에 따라, 상기 제2이동기구(42)와 상기 릴부재(3) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 릴부재(3)가 이동할 수 있다. 상기 릴부재(3)가 상기 제2이동기구(42)에 의해 이동하면, 상기 릴부재(3)와 상기 제1이동기구(41) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 제1이동기구(41)가 회전할 수 있다. 즉, 상기 회전기구(43)가 상기 제2이동기구(42)를 회전시킴에 따라, 상기 릴부재(3)는 순환 이동할 수 있다. 상기 회전기구(43)는 상기 제2이동기구(42)를 시계방향과 반시계방향 중 어느 한 방향으로 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(43)는 상기 수납홈(31)들이 상기 공급위치(SP)를 거쳐 상기 픽업위치(PP)로 이동하는 방향으로 상기 제2이동기구(42)를 회전시킬 수 있다. 상기 회전기구(43)는 회전력을 제공하는 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 제2이동기구(42)의 회전축(42a)에 직접 결합되어서 상기 제2이동기구(42)를 회전시킬 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 제2이동기구(42)의 회전축(42a)과 상기 모터가 소정 거리로 이격되게 설치된 경우, 상기 회전기구(43)는 상기 제2이동기구(42)의 회전축(42a)과 상기 모터를 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 회전기구(43)는 상기 제1이동기구(41)와 상기 제2이동기구(42)를 모두 회전시킬 수도 있다. 이 경우, 상기 회전기구(43)는 상기 제1이동기구(41)를 회전시키기 위한 제1모터, 및 상기 제2이동기구(42)를 회전시키기 위한 제2모터를 포함할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 회전기구(43)는 상기 제1이동기구(41)의 회전축(41a)에 결합된 제1샤프트, 상기 제2이동기구(42)의 회전축(42a)에 결합된 제2샤프트, 및 상기 제1샤프트와 상기 제2샤프트를 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 회전기구(43)는 하나의 모터를 포함할 수 있고, 상기 모터가 상기 제1이동기구(41)와 상기 제2이동기구(42) 중 어느 하나를 회전시키면, 상기 연결수단에 의해 상기 제1이동기구(41)와 상기 제2이동기구(42) 모두가 회전될 수 있다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 제1이동기구(41)는 복수개의 제1돌출부재(411)를 더 포함한다. 상기 제1이동기구(41)가 회전함에 따라, 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 릴부재(3)에 형성된 관통공(32)들에 순차적으로 삽입될 수 있다. 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 관통공(32)들에 순차적으로 삽입되고 이탈되면서 상기 릴부재(3)를 이동시킬 수 있다. 상기 제1이동기구(41)가 회전함에 따라, 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 관통공(32)들에 삽입되어 상기 릴부재(3)를 소정 거리로 이동시킨 후에 상기 관통공(32)들로부터 이탈된다. 따라서, 상기 제1이동기구(41)와 상기 릴부재(3) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 릴부재(3)를 이동시키는 것에 비교할 때, 상기 제1이동기구(41)는 상기 릴부재(3)를 더 안정적으로 이동시킬 수 있다. 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 제1이동기구(41)의 외주면으로부터 외측 방향으로 돌출되게 형성된다. 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 관통공(32)들에 삽입될 수 있는 형태이면, 사각형태, 삼각형 형태, 원 형태 등 다양한 형태로 형성될 수 있다. 상기 제1돌출부재(411)들은 상기 제1이동기구(41)의 외주면을 따라 서로 소정 거리로 이격되게 형성된다. 상기 제1돌출부재(411)들이 서로 이격되게 형성된 거리는, 상기 관통공(32)들이 서로 이격되게 형성된 거리와 동일할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참고하면, 상기 제2이동기구(42)는 복수개의 제2돌출부재(421)를 더 포함한다. 상기 제2이동기구(42)가 회전함에 따라, 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 릴부재(3)에 형성된 관통공(32)들에 순차적으로 삽입될 수 있다. 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 관통공(32)들에 순차적으로 삽입되고 이탈되면서 상기 릴부재(3)를 이동시킬 수 있다. 상기 제2이동기구(42)가 회전함에 따라, 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 관통공(32)들에 삽입되어 상기 릴부재(3)를 소정 거리로 이동시킨 후에 상기 관통공(32)들로부터 이탈된다. 따라서, 상기 제2이동기구(42)와 상기 릴부재(3) 사이에 작용하는 마찰력에 의해 상기 릴부재(3)를 이동시키는 것에 비교할 때, 상기 제2이동기구(42)는 상기 릴부재(3)를 더 안정적으로 이동시킬 수 있다. 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 제2이동기구(42)의 외주면으로부터 외측 방향으로 돌출되게 형성된다. 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 관통공(32)들에 삽입될 수 있는 형태이면, 사각형태, 삼각형 형태, 원 형태 등 다양한 형태로 형성될 수 있다. 상기 제2돌출부재(421)들은 상기 제2이동기구(42)의 외주면을 따라 서로 소정 거리로 이격되게 형성된다. 상기 제2돌출부재(421)들이 서로 이격되게 형성된 거리는, 상기 관통공(32)들이 서로 이격되게 형성된 거리와 동일할 수 있다.
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 픽업유닛(5)은 상기 공급유닛(2)과 상기 릴부재(3) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 픽업유닛(5)은 상기 공급유닛(2)으로부터 공급된 전자부품을 상기 수납홈(31)들 중에서 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납시킬 수 있다. 상기 픽업유닛(5)은 제1픽업기구(51), 제1설치부재(52), 제2설치부재(53), 및 작동유닛(54)을 포함할 수 있다.
상기 제1픽업기구(51)는 상기 제1설치부재(52)에 결합된다. 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)과 상기 릴부재(3) 간에 이동함으로써 전자부품을 이송할 수 있다. 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)이 갖는 운반기구(22)로부터 전자부품을 픽업한 후, 상기 릴부재(3) 쪽으로 이동하여 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납시킬 수 있다.
상기 제1픽업기구(51)는 제1픽커(511)를 포함한다. 상기 제1픽커(511)는 전자부품을 흡착할 수 있다. 상기 제1픽커(511)에는 흡기장치(미도시)가 연결될 수 있다. 상기 흡기장치는 상기 제1픽업기구(51)에 설치될 수 있다. 상기 제1픽커(511)에 접촉된 전자부품은 흡기장치로부터 제공되는 흡입력에 의해 상기 제1픽커(511)에 흡착될 수 있다.
상기 제1픽업기구(51)는 제2픽커(512)를 더 포함한다. 상기 제2픽커(512)는 상기 제2픽커(512)로부터 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 제2픽커(512)에는 상기 흡기장치가 연결될 수 있다. 상기 제2픽커(512)에 접촉된 전자부품은 흡기장치로부터 제공되는 흡입력에 의해 상기 제2픽커(512)에 흡착될 수 있다.
상기 제1픽커(511)와 상기 제2픽커(512)는 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)들이 서로 이격되게 형성된 거리와 동일한 거리로 이격되게 설치될 수 있다. 따라서, 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)에서 2개의 전자부품을 동시에 픽업할 수 있고, 상기 공급위치(SP)에 위치된 2개의 수납홈(31)들에 2개의 전자부품을 동시에 수납시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 상기 제1픽커(511)와 상기 제2픽커(512)는 상기 릴부재(3)가 순환 이동하는 방향(B 화살표 방향)에 대해 수직한 방향(C 화살표 방향)으로 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1픽업기구(51)는 1개 또는 3개 이상의 픽커(미도시)를 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 릴부재(3)는 상기 제1픽업기구(51)가 갖는 픽커의 개수와 대략 일치하는 개수의 수납홈(31)들이 상기 공급위치(SP)에 위치되게 구성될 수 있다. 상기 픽커들이 서로 이격되게 설치된 간격은, 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)들이 서로 이격되게 형성된 간격과 동일할 수 있다.
상기 제1설치부재(52)는 상기 제2설치부재(53)에 승하강 가능하게 결합된다. 상기 제1설치부재(52)는 상기 제2설치부재(53)에 결합된 상태에서 상기 작동유닛(54)에 의해 승하강될 수 있다. 상기 제1설치부재(52)에는 상기 제1픽업기구(51)가 설치된다. 상기 제1설치부재(52)가 상승되면 상기 제1픽업기구(51)가 상승될 수 있고, 상기 제1설치부재(52)가 하강되면 상기 제1픽업기구(51)가 하강될 수 있다.
상기 제2설치부재(53)는 본체(55)에 제1축방향(X축 방향)으로 이동 가능하게 결합될 수 있다. 도 3을 기준으로 할 때, 상기 제2설치부재(53)는 상기 본체(55)에 좌우로 이동 가능하게 결합될 수 있다. 상기 제2설치부재(53)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동함에 따라, 상기 제2설치부재(53)에 결합된 상기 제1설치부재(52)가 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1설치부재(52)에 설치된 제1픽업기구(51)가 전자부품을 이송하기 위해 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 제2설치부재(53)는 상기 작동유닛(54)에 의해 제1위치와 제2위치 간에 이동될 수 있다. 상기 제2설치부재(53)가 상기 제1위치에 위치될 때 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2) 위에 위치될 수 있고, 상기 제2설치부재(53)가 상기 제2위치에 위치될 때 상기 제1픽업기구(51)는 상기 릴부재(3) 위에 위치될 수 있다.
상기 작동유닛(54)은 상기 제1설치부재(52)를 승하강시킬 수 있고, 상기 제2설치부재(53)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 상기 작동유닛(54)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더 방식, 구동풀리, 종동풀리, 및 벨트를 이용한 벨트 방식, 랙기어 및 피니언기어를 이용한 랙피니언기어 방식, 볼스크류를 이용한 볼스크류 방식, 캠부재를 이용한 캠 방식, 코일과 영구자석 등을 이용한 리니어모터 방식 등에 의해 상기 제1설치부재(52)를 승하강시킬 수 있고, 상기 제2설치부재(53)를 상기 제1축방향(X축 방향)으로 이동시킬 수 있다.
도 3 및 도 5를 참고하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 제1지지기구(6, 도 5에 도시됨)를 더 포함한다. 상기 제1지지기구(6)는 상기 픽업위치(PP, 도 3에 도시됨)에서 상기 릴부재(3)를 지지한다. 상기 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)가 상기 픽업위치(PP)에 위치된 수납홈(31)으로부터 전자부품을 픽업할 때, 상기 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)는 상기 릴부재(3)를 누르는 방향으로 힘을 가하게 된다. 이 경우, 상기 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)가 상기 릴부재(3)에 가하는 힘에 의해, 상기 릴부재(3)가 소정 거리 이상 처지게 되면 상기 마운터헤드(11, 도 3에 도시됨)가 전자부품을 픽업하는 작업에 실패할 수 있다. 이를 방지하기 위해, 상기 제1지지기구(6)는 상기 픽업위치(PP)에서 상기 릴부재(3)를 지지한다.
상기 제1지지기구(6)는 상기 픽업위치(PP)에 위치된 수납홈(31)들 아래에 위치되게 설치된다. 즉, 상기 제1지지기구(6)는 상기 릴부재(3) 내부에 위치되게 설치된다. 도시되지는 않았지만, 상기 제1지지기구(6)는 상기 릴부재(3) 외부로 연장되게 형성된 제1연장부재, 및 상기 제1연장부재를 지지하기 위한 제1받침부재를 포함할 수 있다. 상기 제1받침부재는 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)가 갖는 베이스(1a, 도 2에 도시됨)에 결합될 수 있다. 상기 제1지지기구(6)는 전체적으로 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 픽업위치(PP)에서 상기 릴부재(3)를 지지할 수 있는 형태이면 다른 형태로도 형성될 수 있다. 상기 픽업위치(PP)에 상기 수납홈(31)이 복수개 위치되는 경우, 상기 제1지지기구(6)는 상기 픽업위치(PP)에 위치된 수납홈(31)들 모두를 지지할 수 있는 크기로 형성될 수 있다.
도 3 및 도 5를 참고하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 제2지지기구(7, 도 5에 도시됨)를 더 포함한다. 상기 제2지지기구(7)는 상기 공급위치(SP, 도 3에 도시됨)에서 상기 릴부재(3)를 지지한다. 상기 픽업유닛(5)이 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 전자부품을 수납시킬 때, 상기 픽업유닛(5)은 상기 릴부재(3)를 누르는 방향으로 힘을 가하게 된다. 이 경우, 상기 픽업유닛(5)이 상기 릴부재(3)에 가하는 힘에 의해, 상기 릴부재(3)가 소정 거리 이상 처지게 되면 상기 픽업유닛(5)이 전자부품을 수납시키는 작업에 실패할 수 있다. 이를 방지하기 위해, 상기 제2지지기구(7)는 상기 공급위치(SP)에서 상기 릴부재(3)를 지지한다.
상기 제2지지기구(7)는 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)들 아래에 위치되게 설치된다. 즉, 상기 제2지지기구(7)는 상기 릴부재(3) 내부에 위치되게 설치된다. 도시되지는 않았지만, 상기 제2지지기구(7)는 상기 릴부재(3) 외부로 연장되게 형성된 제2연장부재, 및 상기 제2연장부재를 지지하기 위한 제2받침부재를 포함할 수 있다. 상기 제2받침부재는 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)가 갖는 베이스(1a, 도 2에 도시됨)에 결합될 수 있다. 상기 제2지지기구(7)는 전체적으로 직방체 형태로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 공급위치(SP)에서 상기 릴부재(3)를 지지할 수 있는 형태이면 다른 형태로도 형성될 수 있다. 상기 공급위치(SP)에 상기 수납홈(31)이 복수개 위치되는 경우, 상기 제2지지기구(7)는 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)들 모두를 지지할 수 있는 크기로 형성될 수 있다. 상기 제2지지기구(7)는 상기 제1지지기구(6)로부터 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 제2지지기구(7)와 상기 제1지지기구(6)는 일체로 형성될 수도 있다.
도 3 및 도 5를 참고하면, 본 발명에 따른 전자부품 공급장치(1)는 감지유닛(8, 도 5에 도시됨)을 더 포함한다. 상기 감지유닛(8)은 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지한다. 상기 릴부재(3)는 복수개의 감지공(33)을 더 포함한다. 상기 감지공(33)들은 상기 릴부재(3)를 관통하여 형성된다. 상기 감지공(33)들은 각각 상기 수납홈(31)들에 위치되게 형성된다. 상기 감지공(33)들은 전자부품보다 작은 크기를 갖도록 형성된다. 상기 감지유닛(8)은 상기 감지공(33)을 통해 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 상기 감지공(33)은 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납된 경우 전자부품에 의해 막히고, 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되지 않은 경우 막히지 않는다. 상기 감지유닛(8)은 상기 수납홈(31)이 막혀 있는지 막혀 있지 않은지를 구분하여 감지함으로써, 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 상기 감지유닛(8)은 광센서일 수 있다.
상기 감지유닛(8)은 상기 픽업위치(PP)에 전자부품이 수납되지 않은 수납홈(31)이 위치되는 것을 방지하기 위해 설치될 수 있다. 이 경우, 상기 감지유닛(8)은 상기 제1지지기구(6)에 설치될 수 있다. 상기 제1지지기구(6)에는 상기 감지유닛(8)이 설치되기 위한 제1설치홈(61)이 형성된다. 상기 제1설치홈(61)은 상기 제1지지기구(6)에서 상기 릴부재(3)를 지지하기 위한 일면에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 감지유닛(8)은 상기 픽업위치(PP)에서 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지할 수 있다. 상기 픽업위치(PP)에 상기 수납홈(31)이 복수개 위치되는 경우, 상기 제1지지기구(6)에는 상기 제1설치홈(61)이 복수개 형성될 수 있다. 상기 제1설치홈(61)들 각각에는 상기 감지유닛(8)이 설치될 수 있다.
상기 감지유닛(8)은 상기 픽업위치(PP)에 전자부품이 수납되지 않은 수납홈(31)이 위치되는 것을 방지하기 위해, 상기 제2지지기구(7)에 설치될 수도 있다. 상기 제2지지기구(7)에는 상기 감지유닛(8)이 설치되기 위한 제2설치홈(71)이 형성된다. 상기 제2설치홈(71)은 상기 제2지지기구(7)에서 상기 릴부재(3)를 지지하기 위한 일면에 형성될 수 있다. 이에 따라, 상기 감지유닛(8)은 상기 공급위치(SP)에서 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되는지 여부를 감지할 수 있다. 상기 공급위치(SP)에 상기 수납홈(31)이 복수개 위치되는 경우, 상기 제2지지기구(7)에는 상기 제2설치홈(71)이 복수개 형성될 수 있다. 상기 제2설치홈(71)들 각각에는 상기 감지유닛(8)이 설치될 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 감지유닛(8)은 상기 픽업위치(PP)와 상기 공급위치(SP) 사이에 위치되게 설치될 수도 있다. 상기 수납홈(31)들은 상기 공급위치(SP)에서 상기 픽업위치(PP)로 순차적으로 이동하므로, 상기 공급위치(SP)에서 상기 픽업위치(PP)로 이동하는 과정에서 상기 감지유닛(8)에 의해 전자부품이 수납되어 있는지 여부가 감지될 수 있다. 상기 감지유닛(8)은 상기 픽업위치(PP)에 위치되는 수납홈(31)들 중에서 상기 공급위치(SP) 쪽에 가장 가까운 수납홈(31) 쪽에만 설치될 수도 있다. 즉, 상기 감지유닛(8)은 상기 수납홈(31)들이 상기 픽업위치(PP)로 진입하는 입구 쪽에만 설치될 수도 있다.
상기 감지유닛(8)은 상기 공급위치(SP)에 전자부품이 수납된 수납홈(31)이 위치되는 것을 방지하기 위해 설치될 수도 있다. 이 경우, 상기 감지유닛(8)은 상기 제2설치홈(71)에 위치되게 상기 제2지지기구(7)에 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 감지유닛(8)은 상기 공급위치(SP)에서 상기 수납홈(31)에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지할 수 있다.
<제2실시예>
이하에서는 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도, 도 7은 본 발명에 따른 픽업유닛의 개략적인 사시도, 도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도이다.
도 6을 참고하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 상기 픽업유닛(5), 및 전자부품을 테스트하기 위한 테스트유닛(9)을 포함한다.
본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서, 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 및 상기 픽업유닛(5)은 상술한 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)와 대략 일치하게 구성될 수 있으므로, 이들에 대한 구체적인 설명은 생략하고 차이점이 있는 부분만 설명한다. 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상술한 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)와 마찬가지로 상기 제1지지기구(6), 상기 제2지지기구(7), 및 상기 감지유닛(8) 중 적어도 하나를 더 포함할 수도 있다.
도 6을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)은 전자부품이 갖는 전기적 특성을 테스트할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 전자부품을 테스트함으로써, 전자부품이 향하는 방향에 관한 테스트정보를 획득할 수 있다. 예컨대, 전자부품이 2개의 단자를 갖는 엘이디인 경우, 상기 테스트유닛(9)은 상기 단자들을 통해 정방향과 역방향 전압을 차례로 공급하고, 이로부터 도출된 전류값으로부터 엘이디가 향하는 방향에 관한 테스트정보를 획득할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 전자부품을 테스트함으로써 전자부품이 양품인지 불량인지에 관한 테스트정보를 획득할 수도 있다. 상기 테스트유닛(9)은 획득한 테스트정보를 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 제공할 수 있다. 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)는 상기 테스트정보를 이용하여 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 전자부품이 정확한 방향으로 실장되도록 전자부품을 회전시킨 후 실장할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 전자부품에 접속되기 위한 접속핀(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 접속핀은 전자부품에 접속되거나 이격되도록 이동될 수 있다.
도 6 및 도 7을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)은 상기 공급유닛(2)과 상기 릴부재(3) 사이에 위치되게 설치된다. 상기 픽업유닛(5)은 상기 공급유닛(2)에서 테스트될 전자부품을 픽업하여 상기 테스트유닛(9)으로 이송하고, 상기 테스트유닛(9)에서 테스트된 전자부품을 픽업하여 상기 릴부재(3)로 이송한다. 이 작업에 걸리는 시간을 줄이기 위해, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서, 상기 픽업유닛(5)은 제2픽업기구(56)를 더 포함할 수 있다.
상기 제2픽업기구(56)는 상기 제1설치부재(52)에 결합된다. 상기 제2픽업기구(56)는 상기 테스트유닛(9)과 상기 릴부재(3) 간에 이동함으로써 테스트된 전자부품을 이송할 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)는 상기 테스트유닛(9)으로부터 전자부품을 픽업하여 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)에는 흡기장치(미도시)가 설치될 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)에 접촉된 전자부품은 상기 흡기장치로부터 제공되는 흡입력에 의해 상기 제2픽업기구(56)에 흡착될 수 있다.
상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)과 상기 테스트유닛(9) 간에 이동함으로써 테스트될 전자부품을 이송할 수 있다. 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)이 갖는 운반기구(22)로부터 전자부품을 픽업하여 상기 테스트유닛(9)으로 이송할 수 있다. 이에 따라, 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 릴부재(3)로 이송하기 위해 상기 제1픽업기구(51) 및 상기 제2픽업기구(56) 각각이 이동하는 거리를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 테스트유닛(9)을 거쳐 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다.
도 7 및 도 8을 참고하면, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)는 서로 소정 거리 이격되게 설치된다. 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D1)는, 상기 공급유닛(2)과 상기 테스트유닛(9)이 서로 이격된 거리(D2)와 동일할 수 있다. 그리고, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D1)는, 상기 테스트유닛(9)과 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)이 서로 이격된 거리(D3)와 동일할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1픽업기구(51)가 상기 공급유닛(2)에서 테스트될 전자부품을 픽업할 때, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 테스트유닛(9)에서 테스트된 전자부품을 픽업할 수 있다. 그리고, 상기 제1픽업기구(51)가 상기 테스트유닛(9)에 테스트될 전자부품을 수납시킬 때, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 테스트된 전자부품을 수납시킬 수 있다.
도 6 내지 도 8을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)은 테스트부재(91) 및 보정기구(92)를 포함할 수 있다.
상기 테스트부재(91)에는 전자부품이 수납되는 테스트홈(911)이 형성된다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 테스트홈(911)에 수납된 전자부품을 테스트함으로써, 전자부품이 향하는 방향에 관한 테스트정보를 획득할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 테스트홈(911)에 수납된 전자부품을 테스트함으로써 전자부품이 양품인지 불량인지에 관한 테스트정보를 획득할 수도 있다. 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)에서 테스트될 전자부품을 픽업하고, 픽업한 전자부품을 상기 테스트홈(911)에 수납시킬 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)는 상기 테스트홈(911)으로부터 테스트된 전자부품을 픽업하고, 픽업한 전자부품을 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납시킬 수 있다. 상기 테스트부재(91)에는 상기 접속핀이 이동 가능하게 결합될 수 있다.
상기 보정기구(92)는 상기 테스트홈(911)에 수납된 전자부품의 테스트 결과에 따라 상기 테스트부재(91)를 회전시킬 수 있다. 상기 보정기구(92)는 테스트 결과에 따라 상기 테스트홈(911)에 수납된 전자부품이 향하는 방향이 변경되도록 상기 테스트부재(91)를 회전시킬 수 있다. 상기 보정기구(92)는 테스트 결과에 따라 상기 테스트부재(91)를 회전시킴으로써, 전자부품들이 상기 픽업위치(PP)에서 모두 동일한 방향을 향하게 위치시킬 수 있다.
예컨대, 상기 픽업위치(PP)에서 전자부품들이 모두 제1방향을 향하게 위치시키는 경우, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 다음과 같이 작동될 수 있다.
우선, 테스트 결과 상기 테스트홈(911)에 삽입된 전자부품이 제1방향을 향하는 것으로 확인한 경우, 상기 보정기구(92)는 상기 테스트부재(91)를 회전시키지 않는다. 이 경우, 전자부품은 방향이 변경됨이 없이 제1방향을 향한 상태로 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납되고, 해당 수납홈(31)이 상기 픽업위치(PP)로 이동함으로써 상기 픽업위치(PP)에서 상기 제1방향을 향한 상태로 위치된다.
다음, 테스트 결과 상기 테스트홈(911)에 삽입된 전자부품이 제1방향에 반대되는 제2방향을 향하는 것으로 확인한 경우, 상기 보정기구(92)는 상기 테스트부재(91)를 회전시킨다. 상기 보정기구(92)는 상기 테스트부재(91)를 180° 회전시킬 수 있다. 이 경우, 전자부품은 방향이 180° 변경되어 제1방향을 향한 상태로 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납되고, 해당 수납홈(31)이 상기 픽업위치(PP)로 이동함으로써 상기 픽업위치(PP)에서 상기 제1방향을 향한 상태로 위치된다.
따라서, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 픽업위치(PP)에서 전자부품들이 모두 동일한 방향을 향하게 위치시킬 수 있고, 이에 따라 마운터헤드(11, 도 6에 도시됨)가 상기 픽업위치(PP)에 위치된 전자부품이 어느 방향을 향하는 것인지에 따라 별도의 작업을 수행하는 과정을 없앨 수 있다. 이로 인해, 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)가 기판(S, 도 1에 도시됨)에 전자부품을 실장하는데 걸리는 시간이 단축되도록 할 수 있다.
상기 보정기구(92)는 모터(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 테스트부재(91)의 회전축에 직접 결합되어서 상기 테스트부재(91)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 테스트부재(91)의 회전축이 소정 거리로 이격된 경우, 상기 보정기구(92)는 상기 모터와 상기 테스트부재(91)의 회전축을 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수 있다.
<제3실시예>
이하에서는 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 9는 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도이고, 도 10은 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도이다.
도 9 및 도 10을 참고하면, 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 상기 픽업유닛(5), 및 상기 테스트유닛(9)을 포함한다. 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상술한 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)와 마찬가지로 상기 제1지지기구(6), 상기 제2지지기구(7), 및 상기 감지유닛(8) 중 적어도 하나를 더 포함할 수도 있다.
본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서, 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 상기 픽업유닛(5), 및 상기 테스트유닛(9)은 상술한 본 발명의 제2실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)와 대략 일치하게 구성될 수 있으므로, 이들에 대한 구체적인 설명은 생략하고 차이점이 있는 부분만 설명한다.
도 9 및 도 10을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)은 복수개의 테스트홈(911)을 포함한다. 상기 테스트홈(911)은 상기 테스트부재(91)에 형성될 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 테스트홈(911)에 수납된 전자부품을 테스트할 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이, 상기 테스트유닛(9)은 2개의 테스트홈들(911, 911')을 포함할 수 있다. 상기 테스트홈들(911, 911')은 상기 제1축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 형성될 수 있다.
도 9 및 도 10을 참고하면, 상기 제1픽업기구(51)는 제1픽커(511) 및 제2픽커(512)를 포함한다. 상기 제1픽커(511)와 상기 제2픽커(512)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 상기 제1설치부재(52)에 설치될 수 있다. 상기 제1픽커(511)와 상기 제2픽커(512)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D4)는, 상기 테스트홈들(911, 911')이 서로 이격되게 형성된 거리(D5)와 동일할 수 있다. 따라서, 상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)에서 2개의 전자부품을 동시에 픽업할 수 있고, 상기 테스트홈(911, 911')들에 2개의 전자부품을 동시에 수납시킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 테스트유닛(9)으로 이송할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 공급유닛(2)은 전자부품들이 상기 제1픽커(511)와 상기 제2픽커(512)가 서로 이격되게 설치된 거리(D4)와 동일한 거리로 이격되게 공급할 수 있다.
도 9 및 도 10을 참고하면, 상기 제2픽업기구(56)는 제3픽커(561) 및 제4픽커(562)를 포함한다. 상기 제3픽커(561)와 상기 제4픽커(562)는 상기 제1축방향(X축 방향)으로 소정 거리 이격되게 상기 제1설치부재(52)에 설치될 수 있다. 상기 제3픽커(561)와 상기 제4픽커(562)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D6)는, 상기 테스트홈들(911, 911')이 서로 이격되게 형성된 거리(D5)와 동일할 수 있다. 그리고, 제3픽커(561)와 상기 제4픽커(562)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D6)는, 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈들(31, 31')(도 10에 도시됨)이 서로 이격되게 형성된 거리(D7)와 동일할 수 있다. 따라서, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 테스트유닛(9)에서 2개의 전자부품을 동시에 픽업할 수 있고, 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈들(31, 31')에 2개의 전자부품을 동시에 수납시킬 수 있다. 따라서, 본 발명의 제3실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 테스트유닛(9)에서 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1픽업기구(51)는 3개 이상의 픽커(미도시)를 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 테스트유닛(9)은 상기 제1픽업기구(51)가 갖는 픽커의 개수와 대략 일치하는 개수의 테스트홈(91)들을 포함하도록 구성될 수 있다. 상기 제1픽업기구(51)가 갖는 픽커들이 서로 이격되게 설치된 간격은, 상기 테스트홈(91)들이 서로 이격되게 형성된 간격과 동일할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제2픽업기구(56)는 3개 이상의 픽커(미도시)를 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 릴부재(3)는 상기 제2픽업기구(56)가 갖는 픽커의 개수와 대략 일치하는 개수의 수납홈(31)들이 상기 공급위치(SP)에 위치되게 구성될 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)가 갖는 픽커들이 서로 이격되게 설치된 간격은, 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)들이 서로 이격되게 형성된 간격과 동일할 수 있다. 그리고, 상기 제2픽업기구(56)가 갖는 픽커들이 서로 이격되게 설치된 간격은, 상기 테스트홈(91)들이 서로 이격되게 형성된 간격과 동일할 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)가 갖는 픽커들의 개수와, 상기 제1픽업기구(51)가 갖는 픽커들의 개수는 동일할 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 테스트유닛(9)은 상기 테스트부재(91) 및 상기 보정기구(92)를 각각 복수개 포함할 수도 있다. 이 경우, 상기 테스트부재(91)에는 각각 상기 테스트홈(911)이 형성된다. 상기 보정기구(92)들은 상기 테스트홈(911)들에 수납된 전자부품들에 대한 테스트 결과에 따라 상기 테스트부재(91)들을 개별적으로 회전시킬 수 있다. 따라서, 상기 보정기구(92)들은 테스트 결과에 따라 상기 테스트부재(91)들을 개별적으로 회전시킴으로써, 전자부품들이 상기 픽업위치(PP)에서 모두 동일한 방향을 향하게 위치시킬 수 있다.
<제4실시예>
이하에서는 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 11은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 사시도, 도 12는 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치의 개략적인 평면도, 도 13은 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 테스트유닛의 개략적인 평면도, 도 14는 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치에 있어서 픽업유닛의 개략적인 작동상태도, 도 15는 본 발명에 따른 테스트유닛의 변형된 실시예에 대한 개략적인 평면도이다.
도 11 및 도 12를 참고하면, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 상기 픽업유닛(5), 및 상기 테스트유닛(9)을 포함한다. 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상술한 본 발명의 제1실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)와 마찬가지로 상기 제1지지기구(6), 상기 제2지지기구(7), 및 상기 감지유닛(8) 중 적어도 하나를 더 포함할 수도 있다.
본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서, 상기 공급유닛(2), 상기 릴부재(3), 상기 이동유닛(4), 상기 픽업유닛(5), 및 상기 테스트유닛(9)은 상술한 본 발명의 제2실시예와 상기 제3실시예 중 어느 하나에 따른 전자부품 공급장치(1)와 대략 일치하게 구성될 수 있으므로, 이들에 대한 구체적인 설명은 생략하고 차이점이 있는 부분만 설명한다.
도 12 및 도 13을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)은 안착부재(93), 회전부재(94), 및 제1회전유닛(95, 도 11에 도시됨)를 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상술한 제2실시예 및 제3실시예와 비교할 때, 상기 테스트부재(91)를 대신하여 상기 안착부재(93)와 상기 회전부재(94)를 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 안착부재(93)에 지지된 전자부품을 테스트함으로써, 전자부품이 향하는 방향에 관한 테스트정보를 획득할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 안착부재(93)에 수납된 전자부품을 테스트함으로써 전자부품이 양품인지 불량인지에 관한 테스트정보를 획득할 수도 있다.
상기 안착부재(93)는 전자부품을 지지할 수 있다. 상기 안착부재(93)에 지지되는 전자부품은 흡착장치(미도시)에 의해 상기 안착부재(93)에 흡착될 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 안착부재(93)는 전자부품이 수납되기 위한 안착홈을 포함할 수도 있다.
상기 안착부재(93)는 상기 회전부재(94)에 복수개가 결합될 수 있다. 상기 안착부재(93)들은 전자부품이 로딩되는 로딩위치(LP), 전자부품이 테스트되는 제1테스트위치(TP1), 및 전자부품이 언로딩되는 언로딩위치(ULP)에 순차적으로 위치될 수 있다. 상기 로딩위치(LP)는 상기 픽업유닛(5)이 테스트될 전자부품을 상기 안착부재(93)에 안착시킬 수 있는 위치이다. 상기 제1테스트위치(TP1)는 전자부품이 테스트되는 위치로, 상기 로딩위치(LP)와 상기 언로딩위치(ULP) 사이에 위치할 수 있다. 상기 언로딩위치(ULP)는 상기 픽업유닛(5)이 테스트된 전자부품을 상기 안착부재(93)로부터 픽업할 수 있는 위치이다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 테스트함으로써 전자부품이 향하는 방향에 관한 테스트정보를 획득할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 테스트함으로써 전자부품이 양품인지 불량인지에 관한 테스트정보를 획득할 수도 있다.
상기 안착부재(93)들은 각각 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치될 수 있도록 상기 회전부재(94)에 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 로딩위치(LP)에서는 상기 안착부재(93)에 테스트될 전자부품이 로딩되고, 상기 제1테스트위치(TP1)에서는 상기 안착부재(93)에 안착된 전자부품이 테스트되며, 상기 언로딩위치(ULP)에서는 상기 안착부재(93)로부터 테스트된 전자부품이 언로딩될 수 있다.
상기 회전부재(94)에는 상기 안착부재(93)가 복수개 결합될 수 있다. 상기 회전부재(94)는 상기 제1회전유닛(95, 도 11에 도시됨)에 의해 회전축(94a, 도 13에 도시됨)을 중심으로 회전될 수 있다. 상기 회전부재(94)는 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 상기 안착부재(93)들이 순차적으로 위치되도록 회전될 수 있다.
상기 회전부재(94)에는 상기 안착부재(93)들이 회전축(94a)을 중심으로 동일한 각도로 이격되게 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 회전부재(94)가 회전축(94a)을 중심으로 일정 각도로 회전되면, 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에는 각각 상기 안착부재(93)가 동시에 위치될 수 있다. 예컨대, 상기 회전부재(94)에는 상기 안착부재(93)들이 회전축(94a)을 중심으로 90°씩 이격되어 결합될 수 있다. 이 경우, 상기 회전부재(94)가 90°씩 회전된 후 정지됨에 따라, 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에는 각각 상기 안착부재(93)가 동시에 위치될 수 있다.
상기 회전부재(94)에는 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 동시에 위치되는 안착부재(93)들 외에 더 많은 개수의 안착부재(93)가 결합될 수 있다. 이에 따라, 상기 제1회전유닛(95, 도 11에 도시됨)이 상기 안착부재(93)들을 다음 위치로 이동시키기 위해 상기 회전부재(94)를 회전시키는 각도를 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 제1회전유닛(95)이 상기 안착부재(93)들을 다음 위치로 이동시키는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 도 13에는 상기 회전부재(94)에 4개의 안착부재(93)가 결합된 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않으며 상기 회전부재(94)에는 3개 또는 4개 이상의 안착부재(93)가 결합될 수도 있다.
상기 제1회전유닛(95, 도 11에 도시됨)은 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 상기 안착부재(93)들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재(94)를 회전시킬 수 있다. 상기 제1회전유닛(95)이 상기 회전부재(94)를 회전시킴에 따라, 상기 안착부재(93)들은 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 순차적으로 위치되면서 순환될 수 있다. 상기 제1회전유닛(95)은 상기 회전부재(94)를 회전축(94a)을 중심으로 회전시킬 수 있다.
상기 제1회전유닛(95)은 상기 회전부재(94)를 회전시키기 위한 모터를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 회전부재(94)의 회전축(94a)에 직접 결합되어서 상기 회전부재(94)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 회전부재(94)의 회전축(94a)이 소정 거리로 이격된 경우, 상기 제1회전유닛(95)은 상기 모터와 상기 회전부재(94)의 회전축(94a)을 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수 있다.
상기 테스트유닛(9)이 상술한 바와 같이 구성되는 경우, 본 발명에 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서 상기 픽업유닛(5)은 다음과 같이 구성될 수 있다.
도 12 내지 도 14를 참고하면, 상기 픽업유닛(5)은 테스트될 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 로딩위치(LP)에 위치된 안착부재(93)로 이송할 수 있다. 상기 픽업유닛(5)은 테스트된 전자부품을 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 안착부재(93)에서 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 상기 픽업유닛(5)은 테스트된 전자부품을 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 수납시킬 수 있다. 이 작업에 걸리는 시간을 줄일 수 있도록, 상기 픽업유닛(5)은 제1픽업기구(51) 및 제2픽업기구(56)를 포함할 수 있다.
상기 제1픽업기구(51)는 상기 공급유닛(2)에서 테스트될 전자부품을 픽업하여 상기 로딩위치(LP)에 위치된 안착부재(93)로 이송할 수 있다. 즉, 상기 제1픽업기구(51)는 상기 로딩위치(LP)에 위치된 안착부재(93)에 테스트될 전자부품을 로딩할 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)는 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 안착부재(93)로부터 테스트된 전자부품을 픽업하여 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 즉, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 안착부재(93)로부터 테스트된 전자부품을 언로딩할 수 있다. 따라서, 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 테스트유닛(9)을 거쳐 상기 릴부재(3)로 이송하기 위해, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56) 각각이 이동하는 거리를 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있고, 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 픽업위치(PP)에 공급할 수 있다.
도 14를 참고하면, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D1)는, 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 안착부재(93)와 상기 공급유닛(2)이 서로 이격된 거리(D8)와 동일할 수 있다. 그리고, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)가 상기 제1설치부재(52)에 서로 이격되게 설치된 거리(D1)는, 상기 로딩위치(LP)에 위치된 안착부재(93)와 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)이 서로 이격된 거리(D9)와 동일할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1픽업기구(51)가 상기 공급유닛(2)에서 테스트될 전자부품을 픽업할 때, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 언로딩위치(ULP)에 위치된 안착부재(93)로부터 테스트된 전자부품을 픽업할 수 있다. 그리고, 상기 제1픽업기구(51)가 상기 로딩위치(LP)에 위치된 안착부재(93)에 테스트될 전자부품을 안착시킬 때, 상기 제2픽업기구(56)는 상기 공급위치(SP)에 위치된 수납홈(31)에 테스트된 전자부품을 수납시킬 수 있다.
도시되지는 않았지만, 상기 제1픽업기구(51)와 상기 제2픽업기구(56)는 각각 복수개의 픽커를 포함할 수도 있다. 이에 따라, 상기 픽업유닛(5)은 한번에 복수개의 전자부품을 상기 공급유닛(2)에서 상기 테스트유닛(9)을 거쳐 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 즉, 상기 제1픽업기구(51)가 갖는 픽커들이 상기 공급유닛(2)에서 복수개의 전자부품을 픽업하여 상기 테스트유닛(9)으로 이송할 수 있다. 상기 제2픽업기구(56)가 갖는 픽커들이 상기 테스트유닛(9)에서 복수개의 전자부품을 픽업하여 상기 릴부재(3)로 이송할 수 있다. 이 경우, 상기 로딩위치(LP)와 상기 언로딩위치(ULP)에는 각각 복수개의 안착부재(93)가 위치될 수 있다. 상기 제1테스트위치(TP1)에도 복수개의 안착부재(93)가 위치될 수도 있다.
도 12 내지 도 14를 참고하면, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)에 있어서 상기 테스트유닛(9)은 복수개의 제2회전유닛(96, 도 14에 도시됨)를 더 포함한다.
상기 제2회전유닛(96)들은 상기 회전부재(94)에 설치된다. 상기 제2회전유닛(96)들은 상기 안착부재(93)들을 개별적으로 회전시킬 수 있다. 상기 제2회전유닛(96)들은 각각 상기 안착부재(93)를 회전축을 중심으로 회전시킬 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 회전부재(94)에 결합되는 안착부재(93)들의 개수와 대략 일치하는 개수로 상기 제2회전유닛(96)를 포함할 수 있다. 상기 제2회전유닛(96)들은 상기 회전부재(94)를 기준으로 상기 안착부재(93)들 반대편에 설치될 수 있다. 즉, 상기 안착부재(93)들은 상기 회전부재(94)의 윗면에 설치되고, 상기 제2회전유닛(96)들은 상기 회전부재(94)의 밑면에 설치될 수 있다.
상기 제2회전유닛(96)들은 각각 상기 전자부품에 대한 테스트 결과에 따라 테스트된 전자부품이 향하는 방향이 보정되도록 상기 안착부재(93)를 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 픽업위치(PP)에서 전자부품들이 모두 동일한 방향을 향하게 위치시킬 수 있다. 예컨대, 상기 픽업위치(PP)에서 전자부품들이 모두 제1방향을 향하게 위치시키는 경우, 상기 제2회전유닛(96)들은 다음과 같이 작동될 수 있다.
우선, 테스트 결과 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품이 상기 제1방향에 대해 반대되는 제2방향을 향하는 것으로 확인한 경우, 상기 제2회전유닛(96)은 해당 전자부품이 안착된 안착부재(93)를 180°회전시킨다. 상기 제2회전유닛(96)은 해당 전자부품이 안착된 안착부재(93)를 상기 제1테스트위치(TP1)에서 회전시킬 수 있다. 상기 제2회전유닛(96)은 해당 전자부품이 안착된 안착부재(93)가 상기 제1테스트위치(TP1)에서 상기 언로딩위치(ULP)로 이송되는 도중에 상기 안착부재(93)를 회전시킬 수도 있다. 상기 제2회전유닛(96)은 해당 전자부품이 안착된 안착부재(93)를 상기 언로딩위치(ULP)에서 회전시킬 수도 있다.
다음, 테스트 결과 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품이 상기 제1방향을 향하는 것으로 확인한 경우, 상기 제2회전유닛(96)은 해당 전자부품이 안착된 안착부재(93)를 회전시키지 않는다.
따라서, 본 발명의 제4실시예에 따른 전자부품 공급장치(1)는 상기 테스트유닛(9)에서 전자부품을 테스트하고 전자부품의 방향을 보정하는 작업이 모두 이루어질 수 있으므로, 짧은 시간에 더 많은 전자부품을 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 공급할 수 있다.
상기 제2회전유닛(96)들은 각각 모터(미도시)를 포함할 수 있다. 상기 모터는 상기 안착부재(93)의 회전축에 직접 결합되어서 상기 안착부재(93)를 회전시킬 수 있다. 상기 모터와 상기 안착부재(93)의 회전축이 소정 거리로 이격된 경우, 상기 제2회전유닛(96)들은 각각 상기 모터와 상기 안착부재(93)의 회전축을 연결하는 벨트, 체인 등과 같은 연결수단을 포함할 수 있다.
도 11 및 도 13을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)에는 전자부품이 갖는 광특성을 테스트하기 위한 제1테스트기구(100, 도 11에 도시됨)가 설치될 수 있다. 상기 전자부품은 엘이디 등과 같은 발광소자일 수 있고, 상기 제1테스트기구(100)는 엘이디 등과 같은 발광소자가 방출하는 광에 대한 휘도, 색차, 광도 등의 광특성을 테스트할 수 있다. 상기 제1테스트기구(100)는 상기 광특성을 테스트하기 위해 광검출기(Photo Detector), 분광계(Spectrometer) 등을 포함할 수 있다. 상기 제1테스트기구(100)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치되게 상기 테스트유닛(9)에 설치될 수 있다.
상기 제1테스트기구(100)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 테스트할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품에 접속되기 위한 접속핀(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 테스트유닛(9)은 전자부품이 갖는 전기적인 특성을 테스트하는 과정에서 상기 접속핀에 접속된 전자부품을 발광시킬 수 있고, 상기 제1테스트기구(100)는 전자부품이 방출하는 광을 이용하여 상기 광특성을 테스트할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 제1테스트기구(100)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 발광시키기 위한 별도의 접속핀을 포함할 수도 있다.
도 13을 참고하면, 상기 테스트유닛(9)에는 전자부품이 갖는 외관특성을 테스트하기 위한 제2테스트기구(200)가 설치될 수도 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 전자부품의 외관이 손상되었는지에 관한 외관특성을 테스트할 수 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 CCD 카메라 등을 포함할 수 있고, CCD 카메라가 촬영한 정지영상과 기준정지영상을 비교함으로써 전자부품의 외관이 손상되었지에 관한 외관특성을 테스트할 수 있다. 기준정지영상은 정상적인 외관을 갖는 전자부품에 대한 정지영상일 수 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 테스트할 수 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치되게 상기 테스트유닛(9)에 설치될 수 있다. 상기 제1테스트위치(TP1)에는 상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200) 중 적어도 하나가 설치될 수 있다.
상기 제2테스트기구(200)는 전자부품이 갖는 점등특성을 테스트할 수도 있다. 상기 전자부품은 엘이디 등과 같은 발광소자일 수 있고, 상기 제2테스트기구(200)는 엘이디 등과 같은 발광소자가 정상적으로 점등되는지에 관한 점등특성을 테스트할 수 있다. 상술한 바와 같이 상기 테스트유닛(9)이 전자부품이 갖는 전기적인 특성을 테스트하는 과정에서 상기 접속핀에 접속된 전자부품을 발광시킬 수 있고, 상기 제2테스트기구(200)는 상기 테스트유닛(9)에 의해 전자부품이 방출하는 광을 이용하여 상기 점등특성을 테스트할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 제2테스트기구(200)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 발광시키기 위한 별도의 접속핀을 포함할 수도 있다.
상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200)는 획득한 테스트정보를 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)에 제공할 수 있다. 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)는 상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200)로부터 제공된 테스트정보에 기초하여 상기 마운터헤드(11, 도 12에 도시됨)를 제어할 수 있다. 예컨대, 전자부품이 갖는 성능이 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장할 수 없는 정도인 경우, 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)는 상기 마운터헤드(11, 도 12에 도시됨)가 해당 전자부품을 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장하지 않도록 상기 마운터헤드(11, 도 12에 도시됨)를 제어할 수 있다. 전자부품이 갖는 성능에 따라 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장하여야 하는 위치가 정해지는 경우, 상기 표면실장기(10, 도 1에 도시됨)는 상기 마운터헤드(11, 도 12에 도시됨)가 해당 전자부품을 정해진 위치에 실장하도록 상기 마운터헤드(11, 도 12에 도시됨)를 제어할 수도 있다.
상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200)는 획득한 테스트정보를 상기 픽업유닛(5)에 제공할 수도 있다. 상기 픽업유닛(5)은 상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200)로부터 제공된 테스트정보를 이용하여 상기 제2픽업기구(56)를 제어할 수 있다. 예컨대, 전자부품이 갖는 성능이 상기 기판(S, 도 1에 도시됨)에 실장할 수 없는 정도인 경우, 상기 픽업유닛(5)은 상기 제2픽업기구(56)가 해당 전자부품을 상기 릴부재(3)에 안착시키지 않도록 상기 제2픽업기구(56)를 제어할 수 있다. 이 경우, 상기 픽업유닛(5)은 해당 전자부품이 상기 테스트유닛(9)에서 상기 릴부재(3)로 이송되는 도중 상기 제2픽업기구(56)로부터 이격되도록 상기 제2픽업기구(56)를 제어할 수 있다. 외관이 손상된 전자부품의 경우, 상기 픽업유닛(5)은 별도의 보관부재(미도시)를 포함할 수 있고, 해당 전자부품이 상기 보관부재에 수납되도록 상기 제2픽업기구(56)를 제어할 수도 있다.
도 15를 참고하면, 본 발명의 변형된 실시예에 따른 테스트유닛(9)에는 상기 제1테스트기구(100) 및 상기 제2테스트기구(200)가 서로 다른 위치에 위치되게 설치될 수 있다. 상기 제1테스트기구(100)와 상기 제2테스트기구(200)는 전자부품이 갖는 서로 다른 특성을 테스트할 수 있다. 예컨대, 상기 제1테스트기구(100)는 상기 광특성 등을 테스트할 수 있고, 상기 제2테스트기구(200)는 상기 외관특성, 점등특성 등을 테스트할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 테스트유닛(9)에는 상기 제1테스트기구(100)가 복수개 설치될 수도 있다. 이 경우, 상기 제1테스트기구(100)들 중 어느 하나는 상기 광특성 중 휘도를 테스트할 수 있고, 상기 제1테스트기구(100)들 중 다른 하나는 상기 광특성 중 색차를 테스트할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 테스트유닛(9)에는 상기 제2테스트기구(200)가 복수개 설치될 수도 있다. 이 경우, 상기 제2테스트기구(200)들 중 어느 하나는 상기 외관특성을 테스트할 수 있고, 상기 제2테스트기구(200)들 중 다른 하나는 상기 점등특성을 테스트할 수 있다.
도 15를 참고하면, 상기 제1테스트기구(100)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치된 전자부품을 테스트할 수 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 제2테스트위치(TP2)에 위치된 전자부품을 테스트할 수 있다. 상기 제2테스트위치(TP2)는 상기 제1테스트위치(TP1) 옆에 위치할 수 있고, 상기 제1테스트위치(TP1)와 상기 언로딩위치(ULP) 사이에 위치할 수 있다. 이 경우, 상기 제1회전유닛(95, 도 11에 도시됨)는 상기 로딩위치(LP), 상기 제1테스트위치(TP1), 상기 제2테스트위치(TP2), 및 상기 언로딩위치(ULP)에 상기 안착부재(93)들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재(94)를 회전시킬 수 있다. 상기 제1테스트기구(100)는 상기 제1테스트위치(TP1)에 위치되게 상기 테스트유닛(9)에 설치될 수 있다. 상기 제2테스트기구(200)는 상기 제2테스트위치(TP2)에 위치되게 상기 테스트유닛(9)에 설치될 수 있다. 전자부품은 상기 제1테스트위치(TP1)에서 상기 제1테스트기구(100)에 의해 테스트되고, 상기 제2테스트위치(TP2)에서 상기 제2테스트기구(200)에 의해 테스트된 후, 상기 언로딩위치(ULP)에서 언로딩될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
1 : 전자부품 공급장치 2 : 공급유닛 3 : 릴부재 4 : 이동유닛
5 : 픽업유닛 6 : 제1지지기구 7 : 제2지지기구 8 : 감지유닛
9 : 테스트유닛 21 : 저장기구 22 : 운반기구 31 : 수납홈
32 : 관통공 33 : 감지공 41 : 제1이동기구 42 : 제2이동기구
43 : 회전기구 51 : 제1픽업기구 52 : 제1설치부재 53 : 제2설치부재
54 : 작동유닛 55 : 본체 56 : 제2픽업기구 61 : 제1설치홈
71 : 제2설치홈 91 : 테스트부재 92 : 보정기구 93 : 안착부재
94 : 회전부재 95 : 제1회전유닛 96 : 제2회전유닛

Claims (19)

  1. 전자부품을 저장하기 위한 저장홈을 포함하는 공급유닛;
    전자부품을 수납하기 위한 수납홈이 복수개 형성된 릴부재;
    상기 공급유닛과 상기 릴부재 사이에 위치되게 설치되고, 상기 공급유닛으로부터 공급된 전자부품을 상기 수납홈들 중에서 공급위치에 위치된 수납홈에 수납시키는 픽업유닛; 및
    상기 릴부재가 결합되고, 상기 수납홈들이 상기 공급위치 및 전자부품이 픽업되기 위한 픽업위치에 순차적으로 위치되도록 상기 릴부재를 순환 이동시키는 이동유닛을 포함하는 전자부품 공급장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 이동유닛은
    상기 릴부재가 결합되는 제1이동기구;
    상기 릴부재가 결합되고, 상기 제1이동기구로부터 이격되게 설치된 제2이동기구; 및
    상기 릴부재가 순환 이동되도록 상기 제1이동기구를 회전시키는 회전기구를 포함하는 전자부품 공급장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 릴부재는 복수개의 관통공을 포함하고,
    상기 제1이동기구는 상기 릴부재를 순환 이동시키기 위해 상기 관통공들에 순차적으로 삽입되는 복수개의 제1돌출부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 릴부재는 복수개의 관통공을 포함하고,
    상기 제2이동기구는 상기 릴부재가 순환 이동함에 따라 상기 관통공들에 순차적으로 삽입되는 제2돌출부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 픽업위치는 표면실장기가 갖는 마운터헤드가 전자부품을 픽업하기 위한 위치인 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 이동유닛은 상기 릴부재가 결합되는 제1이동기구, 상기 릴부재가 결합되고 상기 제1이동기구로부터 이격되게 설치된 제2이동기구, 및 상기 릴부재가 순환 이동되도록 상기 제1이동기구와 상기 제2이동기구 중 적어도 하나를 회전시키는 회전기구를 포함하고;
    상기 제1이동기구는 상기 릴부재에 형성된 관통공들에 순차적으로 삽입되기 위한 복수개의 제1돌출부재를 포함하고;
    상기 제2이동기구는 상기 관통공들에 순차적으로 삽입되기 위한 복수개의 제2돌출부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 픽업위치에서 상기 릴부재를 지지하기 위한 제1지지기구; 및
    상기 공급위치에서 상기 릴부재를 지지하기 위한 제2지지기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 수납홈에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지하기 위한 감지유닛을 더 포함하고;
    상기 릴부재는 복수개의 감지공을 포함하되, 상기 감지공들은 각각 상기 수납홈들에 위치되게 형성되고;
    상기 감지유닛은 상기 감지공을 통해 상기 수납홈에 전자부품이 수납되어 있는지 여부를 감지하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 픽업위치에서 상기 릴부재를 지지하기 위한 제1지지기구를 더 포함하고;
    상기 제1지지기구에는 상기 감지유닛이 설치되기 위한 제1설치홈이 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 릴부재에는 상기 수납홈들이 행렬(Matrix)을 이루며 형성되어 있고,
    상기 픽업위치와 상기 공급위치에는 각각 복수개의 수납홈들이 위치되는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 공급유닛과 상기 릴부재 사이에 설치되고, 전자부품을 테스트하기 위한 테스트유닛을 포함하고;
    상기 픽업유닛은 테스트될 전자부품을 상기 공급유닛에서 상기 테스트유닛으로 이송하는 제1픽업기구, 및 테스트된 전자부품을 상기 테스트유닛에서 상기 공급위치에 위치된 수납홈으로 이송하는 제2픽업기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 테스트유닛은
    전자부품이 수납되는 테스트홈이 형성된 테스트부재; 및
    상기 테스트홈에 수납된 전자부품의 테스트 결과에 따라 상기 테스트부재를 회전시키는 보정기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 픽업유닛은 상기 제1픽업기구와 상기 제2픽업기구가 설치되는 제1설치부재를 포함하고,
    상기 공급유닛과 상기 테스트유닛이 서로 이격된 거리는 상기 제1픽업기구와 상기 제2픽업기구가 서로 이격되게 설치된 거리와 동일하고,
    상기 테스트유닛과 상기 공급위치에 위치된 수납홈이 서로 이격된 거리는 상기 제1픽업기구와 상기 제2픽업기구가 서로 이격되게 설치된 거리와 동일한 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제1테스트유닛은 전자부품이 수납되는 테스트홈을 복수개 포함하고;
    상기 제1픽업기구는 서로 이격되게 설치된 제1픽커와 제2픽커를 포함하되, 상기 제1픽커와 상기 제2픽커가 서로 이격되게 설치된 거리는 상기 테스트홈들이 서로 이격된 거리와 동일하고;
    상기 제2픽업기구는 서로 이격되게 설치된 제3픽커와 제4픽커를 포함하되, 상기 제3픽커와 상기 제4픽커가 서로 이격되게 설치된 거리는 상기 테스트홈들이 서로 이격된 거리 및 상기 공급위치에 위치된 수납홈들이 서로 이격된 거리와 동일한 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  15. 제11항에 있어서, 상기 테스트유닛은
    전자부품을 지지하는 안착부재;
    상기 안착부재가 복수개 결합된 회전부재; 및
    전자부품이 로딩되는 로딩위치와, 전자부품이 테스트되는 테스트위치와, 전자부품이 언로딩되는 언로딩위치에 상기 안착부재들이 순차적으로 위치되도록 상기 회전부재를 회전시키는 제1회전유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1픽업기구는 테스트될 전자부품을 상기 공급유닛에서 상기 로딩위치에 위치된 안착부재로 이송하고,
    상기 제2픽업기구는 테스트된 전자부품을 상기 언로딩위치에 위치된 안착부재에서 상기 공급위치에 위치된 수납홈으로 이송하며,
    상기 공급유닛과 상기 로딩위치에 위치된 안착부재가 서로 이격된 거리는 상기 제1픽업기구와 상기 제2픽업기구가 서로 이격되게 설치된 거리와 동일하고,
    상기 언로딩위치에 위치된 안착부재와 상기 공급위치에 위치된 수납홈이 서로 이격된 거리는 상기 제1픽업기구와 상기 제2픽업기구가 서로 이격되게 설치된 거리와 동일한 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 테스트유닛은 상기 회전부재에 설치되고, 상기 안착부재들을 개별적으로 회전시키는 복수개의 제2회전유닛을 포함하고;
    상기 제2회전유닛들은 각각 전자부품에 대한 테스트 결과에 따라 테스트된 전자부품이 향하는 방향이 보정되도록 상기 안착부재를 회전시키는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  18. 제11항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스트유닛에는 제1테스트기구와 제2테스트기구 중 적어도 하나가 설치되고,
    상기 제1테스트기구는 전자부품이 갖는 광특성을 테스트하고,
    상기 제2테스트기구는 전자부품이 갖는 외관특성과 점등특성 중 적어도 하나를 테스트하는 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
  19. 제1항에 있어서,
    상기 공급유닛은 상기 저장홈이 형성된 저장기구를 포함하되, 상기 저장기구는 보울피더(Bowl Feeder)이고;
    상기 저장홈에 저장되는 전자부품은 엘이디(LED)인 것을 특징으로 하는 전자부품 공급장치.
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