KR20040053292A - 디스플레이 디바이스, 수신기 및 테스트 장치 - Google Patents

Abstract

디스플레이 디바이스(3)는 데이터 수신 관련 회로(34)를 검사하여 검사 정보를 생성하는 검사 회로(35), 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 회로(37), 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 비디오 데이터에 중첩시키는 디스플레이 스위칭 회로(36), 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 유닛(31)을 포함한다. 그 결과로, 디스플레이 디바이스(3)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있다. 이것은 디스플레이 디바이스(3) 내부의 노이즈 환경을 변경하지 않고도 디스플레이 디바이스(3) 내부의 데이터 수신 관련 회로(34)에서 단순한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

Description

디스플레이 디바이스, 수신기 및 테스트 장치{DISPLAY DEVICE, RECEIVER, AND TEST APPARATUS}

통상적으로 알려진 디지털 비디오 데이터의 고속 전송을 수행하는 기술에 관련된 표준은 1999. 4. 2에 발표된 "디지털 비쥬얼 인터페이스 개정 1.0(Digital Visual Interface Revision 1.0)" 표준이다(이하에 DVI 표준으로 언급됨(참고 http://www.ddwg.org/)).

도 23은 DVI 표준에 따라 구성되는 전형적인 디지털 비디오 데이터 송신/수신 시스템을 나타낸 블럭도이다.

도 23에서 도시된 바와 같이, 이 디지털 비디오 데이터 송신/수신 시스템은 비디오 데이터 전송기(500), 케이블(501), 디스플레이 디바이스(502)로 구성된다.

비디오 데이터 전송기(500)는 케이블(501)을 거쳐 디스플레이 디바이스(502)에 연결된다.

비디오 데이터 전송기(500)는 비디오 생성 회로(503), 데이터 전송 회로(504), 클럭 신호 생성 회로(505), 제어 신호 전송 회로(506), 제어 신호 수신 회로(507)를 포함한다.

디스플레이 디바이스(502)는 수신 LSI(reception integrated circuit)(508)와 디스플레이 유닛(509)을 포함한다. 수신 LSI(508)는 데이터 수신 회로(510), PLL 회로(Phase Locked Loop)(511), 제어 신호 수신 회로(512), 제어 신호 전송 회로(513)를 포함한다.

이제, 시스템의 동작을 이하에서 간단하게 설명한다.

도 23에서 도시된 바와 같이, 비디오 데이터 전송기(500)의 제어 신호 전송 회로(506)는 비디오 데이터의 전송을 알려주는 제어 신호를 케이블(501)을 거쳐 디스플레이 디바이스(502)의 제어 신호 수신 회로(512)에 보낸다.

제어 신호 수신 회로(512)는 다음에 제어 신호를 수신한다.

디스플레이 디바이스(502)의 제어 신호 전송 회로(513)는 디스플레이 디바이스(502)의 해상도와 같은 디스플레이 제어 정보를 케이블(501)을 거쳐 비디오 데이터 전송기(500)의 제어 신호 수신 회로(507)에 전송한다.

비디오 데이터 전송기(500)의 클럭 신호 생성 회로(505)가 클럭 신호를 생성하고 비디오 생성 회로(503)와 디스플레이 디바이스(502)의 PLL 회로(511)에 클럭 신호를 보낸다.

비디오 생성 회로(503)는 클럭 신호 생성 회로(505)에 의해 제공되는 클럭 신호와 동기하여 비디오 데이터를 출력한다.

그 후, 데이터 전송 회로(504)는 비디오 생성 회로(503)에 의해 출력되는 비디오 데이터를 케이블(501)을 거쳐 디스플레이 디바이스(502)의 데이터 수신 회로(510)로 전송한다.

디스플레이 디바이스(502)의 데이터 수신 회로(510)는 클럭 신호와 동기하여 PLL 회로(511)에 의해 생성되는 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 포착한다.

데이터 수신 회로(510)는 포착된 비디오 데이터를 비디오 데이터가 교대로 디스플레이되는 디스플레이 유닛(509)에 출력한다.

통상적으로, 디스플레이 유닛(509) 상에 출현하는 이미지 장애를 시각적으로 검사하거나 데이터 에러율을 측정하여, 그러한 디지털 비디오 데이터 송신/수신 시스템의 동작을 점검한다.

그러나, 다른 검사자들이 그들의 검사 능력에 따라 다른 결과를 제공하는 그러한 시각적 검사에 대한 문제점들이 있었으며, 그리고 심지어 숙련된 검사자들이 사소하거나 순간적인 장애를 간과할 수 있다.

한편, 데이터 에러율은 수신 LSI(508)에 포함된 회로의 그것에 유사한 기능을 갖는 프로토타입 기판(prototype board)에 연결되어 있는 에러율 측정 기판으로 측정되었다.

그러나, 실제의 제품 개발 공정에서, 테스트는 최종 디스플레이 디바이스(502)의 프로토타입 디바이스를 위해 수행되어야 한다.

이 경우에, 통상적으로, 디스플레이 디바이스(502)의 조립 전에, 에러율 측정 기판을 내부 기판에 접속하여 데이터 에러율을 측정한다.

그러나, 노이즈 환경은 디스플레이 디바이스(502)의 조립 전과 후 사이에서 다르다. 실질적으로, 디스플레이 디바이스(502)는 GHz의 높은 속도로 비디오 데이터 전송기(500)에 의해 전송되는 데이터를 수신하고, 디스플레이 디바이스(502)에서 제공되는 데이터 수신 회로(510)와 같은 회로는 노이즈 환경에 상당히 의존적이다.

이것은 디스플레이 디바이스(502)의 조립 전과 후에 다른 노이즈 환경을 만들어 낼 수 있고, 그러므로 보다 나은 정확성을 지닌 검사를 수행하는 것이 불가피하다.

디스플레이 디바이스(502)의 조립 후에 몇몇의 작은 결함(glitch)이 발견되어 다시 검사되어야할 때에, 에러율 측정 기판을 디스플레이 디바이스(502)의 내부 기판에 연결하기 위해 디스플레이 디바이스(502)를 시간과 인력에서 많은 비용을 들여 분해해야 하는 또 다른 문제점도 있었다.

별도의 커넥터가 에러율 측정 기판에 연결되기 위해 디스플레이 디바이스(502)의 내부 기판에 실장되어야 하고, 그로 인해 패키징 영역에서 증가를 일으키고 추가적인 공정 시간을 요구하는 또 다른 문제점도 있었다.

추가로, 테스트 조건은 많은 시간과 인력을 들여 수동적으로 설정된다는 또 다른 문제점이 있었다.

한편, PLL 회로(511)의 동작을 점검하는 것은 중요하다. 그러나, DVI 표준에서 설명된 방법은 데이터 에러율을 관측하여 PLL 회로(511)의 기능불량(malfunction)의 가능성을 간접적으로 예측하는 것만을 허용하고, PLL 회로(511) 자신의 기능 불량을 검출하는 어떠한 수단도 제공하지 못하고 있다.

이것은 또한 디스플레이 디바이스(502)의 기능 불량이 발견되었을 때에, 또 다른 문제점을 제공하고, 기능 불량이 PLL 회로(511)의 기능 불량 또는 (케이블 또는 스큐에서의 감쇠와 같은) 다른 전송 저하 요인들에 의해 일어나는지를 정확하게 결정될 수 없고, 시간을 많이 소모하면서 시행 착오를 해결할 수 있게 된다.

한편, 디스플레이 디바이스(502)의 조립 후에 PLL 회로(511)의 기능 불량을 테스트하거나 데이터 에러율을 측정하기 위해, 또한 디스플레이 디바이스(502) 외부에 테스트 결과를 나타내는 신호를 위한 출력 단자를 제공할 수 있다.

그러나, 판매 성공은 또한 디스플레이 디바이스(502)의 외부 형태에 상당히 의존적인 경향이라는 점을 감안하면, 디바이스 상에 노출되어 있지만 일반적인 사용자들에게 항상 필요하지 않은 상기 언급한 단자를 갖는 디스플레이 디바이스를 제공하는 것은 바람직하지 않다.

테스트 결과를 나타내는 신호를 생성하는 회로가 수신 LSI(508) 내에 탑재되는 경우에, 수신 LSI(508)로부터의 테스트 결과를 나타내는 신호를 출력하는 핀을 제공할 필요도 있다.

그러나, 이 경우에, 수신 LSI(508)에 핀을 추가하는 것은 패키징 면적의 증가 또는 개발되어 있는 LSI와의 핀 호환성(부품 호환성)의 저하를 초래한다.

그러므로 본 발명의 목적은, 디스플레이 디바이스에서 노이즈 환경을 변경하는 것 없이, 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신에 관여하는 유닛에 대해 단순한 방식으로 테스트를 할 수 있게 하는 디스플레이 디바이스와 그에 관련된 기술을 제공하는 것이다. 본 발명의 또 다른 목적은, 디스플레이 디바이스의 외부로 테스트 결과를 출력하기 위한 추가적인 구성 요소를 요구하지 않으므로, 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 핀 호환성의 저하)와 같은 단점들을 피하는 디스플레이 디바이스와 그에 관련된 기술을 제공하는 것이다. 본 발명의 또 다른 목적은, 가능한 한 자세하게 디스플레이 디바이스의 기능 불량의 원인을 식별할 수 있도록 하는 디스플레이 디바이스와 그에 관련된 기술을 제공하는 것이다.

본 발명은 테스트되는 디스플레이 디바이스와 그것들에 관련된 기술에 관한 것이다.

도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 예시적인 테스트 장치와 예시적인 디스플레이 디바이스를 나타낸 블럭도,

도 2는 도 1의 디스플레이 디바이스의 정규 모드를 나타내는 설명도,

도 3은 도 1의 테스트 장치에서 테스트 패턴 생성 회로를 나타내는 예시도,

도 4는 도 1의 테스트 장치의 데이터 전송 회로를 나타내는 예시도,

도 5는 도 1의 테스트 장치의 데이터 전송 회로를 나타내는 다른 예시도,

도 6은 도 1의 테스트 장치의 위상 변조 회로를 나타내는 예시도,

도 7은 도 1의 디스플레이 디바이스의 에러 정보 생성 회로와 데이터 수신 회로를 나타내는 예시도,

도 8은 도 1의 디스플레이 디바이스의 에러 정보 생성 회로와 데이터 수신 회로를 나타내는 예시도,

도 9는 본 발명의 실시예 1에 따른 테스트 절차 전체를 나타내는 흐름도,

도 10은 본 발명의 실시예 1에 따른 도 9의 단계 1에서 초기화 과정을 나타내는 설명도,

도 11은 본 발명의 실시예 1에 따른 도 9의 단계 2에서 검사 과정을 나타내는 설명도,

도 12는 본 발명의 실시예 1에 따른 도 9의 단계 3에서 디스플레이 과정을 나타내는 설명도,

도 13(a)는 검사 결과 이미지 데이터를 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터의설명을 나타내는 예시도,

도 13(b)는 테스트 비디오의 설명을 나타내는 예시도,

도 14는 검사 결과 이미지를 나타내는 예시도,

도 15(a)는 검사 결과 이미지의 설명을 나타내는 예시도,

도 15(b)는 테스트 비디오 데이터의 설명을 나타내는 예시도,

도 16은 본 발명의 실시예 2에 따른 예시적인 디스플레이 디바이스와 예시적인 테스트 장치를 나타내는 블럭도,

도 17은 본 발명의 실시예 2에 따른 도 9의 단계 1에서 초기화 과정을 나타내는 설명도,

도 18은 본 발명의 실시예 2에 따른 도 9의 단계 2에서 검사 과정을 나타내는 설명도,

도 19는 본 발명의 실시예 2에 따른 도 9의 단계 3에서 디스플레이 과정을 나타내는 설명도,

도 20은 본 발명의 실시예 3에 따른 예시적인 디스플레이 디바이스와 예시적인 비디오 데이터 전송기를 나타내는 블럭도,

도 21은 본 발명의 실시예 3에 따른 테스트 모드에서 디스플레이 디바이스를 나타내는 흐름도,

도 22(a)는 데이터 수신 회로에 의해 테스트 모드에서 수신되는 테스트 신호를 나타내는 예시도,

도 22(b)는 검사 결과 이미지 생성 회로에 의해 테스트 모드에서 생성되는검사 결과 이미지 데이터를 나타내는 예시도,

도 22(c)는 디스플레이 유닛에 의해 테스트 모드에서 디스플레이되는 이미지 데이터를 나타내는 예시도,

도 23은 종래의 디지털 비디오 데이터 송신/수신 시스템을 나타내는 블럭도.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

1 : 테스트 장치 3 : 디스플레이 디바이스

5 : 케이블 31 : 디스플레이 유닛

10 : 테스트 신호 생성 회로 11 : 테스트 신호 전송 회로

30 : 수신 회로 12 : 제어 회로

13 : 제어 신호 전송 회로 14 : 제어 신호 수신 회로

발명의 제 1 측면에 따른 디스플레이 디바이스는, 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛, 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛, 테스트 모드에서 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이하고 정규 모드에서 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 유닛을 포함한다.

이 구성에서, 데이터 수신 관련 유닛은 검사되고 검사 정보는 디스플레이 디바이스 내부에 생성된다.

그 후, 생성되는 검사 정보는 디스플레이 디바이스에 일부분인 디스플레이유닛에 디스플레이 된다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛 상에서 단순한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

게다가, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스에 통합되는 디스플레이 유닛에 디스플레이된다. 이것은 외부 디스플레이 디바이스의 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 출력하는 추가적인 단말을 제공할 필요성을 없앤다.

본 발명의 제 1 측면에 부가하여, 본 발명의 제 2 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함한다. 디스플레이 디바이스의 모드는 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 테스트 모드를 변경한다.

이 구성은 테스트 관련 신호 이이외의 외부 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다. 이것은 제어 정규 모드의 재변경을 지시하는 외부 제어 신호를 신호 수신 유닛에 전송함으로써 정규 모드로 변경할 수 있다. 이것은 또한 테스트의 시작을 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 단지 전송함으로써 테스트 모드로 변경할 수 있다.

그러한 방식에서, 디스플레이 디바이스의 외부에서 제공되는 단지 제어 신호에 의해 모드 간 전환을 수행할 수 있다.

그 결과, 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에 대해 보다 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 된다.

게다가, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있다. 이것은 외부 비디오 데이터 전송기에 의해 전송되는 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다.

이것은 정규 모드로의 변경 후에 필요한 신호를 외부 비디오 데이터 전송기가 제어 신호 수신 유닛에 전송할 수 있게 해준다.

상기 설명한 바와 같이, 디스플레이 디바이스는 테스트 모드뿐만 아니라 정규 모드에서 동작할 수 있는 제어 신호 수신 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 수신 유닛은 외부 신호를 수신하기 위해 테스트 모드와 정규 모드 둘 다에서 공통 구성 요소를 공유한다.

그 결과, 테스트 관련 신호를 단지 수신하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 갖는 디스플레이 디바이스를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI와의 핀 호환성의 저하)와 같은 단점들을 피할 수 있게 한다.

본 발명의 제 2 측면에 부가하여, 본 발명의 제 3 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 관련 신호를 외부로 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 신호를 외부로 전송할 수 있는 제어 신호 전송 유닛을 더 포함한다.

이 구성은 제어 신호 전송 유닛이 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 구성요소를 거쳐 외부 비디오 데이터 전송기로 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

이것은 정규 모드로 변경한 후에 제어 신호 전송 유닛이 필요한 신호를 외부 비디오 데이터 전송기로 전송할 수 있게 해준다.

상기 설명한 바와 같이, 디스플레이 디바이스는 테스트 모드뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 전송 유닛은 외부로 신호를 전송하기 위해 테스트 모드와 정규 모드 둘 다에서 공통 구성 요소를 공유한다.

그 결과, 테스트 관련 제어 신호를 전송하는데 단지 사용되는 추가적인 구성 요소를 갖는 디스플레이 디바이스를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 핀 호환성의 저하)와 같은 단점을 피하는 것을 가능하게 한다.

본 발명의 제 1, 2 또는 제 3 측면에 부가하여, 발명의 제 4 측면에 따른 디스플레이 디바이스는, 정규 모드에서 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 디스플레이 디바이스에 비디오 데이터를 출력하고, 테스트 모드에서 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 디스플레이 디바이스에 이미지 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함한다.

이 구성은 모드에 따라, 디스플레이 스위칭 유닛이, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터 또는 비디오 데이터 중에 하나를 디스플레이 유닛에 출력하는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하는 구성 요소와 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

그 결과, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는데 단지 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 핀 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 4 측면에 부가하여, 발명의 제 5 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 유닛이 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 데이터 수신 관련 유닛에 의해 입력되는 테스트 신호에 중첩시킴으로써 신호가 생성되고, 그 후 그 신호를 디스플레이 디바이스에 출력한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 유닛에서 데이터 수신 관련 유닛의 검사 결과를 점검하고, 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 외부로부터 전송함으로써도 테스트 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수 있게 한다.

발명의 제 2 또는 제 3 측면에 부가하여, 발명의 제 6 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 정규 모드에서 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 디바이스를 더 포함한다. 디스플레이 디바이스는 테스트 모드에서, 제어 신호 수신 유닛에 의해 수신되는 디스플레이 변환을 지시하는 제어 신호에 따라, 디스플레이 스위칭 유닛이 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 디스플레이 유닛에 이미지 데이터를 출력하고, 또는 테스트 신호로서 테스트 비디오데이터를 수신하여 디스플레이 유닛에 테스트 비디오 데이터를 출력하는 점에서 특성화된다.

이 구성은 모드에 따라 또는 제어 신호에 따라, 디스플레이 스위칭 유닛이 비디오 데이터, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터, 테스트 비디오 데이터 중 어느 하나를 디스플레이 유닛에 출력하는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하는 구성 요소, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소, 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

그 결과, 테스트 모드에서 데이터(검사 정보를 나타내는 이미지 데이터 또는 테스트 비디오 데이터)를 디스플레이 유닛에 출력하는데 단지 사용되는 추가적 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

게다가, 이것은 중첩 기능에 대한 필요성을 없애고, 그로 인해 디스플레이 스위칭 유닛이 단순화되는 것을 가능하게 한다.

본 발명의 제 1, 2, 3, 4, 5 또는 제 6 측면에 부가하여, 발명의 제 7 측면에 따른 디스플레이 디바이스는, 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 디스플레이 디바이스는 검사 유닛이 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 결과 이미지 생성 유닛이 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다는 점에서 추가로 특성화된다.

그 결과, 이 구성은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

본 발명의 제 1, 2, 3, 4, 5, 6 또는 제 7 측면에 부가하여, 발명의 제 9 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 수신된 클럭 신호과 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프를 포함한다는 점에서 특성화된다. 디스플레이 디바이스는, 검사 유닛이 테스트 모드에서 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 결과 이미지 생성 유닛이 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 위상 동기 루프 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

발명의 제 9 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛, 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하기 위해 데이터 수신 관련 유닛을 검사하는 검사 유닛, 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛, 그리고 정규 모드에서 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 유닛을 포함한다. 데이터 수신 관련 유닛은 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 모드에서 외부로부터 수신하고, 디스플레이 유닛은 테스트 모드에서 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 디스플레이한다.

이 구성에서, 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛은 검사되고, 검사 정보는 생성되고 외부로 전송된다.

그 후, 외부적으로 생성되는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 입력되고 디스플레이 디바이스에 통합되는 디스플레이 유닛 상에 디스플레이된다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스의 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

게다가, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 외부적으로 생성되므로, 디스플레이 디바이스 내부의 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하여 검사되는 유닛을 제공할 필요가 없다. 이것은 디스플레이 디바이스의 복잡성을 경감한다.

추가적으로, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 외부적으로 생성되고, 비디오 데이터를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛은 이미지 데이터를 수신하고 그 후 디스플레이 유닛에 이미지 데이터를 출력한다.

이것은 데이터 수신 유닛이 비디오 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소와, 데이터 수신 관련 유닛이 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

그 결과, 데이터 수신 관련 유닛으로부터 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는데 단지 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 핀 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 9 측면에 부가하여, 발명의 제 10 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함한다. 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에, 디스플레이 디바이스의 모드는 테스트 모드로 변경한다. 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛은 테스트 관련 신호를 외부로 전송하는 전송 유닛이고, 제어 신호 전송 유닛은 테스트 관련 신호를 외부로 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 외의 신호를 외부로 전송할 수 있다.

이 구성은 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다. 이것은 정규 모드로 재변경을 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 전송함으로써 정규 모드로 변경할 수 있게 한다. 이것은 또한 테스트의 시작을 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 단지 전송함으로써 테스트 모드로 변경할 수 있게 한다.

그러한 방식에서, 단지 디스플레이 디바이스에 외부의 제어 신호에 의해 모드 사이에서 교환할 수 있다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에서 보다 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

게다가, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 관련 신호 이이외의 외부 신호를 수신하고 처리한다. 이것은 외부 비디오 데이터 전송기에 의해 전송되는 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다.

이것은 정규 모드로의 변경 후에 제어 신호 수신 유닛에 요구되는 것으로 신호를 전송하는 외부 비디오 데이터 전송기를 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 디스플레이 디바이스는 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 수신 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 공통 구성 요소를 공유하여 외부 신호를 수신한다.

게다가, 제어 신호 전송 유닛은 테스트 관련 신호를 외부로 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이이외의 신호를 전송할 수 있고, 그로 인해 외부 비디오 데이터 전송기에 신호를 전송할 수 있게 한다.

이것은 정규 모드로 변경 후에, 제어 신호 전송 유닛이 외부 비디오 데이터전송기에 요구되는 것으로 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 디스플레이 디바이스는 테스트 모드뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 전송 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 구성 요소를 공유하여 외부로 신호를 전송한다.

이것은 단지 테스트 관련 신호를 수신하거나 테스트 관련 신호를 하는데 사용되는 구성 요소와 같이, 단지 테스트 관련 신호의 출력 또는 입력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 갖는 디스플레이 디바이스를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 제어 신호 전송 유닛 또는 제어 신호 수신 유닛은 제공된다. 이것은 검사 정보를 출력하는 추가적인 전용 단말 또는 디스플레이 디바이스 외부의 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 입력하는 전용 단말에 대한 필요성을 없앤다.

발명의 제 9 또는 제 10 측면에 부가하여, 발명의 제 11 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 모드에서, 데이터 수신 관련 유닛은 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 신호에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 수신하고, 그 후 수신된 이미지 데이터를 디스플레이 디바이스에 출력한다.

이 구성은 디스플레이 유닛이 데이터 수신 관련 유닛의 검사 결과를 점검하고, 테스트 신호로서 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 비디오 데이터에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 디스플레이 디바이스로 전송함으로써도 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수 있도록 한다.

발명의 제 9, 10 또는 제 11 측면에 부가하여, 발명의 제 12 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 디스플레이 디바이스는 검사 유닛이 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고, 외부로 검사 정보를 전송하는 유닛이 검사 정보로서 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 외부로 전송한다는 점에서 부가하여 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

발명의 제 9, 10, 11 또는 제 12 측면에 부가하여, 발명의 제 13 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하여 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성한다는 점에서 특성화된다. 디스플레이 디바이스는 검사 유닛이 테스트 모드에서 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛이 검사 정보로서 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스를 분해하지 않고도 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 위상 동기 루프 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

발명의 제 8 또는 제 13 측면에 부가하여, 발명의 제 14 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 지터를 포함한 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 모드에서 테스트 패턴을 수신한다는 점에서 특성화된다. 디스플레이 디바이스는 검사 유닛이 검사 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 정보로서 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 위상 동기 루프 유닛과 데이터 수신 유닛이 검사되는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스의 기능 불량이 위상 동기 루프 유닛에 의해 일어나는지 다른 전송 저하 요인에 의해 일어나는지를 결정할 수 있게 해주고, 그로 인해 가능한 한 확실하게 디스플레이 디바이스의 기능 불량의 원인을 확인할 수 있게 해준다.

추가적으로, 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보에 따라 지터 효과의 결과를 제공할 수 있다.

발명의 제 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 11, 12, 13 또는 제 14 측면에 부가하여, 발명의 제 15 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 테스트 신호가 케이블을 거쳐 데이터 수신 관련 유닛으로 전송된다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 데이터 수신 관련 유닛의 검사에서 케이블의 효과상의 결과를 제공할 수 있다.

발명의 제 1 또는 제 5 측면에 부가하여, 발명의 제 16 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 모드 사이에 전환을 지시하는 입력 유닛을 더 포함한다.

이 구성은 디스플레이 디바이스에서 제공되는 입력 유닛으로부터의 지시에 따라 디스플레이 디바이스가 테스트 모드로 이동할 수 있도록 한다.

이것은 추가적 테스트 디바이스를 준비할 필요를 없애고, 그로 인해 정규 모드에서 디스플레이 디바이스에 비디오 데이터를 전송하는 비디오 데이터 전송기를 사용하여 디스플레이 디바이스를 테스트할 수 있도록 한다.

그 결과, 디스플레이 디바이스는 보다 간단한 방식으로 추가로 테스트될 수 있다.

발명의 제 16 측면에 부가하여, 발명의 제 17 측면에 따른 디스플레이 디바이스는 입력 유닛이 정규 모드에서 사용되는 외부와의 인터페이스를 이용하여 모드 사이에 전환을 지시한다는 점에서 특성화된다.

이것은 입력 유닛에 모드 사이에 전환을 지시하는 외부와의 전용 인터페이스를 제공할 필요성을 없앤다.

발명의 제 18 측면에 따른 수신기는 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 디바이스의 디스플레이 유닛에 수신된 비디오 데이터를 출력하도록 구성된다. 수신기는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛, 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛을 포함한다. 여기서, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터는 테스트 모드에서 디스플레이 유닛에 출력되고, 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 비디오 데이터는 정규 모드에서 디스플레이 유닛에 출력된다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스에서 데이터 수신 관련 유닛을 검사할 수 있고 검사 정보를 생성할 수 있도록 한다.

그 후, 생성되는 검사 정보는 디스플레이 디바이스 안에 통합된 디스플레이 유닛 상에 디스플레이 된다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스를 분해하지 않고도 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하지 않고도 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

게다가, 수신기는 디스플레이 유닛을 갖는 디스플레이 디바이스에 통합된다. 이것은 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 디스플레이 디바이스에 통합된 디스플레이 유닛 상에 디스플레이되는 것을 허용하고, 그로 인해 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 외부로 출력하는 추가적인 단말을 제공할 필요성을 없앤다.

발명의 제 18 측면에 부가하여, 발명의 제 19 측면에 따른 수신기는 테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함한다. 제어 신호 수신 유닛은 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 명령하는 제어 신호를 수신한 후에, 수신기의 모드는 테스트 모드로 변경한다.

이 구성은 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다. 이것은 정규 모드로 돌아가서 변경을 명령하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 전송함으로써 정규 모드로 변경할 수 있게 한다. 이것은 테스트의 시작을 나타내는 외부 제어 신호를 외부로부터 제어 신호 수신 유닛으로 단지 전송함으로써 테스트 모드로 변경할 수 있게 한다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성될 수 있도록 허용하고, 그로 인해 단지 디스플레이 디바이스에 외부의 제어 신호에 의해 모드 사이에서 바꿀 수 있도록 한다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

게다가, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있다. 이것은 외부 비디오 데이터 전송기에 의해 전송되는 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다.

이것은 외부 비디오 데이터 전송기가 정규 모드로의 변경 후에 제어 신호 수신 유닛에 요구에 따라 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 수신기는 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규모드에서 동작할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 공통 구성 요소를 공유하여 외부 신호를 수신한다.

그 결과, 테스트 관련 제어 신호를 단지 수신하는데 사용되는 추가적 구성 요소를 갖는 수신기를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 19 측면에 부가하여, 발명의 제 20 측면에 따른 수신기는 테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 신호를 바깥쪽으로 외부에 전송할 수 있는 제어 신호 전송 유닛을 더 포함한다.

이 구성은 외부에 테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 외부 비디오 데이터 전송기에 요구에 따라 제어 신호 전송 유닛이 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 수신기는 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 유닛을 제공된다.

추가적으로 제어 신호 전송 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 공통 구성 요소를 공유하여 외부로 신호를 전송한다.

그 결과, 테스트 관련 제어 신호를 단지 전송하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 수신기에 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 18, 19 또는 제 20 측면에 부가하여, 발명의 제 21 측면에 따른 수신기는 정규 모드에서 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하고 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 테스트 모드에서 디스플레이 유닛에 이미지 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함한다.

이 구성은 디스플레이 스위칭 유닛이, 모드에 따라, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터 또는 비디오 데이터 중 하나를 디스플레이 유닛에 출력하는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하는 구성 요소와 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

그 결과, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 단지 출력하는데 사용되는 추가적 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 21 측면에 부가하여, 발명의 제 22 측면에 따른 수신기는 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 유닛은 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 테스트 신호에 중첩시킴으로써 신호를 생성하고, 그 후 그 신호를 디스플레이 유닛에 출력한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스의 디스플레이 유닛이 데이터 수신 관련 유닛의 검사 결과를 점검하고 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 외부로부터 전송함으로써도 테스트 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수 있게 한다.

발명의 제 19 또는 제 20 측면에 부가하여, 발명의 제 23 측면에 따른 수신기는 정규 모드에서 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함하여 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력한다. 수신기는 테스트 모드에서, 제어 신호 수신 유닛에 의해 수신되고, 디스플레이 전환을 지시하는 제어 신호에 따라, 디스플레이 스위칭 유닛이 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하거나, 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 수신하여 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛에 출력한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 모드에 따라 또는 제어 신호에 따라, 디스플레이 스위칭 유닛이 비디오 데이터, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터, 테스트 비디오 데이터 중 하나를 디스플레이 유닛에 전달하는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 유닛에 비디오 데이터를 출력하는 구성 요소, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소, 그리고 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있도록 한다.

그 결과, 테스트 모드에서 데이터(검사 정보 또는 테스트 비디오 데이터를 나타내는 이미지 데이터)를 디스플레이 유닛에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

게다가, 이것은 중첩 기능에 대한 필요성을 없애고, 그로 인해 디스플레이 스위칭 유닛이 단순화되는 것을 가능하게 한다.

발명의 제 18, 19, 20 , 21, 22 또는 제 23 측면 중 어느 한 측면에 부가하여, 발명의 제 24 측면에 따른 수신기는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 수신기는 검사 유닛이 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 결과 이미지 생성 유닛이 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 수신기가 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스를 분해하지 않고도 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하지 않고도 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

발명의 제 18, 19, 20, 22, 23 또는 제 24 측면에 부가하여, 발명의 제 25측면에 따른 수신기는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하기 위해 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하는 점에서 특성화된다. 수신기는 테스트 모드에서 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 결과 이미지 생성 유닛은 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성되는 수신기를 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스를 분해하지 않고도 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하지 않고도 디스플레이 디바이스 내부의 위상 동기 루프 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

발명의 제 26 측면에 따른 수신기는 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 디바이스의 디스플레이 유닛에 수신된 비디오 데이터를 전달하도록 구성된다. 수신기는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛과, 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하기 위해 데이터 수신 관련 유닛을 검사하는 검사 유닛과, 외부로 검사 정보를 전송하는 유닛을 포함한다. 여기서, 데이터 수신 관련 유닛은 테스트 모드에서 외부로부터 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 수신하고, 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 테스트 모드에서 디스플레이 유닛에 출력되고, 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 비디오 데이터는 정규 모드에서 디스플레이 유닛에 출력된다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스에서 데이터 수신 관련 유닛을 검사하고 검사 정보를 생성하여 외부로 전송될 수 있게 한다.

그 후, 검사 정보를 나타내는 외부로 생성된 이미지 데이터는 입력되어 디스플레이 디바이스에 통합되는 디스플레이 유닛 상에 디스플레이된다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내의 데이터 수신 관련 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

게다가, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 외부적으로 생성되기 때문에, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 유닛을 수신기에 제공할 필요가 없다. 이것은 수신기의 복잡성을 완화한다.

추가적으로, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 외부적으로 형성되고, 그리고 비디오 데이터를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛은 이미지 데이터를 수신하고 그 후 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 전달한다.

이것은 데이터 수신 관련 유닛이 비디오 데이터를 디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소와 데이터 수신 관련 유닛이 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를디스플레이 유닛에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있도록 한다.

그 결과, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 데이터 수신 관련 유닛으로부터 디스플레이 유닛에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요가 없다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

발명의 제 26 측면에 부가하여, 발명의 제 27 측면에 따른 수신기는 테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함한다. 여기서, 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 수신기의 모드는 테스트 모드로 변경하고, 외부로 검사 정보를 전송하는 유닛은 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 제어 신호 전송 유닛이고, 제어 신호 전송 유닛은 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 외부로 테스트 관련 신호 외의 신호를 전송할 수 있다.

이 구성은 테스트 관련 신호 외의 외부 신호를 수신하고 처리하는 제어 신호 수신 유닛을 가능하게 한다. 이것은 정규 모드로의 재변경을 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 전송함으로써 정규 모드로 변경할 수 있도록 한다. 이것은 또한 테스트의 시작을 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 유닛에 단지 전송함으로써 테스트 모드로 변경할 수 있도록 한다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 단지 디스플레이 디바이스에 외부적인 제어 신호에 의해 모드 사이에서 교환될 수 있도록 한다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 관련 유닛에서 보다 단순한 방식으로 테스트를 수행할 수 있게 한다.

게다가, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있다. 이것은 외부 비디오 데이터 전송기에 의해 전송되는 신호를 수신하고 처리하는 것을 가능하게 한다.

이것은 외부 비디오 데이터 전송기가 정규 모드로 변경한 후에 제어 신호 수신 유닛에 요구되는 것과 같이 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 수신기는 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 수신 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 수신 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 공통 구성 요소를 공유하여 외부 신호를 수신한다.

게다가, 제어 신호 전송 유닛은 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 신호를 전송할 수 있고, 그로 인해 외부 비디오 데이터 전송기로 신호를 전송할 수 있도록 한다.

이것은 제어 신호 전송 유닛이 정규 모드로 변경한 후에 외부 비디오 데이터 전송기에 요구되는 것과 같이 신호를 전송하는 것을 가능하게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 수신기는 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 유닛이 제공된다.

추가적으로, 제어 신호 전송 유닛은 테스트 모드와 정규 모드에서 공통 구성요소를 공유하여 외부로 신호를 전송한다.

이것은 단지 테스트 관련 신호를 수신하거나 테스트 관련 신호를 전송하는데 사용되는 구성 요소와 같은, 단지 테스트 관련 신호의 입력 또는 출력을 위해 사용되는 추가적인 구성 요소를 갖는 수신기를 제공하는 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 제어 신호 수신 유닛 또는 제어 신호 전송 유닛이 제공되고, 그로 인해 검사 정보를 출력하는 추가적인 전용 단말 또는 디스플레이 디바이스 외부의 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 입력하는 전용 단말에 대한 필요성을 없앤다.

발명의 제 26 또는 제 27 측면에 부가하여, 발명의 제 28 측면에 따른 수신기는 테스트 모드에서, 데이터 수신 관련 유닛이 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 신호에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 수신하고, 그 후 수신된 이미지 데이터를 디스플레이 유닛에 출력한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스가 데이터 수신 관련 유닛의 검사 결과를 점검할 수 있도록 하고, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 신호로서 동작하는 테스트 비디오 데이터에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 수신기에 전송함으로써도 테스트 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수 있도록 한다.

발명의 제 26 또는 제 28 측면의 어느 하나에 부가하여, 발명의 제 29 측면에 따른 수신기는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 수신기는 검사 유닛이 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고, 외부로 검사 정보를 전송하는 유닛이 검사 정보로서 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 외부로 전송한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 데이터 수신 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

발명의 제 26, 27, 28 또는 제 29 측면 중 어느 하나에 부가하여, 발명의 제 30 측면에 따른 수신기는 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 수신기는 검사 유닛이 테스트 모드에서 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고, 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛이 검사 정보로서 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 수신기가 디스플레이 유닛을 통합하는 디스플레이 디바이스에서 형성되는 것을 허용하고, 그로 인해 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스 내부의 위상 동기 루프 유닛에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

발명의 제 29 또는 제 30 측면 중 어느 하나에 부가하여, 발명의 제 31 측면에 따른 수신기는, 데이터 수신 관련 유닛이 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 수신기는 검사 유닛이 검사 정보로서 테스트 모드에서 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 위상 동기 루프 유닛과 데이터 수신 유닛 모두가 검사되는 것을 가능하게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스의 기능 불량이 위상 동기 루프 유닛 또는 다른 전송 저하 요인에 의해 일어나는지를 결정하고, 그로 인해 가능한 정확하게 디스플레이 디바이스의 기능 불량의 원인을 확인하는 것을 허용할 수 있도록 한다.

추가적으로, 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보에 따른 지터 효과의 결과를 제공할 수 있다.

발명의 제 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30 또는 제 31 측면 중 어느 하나에 부가하여, 발명의 제 32 측면에 따른 수신기는 테스트 신호가 케이블을 거쳐 데이터 수신 관련 유닛으로 전송된다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 데이터 수신 관련 유닛의 검사에서 케이블의 효과의 결과를 제공할 수 있다.

발명의 제 33 측면에 따른 테스트 장치는 디스플레이 디바이스를 테스트하기 위해 구성된다. 테스트 장치는 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스로 전송하는 제어 신호 전송 유닛과, 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스로 전송하도록 제어 신호 전송 유닛에 명령하는 제어 유닛과, 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 유닛과, 테스트 신호를 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 신호 전송 유닛을 포함을 포함한다.

이 구성은 신호를 단지 디스플레이 디바이스에 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트를 준비하는 테스트 신호를 수신하는 디스플레이 디바이스를 형성할 수 있다.

발명의 제 34 측면에 따른 테스트 장치는 디스플레이 디바이스를 테스트하기 위해 구성된다. 테스트 장치는 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스로 전송하는 제어 신호 전송 유닛과, 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스로 전송하도록 제어 신호 전송 유닛에 명령하는 제어 유닛과, 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 유닛과, 테스트 신호를 디스플레이디바이스에 전송하는 테스트 신호 전송 유닛과, 테스트 신호가 수신되는 디스플레이 디바이스에 의해 전송되는 검사 정보를 디스플레이 디바이스에 수신하는 유닛과, 검사 정보를 수신하는 유닛에 의해 수신되는 검사 정보를 저장하는 검사 정보 저장 유닛과, 검사 정보 저장 유닛으로부터 검사 정보를 획득하여 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛을 포함하며, 여기서, 테스트 신호 전송 유닛은 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이 디바이스에 전송한다.

이 구성은 신호를 단지 디스플레이 디바이스에 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트를 준비하는 테스트 신호를 수신하는 디스플레이 디바이스를 형성할 수 있다.

게다가, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터가 테스트 장치에서 생성되므로, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 유닛으로 테스트되는 디스플레이 디바이스를 제공할 필요가 없다. 이것은 디스플레이 디바이스의 복잡성을 완화한다.

발명의 제 34 측면에 부가하여, 발명의 제 35 측면에 따른 테스트 장치는 테스트 신호 생성 유닛이 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 생성하는 테스트 비디오 데이터 생성 유닛과, 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 테스트 비디오 데이터에 중첩시킴으로써 신호를 생성하고, 그 후 테스트 신호 전송 유닛에 신호를 출력하는 중첩 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 테스트 장치는 테스트 신호 전송 유닛이 중첩 유닛에 의해 생성되는 신호를 디스플레이 디바이스에 전송한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스가 디스플레이 디바이스의 검사 결과를 점검하고 테스트 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수도 있도록 한다.

발명의 제 33, 34 또는 제 35 측면에 부가하여, 발명의 제 36 측면에 따른 테스트 장치는 제어 유닛이 테스트 신호 생성 유닛에 테스트 상태를 지시하는 점에서 특성화된다.

이 구성은 통상적으로 수동으로 설정되었던 테스트 상태를 설정하는 시간과 인력을 경감한다.

발명의 제 33, 34, 35 또는 제 36 측면에 부가하여, 발명의 제 37 측면에 따른 테스트 장치는 테스트 신호 생성 유닛이 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고, 테스트 신호 생성 유닛은 테스트 패턴을 디스플레이 디바이스에 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다.

이 구성은 제어 신호를 디스플레이 디바이스에 단지 전송함으로써 간단한 방식으로 테스트를 준비하는 테스트 패턴을 수신하는 디스플레이 디바이스를 형성할 수 있다.

발명의 제 33, 34, 35, 36, 37 측면에 부가하여, 발명의 제 38 측면에 따른 테스트 장치는 테스트 신호 생성 유닛이 클럭 신호를 생성하는 클럭 신호 생성 유닛과, 지터 신호를 생성하는 지터 신호 생성 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 테스트 장치는 테스트 신호 전송 유닛이 지터 신호를 클럭 신호에 중첩시켜 지터를 포함하는 클럭 신호를 생성하는 위상 변조 유닛을 포함하고, 그 후 테스트신호로서 지터를 포함하고 있는 클럭 신호를 디스플레이 디바이스에 전송한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 제어 신호를 디스플레이 디바이스에 단지 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트를 준비하는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호를 수신하는 디스플레이 디바이스를 형성할 수 있다.

발명의 제 38 측면에 부가하여, 발명의 제 39 측면에 따른 테스트 장치는 테스트 제어 신호 생성 유닛이 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고, 테스트 신호 전송 유닛이 테스트 패턴을 디스플레이 디바이스에 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함한다는 점에서 특성화된다. 테스트 장치는 테스트 패턴 생성 유닛이 위상 변조 유닛에 의해 생성되는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호와 동기하여 데이터 전송 유닛에 테스트 패턴을 출력한다는 점에서 추가로 특성화된다.

이 구성은 지터를 포함하고 있는 클럭 신호와 동기하여 출력되는 테스트 패턴을 수신하는 디스플레이 디바이스에 클럭 신호를 단지 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트를 준비하는 디스플레이 디바이스를 형성할 수 있다.

발명의 제 33, 34, 35, 36, 37, 38 또는 제 39 측면에 부가하여, 발명의 제 40 측면에 따른 테스트 장치는 테스트 신호 전송 유닛이 케이블을 거쳐 디스플레이 디바이스에 테스트 신호를 전송하는 점에서 특성화된다.

이 구성은 디스플레이 디바이스의 검사에서 케이블의 효과상의 결과를 제공할 수 있도록 한다.

본 발명의 상기, 또한 다른 목적, 특징과 이점은 첨부된 도면과 연계하여 판단되는 이하 설명으로부터 식별될 것이고, 같은 참조 기호는 같은 요소를 나타낸다.

(실시예 1)

도 1은 본 발명의 실시예 1에 따른 예시적인 테스트 장치와 예시적인 디스플레이 디바이스를 나타내는 블럭도이다.

도 1에서 도시된 바와 같이, 테스트 장치(1)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이디바이스(3)에 연결된다.

테스트 장치(1)는 테스트 신호 생성 유닛(10), 테스트 신호 전송 회로(11), 제어 회로(12), 제어 신호 전송 회로(13) 및 제어 신호 수신 회로(14)를 포함한다.

테스트 신호 생성 회로(10)는 테스트 패턴 생성 회로(15), 클럭 신호 생성 회로(16) 및 지터 신호 생성 회로(17)를 포함한다.

테스트 신호 전송 회로(11)는 데이터 전송 회로(18)와 위상 변조 회로(19)를 포함한다.

디스플레이 디바이스(3)는 수신 회로(30)와 디스플레이 유닛(31)을 포함한다.

수신 회로(30)는 데이터 수신 관련 회로(34), 검사 회로(35), 제어 신호 수신 회로(32), 제어 신호 전송 회로(33), 디스플레이 스위칭 회로(36) 및 검사 결과 이미지 생성 회로(37)를 포함한다.

데이터 수신 관련 회로(34)는 데이터 수신 회로(38)와 PLL(Phase Locked Loop) 회로(39)를 포함한다.

검사 회로(35)는 에러 정보 생성 회로(40)와 기능 불량 정보 생성 회로(41)를 포함한다.

이런 구성으로, 도 1의 테스트 장치(1)는 케이블(5)을 거쳐 테스트 신호를 보내서 디스플레이 디바이스(3)에서 테스트를 수행한다. 디스플레이 디바이스(3)가 테스트 준비가 되거나 테스트를 수행하는 상태는 "테스트 모드"라고 말한다.

전형적으로, 디스플레이 디바이스(3)는 비디오 데이터 전송기로부터 비디오데이터를 수신하여 그것을 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이 한다. 동작의 이런 통상적인 상태는 "정규 모드"라고 말한다.

이제, 정규 모드에서 사용되는 비디오 데이터 전송기의 구성을 이하에 설명한다.

도 2는 정규 모드에서 사용되는 예시적인 비디오 데이터 전송기를 나타내는 블럭도이다. 도 2에서, 도 1의 그것들과 같은 구성 요소는 같은 참조 숫자로 나타낸다.

도 2에서 보여진 바와 같이, 비디오 데이터 전송기(6)는 비디오 생성 회로(60), 클럭 신호 생성 회로(61), 데이터 전송 회로(62), 제어 신호 전송 회로(63) 및 제어 신호 수신 회로(64)를 포함한다.

예를 들면, 비디오 데이터 전송기(6)와 같은 비디오 데이터 전송기는 PC 또는 셋톱 박스(STB)를 포함한다.

도 1로 돌아가서, 도 1의 테스트 장치(1)에서 테스트 신호 생성 회로(10)를 이하에서 설명한다. 테스트 신호 생성 회로(10)는 테스트 신호를 생성하고 그것을 테스트 신호 전송 회로(11)에 출력한다.

보다 구체적으로, 도 1에 관하여 상기 언급한 것과 같이 구성된 테스트 신호 생성 회로(10)는 이하에서 보다 상세하게 설명한다.

먼저, 설명되는 것은 테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성 회로(15)이다.

도 3은 도 1의 테스트 패턴 생성 회로(15)를 나타내는 예시도이다. 도 3에서 도시된 바와 같이, 테스트 패턴 생성 회로(15)는 PN(Pseudo Noise, 의사 노이즈) 패턴 생성 회로(150), 테스트 비디오 데이터 생성 회로(153) 및 스위치 회로(154)를 포함한다.

PN 패턴 생성 회로(150)는 쉬프트 레지스터(151)와 배타적 OR 회로(EXOR 회로)(152)를 포함한다.

PN 패턴 생성 회로(150)는 테스트 신호로서 PN 패턴을 생성한다. PN 패턴 생성 회로(150)에 의해 사용되는 생성 다항식은 DVI 표준에 따른 ((x의 23제곱)+(x의 5제곱)+1))이다. PN 패턴은 테스트 패턴의 예이다.

테스트 비디오 데이터 생성 회로(153)는 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 생성한다.

스위치 회로(154)는 도 1의 제어 회로(12)로부터 스위칭 신호에 따라 테스트 비디오 데이터 또는 PN 패턴 중 어느 하나를 출력한다.

이제, 도 1의 테스트 장치의 클럭 신호 생성 회로(16)를 이하에서 설명한다. 클럭 신호 생성 회로(16)는 클럭 신호 clk1을 생성하고 그것을 위상 변조 회로(19)에 출력한다.

이제, 도 1의 테스트 장치(1)의 지터 신호 생성 회로(17)를 이하에서 설명한다. 지터 신호 생성 회로(17)는 지터 신호 clk2를 생성하고 그것을 위상 변조 회로(19)에 출력한다.

이제, 도 1의 테스트 장치의 테스트 신호 전송 회로(11)를 이하에서 설명한다.

테스트 신호 전송 회로(11)는 테스트 신호 생성 회로(10)에 의해 출력되는테스트 신호를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)에 보낸다.

보다 구체적으로, 도 1에 관하여 상기 언급한 바와 같이 구성된 테스트 신호 전송 회로(11)를 이하에서 보다 상세하게 설명한다.

먼저, 도 1의 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)를 이하에서 설명한다.

도 4는 도 1의 데이터 전송 회로(18)를 나타내는 예시도이다. 도 4에서 도시된 바와 같이, 데이터 전송 회로(18)는 8B10B 인코더 회로(180)와 전송 증폭기(181)를 포함한다.

8B10B 인코더 회로(180)는 도 1의 테스트 패턴 생성 회로(15)에 의해 출력되는 8비트 데이터(PN 패턴 또는 테스트 비디오 데이터)를 암호화하여 2개의 중복 비트를 포함하는 10비트 중복 코드(이하에서 8B10B 코드로 언급함)를 생성한다. 여기서 사용되는 암호와 알고리즘은 DVI 표준에서 보여진다.

전송 증폭기(181)는 8B10B 인코더 회로(180)에 의해 생성되는 8B10B를 증폭하고 그 후 결과적인 코드를 도 1의 케이블(5)을 거쳐 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)에 전송한다.

도 5는 도 1의 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)를 나타내는 또 다른 예시도이다. 도 5에서 도시된 바와 같이, 데이터 전송 회로(18)는 전송 증폭기(181)를 포함한다.

전송 증폭기(181)는 도 1의 테스트 패턴 생성 회로(15)에 의해 출력되는 데이터(PN 패턴 또는 테스트 비디오 데이터)를 증폭하고, 그 후 결과적으로 코드를 도 1의 케이블(5)을 거쳐 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)로 전송한다.

DVI 표준을 따르는 것이 필요하지 않을 때, 도 5에서 도시된 것은 데이터 전송 회로(18)로서 채택될 수 있다.

이제, 도 1의 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)를 이하에서 설명한다.

도 6은 위상 변조 회로(19)를 나타내는 예시도이다. 도 6에서 도시된 것과 같이, 위상 변조 회로(19)는 도 1의 클럭 신호 생성 회로(16)에 의해 출력되는 클럭 신호 clk1과 도 1의 지터 신호 생성 회로(17)에 의해 출력되는 지터 신호 clk2를 수신한다.

그 후, 위상 변조 회로(19)는 테스트 신호로서 출력 신호 clk3을 도 1의 테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성 회로(15)로 출력하고 그것을 케이블(5)을 거쳐 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)로 전송한다.

이런 경우에서, 입력되는 지터 신호 clk2가 "0"과 같지 않으면, 출력 신호 clk3은 지터를 포함하는 클럭 신호이다.

한편, 입력되는 지터 신호 clk2가 "0"과 같거나 지터 신호 clk2의 "Aj"와 "fj"가 "0"과 같으면, 출력 신호 clk3은 지터를 포함하지 않는 클럭 신호이다.

도 3의 전술한 PN 패턴 생성 회로(150)는 위상 변조 회로(19)에 의해 출력되는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호 clk3과 동기하여 도 1의 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)로 PN 패턴을 출력한다.

한편, 도 3의 테스트 비디오 데이터 생성 회로(153)는 위상 변조 회로(19)에 의해 출력되는 지터를 포함하고 있지 않는 클럭 신호 clk3과 동기하여 도 1의 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)로 테스트 비디오 데이터를 출력한다.

이제, 테스트 장치(1)의 제어 회로(12)를 이하에서 설명한다.

제어 회로(12)는 테스트 장치(1)에서 각각의 회로를 제어한다. 이것은 전체 테스트 과정의 설명과 함께 적절하게 이후에 설명될 것이다.

이제, 도 1의 테스트 장치(1)의 제어 신호 전송 회로(13)와 제어 신호 수신 회로(14)를 이하에서 설명한다.

제어 신호 전송 회로(13)는 제어 회로(12)로부터 명령을 수신하여 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)로 테스트 관련 제어 신호를 전송한다. 이것은 전체 테스트 과정의 설명과 함께 적절하게 이후에 설명될 것이다.

제어 신호 수신 회로(14)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 전송 회로(33)에 의해 전송되는 테스트 관련 제어 신호를 수신한다. 이것은 전체 테스트 과정의 설명과 함께 적절하게 이후에 설명될 것이다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 수신 회로(30)를 이하에서 설명한다.

수신 회로(30)는 정규 모드에서 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신하고, 그 후 그것을 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 한편, 수신 회로(30)는 테스트 모드에서 도 1의 테스트 장치(1)에 의해 전송되는 테스트 신호를 수신한다.

보다 구체적으로, 도 1에 관하여 상기 언급한 것과 같이 구성된, 수신회로(30)를 이하에서 보다 상세하게 설명한다.

먼저, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 관련 회로(34)를 이하에서 설명한다. 데이터 수신 관련 회로(34)는 도 1의 테스트 장치(1)의 테스트 신호 전송 회로(11)에 의해 전송되는 테스트 신호를 테스트 모드에서 수신한다.

한편, 데이터 수신 관련 회로(34)는 도 2의 비디오 데이터 전송기에 의해 전송되는 비디오 데이터를 정규 모드에서 수신한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 검사 회로(35)를 이하에서 설명한다. 검사 회로(35)는 테스트 모드에서 데이터 수신 관련 회로(34)를 검사하고, 검사 정보를 생성하여 그것을 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)를 이하에서 설명한다. 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 회로(35)에 의해 생성되는 검사 정보를 테스트 모드에서 수신한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 입력되는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다.

수신 회로(30)는 정규 모드에서 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신하고, 그 후 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에 그것을 출력한다. 한편, 수신 회로(30)는 테스트 모드에서 도 1의 테스트 장치(1)에 의해 전송되는 테스트 신호를 수신한다.

보다 구체적으로, 도 1에 관하여 상기 언급한 것과 같이 구성된, 수신 회로(30)를 이하에서 보다 상세하게 설명한다.

먼저, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 관련 회로(34)를 이하에서 설명한다. 데이터 수신 관련 회로(34)는 도 1의 테스트 장치(1)의 테스트 신호 전송 회로(11)에 의해 전송되는 테스트 신호를 테스트 모드에서 수신한다.

한편, 데이터 수신 관련 회로(34)는 정규 모드에서 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 검사 회로(35)를 이하에서 설명한다. 검사 회로(35)는 테스트 모드에서 데이터 수신 관련 회로(34)를 검사하고, 검사 정보를 생성하여 그것을 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)를 이하에서 설명한다. 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 테스트 모드에서 검사 회로(35)에 의해 생성되는 검사 정보를 수신한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 입력되는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다.

검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 "검사 결과 이미지 데이터"로 이하에 언급될 것이다. 한편, 검사 정보를 나타내는 이미지는 "검사 결과 이미지"로 이하에 언급될 것이다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 스위칭 회로(36)를 이하에서 설명한다. 디스플레이 스위칭 회로(36)는 정규 모드에서 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

한편, 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 테스트 신호(PN 패턴)에 중첩시켜 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

추가적으로, 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 테스트 신호(테스트 비디오 데이터)에 중첩시켜 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

디스플레이 스위칭 회로(36)는 정규 모드(중첩 없음)와 테스트 모드(중첩 있음) 사이에서 다른 동작들을 제공한다. 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 장치(1)로부터 제어 신호를 수신하고, 그 후 디스플레이 스위칭 신호를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력하여 이런 동작들 사이에서 스위칭을 수행한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)와 제어 신호 전송 회로(33)를 이하에서 설명한다.

제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 모드에서 케이블(5)을 거쳐 테스트 장치(1)의 제어 신호 전송 회로(13)에 의해 전송되는 테스트 관련 제어 신호를 수신한다. 이것은 전체 테스트 과정의 설명과 함께 적절하게 이후에 설명될 것이다.

한편, 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 구성 요소(8)(예를 들면, 수신 회로(30)가 집적 회로로서 구성된 경우에 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 핀)를 사용하여, 제어 신호 수신 회로(32)가 정규 모드에서 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)의 제어 신호 전송 회로(63)에 의해 케이블(5)을 거쳐 전송되는 제어 신호를 수신한다.

이제, 데이터 수신 관련 회로(34)를 이하에서 보다 상세하게 설명한다. 도 1에 관하여 상기 설명한 바와 같이 구성된, 데이터 수신 관련 회로(34)를 이하에서 설명한다.

먼저, 도 1의 PLL 회로(39)를 설명한다. PLL 회로(39)는 테스트 모드에서 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)에 의해 케이블(5)을 거쳐 전송되는 클럭 신호 clk3과 동기하여 타이밍 신호를 생성한다.

그 후, 타이밍 신호는 데이터 수신 회로(38)와 기능 불량 정보 생성 회로(41)에 출력된다.

한편, 정규 모드에서, PLL 회로(39)는 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)의 클럭 신호 생성 회로(61)에 의해 케이블(5)을 거쳐 전송된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 그 후 타이밍 신호를 데이터 수신 회로(38)에 출력한다.

이제, 도 1의 데이터 수신 회로(38)를 이하에서 설명한다. PLL 회로(39)에 의해 출력된 타이밍 신호와 동기하여, 데이터 수신 회로(38)는 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)에 의해 전송되는 테스트 신호를 테스트 모드에서 포착한다.

그 후, 포착된 테스트 신호는 디스플레이 스위칭 회로(36)와 에러 정보 생성 회로(40)에 출력된다.

한편, 정규 모드에서, 데이터 수신 회로(38)는 PLL 회로(39)에 의해 출력된 타이밍 신호와 동기하여 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)의 데이터 전송 회로(62)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 포착하고, 그 후 비디오 데이터를 디스플레이스위칭 회로(36)에 출력한다.

이제, 도 1의 검사 회로(35)를 이하에서 상세하게 설명한다. 도 1에 관하여 상기에서 설명한 바와 같이 구성된 검사 회로(35)를 이하에서 설명한다.

먼저, 에러 정보 생성 회로(40)를 이하에서 설명한다. 테스트 모드에서, 에러 정보 생성 회로(40)는 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 테스트 신호(PN 패턴)에 관한 데이터 에러 정보를 생성하고 그 후 검사 정보로서 결과 신호를 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

예로써, "데이터 에러율(비트 에러율)"이 에러 정보로서 생성되는 경우를 이하에서 설명한다.

도 7은 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)와 에러 정보 생성 회로(40)를 나타내는 예시도이다.

도 7에서 도시된 바와 같이, 데이터 수신 회로(38)는 수신 증폭기(380)와 8B10B 디코더 회로(381)를 포함한다.

에러 정보 생성 회로(40)는 PN 패턴 생성 회로(400), 데이터 비교기 회로(401), 카운터(402), 제산기 회로(403)를 포함한다.

수신 증폭기(380)는 도 4의 DVI 표준에 따라 데이터 전송 회로(18)에 의해 또는 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)의 데이터 전송 회로(62)에 의해 전송되는 8B10B 코드를 수신하여 증폭하고, 그 결과 신호를 8B10B 디코더 회로(381)에 출력한다.

8B10B 디코더 회로(381)는 입력되는 8B10B 코드를 원래의 8비트 데이터로 디코딩하고 그 후 그 결과 신호를 도 1의 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력한다. 이 디코딩 알고리즘은 DVI 표준에서 나타내진다.

테스트 모드에서, 디코딩된 8비트 데이터는 또한 도 7의 데이터 비교기 회로(401)에 출력된다. 테스트 모드에서, 테스트 장치(1)가 PN 패턴 생성 회로(150)(도 3)에 의해 생성되는 PN 패턴을 전송하기 때문에, 디코딩된 8비트 데이터는 PN 패턴이다.

도 7의 PN 패턴 생성 회로(400)는 테스트 장치(1)의 PN 패턴 생성 회로(150)(도 3)에 의해 생성되는 그것과 같은 PN 패턴을 생성한다.

데이터 비교기 회로(401)는 PN 패턴 생성 회로(400)에 의해 생성되는 PN 패턴과 8B10B 디코더 회로(381)에 의해 출력되는 PN 패턴을 비교한다. 어떠한 맞지 않는 비트가 검출되면, 불일치 신호가 카운터(402)에 출력된다.

카운터(402)는 불일치 신호를 카운트하고 그 후 카운트 수를 나타내는 정보를 제산기 회로(403)에 보낸다.

제산기 회로(403)는 카운트 수를 검사 비트 수로 나누어, 그로 인해 데이터 에러율(비트 에러율)을 결정한다.

이런 경우에, 검사 비트 수는 검사 과정의 한 루프당 비트 수이다. 이것은 이하에서 설명되는 전체 테스트 흐름의 설명에서 확실해질 것이다.

이런 방식으로 결정되는 데이터 에러율을 나타내는 정보는 검사 정보로서 도 1의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력된다.

도 8은 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)와 에러 정보생성 회로(40)를 나타내는 또 다른 예시도이다. 도 8에서, 도 7과 같은 구성 요소들은 같은 참조 숫자로 나타낸다.

도 8에서 도시된 바와 같이, 데이터 수신 회로(38)는 수신 증폭기(380)를 포함한다.

에러 정보 생성 회로(40)는 PN 패턴 회로(400), 데이터 비교기 회로(401), 카운터(402), 제산기 회로(403)를 포함한다.

수신 증폭기(380)는 도 5의 전형적인 데이터 전송 회로(18)에 의해 또는 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)의 데이터 전송 회로(62)에 의해 전송되는 데이터를 수신하여 증폭하며, 그 후 그 결과 신호를 도 1의 디스플레이 스위칭 회로(36)에 보낸다.

테스트 모드에서, 증폭된 데이터는 또한 도 8의 데이터 비교기 회로(401)에 출력된다. 테스트 모드에서, 테스트 장치(1)가 PN 패턴 생성 회로(150)(도 3)에 의해 생성되는 PN 패턴을 전송하기 때문에, 이 증폭된 데이터는 PN 패턴이다.

도 8의 에러 정보 생성 회로(40)는 도 7의 에러 정보 생성 회로(40)와 같다.

이제, 도 1의 기능 불량 정보 생성 회로(41)를 이하에서 설명한다. 테스트 모드에서, 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3에 따라 PLL 회로(39)에 의해 생성되는 타이밍 신호를 수신하고, 그 후 PLL 회로(39)의 기능 불량 정보를 생성하여 그 결과 신호를 검사 정보로서 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 전달한다.

예로써, PLL 회로의 잠금 해제 신호가 기능 불량 정보로서 생성되는 경우를이하에서 상세하게 설명한다.

PLL 회로의 잠금의 해제(잠금 해제)를 일반적인 방식으로 이하에서 설명한다. PLL 회로는 입력 클럭과 동기하여 출력 클럭(타이밍 신호)을 생성한다. 잠금의 해제(잠금 해제)는 PLL 회로가 불안정한 위상을 갖는 입력 클럭과 동기하여 출력 클럭(타이밍 신호)을 생성할 수 없는 상태를 의미한다.

한편, PLL 회로가 입력 클럭과 동기하여 출력 클럭(타이밍 신호)을 생성하고 있는 상태는 "잠겨진" PLL 회로로 언급되지만, 잠긴 PLL 회로가 손실된 상태는 "잠금의 해제(잠금 해제)"로 지칭된다.

이제, 이 실시예에서, PLL 회로(39)는 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)에 의해 수신되는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호 clk3과 동기하여 타이밍 신호를 생성할 수 있으며, 그로 인해 타이밍 신호가 일치하여 불안정화 되도록 한다. 이 경우에서, 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 검사 정보로서 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 잠금 해제 신호를 출력한다.

예를 들면, PLL 회로의 잠금의 해제(잠금 해제)를 검출하는 디바이스는 일본 특허 출원 공평 제 7-170179 호에서 공개된다. 이 실시예에서, 기능 불량 정보 생성 회로(41)로서 이 디바이스를 채택할 수 있다.

검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 기능 불량 정보 생성 회로(41)에 의해 출력되는 로크 손실 신호에 따라 PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재를 나타내는 정보를 생성한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 잠금의 해제의 존재 또는 부재와데이터 에러율을 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성한다.

도 1의 전술한 수신 회로(30)는 집적 회로(LSI)로서 구성될 수 있다.

"구성 요소" 용어는 이하에서 사용될 것이다. LSI로 구성되고 있는 수신 회로(30)에서, 이 "구성 요소"는 LSI에서 입력/출력하는 신호에 대한 "핀"을 의미한다. 당연한 일로서, 심지어 수신 회로(30)가 LSI로 구성되는 경우에, "구성 요소"는 알려진 다른 단말을 포함한다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)을 이하에서 설명한다. 디스플레이 유닛(31)은 정규 모드에서 디스플레이 스위칭 회로(36)에 의해 출력되는 비디오 데이터를 디스플레이 한다.

한편, 테스트 모드에서, 디스플레이 유닛(31)은 이미지 데이터를 디스플레이 한다. 여기서 이미지 데이터는 디스플레이 스위칭 회로(36)에 의해 출력되며, 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 신호(PN 패턴 또는 테스트 비디오 데이터)에 중첩시킴으로써 생성된다.

이제, 이 실시예에 따른 전체 테스트 과정을 도 1과 흐름도에 관하여 이하에서 설명한다.

도 9에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 1에서, 테스트 장치(1)는 초기화된다. 그 후, 단계 2에서, 디스플레이 디바이스(3)는 검사된다. 다음에, 단계 3에서, 검사 결과 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이 된다.

이제, 도 9의 각각의 단계에서 과정을 이하에서 상세하게 설명한다.

도 10은 도 9의 단계 1에서 초기화하는 흐름도를 나타낸다. 도 10을 참조하면, 오른쪽 과정은 디스플레이 디바이스(3)에 대한 처리 과정을 나타내며, 왼쪽 과정은 테스트 장치(1)에 대한 처리 과정을 나타낸다.

도 10에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 10에서, 테스트 장치(1)는 초기화된다. 보다 상세하게, 이 단계를 이하에서 설명한다.

제어 회로(12)는 테스트 패턴 생성 회로(15)의 스위치 회로(154)(도 3)에 스위칭 신호를 출력하여 테스트 패턴 생성 회로를 스위치하여 PN 패턴을 출력한다. 추가적으로, 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)를 초기화한다.

그 후, 단계 11에서, 테스트 장치(1)는 디스플레이 디바이스(3)에 테스트를 시작하도록 지시한다. 보다 상세하게, 이 단계를 이하에서 설명한다.

테스트 장치(1)의 제어 회로(12)는 제어 신호 전송 회로(13)가 테스트의 시작을 명령하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)에 보내도록 명령한다.

이에 따라, 테스트 장치(1)의 제어 신호 전송 회로(13)는 테스트의 시작을 명령하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)에 보낸다.

이에 따라, 단계 12에서, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)는 디스플레이 스위칭 신호를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력하여 디스플레이 스위칭 회로(36)를 작동시킨다.

이에 따라, 단계 13에서, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 전송회로(33)는 테스트에 대한 준비 완료를 알려주는 제어 신호를 테스트 장치(1)의 제어 신호 수신 회로(14)에 전송한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)가 테스트 모드에서 위치되도록 한다.

이에 따라, 단계 14에서, 테스트 장치(1)의 제어 신호 수신 회로(14)는 테스트의 준비 완료를 알려주는 제어 신호를 수신하고 그 후 이것을 제어 회로(12)에 알려준다.

그 후, 진행 과정은 도 9의 단계 2로 진행한다.

도 11은 도 9의 단계 2에서 검사 흐름도를 나타낸다. 도 11을 참조하면, 왼쪽에 과정은 테스트 장치(1)에 대한 처리 과정을 나타내고, 반면에 오른쪽에 과정은 디스플레이 디바이스(3)에 대한 처리 과정을 나타낸다.

도 11에서 도시된 바와 같이, 단계 20에서, 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호 clk3을 테스트 패턴 생성 회로(15)와 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)에 출력한다.

이에 따라, 단계 21에서, 테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 공급되는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호와 동기하여 일정한 수의 비트를 갖는 PN 패턴을 출력한다.

그 후, 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)는 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)에 PN 패턴을 전송한다.

한편, 단계 22에서, 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)는 지터를 포함하고 있는 수신된 클럭 신호 clk3과 동기하여 타이밍 신호를 생성한다. 그 후,PLL 회로(39)는 생성된 타이밍 신호를 데이터 수신 회로(38)와 기능 불량 정보 생성 회로(41)에 출력한다.

이에 따라, 단계 23에서, PLL 회로(39)가 잠금 해제 상태에 있을 때, 타이밍 신호가 입력되는 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 잠금 해제 신호를 생성하고, 그 후 그것을 검사 정보로서 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

한편, 단계 24에서, 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)는 PLL 회로(39)에 의해 제공된 타이밍 신호와 동기하여, 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)에 의해 전송되는 PN 패턴을 포착한다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 수신된 PN 패턴을 수신된 데이터로 서 디스플레이 스위칭 회로(36)와 에러 정보 생성 회로(40)에 출력한다.

이에 따라, 단계 25에서, 에러 정보 생성 유닛(40)은 수신된 데이터의 데이터 에러율을 결정하고 그 후 그 결과 신호를 검사 정보로서 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

그 후, 단계 26에서, 디스플레이 디바이스(3)의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 정보(지터 주파수, PLL 회로(39)의 로크의 손실의 존재 또는 부재 및 데이터 에러율)의 하나의 라인을 추가하여, 디스플레이 스위칭 회로(36)에 차례로 출력되는, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성한다.

이 검사 정보(지터 주파수, PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재 및 데이터 에러율)는 저장 회로(도시되지 않음)에 저장된다.

그 후, 단계 27에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 출력되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 출력되는 수신된 데이터(PN 패턴)에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

그 후, 단계 28에서, 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터가 겹쳐진 수신된 데이터(PN 패턴)를 디스플레이한다.

그 후, 검사가 완료되었으면, 과정은 도 9의 단계 3으로 향하고, 그렇지 않으면, 과정은 단계 30(단계 29)으로 진행한다.

단계 30에서, 테스트 장치(1)의 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)의 지터 주파수를 변경한다. 그 후, 이 지터 주파수로, 과정은 단계 20에서부터 단계 29까지 과정을 수행한다.

도 11에서 도시된 검사 과정에서 한 루프당 비트의 수는 검사 비트의 수이다. 도 7과 도 8의 에러 정보 생성 회로(40)는 PN 패턴에서 불일치 비트의 수를 검사 비트의 수로 나누어, 그로 인해 데이터 에러율(비트 에러율)을 결정한다.

이제, 도 9의 단계 3의 과정을 이하에서 상세하게 설명한다.

도 12는 도 9의 단계 3에서 디스플레이 과정을 나타낸다. 도 12를 참조하면, 왼쪽에 과정은 테스트 장치(1)에 대한 과정을 나타내고, 반면에 오른쪽에 과정은 디스플레이 디바이스(3)에 대한 과정을 나타낸다.

도 12에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 31에서, 테스트 장치(1)의 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)가 지터 신호의 생성을 비활성화 하도록 명령한다.

이에 따라, 지터 신호 생성 회로(17)는 지터 신호 clk2의 지터 위상 Aj와 지터 주파수 fj를 제로로 함으로써 지터 신호의 생성을 비활성화한다.

이에 따라, 단계 32에서, 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)는 지터를 포함하고 있지 않은 클럭 신호 clk3을 디스플레이 디바이스(3)의 테스트 패턴 생성 회로(15)와 PLL 회로(39)에 출력한다.

단계 33에서, 테스트 장치(1)의 제어 회로(12)는 테스트 패턴 생성 회로(15)의 스위칭 회로(154)(도 3)에 스위칭 신호를 출력하여, 그로 인해 테스트 패턴 생성 회로(15)가 테스트 비디오 데이터를 출력한다.

이에 따라, 단계 34에서, 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 출력되는 지터를 포함하고 있지 않는 클럭 신호와 동기하여 테스트 비디오 데이터를 출력한다.

그 후, 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)는 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)에 전송한다.

한편, 단계 35에서, 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)는 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)에 의해 전송되는 지터를 포함하고 있지 않은 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성한다.

그 후, PLL 회로(39)는 생성된 타이밍 신호를 데이터 수신 회로(38)에 출력한다.

이에 따라, 단계 36에서, 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)는PLL 회로(39)에 의해 출력된 타이밍 신호와 동기하여, 테스트 장치(1)의 데이터 전송 회로(18)에 의해 전송되는 테스트 비디오 데이터를 포착한다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 수신된 데이터로서 수신된 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력한다.

한편, 단계 37에서, 디스플레이 디바이스(3)의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 정보(지터 주파수, PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재, 데이터 에러율)를 저장 회로(도시되지 않음)로부터 획득하여 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 생성된 검사 결과 이미지 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력된다.

그 후, 단계 38에서, 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 출력되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 출력되는 수신된 데이터(테스트 비디오 데이터)에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이에 따라, 단계 39에서, 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터가 겹쳐진 테스트 비디오 데이터를 디스플레이한다.

이제, 디스플레이의 예를 이하에 도시한다.

도 13은 도 12의 단계 39에서 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이되는 이미지 데이터의 예시도를 나타낸다.

도 13(a)는 도 1의 제어 신호 수신 회로(32)로부터 디스플레이 스위칭 신호가 on일 때에 제공되는 디스플레이의 예인 반면에, 도 13(b)는 도 1의 제어 신호 수신 회로(32)로부터 디스플레이 스위칭 신호가 off일 때에 제공되는 디스플레이의 예이다.

도 10의 단계 12에서, 제어 신호 수신 회로(32)는 디스플레이 스위칭 신호를 활성화하여 디스플레이 스위칭 회로(36)를 동작시킨다.

도 13(a)에서 도시된 바와 같이, 이것은 검사 결과 이미지 데이터와 중첩되는 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31) 상에 디스플레이되도록 한다.

보다 구체적으로, 테스트 이미지 A는 디스플레이 유닛(31)의 주요 화면(310) 상에 디스플레이되고, 반면에 검사 결과 이미지 B는 서브 화면(311)에 디스플레이된다.

한편, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)가 테스트 장치(1)의 제어 신호 전송 회로(13)에 의해 전송되는 제어 신호를 수신하고 스위칭 신호를 끄도록 명령되었다고 가정한다. 이 경우에, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 꺼지고, 그로 인해 디스플레이 유닛(31) 상에 테스트 비디오 데이터가 출력되도록 한다.

이 경우에, 도 13(b)에서 도시된 바와 같이, 테스트 이미지 A만 디스플레이 유닛(31)의 주요 화면(310) 상에 디스플레이된다.

도 14는 도 13의 디스플레이 유닛(31)의 서브 화면(311) 상에 디스플레이되는 검사 결과 이미지 B를 나타내는 예시도이다.

도 14에서 도시된 바와 같이, 지터 주파수, PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재, 데이터 에러율은 검사 결과 이미지로서 디스플레이 유닛(31)의 서브 화면(311)에 디스플레이된다. PLL 회로의 잠금의 해제의 존재 또는 부재의 표시에서, "OK"는 PLL 회로의 잠겨진 상태를 나타내고, 반면에 "NG"는 PLL 회로의 잠금 해제 상태를 나타낸다.

이제, 디스플레이의 대안적인 방법을 이하에서 설명한다.

도 1의 테스트 장치(1)의 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 비디오 데이터에 중첩시키고, 그 후 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 그러나, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 중첩의 이런 형태가 없는 단순한 스위칭 회로로 채택될 수 있다.

즉, 도 10의 단계 12에서, 제어 신호 수신 회로(32)는 디스플레이 스위칭 신호를 활성화하여 그로 인해 디스플레이 스위칭 회로(36)를 동작시킨다. 이 경우에, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 도 12의 단계 38에서의 중첩 없이 디스플레이 유닛(31) 상에 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 출력되는 검사 결과 이미지 데이터를 출력한다.

한편, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 장치(1)의 제어 신호 수신 회로(14)에 의해 전송되는 제어 신호를 수신했고 디스플레이 스위칭 신호를 끄도록 지시되었다고 가정한다. 이 경우에, 디스플레이 유닛(31) 상에 테스트 비디오 데이터가 출력되도록 하며 디스플레이 스위칭 회로(36)는 꺼진다.

이런 점들을 도면을 참조하여 이하에서 설명한다.

도 15는 도 12의 단계 39에서 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이되는 이미지 데이터의 예시도를 나타낸다.

도 15(a)는 도 1의 제어 신호 수신 회로(32)로부터 디스플레이 스위칭 신호가 켜져 있을 때에 제공되는 예시적인 표현을 나타내고, 반면에 도 15(b)는 도 1의 제어 신호 수신 회로(32)로부터 디스플레이 스위칭 신호가 꺼져있을 때에 제공되는 예시적인 표현을 나타낸다.

도 15(a)에서 도시된 바와 같이, 디스플레이 스위칭 회로(36)를 단순하게 스위칭 회로로 채택하여, 도 12의 단계 39에서, 검사 결과 이미지 B는 디스플레이 유닛(31)의 주요 화면(310) 상에 디스플레이된다. 예를 들면, 여기에 디스플레이되는 검사 결과 이미지는 도 14에서 도시된 것과 같은 이미지이다.

한편, 디스플레이 스위칭 신호가 꺼져있고 디스플레이 스위칭 회로(36)도 꺼져 있다고 가정한다. 이 경우에, 도 15(b)에서 도시된 바와 같이, 테스트 이미지 A는 디스플레이 유닛(31)의 주요 화면(310) 상에 디스플레이된다.

이 실시예에서, 타이밍 신호는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호와 동기하여 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)에 제공된다(도 11의 단계 20과 22 참고). 이것은 데이터 에러율을 측정함으로써 지터의 영향을 알 수 있게 한다. 데이터 에러율에 영향을 주는 다른 주요한 요인들은 다른 회로로부터 노이즈를 포함하고, 그러므로 데이터 에러율은 노이즈에 의해 일어나는 영향을 포함한다.

추가적으로, 이 실시예에서, 지터를 포함하고 있는 클럭 신호는 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)에 제공된다(도 11의 단계 20과 22 참고). 이것은 잠금 해제 신호를 검출함으로써 PLL 회로(39)에서 지터의 영향을 알 수 있게 한다. PLL 회로(39)에 영향을 주는 다른 주요한 요인들은 다른 회로부터 노이즈를 포함하고, 그러므로 PLL 회로(39)의 잠금의 해제는 노이즈에 의해 일어나는 영향을 포함한다.

테스트 모드의 동작은 설명되었다. 이제, 도 2를 참조하여, 정규 모드에서의 동작을 이하에서 간단하게 설명한다.

도 2에서 도시된 바와 같이, 비디오 데이터 전송기(6)의 제어 신호 전송 회로(63)는 비디오 데이터의 전송을 알려주는 제어 신호를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)에 전송한다.

이에 따라, 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 구성 요소(8)를 사용하여(예를 들어, 집적 회로로 구성하는 수신 회로(30)의 경우에 제공되는 핀), 제어 신호 수신 회로(32)는 제어 신호를 수신한다.

이에 따라, 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 구성 요소(8)를 사용하여(예를 들어, 집적 회로로 구성하는 수신 회로(30)의 경우에 제공되는 핀), 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 전송 회로(33)는 디스플레이 디바이스(3)의 해상도와 같은 디스플레이 제어 정보를 케이블(5)을 거쳐 비디오 데이터 전송기(6)의 제어 신호 수신 회로(64)에 전송한다.

비디오 데이터 전송기(6)의 클럭 신호 생성 회로(61)는 클럭 신호를 생성하여 그것을 비디오 재생 회로(60)와 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)에 전송한다.

비디오 생성 회로(60)는 클럭 신호 생성 회로(61)에 의해 제공되는 클럭 신호와 동기하여 비디오 데이터를 출력한다.

그 후, 데이터 전송 회로(62)는 비디오 생성 회로(60)에 의해 출력되는 비디오 데이터를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)에 전송한다.

디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)는 클럭 신호와 동기하여 PLL 회로(39)에 의해 생성되는 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 포착한다.

데이터 수신 회로(38)는 포착된 비디오 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력한다.

이 때에, 디스플레이 스위칭 회로(36)가 꺼져있는 상태에 있기 때문에, 비디오 데이터는 디스플레이를 위해 디스플레이 유닛(31)에 출력된다.

상기에서 설명한 바와 같이, 이하는 이 실시예에 따른 디스플레이 디바이스(3)에 대해 유효하다.

즉, 이 실시예에서, 검사 회로(35)는 도 1의 디스플레이 디바이스(3) 내부에 제공된다. 그러므로, 디스플레이 디바이스(3) 내부에서, 데이터 수신 관련 회로(34)는 검사되고 검사 정보(데이터 에러율과 잠금 해제 신호)가 생성된다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성하고, 검사 결과 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스(3)에 제공되는 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다.(도 13 내지 도 15)

그 결과, 이것은 디스플레이를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(3) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3) 내부의 데이터 수신 관련 회로(34)에서 단순한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

추가적으로, 검사 결과 이미지 데이터가 디스플레이 디바이스(3)에 통합되는 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이되므로, 검사 결과 이미지 데이터를 출력하기 위해 디스플레이 디바이스(3) 외부의 추가 단자를 제공하는 것이 요구되지 않는다.

게다가, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 장치(1)로부터 테스트 관련 제어 신호를 수신한다. 추가적으로, 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 구성 요소(8)를 거쳐 테스트 관련 제어 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있다.

그 후, 제어 신호 수신 회로(32)가 테스트 관련 제어 신호로서 테스트 장치(1)로부터 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에, 디스플레이 디바이스(3)는 테스트 모드를 계속한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리한다. 이것은 정규 모드로 되돌아가도록 지시하는 외부 제어 신호를 제어 신호 수신 회로(32)에 전송함으로써 디스플레이 디바이스(3)가 정규 모드로 변경하는 것이 가능하게한다. 추가적으로, 테스트 장치(1) 외부로부터 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 제어 신호 수신 회로(32)에 단지 전송함으로써 디스플레이 디바이스(3)는 테스트 모드를 계속 할 수 있다.

즉, 모드는 디스플레이 디바이스(3) 외부의 제어 신호만으로 전환될 수 있다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(3) 내부의 데이터 수신 관련 회로(2)에서 단순한 방식으로 테스트를 수행할 수 있도록 한다.

추가적으로, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있고, 제어 신호 수신 회로(32)는 외부의 거기에 비디오 데이터 전송기(6) 외부에 의해 전송되는 신호를 수신하고 처리할 수 있다.

이것은 정규 모드를 계속한 후에, 외부 비디오 데이터 전송기(6)가 요구되는 것과 같은 신호를 제어 신호 수신 회로(32)에 전송할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 수신 회로(32)를 제공한다.

게다가, 외부 신호 수신시에, 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 모드 또는 정규 모드에서 구성 요소(8)를 사용한다.

이것은 단지 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 추가적 구성 요소에 대한 필요성을 없애고, 그로 인해 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

한편, 디스플레이 디바이스(3)의 제어 전송 회로(33)는 테스트 관련 제어 신호를 전송한다. 추가적으로, 제어 신호 전송 회로(33)는 테스트 관련 제어 신호를 외부로 전송하는 구성 요소(9)를 거쳐 테스트 관련 제어 신호 이외의 신호를 전송할 수 있다.

이것은 테스트 제어 신호 전송 회로(33)가 관련 제어 신호를 외부로 전송하는 구성 요소(9)를 거쳐 외부 비디오 데이터 전송기(6)로 신호를 전송할 수 있게 한다.

이것은 정규 모드를 계속한 후에, 제어 신호 전송 회로(33)가 요구되는 것과 같은 신호를 외부 비디오 데이터 전송기(6)에 전송할 수 있도록 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 회로(33)를 제공한다.

게다가, 외부로 신호 전송시에, 제어 신호 전송 회로(33)는 테스트 모드 또는 정규 모드에서 공통 구성 요소(9)를 사용한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)에 테스트 관련 제어 신호를 단지 전송하는 추가 구성 요소를 제공할 필요를 없애고, 그로 인해 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

한편, 테스트 모드에서, 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 입력되는 테스트 신호(테스트 비디오 데이터)에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에서 데이터 수신 관련 회로(34)의 검사 결과를 점검할 수 있게 한다. 또한 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 외부적으로 전송함으로써 테스트 비디오 데이터에서 시각적 검사를 수행할 수 있게 한다(도 13(a) 참고).

게다가, 모드에 따라, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 비디오 데이터 또는 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 이것은 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소와 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

이것은 디스플레이 스위칭 회로(36)로부터 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 디바이스(3)에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

한편, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 스위칭 회로로서 단순하게 채택될 수 있고, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 데이터 수신 회로(38)로부터 비디오 데이터를 수신하여 정규 모드에서 그것을 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 수신하고 그것을 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이유닛(31)에서 데이터 수신 관련회로(34)의 검사 결과를 점검할 수 있도록 한다(도 15(a) 참고).

추가적으로, 디스플레이 스위칭 회로(36)가 스위칭 회로로서 단순하게 사용되는 때에 중첩을 활성화하는 기능은 제거될 수 있고, 그로 인해 디스플레이 스위칭 회로(36)를 단순화할 수 있게 한다.

게다가, 모드에 따라, 스위칭 회로로서 단순하게 채택되는 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터 또는 비디오 데이터 중 어느 하나를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 이것은 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소와 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

이것은 스위칭 회로로서 단순하게 채택되는 디스플레이 스위칭 회로(36)로부터 검사 결과 이미지 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

추가적으로, 테스트 모드에서, 스위칭 회로로서 단순하게 채택되는 디스플레이 스위칭 회로(36)는 제어 신호 수신 회로(32)에 의해 수신되는 디스플레이 전환을 지시하는 제어 신호에 따라 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 수신하여 그 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 선택적으로, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 테스트 신호로서 테스트 비디오데이터를 수신하고 그 후 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 테스트 모드에서, 스위칭 회로로서 단순하게 채택되는 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터와 테스트 비디오 데이터 둘 중에 하나를 제어 신호에 따라 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 이것은 검사 결과 이미지 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소와 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

이것은 스위칭 회로로서 단순하게 채택되는 디스플레이 스위칭 회로(36)로부터 테스트 모드에서 데이터(검사 결과 이미지 데이터와 테스트 비디오 데이터)를 디스플레이 유닛(31)에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

제어 신호를 외부적으로 전송함으로써 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에서 테스트 비디오 데이터 상의 시각적 검사를 수행할 수도 있게 한다(도 13(a)와 15(b) 참고).

한편, 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고, 반면에 테스트 모드에서 테스트 신호로서 PN 패턴을 수신한다.

그 후, 테스트 모드에서, 디스플레이 디바이스(3)의 에러 정보 생성회로(40)는 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율을 생성한다. 데이터 에러율은 디스플레이 유닛(31) 상에 디스플레이된다(도 14 참고).

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(3)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(3) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3) 내부의 데이터 수신 회로(38)에서 단순한 방식으로 테스트(데이터 에러율 측정)를 차례로 수행할 수 있게 한다.

한편, PPL 회로(39)는 정규 모드에서 클럭 신호를 수신하고, 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하면서, 그것과 함께 타이밍 신호를 생성한다.

그 후, 테스트 모드에서, 잠긴 PLL 회로(39)가 해제되면 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 잠금 해제 신호를 생성한다. 잠금의 해제의 존재 또는 부재는 디스플레이 유닛(31) 상에 디스플레이된다(도 14 참고).

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(3)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(3) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(3) 내부의 데이터 수신 회로(38)에서 단순한 방식으로 테스트(로크 손실 신호의 검출)를 차례로 수행할 수 있게 한다.

PLL 회로(39)와 데이터 수신 회로(38) 모두가 검사되므로, 디스플레이 디바이스(3)의 기능 불량이 PLL 회로(39) 또는 다른 전송 저하 요인 중 어떤 것에 의해일어나는지 결정될 수 있다. 이것은 디스플레이 디바이스(3)의 기능 불량 원인을 구체적으로 확인할 수 있게 한다.

한편, 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 회로(38)는 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 PN 패턴을 수신하면서, 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신한다.

데이터 에러율은 이런 방식으로 타이밍 신호와 동기하여 수신되는 PN 패턴에서 결정될 수 있고, 그로 인해 지터의 영향에서의 결과를 제공한다.

한편, 이 실시예에서, 검사 회로(35)는 데이터 수신 관련 회로(34)를 검사하여 검사 정보를 생성하고, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)는 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다.

그 결과, 이것은 단지 사람의 시력에 의한 시각적 검사를 수행하는 경우와 비교하면 보다 정확하고 객관적인 검사 결과를 제공할 수 있게 된다.

이상에서 설명한 바와 같이, 이하는 이 실시예에 따른 테스트 장치(1)에 대해 유효하다.

즉, 이 실시예에서, 테스트 장치(1)의 제어 신호 전송 회로(13)는 제어 회로(12)로부터 명령을 수신하고 그 후 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(3)에 전송한다.

그러한 방식에서, 테스트 신호를 수신하는 디스플레이 디바이스(3)는 단지 제어 신호를 디스플레이 디바이스(3)에 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트를 준비할 수 있게 된다.

한편, 테스트 장치(1)의 제어 회로(12)는 테스트 신호 생성 회로(10)의 지터 신호 생성 회로(17)에 테스트 상태로서 지터 주파수를 지시한다.

이것은 통상적으로 수동으로 설정되었던 지터 주파수를 설정하는 시간과 인력을 경감시킨다.

테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 테스트 신호로서 PN 패턴을 생성한다. PN 패턴은 디스플레이 디바이스(3)에 전송된다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)에서 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율을 결정할 수 있게 한다.

추가적으로, 테스트 장치(1)의 위상 변조 회로(19)는 지터 신호 clk2를 클럭 신호에 중첩시켜 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3을 생성하고, 그 후 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3을 디스플레이 디바이스(3)의 PLL 회로(39)에 전송한다.

이것은 PLL 회로(39)의 잠금 해제 신호를 검출함으로써 디스플레이 디바이스(3)에서 PLL 회로(39) 상의 지터의 영향을 알 수 있게 한다.

테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 생성되는 지터를 포함하는 클럭 신호와 동기하여 PN 패턴을 데이터 전송 회로(18)에 출력한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)에서 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율에서 지터의 영향을 알 수 있도록 한다.

테스트 장치(1)는 테스트 신호(PN 패턴, 테스트 비디오 데이터, 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3)를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(3)에 전송한다.

이것은 디스플레이 디바이스(3)의 데이터 수신 관련 회로(34)(데이터 수신 회로(38)와 PLL 회로(39))에서의 검사에서 케이블의 영향에 결과를 제공할 수 있게 한다.

테스트는 직접적으로는 아니지만 디스플레이 디바이스(3)에 케이블을 거쳐 연결되어 있지 않은 테스트 장치(1)에서 수행될 수 있다.

추가적으로, 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 유닛(31)에서 테스트 비디오 데이터의 시각적 검사에 대한 필요가 없을 때에, 도 3의 테스트 비디오 데이터 생성 회로(153)는 제거될 수 있다.

이 경우에서, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)의 디스플레이 스위칭 회로(36)는 스위칭 회로로서 단순하게 채택될 수 있다.

(실시예 2)

이 실시예에서, 실시예 1과는 달리, 테스트 장치는 디스플레이 디바이스로부터 검사 정보를 수신하여 검사 결과 이미지 데이터를 생성하고, 이는 디스플레이 디바이스에 차례로 전송된다.

도 16은 본 발명의 실시예 2에 따른 예시적인 테스트 장치(1)와 예시적인 디스플레이 디바이스를 나타낸 블럭도이다. 도 16을 참조하여, 도 1과 같은 구성 요소들은 같은 참조 번호로 나타내고, 그것들의 설명은 적절하게 생략된다.

도 16에서 도시된 바와 같이, 테스트 장치(4)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(7)에 연결된다.

테스트 장치(4)는 테스트 신호 생성 회로(80), 테스트 신호 전송 회로(11), 제어 회로(12), 제어 신호 전송 회로(13), 제어 신호 수신 회로(14), 검사 결과 이미지 생성 회로(82), 검사 정보 저장 회로(83)를 포함한다.

테스트 신호 생성 회로(80)는 테스트 패턴 생성 회로(15), 클럭 신호 생성 회로(16), 지터 신호 생성 회로(17), 중첩 회로(81)를 포함한다.

테스트 신호 전송 회로(11)는 데이터 전송 회로(18)와 위상 변조 회로(19)를 포함한다.

디스플레이 디바이스(7)는 수신 회로(70)와 디스플레이 유닛(31)을 포함한다.

수신 회로(70)는 데이터 수신 관련 회로(34), 검사 회로(35), 제어 신호 수신 회로(32), 제어 신호 전송 회로(33)를 포함한다.

데이터 수신 관련 회로(34)는 데이터 수신 회로(38)와 PLL(Phase Locked Loop) 회로(39)를 포함한다.

검사 회로(35)는 에러 정보 생성 회로(40)와 기능 불량 정보 생성 회로(41)를 포함한다.

도 1의 수신 회로(30)와 같이, 수신 회로(70)는 집적 회로(LSI)로 구성될 수 있다.

"구성 요소"라는 용어는 이하에서 사용될 것이다. LSI로 구성되어 있는 수신 회로(70)에서, 이 "구성 요소"는 LSI의 신호 입력/출력 "핀"을 의미한다. 당연한 일로서, 심지어 LSI로 구성되어 있는 수신 회로(70)의 경우에서는, "구성 요소"는 다른 알려진 단자들을 포함한다.

이 구성으로, 도 16의 테스트 장치(4)는 케이블(5)을 거쳐 테스트 신호를 보내어 디스플레이 디바이스(7)에서 테스트를 수행한다. 디스플레이 디바이스(7)가 테스트를 준비하거나 테스트를 수행하는 상태는 "테스트 모드"라고 한다.

전형적으로, 디스플레이 디바이스(7)는 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)로부터 비디오 데이터를 수신하여 그것을 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이한다. 이 동작의 정규 상태는 "정규 모드"라고 한다. 정규 모드에서 동작은 실시예 1에서와 같다.

이제, 도 1의 디스플레이 디바이스(3)와 비교하면, 도 16의 디스플레이 디바이스(7)는 디스플레이 스위칭 회로(36)와 검사 결과 이미지 생성 회로(37)가 공급되지 않는다. 다른 구성 요소들은 도 1의 디스플레이 디바이스(3)에서뿐만 아니라 도 16의 디스플레이 디바이스(7)에서도 제공되고, 그것들의 설명은 생략한다.

그러나, 이 구성에서, 에러 정보 생성 회로(40)에 의해 생성되는 데이터 에러율을 나타내는 정보와, 기능 불량 정보 생성 회로(41)에 의해 생성되는 잠금 해제 신호는 제어 신호 전송 회로(33)에 출력된다.

테스트 장치(4)는 테스트 패턴 생성 회로(15), 클럭 신호 생성 회로(16), 지터 신호 생성 회로(17), 테스트 신호 전송 회로(11), 제어 회로(12), 제어 신호 수신 회로(14)를 갖는다. 이것들은 도 1의 테스트 장치(1)의 테스트 패턴 생성회로(15), 클럭 신호 생성 회로(16), 지터 신호 생성 회로(17), 테스트 신호 전송 회로(11), 제어 회로(12), 제어 신호 전송 회로(13), 제어 신호 수신 회로(14)와 각각 동일하다. 그러므로, 이런 구성 요소들의 설명은 생략한다.

그러나, 이 구성에서, 제어 신호 수신 회로(14)는 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 전송 회로(33)에 의해 전송되는 검사 정보(PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재, 데이터 에러율을 나타내는 정보)를 수신하고, 그 후 검사 정보 저장 회로(83)에 정보를 출력한다.

검사 정보 저장 회로(83)는 검사 정보를 저장한다. 검사 결과 이미지 생성 회로(82)는 검사 정보 저장 회로(83)로부터 검사 정보를 획득하여 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다.

검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 이하에 "검사 결과 이미지 데이터"로 언급된다. 한편, 검사 정보를 나타내는 이미지는 이하에 "검사 결과 이미지"로 언급된다.

검사 결과 이미지 생성 회로(82)는 생성된 검사 결과 이미지 데이터를 중첩 회로(81)에 출력한다.

중첩 회로(81)는 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 패턴 생성 회로(15)에 의해 생성된 테스트 신호(PN 패턴 또는 테스트 비디오 데이터)를 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 데이터 전송 회로(18)에 출력한다.

그 후, 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)는 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 신호를 테스트 장치(4)의 데이터 전송 회로(18)로부터수신하고, 다음에 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 신호를 디스플레이한다.

이제, 이 실시예에 따른 전체 테스트 과정을 도 16과 흐름도를 참고하여 이하에서 설명한다.

이 실시예에 따른 전체 테스트 과정은 도 9에서 나타낸 흐름도와 같고, 그러므로 다음의 설명은 도 9를 참조하여 이루어진다.

도 9에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 1에서, 테스트 장치(4)는 초기화된다. 그 후, 단계 2에서, 디스플레이 디바이스(7)는 검사된다. 그 후, 단계 3에서, 검사 결과 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스(7)의 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다.

이제, 도 9의 각각의 단계에서 과정을 이하에서 상세하게 설명한다.

도 17은 도 9의 단계 1에서의 초기화 과정을 나타낸다. 도 17을 참고하여, 왼쪽 과정은 테스트 장치(4)에 대한 과정을 나타내고, 반면에 오른쪽 과정은 디스플레이 디바이스(7)에 대한 과정을 나타낸다.

도 17에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 10에서, 테스트 장치(4)는 초기화된다. 보다 상세하게, 이 단계를 이하에서 설명한다.

테스트 장치(4)의 제어 회로(12)는 스위칭 신호를 테스트 패턴 생성 회로(15)의 스위칭 회로(154)(도 3)에 출력하고 테스트 패턴 생성 회로(15)를 전환하여 PN 패턴을 출력한다. 추가적으로, 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)를 초기화한다.

그 후, 단계 11에서, 테스트 장치(4)는 디스플레이 디바이스(7)에 테스트를 시작하도록 지시한다. 보다 구체적으로, 이 단계를 이하에서 설명한다.

테스트 장치(4)의 제어 회로(12)는 제어 신호 전송 회로(13)가 테스트의 시작에 대한 제어 신호를 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 수신 회로(32)에 보내도록 명령한다.

이에 따라, 테스트 장치(4)의 제어 신호 전송 회로(13)는 테스트의 시작을 명령하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 수신 회로(32)에 보낸다.

그 후, 단계 12에서, 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 전송 회로(33)가 검사 정보(PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재와 데이터 에러율을 나타내는 정보)를 테스트 장치(4)에 전송하는 것을 시작하도록 한다.

이에 따라, 단계 13에서, 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 전송 회로(33)는 테스트에 대한 준비 완료를 알려주는 제어 신호를 테스트 장치(4)의 제어 신호 수신 회로(14)에 전송한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)가 테스트 모드에서 위치되도록 한다.

이에 따라, 단계 14에서, 테스트 장치(4)의 제어 신호 수신 회로(14)는 테스트에 대한 준비 완료를 알려주는 제어 신호를 수신하고 그 후 그것을 제어 회로(12)에 알려준다.

그 후, 진행 과정은 도 9의 단계 2로 진행한다.

도 18은 도 9의 단계 2에서 검사 과정을 나타낸다. 도 18을 참조하여, 왼쪽 과정은 테스트 장치(4)에 대한 과정을 나타내고, 반면에 오른쪽 과정은 디스플레이 디바이스(7)에 대한 과정을 나타낸다.

도 18에 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 20에서, 테스트 장치(4)의 위상 변조 회로(19)는 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3을 테스트 패턴 생성 회로(15)와 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)에 출력한다.

이에 따라, 단계 21에서, 테스트 장치(4)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 제공되는 지터를 포함하는 클럭 신호와 동기하여 일정한 비트수를 갖는 PN 패턴을 출력한다.

이에 따라, 단계 22에서, 테스트 장치(4)의 중첩 회로(81)는 테스트 장치(4)의 검사 결과 이미지 생성 회로(82)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 PN 패턴에 중첩시키고, 그 후 처음에는 비어있는 검사 결과 이미지를 갖는 그 결과 신호를 데이터 전송 회로(18)에 출력한다.

그 후, 테스트 장치(4)의 데이터 전송 회로(18)는 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 PN 패턴을 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)에 전송한다.

한편, 단계 23에서, 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)는 지터를 포함하고 있는 수신된 클럭 신호 clk3과 동기하여 타이밍 신호를 생성한다. 그 후, PLL 회로(39)는 생성된 타이밍 신호를 데이터 수신 회로(38)와 기능 불량 정보 생성 회로(41)에 출력한다.

이에 따라, 단계 24에서, PLL 회로(39)가 잠금 해제 상태에 있을 때에, 입력된 타이밍 신호를 갖는 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 잠금 해제 신호를 생성하고 그 후 그것을 검사 정보로서 제어 신호 전송 회로(33)에 출력한다.

이 잠금 해제 신호에 따라, 제어 신호 전송 회로(33)는 PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재를 나타내는 정보를 생성한다.

한편, 단계 25에서, 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)는, PLL 회로(39)에 의해 제공되는 타이밍 신호와 동기하여, 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 PN 패턴을 포착한다. 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 PN 패턴은 테스트 장치(4)의 데이터 전송 회로(18)에 의해 데이터 수신 회로(38)에 전송된다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 수신된 데이터로서 수신된 PN 패턴을 디스플레이 유닛(31)과 에러 정보 생성 회로(40)에 출력한다.

이에 따라, 단계 25에서, 에러 정보 생성 회로(40)는 수신된 데이터의 데이터 에러율을 결정하고, 그 후 그 결과 신호를 검사 정보로서 제어 신호 전송 회로(33)에 출력한다.

그 후, 단계 27에서, 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 전송 회로(33)는 검사 정보(PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재와 데이터 에러율을 나타내는 정보)를 테스트 장치(4)의 제어 신호 수신 회로(14)에 전송한다.

그 후, 단계 28에서, 제어 신호 수신 회로(14)는 수신된 검사 정보를 검사 정보 저장 회로(83)에 출력한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(82)는 검사 정보 이미지 저장 회로(83)로부터 검사 정보를 획득하여 검사 결과 이미지 데이터를 생성하고, 그 후 데이터를 중첩 회로(81)에 출력한다.

그 후, 검사가 완료되었으면, 과정은 도 9의 단계 3으로 가고, 그렇지 않으면, 과정은 단계 30으로 간다(단계 29).

단계 30에서, 테스트 장치(4)의 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)의 지터 주파수를 변경시킨다. 그 후, 그 지터 주파수로, 과정 20 내지 29가 수행된다.

도 18에서 도시된 검사 과정에서 하나의 루프당 비트의 수는 검사 비트의 수이다. 도 7과 도 8의 에러 정보 생성 회로(40)는 PN 패턴에서 불일치한 비트의 수를 검사 비트의 수로 나누어 그로 인해 데이터 에러율을 결정한다.

이제, 도 9의 단계 3의 과정을 이하에서 상세하게 설명한다.

도 19는 도 9의 단계 3에서 디스플레이 흐름도를 나타낸다. 도 19를 참고하여, 왼쪽 과정은 테스트 장치(4)에 대한 과정을 나타내고, 반면에 오른쪽 과정은 디스플레이 디바이스(7)에 대한 과정을 나타낸다.

도 19에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 31에서, 테스트 장치(4)의 제어 회로(12)는 지터 신호 생성 회로(17)가 지터 신호의 생성을 하지 못하도록 명령한다.

이에 따라, 지터 신호 생성 회로(17)는 지터 위상 Aj와 지터 신호 clk2의 지터 주파수 fj를 제로로 함으로써 지터 신호 clk2의 생성을 못하게 된다.

이에 따라, 단계 32에서, 테스트 장치(4)의 위상 변조 회로(19)는 지터를 포함하고 있지 않은 클럭 신호 clk3을 테스트 패턴 생성 회로(15)와 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)에 출력한다.

단계 33에서, 테스트 장치(4)의 제어 회로(12)는 스위칭 신호를 테스트 패턴 생성 회로(15)의 스위칭 회로(154)(도 3)에 출력하고, 그로 인해 테스트 비디오 데이터를 출력하도록 테스트 패턴 생성 회로(15)를 전환한다.

이에 따라, 단계 34에서, 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 출력되는 지터를 포함하고 있지 않은 클럭 신호와 동기하여 테스트 비디오 데이터를 출력한다.

한편, 단계 35에서, 테스트 장치(4)의 검사 정보 저장 회로(83)는 저장된 검사 정보를 검사 결과 이미지 생성 회로(82)에 출력하고, 반면에 검사 결과 이미지 생성 회로(82)는 검사 결과 이미지 데이터를 생성한다.

그 후, 단계 36에서, 테스트 장치(4)의 중첩 회로(81)는 검사 결과 이미지 생성 회로(82)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 패턴 생성 회로(15)에 의해 출력되는 테스트 비디오 데이터에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 데이터 전송 회로(18)에 출력한다.

한편, 단계 37에서, 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)는 테스트 장치(4)의 위상 변조 회로(19)에 의해 전송되는 지터를 포함하고 있지 않은 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성한다.

그 후, PLL 회로(39)는 생성된 타이밍 신호를 데이터 수신 회로(38)에 출력한다.

이에 따라, 단계 38에서, 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)는 , PLL 회로(39)에 의해 출력된 타이밍 신호와 동기하여, 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터를 포착한다. 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터는 테스트 장치(4)의 데이터 전송 회로(18)에 의해 데이터 수신 회로(38)에 전송된다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터를 수신된 데이터로서 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이에 따라, 단계 39에서, 디스플레이 디바이스(7)의 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터가 겹쳐진 테스트 비디오 데이터를 디스플레이한다. 이 디스플레이 예는 도 13(a) 및 도 14와 같다.

상기에서 설명한 바와 같이, 이하는 이 실시예에 따른 디스플레이 디바이스(7)에 대해 유효하다.

즉, 이 실시예에서, 검사 회로(35)는 도 16의 디스플레이 디바이스(7) 내부에 제공된다. 그러므로, 디스플레이 디바이스(7)의 내부에서, 데이터 수신 관련 회로(34)는 검사되고 검사 정보(데이터 에러율과 잠금 해제 신호)는 생성된다.

그 후, 제어 신호 전송 회로(33)는 검사 정보(데이터 에러율과 잠금의 해제의 존재 또는 부재)를 테스트 장치(4)에 전송하고, 테스트 장치(4)의 검사 결과 이미지 생성 회로(82)는 검사 결과 이미지 데이터를 생성한다.

테스트 장치(4)는 검사 결과 이미지 데이터와 겹쳐 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 디바이스(7)에 전송하고, 디스플레이 디바이스(7)의 디스플레이유닛(31)이 그것을 디스플레이하도록 허용한다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(7)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(7) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7) 내부의 데이터 수신 관련 회로(34)에서 단순한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

게다가, 검사 결과 이미지 데이터가 테스트 장치(4)에서 생성되기 때문에, 테스트되기 위해 디스플레이 디바이스(7) 내부에 검사 결과 이미지 데이터를 생성하는 회로를 제공할 필요가 없다. 이것은 실시예 1과 비교시에 디스플레이 디바이스(7)의 복잡성의 정도를 경감시킨다.

추가적으로, 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 테스트 장치(4)의 외부로부터 디스플레이 디바이스(7)에 전송함으로써, 디스플레이 디바이스(7)의 디스플레이 유닛(31)에서 데이터 수신 관련 회로(34)의 검사 결과를 점검할 수 있고 테스트 비디오 데이터를 시각적으로 검사할 수도 있다.

게다가, 검사 결과 이미지 데이터는 외부적으로 생성되고 그 후 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하는 데이터 수신 회로(38)는 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 수신하여 디스플레이 유닛(31)에 상기 데이터를 출력한다.

이것은 데이터 수신 회로(38)가 정규 모드에서 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 것에 대한 구성 요소와 데이터 수신 회로(38)가 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 것에 대한 구성 요소를 공유할 수 있게 한다.

이것은 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 데이터 수신 회로(38)로부터 디스플레이 유닛(31)에 출력하는데만 사용되는 추가적인 구성 요소를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

게다가, 디스플레이 디바이스(7)의 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호를 수신한다. 추가적으로, 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호를 수신하는 구성 요소(8)를 거쳐 테스트 관련 제어 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있다.

이것은 제어 신호 수신 회로(32)에 정규 모드로 돌아가도록 지시하는 외부 제어 신호를 전송함으로써 디스플레이 디바이스(7)가 정규 모드로 변경될 수 있도록 한다.

한편, 테스트 장치(4)의 외부로부터 제어 신호 수신 회로(32)에 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 단지 전송함으로써 디스플레이 디바이스(7)는 테스트 모드로 진행할 수 있다.

즉, 모드는 디스플레이 디바이스(7) 외부의 제어 신호만으로 변경될 수 있다.

그 결과, 이것은 단순한 방식으로 디스플레이 디바이스(7) 내부의 데이터 수신 회로(34)에서 테스트를 수행할 수 있도록 한다.

추가적으로, 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 관련 제어 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있고, 제어 신호 수신 회로(32)는 비디오 데이터 전송기(6)의 외부에 의해 전송되는 제어 신호를 수신하고 처리할 수 있다.

이것은 외부의 비디오 데이터 전송기(6)가 정규 모드에서 제어 신호 수신 회로(32)에 요구되는 것에 따라 신호를 전송할 수 있도록 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 수신 회로(32)를 제공한다.

게다가, 외부 제어 신호 수신시에, 제어 신호 수신 회로(32)는 테스트 모드 또는 정규 모드 중 어느 하나에서 공통 구성 요소(8)를 사용한다.

한편, 제어 신호 전송 회로(33)는 테스트 관련 제어 신호를 외부로 전송하는 구성 요소(9)를 거쳐 테스트 관련 제어 신호 이외의 제어 신호를 전송할 수 있다. 이것은 외부의 비디오 데이터 전송기(6)에 신호를 전송할 수 있도록 한다.

이것은 제어 신호 전송 회로(33)가 정규 모드로 진행 후에 외부 비디오 데이터 전송기(6)에 요구되는 것에 따라 신호를 전송할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 테스트 모드에서뿐만 아니라 정규 모드에서도 동작할 수 있는 제어 신호 전송 회로(33)를 제공한다.

게다가, 외부로 제어 신호를 전송할 때에, 제어 신호 전송 회로(33)는 테스트 모드 또는 정규 모드 중 어느 하나에서 공통 구성 요소(9)를 사용한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)에 테스트 관련 제어 신호의 입력 또는 출력에서의 사용만을 위해, 또는 테스트 관련 제어 신호를 전송하거나 수신하기 위해추가적인 구성 요소를 제공할 필요성을 없애고, 그로 인해 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 제어 신호 전송 회로(33)와 제어 신호 수신 회로(32)는 제공되고, 그로 인해 디스플레이 디바이스(7)의 외부에, 검사 정보의 출력을 위한 추가적인 전용 단말 또는 검사 결과 이미지 데이터의 입력을 위한 추가적인 전용 단말을 제공할 필요성을 없앤다.

한편, 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)는 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고, 반면에 테스트 모드에서 테스트 신호로서 PN 패턴을 수신한다.

그 후, 테스트 모드에서, 디스플레이 디바이스(7)의 에러 정보 생성 회로(40)는 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신된 PN 패턴의 데이터 에러율을 생성한다.

디스플레이 디바이스(7) 내부의 제어 신호 전송 회로(33)는 에러 정보 생성 회로(40)에 의해 생성된 데이터 에러율을 나타내는 정보를 검사 정보로서 외부에 전송한다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(7)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(7) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7) 내부의 데이터 수신 회로(38)에서 단순한 방식으로 테스트(데이터 에러율 측정)를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

한편, 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)는 정규 모드에서 클럭 신호를 수신하고, 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하면서, 그와 함께 타이밍 신호를 생성한다.

그 후, 테스트 모드에서, 잠긴 PLL 회로(39)가 해제되면 기능 불량 정보 생성 회로(41)는 잠금 해제 신호를 생성한다.

그 후, 제어 신호 전송 회로(33)는 검사 정보로서 PLL 회로(39)의 잠금의 해제의 존재 또는 부재를 나타내는 정보를 외부로 전송한다.

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(7)를 분해하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있도록 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(7) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(7) 내부의 PLL 회로(39)에서 간단한 방식으로 테스트(잠금 해제 신호의 존재 또는 부재의 검출)를 차례로 수행할 수 있도록 한다.

PLL 회로(39)와 데이터 수신 회로(38) 모두가 검사되므로, 디스플레이 디바이스(7)의 기능 불량이 PLL 회로(39) 또는 다른 전송 저하 요인 중 어느 것에 의해 일어나는지를 결정할 수 있다. 이것은 디스플레이 디바이스(7)의 기능 불량의 원인을 구체적으로 확인할 수 있도록 한다.

한편, 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 회로(38)는 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 반면에 지터를 포함하고 있는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 모드에서 PN패턴을 수신한다.

디스플레이 디바이스(7)의 에러 정보 생성 회로(40)는 이런 방식으로 타이밍 신호와 동기하여 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율을 결정하고, 그로 인해 지터의 영향에서의 결과들을 제공할 수 있게 한다.

한편, 이 실시예에서, 검사 회로(35)는 데이터 수신 관련 회로(34)를 검사하여 검사 정보를 생성하고, 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)는 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다.

그 결과, 이것은 사람의 시력만으로 시각적 검사를 수행하는 경우와 비교할 때에 보다 정확하고 객관적인 검사 결과를 제공할 수 있게 한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 이하는 이 실시예에 따른 테스트 장치(4)에 대해 유효하다.

즉, 이 실시예에서, 테스트 장치(4)의 제어 신호 전송 회로(13)는 제어 회로(12)로부터 명령을 수신하고 그 후 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(7)에 전송한다.

그러한 방식에서, 테스트 신호를 수신하는 디스플레이 디바이스(7)는 제어 신호를 디스플레이 디바이스(7)에 단지 전송함으로써 단순한 방식으로 테스트에 대한 준비를 할 수 있다.

게다가, 검사 결과 이미지 데이터는 테스트 장치(4)에서 생성되므로, 테스트되기 위해 디스플레이 디바이스(7) 내부의 검사 결과 이미지 데이터를 생성하는 회로를 제공할 필요가 없다.

게다가, 테스트 장치(4)의 중첩 회로(81)는 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 비디오에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 데이터 전송 회로(18)에 출력한다.

그러므로, 테스트 장치(4)의 데이터 전송 회로(18)는 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 비디오 데이터를 디스플레이 디바이스(7)에 전송한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)에서 디스플레이 디바이스(7)의 검사 결과를 점검할 수 있고 테스트 비디오 데이터에 대한 시각적 검사를 수행할 수 있도록 한다.

한편, 테스트 장치(4)는 제어 회로(12)가 제공된다. 실시예 1에서와 같이, 이것은 통상적으로 수동으로 설정되었던 테스트 상태를 설정하는 시간과 인력을 경감시킨다.

테스트 장치(4)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 테스트 신호로서 PN 패턴을 생성한다. PN 패턴은 디스플레이 디바이스(7)에 전송된다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)에서 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율을 결정할 수 있도록 한다.

추가적으로, 테스트 장치(4)의 위상 변조 회로(19)는 지터 신호 clk2를 클럭 신호 clk1에 중첩시켜 지터를 포함하는 클럭 신호 clk3을 생성하고, 그 후 테스트 신호로서 지터를 포함하고 있는 클럭 신호 clk3을 디스플레이 디바이스(7)의 PLL 회로(39)에 전송한다.

이것은 PLL 회로(39)의 잠금 해제 신호를 검출함으로써 디스플레이 디바이스(7)에서 PLL 회로(39) 상의 지터의 영향을 알 수 있게 한다.

테스트 장치(4)의 테스트 패턴 생성 회로(15)는 위상 변조 회로(19)에 의해 생성되는 지터를 포함하고 있는 클럭 신호와 동기하여 데이터 전송 회로(18)에 PN 패턴을 출력한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)에서 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 PN 패턴의 데이터 에러율에서 지터의 영향을 알 수 있도록 한다.

테스트 장치(4)는 테스트 신호(PN 패턴, 테스트 비디오 데이터, 지터를 포함하고 있는 클럭 신호 clk3)를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(7)에 전송한다.

이것은 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 관련 회로(34)(데이터 수신 회로(38)와 PLL 회로(39))의 검사에서 케이블의 영향의 결과들을 제공할 수 있게 한다.

테스트는 또한 디스플레이 디바이스(7)에 직접적으로는 아니지만 케이블(5)을 거쳐 연결되지 않고 있는 테스트 장치(4)로 수행될 수 있다.

추가적으로, 테스트 비디오 데이터의 시각적 검사에 대한 필요가 없을 때에, 도 3의 테스트 비디오 데이터 생성 회로(153)는 제거될 수 있다.

이 경우에, 도 16의 중첩 회로(81)는 스위칭 회로로 대체된다. 이 구성으로, 제어 회로(12)는 스위칭 회로가 디스플레이 디바이스(7)에서 검사 결과 이미지 데이터를 디스플레이하도록 명령하면, 데이터 전송 회로(18)는 검사 결과 이미지 데이터를 출력그러나, 검사가 디스플레이 디바이스(7)의 데이터 수신 관련 회로(34)에 대해 수행될 때에 PN 패턴은 데이터 전송 회로(18)에 출력된다.

마지막으로, PLL 지터와 일본 특허 제 2950370에 공개된 집적 회로를 측정하는 방법과 본 발명 사이의 차이를 이하에서 간단하게 언급한다.

그 문헌에서, 그러한 기술은 PLL 회로의 지터 정보가 집적 회로에 손상 없이 집적 회로 외부에 출력되는 것으로 공개된다.

본 발명의 목적이 디스플레이 디바이스를 분해하는 것 없이 또한 그의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스를 검사한다는 점에서 집적 회로를 손상시키지 않는 것을 목적으로 하는 문헌의 기술은 본 발명과 현저히 다르다.

추가적으로, 문헌의 기술은 알려진 IC 테스터를 집적 회로의 테스트 입력 핀과 출력 핀에 연결하여 PLL 회로의 지터를 측정한다. 따라서, 디스플레이 디바이스로 이루어진 집적 회로를 고려하여, 디스플레이 디바이스는 집적 회로를 검사하기 위해 분해되어야 하고, 그로 인해 본 발명의 목적을 설명하는 것이 불가능하게 된다.

게다가, 문헌의 기술은 지터 정보에 한정되지 않고, 데이터 에러율과 PLL 회로의 잠금 해제 신호를 언급하지 않는다.

또한 게다가, 문헌은 이 실시예에 따른 디스플레이 스위칭 회로(36)와 같은, 외부 집적 회로에 신호를 출력하는 어떤 구체적 수단도 공개하지 않는다.

상기에서 설명한 바와 같이, 문헌은 본 발명을 연상시키는 어떠한 것도 포함하지 않는다.

(실시예 3)

도 20은 본 발명의 실시예 3에 따른 디스플레이 디바이스와 비디오 데이터 전송기를 나타내는 블럭도이다. 도 20에서, 도 1과 같은 구성 요소들은 같은 참조 번호로 나타낸다.

도 20에서 도시된 바와 같이, 비디오 데이터 전송기(100)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(200)에 연결된다.

디스플레이 디바이스(200)는 수신 회로(201), 입력 유닛(206), 디스플레이 유닛(31)을 포함한다.

수신 회로(201)는 데이터 수신 관련 회로(202), 검사 회로(204), 디스플레이 스위칭 유닛(36), 검사 결과 이미지 생성 회로(37)를 포함한다.

데이터 수신 관련 회로(202)는 데이터 수신 회로(38)를 포함한다. 검사 회로(204)는 에러 정보 생성 회로(40)를 포함한다.

먼저, 비디오 데이터 전송기(100)를 이하에서 설명한다. 디스플레이 디바이스(200)가 정규 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(200)에 영화와 같은 비디오 데이터를 전송한다.

비디오 데이터 전송기(100)는 예를 들면, PC에 통합되는, 셋톱 박스(STB), DVD(Digital Video Disc) 플레이어 등과 같은, 도 2의 비디오 데이터 전송기(6)와 같다.

한편, 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(200)에 테스트 신호를 전송한다.

예를 들면, 테스트 신호는 테스트 비디오 데이터 또는 PN 패턴을 포함한다. 예를 들면, 테스트 비디오 데이터는 테스트 이미지 데이터 또는 컬러 패턴 또는 테스트 이미지 데이터와 컬러 패턴 모두를 포함한다. 예를 들면, 테스트 이미지 데이터는 테스트 동영상 데이터 또는 테스트 정지 영상 데이터를 포함한다.

테스트 이미지 데이터는 물체를 사진화함으로써 생성되는 이미지이고 반면에 컬러 패턴은 패턴된 이미지이다.

디스플레이 디바이스(200)가 테스트에 대한 준비가 되어 있거나 테스트를 수행하고 있는 상태는 이후에 "테스트 모드"라고 한다.

비디오 데이터 전송기(100)가 저장 매체에 저장된 비디오 데이터를 읽을 수 있다고 가정한다. 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 그 위에 기록된 테스트 신호를 갖고 있는 저장 매체에서 설정함으로써 테스트 신호를 읽어들이는 것을 허용하고, 그 후 테스트 신호를 디스플레이 디바이스(200)에 전송한다.

예를 들면, 비디오 데이터 전송기(100)가 DVD 플레이어라고 가정한다. 이 경우에, 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 그 안에 기록된 테스트 신호를 갖고 있는 DVD에서 설정함으로써 테스트 신호를 읽어들이는 것을 허용하고, 그 후 테스트 신호를 디스플레이 디바이스(200)에 전송한다.

한편, 비디오 데이터 전송기(100)는 그 안에 기록된 테스트 신호를 갖고 있는 저장 디바이스가 제공된다. 이 경우에, 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 저장 디바이스로부터 테스트 신호를 읽어들이는 것을 허용하고 그 후 전송기(100)는 그것을 디스플레이 디바이스(200)에 전송한다.

예를 들면, 비디오 데이터 전송기(100)가 그 위에 기록된 테스트 신호를 갖는 ROM(Read Only Memory)를 구비한 셋톱 박스라고 가정한다. 이 경우에서, 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에 있을 때에, 비디오 데이터 전송기(100)는 ROM으로부터 테스트 신호를 읽어들이는 것을 허용하고 그 후 그 신호를 디스플레이 디바이스(200)에 전송한다.

심지어 비디오 데이터 전송기(100)가 저장 매체에 저장된 비디오 데이터를 읽을 수 있을 때에 거기에 기록된 테스트 신호를 갖는 저장 디바이스를 제공할 수도 있다.

이제, 디스플레이 디바이스(200)의 입력 유닛(206)을 이하에서 설명한다. 입력 유닛(206)은 테스트 모드로 이동하거나 테스트 모드를 빠져 나오도록 디스플레이 스위칭 회로(36)에 지시한다.

입력 유닛(206)이 테스트 모드로 이동하도록 디스플레이 스위칭 회로(36)에 지시할 때에, 디스플레이 디바이스(200)는 테스트 모드에 위치된다.

한편, 입력 유닛(206)이 테스트 모드를 빠져 나오도록 디스플레이 스위칭 회로(36)에 지시할 때에, 디스플레이 디바이스(200)는 테스트 모드에서 정규 모드로 전환된다.

예를 들면, 입력 유닛(206)은 버튼, 스위치, 적외선 원격 제어기로부터 신호를 수신하는 센서 또는 비디오 데이터를 입력하는 단자 외의 단자와 같은 외부와의 인터페이스를 포함한다. 이 인터페이스를 거쳐, 입력 유닛(206)은 외부로부터 지시(테스트 모드로 이동 또는 빠져 나옴)를 수신한다.

입력 유닛(206)에 포함된 외부의 인터페이스에 따라, 테스트 모드에서 디스플레이 디바이스(200)를 단지 위치시키는데 사용되는 전용 인터페이스를 항상 제공할 필요가 없다. 정규 모드에서 사용될 수 있는 인터페이스(예를 들면, 버튼, 스위치, 적외선 원격 제어기로부터 신호를 수신하는 센서, 또는 비디오 데이터를 입력하는 단자 외의 단자)를 사용할 수 있다.

예를 들면, 정규 모드에서 사용되는 다수의 버튼을 동시에 누름으로써, 정규 모드에서 사용되는 버튼을 일정 시간 이상 동안 누름으로써, 또는 정규 모드에서 사용되는 다수의 버튼을 일정한 순서로 누름으로써, 테스트 모드에서 디스플레이 디바이스(200)를 위치시킬 수도 있다.

정규 모드에서, 수신 회로(201)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신하고 그 후 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

한편, 테스트 모드에서, 수신 회로(201)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 테스트 신호를 수신한다.

보다 구체적으로, 도 20을 참조하여 상기에서 설명한 바와 같이 구성된, 수신 회로(201)를 이하에서 상세하게 설명한다.

먼저, 디스플레이 디바이스(200)의 데이터 수신 관련 회로(202)를 이하에서설명한다. 테스트 모드에서, 데이터 수신 관련 회로(202)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 테스트 신호를 수신한다.

한편, 정규 모드에서, 데이터 수신 관련 회로(202)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신한다.

이제, 디스플레이 디바이스(200)의 검사 회로(204)를 이하에서 설명한다. 테스트 모드에서, 검사 회로(204)는 데이터 수신 관련 회로(202)를 검사하여 검사 정보를 생성하고 그 후 그 정보를 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

다음으로, 디스플레이 디바이스(200)의 검사 결과 이미지 생성 회로(37)를 이하에서 설명한다. 테스트 모드에서, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 회로(204)에 의해 생성되는 검사 정보를 수신한다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 수신된 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성한다.

검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 이후에 "검사 결과 이미지 데이터"로 언급될 것이다. 한편, 검사 정보를 나타내는 이미지는 이후에 "검사 결과 이미지"로 언급될 것이다.

이제, 디스플레이 디바이스(200)의 디스플레이 스위칭 회로(36)를 이하에서 설명한다. 정규 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 데이터 수신 관련 회로(202)에 의해 수신된 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

한편, 테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 관련회로(202)에 의해 수신되는 테스트 신호에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

디스플레이 스위칭 회로(36)는 정규 모드(중첩 없음)와 테스트 모드(중첩 있음) 사이에서 다른 동작을 제공한다. 동작들 사이에서 전환은 입력 유닛(206)으로부터의 지시에 따라 수행된다.

즉, 입력 유닛(206)이 디스플레이 스위칭 회로(36)에게 테스트 모드로 이동하도록 지시한 후에, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 관련 회로(202)에 의해 수신된 테스트 신호와 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

한편, 입력 유닛(206)이 디스플레이 스위칭 회로(36)에게 테스트 모드를 빠져 나오도록 지시한 후에, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 데이터 수신 관련 회로(202)에 의해 수신되는 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이제, 데이터 수신 관련 회로(202)를 이하에서 상세하게 설명한다. 테스트 모드에서, 데이터 수신 관련 회로(202)의 데이터 수신 회로(38)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 테스트 신호를 수신한다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 수신된 테스트 신호를 디스플레이 스위칭 회로(36)와 검사 회로(204)의 에러 정보 생성 회로(40)에 출력한다.

한편, 정규 모드에서, 데이터 수신 회로(38)는 비디오 데이터 전송기(100)에 의해 전송되는 비디오 데이터를 수신하고 그 후 그 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력한다.

이제, 도 20의 검사 회로(204)를 이하에서 상세하게 설명한다. 테스트 모드에서, 검사 회로(204)의 에러 정보 생성 회로(40)는 데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 테스트 신호에 관한 데이터 에러 정보를 생성하고, 그 후 데이터 에러 정보를 검사 정보로서 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

예를 들면, 에러 정보 생성 회로(40)는 데이터 에러 정보로서 "데이터 에러율(비트 에러율)"을 생성한다.

이 경우에, 검사 회로(204)의 에러 정보 생성 회로(40)로서 도 7의 에러 정보 생성 회로(40)를 사용할 수도 있고, 반면에 도 7의 데이터 수신 회로(38)는 데이터 수신 관련 회로(202)의 데이터 수신 관련 회로(38)로서 사용될 수 있다.

검사 회로(204)의 에러 정보 생성 회로(40)로서 도 8의 에러 정보 생성 회로(40)를 사용할 수도 있고, 반면에 도 8의 데이터 수신 회로(38)는 데이터 수신 관련 회로(202)의 데이터 수신 회로(38)로서 사용될 수 있다.

이상에서 설명된 도 20의 수신 회로(201)는 집적 회로(LSI)로 구성될 수 있다.

"구성 요소"라는 용어는 이하에서 사용될 것이다. LSI로 구성되고 있는 수신 회로(201)에서, 이 "구성 요소"는 LSI의 신호 입력/출력 "핀"을 의미한다. 당연한 일로서, 심지어 LSI로 구성되고 있는 수신 회로(201)의 경우에서도, "구성 요소"는 알려진 다른 단자들을 포함한다.

이제, 도 20의 디스플레이 디바이스(200)의 디스플레이 유닛(31)을 이하에서설명한다. 정규 모드에서, 디스플레이 유닛(31)은 디스플레이 스위칭 회로(36)에 의해 출력되는 비디오 데이터를 디스플레이한다.

한편, 테스트 모드에서, 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터를 테스트 신호에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 디스플레이한다. 이미지 데이터는 테스트 모드에서 디스플레이 스위칭 회로(36)에 의해 디스플레이 유닛(31)에 출력된다.

이제, 이 실시예에 따른 전체 테스트 과정을 도 20과 흐름도를 참조하여 이하에서 설명한다.

도 21은 이 실시예에 따라 테스트 모드에서 디스플레이 디바이스(200)를 사용하는 흐름도이다.

도 21에서 도시된 바와 같이, 먼저, 단계 101에서, 입력 유닛(206)은 디스플레이 스위칭 회로(36)에게 테스트를 시작하도록 지시한다.

한편, 입력 유닛(206)은 디스플레이 스위칭 회로(36)에게 테스트 모드로 이동하도록 지시한다.

이것은 디스플레이 디바이스(200)가 테스트 모드에서 위치되도록 한다.

단계 102에서, 데이터 수신 회로(38)는 비디오 데이터 전송기(100)로부터 테스트 신호(테스트 비디오 데이터와 PN 패턴)를 수신한다.

그 후, 데이터 수신 회로(38)는 수신된 데이터로서 수신된 테스트 신호를 디스플레이 스위칭 회로(36)와 에러 정보 생성 회로(40)에 출력한다.

이에 따라, 단계 103에서, 에러 정보 생성 회로(40)는 수신된 데이터의 에러율을 결정하고 그 후 검사 정보로서 그 결과 신호를 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 출력한다.

단계 104에서, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 정보(데이터 에러율)를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성하고 그 후 그 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력한다.

단계 105에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 출력되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)에 의해 출력되는 수신된 데이터에 중첩시키고, 그 후 그 결과 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

단계 106에서, 디스플레이 유닛(31)은 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 수신된 데이터를 디스플레이한다.

이제, 디스플레이의 예를 이하에서 나타낸다.

도 22(a)는 데이터 수신 회로(38)에 의해 테스트 모드에서 수신된 테스트 신호를 나타내는 예시도이다.

도 22(b)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 테스트 모드에서 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 나타내는 예시도이다.

도 22(c)는 테스트 모드에서 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이되는 이미지 데이터를 나타내는 예시도이다.

데이터 수신 회로(38)가 테스트 모드에서 비디오 데이터 전송기(100)로부터 도 22의 테스트 신호 "a"를 수신했다고 가정한다.

테스트 신호 "a"는 테스트 동영상 데이터 "b", 컬러 패턴 "c", PN 패턴(랜덤 이미지) "d"로 구성된다. 테스트 동영상 데이터 "b"와 컬러 패턴 "c"는 테스트 비디오 데이터를 구성한다.

데이터 수신 회로(38)에 의해 수신되는 테스트 신호 "a"는 디스플레이 스위칭 회로(36)와 에러 정보 생성 회로(40)에 출력된다.

그러한 테스트 신호 "a"는 저장 매체에 저장되어 비디오 데이터 전송기(100)에서 제공되는 저장 디바이스 또는 비디오 데이터 전송기(100)에서 설정된다.

도 22(b)에 도시된 바와 같이, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 PN 패턴 "d"의 데이터 에러율을 나타내는 이미지 데이터 "e"를 생성한다. 에러 정보 생성 회로(40)는 PN 패턴 "d"의 에러율을 생성한다.

검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 데이터 에러율을 나타내는 이미지 데이터 "e"는 디스플레이 스위칭 회로(36)에 출력된다.

그 후, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터 "e"를 데이터 수신 회로(38)로부터 입력되는 테스트 신호 "a"의 PN 패턴 "d"에 중첩시킨다.

디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터 "e"를 테스트 신호 "a"의 PN 패턴 "d"에 중첩시켜 놓은 이미지 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

도 22(c)에 도시된 바와 같이, 디스플레이 유닛(31)은, 디스플레이 유닛(31)의 스크린(210) 상에, 검사 결과 이미지 데이터 "e"를 테스트 신호 "a"의 PN 패턴 "d"에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터, 또는 테스트 동영상 데이터 "b",컬러 패턴 "c", 그리고 검사 결과 이미지 데이터 "e"로 형성되는 이미지 데이터를 디스플레이한다.

테스트 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 또한 테스트 신호 "a"와 검사 결과 이미지 데이터 "e" 중 어느 하나를 입력 유닛(206)으로부터의 지시에 따라 디스플레이 유닛(31)에 출력할 수 있다.

이와는 달리, 테스트 모드에서, 입력 유닛(206)으로부터의 지시에 따라, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 또한 테스트 동영상 데이터 "b", 컬러 패턴 "c", 그리고 검사 결과 이미지 데이터 "e"의 그룹에서 선택된 데이터의 어느 한 부분을 디스플레이 유닛(31)에 출력할 수 있다.

이와는 달리, 테스트 모드에서, 입력 유닛(206)으로부터의 지시에 따라, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 또한 테스트 이동 이미지 데이터 "b", 컬러 패턴 "c", 그리고 검사 결과 이미지 데이터 "e"의 그룹에서 선택된 데이터의 어느 두 부분을 디스플레이 유닛(31)에 출력할 수 있다.

도 22(a)에서 도시된 예에서, 테스트 신호 "a"는 테스트 동영상 데이터 "b"를 포함한다. 그러나, 테스트 신호 "a"는 컬러 패턴 "c"와 PN 패턴 "d"로 형성될 수 있다.

도 22(a)에서 도시된 예에서, 테스트 신호 "a"는 컬러 패턴 "c"를 포함한다. 그러나, 테스트 신호 "a"는 테스트 동영상 데이터 "b"와 PN 패턴 "d"를 포함한다.

도 22(a)에서 도시된 예에서, 테스트 이동 이미지 데이터 "b"는 테스트 신호 "a"로 채택될 수 있다. 그러나, 테스트 정지 영상 데이터가 채택될 수도 있다.

테스트 모드의 동작은 설명되었다. 이제, 도 20을 참조하여, 정규 모드에서 동작을 이하에서 간단하게 설명한다.

정규 모드에서, 비디오 데이터 전송기(100)는 영화와 같은 비디오 데이터를 케이블(5)을 거쳐 디스플레이 디바이스(200)에 전송한다.

디스플레이 디바이스(200)의 데이터 수신 회로(38)는 비디오 데이터 전송기(100)로부터 비디오 데이터를 수신하고 그 후 비디오 데이터를 디스플레이 스위칭 회로(36)에 제공한다.

정규 모드에서, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 데이터 수신 회로(38)로부터 입력되는 비디오 데이터를 디스플레이 유닛(31)에 제공한다.

그 후, 디스플레이 유닛(31)은 디스플레이 스위칭 회로(36)로부터 입력되는 비디오 데이터를 디스플레이한다.

상기에서 설명한 바와 같이, 이하는 이 실시예에 따른 디스플레이 디바이스(200)에 대해 유효하다.

즉, 이 실시예에서, 검사 회로(204)는 도 20의 디스플레이 디바이스(200) 내부에서 제공된다. 그러므로, 디스플레이 디바이스(200) 내부에서, 데이터 수신 관련 회로(202)는 검사되고 검사 정보(데이터 에러율)는 생성된다.

그 후, 검사 결과 이미지 생성 회로(37)는 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)를 생성하고 검사 결과 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스(200)에 제공된 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다(도 22(c)).

그 결과, 이것은 디스플레이 디바이스(200)를 분해하는 것 없이 디스플레이디바이스(200)의 조립 후에 검사를 수행할 수 있게 한다. 이것은 디스플레이 디바이스(200) 내부의 노이즈 환경을 변경하는 것 없이 디스플레이 디바이스(200) 내부의 데이터 수신 관련 회로(202)에서 간단한 방식으로 테스트를 차례로 수행할 수 있게 한다.

게다가, 검사 결과 이미지 데이터는 디스플레이 디바이스(200)에 제공된 디스플레이 유닛(31)에서 디스플레이되므로, 디스플레이 디바이스(200) 외부에 검사 결과 이미지 데이터를 출력하는 단자를 제공할 필요가 없다.

추가적으로, 테스트 모드에서, 디스플레이 디바이스(200)의 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 생성 회로(37)에 의해 생성되는 검사 결과 이미지 데이터를 데이터 수신 회로(38)로부터 입력되는 테스트 신호에 중첩시키고, 그 후 그 결과 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다.

이것은 디스플레이 디바이스(200)의 디스플레이 유닛(31)에서 데이터 수신 관련 회로(202)의 검사 결과를 점검할 수 있도록 하고 또한 테스트 비디오 데이터도 시각적으로 검사할 수 있도록 한다(도 22(c)).

게다가, 모드에 따라, 디스플레이 스위칭 회로(36)는 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 비디오 데이터 또는 테스트 신호 중 어느 하나를 디스플레이 유닛(31)에 출력한다. 이것은 디스플레이 유닛(31)에 비디오 데이터를 출력하는 구성 요소와 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 신호를 디스플레이 유닛(31)에 출력하는 구성 요소를 공유할 수 있도록 한다.

이것은 디스플레이 스위칭 회로(36)로부터 검사 결과 이미지 데이터와 중첩시켜 놓은 테스트 신호를 디스플레이 유닛(31)에 단지 출력하는데 사용되는 추가적인 구성요소를 제공할 필요성을 없앤다. 이것은 패키징 면적의 증가와 부품 호환성의 저하(다른 LSI들과의 호환성의 저하)와 같은 단점을 피할 수 있게 한다.

한편, 이 실시예에서, 검사 회로(204)는 데이터 수신 관련 회로(202)를 검사하여 검사 정보를 생성하고 그 후 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터(검사 결과 이미지 데이터)는 디스플레이 유닛(31)에 디스플레이된다.

그 결과, 이것은 사람의 시력만으로 시각적 검사를 수행하는 경우와 비교할 때에 보다 정확하고 객관적인 검사 결과를 제공할 수 있도록 한다.

이 실시예에서, 테스트 신호는 또한 케이블(5)을 거쳐 데이터 수신 관련 회로(202)에 전송된다.

이것은 데이터 수신 관련 회로(202)의 검사에서 케이블의 영향 상의 결과들을 제공할 수 있도록 한다.

이 실시예에서, 디스플레이 디바이스(200)는 모드 사이에 전환을 지시하는 입력 유닛(206)이 제공된다.

그러므로, 디스플레이 디바이스(200)에서 제공되는 입력 유닛(206)은 디스플레이 디바이스(200)에게 테스트 모드로 이동하도록 지시할 수 있다.

이것은 추가적인 테스트 디바이스(예를 들면, 도 1의 테스트 장치(1)와 도 16의 테스트 장치(4))를 준비하는 필요성을 없앤다. 정규 모드에서 디스플레이 디바이스(200)에 비디오 데이터를 전송하는 비디오 데이터 전송기(100)를 사용하여, 디스플레이 디바이스(200)는 테스트될 수 있다.

그 결과, 실시예 1 및 2와 비교시에, 디스플레이 디바이스(200)는 보다 단순한 방식으로 테스트될 수 있다.

이 실시예에서, 정규 모드에서 사용되는 외부와의 인터페이스를 사용하여 입력 유닛(206)은 모드 사이에 전환을 지시할 수 있다.

이것은 입력 유닛(206)에 모드 사이에 전환을 지시하는 외부와의 전용 인터페이스를 제공하는 필요성을 없앤다.

첨부한 도면을 참조하여 발명의 양호한 실시예를 설명했으며, 발명은 정확한 실시예에 한정되지 않고, 첨부된 특허 청구 범위에서 정해진 것과 같이 발명의 범주 또는 정신을 벗어나지 않으면서 다양한 변화와 변경이 당업자에 의해 그 안에서 달성될 수 있음을 이해해야 될 것이다.

Claims (71)

1. 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛과,

   상기 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛과,

   상기 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛과,

   테스트 모드에서 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 상기 이미지 데이터를 디스플레이하고, 정규 모드에서 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 유닛

   을 포함하는 디스플레이 디바이스.
2. 제 1 항에 있어서,

   테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함하며,

   상기 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 디스플레이 디바이스의 모드가 테스트 모드로 변경되는 디스플레이 디바이스.
3. 제 2 항에 있어서,

   테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 신호를 외부로 전송할 수 있는 제어 신호 전송 유닛을 더 포함하는 디스플레이 디바이스.
4. 제 1 항에 있어서,

   정규 모드에서 상기 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 비디오 데이터를 출력하고, 테스트 모드에서 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 이미지 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함하는 디스플레이 디바이스.
5. 제 4 항에 있어서,

   테스트 모드에서, 상기 디스플레이 스위칭 유닛은 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 상기 데이터 수신 관련 유닛에 의해 입력되는 테스트 신호에 중첩시킴으로써 신호를 생성하고, 그 후 상기 신호를 상기 디스플레이 유닛에 출력하는 디스플레이 디바이스.
6. 제 2 항에 있어서,

   정규 모드에서 상기 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 비디오 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함하며,

   테스트 모드에서, 디스플레이 전환을 지시하며 상기 제어 신호 수신 유닛에 의해 수신되는 제어 신호에 따라, 상기 디스플레이 스위칭 유닛은 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 이미지 데이터를 출력하거나, 또는 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 테스트 비디오 데이터를 출력하는 디스플레이 디바이스.
7. 제 1 항에 있어서,

   상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

   상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하며,

   상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
8. 제 5 항에 있어서,

   상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

   상기 검사 수단은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하며,

   상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
9. 제 1 항에 있어서,

   상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

   상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

   상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
10. 제 5 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
11. 제 7 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
12. 제 8 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 디스플레이 디바이스.
13. 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛과,

    상기 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛과,

    상기 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛과,

    정규 모드에서 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 유닛을 포함하며,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 테스트 모드에서 외부로부터 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 수신하고,

    상기 디스플레이 유닛은 테스트 모드에서 상기 검사 정보를 나타내는 상기 이미지 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 디바이스.
14. 제 13 항에 있어서,

    테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함하며,

    상기 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 디스플레이 디바이스의 모드가 테스트 모드로 변경하고,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 제어 신호 전송 유닛이고,

    상기 제어 신호 전송 유닛은 상기 테스트 관련 신호를 외부로 전송하는 구성 요소를 거쳐 외부로 상기 테스트 관련 신호 이외의 신호를 전송할 수 있는 디스플레이 디바이스.
15. 제 13 항에 있어서,

    테스트 모드에서, 상기 데이터 수신 관련 유닛은 테스트 신호에 관한 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 신호에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 수신하고, 그 후 수신된 이미지 데이터를 상기 디스플레이 유닛에 출력하는 디스플레이 디바이스.
16. 제 13 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
17. 제 15 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
18. 제 13 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
19. 제 15 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
20. 제 16 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
21. 제 17 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하며,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 검사 정보로서 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 디스플레이 디바이스.
22. 제 9 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 디스플레이 디바이스.
23. 제 10 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 디스플레이 디바이스.
24. 제 18 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 디스플레이 디바이스.
25. 제 19 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하며,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 디스플레이 디바이스.
26. 제 1 항에 있어서,

    상기 테스트 신호는 케이블을 거쳐 상기 데이터 수신 관련 유닛에 전송되는 디스플레이 디바이스.
27. 제 13 항에 있어서,

    상기 테스트 신호는 케이블을 거쳐 상기 데이터 수신 관련 유닛에 전송되는 디스플레이 디바이스.
28. 제 1 항에 있어서,

    모드 사이의 전환을 지시하는 입력 유닛을 더 포함하는 디스플레이 디바이스.
29. 제 5 항에 있어서,

    모드 사이의 전환을 지시하는 입력 유닛을 더 포함하는 디스플레이 디바이스.
30. 제 28 항에 있어서,

    상기 입력 유닛은 정규 모드에서 사용되고 있는 외부와의 인터페이스를 이용함으로써 모드 사이에 전환을 지시하는 디스플레이 디바이스.
31. 제 29 항에 있어서,

    상기 입력 유닛은 정규 모드에서 사용되고 있는 외부와의 인터페이스를 이용함으로써 모드 사이에 전환을 지시하는 디스플레이 디바이스.
32. 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 디바이스의 디스플레이 유닛에 수신된 비디오 데이터를 출력하는 수신기에 있어서,

    정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛과,

    상기 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛과,

    상기 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛을 포함하며,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터는 테스트모드에서 상기 디스플레이 유닛에 출력되고,

    상기 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 비디오 데이터는 정규 모드에서 상기 디스플레이 유닛에 출력되는 수신기.
33. 제 32 항에 있어서,

    테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함하며,

    상기 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 수신기의 모드가 테스트 모드로 변경되는 수신기.
34. 제 33 항에 있어서,

    테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 외부로 테스트 관련 신호 이외의 신호를 전송할 수 있는 제어 신호 전송 유닛을 더 포함하는 수신기.
35. 제 32 항에 있어서,

    정규 모드에서 상기 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 비디오 데이터를 출력하고, 테스트 모드에서 상기검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 이미지 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함하는 수신기.
36. 제 35 항에 있어서,

    테스트 모드에서, 상기 디스플레이 스위칭 유닛은 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 상기 데이터 수신 관련 유닛으로부터 입력되는 테스트 신호에 중첩시킴으로써 신호를 생성하고, 그 후 상기 신호를 상기 디스플레이 유닛에 출력하는 수신기.
37. 제 33 항에 있어서,

    정규 모드에서 상기 데이터 수신 관련 유닛으로부터 비디오 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 비디오 데이터를 출력하는 디스플레이 스위칭 유닛을 더 포함하며,

    테스트 모드에서, 상기 제어 신호 수신 유닛에 의해 수신되며, 디스플레이 전환을 지시하는 제어 신호에 따라, 상기 디스플레이 스위칭 유닛은 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 수신하여 상기 디스플레이 유닛에 상기 이미지 데이터를 출력하거나, 또는 테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 수신하여 상기 테스트 비디오 데이터를 상기 디스플레이 유닛에 출력하는 수신기.
38. 제 32 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
39. 제 36 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
40. 제 32 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
41. 제 36 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
42. 제 38 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
43. 제 39 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 수신기.
44. 비디오 데이터를 디스플레이하는 디스플레이 디바이스의 디스플레이 유닛에 수신된 비디오 데이터를 출력하는 수신기에 있어서,

    정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호를 수신하는 데이터 수신 관련 유닛과,

    상기 데이터 수신 관련 유닛을 검사하여 테스트 모드에서 검사 정보를 생성하는 검사 유닛과,

    상기 검사 정보를 외부로 전송하는 유닛을 포함하며,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 테스트 모드에서 외부로부터 상기 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 수신하고,

    상기 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 상기 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터는 테스트 모드에서 상기 디스플레이 유닛에 출력되고,

    상기 데이터 수신 관련 유닛에 의해 수신되는 상기 비디오 데이터는 정규 모드에서 상기 디스플레이 유닛에 출력되는 수신기.
45. 제 44 항에 있어서,

    테스트 관련 신호를 수신하는 구성 요소를 거쳐 테스트 관련 신호 이외의 외부 신호를 수신하고 처리할 수 있는 제어 신호 수신 유닛을 더 포함하며,

    상기 제어 신호 수신 유닛이 테스트 관련 신호로서 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 수신한 후에 수신기의 모드가 테스트 모드로 변경되고,

    외부로 검사 정보를 전송하는 상기 유닛은 외부로 테스트 관련 신호를 전송하는 제어 신호 전송 유닛이고,

    상기 제어 신호 전송 유닛은 외부로 상기 테스트 관련 신호를 전송하는 구성 요소를 거쳐 외부로 상기 테스트 관련 신호 이외의 신호를 전송할 수 있는 수신기.
46. 제 44 항에 있어서,

    테스트 모드에서, 상기 데이터 수신 관련 유닛은 테스트 신호에 관한 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 테스트 신호에 중첩시킴으로써 생성되는 이미지 데이터를 외부로부터 수신하고, 그 후 수신된 이미지 데이터를 상기 디스플레이 유닛에 출력하는 수신기.
47. 제 44 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 검사 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 검사 정보로서 외부로 전송하는 수신기.
48. 제 46 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 비디오 데이터를 수신하고 테스트 모드에서 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 검사 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 에러 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 에러 정보를 검사 정보로서 외부로 전송하는 수신기.
49. 제 44 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 수신기.
50. 제 46 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 수신기.
51. 제 47 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능 불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 수신기.
52. 제 48 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하고, 테스트 모드에서 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 수신하여 상기 수신된 클럭 신호와 동기하여 타이밍 신호를 생성하는 위상 동기 루프 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 테스트 모드에서 상기 위상 동기 루프 유닛에 관한 기능불량 정보를 생성하는 기능 불량 정보 생성 유닛을 포함하고,

    검사 정보를 외부로 전송하는 상기 유닛은 상기 기능 불량 정보 생성 유닛에 의해 생성되는 기능 불량 정보를 외부로 전송하는 수신기.
53. 제 40 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 수신기.
54. 제 41 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 수신기.
55. 제 49 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 수신기.
56. 제 50 항에 있어서,

    상기 데이터 수신 관련 유닛은 정규 모드에서 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 비디오 데이터를 수신하고, 테스트 모드에서 지터를 포함하는 클럭 신호에 근거한 타이밍 신호와 동기하여 테스트 신호로서 테스트 패턴을 수신하는 데이터 수신 유닛을 포함하고,

    상기 검사 유닛은 검사 정보로서 테스트 모드에서 상기 데이터 수신 유닛에 의해 수신되는 테스트 패턴에 관한 에러 정보를 생성하는 에러 정보 생성 유닛을 포함하는 수신기.
57. 제 32 항에 있어서,

    상기 테스트 신호는 케이블을 거쳐 상기 데이터 수신 관련 유닛에 전송되는 수신기.
58. 제 44 항에 있어서,

    상기 테스트 신호는 케이블을 거쳐 상기 데이터 수신 관련 유닛에 전송되는 수신기.
59. 디스플레이 디바이스를 테스트하는 테스트 장치에 있어서,

    상기 디스플레이 디바이스에 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 전송하는 제어 신호 전송 유닛과,

    상기 제어 신호 전송 유닛이 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하도록 명령하는 제어 유닛과,

    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 유닛과,

    상기 테스트 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 신호 전송 유닛

    을 포함하는 테스트 장치.
60. 디스플레이 디바이스를 테스트하는 테스트 장치에 있어서,

    테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 제어 신호 전송 유닛과,

    상기 제어 신호 전송 유닛이 테스트의 시작을 지시하는 제어 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하도록 명령하는 제어 유닛과,

    테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성 유닛과,

    상기 테스트 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 신호 전송 유닛과,

    상기 테스트 신호를 수신한 상기 디스플레이 디바이스에 의해 전송되는 상기 디스플레이 디바이스에 관한 검사 정보를 수신하는 유닛과,

    검사 정보를 수신하는 상기 유닛에 의해 수신되는 상기 검사 정보를 저장하는 검사 정보 저장 유닛과,

    검사 정보 저장 유닛으로부터 검사 정보를 획득하여 검사 정보를 나타내는 이미지 데이터를 생성하는 검사 결과 이미지 생성 유닛을 포함하며,

    테스트 신호 전송 유닛은 상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.
61. 제 60 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은,

    테스트 신호로서 테스트 비디오 데이터를 생성하는 테스트 비디오 데이터 생성 유닛과,

    상기 검사 결과 이미지 생성 유닛에 의해 생성되는 이미지 데이터를 테스트 비디오 데이터에 중첩시킴으로써 신호를 생성하고, 그 후 상기 신호를 상기 테스트 신호 전송 유닛에 출력하는 중첩 유닛을 포함하며,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 중첩에 의해 생성되는 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.
62. 제 59 항에 있어서,

    상기 제어 유닛은 상기 테스트 신호 생성 유닛에 테스트 조건을 지시하는 테스트 장치.
63. 제 60 항에 있어서,

    상기 제어 유닛은 상기 테스트 신호 생성 유닛에 테스트 조건을 지시하는 테스트 장치.
64. 제 59 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 디스플레이 디바이스에 상기 테스트 패턴을 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함하는 테스트 장치.
65. 제 60 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 디스플레이 디바이스에 상기 테스트 패턴을 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함하는 테스트 장치.
66. 제 59 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 클럭 신호를 생성하는 클럭 신호 생성 유닛과, 지터 신호를 생성하는 지터 신호 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 지터 신호를 상기 클럭 신호에 중첩시켜 지터를 포함하는 클럭 신호를 생성하는 위상 변조 유닛을 포함하고, 그 후 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.
67. 제 60 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 클럭 신호를 생성하는 클럭 신호 생성 유닛과, 지터 신호를 생성하는 지터 신호 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 지터 신호를 상기 클럭 신호에 중첩시켜 지터를 포함하는 클럭 신호를 생성하는 위상 변조 유닛을 포함하고, 그 후 테스트 신호로서 지터를 포함하는 클럭 신호를 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.
68. 제 66 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 테스트 패턴을 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 패턴 생성 유닛은 상기 위상 변조 유닛에 의해 생성되는 지터를 포함하는 클럭 신호와 동기하여 상기 테스트 패턴을 상기 데이터 전송 유닛에 출력하는 테스트 장치.
69. 제 67 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 생성 유닛은 테스트 신호로서 테스트 패턴을 생성하는 테스트 패턴 생성 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 테스트 패턴을 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 데이터 전송 유닛을 포함하고,

    상기 테스트 패턴 생성 유닛은 상기 위상 변조 유닛에 의해 생성되는 지터를 포함하는 클럭 신호와 동기하여 상기 테스트 패턴을 상기 데이터 전송 유닛에 출력하는 테스트 장치.
70. 제 59 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 테스트 신호를 케이블을 거쳐 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.
71. 제 60 항에 있어서,

    상기 테스트 신호 전송 유닛은 상기 테스트 신호를 케이블을 거쳐 상기 디스플레이 디바이스에 전송하는 테스트 장치.