JP2548477Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は例えば時計用ICのように発振回路を内蔵し
たICを試験するIC試験装置に関する。

「従来の技術〕 従来のIC試験装置は第２図に示すように被試験IC1は
パフォーマンスボード２と信号系路３を介して試験装置
４に接続され、試験装置４から出力される試験パターン
信号が信号系路３の駆動回路系3Aとパフォーマンスボー
ド２を介して被試験IC1に与えられ、被試験IC1の応答信
号はパフォーマンスボード２と信号系路３の信号取込回
路系3Bを通じて試験装置４に送られ、試験装置４におい
て被試験ICが正しく応答しているか否かを検査し、応答
信号が期待値パターンと全て一致したとき良と判定し、
不一致が発生したとき不良と判定するように構成されて
いる。

「考案が解決しようとする課題」 従来のIC試験装置はメモリのようなロジック回路を試
験する構造となっている。従って例えば時計用ICのよう
にロジック回路の中に発振回路を内蔵したICの発振回路
の発振周波数が正規の範囲に入っているか否かを試験す
る場合に、発振回路の発振信号を取出すための信号系路
が用意されていないため、利用者自身が信号取込回路系
3Bにケーブル５等を接続し、このケーブル５を通じて被
試験IC1から出力される発振信号を取出し、この発振信
号を周波数測定装置６に与えて周波数の測定を行なって
いる。

このために利用者側で信号取込回路系3Bの途中にケー
ブル５を接続する作業が要求され面倒であった。

また特にケーブル５を接続する場合、信号取込回路系
3Bとのインピーダンス整合がとれた状態で接続しなけれ
ばならないため、その接続には高度の技術が要求され
る。

更に被試験ICの発振回路の出力端子の位置がICの種類
毎に異なることがあるため、発振回路の出力端子の位置
が変わる毎にケーブルの接続位置を変更しなければなら
ない不都合もある。

「課題を解決するための手段」 この考案ではロジック回路を試験するIC試験装置にお
いて、被試験ICから出力される信号を試験装置に伝送す
る信号取込回路系に分岐線路を接続し、この分岐線路に
被試験ICから出力された信号の何れか一つを取出す選択
回路を接続し、この選択回路で取出された信号を周波数
測定手段に供給するように構成としたものである。

この考案の構成によれば被試験ICの任意の端子の信号
取出回路系を選択することができる。

従って被試験ICの内部に設けられる発振回路の出力が
どの端子に出力されても選択回路の切替によって発振信
号が出力されている端子の信号取込回路を選択し、発振
信号を取出すことができる。

よって利用者側でケーブルの接続作業を行なうことな
く任意の端子に出力される発振信号を取出して周波数測
定手段に与えることができ、使い勝手のよいIC試験装置
を提供することができる。

「実施例」 第１図にこの考案の一実施例を示す。第１図において
１は被試験IC、２はパフォーマンスボード、３は信号系
路、3Aは駆動回路系、3Bは信号取込回路系、４は試験装
置を示す点は従来技術の説明と同じである。

この考案においては信号取込回路3B系に分岐線路10を
接続し、この分岐線路10によって被試験IC1から出力さ
れる信号を選択回路11に取出す。選択回路11はいわゆる
多入力１出力型マルチプレクサを用いることができ、試
験装置等に内蔵されているレジスタ（図示されていな
い）にストアされるデータの値によって多数の入力端子
の一つを選択して出力端子に接続する機能を具備してい
る。

選択回路11で選択されて取出された信号は周波数測定
手段13に入力され、被試験IC1から出力される発振信号
の周波数を測定する。測定結果は必要に応じて表示器14
に表示するか或は周波数が予め決められた範囲に入って
いるか否かを判定する判定手段に与えるように構成する
ことができる。

周波数測定手段13は試験装置４に組込まれた周波数測
定器を用いるか、或は試験装置４とは別に設けた周波数
測定器を用いてもよい。

「考案の結果」 上述したようにこの考案によれば分岐線路10によって
被試験IC1から出力された信号を選択回路11に分岐させ
ることができ、この分岐された信号を選択回路11で選択
することができる。

この結果、被試験IC1のどの端子から発振信号が出力
されても、選択回路11を切替ることによってその発振信
号を取出すことができ、被試験IC1から出力された発振
信号を周波数測定手段13に入力することができる。

よってこの考案によればICの種類に応じて発振回路の
出力がどの端子に出力されてもレジスタにストアするデ
ータの値を変更するだけの簡単な操作で目的とする発振
信号を取出すことができ使い勝手のよいIC試験装置を構
成することができる。

またこの考案によれば既存のIC試験装置に分岐線路10
と選択回路11を設けるだけの簡単な構成によって使い勝
手のよいIC試験装置を構成することができる。よって製
造コストの上昇はわずかであり、安価で使い易いIC試験
装置を提供するとかでき、その効果は実用に供して頗る
大である。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の一実施例を示す系統図、第２図は従
来の技術を説明するための系統図である。 1:被試験IC、2:パフォーマンスボード、3:信号系路、3
A:駆動回路系、3B:信号取込回路系、4:試験装置、10:分
岐線路、11:選択回路。

Claims (1)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】A.試験装置から被試験ICの各端子に、論理
   回路の動作を試験するためのパターン信号を与える複数
   の駆動回路系と、被試験ICの各端子から出力される応答
   信号をそれぞれコンパレータを通して試験装置に送り込
   む複数の信号取込回路系とを具備し、試験装置から被試
   験ICに与えたパターン信号に対し、被試験ICから出力さ
   れた応答信号を上記試験装置において期待値パターンと
   比較し、被試験ICの良否を判定するIC試験装置におい
   て、 B.上記信号取込回路系の各コンパレータの出力側に接続
   した複数の分岐線路と、 C.上記複数の分岐線路に接続され、その任意の１つの分
   岐線路上の信号を選択する選択回路と， D.この選択回路で取出した信号の周波数を測定する周波
   数測定手段と、 を設けて成るIC試験装置。