CN109522165B - 显示模组测试平台 - Google Patents

显示模组测试平台 Download PDF

Info

Publication number
CN109522165B
CN109522165B CN201811096223.7A CN201811096223A CN109522165B CN 109522165 B CN109522165 B CN 109522165B CN 201811096223 A CN201811096223 A CN 201811096223A CN 109522165 B CN109522165 B CN 109522165B
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
display module
tested
display
core processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201811096223.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109522165A (zh
Inventor
王玉青
陈�峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd filed Critical Kunshan Govisionox Optoelectronics Co Ltd
Priority to CN201811096223.7A priority Critical patent/CN109522165B/zh
Priority to PCT/CN2019/079713 priority patent/WO2020057084A1/zh
Publication of CN109522165A publication Critical patent/CN109522165A/zh
Priority to US16/831,858 priority patent/US11624788B2/en
Application granted granted Critical
Publication of CN109522165B publication Critical patent/CN109522165B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40Bus structure
    • G06F13/4063Device-to-bus coupling
    • G06F13/4068Electrical coupling
    • G06F13/4081Live connection to bus, e.g. hot-plugging
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/56Testing of electric apparatus
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2289Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing by configuration test
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/42Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
    • G06F13/4282Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a serial bus, e.g. I2C bus, SPI bus
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/14Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/14Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units
    • G06F3/147Digital output to display device ; Cooperation and interconnection of the display device with other functional units using display panels
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44Arrangements for executing specific programs
    • G06F9/455Emulation; Interpretation; Software simulation, e.g. virtualisation or emulation of application or operating system execution engines
    • G06F9/45533Hypervisors; Virtual machine monitors
    • G06F9/45545Guest-host, i.e. hypervisor is an application program itself, e.g. VirtualBox
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2213/00Indexing scheme relating to interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F2213/0016Inter-integrated circuit (I2C)
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/048Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
    • G06F3/0487Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] using specific features provided by the input device, e.g. functions controlled by the rotation of a mouse with dual sensing arrangements, or of the nature of the input device, e.g. tap gestures based on pressure sensed by a digitiser
    • G06F3/0488Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] using specific features provided by the input device, e.g. functions controlled by the rotation of a mouse with dual sensing arrangements, or of the nature of the input device, e.g. tap gestures based on pressure sensed by a digitiser using a touch-screen or digitiser, e.g. input of commands through traced gestures
    • G06F3/04883Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] using specific features provided by the input device, e.g. functions controlled by the rotation of a mouse with dual sensing arrangements, or of the nature of the input device, e.g. tap gestures based on pressure sensed by a digitiser using a touch-screen or digitiser, e.g. input of commands through traced gestures for inputting data by handwriting, e.g. gesture or text
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/06Adjustment of display parameters
    • G09G2320/0693Calibration of display systems
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2370/00Aspects of data communication
    • G09G2370/12Use of DVI or HDMI protocol in interfaces along the display data pipeline

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明涉及显示技术领域,公开了一种显示模组测试平台,包括核心处理模块,核心处理模块可支持安装终端操作系统,所述核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组;所述待测显示模组包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块之间通过I2C总线进行通讯。本发明实施例提供的显示模组测试平台对待测显示模组进行测试时,可以在待测显示模组上显示终端操作系统界面,即在测试阶段便可在待测显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象,提高了产品良率。并且可结合终端操作系统和触控动作对待测显示模组进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。

Description

显示模组测试平台
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示模组测试平台。
背景技术
OLED(有机电致发光显示)由于具有自发光、广视角、对比度高等优点,已经逐渐成为显示技术领域中的主流技术。在OLED显示装置出厂之前,往往需要对其显示模组进行测试,以确保其可正常显示。目前市面上的测试设备无法在显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,容易导致异常模组无法被及时发现而流入终端市场。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,以解决市面上的显示模组测试设备无法在显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果的问题。
本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,包括:
核心处理模块,可支持安装终端操作系统,所述核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组;所述待测显示模组包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块之间通过I2C总线进行通讯。
可选地,还包括:
存储模块,与所述核心处理模块连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系;
所述核心处理模块用于根据所述存储模块中存储的对应关系确定当前待测显示模组的型号所对应的配置参数,并输出至所述待测显示模组。
可选地,还包括采集模块,分别与所述待测显示模组和所述核心处理模块连接,用于采集所述待测显示模组的电压和电流,并发送至所述核心处理模块。
可选地,所述终端操作系统为Android操作系统、iOS操作系统、Windows操作系统和Linux操作系统中的任意一种。
可选地,还包括:
输入接口模块,分别连接所述核心处理模块和输入设备,所述输入设备用于控制所述待测显示模组。
可选地,所述输入接口模块为OTG接口模块,与所述OTG接口模块连接的所述输入设备为鼠标和/或键盘。
可选地,所述核心处理模块的显示输出端直接连接所述待测显示模组;
和/或所述核心处理模块的显示输出端通过桥接模块与所述待测显示模组连接,所述桥接模块用于将所述核心处理模块的显示输出信号转换为与所述待测显示模组相匹配的测试信号。
可选地,还包括:
UART接口模块,与所述核心处理模块连接,用于对所述待测显示模组的测试信息进行回传。
可选地,还包括:
存储接口模块,分别与所述核心处理模块和存储设备连接,所述存储设备用于存储测试图片和测试视频。
可选地,所述核心处理模块为基于ARM架构的处理器。
本发明实施例提供的技术方案,相对于现有技术具有以下优点:
本发明实施例提供的显示模组测试平台,包括核心处理模块,核心处理模块可支持安装终端操作系统,且核心处理模块的显示输出端连接待测显示模组。因此,对待测显示模组进行测试时,可以在待测显示模组上显示终端操作系统界面,即在测试阶段便可在待测显示模组上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象,提高了产品良率。
另外,核心处理模块与待测显示模组中的触控模块通过I2C总线通讯,即核心处理模块为待测显示模组提供了触控测试功能。由此在测试阶段,可结合终端操作系统和触控动作对待测显示模组进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,核心处理模块为基于ARM架构的处理器。ARM架构处理器的执行效率较高,成本较低,且广泛应用于嵌入式系统设计中。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,终端操作系统为Android操作系统、iOS操作系统、Windows操作系统和Linux操作系统中的任意一种。即,根据不同应用领域的显示模组,可配合安装不同的操作系统,选择较为广泛,提高了测试的多样性和兼容性。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,核心处理模块的显示输出端直接连接待测显示模组;和/或核心处理模块的显示输出端通过桥接模块与待测显示模组连接,桥接模块用于将核心处理模块的显示输出信号转换为与待测显示模组相匹配的测试信号。在实际测试过程中,核心处理模块可以将初始信号直接传输至待测显示模组,也可以通过桥接模块对初始信号进行转换再传输至待测显示模组。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括输入接口模块,输入接口模块分别连接核心处理模块和输入设备,输入设备用于控制待测显示模组。由此,当待测显示模组端触控功能出现故障时,可通过输入设备对待测显示模组显示内容进行输入控制。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,输入接口模块为OTG接口模块,与OTG接口模块连接的输入设备为鼠标和/或键盘。OTG接口模块可以在没有PC host的情况下,实现设备之间的数据传送,随时随地都可以通过鼠标键盘对待测显示模组上的界面进行控制,操作非常便利。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括UART接口模块,UART接口模块与核心处理模块连接,用于对待测显示模组的测试信息进行回传。UART是一种通用串行数据总线,用于异步通信,可以实现全双工传输和接收,在嵌入式设计中,UART用来与PC进行通信,在本实施例中,UART接口模块同时还与PC连接,起到了传送调试信息和测试结果回传的功能。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,还包括存储接口模块,存储接口模块分别与核心处理模块和存储设备连接,存储设备用于存储测试图片和测试视频。实际应用时,存储设备中可以存储待显示的图片和待播放的视频,当需要在待测显示模组上显示图片和视频时,可以通过存储接口模块将存储设备中预先存储的图片和视频发送至待测显示模组上进行测试。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了本发明实施例的显示模组测试平台的结构示意图。
附图标记:
1-核心处理模块;2-待测显示模组;3-桥接模块;4-输入接口模块;5-UART接口模块;6-存储接口模块;7-电源模块;8-电源降压模块;9-存储模块;10-采集模块。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,还可以是两个元件内部的连通,可以是无线连接,也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外,下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
本发明实施例提供了一种显示模组测试平台,用于对待测显示模组2进行测试。如图1所示,该显示模组测试平台包括核心处理模块1,核心处理模块1可支持安装终端操作系统,核心处理模块1的显示输出端连接待测显示模组2。
其中,本实施例中的核心处理模块1可以为基于ARM架构的处理器,例如ARM7系列、ARM9系列、ARM9E系列或者ARM10系列等,实际使用时可根据实际需求进行选择。ARM架构处理器广泛应用于嵌入式系统设计中,功能丰富,开发简单,并且执行效率较高,成本较低,另外可实现灵活的系统裁剪。本发明实施例选择ARM架构处理器作为核心处理模块1,有助于提高该测试平台的测试效率以及将终端操作系统与待测显示模组2结合在一起进行测试。
本发明实施例提供的显示模组测试平台,对待测显示模组2进行测试时,可以在待测显示模组2上显示终端操作系统界面,即在测试阶段便可在待测显示模组2上逼真呈现终端整机的显示效果,有助于及时发现显示模组在终端整机中显示时易出现的不良现象并改进,提高了产品良率。
本实施例中,核心处理模块1所支持安装的终端操作系统可以为Android操作系统、iOS操作系统、Windows操作系统和Linux操作系统中的任意一种。待测的显示模组应用范围非常广泛,可以应用于苹果手机、安卓手机、平板电脑或PC等各类电子设备中,且各类电子设备所使用的操作系统不尽相同。本发明实施例中的核心处理模块1可支持上述多种操作系统,即可针对不同应用领域的显示模组,安装与其对应的操作系统,即,一个测试平台可以对多种不同应用领域的显示模组进行测试,兼容性强。
本实施例中,待测显示模组2包括驱动模块、显示模块以及触控模块,其中,触控模块与核心处理模块1之间通过I2C总线进行通讯。即核心处理模块1为待测显示模组2提供了触控测试功能。由此在测试阶段,可结合终端操作系统和触控动作对待测显示模组2进行测试,最大程度呈现终端使用效果,增强显示模组测试平台的使用功能。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台包括存储模块9,存储模块9与核心处理模块1连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系,核心处理模块1用于根据存储模块9中存储的对应关系确定当前待测显示模组2的型号所对应的配置参数,并输出至待测显示模组2。
由于待测的显示模组的型号具有多种,每一种型号的显示模组的配置参数均不相同,本实施例中预先将显示模组的型号与配置参数的对应关系存储于存储模块中,当实际测试时,核心处理模块便可以根据该对应关系来确定当前需要测试的显示模组的型号对应的是哪种配置参数,进而可以结合正确的配置参数对显示模组进行测试。如此,通过本实施例提供的测试平台可以对多种型号的显示模组进行测试,适用性高。
本实施例中,配置参数可以包括显示模组的初始化代码、驱动时序、上电时序等参数,在此不一一列举。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台包括采集模块10,采集模块10分别与待测显示模组2和核心处理模块1连接,用于采集待测显示模组2的电压和电流信息,并发送至核心处理模块1。如此可实时监控待测显示模组的电压电流信息,若发生异常,便于及时发现。
本实施例中,核心处理模块1的显示输出端可以直接连接待测显示模组2,即将ARM处理器发出的MIPI信号直接发送给待测显示模组2,如此便于直接控制;也可以通过桥接模块3与待测显示模组2连接,桥接模块3用于将核心处理模块1的显示输出信号转换为与待测显示模组2相匹配的测试信号,即将ARM处理器发出的EDP信号转换为待测显示模组2可识别的MIPI信号后,发送给待测显示模组2。其中,桥接模块3与核心处理模块1之间通过I2C总线连接。
上述两种方式可同时存在,也可以单独存在,视实际需求设置,在此不做过多限制。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括输入接口模块4,输入接口模块4分别连接核心处理模块1和输入设备,输入设备用于控制待测显示模组2。由此,当待测显示模组2端触控功能出现故障时,可通过输入设备对待测显示模组2显示内容进行输入控制。
优选地,输入接口模块4为OTG接口模块,与OTG接口模块连接的输入设备为鼠标和/或键盘。OTG接口模块可以在没有PC host的情况下,实现设备之间的数据传送,随时随地都可以通过鼠标键盘对待测显示模组2上的界面进行控制,操作非常便利。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括UART接口模块5,UART接口模块5与核心处理模块1连接,用于对待测显示模组2的测试信息进行回传。UART是一种通用串行数据总线,用于异步通信,可以实现全双工传输和接收,在嵌入式设计中,UART用来与PC进行通信,在本实施例中,UART接口模块5同时还与PC连接,起到了传送调试信息和测试结果回传的功能。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括存储接口模块6,存储接口模块6分别与核心处理模块1和存储设备连接,存储设备用于存储测试图片和测试视频。其中,外接的存储设备可以为存储卡或硬盘等。实际应用时,存储设备中可以存储待显示的图片和待播放的视频,当需要在待测显示模组2上显示图片和视频时,可以通过存储接口模块6将存储设备中预先存储的图片和视频发送至待测显示模组2上进行测试。
作为一种可选实施方式,本实施例提供的显示模组测试平台还包括电源模块7,电源模块7分别与待测显示模组2和核心处理模块1连接,用于为待测显示模组2和核心处理模块1供电,以保证其能够正常工作。
另外,电源模块7还与上述各种接口模块,例如输入接口模块4、UART接口模块5以及存储接口模块6连接,为输入接口模块4、UART接口模块5以及存储接口模块6供电。电源模块7还与桥接模块3连接,为桥接模块3进行供电。
具体实施时,电源模块7一般输出的是5V直流电压,其可以直接输出至核心处理模块1,但需经电源降压模块8对5V直流电压进行降压之后,再为上述接口模块、桥接模块3以及待测显示模组2供电。
下面对本实施例所提供的显示模组测试平台的初始化过程的具体示例进行介绍:
步骤1、搭建编译环境。具体为:安装虚拟机VMWare和Ubuntu12.04,进而可编译Android操作系统。
步骤2、内核启动,加载eDP转MIPI桥接芯片驱动。
步骤3、桥接芯片申请I2C总线进行初始化。
步骤4、加载eDP总线驱动。
步骤5、通过HPD(热插拔)管脚检测桥接芯片是否接入,如果没有接入,执行步骤6;否则执行步骤7。
步骤6、停止加载eDP驱动流程。
步骤7、初始化AUX(辅助)通道。其中,AUX(辅助)通道采用差分传送方式,用于传输小宽带需求的数据,链路管理和设备控制。
步骤8、ARM处理通过AUX(辅助)通道读写显示参数和eDP配置数据等。
步骤9、eDP总线挂载成功,eDP信号输出。
步骤10、进行eDP link training阶段,包括调整链路层信号摆幅、电压强度、测试通断情况等。如果失败,则停止加载eDP驱动流程,否则执行步骤11。
步骤11、桥接芯片初始化待测显示模组。
步骤12、待测显示模组中的驱动芯片初始化电源模块,使其输出待测显示模组所需的电压。
步骤13、桥接芯片输出MIPI图像信号至待测显示模组,待测显示模组实现图像显示。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种显示模组测试平台,所述显示模组测试平台用于对待测显示模组(2)进行测试,所述待测显示模组(2)应用于终端,其特征在于,所述显示模组测试平台包括:
核心处理模块(1),其安装所述终端的操作系统,并且其显示输出端与所述待测显示模组(2)连接;
存储接口模块(6),其分别与所述核心处理模块(1)和存储设备连接,所述存储设备用于存储测试图片和测试视频;
其中,所述待测显示模组(2)包括触控模块,所述触控模块与所述核心处理模块(1)之间通过I2C总线进行通讯;
当需要在待测显示模组(2)上显示图片和视频时,通过所述存储接口模块(6)将所述存储设备中的所述测试图片和所述测试视频发送至所述待测显示模组(2)。
2.根据权利要求1所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
存储模块(9),与所述核心处理模块(1)连接,用于存储显示模组的型号与配置参数之间的对应关系;
所述核心处理模块(1)根据所述对应关系确定与所述待测显示模组(2)的型号相对应的配置参数,并将其输出至所述待测显示模组(2)。
3.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括采集模块(10),所述采集模块(10)分别与所述待测显示模组(2)和所述核心处理模块(1)连接,用于采集所述待测显示模组(2)的电压和电流,并将其发送至所述核心处理模块(1)。
4.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,所述终端的操作系统为Android操作系统、iOS操作系统、Windows操作系统和Linux操作系统中的任意一种。
5.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
输入接口模块(4),其分别与所述核心处理模块(1)和输入设备连接,所述输入设备用于控制所述待测显示模组(2)。
6.根据权利要求5所述的显示模组测试平台,其特征在于,所述输入接口模块(4)为OTG接口模块,所述输入设备为鼠标和/或键盘。
7.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,
所述核心处理模块(1)的显示输出端与所述待测显示模组(2)直接连接;和/或
所述核心处理模块(1)的显示输出端通过桥接模块(3)与所述待测显示模组(2)连接,所述桥接模块(3)用于将所述核心处理模块(1)的显示输出信号转换为与所述待测显示模组(2)相匹配的测试信号。
8.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,还包括:
UART接口模块(5),其与所述核心处理模块(1)连接,用于回传所述待测显示模组(2)的测试信息。
9.根据权利要求1或2所述的显示模组测试平台,其特征在于,
所述核心处理模块(1)为基于ARM架构的处理器。
CN201811096223.7A 2018-09-19 2018-09-19 显示模组测试平台 Active CN109522165B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811096223.7A CN109522165B (zh) 2018-09-19 2018-09-19 显示模组测试平台
PCT/CN2019/079713 WO2020057084A1 (zh) 2018-09-19 2019-03-26 显示模组测试平台
US16/831,858 US11624788B2 (en) 2018-09-19 2020-03-27 Display module test platform

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811096223.7A CN109522165B (zh) 2018-09-19 2018-09-19 显示模组测试平台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109522165A CN109522165A (zh) 2019-03-26
CN109522165B true CN109522165B (zh) 2020-05-15

Family

ID=65772439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811096223.7A Active CN109522165B (zh) 2018-09-19 2018-09-19 显示模组测试平台

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11624788B2 (zh)
CN (1) CN109522165B (zh)
WO (1) WO2020057084A1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110377510B (zh) * 2019-07-02 2022-11-01 武汉精立电子技术有限公司 基于嵌入式系统的模组检测设备的控制装置及系统
CN110596581B (zh) * 2019-10-08 2021-10-08 奕力科技(开曼)股份有限公司 预录存储装置及线上测试系统
KR20210125330A (ko) * 2020-04-08 2021-10-18 삼성전자주식회사 보안 데이터 처리 방법 및 이를 지원하는 전자 장치
CN112202505A (zh) * 2020-11-11 2021-01-08 核工业理化工程研究院 基于嵌入式设备监测装置的测试仪及方法
CN113099148B (zh) * 2021-03-10 2023-02-24 山东英信计算机技术有限公司 一种vga输出信号分析装置、系统及使用方法
CN114490479A (zh) * 2022-02-17 2022-05-13 深圳市智微智能科技股份有限公司 一种基于安卓系统的i2c设备兼容方法、装置、设备及介质
CN117194134B (zh) * 2023-11-08 2024-01-30 武汉凌久微电子有限公司 一种基于国产操作系统的显示输出自动测试方法及系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN204596389U (zh) * 2015-03-03 2015-08-26 武汉精测电子技术股份有限公司 Usb虚拟串口和以太网口的液晶模组测试装置
CN106847144A (zh) * 2017-03-23 2017-06-13 京东方科技集团股份有限公司 测试用转接模块、终端测试系统及测试方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1305320C (zh) * 2001-11-09 2007-03-14 松下电器产业株式会社 显示装置、接收机以及测试设备
US20080201506A1 (en) * 2007-02-19 2008-08-21 Inventec Corporation Switch device for connection port access control
CN201765405U (zh) * 2010-05-18 2011-03-16 创维液晶器件(深圳)有限公司 一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪
TWI401593B (zh) * 2010-08-19 2013-07-11 Novatek Microelectronics Corp 具有觸控面板的電子裝置及觸控面板更新方法
US20130018624A1 (en) * 2011-07-15 2013-01-17 Anuj Bhatnagar System For Manufacturing Cables
US10184882B2 (en) * 2013-03-12 2019-01-22 Fedex Supply Chain Logistics & Electroncis, Inc. System and method for providing user guidance for electronic device processing
TWI515556B (zh) * 2013-10-09 2016-01-01 緯創資通股份有限公司 觸控裝置的檢測方法及其系統
US9594117B2 (en) * 2013-11-22 2017-03-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Compact electronics test system having user programmable device interfaces and on-board functions adapted for use in proximity to a radiation field
CN104036707A (zh) * 2014-05-26 2014-09-10 京东方科技集团股份有限公司 显示设备检测装置和方法、显示系统
CN104318882A (zh) 2014-11-10 2015-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组检测设备
US10171184B2 (en) * 2014-12-05 2019-01-01 W2Bi, Inc. Methodology of using the various capabilities of the smart box to perform testing of other functionality of the smart device
CN104575342B (zh) * 2014-12-30 2017-09-22 武汉精测电子技术股份有限公司 一体式液晶模组测试装置
CN104992648A (zh) * 2015-06-04 2015-10-21 合肥华思电子技术有限公司 一种基于soc fpga的液晶模组测试系统
CN105045692B (zh) * 2015-07-22 2018-11-30 京东方科技集团股份有限公司 触摸屏测试装置及系统、触摸屏测试控制装置
TWI595355B (zh) * 2016-06-22 2017-08-11 台達電子工業股份有限公司 測試裝置和方法
CN106526332B (zh) * 2016-10-25 2020-01-17 华南师范大学 一种检测电容触摸屏扫描线上电容的系统及方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN204596389U (zh) * 2015-03-03 2015-08-26 武汉精测电子技术股份有限公司 Usb虚拟串口和以太网口的液晶模组测试装置
CN106847144A (zh) * 2017-03-23 2017-06-13 京东方科技集团股份有限公司 测试用转接模块、终端测试系统及测试方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20200225296A1 (en) 2020-07-16
WO2020057084A1 (zh) 2020-03-26
US11624788B2 (en) 2023-04-11
CN109522165A (zh) 2019-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109522165B (zh) 显示模组测试平台
CN103259999B (zh) Hpd信号输出控制方法、hdmi接收端设备及系统
US10199837B2 (en) Method for charging battery and electronic device
CN108519938B (zh) 存储芯片兼容性测试方法、系统和测试主机
KR102177796B1 (ko) 전자장치를 위한 충전방법 및 장치
CN103344863B (zh) 移动终端的测试方法及测试系统
EP3123590B1 (en) Method for charging battery and electronic device
US9692253B2 (en) Mobile terminal and method for controlling charging and charger therefor
US20130190059A1 (en) Adapters, terminal devices, usb connection devices and charging stations
US20120041707A1 (en) Cold boot test system and method for electronic devices
US20120178378A1 (en) Wireless test server and method for testing electronic devices
US7822964B2 (en) Booting apparatus for booting a computer and method therefor and computer with a booting apparatus
CN102081568B (zh) 多主机板服务器系统
US20110087452A1 (en) Test device
EP2711803A2 (en) Host apparatus and method of charging user terminal apparatus
JP7341231B2 (ja) Ledディスプレイの設定更新方法、受信カード、ledディスプレイモジュール、及びledディスプレイ
CN103376878B (zh) 显示装置
US9570922B2 (en) Charging method and electronic device
US20150309903A1 (en) Recovery circuit for basic input-output system
CN102736694A (zh) 信息处理装置、连接方法和程序
CN112750389A (zh) 测试装置
KR20160120105A (ko) 전자 장치 및 전자 장치에서의 동작 방법
US8405398B2 (en) Information handling system battery emulation testing system and method
CN112750388A (zh) 测试方法
CN108475921B (zh) 电子设备、电子设备的电源设备及供电方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant