CN110596581B - 预录存储装置及线上测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种预录存储装置及线上测试系统。预录存储装置包括存储装置以及处理器。处理器耦接存储装置，经配置以根据电脑运转效率决定是否启动预录存储装置的预录功能。当电脑运转效率低于效率阈值时，处理器用以检测预录存储装置的存储装置是否具有测试信息。若具有测试信息，则处理器指示测试装置根据存储于预录存储装置的存储装置的测试信息执行测试动作。若不具有测试信息，则处理器启动所述预录存储装置的预录功能，以接收测试信息并将测试信息存储至存储装置。本发明提供的预录存储装置及线上测试系统，可将测试信息预录在测试板上，并根据电脑运转效率判断是否要启动测试板测试触控模块。

Description

预录存储装置及线上测试系统

技术领域

本发明涉及一种测试系统，尤其涉及一种预录存储装置及线上测试系统。

背景技术

随着科技日新月异，触控模块逐渐取代了实体按键而成为电子产品中不可或缺的角色。为了获得良好质量及稳定性的触控模块，触控模块在出厂前会经过一连串的测试来确保其触控功能的质量。从过往经验，生产流程中产线常因用于测试的电脑硬件过于老旧或电脑系统背景执行的程序太多，而造成测试的时间忽快忽慢。甚至可能造成产线反馈的测试时间远超过线下利用工程师的电脑测试时间所需的时间。藉此，必须研发有效缩短产品测试工时的技术。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种预录存储装置及线上测试系统，其可将测试信息预录在测试板上，并根据电脑运转效率判断是否要启动测试板测试触控模块。

本发明提供一种预录存储装置，连接测试装置。预录存储装置包括存储装置以及处理器。处理器耦接存储装置，经配置以决定是否启动预录存储装置的预录功能。其中决定是否启动该预录存储装置的预录功能包括：当存储装置具有第一测试信息，则处理器指示测试装置根据存储于存储装置的第一测试信息执行测试动作。若存储装置不具有第一测试信息，则处理器启动预录存储装置的预录功能。其中预录功能包括接收第二测试信息并将第二测试信息存储至存储装置，并指示测试装置根据第二测试信息执行测试动作。

在本发明的一实施例中，上述的决定是否启动该预录存储装置的预录功能更包括：当电脑运转效率低于一效率阈值时，该处理器检测该存储装置是否具有该第一测试信息。

在本发明的一实施例中，上述的处理器根据处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间其中之一或其组合计算电脑运转效率。

在本发明的一实施例中，上述的第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且第二测试信息与第一测试信息为实质相同的测试信息。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置适用于测试触控模块，且第一测试信息及第二测试信息关连于触控模块的测试条件。

在本发明的一实施例中，上述的处理器更针对存储装置存储的第一测试信息以及第二测试信息其中至少之一进行错误码校验检查。

在本发明的一实施例中，上述的存储装置设置在远端电子装置中。

本发明提供一种线上测试系统，用以测试至少一待测装置。线上测试系统包括测试装置以及预录存储装置。测试装置连接待测装置。预录存储装置连接测试装置，包括存储装置以及处理器，处理器经配置以决定是否启动预录存储装置的预录功能。其中决定是否启动预录存储装置的预录功能包括：当存储装置具有第一测试信息，则测试装置根据存储于存储装置的第一测试信息执行测试动作。若存储装置不具有第一测试信息，则处理器启动该预录存储装置的预录功能。其中预录功能包括接收第二测试信息并将第二测试信息存储至存储装置，并指示测试装置根据第二测试信息执行测试动作。

在本发明的一实施例中，决定是否启动预录存储装置的预录功能还包括：当电脑运转效率低于效率阈值时，处理器检测存储装置是否具有第一测试信息。

在本发明的一实施例中，第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且第二测试信息与第一测试信息为实质相同的测试信息。

在本发明的一实施例中，测试装置适用于测试触控模块，且第一测试信息及第二测试信息关连于触控模块的测试条件。

在本发明的一实施例中，处理器还针对存储装置的第一测试信息以及第二测试信息其中至少之一进行错误码校验检查。

本发明提供一种预录存储装置，连接一测试装置。预录存储装置包括：存储装置，存储有测试数据。处理器，耦接存储装置，经配置以根据测试选择指令选择相对应的测试数据执行测试。

在本发明的一实施例中，上述的预录存储装置耦接测试电脑，用以自测试电脑接收测试选择指令。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1示出本发明一实施例的产线测试系统的方块图；

图2示出本发明一实施例的产线测试系统的范例；

图3示出本发明一实施例的产线测试系统的范例。

附图标号说明：

100：线上测试系统

110、110_1～110_N：预录存储装置

111、121：存储装置

112、122：处理器

113、123：连接装置

200：测试电脑

210：测试软件

220：数据库

120、120_1～120_N：测试装置

300、300_1～300_N：触控模块

具体实施方式

本发明在电脑运转效率低于效率阈值时检测预录存储装置，并在预录存储装置具有预录测试信息时使测试装置根据预录测试信息执行测试动作，以指示测试装置对待测装置进行测试动作。另外，在预录存储装置没有预录测试信息时启动预录存储装置的预录功能，烧录测试信息至预录存储装置的存储装置，并指示测试装置对待测装置进行测试动作。藉此，可避免因为用于测试的电脑硬件过于老旧或电脑系统背景执行的程序太多，而造成测试的时间忽快忽慢的问题，并缩短产品测试工时。

图1示出本发明一实施例的产线测试系统的方块图。参考图1，产线测试系统至少包括但不限于线上测试系统100、测试电脑200以及待测装置。线上测试系统100至少包括但不限于预录存储装置110以及测试装置120，线上测试系统100用以测试至少一待测装置。其中每一该待测装置可以是任何需要通过测试板测试的装置，例如是触控模块。

预录存储装置110包括存储装置111、处理器112以及连接装置113，并通过连接装置113与测试装置120或测试电脑200连接。预录存储装置110也可以是同时连接至测试电脑200及连接至测试装置120的扩充装置。在另一实施例中，也可以将预录存储装置110包括的各项元件整合为一系统芯片(System on Chip，SoC)，并设置在测试电脑200或是测试装置120中。

存储装置111例如是任意型式的固定式或可移动式随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、快闪存储器(Flash memory)或其他类似装置或这些装置的组合，而用以存储测试信息或一或多个指令，其中测试信息包括用于测试待测装置的测试指令及测试数据。

在另一实施例中，存储装置111可以设置在远端电子装置中。举例而言，当预录存储装置110是连接至测试电脑200及测试装置120的扩充装置时，存储装置111可以设置在远端电脑中，而以有线或无线的方式与存储装置111连接以传输数据。藉此，处理器112可以指示测试装置120根据远端电脑中的测试信息执行测试动作。

处理器112例如是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，或是其他可程序化的一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(DigitalSignal Processor，DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuits，ASIC)、可程序化逻辑装置(Programmable Logic Device，PLD)或其他类似装置或这些装置的组合。处理器112耦接至存储装置111，而可存取并执行记录在存储装置111中的指令。

连接装置113耦接于存储装置111及处理器112。连接装置113可以是任何以有线或无线方式与测试装置120或测试电脑200连接，其例如是通用串行总线(Universal SerialBus，USB)、RS232、蓝牙(Bluetooth，BT)、第四代(4G)、第五代(5G)或更后世代行动通讯、无线相容认证(Wireless fidelity，Wi-Fi)等传输接口，本发明不在此限制。预录存储装置110例如可通过连接装置113传输测试信息或启动指令等信息至测试装置120，并与测试装置120的连接装置123进行双向沟通。另一方面，预录存储装置110也可通过连接装置113接收测试电脑200传输的数据。

测试装置120包括存储装置121、处理器122以及连接装置123。其中存储装置121耦接于处理器122以及连接装置123，并且这些装置分别与前述存储装置111、处理器112以及连接装置113为类似的装置，其内容不在此赘述。

测试电脑200可以是台式电脑、笔记本电脑或其他可检测待测装置(例如触控模块)，并具备相应数据传输接口的装置。测试电脑200可装载包括测试软件210和数据库220。测试软件210是用以检测待测装置的所有功能(例如，对触控模块可进行下压力画线测试、多点测试、直线性及偏移度测试等功能测试)，并检测其他相关的检错信息，本发明不限制测试功能。以及，数据库220是用以提供测试软件210中所有测试信息，并可存储测试结果以供测试或开发人员分析。

一般而言，在产线上对待测装置进行测试，产线测试系统是通过测试电脑的测试软件直接对待测装置进行检测。然而测试流程中常因为测试电脑的硬件老旧或背景执行太多程序，而影响产品测试的时间。因此本发明提供预录存储装置来分担测试电脑的工作，详细技术内容请见以下描述。

本发明提供的处理器112会决定是否启动预录存储装置110的预录功能。具体而言，当处理器112判断存储装置111具有测试信息，则处理器112指示测试装置120根据存储于存储装置111的测试信息执行测试动作。另外，若处理器112判断存储装置111不具有测试信息，则处理器112启动预录存储装置110的预录功能。其中预录功能包括接收测试电脑200的测试软件210提供给测试装置120的测试信息并将所接收的测试信息存储至存储装置111，并指示测试装置120根据所接收的测试信息执行测试动作。

另一方面，在产线测试系统上线进行检测时，也有可能因为测试电脑的运作状态良好，使得产品测试的时间不受测试电脑的状态所影响。因此在另一实施例中，本发明提供的预录存储装置会在决定是否启动预录功能的同时考量电脑运转效率。

首先，本发明提供的处理器112会根据电脑运转效率决定是否启动预录存储装置110的预录功能。详细而言，产线测试系统在进行待测装置的测试时，可以由测试电脑200的测试软件210直接控制测试装置120来对待测装置进行测试。然而，在测试电脑200的处理器使用率过高、存储器使用率过高、传输封包间隔时间过长或测试时间过长等情况下，将造成电脑负荷过重，而影响电脑运转效率。因此处理器112会根据测试电脑200的电脑运转效率来决定是否启动预录存储装置110的预录功能，以减轻测试电脑200的负担。在一实施例中，处理器112根据测试电脑200的处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间其中之一或其组合计算电脑运转效率，并且处理器112根据计算出的电脑运转效率决定是否启动预录存储装置110的预录功能。

在另一实施例中，可以由测试电脑200根据其本身的处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间其中之一或其组合计算出电脑运转效率，并将计算出的电脑运转效率传输至预录存储装置110，由处理器112决定是否启动预录存储装置110的预录功能。在又一实施例中，测试电脑200可直接根据其计算出的电脑运转效率决定是否启动预录存储装置110的预录功能，并将此决定结果传输至预录存储装置110以直接指示预录存储装置110是否启动预录功能。

需先说明的是，用于判断测试电脑200的电脑运转效率的效率阈值可经由一连串的预先测试与分析决定，并将其保存于测试电脑200或存储装置111中。详细而言，研发人员可在线下测试阶段获取线下测试电脑的处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间作为效率参数，并设定各效率参数的不同数值对应不同分数。例如，电脑的处理器使用率0-25％的分数为5分，25-50％的分数为10分，50％以上为20分。接着，研发人员可设定加总效率参数的分数达到特定数值时代表线下测试电脑负荷过重且运转效率过低，以将此分数设定为效率阈值。具体而言，处理器使用率过高、存储器使用率过高、传输封包间隔时间过长以及测试时间过长时，即可代表电脑运转效率过低。

在另一实施例中，也可以针对各效率参数分别设定不同的阈值，并设定特定比例的效率参数超过阈值时，视为电脑运转效率低于效率阈值。在其他实施例中，研发人员还可以设计其他判断电脑运转效率的方式，本发明不在此限制。

接着，可由预录存储装置110的处理器112或由测试电脑200等装置将电脑运转效率与效率阈值进行比较。当判断电脑运转效率低于效率阈值时，处理器112用以检测预录存储装置110的存储装置111是否具有完整的测试信息。具体而言，处理器112可以仅检测预录存储装置110的存储装置111是否具有可用于检测待测装置的测试信息。或者，由于在不同批次的产品测试中，所需使用到的测试信息不一定相同，处理器112也可以检测预录存储装置110的存储装置111是否具有符合该批次测试需求的特定测试信息。换句话说，处理器112可以检测预录存储装置110的存储装置111是否具有与测试电脑200的测试软件210提供给测试装置120的测试信息实质相同的测试信息。在另一实施例中，也可以由测试电脑200检测预录存储装置110的存储装置111是否具有完整的测试信息。

在检测预录存储装置110是否具有测试信息之后，若预录存储装置110具有测试信息，则处理器112会将该测试信息传递给测试装置120，并指示测试装置120根据存储于预录存储装置110的测试信息执行测试动作。另外，若预录存储装置110不具有测试信息，则处理器112将测试电脑200的测试软件210提供给测试装置120的测试信息传输至存储装置111存储，并指示测试装置120根据该测试信息执行测试动作。

在一实施例中，测试信息包括测试指令(例如，测量触控延迟)及测试数据(例如，测试时间、测试次数)等参数。使用者可以根据不同产品线的测试流程中所需的来设计测试指令以及测试数据，本发明不在此限制。于一实施例中，当预录存储装置110具有测试信息，测试电脑200的测试软件210可仅传递少量的测试选择指令给预录存储装置110，预录存储装置110即可依照所接收的测试选择指令选择相对应的测试信息执行测试动作。举例而言，测试选择指令可以是选择此次测试流程中欲测试的项目的指令，例如为指示执行触控延迟测试的指令。

在另一实施例中，处理器112更针对预录存储装置110的存储装置111中存储的测试信息，或者接收的测试信息进行错误码校验检查，以确保录制的测试指令以及测试数据完整且无错误。其中错误码校验的方式例如是采循环冗余校验(Cyclic redundancycheck，CRC)或其他可检查数据流正确性的校验方法，本发明不在此限制。

在此将以测试触控模块来说明本实施例的使用情境。由于各家触控IC(集成电路)厂家有各自定义的触控通讯方式及触控判断行为，因此在触控模块的生产线建置上会购买对应不同触控模块的测试板来对触控模块进行测试。

请参考图1，测试装置120连接触控模块300以对触控模块300执行测试动作。在本实施例中，触控模块300可以是装置在电子装置(例如，手机、平板电脑、笔记本电脑等)上电容式、电阻式以及光学式等种类的触控模块，本发明不在此限制。首先，当电脑运转效率低于效率阈值时，处理器112检测预录存储装置110的存储装置111是否具有此次检测所需的测试信息，其中此测试信息关连于触控模块的测试条件。若处理器112检测到存储装置111具有完整的测试信息，则将该测试信息传递给测试装置120以使测试装置120根据存储于存储装置111的测试信息执行测试动作。具体而言，在预录存储装置110的存储装置111已具有完整的测试信息的情况下，测试电脑200的测试软件210只需传送关连于启动触控模块测试的启动指令至该测试装置120，以指示测试装置120根据存储在预录存储装置110的存储装置111的测试信息对触控模块300执行测试动作。藉此，可以减少测试电脑200的测试软件210烧录测试信息至测试装置120的存储装置111时所造成测试电脑200的负担。

此外，若处理器112检测到存储装置111不具有测试信息，则处理器112将测试电脑200的测试软件210提供给测试装置120的测试信息传输至存储装置111存储，并指示测试装置120根据该测试信息执行测试动作。在另一实施例中，存储装置111可以设置在远端电子装置中，处理器112可以将测试电脑200的测试软件210提供给测试装置120的测试信息传输至远端电子装置存储。

图2示出本发明一实施例的产线测试系统的范例。请同时参照图1及图2，在将线上测试系统100实际运用在产线时，预录存储装置110可以连接至测试电脑200并同时连接至多个测试装置120_1～120_N，而测试装置120_1～120_N分别连接至触控模块300_1～300_N。藉此，可通过预录的方式在预录存储装置110_1～110_N内录制测试信息，来降低电脑的负荷。在另一实施例中，预录存储装置110可以有多个，并且是各自连接至多个测试装置120_1～120_N的扩充装置，以作为扩增处理器分担电脑系统的负荷，进而有效缩短产线测试的工时。

图3示出本发明一实施例的产线测试系统的范例。请同时参照图1及图3，在又一实施例中，预录存储装置110_1～110_N分别连接至测试装置120_1～120_N，而测试装置120_1～120_N分别连接至触控模块300_1～300_N。在本实施例中，也可以将预录存储装置分别设置在每个测试装置中，亦即，将预录存储装置及测试装置整合在单板上。于此，预录存储装置及测试装置的存储装置、处理器及连接装置可以整合在一起。每个整合后的处理器可以分别指示测试装置根据存储于整合后的存储装置中的测试信息执行测试动作，以将预录存储装置结合测试装置作为扩增处理器分担电脑系统的负荷。

综上所述，本发明提供的预录存储装置及线上测试系统可在电脑运转效率低于效率阈值时检测预录存储装置，并根据预录存储装置是否有预录测试信息不同的情形来决定使测试装置根据预录测试信息执行测试动作，或者对预录存储装置烧录测试信息。藉此，通过预录信息或以扩增处理器的方式分担电脑处理器的负荷，可避免因为用于测试的测试电脑硬件过于老旧或电脑系统背景执行的程序太多，而造成测试的时间忽快忽慢的问题，进而达成缩短产品测试工时的目的。再者，通过本发明提供的预录存储装置，可不需在产线花费庞大的费用进行电脑硬件升级，即可缩短产线测试时间。

虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更改与润饰，故本发明的保护范围当视权利要求所界定的为准。

Claims (12)

1.一种预录存储装置，连接一测试装置，其特征在于，所述预录存储装置包括：

存储装置；以及

处理器，耦接所述存储装置，经配置以决定是否启动所述预录存储装置的预录功能；

其中决定是否启动所述预录存储装置的预录功能包括：

当电脑运转效率低于效率阈值时，所述处理器检测所述存储装置是否具有第一测试信息；

当所述存储装置具有所述第一测试信息，则所述处理器指示所述测试装置根据存储于所述存储装置的所述第一测试信息执行测试动作；

若所述存储装置不具有所述第一测试信息，则所述处理器启动所述预录存储装置的预录功能；

其中所述预录功能包括接收第二测试信息并将所述第二测试信息存储至所述存储装置，并指示所述测试装置根据所述第二测试信息执行测试动作。

2.根据权利要求1所述的预录存储装置，其特征在于，所述处理器根据处理器使用率、存储器使用率、传输封包间隔时间以及测试时间其中之一或其组合计算电脑运转效率。

3.根据权利要求1所述的预录存储装置，其特征在于，所述第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且所述第二测试信息与所述第一测试信息为实质相同的测试信息。

4.根据权利要求1所述的预录存储装置，其特征在于，所述测试装置适用于测试触控模块，且所述第一测试信息及所述第二测试信息关连于触控模块的测试条件。

5.根据权利要求1所述的预录存储装置，其特征在于，所述处理器还针对所述存储装置存储的所述第一测试信息以及所述第二测试信息其中至少之一进行错误码校验检查。

6.根据权利要求1所述的预录存储装置，其特征在于，所述存储装置设置在远端电子装置中。

7.一种线上测试系统，用以测试至少一待测装置，其特征在于，包括：

至少一测试装置，连接所述至少一待测装置；

至少一预录存储装置，连接所述至少一测试装置，每一测试装置包括存储装置以及处理器，所述处理器经配置以决定是否启动所述预录存储装置的预录功能，

其中决定是否启动所述预录存储装置的所述预录功能包括：

当电脑运转效率低于效率阈值时，所述处理器检测所述存储装置是否具有第一测试信息；

当所述存储装置具有所述第一测试信息，则所述测试装置根据存储于所述存储装置的所述第一测试信息执行测试动作；

若所述存储装置不具有所述第一测试信息，则所述处理器启动所述预录存储装置的所述预录功能；

其中所述预录功能包括接收第二测试信息并将所述第二测试信息存储至所述存储装置，并指示所述测试装置根据所述第二测试信息执行测试动作。

8.根据权利要求7所述的线上测试系统，其特征在于，所述第一测试信息包括测试指令及测试数据，并且所述第二测试信息与所述第一测试信息为实质相同的测试信息。

9.根据权利要求7所述的线上测试系统，其特征在于，所述测试装置适用于测试触控模块，且所述第一测试信息及所述第二测试信息关连于触控模块的测试条件。

10.根据权利要求7所述的线上测试系统，其特征在于，所述处理器更针对所述存储装置的所述第一测试信息以及所述第二测试信息其中至少之一进行错误码校验检查。

11.一种预录存储装置，连接一测试装置，其特征在于，所述预录存储装置包括：

存储装置；以及

处理器，耦接所述存储装置，经配置以决定是否启动所述预录存储装置的预录功能；

其中决定是否启动所述预录存储装置的预录功能包括：

当电脑运转效率低于效率阈值时，所述处理器检测所述存储装置是否具有第一测试信息；

当所述存储装置具有所述第一测试信息，则所述处理器根据至少一测试选择指令选择所述第一测试信息中所述至少一测试选择指令相对应的测试信息执行测试；

若所述存储装置不具有所述第一测试信息，则所述处理器启动所述预录存储装置的预录功能；

其中所述预录功能包括接收第二测试信息并将所述第二测试信息存储至所述存储装置，并指示所述测试装置根据所述第二测试信息执行测试动作。

12.根据权利要求11所述的预录存储装置，其特征在于，所述预录存储装置耦接测试电脑，用以自所述测试电脑接收所述至少一测试选择指令。

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