CN201765405U

CN201765405U - 一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪

Info

Publication number: CN201765405U
Application number: CN2010201962881U
Authority: CN
Inventors: 谢超英
Original assignee: Skyworth LCD Shenzhen Co Ltd
Current assignee: Skyworth LCD Shenzhen Co Ltd
Priority date: 2010-05-18
Filing date: 2010-05-18
Publication date: 2011-03-16
Anticipated expiration: 2020-05-18

Abstract

本实用新型适用于液晶模组测试技术领域，提供了一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪。其中的装置包括：上电后将存储的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据写入待测液晶模组的控制器、同时向待测液晶模组输出相应的工作电压的液晶模组测试仪，液晶模组测试仪包括有IDE接口；以及连接液晶模组测试仪的IDE接口和待测液晶模组的MCU接口的转接部，液晶模组测试仪是顺次通过IDE接口以及转接部连接所述待测液晶模组的控制器的。由于其中的液晶模组测试仪采用了IDE接口来同时向液晶模组输出初始化数据、参数数据以及电压，简化了液晶模组测试装置的结构，易于操作。

Description

一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪

技术领域

本实用新型属于液晶模组测试技术领域，尤其涉及一种液晶模组测试装置及液晶模组测试仪。

背景技术

液晶模组(Liquid Crystal Module，LCM)是指将液晶显示器件、连接件、控制与驱动等外围电路、PCB电路板、背光源等结构件装配在一起形成的组件，其以极强的显示柔性被广泛应用于各种消费电子产品(如MP3、MP4、手机、数码相机等)的输入输出单元上。

在LCM生产过程中，需要对LCM产品进行功能测试，包括测试LCM的显示颜色是否正常、LCM的工作电压、电流等参数是否在可接受范围等。该功能测试的过程一般包括如下几个步骤：给LCM提供合适的工作电压；对LCM初始化；写入图像数据到LCM；人眼观测LCM显示结果，进而判断LCM的显示颜色是否正常；反馈测试LCM的工作电流、电压是否在可接受范围，进而判断LCM的电性能是否正常。

现有技术提供的液晶模组测试装置在对包含MCU接口的LCM产品进行上述功能测试时，单纯使用单片机的单一接口，通过控制线、数据线将LCM的初始化数据及测试图像数据写入LCM，通过人眼判断LCM的显示颜色是否正常；同时通过一电源模块直接提供LCM的工作电压，使用电压表、电流表测试LCM的工作电压、电流是否正常。由于该液晶模组测试装置单独使用了单片机和电源模块，使得其结构复杂、操作繁琐。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种液晶模组测试装置，旨在解决现有技术提供的液晶模组测试装置由于单独使用了单片机和电源模块，使得其结构复杂、操作繁琐的问题。

本实用新型是这样实现的，一种液晶模组测试装置，所述装置包括：

上电后将存储的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据写入所述待测液晶模组的控制器、同时向所述待测液晶模组输出相应的工作电压的液晶模组测试仪，所述液晶模组测试仪包括有IDE接口；以及

连接所述液晶模组测试仪的所述IDE接口和所述待测液晶模组的MCU接口的转接部，所述液晶模组测试仪是顺次通过所述IDE接口以及转接部连接所述待测液晶模组的控制器的。

上述液晶模组测试仪可以包括：

存储单元；

上电后将从所述存储单元读取出的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据写入待测液晶模组的控制器、同时输出从所述存储单元读取出的待测液晶模组输出相应的数字工作电压信号的微处理器，所述微处理器连接所述存储单元和IDE接口；

将所述微处理器输出的所述数字工作电压信号转换成模拟工作电压信号后通过所述IDE接口输出给所述待测液晶模组的数模转换器，所述数模转换器连接所述微处理器和IDE接口。

上述液晶模组测试仪还可以进一步包括：

将所述IDE接口反馈的模拟电压信号转换成数字电压信号并输出的模数转换器，所述模数转换器连接所述IDE接口和微处理器；

当所述微处理器比较得到所述模数转换器输出的所述数字电压信号的电压值超过所述存储单元存储的预设电压范围值时发出报警的提示单元，所述提示单元连接所述微处理器。

上述液晶模组测试仪还可以进一步包括：

连接所述微处理器的输入输出单元。

上述存储单元可以是一电可擦可编程只读存储器。

本实用新型的另一目的在于提供一种液晶模组测试仪，所述液晶模组测试仪包括有IDE接口，所述液晶模组测试仪通过一连接所述IDE接口和所述待测液晶模组的MCU接口的转接部连接所述待测液晶模组。

上述液晶模组测试仪可以进一步包括：

存储单元；

上述所述液晶模组测试仪还可以包括：

上述液晶模组测试仪还可以包括：

连接所述微处理器的输入输出单元。

上述存储单元是一电可擦可编程只读存储器。

本实用新型实施例提供的液晶模组测试装置中，液晶模组测试仪采用了IDE接口来同时向LCM输出初始化数据、参数数据以及电压，简化了液晶模组测试装置的结构，易于操作。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的液晶模组测试装置的结构原理图；

图2是图1的具体结构图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1示出了本实用新型实施例提供的液晶模组测试装置的结构原理，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分。

本实用新型实施例提供的液晶模组测试装置包括：上电后将存储的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据写入待测液晶模组的控制器、同时向待测液晶模组输出相应的工作电压的液晶模组测试仪1，液晶模组测试仪1包括有IDE接口；连接液晶模组测试仪1的IDE接口和待测液晶模组的MCU接口的转接部2，液晶模组测试仪1是顺次通过IDE接口以及转接部2连接待测液晶模组的控制器的。

其中，参数数据包括：待测液晶模组的MCU接口的时序、待测液晶模组的控制器的功能寄存器宽度、待测液晶模组的显示深度、待测液晶模组的显示尺寸参数、测试图像数据。更具体地，待测液晶模组的MCU接口的时序为8080、6800、IIC或SPI中的任一种；待测液晶模组的控制器的功能寄存器宽度为8bit或16bit；待测液晶模组的显示深度为黑白显示、灰阶显示、256色显示、4K色显示、65K色显示或260K色显示中的任一种，当待测液晶模组的显示深度为260K色显示时，参数数据还包括待测液晶模组的控制器的功能寄存器的数据对齐方式，包括头对齐和尾对齐；待测液晶模组的显示尺寸参数包括LCM显示的宽方向点阵数和高方向点阵数；测试图像数据一般采用比较规整的测试图像模式的数据，该测试图像模式为除去all red、all green、all blue、all on、all off和color bar之外的现有图像模式中的任一种。

由于液晶模组测试仪1采用了IDE接口来同时向LCM输出初始化数据、参数数据以及电压，简化了液晶模组测试装置的结构，易于操作。

由于传统的液晶模组测试装置是使用固定电压对LCM供电，一旦电压固定便无法改变，且无法实现对LCM电压、电流的监控，当LCM短路或其它原因导致LCM中有大电流通过时，现有技术提供的液晶模组测试装置无法检测到该状况并切断供电，为此，本实用新型实施例中，液晶模组测试仪1还可以接收IDE接口反馈的电压，并当电压值超过预设电压范围值时，停止向待测液晶模组输出电压，还可以同时发出报警。此时，参数数据还包括：待测液晶模组的预设电压范围值。

其中，液晶模组测试仪1在将测试图像数据写入待测液晶模组的控制器时，可以采用自动写入模式或手动写入模式。在手动写入模式下，液晶模组测试仪1是在每次接收到用户输入的写入信号(如按键信号等)后，写入一次测试图像数据的；在自动写入模式下，液晶模组测试仪1是每隔一预设时延，自动写入一次测试图像数据的。此时，参数数据还包括：测试图像数据传输的预设时延。

另外，液晶模组测试仪1中存储的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据、待测液晶模组相应的工作电压可以由用户预先根据待测液晶模组的需求而直接写入液晶模组测试仪1中，也可以是由用户预先根据待测液晶模组的需求在PC机中设置，再将PC机中被设置的数据写入液晶模组测试仪1中。

图2示出了图1的具体结构。

液晶模组测试仪1具体包括：连接转接部2的IDE接口12；存储与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据、工作电压的存储单元14；上电后将从存储单元14读取出的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据写入待测液晶模组的控制器、同时输出从存储单元14读取出的待测液晶模组输出相应的数字工作电压信号的微处理器13，微处理器13连接存储单元14和IDE接口12；将微处理器13输出的数字工作电压信号转换成模拟工作电压信号后通过IDE接口12输出给待测液晶模组的数模转换器15，数模转换器15连接微处理器13和IDE接口12。

当液晶模组测试仪1还具有对LCM电压的监控及报警功能时，液晶模组测试仪1还包括：将IDE接口12反馈的模拟电压信号转换成数字电压信号并输出的模数转换器16，模数转换器16连接IDE接口12和微处理器13；当微处理器13比较得到模数转换器16输出的数字电压信号的电压值超过存储单元14存储的预设电压范围值时发出报警的提示单元17，提示单元17连接微处理器13。此外，微处理器13还可以在比较得到模数转换器16输出的数字电压信号的电压值超过存储单元14存储的预设电压范围值时，停止输出模拟工作电压信号。

当存储单元14中存储的与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据、待测液晶模组相应的工作电压是由用户预先根据待测液晶模组的需求而直接写入存储单元14中时，液晶模组测试仪1还包括：；连接微处理器13的输入输出单元11。此时，微处理器13接收用户根据输入输出单元11显示的内容输入的设置信号，并根据该设置信号确定与待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据、待测液晶模组相应的工作电压并将确定的待测液晶模组相应的初始化数据、参数数据、待测液晶模组相应的工作电压存储于存储单元14。

其中的存储单元14采用一电可擦可编程只读存储器(Electrically ErasableProgrammable Read-Only Memory，EEPROM)，避免了现有技术需要根据待测液晶模组的时序等重新编写源代码并写入单片机时，多次写入容易导致单片机损坏的问题。

本实用新型实施例还提供了一种如上所述的液晶模组测试仪，该液晶模组测试仪通过一将IDE接口转换成与待测液晶模组的MCU接口对接的接口的转接部连接待测液晶模组。

本实用新型实施例提供的液晶模组测试装置中，液晶模组测试仪1采用了IDE接口来同时向LCM输出初始化数据、参数数据以及电压，简化了液晶模组测试装置的结构，易于操作；另外，液晶模组测试仪1还可以具有接收IDE接口反馈的电压，并当电压值超过预设电压范围值时，停止向待测液晶模组输出电压的功能，当LCM短路或其它原因导致LCM中有大电流通过时可以及时切断供电，避免烧毁LCM。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种液晶模组测试装置，其特征在于，所述装置包括：

2.如权利要求1所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述液晶模组测试仪包括：

存储单元；

3.如权利要求2所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述液晶模组测试仪还包括：

4.如权利要求2所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述液晶模组测试仪还包括：

连接所述微处理器的输入输出单元。

5.如权利要求2至4任一项所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述存储单元是一电可擦可编程只读存储器。

6.一种液晶模组测试仪，其特征在于，所述液晶模组测试仪包括有IDE接口，所述液晶模组测试仪通过一连接所述IDE接口和所述待测液晶模组的MCU接口的转接部连接所述待测液晶模组。

7.如权利要求6所述的液晶模组测试仪，其特征在于，所述液晶模组测试仪进一步包括：

存储单元；

8.如权利要求7所述的液晶模组测试仪，其特征在于，所述液晶模组测试仪还包括：

9.如权利要求7所述的液晶模组测试仪，其特征在于，所述液晶模组测试仪还包括：

连接所述微处理器的输入输出单元。

10.如权利要求7至9任一项所述的液晶模组测试仪，其特征在于，所述存储单元是一电可擦可编程只读存储器。