CN201562021U - 一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 - Google Patents
一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN201562021U CN201562021U CN2009202608459U CN200920260845U CN201562021U CN 201562021 U CN201562021 U CN 201562021U CN 2009202608459 U CN2009202608459 U CN 2009202608459U CN 200920260845 U CN200920260845 U CN 200920260845U CN 201562021 U CN201562021 U CN 201562021U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- card
- test
- pilot lamp
- mcu
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
一种SD卡接口的测试电路,包括MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。采用本实用新型的技术方案,由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否,来判断被测试的SD卡接口是否通讯正常,所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡,而不是用真实的SD卡,所以避免了使用真实的SD卡测试时,SD卡容易磨损或烧毁,增加测试成本,且当卡多时,容易丢失,不易管理的缺陷,提高了测试效率,降低了测试成本,且便于管理。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术,尤其涉及一种SD卡接口测试电路、测试卡及测试系统。
背景技术
随着各种多媒体娱乐内容的丰富,消费者对所用的电子产品的储存容量要求越来越高,SD卡作为储存装置已被广泛应用于各种电子设备中,其要么作为产品内置的储存装置;要么作为其扩展储存装置,即在电子产品的本体100上设有SD接口,如需电子产品与外部设备互换数据或增加电子产品本身储存容量时,就可以直接将SD卡插入电子产品上的SD卡接口即可。为了保证SD卡工作稳定可靠,生产时,生产厂商一般都要对SD卡接口进行测试,目前市场上对SD卡接口测试都是直接利用SD卡插入接品进行测试。这种方式不足这处在于:首先,由于SD卡体积很小,测试人员操作很不方便;其次,SD卡本身成本较高,且用于测试时,SD卡容易磨损或烧毁,增加测试成本,并且当卡多时,容易丢失,不易管理。
实用新型内容
本实用新型提供一种SD卡接口测试电路,所述测试电路能够节约测试成本、便于管理、安全可靠。
一种SD卡接口的测试电路,包括MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
优先地,所述测试电路还包括指示灯D3,所述指示灯D3与电源VCC连接,上电后,所述指示灯点亮。
优先地,所述测试电路还包括指示灯D2,所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接,被测试的SD卡接口的通讯不正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
本实用新型还提供一种SD卡接口的测试卡,所述测试卡能降低测试成本、便于操作、安全可靠。
一种SD卡接口的测试卡,包括测试卡本体100、MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
优先地,所述测试卡还包括指示灯D3,所述指示灯D3与电源VCC连接,上电后,所述指示灯点亮。
优先地,所述测试卡还包括指示灯D2,所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接,被测试的SD卡接口的通讯不正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
本实用新型还提供一种SD卡接口的测试系统,所述测试系统能降低测试成本、便于操作、安全可靠。
一种SD卡接口的测试系统,包括测试卡、被测试终端200,所述测试卡与所述被测试终端200通过设在所述被测试终端200上的SD卡接口连接,所述测试卡包括测试卡本体100、MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
优先地,上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D3,所述指示灯D3与电源VCC连接,上电后,所述指示灯D3点亮。
优先地,上述测试系统中SD卡接口的测试卡还包括指示灯D2,所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接,被测试的SD卡接口的通讯不正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
采用本实用新型的技术方案,由于其直接通过MCU控制指示灯点亮与否,来判断被测试的SD卡接口是否通讯正常,所以操作方便、可靠。且由于其直接使用专用的测试卡,而不是用真实的SD卡,所以避免了使用真实的SD卡测试时,SD卡容易磨损或烧毁,增加测试成本,且当卡多时,容易丢失,不易管理的缺陷,提高了测试效率,降低了测试成本,且便于管理。
附图说明
图1为本实用新型SD卡接口的测试电路结构示意图。
图2为本实用新型SD卡接口的测试卡结构示意图。
图3为本实用新型SD卡接口的测试系统结构示意图
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本发明进一步详细说明。
本实用新型的技术方案,提供一种SD卡接口测试电路,所述电路包括MCU,所述MCU电连接三个工作指示灯,测试时,所述MCU与所述被测试终端200的处理器串口连接,所述被测试终端200的处理器通过与MCU通讯来控制三个指示灯亮与否,从而可通过三个指示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常,其操作方便、可靠,节约了测试时间,降低了测试成本。
本技术方案可以通过图1所示的电路实现,下面对图1所示的电路进行详细说明。
参见图1,为本实用新型的第一实施例,一种SD卡接口测试电路结构示意图,所述测试电路包括:MCU,所述MCU连接有三个工作状态指示灯D1,D2,D3,其中D3通过电阻R1、R4与VCC电连接;D2通过串接双极性NPN三极管Y3及电阻R3与MCU第二端口P3.3电连接;D1通过串接三极管Y2及电阻R2与MCU的第一端口P3.2电连接。工作时,VCC与被测试终端200的一路电源相连接,被测试终端200开机时,如测试电路的电源正常,则指示灯D1点亮。反之,则电源不正常。当测试电路电源通电正常后,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先通过SD_CMD发出一串校验指令给单片机,单片机收到指令后通过SD_DATA0回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则通过SD_CMD发出OK信号给MCU,若不符合则通过SD_CMD发出FAIL的信号给单片机。MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU第一端口P3.2,三极管Y2导通,从而点亮指示灯D1,若收到FAIL则发出一个高电平信号到第二端口P3.3,双极性NPN三极管Y3导通,从而点亮指示灯D2。测试时若D1点亮则表示SD卡接口和SD卡通讯正常,所以SD卡接口正常;若指示灯D2亮则表示SD卡接口和SD卡通讯失败,SD卡接口有问题。所以,采用这种SD测试电路,测试时只需观察测试电路中的指示灯点亮情况即可判断SD卡接口是否正常,操作简单方便,节约时间。
可以理解的是,上述实施例中的指示灯,可以为一个,即MCU只连接一个指示灯D1,当MCU与被测试终端200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接后,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先通过SD_CMD发出一串校验指令给MCU,MCU收到指令后通过SD_DATA0回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则通过SD_CMD发出OK信号给MCU,MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU的第一端口P3.2,三极管Y2导通,从而点亮指示灯D1。否则,被测试终端200处理器不给MCU信号,指示灯D1不点亮。
可以理解的是,上述实施例中的指示灯也可以为两个,即MCU连接指示灯D1、D3,当MCU与被测试终端200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接上电后,D3指示灯点亮,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先通过SD_CMD发出一串校验指令给单片机,单片机收到指令后通过SD_DATA0回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则通过SD_CMD发出OK信号给MCU,MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU的第一端口P3.2,三极管Y2导通,从而点亮指示灯D1。否则,被测试终端200的处理器不给MCU信号,指示灯D1不点亮。或MCU连接指示灯D1、D2,当MCU与被测试终端200的处理器通过设在被测试终端200的SD卡接口连接后,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU,MCU收到指令后回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则发出OK信号给MCU,若不符合则发出FAIL的信号给MCU。MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于连接指示灯D1的端口,测试卡中的指示灯D1点亮,若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应连接指示灯D2的端口,测试卡中的指示灯D2点亮。
本实用新型的技术方案,还提供一种使用上述测试电路的SD卡接口的测试卡,所述测试卡包括MCU、三个指示灯,所述MCU电连接三个工作指示灯,测试时,所述MCU与所述被测试终端200的处理器串口连接,所述被测试终端200的处理器通过与MCU通讯来控制三个指示灯亮与否,从而可通过三个指示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常,其操作方便、可靠,节约了测试时间,降低了测试成本。
本技术方案可以通过图2所示的测试卡实现,下面对图2所示的测试卡进行详细说明。
参见图2,为本实用新型的第二实施例,一种SD卡接口的测试卡结构示意图,所述测试卡包括MCU,所述MCU电连接三个指示灯D1,D2,D3,具体连接电路如实施例一所述,这里将不在赘述。测试时,将测试卡插入被测试终端200的SD卡接口,被测试终端200上电,如测试卡电源正常,则指示灯D3点亮,测试卡上电正常后,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU,MCU收到指令后回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则发出OK信号给MCU,若不符合则发出FAIL的信号给MCU。MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于连接指示灯D1的第一端口,测试卡中的指示灯D1点亮,若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应连接指示灯D2的第二端口,测试卡中的指示灯D2点亮。测试时,指示灯D1亮,则表示SD卡接口和SD卡通讯正常,所以SD卡接口正常;若发现指示灯D2点亮,则表示SD卡接口和SD卡通讯失败,SD卡接口有问题。所以,采用该SD接口的测试卡,测试时只需根据指示灯的点亮情况,就可以方便的判断出被测试终端200的SD卡接口正常与否,其操作方便可靠,且避免了已有用真实SD卡测试,损坏SD卡的风险,也省去了管理众多SD卡麻烦,从而提高了测试效率,节约了测试成本。
另外,为了测试时便于抓取测试卡,所述测试卡本体100上还设有一孔101,便于抓取时测试人员的手指伸入。
本实用新型的技术方案,还提供一种使用上述测试卡的SD卡接口的测试系统,所述SD卡接口测试系统包括测试卡、被测试终端200,所述测试卡上设有三个指示灯,测试时,所述MCU与所述被测试终端200的处理器通过SD卡接口串口连接,MCU与所述被测试终端200的处理器之间通讯控制三个指示灯亮与否,从而可通过三个指示灯点亮情况来判断SD卡接口工作是否正常,其操作方便、可靠,节约了测试时间,降低了测试成本。
本技术方案可以通过图3所示的测试系统实现,下面对图3所示的测试系统进行详细说明。
参见图3,为本实用新型的第三实施例,一种SD卡接口的测试系统结构示意图,所述测试系统包括测试卡、被测试终端200,所述测试卡与所述被测试终端200通过设在所述被测试终端200上的SD卡接口连接。
所述MCU电连接三个指示灯D1,D2,D3,具体连接电路如实施例一所述,这里将不在赘述。测试时,将测试卡插入被测试终端200的SD卡接口,被测试终端200上电,如测试卡电源正常,则指示灯D3点亮,测试卡上电正常后,MCU通过串口与被测试终端200的处理器进行通讯,被测试终端200的处理器首先发出一串校验指令给MCU,MCU收到指令后回复一串应答信号给被测试终端200的处理器。被测试终端200的处理器收到MCU的应答信号后进行判断,若符合要求则发出OK信号给MCU,若不符合则发出FAIL的信号给MCU。MCU若收到OK则发出一个高电平信号到MCU对应于电连接D1的第一端口,测试卡中的指示灯D1点亮,若收到FAIL则发出一个高电平信号到MCU对应于电连接D2的第二端口,测试卡中的指示灯D2点亮。测试时,指示灯D1亮,则表示SD卡接口和SD卡通讯正常,所以SD卡接口正常;若发现指示灯D3点亮,则表示SD卡接口和SD卡通讯失败,SD卡接口有问题。所以,采用该SD接口的测试卡,测试时只需根据指示灯的点亮情况,就可以方便的判断出被测试终端200的SD卡接口正常与否,其操作方便可靠,且避免了已有用真实SD卡测试,损坏SD卡的风险,也省去了管理众多SD卡麻烦,从而提高了测试效率,节约了测试成本。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限定本发明的保护范围,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种SD卡接口的测试电路,其特征在于,包括MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
2.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括指示灯D3,所述指示灯D3与电源VCC连接,上电后,所述指示灯D3点亮。
3.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路,其特征在于,所述测试电路还包括指示灯D2,所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接,被测试的SD卡接口的通讯不正常时,所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
4.如权利要求1所述的SD卡接口的测试电路,其特征在于,所述指示灯D1与所述MCU之间还串接有双极性NPN三极管Y2及电阻R2,所述MCU输出高电频,所述双极性NPN三极管Y2导通,所述指示灯D1点亮。
5.如权利要求3所述的SD卡接口的测试电路,其特征在于,所述指示灯D2与所述MCU之间还串接有双极性NPN三极管Y3及电阻R3,所述MCU输出高电平,所述双极性NPN三极管Y3导通,所述指示灯D2点亮。
6.一种SD卡接口的测试卡,其特征在于,包括测试卡本体(100),还包括如权利要求1至5任一权项所述的测试电路。
7.如权利要求6所述的SD卡接口的测试卡,其特征在于,所述测试卡本体(100)上设有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
8.一种SD卡接口的测试系统,其特征在于,包括SD接口的测试卡、被测试终端(200),所述SD接口的测试卡与所述被测试终端(200)通过设在所述被测试终端(200)上的SD卡接口连接,所述SD接口的测试卡包括测试卡本体(100)、MCU、指示灯D1,所述指示灯D1与所述MCU的第一接口电连接,被测试的SD卡接口通讯正常时,被测试终端(200)的处理器发信号给所述MCU,所述MCU发出信号控制所述指示灯D1点亮。
9.如权利要求8所述SD卡接口的的测试系统,其特征在于,所述SD接口的测试卡还包括指示灯D3,所述指示灯D3与电源VCC连接,上电后,所述指示灯点亮。
10.如权利要求9所述SD卡接口的的测试系统,其特征在于,所述SD接口的测试卡还包括指示灯D2,所述指示灯D2与所述MCU的第二接口电连接,被测试的SD卡接口的通讯不正常时,被测试终端(200)的处理器发信号给所述MCU,所述MCU发出信号控制所述指示灯D2点亮。
11.如权利要求8所述SD卡接口的测试系统,其特征在于,所述SD测试卡本体(100)上设有便于抓取SD卡接口的测试卡的孔(101)。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2009202608459U CN201562021U (zh) | 2009-11-26 | 2009-11-26 | 一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2009202608459U CN201562021U (zh) | 2009-11-26 | 2009-11-26 | 一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN201562021U true CN201562021U (zh) | 2010-08-25 |
Family
ID=42627169
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2009202608459U Expired - Fee Related CN201562021U (zh) | 2009-11-26 | 2009-11-26 | 一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN201562021U (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105004957A (zh) * | 2015-07-31 | 2015-10-28 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种sd卡测试方法和测试设备 |
CN110764956A (zh) * | 2019-08-29 | 2020-02-07 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种基于fpga的sd或mmc接口测试装置和方法 |
-
2009
- 2009-11-26 CN CN2009202608459U patent/CN201562021U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105004957A (zh) * | 2015-07-31 | 2015-10-28 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种sd卡测试方法和测试设备 |
CN110764956A (zh) * | 2019-08-29 | 2020-02-07 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种基于fpga的sd或mmc接口测试装置和方法 |
CN110764956B (zh) * | 2019-08-29 | 2022-05-03 | 福州瑞芯微电子股份有限公司 | 一种基于fpga的sd或mmc接口测试装置和方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105891764A (zh) | 一种基于蓝牙通讯的电能表数据智能读写装置及方法 | |
CN204244219U (zh) | 一种检测rs485接口电压的通信电路 | |
CN201562021U (zh) | 一种sd卡接口的测试电路、测试卡及测试系统 | |
CN206133904U (zh) | 一种蓝牙手持抄表设备 | |
CN205785507U (zh) | 新型模块化光功率计 | |
CN207265328U (zh) | 一种具有自动断电功能的数据线 | |
CN204405828U (zh) | 一种新型单相智能电能表检测装置 | |
CN210006025U (zh) | 一种基于广域网远程打印的云终端设备 | |
CN205158340U (zh) | 针对外置程序存储器微处理器的自动代码烧写器 | |
CN204376110U (zh) | 一种带有无线通讯的智能插座 | |
CN201425723Y (zh) | 双硬盘电源线路的切换开关 | |
CN204101650U (zh) | 一种集中器的自动测试装置 | |
CN203520299U (zh) | 一种定时开机控制电路 | |
CN206431267U (zh) | 一种照明灯具的老化测试装置 | |
CN105094102A (zh) | 一种应用有串口服务器的智能小区数据采集系统 | |
CN201725590U (zh) | 一种硬盘接口检测电路 | |
CN212626548U (zh) | 带有短信自动报警功能的配电柜断电检测系统 | |
CN103376797B (zh) | 控制器的测试装置和控制器老化实验箱 | |
CN202773152U (zh) | 一种基于电力载波通信的单灯控制器 | |
CN218037747U (zh) | 火灾报警控制器控制电路及具有其的控制器 | |
CN111653940A (zh) | 带有短信自动报警功能的配电柜断电检测系统 | |
CN201689522U (zh) | 燃气报警器 | |
CN206470549U (zh) | 一种微型嵌入式终端 | |
CN201242741Y (zh) | Usb快速检调器 | |
CN210694424U (zh) | 状态指示灯主控芯片 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100825 Termination date: 20151126 |