TWI595355B - 測試裝置和方法 - Google Patents

Description

測試裝置和方法

本發明說明書主要係有關於USB Type-C電源傳輸(Power Delivery，PD)之一測試技術，特別係有關於藉由一測試裝置，透過串列通訊(serial communication)達成USB Type-C PD之自動化測試之測試技術。

隨著科技的進步，通用序列匯流排(Universal Serial Bus，USB)之規格也不斷改良和更新。USB 3.0推廣小組於2013年12月宣布進行USB Type-C連接器之開發，並於2014年完成新規格制定。Type-C連接器係以USB 3.0與USB 2.0技術做為基礎進行開發。因此，在傳輸性能上，Type-C連接器亦可支援USB 3.1高速傳輸(10Gbit/s)需求，且Type-C連接器之尺寸也與USB3.0、USB2.0技術所規範的連接器尺寸相容。此外，USB Type-C連接器採用了上下排同時存在端子的型式，因此，Type-C連接介面可支援正/反插拔，不再有插拔方向性的問題。

此外，USB Type-C連接器亦可搭配USB電力傳輸(USB-PD)技術一起使用。USB-PD技術係由USB開發者論壇(USB Implementers Forum，USB-IF)所制定之USB電力傳輸(充電/供電)標準。USB PD在架構上定義了供電端(Source)與受電端(Sink)。USB PD標準制定了不同組態 (Profiles)，以提供不同電壓和電流來滿足不同電子裝置之需求。

第1圖係顯示根據先前技術所述之測試系統10之方塊圖。如第1圖所示，在測試待測裝置11時，會將待測裝置11連接一控制板12、一電源13以及一負載14。然而，在目前USB Type-C PD(即待測裝置11)之測試，往往需要手動去操作控制板12以切換不同測試設定(即待測裝置11所能提供給負載14之不同組之電壓和電流)，才能測試USB Type-C PD所支援之不同組之電壓和電流。因此，如何達成USB Type-C PD更有效率之自動化測試，將是個重要的課題。

有鑑於上述先前技術之問題，本發明提供了藉由一測試裝置，透過串列通訊(serial communication)達成USB Type-C PD之自動化測試之測試方法。

根據本發明之一實施例提供了一種測試裝置。上述測試裝置包括一第一連接介面、一儲存裝置、一處理器以及一第二連接介面。第一連接介面耦接至一待測裝置，以及根據一第一指令，從上述待測裝置取得一電源資訊。儲存裝置用以儲存上述電源資訊。處理器耦接至上述第一連接介面，當上述第一連接介面耦接至上述待測裝置時，傳送上述第一指令至上述第一連接介面，以及從上述第一連接介面接收上述電源資訊，並將上述電源資訊儲存在上 述儲存裝置中。第二連接介面耦接至一外部控制系統，傳送上述電源資訊至上述外部控制系統，以及從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。

在本發明一些實施例，上述測試裝置更包括一第一控制器和一第二控制器。第一控制器耦接上述第一連接介面和上述處理器，用以將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式。第二控制器耦接上述第二連接介面和上述處理器，用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。在本發明一些實施例，上述測試裝置僅包括一第一控制器，且上述處理器更用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。

在本發明一些實施例，上述處理器根據上述測試指令，藉由上述第一連接介面發送一電源要求至上述待測裝置，以指示上述待測裝置提供對應上述電源要求之一電源。在本發明一些實施例，當上述外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時，上述處理器藉由上述第二連接介面提供上述電源資訊至上述外部控制系統，且上述外部控制系統根據上述電源資訊發送上述測試指令至上述第二連接介面。在本發明一些實施例，上述儲存裝置儲存一查找表，且上述電源資訊儲存於上述查找表。

根據本發明之一實施例提供了一種測試裝置。 上述測試裝置包括一第一連接介面、一處理器以及一第二連接介面。第一連接介面耦接至一待測裝置，以及根據一第一指令，從上述待測裝置取得一電源資訊。處理器耦接至上述第一連接介面且包含一儲存裝置，當上述第一連接介面耦接至上述待測裝置時，傳送上述第一指令至上述第一連接介面，以及從上述第一連接介面接收上述電源資訊，並將上述電源資訊儲存在上述儲存裝置中。第二連接介面耦接至一外部控制系統，傳送上述電源資訊至上述外部控制系統，以及從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。

根據本發明之一實施例提供了一種測試方法，適用一測試裝置。上述測試方法之步驟包括：當上述測試裝置之一第一連接介面耦接至一待測裝置時，藉由上述第一連接介面傳送一第一指令至上述待測裝置，以從上述待測裝置取得一電源資訊；儲存上述電源資訊於一儲存裝置中，其中上述儲存裝置外接至上述待測裝置之一處理器；當一外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時時，藉由上述第二連接介面傳送上述電源資訊至上述外部控制系統；以及藉由上述第二連接介面從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。

根據本發明之一實施例提供了一種測試方法，適用一測試裝置。上述測試方法之步驟包括：當上述測試裝置之一第一連接介面耦接至一待測裝置時，藉由上述第一連接介面傳送一第一指令至上述待測裝置，以從上述待 測裝置取得一電源資訊；儲存上述電源資訊於一儲存裝置中，其中上述儲存裝置包含於上述待測裝置之一處理器中；當一外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時時，藉由上述第二連接介面傳送上述電源資訊至上述外部控制系統；以及藉由上述第二連接介面從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。

關於本發明其他附加的特徵與優點，此領域之熟習技術人士，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可根據本案實施方法中所揭露之裝置以及方法，做些許的更動與潤飾而得到。

10‧‧‧測試系統

11‧‧‧待測裝置

12‧‧‧控制板

13‧‧‧電源

14‧‧‧負載

100‧‧‧測試裝置

110‧‧‧第一連接介面

120‧‧‧第一控制器

130‧‧‧處理器

140‧‧‧第二控制器

150‧‧‧第二連接介面

160‧‧‧儲存裝置

200‧‧‧待測裝置

300‧‧‧外部控制系統

3000‧‧‧流程圖

S1‧‧‧第一指令

S2‧‧‧電源資訊

S3‧‧‧第一串列指令

S4‧‧‧測試指令

S5‧‧‧電源要求

S6‧‧‧第二串列指令

第1圖係顯示根據先前技術所述之測試系統10之方塊圖。

第2A圖係顯示根據本發明之一實施例所述之測試裝置100之方塊圖。

第2B圖係顯示根據本發明之另一實施例所述之測試裝置100之方塊圖。

第2C圖係顯示根據本發明之另一實施例所述之測試裝置100之方塊圖。

第2D圖係顯示根據本發明之另一實施例所述之測試裝置100之方塊圖。

第3圖係根據本發明一實施例所述之測試方法之流程 圖3000。

本章節所敘述的是實施本發明之最佳方式，目的在於說明本發明之精神而非用以限定本發明之保護範圍，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

第2A圖係顯示根據本發明之一實施例所述之測試裝置100之方塊圖。如第2A圖所示，測試裝置100中包括了一第一連接介面110、一第一控制器120、一處理器130、一第二控制器140、一第二連接介面150以及一儲存裝置160。注意地是，在第1圖中之方塊圖，僅係為了方便說明本發明之實施例，但本發明並不以此為限。電子裝置100亦可包括其他元件。

根據本發明一實施例，測試裝置100可係一控制電路板(control board)。根據本發明一實施例，待測裝置200可係具有USB Type-C電源傳輸(Power Delivery，PD)功能之一電子裝置。當測試待測裝置200時，測試裝置100可視為一接電(Sink)端，且待測裝置200可視為一供電(Source)端。

根據本發明一實施例，第一連接介面110可係一USB Type-C連接介面，且其耦接於第一控制器120。當欲測試一待測裝置200時，第一連接介面110會耦接至一待測裝置200。測試裝置100可藉由USB Type-C連接介面 之一配置通道(Configuration Channel CC)腳位，即可和待測裝置200進行溝通(例如：發送指令至待測裝置200)，並從待測裝置200取得待測裝置200之電源資訊。根據本發明之實施例，待測裝置200亦具有對應第一連接介面110之一連接介面，透過此連接介面待測裝置200可與測試裝置100之第一連接介面110相連接，以進行測試。

根據本發明一實施例，第二連接介面150係一串列通訊介面，例如：一RS-232介面、一RS-485介面以及一I2C介面，但本發明並不以此為限。第二連接介面150耦接於第二控制器140以及一外部控制系統300。根據本發明一實施例，外部控制系統300可係一電腦裝置，且具有對應第二連接介面150之一連接介面，透過此連接介面外部控制系統300可與測試裝置100之第二連接介面150相連接。根據本發明之實施例，外部控制系統300會發送指令至第二連接介面150，以進行待測裝置200之測試。

根據本發明一實施例，第一控制器120耦接至第一連接介面110和處理器130。第一控制器120用以將第一連接介面110和處理器130進行通訊之資料或信號轉換成第一連接介面110和處理器130彼此適用之通訊格式。也就是說，第一控制器120會將第一連接介面110適用之一第一通訊格式轉換為處理器130適用之一第二通訊格式，以及將處理器130適用之第二通訊格式轉換為第一連接介面110適用之第一通訊格式。

根據本發明一實施例，第二控制器140耦接至 第二連接介面150和處理器130。第二控制器140用以將第二連接介面150和處理器130進行通訊之資料或信號轉換成第二連接介面150和處理器130彼此適用之通訊格式。也就是說，第二控制器140會將處理器130適用之第二通訊格式轉換為第二連接介面150適用之一第三通訊格式，以及將第二連接介面150適用之第三通訊格式轉換為處理器130適用之第二通訊格式。

根據本發明另一實施例，如第2B和2D圖所示，測試裝置100不包括第二控制器140。也就是說，在此實施例中，處理器130可具有第二控制器140之功能。因此，處理器130可直接將第二連接介面150和處理器130進行通訊之資料或信號轉換成第二連接介面150和處理器130彼此適用之通訊格式。也就是說，處理器130會將處理器130適用之第二通訊格式轉換為第二連接介面150適用之一第三通訊格式，以及將第二連接介面150適用之第三通訊格式轉換為處理器130適用之第二通訊格式。

根據本發明一實施例，儲存裝置160耦接於處理器130。根據本發明之實施例，儲存裝置160可用以儲存待測裝置200之電源資訊於一查找表(Look-Up Table，LUT)。儲存裝置160可係一揮發性記憶體(volatile memory)(例如：隨機存取記憶體(Random Access Memory,RAM))，或一揮發性記憶體(volatile memory)(例如：快閃記憶體(flash memory)、唯讀記憶體(Read Only Memory,ROM))、一硬碟或上述記憶裝置之組合。根據本發明另一 實施例，如第2C和2D圖所示，儲存裝置160亦可整合於處理器130內。

根據本發明一實施例，處理器130可係一微控制器(Microcontroller Unit，MCU)。根據本發明一實施例，處理器130和第一控制器120以及第二控制器140可整合於一晶片中。

根據本發明一實施例，當要進行待測裝置200之測試時，第一連接介面110會耦接至待測裝置200。當第一連接介面110耦接至待測裝置200時，處理器130會藉由第一連接介面110發送一第一指令S1至待測裝置200，以從待測裝置200取得一電源資訊S2。根據本發明一實施例，電源資訊S2可包括待測裝置200可提供之複數組電壓和電流值，例如：6組，但本發明並不以此為限。當取得待測裝置200之電源資訊S2後，處理器130會將待測裝置200之電源資訊S2儲存在儲存裝置160之查找表中。

根據本發明一實施例，當第二連接介面150耦接至外部控制系統300，且外部控制系統300發送一第一串列指令S3要求測試裝置100提供待測裝置200之電源資訊S2時，處理器130會根據從第二連接介面150所接收到之第一串列指令S3，藉由第二連接介面150將儲存在儲存裝置160之查找表之待測裝置200之電源資訊S2提供給外部控制系統300。

當外部控制系統300取得待測裝置200之電源資訊S2後，控制系統300即可得知待測裝置200可提供之 複數組電壓和電流值。接著，外部控制系統300即可發送一測試指令S4至第二連接介面150，以告知測試裝置100目前要進行待測裝置200那一組電壓和電流之電力傳輸測試。當接收到來自外部控制系統300之測試指令S4時，處理器130會根據測試指令S4，藉由第一連接介面110發送一電源要求(Request)S5至待測裝置200，以指示待測裝置200提供對應電源要求S5之一電源(即外部控制系統300所要進行測試之該組電壓和電流值)。舉例來說，當控制系統300根據電源資訊S2得知待測裝置200可提供6組電壓和電流值時，若控制系統300欲測試待測裝置200之第2組電壓和電流值之電力傳輸測試時，控制系統300會發送測試指令S4至第二連接介面150，以告知測試裝置100目前要進行待測裝置200之第2組電壓和電流值之電力傳輸測試。當接收到來自外部控制系統300之測試指令S4時，處理器130會根據測試指令S4，藉由第一連接介面110發送一電源要求S5至待測裝置200，以指示待測裝置200提供第2組電壓和電流值來進行測試。

當待測裝置200接收到電源要求S5後，若待測裝置200具有符合電源要求S5所要求之電源(即外部控制系統300所要進行測試之該組電壓和電流值)，待測裝置200就會發送一Accept信號回應測試裝置100，以告知測試裝置100其可提供電源要求S5所要求之電源。當待測裝置200準備好提供電源要求S5所要求之電源時(即待測裝置200已切換到所要進行測試之該組電壓和電流值)，待測 裝置200會再發送一PS_RDY之信號至測試裝置100，以告知測試裝置100其已準備好提供電源要求S5所要求之電源。

當測試裝置100接收到Accept信號和PS_RDY之信號後，測試裝置100會將Accept信號和PS_RDY之信號記錄在查找表中。當外部控制系統300發送一第二串列指令S6訊問測試裝置100其所要求要進行測試之該組電壓和電流值之準備狀態時，測試裝置100即可告知外部控制系統300，待測裝置200已準備好外部控制系統300所要求要進行測試之該組電壓和電流值，並告知待測裝置200可提供外部控制系統300所要求要進行測試之該組電壓和電流值提供給外部控制系統300，以進行待測裝置200提供該組電壓和電流值時之電力傳輸測試。

第3圖係根據本發明一實施例所述之測試方法之流程圖3000。此測試方法適用於測試裝置100。在步驟S3010，當測試裝置之一第一連接介面耦接至一待測裝置時，藉由第一連接介面傳送一第一指令至待測裝置，以從待測裝置取得一電源資訊。在步驟S3020，取得待測裝置之電源資訊後，將電源資訊儲存於一儲存裝置中。在步驟S3030，當測試裝置之一第二連接介面耦接至一外部控制系統，且外部控制系統發送一串列指令要求待測裝置之電源資訊時，藉由第二連接介面傳送電源資訊至外部控制系統。在步驟S3040，藉由第二連接介面從外部控制系統接收一測試指令，以測試待測裝置。根據本發明一實施例，電源資訊會儲存 於上述儲存裝置之一查找表中。

根據本發明一實施例，儲存裝置外接至測試裝置之一處理器。根據本發明另一實施例，儲存裝置包含於測試裝置之一處理器中。

根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包括，藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為測試裝置之一處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由一第二控制器將處理器適用之第二通訊格式轉換為第二連接介面適用之一第三通訊格式。根據本發明另一實施例，上述測試方法之步驟更包括，藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為測試裝置之一處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由處理器將處理器適用之第二通訊格式轉換為第二連接介面適用之一第三通訊格式。

根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包括，外部控制系統根據電源資訊，發送測試指令至第二連接介面。根據本發明一實施例，上述測試方法之步驟更包括，測試裝置根據測試指令，藉由第一連接介面發送一電源要求至待測裝置，以指示待測裝置提供對應電源要求之一電源。

藉由本案實施例所提出之測試方法，將可藉由一測試裝置，透過串列通訊(serial communication)來測試待測裝置所支援之不同組電壓和電流值，以達成USB Type-C PD之自動化測試。

本發明之說明書所揭露之方法和演算法之步驟，可直接透過執行一處理器直接應用在硬體以及軟體模組或兩者之結合上。一軟體模組(包括執行指令和相關數據)和其它數據可儲存在數據記憶體中，像是隨機存取記憶體(RAM)、快閃記憶體(flash memory)、唯讀記憶體(ROM)、可抹除可規化唯讀記憶體(EPROM)、電子可抹除可規劃唯讀記憶體(EEPROM)、暫存器、硬碟、可攜式應碟、光碟唯讀記憶體(CD-ROM)、DVD或在此領域習之技術中任何其它電腦可讀取之儲存媒體格式。一儲存媒體可耦接至一機器裝置，舉例來說，像是電腦/處理器(為了說明之方便，在本說明書以處理器來表示)，上述處理器可透過來讀取資訊(像是程式碼)，以及寫入資訊至儲存媒體。一儲存媒體可整合一處理器。一特殊應用積體電路(ASIC)包括處理器和儲存媒體。一用戶設備則包括一特殊應用積體電路。換句話說，處理器和儲存媒體以不直接連接用戶設備的方式，包含於用戶設備中。此外，在一些實施例中，任何適合電腦程序之產品包括可讀取之儲存媒體，其中可讀取之儲存媒體包括和一或多個所揭露實施例相關之程式碼。在一些實施例中，電腦程序之產品可包括封裝材料。

本說明書中所提到的「一實施例」或「實施例」，表示與實施例有關之所述特定的特徵、結構、或特性是包含根據本發明的至少一實施例中，但並不表示它們存在於每一個實施例中。因此，在本說明書中不同地方出現的「在一實施例中」或「在實施例中」詞組並不必然表示本發明 的相同實施例。

以上段落使用多種層面描述。顯然的，本文的教示可以多種方式實現，而在範例中揭露之任何特定架構或功能僅為一代表性之狀況。根據本文之教示，任何熟知此技藝之人士應理解在本文揭露之各層面可獨立實作或兩種以上之層面可以合併實作。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧測試裝置

110‧‧‧第一連接介面

120‧‧‧第一控制器

130‧‧‧處理器

140‧‧‧第二控制器

150‧‧‧第二連接介面

160‧‧‧儲存裝置

200‧‧‧待測裝置

300‧‧‧外部控制系統

S1‧‧‧第一指令

S2‧‧‧電源資訊

S3‧‧‧第一串列指令

S4‧‧‧測試指令

S5‧‧‧電源要求

S6‧‧‧第二串列指令

Claims (34)

1. 一種測試裝置，包括：一第一連接介面，耦接至一待測裝置，以及根據一第一指令，從上述待測裝置取得一電源資訊；一儲存裝置，儲存上述電源資訊；一處理器，耦接至上述第一連接介面和上述儲存裝置，當上述第一連接介面耦接至上述待測裝置時，傳送上述第一指令至上述第一連接介面，以及從上述第一連接介面接收上述電源資訊，並將上述電源資訊儲存在上述儲存裝置中；以及；一第二連接介面，耦接至一外部控制系統，傳送上述電源資訊至上述外部控制系統，以及從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。
2. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括：一第一控制器，耦接上述第一連接介面和上述處理器，用以將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及一第二控制器，耦接上述第二連接介面和上述處理器，用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
3. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，更包括：一第一控制器，耦接上述第一連接介面和上述處理器，用以將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式。
4. 如申請專利範圍第3項所述之測試裝置，其中上述處理器更用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
5. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中上述第一連接介面係一USB Type-C連接介面，以及上述第二連接介面係一串列通訊介面。
6. 如申請專利範圍第5項所述之測試裝置，其中上述第一連接介面係藉由上述USB Type-C連接介面之一配置通道(CC)腳位從上述待測裝置取得上述電源資訊。
7. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中上述處理器根據上述測試指令，藉由上述第一連接介面發送一電源要求至上述待測裝置，以指示上述待測裝置提供對應上述電源要求之一電源。
8. 如申請專利範圍第7項所述之測試裝置，其中當上述外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時，上述處理器藉由上述第二連接介面提供上述電源資訊至上述外部控制系統，且上述外部控制系統根據上述電源資訊發送上述測試指令至上述第二連接介面。
9. 如申請專利範圍第1項所述之測試裝置，其中上述儲存裝置儲存一查找表，且上述電源資訊儲存於上述查找表中。
10. 一種測試裝置，包括：一第一連接介面，耦接至一待測裝置，以及根據一第一指 令，從上述待測裝置取得一電源資訊；一處理器，耦接至上述第一連接介面且包含一儲存裝置，當上述第一連接介面耦接至上述待測裝置時，傳送上述第一指令至上述第一連接介面，以及從上述第一連接介面接收上述電源資訊，並將上述電源資訊儲存在上述儲存裝置中；以及；一第二連接介面，耦接至一外部控制系統，傳送上述電源資訊至上述外部控制系統，以及從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。
11. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，更包括：一第一控制器，耦接上述第一連接介面和上述處理器，用以將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及一第二控制器，耦接上述第二連接介面和上述處理器，用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
12. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，更包括：一第一控制器，耦接上述第一連接介面和上述處理器，用以將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式。
13. 如申請專利範圍第12項所述之測試裝置，其中上述處理器更用以將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
14. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，其中上述第 一連接介面係一USB Type-C連接介面，以及上述第二連接介面係一串列通訊介面。
15. 如申請專利範圍第14項所述之測試裝置，其中上述第一連接介面係藉由上述USB Type-C連接介面之一配置通道(CC)腳位從上述待測裝置取得上述電源資訊。
16. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，其中上述處理器根據上述測試指令，藉由上述第一連接介面發送一電源要求至上述待測裝置，以指示上述待測裝置提供對應上述電源要求之一電源。
17. 如申請專利範圍第16項所述之測試裝置，其中當上述外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時，上述處理器藉由上述第二連接介面提供上述電源資訊至上述外部控制系統，且上述外部控制系統根據上述電源資訊發送上述測試指令至上述第二連接介面。
18. 如申請專利範圍第10項所述之測試裝置，其中上述儲存裝置儲存一查找表，且上述電源資訊儲存於上述查找表中。
19. 一種測試方法，適用一測試裝置，包括：當上述測試裝置之一第一連接介面耦接至一待測裝置時，藉由上述第一連接介面傳送一第一指令至上述待測裝置，以從上述待測裝置取得一電源資訊；儲存上述電源資訊於一儲存裝置中，其中上述儲存裝置外接至上述測試裝置之一處理器； 當一外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時，藉由上述測試裝置之一第二連接介面傳送上述電源資訊至上述外部控制系統；以及藉由上述第二連接介面從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。
20. 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，更包括：藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由一第二控制器將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
21. 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，更包括：藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由上述處理器將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
22. 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，其中上述第一連接介面係一USB Type-C連接介面，以及上述第二連接介面係一串列通訊介面。
23. 如申請專利範圍第22項所述之測試方法，更包括：藉由上述USB Type-C連接介面之一配置通道(CC)腳位從上述待測裝置取得上述電源資訊。
24. 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，更包括：根據上述測試指令，藉由上述第一連接介面發送一電源要求至上述待測裝置，以指示上述待測裝置提供對應上述 電源要求之一電源。
25. 如申請專利範圍第24項所述之測試方法，更包括：上述外部控制系統根據上述電源資訊發送上述測試指令至上述第二連接介面。
26. 如申請專利範圍第19項所述之測試方法，更包括：將上述電源資訊儲存於上述儲存裝置之一查找表中。
27. 一種測試方法，適用一測試裝置，包括：當上述測試裝置之一第一連接介面耦接至一待測裝置時，藉由上述第一連接介面傳送一第一指令至上述待測裝置，以從上述待測裝置取得一電源資訊；儲存上述電源資訊於一儲存裝置中，其中上述儲存裝置包含於上述測試裝置之一處理器中；當一外部控制系統發送一串列指令要求上述待測裝置之上述電源資訊時，藉由上述測試裝置之一第二連接介面傳送上述電源資訊至上述外部控制系統；以及藉由上述第二連接介面從上述外部控制系統接收一測試指令，以測試上述待測裝置。
28. 如申請專利範圍第27項所述之測試方法，更包括：藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由一第二控制器將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
29. 如申請專利範圍第27項所述之測試方法，更包括：藉由一第一控制器將上述第一連接介面適用之一第一通訊 格式轉換為上述處理器適用之一第二通訊格式；以及藉由上述處理器將上述處理器適用之上述第二通訊格式轉換為上述第二連接介面適用之一第三通訊格式。
30. 如申請專利範圍第27項所述之測試方法，其中上述第一連接介面係一USB Type-C連接介面，以及上述第二連接介面係一串列通訊介面。
31. 如申請專利範圍第30項所述之測試方法，更包括：藉由上述USB Type-C連接介面之一配置通道(CC)腳位從上述待測裝置取得上述電源資訊。
32. 如申請專利範圍第27項所述之測試方法，更包括：根據上述測試指令，藉由上述第一連接介面發送一電源要求至上述待測裝置，以指示上述待測裝置提供對應上述電源要求之一電源。
33. 如申請專利範圍第32項所述之測試方法，更包括：上述外部控制系統根據上述電源資訊發送上述測試指令至上述第二連接介面。
34. 如申請專利範圍第27項所述之測試方法，更包括：將上述電源資訊儲存於上述儲存裝置之一查找表中。