CN107525980A - 测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测试装置和方法。上述测试装置包括第一连接接口、储存装置、处理器以及第二连接接口。第一连接接口耦接至待测装置，以及根据第一指令，从待测装置取得电源信息。储存装置用以储存上述电源信息。处理器耦接至第一连接接口，当第一连接接口耦接至待测装置时，传送第一指令至第一连接接口，以及从第一连接接口接收电源信息，并将电源信息储存在储存装置中。第二连接接口耦接至外部控制系统，传送电源信息至外部控制系统，以及从外部控制系统接收测试指令，以测试待测装置。本发明可以通过串行的通信(serial communication)来测试待测装置所支援的不同组电压和电流值，以实现USB Type‑C PD的自动化测试。

Description

测试装置和方法

技术领域

本发明说明书主要涉及USB Type-C电源传输(Power Delivery，PD)的一测试技术，特别涉及通过一测试装置，通过串行的通信(serial communication)实现USB Type-CPD的自动化测试的测试技术。

背景技术

随着科技的进步，通用序列总线(Universal Serial Bus，USB)的规格也不断改良和更新。USB 3.0推广小组于2013年12月宣布进行USB Type-C连接器的开发，并于2014年完成新规格制定。Type-C连接器是以USB 3.0与USB 2.0技术做为基础进行开发。因此，在传输性能上，Type-C连接器亦可支援USB 3.1高速传输(10Gbit/s)需求，且Type-C连接器的尺寸也与USB3.0、USB2.0技术所规范的连接器尺寸相容。此外，USB Type-C连接器采用了上下排同时存在端子的型式，因此，Type-C连接接口可支援正/反插拔，不再有插拔方向性的问题。

此外，USB Type-C连接器亦可搭配USB电力传输(USB-PD)技术一起使用。USB-PD技术是由USB开发者论坛(USB Implementers Forum，USB-IF)所制定的USB电力传输(充电/供电)标准。USB PD在架构上定义了供电端(Source)与受电端(Sink)。USB PD标准制定了不同组态(Profiles)，以提供不同电压和电流来满足不同电子装置的需求。

图1是显示根据现有技术所述的测试系统10的方块图。如图1所示，在测试待测装置11时，会将待测装置11连接一控制板12、一电源13以及一负载14。然而，在目前USB Type-C PD(即待测装置11)的测试，往往需要手动去操作控制板12以切换不同测试设定(即待测装置11所能提供给负载14的不同组的电压和电流)，才能测试USB Type-C PD所支援的不同组的电压和电流。因此，如何实现USB Type-C PD更有效率的自动化测试，将是个重要的课题。

发明内容

有鉴于上述现有技术的问题，本发明提供了通过一测试装置，通过串行的通信(serial communication)实现USB Type-C PD的自动化测试的测试方法。

根据本发明的一实施例提供了一种测试装置。上述测试装置包括一第一连接接口、一储存装置、一处理器以及一第二连接接口。第一连接接口耦接至一待测装置，以及根据一第一指令，从上述待测装置取得一电源信息。储存装置用以储存上述电源信息。处理器耦接至上述第一连接接口，当上述第一连接接口耦接至上述待测装置时，传送上述第一指令至上述第一连接接口，以及从上述第一连接接口接收上述电源信息，并将上述电源信息储存在上述储存装置中。第二连接接口耦接至一外部控制系统，传送上述电源信息至上述外部控制系统，以及从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

在本发明一些实施例，上述测试装置还包括一第一控制器和一第二控制器。第一控制器耦接上述第一连接接口和上述处理器，用以将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式。第二控制器耦接上述第二连接接口和上述处理器，用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。在本发明一些实施例，上述测试装置仅包括一第一控制器，且上述处理器更用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

在本发明一些实施例，上述处理器根据上述测试指令，通过上述第一连接接口发送一电源要求至上述待测装置，以指示上述待测装置提供对应上述电源要求的一电源。在本发明一些实施例，当上述外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，上述处理器通过上述第二连接接口提供上述电源信息至上述外部控制系统，且上述外部控制系统根据上述电源信息发送上述测试指令至上述第二连接接口。在本发明一些实施例，上述储存装置储存一查找表，且上述电源信息储存于上述查找表。

根据本发明的一实施例提供了一种测试装置。上述测试装置包括一第一连接接口、一处理器以及一第二连接接口。第一连接接口耦接至一待测装置，以及根据一第一指令，从上述待测装置取得一电源信息。处理器耦接至上述第一连接接口且包含一储存装置，当上述第一连接接口耦接至上述待测装置时，传送上述第一指令至上述第一连接接口，以及从上述第一连接接口接收上述电源信息，并将上述电源信息储存在上述储存装置中。第二连接接口耦接至一外部控制系统，传送上述电源信息至上述外部控制系统，以及从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置

根据本发明的一实施例提供了一种测试方法，适用一测试装置。上述测试方法的步骤包括：当上述测试装置的一第一连接接口耦接至一待测装置时，通过上述第一连接接口传送一第一指令至上述待测装置，以从上述待测装置取得一电源信息；储存上述电源信息于一储存装置中，其中上述储存装置外接至上述待测装置的一处理器；当一外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时时，通过上述第二连接接口传送上述电源信息至上述外部控制系统；以及通过上述第二连接接口从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

根据本发明的一实施例提供了一种测试方法，适用一测试装置。上述测试方法的步骤包括：当上述测试装置的一第一连接接口耦接至一待测装置时，通过上述第一连接接口传送一第一指令至上述待测装置，以从上述待测装置取得一电源信息；储存上述电源信息于一储存装置中，其中上述储存装置包含于上述待测装置的一处理器中；当一外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，通过上述第二连接接口传送上述电源信息至上述外部控制系统；以及通过上述第二连接接口从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

本发明可以通过串行的通信(serial communication)来测试待测装置所支援的不同组电压和电流值，以实现USB Type-C PD的自动化测试。

关于本发明其他附加的特征与优点，此领域的熟习技术人士，在不脱离本发明的精神和范围内，当可根据本案实施方法中所公开的装置以及方法，做些许的变动与润饰而得到。

附图说明

图1是显示根据现有技术所述的测试系统10的方块图。

图2A是显示根据本发明的一实施例所述的测试装置100的方块图。

图2B是显示根据本发明的另一实施例所述的测试装置100的方块图。

图2C是显示根据本发明的另一实施例所述的测试装置100的方块图。

图2D是显示根据本发明的另一实施例所述的测试装置100的方块图。

图3是根据本发明一实施例所述的测试方法的流程图3000。

其中，附图标记说明如下：

10 测试系统

11 待测装置

12 控制板

13 电源

14 负载

100 测试装置

110 第一连接接口

120 第一控制器

130 处理器

140 第二控制器

150 第二连接接口

160 储存装置

200 待测装置

300 外部控制系统

3000 流程图

S1 第一指令

S2 电源信息

S3 第一串行的指令

S4 测试指令

S5 电源要求

S6 第二串行的指令

具体实施方式

本章节所叙述的是实施本发明的最佳方式，目的在于说明本发明的精神而非用以限定本发明的保护范围，本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定者为准。

图2A是显示根据本发明的一实施例所述的测试装置100的方块图。如图2A所示，测试装置100中包括了一第一连接接口110、一第一控制器120、一处理器130、一第二控制器140、一第二连接接口150以及一储存装置160。注意地是，在图1中的方块图，仅是为了方便说明本发明的实施例，但本发明并不以此为限。电子装置100亦可包括其他元件。

根据本发明一实施例，测试装置100可是一控制电路板(control board)。根据本发明一实施例，待测装置200可是具有USB Type-C电源传输(Power Delivery，PD)功能的一电子装置。当测试待测装置200时，测试装置100可视为一接电(Sink)端，且待测装置200可视为一供电(Source)端。

根据本发明一实施例，第一连接接口110可是一USB Type-C连接接口，且其耦接于第一控制器120。当欲测试一待测装置200时，第一连接接口110会耦接至一待测装置200。测试装置100可通过USB Type-C连接接口的一配置通道(Configuration Channel CC)脚位，即可和待测装置200进行沟通(例如：发送指令至待测装置200)，并从待测装置200取得待测装置200的电源信息。根据本发明的实施例，待测装置200亦具有对应第一连接接口110的一连接接口，通过此连接接口待测装置200可与测试装置100的第一连接接口110相连接，以进行测试。

根据本发明一实施例，第二连接接口150是一串行的通信接口，例如：一RS-232接口、一RS-485接口以及一I2C接口，但本发明并不以此为限。第二连接接口150耦接于第二控制器140以及一外部控制系统300。根据本发明一实施例，外部控制系统300可是一电脑装置，且具有对应第二连接接口150的一连接接口，通过此连接接口外部控制系统300可与测试装置100的第二连接接口150相连接。根据本发明的实施例，外部控制系统300会发送指令至第二连接接口150，以进行待测装置200的测试。

根据本发明一实施例，第一控制器120耦接至第一连接接口110和处理器130。第一控制器120用以将第一连接接口110和处理器130进行通信的数据或信号转换成第一连接接口110和处理器130彼此适用的通信格式。也就是说，第一控制器120会将第一连接接口110适用的一第一通信格式转换为处理器130适用的一第二通信格式，以及将处理器130适用的第二通信格式转换为第一连接接口110适用的第一通信格式。

根据本发明一实施例，第二控制器140耦接至第二连接接口150和处理器130。第二控制器140用以将第二连接接口150和处理器130进行通信的数据或信号转换成第二连接接口150和处理器130彼此适用的通信格式。也就是说，第二控制器140会将处理器130适用的第二通信格式转换为第二连接接口150适用的一第三通信格式，以及将第二连接接口150适用的第三通信格式转换为处理器130适用的第二通信格式。

根据本发明另一实施例，如图2B和2D所示，测试装置100不包括第二控制器140。也就是说，在此实施例中，处理器130可具有第二控制器140的功能。因此，处理器130可直接将第二连接接口150和处理器130进行通信的数据或信号转换成第二连接接口150和处理器130彼此适用的通信格式。也就是说，处理器130会将处理器130适用的第二通信格式转换为第二连接接口150适用的一第三通信格式，以及将第二连接接口150适用的第三通信格式转换为处理器130适用的第二通信格式。

根据本发明一实施例，储存装置160耦接于处理器130。根据本发明的实施例，储存装置160可用以储存待测装置200的电源信息于一查找表(Look-Up Table，LUT)。储存装置160可是一挥发性存储器(volatile memory)(例如：随机存取存储器(Random AccessMemory,RAM))，或一挥发性存储器(volatile memory)(例如：快闪存储器(flash memory)、只读存储器(Read Only Memory,ROM))、一硬盘或上述存储装置的组合。根据本发明另一实施例，如图2C和2D所示，储存装置160亦可整合于处理器130内。

根据本发明一实施例，处理器130可是一微控制器(Microcontroller Unit，MCU)。根据本发明一实施例，处理器130和第一控制器120以及第二控制器140可整合于一晶片中。

根据本发明一实施例，当要进行待测装置200的测试时，第一连接接口110会耦接至待测装置200。当第一连接接口110耦接至待测装置200时，处理器130会通过第一连接接口110发送一第一指令S1至待测装置200，以从待测装置200取得一电源信息S2。根据本发明一实施例，电源信息S2可包括待测装置200可提供的多组电压和电流值，例如：6组，但本发明并不以此为限。当取得待测装置200的电源信息S2后，处理器130会将待测装置200的电源信息S2储存在储存装置160的查找表中。

根据本发明一实施例，当第二连接接口150耦接至外部控制系统300，且外部控制系统300发送一第一串行的指令S3要求测试装置100提供待测装置200的电源信息S2时，处理器130会根据从第二连接接口150所接收到的第一串行的指令S3，通过第二连接接口150将储存在储存装置160的查找表的待测装置200的电源信息S2提供给外部控制系统300。

当外部控制系统300取得待测装置200的电源信息S2后，控制系统300即可得知待测装置200可提供的多组电压和电流值。接着，外部控制系统300即可发送一测试指令S4至第二连接接口150，以告知测试装置100目前要进行待测装置200那一组电压和电流的电力传输测试。当接收到来自外部控制系统300的测试指令S4时，处理器130会根据测试指令S4，通过第一连接接口110发送一电源要求(Request)S5至待测装置200，以指示待测装置200提供对应电源要求S5的一电源(即外部控制系统300所要进行测试的该组电压和电流值)。举例来说，当控制系统300根据电源信息S2得知待测装置200可提供6组电压和电流值时，若控制系统300欲测试待测装置200的第2组电压和电流值的电力传输测试时，控制系统300会发送测试指令S4至第二连接接口150，以告知测试装置100目前要进行待测装置200的第2组电压和电流值的电力传输测试。当接收到来自外部控制系统300的测试指令S4时，处理器130会根据测试指令S4，通过第一连接接口110发送一电源要求S5至待测装置200，以指示待测装置200提供第2组电压和电流值来进行测试。

当待测装置200接收到电源要求S5后，若待测装置200具有符合电源要求S5所要求的电源(即外部控制系统300所要进行测试的该组电压和电流值)，待测装置200就会发送一Accept信号回送检验装置100，以告知测试装置100其可提供电源要求S5所要求的电源。当待测装置200准备好提供电源要求S5所要求的电源时(即待测装置200已切换到所要进行测试的该组电压和电流值)，待测装置200会再发送一PS_RDY的信号至测试装置100，以告知测试装置100其已准备好提供电源要求S5所要求的电源。

当测试装置100接收到Accept信号和PS_RDY的信号后，测试装置100会将Accept信号和PS_RDY的信号记录在查找表中。当外部控制系统300发送一第二串行的指令S6讯问测试装置100其所要求要进行测试的该组电压和电流值的准备状态时，测试装置100即可告知外部控制系统300，待测装置200已准备好外部控制系统300所要求要进行测试的该组电压和电流值，并告知待测装置200可提供外部控制系统300所要求要进行测试的该组电压和电流值提供给外部控制系统300，以进行待测装置200提供该组电压和电流值时的电力传输测试。

图3是根据本发明一实施例所述的测试方法的流程图3000。此测试方法适用于测试装置100。在步骤S3010，当测试装置的一第一连接接口耦接至一待测装置时，通过第一连接接口传送一第一指令至待测装置，以从待测装置取得一电源信息。在步骤S3020，取得待测装置的电源信息后，将电源信息储存于一储存装置中。在步骤S3030，当测试装置的一第二连接接口耦接至一外部控制系统，且外部控制系统发送一串行的指令要求待测装置的电源信息时，通过第二连接接口传送电源信息至外部控制系统。在步骤S3040，通过第二连接接口从外部控制系统接收一测试指令，以测试待测装置。根据本发明一实施例，电源信息会储存于上述储存装置的一查找表中。

根据本发明一实施例，储存装置外接至待测装置的一处理器。根据本发明另一实施例，储存装置包含于待测装置的一处理器中。

根据本发明一实施例，上述测试方法的步骤还包括，通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为测试装置的一处理器适用的一第二通信格式；以及通过一第二控制器将处理器适用的第二通信格式转换为第二连接接口适用的一第三通信格式。根据本发明另一实施例，上述测试方法的步骤还包括，通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为测试装置的一处理器适用的一第二通信格式；以及通过处理器将处理器适用的第二通信格式转换为第二连接接口适用的一第三通信格式。

根据本发明一实施例，上述测试方法的步骤还包括，外部控制系统根据电源信息，发送测试指令至第二连接接口。根据本发明一实施例，上述测试方法的步骤还包括，测试装置根据测试指令，通过第一连接接口发送一电源要求至待测装置，以指示待测装置提供对应电源要求的一电源。

通过本案实施例所提出的测试方法，将可通过一测试装置，通过串行的通信(serial communication)来测试待测装置所支援的不同组电压和电流值，以实现USBType-C PD的自动化测试。

本发明的说明书所公开的方法和演算法的步骤，可直接通过执行一处理器直接应用在硬件以及软件模块或两者的结合上。一软件模块(包括执行指令和相关数据)和其它数据可储存在数据存储器中，像是随机存取存储器(RAM)、快闪存储器(flash memory)、只读存储器(ROM)、可抹除可规化只读存储器(EPROM)、电子可抹除可规划只读存储器(EEPROM)、暂存器、硬盘、便携式硬盘、光盘只读存储器(CD-ROM)、DVD或在此领域习的技术中任何其它电脑可读取的储存媒体格式。一储存媒体可耦接至一机器装置，举例来说，像是电脑/处理器(为了的对其进行说明方便，在本说明书以处理器来表示)，上述处理器可通过来读取信息(像是程序码)，以及写入信息至储存媒体。一储存媒体可整合一处理器。一特殊应用集成电路(ASIC)包括处理器和储存媒体。一用户设备则包括一特殊应用集成电路。换句话说，处理器和储存媒体以不直接连接用户设备的方式，包含于用户设备中。此外，在一些实施例中，任何适合电脑程序的产品包括可读取的储存媒体，其中可读取的储存媒体包括和一或多个所公开实施例相关的程序码。在一些实施例中，电脑程序的产品可包括封装材料。

本说明书中所提到的「一实施例」或「实施例」，表示与实施例有关的所述特定的特征、结构、或特性是包含根据本发明的至少一实施例中，但并不表示它们存在于每一个实施例中。因此，在本说明书中不同地方出现的「在一实施例中」或「在实施例中」词组并不必然表示本发明的相同实施例。

以上段落使用多种层面描述。显然的，本文的教示可以多种方式实现，而在范例中公开的任何特定架构或功能仅为一代表性的状况。根据本文的教示，任何熟知此技艺的人士应理解在本文公开的各层面可独立实作或两种以上的层面可以合并实作。

虽然本发明已以较佳实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的变动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定者为准。

Claims (34)

1.一种测试装置，包括：

一第一连接接口，耦接至一待测装置，以及根据一第一指令，从上述待测装置取得一电源信息；

一储存装置，储存上述电源信息；

一处理器，耦接至上述第一连接接口和上述储存装置，当上述第一连接接口耦接至上述待测装置时，传送上述第一指令至上述第一连接接口，以及从上述第一连接接口接收上述电源信息，并将上述电源信息储存在上述储存装置中；以及；

一第二连接接口，耦接至一外部控制系统，传送上述电源信息至上述外部控制系统，以及从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

2.如权利要求1所述的测试装置，还包括：

一第一控制器，耦接上述第一连接接口和上述处理器，用以将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式；以及

一第二控制器，耦接上述第二连接接口和上述处理器，用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

3.如权利要求1所述的测试装置，还包括：

一第一控制器，耦接上述第一连接接口和上述处理器，用以将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式。

4.如权利要求3所述的测试装置，其中上述处理器更用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

5.如权利要求1所述的测试装置，其中上述第一连接接口是一USBType-C连接接口，以及上述第二连接接口是一串行的通信接口。

6.如权利要求5所述的测试装置，其中上述第一连接接口是通过上述USB Type-C连接接口的一配置通道脚位从上述待测装置取得上述电源信息。

7.如权利要求1所述的测试装置，其中上述处理器根据上述测试指令，通过上述第一连接接口发送一电源要求至上述待测装置，以指示上述待测装置提供对应上述电源要求的一电源。

8.如权利要求7所述的测试装置，其中当上述外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，上述处理器通过上述第二连接接口提供上述电源信息至上述外部控制系统，且上述外部控制系统根据上述电源信息发送上述测试指令至上述第二连接接口。

9.如权利要求1所述的测试装置，其中上述储存装置储存一查找表，且上述电源信息储存于上述查找表中。

10.一种测试装置，包括：

一第一连接接口，耦接至一待测装置，以及根据一第一指令，从上述待测装置取得一电源信息；

一处理器，耦接至上述第一连接接口且包含一储存装置，当上述第一连接接口耦接至上述待测装置时，传送上述第一指令至上述第一连接接口，以及从上述第一连接接口接收上述电源信息，并将上述电源信息储存在上述储存装置中；以及；

一第二连接接口，耦接至一外部控制系统，传送上述电源信息至上述外部控制系统，以及从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

11.如权利要求10所述的测试装置，还包括：

一第一控制器，耦接上述第一连接接口和上述处理器，用以将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式；以及

一第二控制器，耦接上述第二连接接口和上述处理器，用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

12.如权利要求10所述的测试装置，还包括：

一第一控制器，耦接上述第一连接接口和上述处理器，用以将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式。

13.如权利要求12所述的测试装置，其中上述处理器更用以将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

14.如权利要求10所述的测试装置，其中上述第一连接接口是一USBType-C连接接口，以及上述第二连接接口是一串行的通信接口。

15.如权利要求14所述的测试装置，其中上述第一连接接口是通过上述USB Type-C连接接口的一配置通道脚位从上述待测装置取得上述电源信息。

16.如权利要求10所述的测试装置，其中上述处理器根据上述测试指令，通过上述第一连接接口发送一电源要求至上述待测装置，以指示上述待测装置提供对应上述电源要求的一电源。

17.如权利要求16所述的测试装置，其中当上述外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，上述处理器通过上述第二连接接口提供上述电源信息至上述外部控制系统，且上述外部控制系统根据上述电源信息发送上述测试指令至上述第二连接接口。

18.如权利要求10所述的测试装置，其中上述储存装置储存一查找表，且上述电源信息储存于上述查找表中。

19.一种测试方法，适用一测试装置，包括：

当上述测试装置的一第一连接接口耦接至一待测装置时，通过上述第一连接接口传送一第一指令至上述待测装置，以从上述待测装置取得一电源信息；

储存上述电源信息于一储存装置中，其中上述储存装置外接至上述待测装置的一处理器；

当一外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，通过上述测试装置的第二连接接口传送上述电源信息至上述外部控制系统；以及

通过上述第二连接接口从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

20.如权利要求19所述的测试方法，还包括：

通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式；以及

通过一第二控制器将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

21.如权利要求19所述的测试方法，还包括：

通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述测试装置的一处理器适用的一第二通信格式；以及

通过上述处理器将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

22.如权利要求19所述的测试方法，其中上述第一连接接口是一USB Type-C连接接口，以及上述第二连接接口是一串行的通信接口。

23.如权利要求22所述的测试方法，还包括：

通过上述USB Type-C连接接口的一配置通道(CC)脚位从上述待测装置取得上述电源信息。

24.如权利要求19所述的测试方法，还包括：

根据上述测试指令，通过上述第一连接接口发送一电源要求至上述待测装置，以指示上述待测装置提供对应上述电源要求的一电源。

25.如权利要求24所述的测试方法，还包括：

上述外部控制系统根据上述电源信息发送上述测试指令至上述第二连接接口。

26.如权利要求19所述的测试方法，还包括：

将上述电源信息储存于上述储存装置的一查找表中。

27.一种测试方法，适用一测试装置，包括：

当上述测试装置的一第一连接接口耦接至一待测装置时，通过上述第一连接接口传送一第一指令至上述待测装置，以从上述待测装置取得一电源信息；

储存上述电源信息于一储存装置中，其中上述储存装置包含于上述待测装置的一处理器中；

当一外部控制系统发送一串行的指令要求上述待测装置的上述电源信息时，通过上述第二连接接口传送上述电源信息至上述外部控制系统；以及

通过上述测试装置的第二连接接口从上述外部控制系统接收一测试指令，以测试上述待测装置。

28.如权利要求27所述的测试方法，还包括：

通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述处理器适用的一第二通信格式；以及

通过一第二控制器将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

29.如权利要求27所述的测试方法，还包括：

通过一第一控制器将上述第一连接接口适用的一第一通信格式转换为上述测试装置的一处理器适用的一第二通信格式；以及

通过上述处理器将上述处理器适用的上述第二通信格式转换为上述第二连接接口适用的一第三通信格式。

30.如权利要求27所述的测试方法，其中上述第一连接接口是一USB Type-C连接接口，以及上述第二连接接口是一串行的通信接口。

31.如权利要求30所述的测试方法，还包括：

通过上述USB Type-C连接接口的一配置通道脚位从上述待测装置取得上述电源信息。

32.如权利要求27所述的测试方法，还包括：

根据上述测试指令，通过上述第一连接接口发送一电源要求至上述待测装置，以指示上述待测装置提供对应上述电源要求的一电源。

33.如权利要求32所述的测试方法，还包括：

上述外部控制系统根据上述电源信息发送上述测试指令至上述第二连接接口。

34.如权利要求27所述的测试方法，还包括：

将上述电源信息储存于上述储存装置的一查找表中。