JP6374056B2 - 試験デバイスおよび方法 - Google Patents

Description

本出願は、２０１６年６月２２日に出願された台湾特許出願番号第１０５１１９５１７号についての優先権を主張するものであり、これらの全ては引用によって本願に援用される。

本発明は、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）Ｔｙｐｅ−Ｃパワーデリバリー（ＰＤ）の試験技術に関し、特に、試験デバイスによってシリアル通信を介してＵＳＢ Ｔｙｐｅ−ＣパワーデリバリーＰＤを自動的に試験する試験技術に関するものである。

技術の進歩に伴って、ＵＳＢの規格も改良されてアップグレードされ続けている。ＵＳＢ３．０プロモーターグループは、２０１３年１２月にＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタの開発が開始され、２０１４年に新規格が制定されたことを発表した。Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタは、ＵＳＢ３．０とＵＳＢ２．０の技術に基づいて開発された。従って、伝送性能において、Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタは、ＵＳＢ３．１高速伝送（１０Ｇｂｉｔ／ｓ）に対応することができ、Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタのサイズは、ＵＳＢ３．０とＵＳＢ２．０の規格に規定されたコネクタサイズに対応している。また、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタの上部側と底部側の両側に端子が配置されているため、Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタ（インターフェース）は、リバーシブルなプラグの向きを支援することができる。即ち、使用者は、プラグの向きを気にせずにＴｙｐｅ−Ｃコネクタを用いることができる。

また、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃコネクタは、ＵＳＢ−ＰＤ技術とともに用いられることができる。ＵＳＢ−ＰＤ技術は、ＵＳＢインプリメンターズフォーラム（ＵＳＢ−ＩＦ）で制定された電力伝送（充電／放電）標準である。ＵＳＢ−ＰＤの構造がソースおよびシンクを含むことは、ＵＳＢ−ＰＤ標準に定義される。異なるプロファイルがＵＳＢ−ＰＤ標準に制定されて異なる電圧および電流を提供し、異なる電子機器の要件を満たす。

図１は、本発明の従来技術に基づいた試験システム１０のブロック図である。図１に示されるように、被試験デバイス（ＤＵＴ）１１が試験されるとき、ＤＵＴ１１は、制御基板（ｃｏｎｔｒｏｌ ｂｏａｒｄ）１２、電源１３、および負荷１４に接続される。しかしながら、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ ＰＤデバイス（即ち、ＤＵＴ１１）の現在の試験では、使用者は、手動で制御基板１２を動作させて、異なる試験設定（即ち、ＤＵＴ１１が負荷１４に提供できる異なるグループの電圧および電流）を切り替えて、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ ＰＤデバイスに対応する異なるグループの電圧および電流を試験しなければならない。従って、自動的、且つ効果的にＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃデバイスを試験するかが重要な課題となっている。

上述の問題を克服するため、シリアル通信を介してＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ ＰＤを自動的に試験する試験デバイス及び方法を提供する。

本発明の実施形態は、試験デバイスを提供する。試験デバイスは、第１の接続インターフェース、ストレージデバイス、プロセッサ、および第２の接続インターフェースを含む。第１の接続インターフェースは、被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続され、第１の命令に従って、ＤＵＴから電力情報を得る。ストレージデバイスは、電力情報を記憶する。プロセッサは、第１の接続インターフェースおよびストレージデバイスに接続され、第１の接続インターフェースがＤＵＴに接続されると、プロセッサは、第１の命令を第１の接続インターフェースに送信する。また、プロセッサは、第１の接続インターフェースから電力情報を受信し、電力情報をストレージデバイスに記憶する。第２の接続インターフェースは、外部制御システムに接続され、電力情報を外部制御システムに送信し、ＤＵＴを試験するための試験命令を外部制御システムから受信する。

本発明のいくつかの実施形態では、試験デバイスは、第１のコントローラおよび第２のコントローラを更に含む。第１のコントローラは、第１の接続インターフェースおよびプロセッサに接続され、第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットをプロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換する。第２のコントローラは、第２の接続インターフェースおよびプロセッサに接続され、プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換する。本発明のいくつかの実施形態では、試験デバイスは、第１のコントローラのみを含み、プロセッサは、プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換する。

本発明のいくつかの実施形態では、プロセッサは、試験命令に従って、第１の接続インターフェースを介して、電力要求をＤＵＴに送信し、ＤＵＴが電力要求に対応する電力を提供する必要があることをＤＵＴに知らせる。本発明のいくつかの実施形態では、外部制御システムがシリアル命令を送信して、ＤＵＴの電力情報を要求すると、試験デバイスは、第２の接続インターフェースを介して電力情報を外部制御システムに送信し、外部制御システムは、前記電力情報に従って、試験命令を第２の接続インターフェースに送信する。本発明のいくつかの実施形態では、ストレージデバイスは、ルックアップテーブルを記憶し、電力情報はルックアップテーブルに記憶される。

本発明の実施形態は、試験デバイスを提供する。試験デバイスは、第１の接続インターフェース、プロセッサ、および第２の接続インターフェースを含む。第１の接続インターフェースは、被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続され、第１の命令に従って、ＤＵＴから電力情報を得る。プロセッサは、第１の接続インターフェースに接続され、ストレージデバイスを含む。第１の接続インターフェースがＤＵＴに接続されると、プロセッサは、第１の命令を第１の接続インターフェースに送信し、第１の接続インターフェースから電力情報を受信し、電力情報をストレージデバイスに記憶する。第２の接続インターフェースは、外部制御システムに接続され、電力情報を外部制御システムに送信し、外部制御システムからＤＵＴを試験するための試験命令を受信する。

本発明の実施形態は、試験デバイスに用いられる試験方法を提供する。試験方法は、試験デバイスの第１の接続インターフェースが被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されると、第１の接続インターフェースを介して、第１の命令をＤＵＴに送信し、ＤＵＴから電力情報を得るステップ、電力情報を試験デバイスのプロセッサに外部接続されたストレージデバイスに記憶させるステップ、外部制御システムがシリアル命令を送信して、ＤＵＴの電力情報を要求すると、試験デバイスの第２の接続インターフェースを介して電力情報を外部制御システムに送信するステップ、および第２の接続インターフェースを介して外部制御システムから試験命令を受信し、ＤＵＴを試験するステップを含む。

本発明の実施形態は、試験デバイスに用いられる試験方法を提供する。試験方法は、試験デバイスの第１の接続インターフェースが被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されると、第１の接続インターフェースを介して、第１の命令をＤＵＴに送信し、ＤＵＴから電力情報を得るステップ、電力情報を試験デバイスのプロセッサに含まれたストレージデバイスに記憶させるステップ、外部制御システムがシリアル命令を送信して、ＤＵＴの電力情報を要求すると、試験デバイスの第２の接続インターフェースを介して電力情報を外部制御システムに送信するステップ、および第２の接続インターフェースを介して外部制御システムから試験命令を受信し、ＤＵＴを試験するステップを含む。

本発明の他の態様および特徴は、試験デバイスおよび方法の特定の実施形態の以下の説明を検討することにより、当業者にはより明らかになるであろう。

添付の図面とともに以下の本発明の様々な実施形態の詳細な説明を検討することで、本発明をより完全に理解できる。

本発明の従来技術に基づいた試験システム１０のブロック図である。 本発明の実施形態に基づいた試験デバイス１００のブロック図である。 本発明のもう１つの実施形態に基づいた試験デバイス１００のブロック図である。 本発明のもう１つの実施形態に基づいた試験デバイス１００のブロック図である。 本発明のもう１つの実施形態に基づいた試験デバイス１００のブロック図である。 本発明の実施形態に基づいた試験方法を示しているフローチャート３０００である。

以下の説明は、本発明を実施するベストモードが開示されている。この説明は、本発明の一般原理を例示する目的のためのもので本発明を限定するものではない。本発明の範囲は、添付の請求の範囲を参考にして決定される。

図２Ａは、本発明の実施形態に基づいた試験デバイス１００のブロック図である。図２Ａに示されるように、試験デバイス１００は、第１の接続インターフェース１１０、第１のコントローラ１２０、プロセッサ１３０、第２のコントローラ１４０、第２の接続インターフェース１５０、およびストレージデバイス１６０を含む。留意すべきことは、本発明の意図を明確にするために、図２Ａは、本発明に関連する構成要素のみが示された簡易化したブロック図を示している。しかしながら、本発明は、図２Ａに示されたことに制限されてはならない。試験デバイス１００は、その他の構成要素を含んでもよい。

本発明の実施形態では、試験デバイス１００は、制御基板である。本発明の実施形態では、被試験デバイス（ＤＵＴ）２００は、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃパワーデリバリー（ＰＤ）機能に対応する電子デバイスであることができる。ＤＵＴ２００が試験されるとき、試験デバイス１００は、シンクとされ、ＤＵＴ２００は、ソースとされる。

本発明の実施形態では、第１の接続インターフェース１１０は、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ接続インターフェースであることができ、第１のコントローラ１２０に接続される。ＤＵＴ２００が試験されるとき、第１の接続インターフェース１１０は、ＤＵＴ２００に接続される。試験デバイス１００は、ＤＵＴ２００と通信し（例えば、ＤＵＴ２００に命令を送信する）、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ接続インターフェース（即ち、第１の接続インターフェース１１０）のコンフィギュレーションチャネルピン（Ｃｏｎｆｉｇｕｒａｔｉｏｎ Ｃｈａｎｎｅｌ ｐｉｎ; ＣＣ ｐｉｎ）を介してＤＵＴ２００からＤＵＴ２００の電力情報を得ることができる。本発明の実施形態では、ＤＵＴ２００は第1の接続インターフェース１１０に対応する接続インターフェースを更に含む。ＤＵＴ２００は、試験のための接続インターフェースを介して試験デバイス１００の第１の接続インターフェース１１０に接続されることができる。

本発明の実施形態では、第２の接続インターフェース１５０は、例えばＲＳ−２３２インターフェース、ＲＳ−４８５インターフェース、およびＩ２Ｃインターフェースなどのシリアル通信インターフェースであるが、本発明は、これらのインターフェースに制限されてはならない。第２の接続インターフェース１５０は、第２のコントローラ１４０および外部制御システム３００に接続される。本発明の実施形態では、外部制御システム３００は、コンピュータ装置であることができ、第２の接続インターフェース１５０に対応した接続インターフェースを含むことができる。外部制御システム３００は、この接続インターフェースを介して、試験装置１００の第２の接続インターフェース１５０に接続されることができる。本発明の実施形態では、外部制御システム３００は、ＤＵＴ２００の試験を行うための命令を第２の接続インターフェース１５０に送ることができる。

本発明の実施形態では、第１のコントローラ１２０は、第１の接続インターフェース１１０およびプロセッサ１３０に接続される。第１のコントローラ１２０は、第１の接続インターフェース１１０とプロセッサ１３０との間で通信されるデータまたは信号を第１の接続インターフェース１１０およびプロセッサ１３０に適用可能な通信フォーマットに変換するように構成される。即ち、第１のコントローラ１２０は、第１の接続インターフェース１１０に適用可能な第１の通信フォーマットをプロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットに変換し、プロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットを第１の接続インターフェース１１０に適用可能な第１の通信フォーマットに変換する。

本発明の実施形態では、第２のコントローラ１４０は、第２の接続インターフェース１５０およびプロセッサ１３０に接続される。第２のコントローラ１４０は、第２の接続インターフェース１５０とプロセッサ１３０との間で通信されるデータまたは信号を、第２の接続インターフェース１５０およびプロセッサ１３０に適用可能な通信フォーマットに変換するように構成される。即ち、第２のコントローラ１４０は、プロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェース１５０に適用可能な第３の通信フォーマットに変換し、第２の接続インターフェース１５０に適用可能な第３の通信フォーマットをプロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットに変換する。

本発明のもう１つの実施形態では、図２Ｂと図２Ｄに示されるように、試験デバイス１００は、第２のコントローラ１４０を含まない。即ち、この実施形態では、プロセッサ１３０は、第２のコントローラ１４０の機能を含むことができる。従って、プロセッサ１３０は、第２の接続インターフェース１５０とプロセッサ１３０との間で通信されるデータまたは信号を第２の接続インターフェース１５０およびプロセッサ１３０に適用可能な通信フォーマットに直接変換することができる。即ち、プロセッサ１３０は、プロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェース１５０に適用可能な第３の通信フォーマットに変換し、第２の接続インターフェース１５０に適用可能な第３の通信フォーマットをプロセッサ１３０に適用可能な第２の通信フォーマットに変換することができる。

本発明の実施形態では、ストレージデバイス１６０は、プロセッサ１３０に接続される。本発明の実施形態では、ストレージデバイス１６０は、ルックアップテーブル（ＬＵＴ）にＤＵＴ２００の電力情報を記憶するように構成されることができる。ストレージデバイス１６０は、揮発性メモリ（例えば、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ））、または不揮発性メモリ（例えば、フラッシュメモリ、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ））、ハードディスク、または上述のメモリデバイスの組み合わせであることができる。本発明のもう１つの実施形態では、図２Ｃと図２Ｄに示されるように、ストレージデバイス１６０は、プロセッサ１３０に統合されることができる。

本発明の実施形態では、プロセッサ１３０は、マイクロコントローラユニット（ＭＣＵ）であることができる。本発明の実施形態では、プロセッサ１３０、第１のコントローラ１２０、および第２のコントローラ１４０は、チップに統合される。

本発明の実施形態では、ＤＵＴ２００が試験されるとき、第１の接続インターフェース１１０は、ＤＵＴ２００に接続される。第１の接続インターフェース１１０がＤＵＴ２００に接続されると、プロセッサ１３０は、第１の接続インターフェース１１０を介して、第１の命令Ｓ１をＤＵＴ２００に送信し、ＤＵＴ２００から第１の接続インターフェース１１０を介して電力情報Ｓ２を得ることができる。本発明の実施形態では、電力情報Ｓ２は、ＤＵＴ２００が提供できる複数のグループの電圧および電流値（例えば、６つのグループを含むことができるが本発明はこれに制限されてはならない）を含むことができる。プロセッサ１３０がＤＵＴ２００の電力情報Ｓ２を得た後、プロセッサ１３０は、ＤＵＴ２００の電力情報Ｓ２をストレージデバイス１６０のルックアップテーブルに記憶させることができる。

本発明の実施形態では、第２の接続インターフェース１５０が外部制御システム３００に接続され、且つ外部制御システム３００が第１のシリアル命令Ｓ３を試験デバイス１００に送信して、試験デバイス１００にＤＵＴ２００の電力情報Ｓ２を提供するように要求すると、プロセッサ１３０は、第２の接続インターフェース１５０から受けた第１のシリアル命令Ｓ３に従って、ストレージデバイス１６０のルックアップテーブルに記憶されたＤＵＴ２００の電力情報Ｓ２を第２の接続インターフェース５０を介して、外部制御システム３００に提供することができる。

外部制御システム３００がＤＵＴ２００の電力情報Ｓ２を得た後、外部制御システム３００は、どのグループの電圧および電流値をＤＵＴ２００が提供できるかを知ることができる。次いで、外部制御システム３００は、試験命令Ｓ４を第２の接続インターフェース１５０に送信し、試験デバイス１００にＤＵＴ２００のどのグループの電圧および電流値のパワーデリバリーが試験されるかを知らせる。プロセッサ１３０が外部制御システム３００からの試験命令Ｓ４を受信すると、プロセッサ１３０は、試験命令Ｓ４に従って、第１の接続インターフェース１１０を介して、電力要求（要求信号）Ｓ５をＤＵＴ２００に送信し、ＤＵＴ２００が電力要求Ｓ５に対応する電力（即ち、外部制御システム３００が試験を行いたいグループの電圧および電流値）を提供する必要があることをＤＵＴ２００に知らせる。例えば、外部制御システム３００が電力情報Ｓ２に従って、ＤＵＴ２００が６つのグループの電圧および電流値を提供できると知ると、外部制御システム３００がＤＵＴ２００の第２のグループの電圧および電流値のパワーデリバリーを試験したい場合、外部制御システム３００は、試験命令Ｓ４を第２の接続インターフェース１５０に送信し、試験デバイス１００にＤＵＴ２００の第２のグループの電圧および電流値のパワーデリバリーが試験されることを知らせる。プロセッサ１３０が外部制御システム３００から試験命令Ｓ４を受信すると、プロセッサ１３０は、試験命令Ｓ４に従って、第１の接続インターフェース１１０を介して、電力要求Ｓ５をＤＵＴ２００に送信し、ＤＵＴ２００が第２のグループの電圧および電流値を提供する必要があることをＤＵＴ２００に知らせる。

ＤＵＴ２００が電力要求Ｓ５を受信したとき、ＤＵＴ２００が電力要求Ｓ５に対応する電力（即ち、外部制御システム３００が試験したいグループの電圧および電流値）を提供できる場合、ＤＵＴ２００は、Ａｃｃｅｐｔ信号を試験デバイス１００に送信し、電力要求Ｓ５に対応する電力を提供できることを試験デバイス１００に知らせる。ＤＵＴ２００が電力要求Ｓ５に対応する電力を準備したとき（即ち、ＤＵＴ２００が試験されるべきグループの電圧および電流値に切り替えられた）、ＤＵＴ２００は、ＰＳ＿ＲＤＹ信号を試験デバイス１００に送信し、電力要求Ｓ５に対応する電力を準備したことを試験デバイス１００に知らせる。

試験デバイス１００がＡｃｃｅｐｔ信号およびＰＳ＿ＲＤＹ信号を受信すると、試験デバイス１００は、ルックアップテーブルにＡｃｃｅｐｔ信号とＰＳ＿ＲＤＹ信号を記録することができる。外部制御システム３００が第２のシリアル命令Ｓ６を送信し、グループの電圧および電流値（即ち、外部制御システム３００が試験したいグループの電圧および電流値）の準備状態について試験デバイス１００に問い合わせると、試験デバイス１００は、外部制御システム３００が試験したいグループの電圧および電流値をＤＵＴ２００が準備したことを外部制御システム３００に知らせ、且つ外部制御システム３００が試験したいグループの電圧および電流値をＤＵＴ２００が外部制御システム３００に提供し、このＤＵＴ２００のグループの電圧および電力値のパワーデリバリーを試験する必要があることをＤＵＴ２００に知らせる。

図３は、本発明の実施形態に基づいた試験方法を示しているフローチャート３０００である。このテスト方法は、試験デバイス１００に用いられる。図３に示されるように、ステップＳ３０１０では、試験デバイスの第１の接続インターフェースがＤＵＴに接続されると、試験デバイスは、第１の接続インターフェースを介して、第１の命令をＤＵＴに送信し、ＤＵＴから電力情報を得る。ステップＳ３０２０では、電力情報は、試験デバイスが電力情報を得た後、ストレージデバイスに記憶される。ステップＳ３０３０では、試験デバイスの第２の接続インターフェースが外部接続システムに接続され、且つ外部制御システムがシリアル命令を送信して、ＤＵＴの電力情報を要求すると、試験デバイスは、第２の接続インターフェースを介して電力情報を外部制御システムに送信する。ステップＳ３０４０では、試験デバイスは、第２の接続インターフェースを介して外部制御システムから試験命令を受信し、ＤＵＴを試験する。本発明の実施形態では、電力情報は、ストレージデバイスのルックアップテーブルに記憶されることができる。

本発明の実施形態では、ストレージデバイスは、試験デバイスのプロセッサに外部接続される。本発明のもう１つの実施形態では、ストレージデバイスは、試験デバイスのプロセッサに含まれる。

実施形態では、試験方法は、第１のコントローラが第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを試験デバイスのプロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換するステップ、および第２のコントローラがプロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換するステップを更に含む。もう１つの実施形態では、試験方法は、第１のコントローラが第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを試験デバイスのプロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換するステップ、およびプロセッサがプロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットを第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換するステップを更に含む。

本発明の実施形態では、試験方法は、外部制御システムによって電力情報に従って試験命令を第２の接続インターフェースに送信するステップを更に含む。本発明の実施形態では、試験方法は、試験デバイスによって試験命令に従って第１の接続インターフェースを介して、電力要求をＤＵＴに送信し、ＤＵＴが電力要求に対応する電力を提供する必要があることをＤＵＴに知らせるステップを更に含む。

本発明の実施形態によって提供された試験方法に従って、試験デバイスに対応する異なるグループの電圧および電流値は、シリアル通信を介して試験デバイスによって試験され、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ ＰＤの自動試験を達成することができる。

ここで開示された態様と関連して述べられた方法のステップは、プロセッサによって実行されたハードウェアとソフトウェアモジュールに、またはその２つの組み合わせに直接用いられることができる。ソフトウェアモジュール（例えば、実行可能命令および関連データを含む）および他のデータは、データメモリ、例えば、ＲＡＭメモリ、フラッシュメモリ、ＲＯＭメモリ、ＥＰＲＯＭメモリ、ＥＥＰＲＯＭメモリ、レジスタ、ハードディスク、リムーバブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、または従来技術の任意の他のコンピュータ読み取り可能な形式の記憶媒体内に含まれることができる。サンプル記憶媒体は、例えば、コンピュータ／プロセッサ（ここでは説明を簡単にするために、「プロセッサ」と称する）などの機器に接続され、プロセッサが記憶媒体から情報（例えば、コード）を読み出し、且つ記憶媒体に情報を書き込むことができるようにする。サンプル記憶媒体は、プロセッサに統合されてもよい。プロセッサおよび記憶媒体はＡＳＩＣに含まれることができる。ＡＳＩＣは、ユーザー機器に含まれることができる。言い換えれば、プロセッサと記憶媒体は、個別部品としてユーザー機器に含まれることができる。また、いくつかの態様では、任意の適合するコンピュータプログラム製品は、本開示の１つ以上の態様に関連したコードを含むコンピュータ読み取り可能な媒体を含むことができる。いくつかの態様では、コンピュータソフトウェア製品は、パッケージング材料を含むことができる。

明示的に指定されていないが、本明細書中に述べられた方法の１つ以上のステップは、特定用途に必要な記憶、表示、および／または出力のステップを含むことができることに留意すべきである。言い換えれば、本方法に述べられる任意のデータ、記録、分野、および／または中間結果は、特定用途に必要な他の装置に記憶、表示、および／または出力されることができる。上述の内容は、本発明の実施形態に向けられているが、本発明の他の、および更なる実施形態がその基本的な範囲から逸脱することなく考案されることができる。ここに示された各種の実施形態、またはその部分は、更なる実施形態を構築するために組み合わせることができる。上述の説明では、本発明を実施するベストモードを開示している。この説明は、本発明の一般原理を例示する目的のものであり、本発明を限定するものではない。本発明の範囲は、添付の請求の範囲を参考にして決定される。

この開示の種々の態様は上記に記述されている。ここでの本発明の教示が種々様々の形式で具体化されてもよいこと、および、ここに開示されている任意の特定の構造、機能または両方は単に代表に過ぎないことは明らかである。ここでの教示に基づいて、当業者は、全てのここで開示された態様が他の態様と無関係に実行され、これらの態様が種々の方法で組み合わせられてもよいことを認識するべきである。

本発明は、実施例の方法を用いて、且つ実施形態の観点から記述されてきたが、本発明は開示された実施形態に限定されるものではないということを理解されたい。当業者は、本発明の精神と範囲から逸脱しない種々の修正及び変更を行い得る。よって、本発明の範囲は、以下の請求項及びその等価のものによって規定されて保護される。

１００ 試験デバイス
１１０ 第１の接続インターフェース
１２０ 第１のコントローラ
１３０ プロセッサ
１４０ 第２のコントローラ
１５０ 第２の接続インターフェース
１６０ ストレージデバイス
２００ 被試験デバイス（ＤＵＴ）
３００ 外部制御システム
３０００ フローチャート
Ｓ１ 第１の命令
Ｓ２ 電力情報
Ｓ３ 第１のシリアル命令
Ｓ４ 試験命令
Ｓ５ 電力要求
Ｓ６ 第２のシリアル命令

Claims (10)

1. 被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続され、第１の命令に従って、前記ＤＵＴから前記ＤＵＴが供給する電力に関する電力情報を得る第１の接続インターフェース、
   前記電力情報を記憶するストレージデバイス、
   前記第１の接続インターフェースおよびストレージデバイスに接続され、前記第１の接続インターフェースが前記ＤＵＴに接続されると、前記第１の命令を前記第１の接続インターフェースに送信し、前記第１の接続インターフェースから前記電力情報を受信し、前記電力情報を前記ストレージデバイスに記憶するプロセッサ、および
   外部制御システムに接続され、前記電力情報を前記外部制御システムに送信し、前記外部制御システムから前記ＤＵＴを試験するための試験命令を受信する第２の接続インターフェースを含む試験デバイス。
2. 被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続され、第１の命令に従って、前記ＤＵＴから前記ＤＵＴが供給する電力に関する電力情報を得る第１の接続インターフェース、
   前記第１の接続インターフェースに接続され、ストレージデバイスを含み、前記第１の接続インターフェースが前記ＤＵＴに接続されると、前記第１の命令を前記第１の接続インターフェースに送信し、前記第１の接続インターフェースから前記電力情報を受信し、前記電力情報を前記ストレージデバイスに記憶するプロセッサ、および
   外部制御システムに接続され、前記電力情報を前記外部制御システムに送信し、前記外部制御システムから前記ＤＵＴを試験するための試験命令を受信する第２の接続インターフェースを含む試験デバイス。
3. 前記第１の接続インターフェースおよび前記プロセッサに接続され、前記第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを前記プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換する第１のコントローラ、および
   前記第２の接続インターフェースおよび前記プロセッサに接続され、前記プロセッサに適用可能な前記第２の通信フォーマットを前記第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換する第２のコントローラを更に含む請求項１または２に記載の試験デバイス。
4. 前記第１の接続インターフェースおよび前記プロセッサに接続され、前記第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを前記プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換する第１のコントローラを更に含む請求項１または２に記載の試験デバイス。
5. 前記プロセッサは、前記プロセッサに適用可能な前記第２の通信フォーマットを前記第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換する請求項４に記載の試験デバイス。
6. 試験デバイスに用いられ、
   前記試験デバイスの第１の接続インターフェースが被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されると、前記第１の接続インターフェースを介して、第１の命令を前記ＤＵＴに送信し、前記ＤＵＴから前記ＤＵＴが供給する電力に関する電力情報を得るステップ、
   前記電力情報を前記試験デバイスのプロセッサに外部接続されたストレージデバイスに記憶させるステップ、
   外部制御システムがシリアル命令を送信して、前記ＤＵＴの前記電力情報を要求すると、前記試験デバイスの第２の接続インターフェースを介して前記電力情報を前記外部制御システムに送信するステップ、および
   前記第２の接続インターフェースを介して前記外部制御システムから試験命令を受信し、前記ＤＵＴを試験するステップを含む試験方法。
7. 試験デバイスに用いられ、
   前記試験デバイスの第１の接続インターフェースが被試験デバイス（ＤＵＴ）に接続されると、前記第１の接続インターフェースを介して、第１の命令を前記ＤＵＴに送信し、前記ＤＵＴから前記ＤＵＴが供給する電力に関する電力情報を得るステップ、
   前記電力情報を前記試験デバイスのプロセッサに含まれたストレージデバイスに記憶させるステップ、
   外部制御システムがシリアル命令を送信して、前記ＤＵＴの前記電力情報を要求すると、前記試験デバイスの第２の接続インターフェースを介して前記電力情報を前記外部制御システムに送信するステップ、および
   前記第２の接続インターフェースを介して前記外部制御システムから試験命令を受信し、前記ＤＵＴを試験するステップを含む試験方法。
   
   
8. 第１のコントローラによって、前記第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを前記プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換するステップ、および
   第２のコントローラによって、前記プロセッサに適用可能な前記第２の通信フォーマットを前記第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換するステップを更に含む請求項６または７に記載の試験方法。
9. 第１のコントローラによって、前記第１の接続インターフェースに適用可能な第１の通信フォーマットを前記プロセッサに適用可能な第２の通信フォーマットに変換するステップ、および
   プロセッサによって、前記プロセッサに適用可能な前記第２の通信フォーマットを前記第２の接続インターフェースに適用可能な第３の通信フォーマットに変換するステップを更に含む請求項６または７に記載の試験方法。
10. 前記第１の接続インターフェースは、ＵＳＢ Ｔｙｐｅ−Ｃ接続インターフェースであり、前記第２の接続インターフェースは、シリアル通信インターフェースである請求項６または７に記載の試験方法。

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