TWI463149B - 檢測裝置 - Google Patents

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TWI463149B TW099109803A TW99109803A TWI463149B TW I463149 B TWI463149 B TW I463149B TW 099109803 A TW099109803 A TW 099109803A TW 99109803 A TW99109803 A TW 99109803A TW I463149 B TWI463149 B TW I463149B
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes

Description

檢測裝置
本發明涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種用於檢測可攜式電子裝置上的指示燈的檢測裝置。
可攜式電子裝置上通常裝設有多個指示燈，如電源指示燈、按鍵背光燈等。為了保證可攜式電子裝置的使用效果，於可攜式電子裝置的組裝過程中，需對該可攜式電子裝置上的指示燈的質量進行檢測。現有的檢測方法一般僅是通過作業員肉眼逐個判斷，該種方法不僅效率較低，而且在長期的檢測過程中，很可能因長時間工作疲勞或重複性操作而造成誤判，導致檢測準確率較低，最終影響可攜式電子裝置的品質及效果。
鑒於前述狀況，有必要提供一種檢測效率較高的可攜式電子裝置指示燈檢測裝置。
一種檢測裝置，用以檢測可攜式電子裝置上的指示燈是否合格，所述檢測裝置包括一主機及與所述主機電連接的測試治具，所述主機與可攜式電子裝置電連接，並對可攜式電子裝置上的指示燈及測試治具供電，所述測試治具包括一測試電路，所述測試電路包括若干對應指示燈設置的感光元件及負載，所述每一感光元件的阻值對應指示燈的亮度相應發生變化，所述每一負載上的電壓 值對應感光元件的阻值發生相應的變化，該測試電路將其測得的對應指示燈的參數傳送至主機，由所述主機根據所述參數判斷對應的指示燈是否合格。
與習知技術相比，本發明的檢測裝置利用一具有可對應燈的亮度而自動發生相應變化的參數的測試治具來同時對多個指示燈進行檢測，並利用一主機根據檢測到的測試治具的參數來判斷所述指示燈是否合格，效率較高。
100‧‧‧檢測裝置
200‧‧‧可攜式電子裝置
10‧‧‧電路板
30‧‧‧指示燈
50‧‧‧測試治具
51‧‧‧遮光罩
511‧‧‧容置槽
53‧‧‧測試電路
531‧‧‧感光元件
533‧‧‧負載
535‧‧‧測量晶片
70‧‧‧主機
71‧‧‧核心控制模組
圖1為本發明較佳實施方式檢測裝置的功能框圖。
圖2為圖1所示檢測裝置的局部示意圖。
圖3為圖1所示檢測裝置的局部電路圖。
請參閱圖1，本發明的檢測裝置100用以對行動電話等可攜式電子裝置的指示燈的質量進行檢測。被該檢測裝置100檢測的每一可攜式電子裝置200包括一電路板10及與該電路板10電連接的若干指示燈30。所述檢測裝置100包括一測試治具50及一主機70。所述電路板10及測試治具50均與所述主機70電連接。
所述電路板10可為現有的電路板，其用以於該可攜式電子裝置200的各組件之間建立電性連接。所述指示燈30設置於電路板10上與可攜式電子裝置上需要照明的部件(如螢幕、按鍵等)對應的位置，該指示燈30與所述電路板10電連接，並可通過該電路板10與CPU等控制元件(圖未示)建立連接，從而於控制元件的控制下發出光線。於本實施例中，該指示燈30均為LED(light-emitting diode)燈。
請一併參閱圖2，測試治具50包括一遮光罩51及一裝設於遮光罩51內部的測試電路53，所述遮光罩51裝設於電路板10上，所述測試電路53與主機70電性連接。
所述遮光罩51呈蜂窩狀結構，其尺寸與電路板10相匹配。該遮光罩51一側表面對應所述指示燈30開設有若干容置槽511，每一容置槽511均可收容一對應的指示燈30於其內。該測試治具50裝設於電路板10上時，所述容置槽511的開口均可被電路板10密封，而將收容於該容置槽511內的指示燈30相隔離，以確保每一指示燈30發出的光線不會與其他指示燈30發出的光線相混雜。
請一併參閱圖3，所述測試電路53包括分別對應指示燈30設置的若干感光元件531、若干負載533及一測量晶片535。所述感光元件531可為一光敏電阻，其在不同強度的光的照射下阻值會發生相應的變化，從而可用於感測指示燈30的發光強度。所述每一感光元件531對應一指示燈30設置，其固定於容置槽511內部。
所述每一負載533均為定值電阻。所述每一負載533與一感光元件531相串聯成一串連支路，並且該若干負載533及感光元件531形成的串聯支路相併聯形成一併聯迴路。所述每一負載533均與測量晶片535電連接。該測量晶片535相對兩端分別端與所述併聯迴路及主機70電連接，該測量晶片535用以測量每一負載533上的電壓，並將測得的數據傳送至主機70。
所述主機70可通過其上的Universal Serial Bus(USB)介面等(圖未示)對所述電路板10及測試治具50提供測試電源。該主機70包 括一核心控制模組71。該核心控制模組71可控制該主機70對所述電路板10的供電，從而控制與該電路板10電連接的若干指示燈30的亮與灭。該核心控制模組71與所述測量晶片535電連接，其可儲存測量晶片535測得的電壓值，並可預設一合格範圍。所述合格範圍為根據指示燈30處於合格的亮度範圍內的工作狀態下時，對應負載533上測得的電壓值範圍。該核心控制模組71分別將所述每一指示燈30亮時，測量晶片535測得對應的負載533的電壓值與所述合格範圍進行比較，以判斷出每一待測的指示燈30的亮度是否達到標準。
使用該可攜式電子裝置檢測裝置100對電路板10上的指示燈30進行檢測時，首先，將所述電路板10通過傳輸線與主機70電性連接，使所述主機70可以在核心控制模組71的控制下對所述電路板10及其上的指示燈30供電或停止對所述電路板10及指示燈30供電。其次，裝設所述測試治具50於電路板10上，使遮光罩51罩設於電路板10上，每一指示燈30均收容於一對應的容置槽511內。同時利用電路板10將每一容置槽511的開口封閉，確保每一指示燈30發出的光線不會與其他指示燈30發出的光線相混雜。再者，將所述測試治具50電性連接至所述主機70，使該核心控制模組71的一端與所述測量晶片535電連接，其另一端則與由感光元件531及負載533形成的併聯迴路電連接。然後，根據指示燈30處於合格亮度範圍時，將對應測得負載533上的電壓值範圍設置為合格範圍。最後，啟動所述檢測裝置100對指示燈30進行檢測：電路板10上的每一指示燈30由主機70獲得測試電源而發亮，該每一指示燈30對應的感光元件531在指示燈30的照射作用下阻值發生變化。由於每一容置槽511的開口是封閉的，故此時每一感光元件531可 以較為準確地感測與其收容於同一容置槽511內部的指示燈30的發光強度，而不會受到其他指示燈30發出的光線的干擾。測量晶片535檢測每一負載533的電壓值，並將其傳送併存儲於所述核心控制模組71，然後核心控制模組71將由測量晶片535檢測到的電壓值與預設的合格範圍進行比較，若檢測到的電壓值在合格範圍內，則說明該指示燈30的亮度合格，而若檢測到的電壓值不在合格範圍內，則說明該指示燈30亮度不合格。
所述檢測裝置100，其裝設一對應指示燈30的亮度阻值相應發生變化的感光元件531，然後通過測量晶片535測量與感光元件531相串聯的負載533上的電壓，並通過該電壓與預設的合格範圍內來判斷相應的指示燈30是否合格，而無須肉眼判斷，準確率較高。該檢測裝置100可同時對多個指示燈30進行檢測，效率較高。
另外，本領域技術人員還可於本發明前述公開之範圍及精神內做其他形式及細節上之各種修改、添加及替換。當然，這些依據本發明精神所做之各種修改、添加及替換等變化，均應包含於本發明所要求保護之範圍之內。
100‧‧‧檢測裝置
200‧‧‧可攜式電子裝置
10‧‧‧電路板
30‧‧‧指示燈
50‧‧‧測試治具
53‧‧‧測試電路
70‧‧‧主機
71‧‧‧核心控制模組

Claims (7)

  1. 一種檢測裝置，用以檢測可攜式電子裝置上的指示燈是否合格，其改良在於：所述檢測裝置包括一主機及與所述主機電連接的測試治具，所述主機與可攜式電子裝置電連接，並對可攜式電子裝置上的指示燈及測試治具供電，所述測試治具包括一測試電路，所述測試電路包括若干對應指示燈設置的感光元件及負載，所述每一感光元件的阻值對應指示燈的亮度相應發生變化，所述每一負載上的電壓值對應感光元件的阻值發生相應的變化，該測試電路將所測得的對應指示燈的參數傳送至主機，由所述主機根據所述參數判斷對應的指示燈是否合格。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中所述主機包括一核心控制模組，所述核心控制模組與測試電路電性連接，該核心控制模組判斷所述指示燈是否合格。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中所述核心控制模組根據指示燈的檢測標準預設一合格範圍，若測得的參數在合格範圍內，則對應的指示燈合格；若測得的參數不在合格範圍內，則對應的指示燈不合格。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中所述核心控制模組根據指示燈處於合格亮度範圍內時，對應測得負載上的電壓值範圍預設為上述合格範圍。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中所述測試電路還包括一測量晶片，所述測量晶片與每一負載及核心控制模組均電連接，該測量晶片測量每一負載上的電壓值並傳送至核心控制模組。
  6. 如申請專利範圍第3項所述之檢測裝置，其中所述測試治具還包括一遮光罩，測試電路裝設於遮光罩內，所述指示燈相互隔離的收容於遮光罩內 。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置，其中所述可攜式電子裝置還包括一電路板，所述指示燈裝設於電路板上，所述遮光罩包括若干對應指示燈設置的容置槽，該遮光罩罩設於電路板上，將所述指示燈收容於對應的容置槽內，所述負載裝設於容置槽內，電路板密封所述容置槽。
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