TWI426247B - 光源測量方法 - Google Patents

Description

光源測量方法

本發明涉及光學測量，特別係一種光源測量方法。

發光二極體(LED)係一種將電能轉化為光能的固體發光器件，因其具有壽命長、體積小、耐震性好、節電、高效、回應時間快、驅動電壓低及環保等優點，而在指示、顯示、裝飾、照明等諸多領域有著廣泛的應用。

然而現在LED在裝入顯示裝置或照明裝置內時，往往不需要獲得LED所有的參數，只需要測量其發散角的大小、在一定光程中照射出的光斑大小即可。然而如此簡單的參數測量卻往往一樣需要採用光譜儀、積分球等昂貴的設備以及複雜的測量過程。這種測量較難適應工業化測量過程中低成本、快速、方便測量的需求。

有鑒於此，有必要提供一種低成本、快速，且測量方便的光源測量方法。

一種光源測量方法，其用於測量至少一個光源，所述光源測量方法包括以下步驟：提供一圖板，所述圖板上預繪有至少一個測量圖案，所述測量圖案包括中心點及複數個線條，所述複數個線條以中心點向四周排布；用一個光源對應照射所述圖板上的一個測量圖案；利用可以感測所述光源發射的光的拍攝裝置拍攝被所述光源照射的測量圖案；在拍攝的圖像中，根據光照射在測量圖案中所佔據的區域及對應的線條，獲得光源照射的區域的範圍。

本發明提供的光源測量方法無需昂貴的設備及複雜的操作，只需參考所述測量圖案，就可以簡單、快速的獲得光源照射的區域的大小及發散角。

下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。

請參見圖1及圖2，本發明第一實施方式提供的一種光源測量方法。該光源測量方法用於測量一光源9在一定光程中照射出的光斑大小。本實施方式中，所述光源測量方法用於測量一個紅外線發光二極體。所述光源測量方法包括以下步驟：

第一步，提供一圖板10，所述圖板10上預繪有至少一個測量圖案11。所述圖板10上可以預先繪製一個或複數個測量圖案11。當需要批量、快速的對複數個光源9進行測試時，所述圖板10上可以繪製複數個測量圖案11以完成複數個光源9的同時測試。本實施方式中，所述圖板10預先繪製有一個測量圖案11。所述測量圖案11包括中心點O及複數個線條L，所述複數個線條L以中心點O向四周排布。本實施方式中，所述測量圖案11係以中心點O為圓心的複數個同心圓。本實施方式中，所述測量圖案11係4個以中心點O為圓心的複數個半徑相差1毫米的同心圓，其中最中心的圓11a的直徑係1毫米。

第二步，利用光源9照射所述圖板10上的測量圖案11。本實施方式中，將所述光源9垂直照射所述測量圖案11的中心O。

第三步，利用一可以感測所述光源9發射的光的拍攝裝置20拍攝被所述光源9照射的測量圖案11。所述拍攝裝置20可以係數位相機、帶有攝像功能的手機等電子裝置，也可以係連接有顯示設備、存儲設備的影像感測器。本實施方式中，為了使用方便，所述拍攝裝置20採用隨手可得的數位相機。數位相機雖然在鏡頭內部裝上紅外線濾光片，但仍會有部分的紅外線被感測到。這係因為紅外線濾光片無法做到100%濾除紅外線，只是在實際使用上紅外線較可見光波長範圍不容易被察覺到而已。在本測試步驟中，通過拍攝發現，所述拍攝裝置20可以很清晰的拍攝出所述光源9的光斑，如圖2所示。

第四步，在拍攝的圖像中，根據光照射的在測量圖案中所佔據的區域及對應的線條，獲得光源照射的區域的範圍。本實施方式中，所述測量圖案11係4個間距1毫米的同心圓，根據光源9照射區域落入測量圖案11中的位置，可以快速的得出光源9的光斑大小。從圖2中可以看出，所述光源9的光斑落到所述測量圖案11的第二個同心圓11b上，所以直接根據測量圖案11繪製出的第二個同心圓11b的直徑得到所述光源9的光斑直徑大小係3毫米。

請參閱圖3，為本發明第二實施方式提供的光源測量方法，該光源測量方法測量光源9發散角的大小。該光源測量方法與第一實施方式提供的光源測量方法基本相同，其不同之處在於，該光源測量方法採用的圖板110上繪製的測量圖案111係由中心點O’發出向四周排布的多條射線L’。本實施方式中，所述多條射線L’每隔5度等角分佈於180度範圍內。

光源9照射所述測量圖案111時，由所述中心點O’開始沿所述測量圖案的中心軸MM’照射所述測量圖案，本實施方式中，所述光源9貼靠到圖板110上的中心點O’，側光照射所述測量圖案110以獲取所述光源9的發散角度。

由圖4中可以看出，所述光源9照射到所述測量圖案111上時，光源9照射的區域佔據6條射線，其發散角係30度，該測試結果與測試用的LED提供的規格圖5中LED的發散角相同。

本發明提供的光源測量方法無需昂貴的設備及複雜的操作，只需參考所述測量圖案，就可以簡單、快速的獲得光源照射的區域的大小及發散角。

另外，本領域技術人員可在本發明精神內做其他變化，但是，凡依據本發明精神實質所做的變化，都應包含在本發明所要求保護的範圍之內。

9‧‧‧光源
10、110‧‧‧圖板
11、111‧‧‧測量圖案
11a、11b‧‧‧同心圓
20‧‧‧拍攝裝置
L’‧‧‧射線

圖1為本發明第一實施方式提供的光源測量方法的示意圖；

圖2為圖1的光源光斑的實測圖；

圖3為本發明第二實施方式提供的光源測量方法的示意圖；

圖4為圖3的光源發散角的實測圖；

圖5為圖3的光源的發光強度分佈圖。

9‧‧‧光源

10‧‧‧圖板

11‧‧‧測量圖案

11a、11b‧‧‧同心圓

20‧‧‧拍攝裝置

Claims (5)

1. 一種光源測量方法，其特徵在於，其用於測量至少一個光源，所述光源測量方法包括以下步驟：
   提供一圖板，所述圖板上預繪有至少一個測量圖案，所述測量圖案包括中心點及複數個線條，所述複數個線條以中心點向四周排布；
   用一個光源對應照射所述圖板上的一個測量圖案；
   利用可以感測所述光源發射的光的拍攝裝置拍攝被所述光源照射的測量圖案；
   在拍攝的圖像中，根據光照射在測量圖案中所佔據的區域及對應的線條，獲得光源照射的區域的範圍。
2. 如申請專利範圍第1項所述之光源測量方法，其中，所述至少一個光源發出的光係紅外線。
3. 如申請專利範圍第1項所述之光源測量方法，其中，所述測量圖案係複數個等間距的同心圓，所述各光源正對所述各測量圖案的中心照射，根據光照射區域落入的同心圓，獲得光源照射的光斑大小。
4. 如申請專利範圍第1項所述之光源測量方法，其中，所述測量圖案係由中心點發出的中心軸對稱的多條等角排列的射線組成，所述各光源由所述中心點開始沿所述測量圖案的中心軸照射所述測量圖案，根據光照射區域落入的射線，獲得光源照射的發散角大小。
5. 如申請專利範圍第1項所述之光源測量方法，其中，所述光源係發光二極體。