JPH10132901A - 画像形成装置 - Google Patents
画像形成装置Info
- Publication number
- JPH10132901A JPH10132901A JP8288513A JP28851396A JPH10132901A JP H10132901 A JPH10132901 A JP H10132901A JP 8288513 A JP8288513 A JP 8288513A JP 28851396 A JP28851396 A JP 28851396A JP H10132901 A JPH10132901 A JP H10132901A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- unit
- image forming
- forming apparatus
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は容易に不具合や障害個所を判定でき
るようにした画像形成装置を提供することを課題とす
る。 【解決手段】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像形成制御部の制御に従って、画像を形成させる
画像形成装置において、前記画像形成装置を構成する電
子回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路
を設け、通常検査モードが選択された場合は、テスト信
号発生部を動作させ、テストデータ記録部にバンダリス
キャンテスト回路よりの出力を記録させ、判定部を動作
させ、テスト結果表示制御部で判定結果を表示させ、ま
たモニタモードが選択された場合は、画像形成制御部を
動作させ、テスト結果表示制御部がバンダリスキャンテ
スト回路よりの出力を表示させるように構成する。
るようにした画像形成装置を提供することを課題とす
る。 【解決手段】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像形成制御部の制御に従って、画像を形成させる
画像形成装置において、前記画像形成装置を構成する電
子回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路
を設け、通常検査モードが選択された場合は、テスト信
号発生部を動作させ、テストデータ記録部にバンダリス
キャンテスト回路よりの出力を記録させ、判定部を動作
させ、テスト結果表示制御部で判定結果を表示させ、ま
たモニタモードが選択された場合は、画像形成制御部を
動作させ、テスト結果表示制御部がバンダリスキャンテ
スト回路よりの出力を表示させるように構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置に関
し、特に自己検査機能を備えた画像形成装置に関する。
し、特に自己検査機能を備えた画像形成装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像形成装置は、今日ではオフィスにお
いて非常に多く使用されている。このような画像形成装
置においては、装置組立時および装置に障害が発生した
ときは各種の検査信号を電子回路に入力し、電子回路の
出力が正常であるか否かによって検査および障害個所を
判定するようにしていた。
いて非常に多く使用されている。このような画像形成装
置においては、装置組立時および装置に障害が発生した
ときは各種の検査信号を電子回路に入力し、電子回路の
出力が正常であるか否かによって検査および障害個所を
判定するようにしていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
の画像形成装置においては、装置組立時および装置に障
害が発生したときは各種の検査信号を電子回路に入力
し、電子回路の出力が正常であるか否かによって検査お
よび障害個所を判定するようにしていた。
の画像形成装置においては、装置組立時および装置に障
害が発生したときは各種の検査信号を電子回路に入力
し、電子回路の出力が正常であるか否かによって検査お
よび障害個所を判定するようにしていた。
【０００４】画像形成装置は多くの電子回路より構成さ
れており、このため電子回路が正常であるか否かを判定
するには非常に長時間を要していた。本発明は容易に不
具合や障害個所を判定できるようにした画像形成装置を
提供することを課題とする。
れており、このため電子回路が正常であるか否かを判定
するには非常に長時間を要していた。本発明は容易に不
具合や障害個所を判定できるようにした画像形成装置を
提供することを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ために本発明が採用した手段を説明する。請求項１の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像形成制御部の制御に従って画像を形成させる画
像形成装置において、前記画像形成装置を構成する電子
回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路を
設け、前記バンダリスキャンテスト回路にテスト信号を
発生させるテスト信号発生部と、前記バンダリスキャン
テスト回路より出力されるテストデータを記録するテス
トデータ記録部と、前記テストデータ記録部に記録され
ているテストデータが正常値と異なるか否かを判定する
判定部と、前記判定部での判定結果を前記入力・表示部
に表示させるテスト結果表示制御部と、通常検査モード
が選択された場合は、前記テスト信号発生部を動作さ
せ、前記テストデータ記録部にバンダリスキャンテスト
回路よりの出力を記録させ、前記判定部を動作させ、前
記テスト結果表示制御部で判定結果を表示させ、またモ
ニタモードが選択された場合は、前記画像形成制御部を
動作させ、前記テスト結果表示制御部が前記バンダリス
キャンテスト回路よりの出力を表示させるテストモード
選択部と、を備える。
ために本発明が採用した手段を説明する。請求項１の発
明においては、入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像形成制御部の制御に従って画像を形成させる画
像形成装置において、前記画像形成装置を構成する電子
回路の一部または全部にバンダリスキャンテスト回路を
設け、前記バンダリスキャンテスト回路にテスト信号を
発生させるテスト信号発生部と、前記バンダリスキャン
テスト回路より出力されるテストデータを記録するテス
トデータ記録部と、前記テストデータ記録部に記録され
ているテストデータが正常値と異なるか否かを判定する
判定部と、前記判定部での判定結果を前記入力・表示部
に表示させるテスト結果表示制御部と、通常検査モード
が選択された場合は、前記テスト信号発生部を動作さ
せ、前記テストデータ記録部にバンダリスキャンテスト
回路よりの出力を記録させ、前記判定部を動作させ、前
記テスト結果表示制御部で判定結果を表示させ、またモ
ニタモードが選択された場合は、前記画像形成制御部を
動作させ、前記テスト結果表示制御部が前記バンダリス
キャンテスト回路よりの出力を表示させるテストモード
選択部と、を備える。
【０００６】電子回路の一部または全部にバンダリスキ
ャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト回路
に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、バン
ダリスキャンテスト回路より出力されたテストデータが
予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判定結
果を画像形成装置の入力・表示部に表示させるようにし
たので、容易に電子回路が正常であるか否か、および障
害個所を判定することができる。
ャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト回路
に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、バン
ダリスキャンテスト回路より出力されたテストデータが
予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判定結
果を画像形成装置の入力・表示部に表示させるようにし
たので、容易に電子回路が正常であるか否か、および障
害個所を判定することができる。
【０００７】またモニタモードが選択された場合は通常
の画像形成動作が行なわれ、バンダリスキャンテスト回
路の出力を表示させるようにしたので、故障の内容に応
じた最適な対応がとれ、障害箇所の特定までの時間を短
縮することができる。
の画像形成動作が行なわれ、バンダリスキャンテスト回
路の出力を表示させるようにしたので、故障の内容に応
じた最適な対応がとれ、障害箇所の特定までの時間を短
縮することができる。
【０００８】また請求項２の発明においては、前記テス
トモード選択部で通常検査モードが選択された場合は画
像形成装置を構成するモータやクラッチ、高圧電源等の
アクチュエータ類の電源をオフするようにする。通常検
査モードが選択されたときはアクチュエータ類の電源を
オフするようにしたので、外装開放状態でテストが実行
されても、保守者に対して危険を回避して検査を行うこ
とができる。
トモード選択部で通常検査モードが選択された場合は画
像形成装置を構成するモータやクラッチ、高圧電源等の
アクチュエータ類の電源をオフするようにする。通常検
査モードが選択されたときはアクチュエータ類の電源を
オフするようにしたので、外装開放状態でテストが実行
されても、保守者に対して危険を回避して検査を行うこ
とができる。
【０００９】請求項３の発明においては、前記テスト結
果表示制御部が表示させる表示を、前記画像形成装置の
転写紙に転写表示させる。
果表示制御部が表示させる表示を、前記画像形成装置の
転写紙に転写表示させる。
【００１０】請求項４の発明においては、前記テストデ
ータの表示をテストデータの入力および出力を表示させ
る。また判定結果の表示と共にテストデータの入力およ
び出力も表示させるようにしたので、不具合や障害原因
を容易に知ることができる。
ータの表示をテストデータの入力および出力を表示させ
る。また判定結果の表示と共にテストデータの入力およ
び出力も表示させるようにしたので、不具合や障害原因
を容易に知ることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図１〜図
６を参照して説明する。図１は本発明の実施例の構成
図、図２は同実施例のバンダリスキャンテスト回路の構
成図、図３は同バンダリスキャンテスト回路のバンダリ
スキャンセルの構成図、図４は同実施例の入力・表示部
の具体例、図５は入力・表示部の液晶表示画面の具体
例、図６は同実施例の動作フローチャートである。
６を参照して説明する。図１は本発明の実施例の構成
図、図２は同実施例のバンダリスキャンテスト回路の構
成図、図３は同バンダリスキャンテスト回路のバンダリ
スキャンセルの構成図、図４は同実施例の入力・表示部
の具体例、図５は入力・表示部の液晶表示画面の具体
例、図６は同実施例の動作フローチャートである。
【００１２】図１において、１は画像形成装置の画像を
形成される画像データを記録する画像メモリ、２は画像
形成条件等を入力する入力・表示部、３は原稿をスキャ
ンして画像データを作成するスキャン部、４は画像デー
タを顕著化するとともに転写紙に転写して画像形成を行
う作像転写部、５は作像転写部４に転写紙を給紙する給
紙部、６は画像形成された転写紙を定着して排出トレイ
に排出する定着排紙部、７は電源部である。
形成される画像データを記録する画像メモリ、２は画像
形成条件等を入力する入力・表示部、３は原稿をスキャ
ンして画像データを作成するスキャン部、４は画像デー
タを顕著化するとともに転写紙に転写して画像形成を行
う作像転写部、５は作像転写部４に転写紙を給紙する給
紙部、６は画像形成された転写紙を定着して排出トレイ
に排出する定着排紙部、７は電源部である。
【００１３】また、１０は処理を実行するプロセッサ
（ＣＰＵ）、１１は画像形成装置の画像形成を制御する
プログラムが格納されている画像形成制御部、１２はテ
スト信号を発生するデータまたはプログラムが格納され
ているテスト信号発生部、１３はテスト結果の判定を行
う判定部、１４はテスト結果の表示を行なわすテスト結
果表示制御部、１５はテストデータを記録するテストデ
ータ記録部、１６は通常検査モードとモニタモードを選
択するテストモード選択部である。
（ＣＰＵ）、１１は画像形成装置の画像形成を制御する
プログラムが格納されている画像形成制御部、１２はテ
スト信号を発生するデータまたはプログラムが格納され
ているテスト信号発生部、１３はテスト結果の判定を行
う判定部、１４はテスト結果の表示を行なわすテスト結
果表示制御部、１５はテストデータを記録するテストデ
ータ記録部、１６は通常検査モードとモニタモードを選
択するテストモード選択部である。
【００１４】また、１ｂ〜７ｂはインターフェース（Ｉ
／Ｏ）、８はＣＰＵ１０とＩ／Ｏ１ｂ〜６ｂを接続する
バスである。また画像メモリ１、入力・表示部２、スキ
ャン部３、作像転写部４、給紙部５および定着排紙部６
の電子回路の一部または全部には、すなわち検査を行う
電子回路にはそれぞれバンダリスキャンテスト回路（Ｂ
ＳＴ）１ａ〜６ａが設けられている。
／Ｏ）、８はＣＰＵ１０とＩ／Ｏ１ｂ〜６ｂを接続する
バスである。また画像メモリ１、入力・表示部２、スキ
ャン部３、作像転写部４、給紙部５および定着排紙部６
の電子回路の一部または全部には、すなわち検査を行う
電子回路にはそれぞれバンダリスキャンテスト回路（Ｂ
ＳＴ）１ａ〜６ａが設けられている。
【００１５】バンダリスキャンテスト回路は、例えばＩ
ＥＥＥ１１４９．１で標準化されており、図２で示され
るように設けられている。図２においては、ＩＣ３０お
よびＩＣ４０の２個のＩＣのそれぞれにバンダリスキャ
ンテスト回路が実装されている場合を示している。
ＥＥＥ１１４９．１で標準化されており、図２で示され
るように設けられている。図２においては、ＩＣ３０お
よびＩＣ４０の２個のＩＣのそれぞれにバンダリスキャ
ンテスト回路が実装されている場合を示している。
【００１６】３０ａおよび４０ａはそれぞれＩＣ３０お
よびＩＣ４０の内部ロジック、３０ｂ〜３０ｊおよび４
０ｂ〜４０ｊは端子である。バンダリスキャンテスト回
路１ａ〜６ａの構成をＩＣ３０を代表して説明する。バ
ンダリスキャンテスト回路は、バンダリスキャンセル
（ＢＳＣ）３１ａ〜３１ｆ、バイパスレジスタ３２、命
令レジスタ３３、マルチプレクサ３４およびＴＡＰ（Te
st Access Port）コントローラ３５で構成される。
よびＩＣ４０の内部ロジック、３０ｂ〜３０ｊおよび４
０ｂ〜４０ｊは端子である。バンダリスキャンテスト回
路１ａ〜６ａの構成をＩＣ３０を代表して説明する。バ
ンダリスキャンテスト回路は、バンダリスキャンセル
（ＢＳＣ）３１ａ〜３１ｆ、バイパスレジスタ３２、命
令レジスタ３３、マルチプレクサ３４およびＴＡＰ（Te
st Access Port）コントローラ３５で構成される。
【００１７】またバンダリスキャンセル３１は、図３に
示すように、マルチプレクサ（ＭＵＸ）３１−１および
３１−２、およびラッチ３１−３および３１−４で構成
され、ＴＡＰコントローラ３５によって制御される。Ｉ
Ｃが通常動作時には、端子より入力された（または内部
ロジックより出力された）データ信号ＤＩはＭＵＸ３１
−２を通って内部ロジック（または端子）にデータ信号
ＤＯを出力する。
示すように、マルチプレクサ（ＭＵＸ）３１−１および
３１−２、およびラッチ３１−３および３１−４で構成
され、ＴＡＰコントローラ３５によって制御される。Ｉ
Ｃが通常動作時には、端子より入力された（または内部
ロジックより出力された）データ信号ＤＩはＭＵＸ３１
−２を通って内部ロジック（または端子）にデータ信号
ＤＯを出力する。
【００１８】またＩＣのテスト時には、テスト信号ＳＩ
をＭＵＸ３１−１、ラッチ３１−３および３１−４、お
よびＭＵＸ−２を介して内部ロジックに入力し、内部ロ
ジックより出力されたデータはＭＵＸ３１−１およびラ
ッチ３１−３を介してテストデータＳＯとして出力す
る。
をＭＵＸ３１−１、ラッチ３１−３および３１−４、お
よびＭＵＸ−２を介して内部ロジックに入力し、内部ロ
ジックより出力されたデータはＭＵＸ３１−１およびラ
ッチ３１−３を介してテストデータＳＯとして出力す
る。
【００１９】またデータＳＯは、図２に示されるよう
に、次のＢＳＣのテスト信号ＳＩとして入力され、入力
されたテスト信号ＳＩはラッチ３１−３でラッチされて
テストデータＳＯとして出力し、ＢＳＣはシフトレジス
タとして動作し、シリアルデータを転送する。
に、次のＢＳＣのテスト信号ＳＩとして入力され、入力
されたテスト信号ＳＩはラッチ３１−３でラッチされて
テストデータＳＯとして出力し、ＢＳＣはシフトレジス
タとして動作し、シリアルデータを転送する。
【００２０】ＣＰＵ１０からはＴＤＩ（Test Data I
n）、ＴＭＳ（Test Mode Select）およびＴＣＫ（Test
Clock）が出力され、バンダリスキャンテスト回路より
ＴＤＯ（Test Data Out ）が転送されて入力される。Ｔ
ＭＳおよびＴＣＫは各ＴＡＰコントローラに入力され、
ＴＤＩは各ＢＳＣのテスト信号として出力され、その出
力ＴＤＯは次のバンダリスキャンテスト回路のＴＤＩと
して入力される。
n）、ＴＭＳ（Test Mode Select）およびＴＣＫ（Test
Clock）が出力され、バンダリスキャンテスト回路より
ＴＤＯ（Test Data Out ）が転送されて入力される。Ｔ
ＭＳおよびＴＣＫは各ＴＡＰコントローラに入力され、
ＴＤＩは各ＢＳＣのテスト信号として出力され、その出
力ＴＤＯは次のバンダリスキャンテスト回路のＴＤＩと
して入力される。
【００２１】内部ロジックのテストにおいては、ＣＰＵ
１０よりテスト信号ＴＤＩを送出し、ロジックの入力側
に設けられたＢＳＣ３１ａ〜ｃのラッチ３１−４でラッ
チさせてロジック３０ａに入力し、その結果は出力側に
設けられたＢＳＣ３１ｄ〜ｆのラッチ３１−３でラッチ
させると共にシフトしてＴＤＯ信号として出力してＣＰ
Ｕ１０に転送し、正常時と誤っているか否かを判定す
る。
１０よりテスト信号ＴＤＩを送出し、ロジックの入力側
に設けられたＢＳＣ３１ａ〜ｃのラッチ３１−４でラッ
チさせてロジック３０ａに入力し、その結果は出力側に
設けられたＢＳＣ３１ｄ〜ｆのラッチ３１−３でラッチ
させると共にシフトしてＴＤＯ信号として出力してＣＰ
Ｕ１０に転送し、正常時と誤っているか否かを判定す
る。
【００２２】また、ＩＣ３０とＩＣ４０とを接続する接
続線５０ａ〜５０ｃが断線および短絡しているか否かの
テストは、ＩＣ３０側に設けられているＢＳＣ３０ｅ〜
ｇより“１”および“０”の信号を送出させ、ＩＣ４０
側に設けられているＢＳＣ４１ａ〜ｃより対応した出力
が得られるか否かをパターンを変えて判定させる。
続線５０ａ〜５０ｃが断線および短絡しているか否かの
テストは、ＩＣ３０側に設けられているＢＳＣ３０ｅ〜
ｇより“１”および“０”の信号を送出させ、ＩＣ４０
側に設けられているＢＳＣ４１ａ〜ｃより対応した出力
が得られるか否かをパターンを変えて判定させる。
【００２３】すなわち、例えば、ＢＳＣ３１ｄに“１”
をＢＳＣ３１ｅおよび３１ｆに“０”をラッチさせて送
出し、ＢＳＣ４１ｃに“１”、ＢＳＣ４１ｂおよび４１
ａに“０”が出力されたときは正常、ＢＳＣ４１ａ〜４
１ｃがともに“０”ならば接続線５０ａは断線である
と、またＢＳＣ４１ｃと４１ｂが共に“１”ならば接続
線５０ａと５０ｂは短絡していると判定される。
をＢＳＣ３１ｅおよび３１ｆに“０”をラッチさせて送
出し、ＢＳＣ４１ｃに“１”、ＢＳＣ４１ｂおよび４１
ａに“０”が出力されたときは正常、ＢＳＣ４１ａ〜４
１ｃがともに“０”ならば接続線５０ａは断線である
と、またＢＳＣ４１ｃと４１ｂが共に“１”ならば接続
線５０ａと５０ｂは短絡していると判定される。
【００２４】また、入力・表示部２はコピー条件等の入
力および表示を行うものであり、入力表示部２は、図４
に示されるように、コピー枚数を入力するテンキー２
１、操作の状態やメッセージ等を表示する液晶表示画面
２２、操作の機能や仕方を表示するモードに移行させる
ガイダンスキー２３、設定の登録や呼出しを行うプログ
ラムキー２４、入力誤りの訂正や動作を中断させるクリ
アストップキー２５、液晶表示画面（タッチパネル）２
２の輝度を調整する輝度調整つまみ２６、モードクリア
・余熱／タイマキー２７、割込動作の開始指令を入力す
る割込キー２８、コピー動作を開始させるスタートキー
２９で構成されている。
力および表示を行うものであり、入力表示部２は、図４
に示されるように、コピー枚数を入力するテンキー２
１、操作の状態やメッセージ等を表示する液晶表示画面
２２、操作の機能や仕方を表示するモードに移行させる
ガイダンスキー２３、設定の登録や呼出しを行うプログ
ラムキー２４、入力誤りの訂正や動作を中断させるクリ
アストップキー２５、液晶表示画面（タッチパネル）２
２の輝度を調整する輝度調整つまみ２６、モードクリア
・余熱／タイマキー２７、割込動作の開始指令を入力す
る割込キー２８、コピー動作を開始させるスタートキー
２９で構成されている。
【００２５】また、液晶表示画面２２は、図５に一例を
示すように、「コピーできます」、「おまちください」
等のメッセージを表示するメッセージエリア２２−１、
上段にセットした枚数、下段にコピーした枚数を表示す
るコピー枚数表示部２２−２、画像濃度を調整する濃度
調節キー２２−３、コピー用紙を選択する用紙選択キー
２２−４、転写紙サイズに合せて自動的に拡大／縮小を
行なわす用紙指定変倍キー２２−５、ソートキー２２−
６、スタックキー２２−７、ステープルキー２２−８、
特殊原稿送りキー２２−９、変倍キー２２−１０、両面
／ページ連写キー２２−１１、消去／移動キー２２−１
２、表紙／合紙キー２２−１３が表示される。また２２
−１４は後で説明する本発明のために設けられた分類揃
キーである。
示すように、「コピーできます」、「おまちください」
等のメッセージを表示するメッセージエリア２２−１、
上段にセットした枚数、下段にコピーした枚数を表示す
るコピー枚数表示部２２−２、画像濃度を調整する濃度
調節キー２２−３、コピー用紙を選択する用紙選択キー
２２−４、転写紙サイズに合せて自動的に拡大／縮小を
行なわす用紙指定変倍キー２２−５、ソートキー２２−
６、スタックキー２２−７、ステープルキー２２−８、
特殊原稿送りキー２２−９、変倍キー２２−１０、両面
／ページ連写キー２２−１１、消去／移動キー２２−１
２、表紙／合紙キー２２−１３が表示される。また２２
−１４は後で説明する本発明のために設けられた分類揃
キーである。
【００２６】なお２２−３〜２２−１４の各種キーはタ
ッチパネル構成となっており、表示されている画面を指
でタッチすることによって表示されている事項が入力さ
れるようになっており、入力されると表示画面が変化す
る。図５ではＡ４横の用紙がコピー用紙として選択入力
されたことを示している。また、「Ａ４横」、「Ａ４
縦」、「Ｂ５横」、「Ｂ４縦」及び「Ａ３縦」の表示
は、コピーする用紙を収納する給紙トレイが５個あり、
各トレイに収納されている用紙のサイズおよび方向を検
出して表示されるようになっている。
ッチパネル構成となっており、表示されている画面を指
でタッチすることによって表示されている事項が入力さ
れるようになっており、入力されると表示画面が変化す
る。図５ではＡ４横の用紙がコピー用紙として選択入力
されたことを示している。また、「Ａ４横」、「Ａ４
縦」、「Ｂ５横」、「Ｂ４縦」及び「Ａ３縦」の表示
は、コピーする用紙を収納する給紙トレイが５個あり、
各トレイに収納されている用紙のサイズおよび方向を検
出して表示されるようになっている。
【００２７】「自動用紙選択」が選択されると、コピー
する原稿と同一サイズで同一方向の用紙が選択されてコ
ピーが行なわれる。つぎに、図６および７を参照して、
実施例の動作を説明する。ステップＳ１においては、画
像形成制御部１１は、入力・表示部２よりテストを開始
させるテストキーが押下されたか否かを判定し、押下さ
れない場合はステップＳ３０に移って通常の画像形成処
理を実行して画像を形成させる。
する原稿と同一サイズで同一方向の用紙が選択されてコ
ピーが行なわれる。つぎに、図６および７を参照して、
実施例の動作を説明する。ステップＳ１においては、画
像形成制御部１１は、入力・表示部２よりテストを開始
させるテストキーが押下されたか否かを判定し、押下さ
れない場合はステップＳ３０に移って通常の画像形成処
理を実行して画像を形成させる。
【００２８】テストキーとしては、例えば、割込キー２
８を押下した後でクリア・ストップキー２５を２秒間以
上押下したときテストキーが押下されたものであると判
断する。ステップＳ１でテストキーが押下されたと判定
されたときは、ステップＳ２に移り、テストモード選択
部１６は入力表示部２に通常検査モードとモニタモード
のいずれかを操作者に選択するよう表示する。
８を押下した後でクリア・ストップキー２５を２秒間以
上押下したときテストキーが押下されたものであると判
断する。ステップＳ１でテストキーが押下されたと判定
されたときは、ステップＳ２に移り、テストモード選択
部１６は入力表示部２に通常検査モードとモニタモード
のいずれかを操作者に選択するよう表示する。
【００２９】ステップＳ２で通常検査モードが選択され
た場合はステップＳ３に移り、テストモード選択部１６
はＩ／Ｏ７ｂを介して電源部７に指令し、モータやクラ
ッチ、高圧電源等の電子回路以外のアクチュエータ類の
電源をオフさせる。ステップＳ４では、テストモード選
択部１６はテスト信号発生部１２に指令し、テスト信号
発生部１２は第ｎユニットに対するテストを開始させる
信号（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送
出すると共に、ステップＳ５に移ってテスト信号（ＴＤ
Ｉ）を送出する。
た場合はステップＳ３に移り、テストモード選択部１６
はＩ／Ｏ７ｂを介して電源部７に指令し、モータやクラ
ッチ、高圧電源等の電子回路以外のアクチュエータ類の
電源をオフさせる。ステップＳ４では、テストモード選
択部１６はテスト信号発生部１２に指令し、テスト信号
発生部１２は第ｎユニットに対するテストを開始させる
信号（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送
出すると共に、ステップＳ５に移ってテスト信号（ＴＤ
Ｉ）を送出する。
【００３０】ＴＡＰコントローラはＴＭＳに対応してＢ
ＳＣを制御し、ＴＤＩ信号をラッチしてテスト信号を内
部ロジックに入力させると共に出力されたＴＤＯ信号を
返送する。ステップＳ６では、テストデータ記録部１５
は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
ＳＣを制御し、ＴＤＩ信号をラッチしてテスト信号を内
部ロジックに入力させると共に出力されたＴＤＯ信号を
返送する。ステップＳ６では、テストデータ記録部１５
は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
【００３１】ステップＳ７では、判定部１３は、テスト
データ記録部１５に記録されているＴＤＯ信号を読出
し、予め記録された内部ロジックが正常時に出力される
ＴＤＯ信号と比較し、誤りが有るか否かを判定する。ス
テップＳ８では、テスト結果表示制御部１４は、ステッ
プＳ７での判定結果を表示させる。
データ記録部１５に記録されているＴＤＯ信号を読出
し、予め記録された内部ロジックが正常時に出力される
ＴＤＯ信号と比較し、誤りが有るか否かを判定する。ス
テップＳ８では、テスト結果表示制御部１４は、ステッ
プＳ７での判定結果を表示させる。
【００３２】図８はステップＳ８での表示の具体例を示
したものであり、入力・表示部２の液晶表示画面２２
に、故障しているユニット名と、ＩＣの入力（ＩＮ）と
出力（ＯＵＴ）を表示する。また図８においてＩＣ１−
２のＯＵＴの出力信号でマスクした部分は誤りが発生し
た信号を示している。
したものであり、入力・表示部２の液晶表示画面２２
に、故障しているユニット名と、ＩＣの入力（ＩＮ）と
出力（ＯＵＴ）を表示する。また図８においてＩＣ１−
２のＯＵＴの出力信号でマスクした部分は誤りが発生し
た信号を示している。
【００３３】なお上記では判定結果の表示を入力・表示
部２の液晶表示画面２２上に表示させるようにしている
が、作像転写部４で転写紙に転写して表示出力するよう
にしても良い。ステップＳ８で第ｎユニットのテスト結
果が終了すると、ステップＳ９に移って入力・表示部２
のスタートキー２９を押下する。
部２の液晶表示画面２２上に表示させるようにしている
が、作像転写部４で転写紙に転写して表示出力するよう
にしても良い。ステップＳ８で第ｎユニットのテスト結
果が終了すると、ステップＳ９に移って入力・表示部２
のスタートキー２９を押下する。
【００３４】ステップＳ１０では、テスト信号発生部１
２は、ステップＳ９でスタートキーが押下されると、次
の第ｎ＋１ユニットに対するテストが有る場合はステッ
プＳ４に移り、ステップＳ４〜Ｓ１０が繰返えされ、無
い場合はテスト処理を終了する。
２は、ステップＳ９でスタートキーが押下されると、次
の第ｎ＋１ユニットに対するテストが有る場合はステッ
プＳ４に移り、ステップＳ４〜Ｓ１０が繰返えされ、無
い場合はテスト処理を終了する。
【００３５】またステップＳ２でモニタモードが選択さ
れた場合ステップＳ２１に移り、テストを開始させる信
号（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送出
する。ステップＳ２２では操作者はテスト原稿を画像形
成装置にセットし、ステップＳ２３に移ってスタートキ
ー２９を押下し、ステップＳ２４に移り画像形成処理を
開始させる。ステップＳ２５では、テストデータ記録部
１５は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
れた場合ステップＳ２１に移り、テストを開始させる信
号（ＴＭＳおよびＴＣＫ）をＴＡＰコントローラに送出
する。ステップＳ２２では操作者はテスト原稿を画像形
成装置にセットし、ステップＳ２３に移ってスタートキ
ー２９を押下し、ステップＳ２４に移り画像形成処理を
開始させる。ステップＳ２５では、テストデータ記録部
１５は、返送されたＴＤＯ信号を記録する。
【００３６】なおモニタモードの場合は、テスト信号と
してはテスト信号発生部１２よりの信号を使用せずに、
ステップＳ２２でセットしたテスト原稿をスキャンした
信号を使用する。したがって図３で説明したマルチプレ
クサ３１−２は入力信号ＤＩが出力信号ＤＯとして出力
され、また入力信号ＤＩをラッチ３１−３でラッチして
ＳＯ（ＴＤＯ）信号として出力する。
してはテスト信号発生部１２よりの信号を使用せずに、
ステップＳ２２でセットしたテスト原稿をスキャンした
信号を使用する。したがって図３で説明したマルチプレ
クサ３１−２は入力信号ＤＩが出力信号ＤＯとして出力
され、また入力信号ＤＩをラッチ３１−３でラッチして
ＳＯ（ＴＤＯ）信号として出力する。
【００３７】ステップＳ２６では、テスト結果表示制御
部１４は、ステップＳ２５で記録したデータを液晶表示
画面２２に表示する。ステップＳ２７で操作者がクリア
キーを押下すると表示が無くなって処理が終了し、通常
の画像形成が可能な状態になる。
部１４は、ステップＳ２５で記録したデータを液晶表示
画面２２に表示する。ステップＳ２７で操作者がクリア
キーを押下すると表示が無くなって処理が終了し、通常
の画像形成が可能な状態になる。
【００３８】なお実施例では、データをデータ記録部１
５に記録し、記録したデータを入力・表示部２の液晶画
面２２上に表示させるようにしていたが、画像メモリ１
にデータを「１」「０」に対応したタイムチャートで記
録させ、記録したデータを作像転写部４で転写紙に転写
して表示出力するようにしても良い。
５に記録し、記録したデータを入力・表示部２の液晶画
面２２上に表示させるようにしていたが、画像メモリ１
にデータを「１」「０」に対応したタイムチャートで記
録させ、記録したデータを作像転写部４で転写紙に転写
して表示出力するようにしても良い。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば次の
効果が得られる。電子回路の一部または全部にバンダリ
スキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト
回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タが予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判
定結果を画像形成装置の入力・表示部または転写紙に転
写表示させるようにしたので、容易に電子回路が正常で
あるか否か、および障害個所を判定することができる。
効果が得られる。電子回路の一部または全部にバンダリ
スキャンテスト回路を設け、該バンダリスキャンテスト
回路に予め決められたテスト信号を発生して入力させ、
バンダリスキャンテスト回路より出力されたテストデー
タが予め記録された正常値と異なるか否かを判定し、判
定結果を画像形成装置の入力・表示部または転写紙に転
写表示させるようにしたので、容易に電子回路が正常で
あるか否か、および障害個所を判定することができる。
【００４０】またモニタモードが選択された場合は通常
の画像形成動作が行われ、バンダリスキャンテスト回路
の出力を表示させるようにしたので、故障の内容に応じ
た最適な対応がとれ、障害箇所の特定までの時間を短縮
することができる。また通常検査モードが選択されたと
きはアクチュエータ類の電源をオフするようにしたの
で、外装開放状態でテストが実行されても、保守者に対
して危険を回避して検査を行うことができる。
の画像形成動作が行われ、バンダリスキャンテスト回路
の出力を表示させるようにしたので、故障の内容に応じ
た最適な対応がとれ、障害箇所の特定までの時間を短縮
することができる。また通常検査モードが選択されたと
きはアクチュエータ類の電源をオフするようにしたの
で、外装開放状態でテストが実行されても、保守者に対
して危険を回避して検査を行うことができる。
【図１】本発明の実施例の構成図である。
【図２】バンダリスキャンテスト回路の構成図である。
【図３】バンダリスキャンセルの構成図である。
【図４】入力・表示部の具体例である。
【図５】液晶表示画面の具体例である。
【図６】実施例の動作フローチャートである。
【図７】実施例の動作フローチャートである。
【図８】テスト結果表示の具体例である。
１ 画像メモリ ２ 入力・表示部 ３ スキャン部 ４ 作像転写部 ５ 給紙部 ６ 定着排紙部 ７ 電源部 １ａ〜７ａ バンダリスキャンテスト回路 １０ プロセッサ（ＣＰＵ） １１ 画像形成制御部 １２ テスト信号発生部 １３ 判定部 １４ テスト結果表示制御部 １５ テストデータ記録部 １６ テストモード選択部
Claims (4)
- 【請求項１】 入力・表示部より入力された指令に基づ
いて画像形成制御部の制御に従って、画像を形成させる
画像形成装置において、 前記画像形成装置を構成する電子回路の一部または全部
にバンダリスキャンテスト回路を設け、 前記バンダリスキャンテスト回路にテスト信号を発生さ
せるテスト信号発生部と、 前記バンダリスキャンテスト回路より出力されるテスト
データを記録するテストデータ記録部と、 前記テストデータ記録部に記録されているテストデータ
が正常値と異なるか否かを判定する判定部と、 前記判定部での判定結果を前記入力・表示部に表示させ
るテスト結果表示制御部と、 通常検査モードが選択された場合は、前記テスト信号発
生部を動作させ、前記テストデータ記録部にバンダリス
キャンテスト回路よりの出力を記録させ、前記判定部を
動作させ、前記テスト結果表示制御部で判定結果を表示
させ、またモニタモードが選択された場合は、前記画像
形成制御部を動作させ、前記テスト結果表示制御部が前
記バンダリスキャンテスト回路よりの出力を表示させる
テストモード選択部と、を備えたことを特徴とする画像
形成装置。 - 【請求項２】 前記テストモード選択部で通常検査モー
ドが選択された場合は画像形成装置を構成するモータや
クラッチ、高圧電源等のアクチュエータ類の電源をオフ
するようにしたことを特徴とする請求項１記載の画像形
成装置。 - 【請求項３】 前記テスト結果表示制御部が表示させる
前記判定部での判定結果の表示を、前記画像形成装置の
転写紙に転写表示させるようにしたことを特徴とする請
求項１または２記載の画像形成装置。 - 【請求項４】 前記テスト結果表示制御部が表示するテ
ストデータを入力および出力を表示させるようにしたこ
とを特徴とする請求項１，２または３記載の画像形成装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8288513A JPH10132901A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8288513A JPH10132901A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10132901A true JPH10132901A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17731212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8288513A Withdrawn JPH10132901A (ja) | 1996-10-30 | 1996-10-30 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10132901A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003041419A1 (en) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Display device, receiver, and test apparatus |
| US8228070B2 (en) | 2006-12-19 | 2012-07-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic apparatus and control method thereof |
-
1996
- 1996-10-30 JP JP8288513A patent/JPH10132901A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003041419A1 (en) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Display device, receiver, and test apparatus |
| US7103800B2 (en) | 2001-11-09 | 2006-09-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Display device, receiver, and test apparatus |
| CN1305320C (zh) * | 2001-11-09 | 2007-03-14 | 松下电器产业株式会社 | 显示装置、接收机以及测试设备 |
| US8228070B2 (en) | 2006-12-19 | 2012-07-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Electronic apparatus and control method thereof |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0816435A (ja) | マシン診断用トリガ可能オカレンス・ログ | |
| JPH0472583A (ja) | テスト用スキャン回路装置 | |
| JP2019132966A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH06249919A (ja) | 半導体集積回路装置の端子間接続試験方法 | |
| JPH10132901A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH1090355A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPS6242503B2 (ja) | ||
| JPH0688861A (ja) | 信号処理基板の自己診断テスト方法 | |
| JPH05183673A (ja) | 画像処理装置 | |
| JP2004340877A (ja) | 半導体装置 | |
| JP2005077690A (ja) | 画像形成装置及びその動作検証方法 | |
| JPS58127943A (ja) | 複写装置 | |
| JPH11231727A (ja) | 画像形成装置 | |
| JPH0157784B2 (ja) | ||
| JP2003057306A (ja) | 半導体集積回路および画像形成装置 | |
| JP5891200B2 (ja) | 半導体装置 | |
| JP2552915B2 (ja) | 制御装置の検査方法 | |
| KR19980064513A (ko) | 영상 형성 장치용 소요 시간 표시 장치 | |
| JPH0463393B2 (ja) | ||
| JP2554330B2 (ja) | 画像形成を行う装置の自己診断装置 | |
| JPH0599970A (ja) | 電装品の検査装置 | |
| JP2765483B2 (ja) | ハードコピーシステム | |
| JPH0618633A (ja) | 大規模集積回路装置 | |
| JPH0225350A (ja) | 印刷装置 | |
| JPS6084551A (ja) | 複写機制御方式 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040106 |