JP2552915B2 - 制御装置の検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は制御装置の検査方法に関し、一層詳細には、
例えば、ロボットコントローラ等の制御装置の機能が正
常に動作するか否かを検査装置を利用して検査する制御
装置の検査方法に関する。

［従来の技術］ 従来から、ロボットコントローラ等のその内部にCPU
を有する制御装置の検査方法においては、先ず、前記制
御装置を構成する部品を搭載したプリント基板について
単体で導通を確認し、あるいは機能を確認し、さらに、
当該プリント基板を実装する装置本体について、手作業
でなされている配線の接続が仕様書通りになされている
か否かの確認等を実施している。その後、前記プリント
基板を制御装置本体に組み込み、機能の確認検査を実施
している。次に、このようにして機能が確認された後の
制御装置を温度試験用の恒温槽の中に収容して再び機能
の確認検査を行っている。

ところで、機能の確認中に制御装置に異常が発生した
場合、当該制御装置は、その表示部に前記異常に係る表
示、例えば、「NG」表示をしてそのままの状態で停止す
る。

［発明が解決しようとする課題］ 然しながら、このような場合には、前記異常に係る原
因を排除しない限りは検査を続行することが出来ないた
め作業効率が著しく低下するという問題点が存在してい
る。

さらに、例えば、前記プリント基板に搭載された半導
体等の能動部品の動作余裕が少ない場合、例えば、タイ
ミングの余裕が少ない場合においては、前記温度試験を
実施した際に数回に一度、あるいは数十回に一度程度の
頻度で異常動作が発生する場合があり、この場合におい
て従来の検査方法では制御装置あるいは検査装置のいず
れの装置においても異常状態の発生を記録する記録手段
を搭載していないことから前記異常状態をデータとして
記録することが出来ないという不都合が存在している。

また、このように制御装置自体の性能に温度依存性が
あり、温度試験用の恒温槽の中で、例えば、高温状態に
おいては異常状態となっても常温に復帰した場合には正
常に動作する場合があり、このような場合には、例え
ば、異常状態が発生した場合における、その異常の発生
と制御装置の周囲温度を記録していないために異常状態
が発生したことすら検出することが出来ないという不都
合も存在している。

本発明は前記の課題を解決するためになされたもので
あって、先ず、制御装置に所定の検査装置を接続して当
該検査装置により前記制御装置が正常に動作するか否か
を判定して、若し、異常であると判定された場合には当
該検査装置の制御下に前記制御装置に供給される電源を
断続して、さらに機能検査を実施するとともに、検査条
件、検査結果等のデータを記録することが出来ることを
目的とし、この検査方法を検査装置に適用することによ
って効率のよい制御装置の検査方法を提供することを目
的とする。

［課題を解決するための手段］ 前記の課題を解決するために、本発明の制御装置の検
査方法は、 制御装置と当該制御装置の機能を検査する検査装置と
を電気的に接続し、制御装置に交流電源を供給した後、
検査装置から制御装置に検査信号を送信することにより
制御装置の機能の検査を行い、制御装置から検査結果に
係る信号を検査装置に送信して、この検査装置内に前記
検査結果に係る信号が表す検査結果を記録する検査方法
において、 前記検査結果が機能の異常を示す内容であると検査装
置で判定された場合、検査装置は、制御装置への前記交
流電源の供給を停止することにより、制御装置のCPUに
係るリセットを行い、リセット後所定時間経過後に再び
前記交流電源の供給を開始して、さらに、前記機能の異
常となった検査項目を検査するための同一の検査信号を
送信して複数回再検査を行い、再検査後に検査装置から
次の検査項目に係る検査信号を送信して制御装置の検査
を継続することを特徴とする。

また、本発明は、検査結果に係る信号が機能の異常を
示す信号であると判定された場合に、当該異常の内容、
制御装置に交流電源を供給してから異常の発生を検出す
るまでの経過時間および異常判定時における制御装置の
周囲温度に係るデータを制御装置および（または）検査
装置に記録することを特徴とする。

［作用］ 前記のような手順からなる本発明に係る制御装置の検
査方法では、検査装置から制御装置に検査信号を送信し
て制御装置の機能の検査を行い、制御装置から検査結果
に係る信号を検査装置に送信し、前記検査結果が機能の
異常を示す内容であると検査装置で判定された場合、検
査装置は、制御装置への交流電源の供給を停止すること
により、制御装置のCPUに係るリセットを行い、リセッ
ト後に再び交流電源の供給を開始して、さらに、前記機
能の異常となった検査項目を検査するための同一の検査
信号を送信して複数回再検査を行い、再検査後に検査装
置から次の検査項目に係る検査信号を送信して制御装置
の検査を継続するようにしているので、複数回に１回発
生する機能の異常を検出する可能性が高くなる。

また、本発明によれば、装置が異常状態のまま停止す
ることもない。

さらに、本発明によれば、異常が発生した場合の履歴
をデータとして記録しているので、このデータを利用し
て異常状態を迅速に再現することができ、結局、原因の
究明とそれを解決するのに要する時間を短縮することが
出来る。

［実施例］ 次に、本発明に係る制御装置の検査方法について好適
な実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に
説明する。

第１図は本実施例に係る制御装置の検査方法が適用さ
れた制御装置検査システムを示す。当該システムは基本
的に検査装置10と外部記憶装置として、例えば、フロッ
ピィディスク12を利用するパーソナルコンピュータ等の
処理装置14とからなる検査処理装置16と、前記検査装置
10に電気的に接続される被検査装置であり、且つCPUを
有する制御装置としてのロボットコントローラ18とから
構成される。

前記検査処理装置16を構成する検査装置10はシーケン
サ20と、ティーチングボックスに対応する機能を有する
通信インタフェース基板22と、バッファ、リレー等を有
するインタフェース基板24と、図示しないAC200V電源に
接続された電源トランス25から供給されるAC100V電源を
断続制御する切換器26とから構成されている。

第２図は第１図に示す制御装置検査システムのさらに
詳細な構成を説明する図であり、図から諒解されるよう
に、前記処理装置14は中央処理部28とキーボード30、お
よびディスプレイ32からなり、当該処理装置14は前記シ
ーケンサ20を構成するインタフェース34により検査装置
10と接続される。シーケンサ20は前記インタフェース34
の他にCPU36、ROM38、RAM40、検査時間を計測するタイ
マ41、デジタルデータを送受するインタフェース42、44
およびA/D変換器とD/A変換器等を内蔵するインタフェー
ス45とを有し、夫々の構成要素はバスライン46によって
接続されている。

前記インタフェース44は通信インタフェース基板22を
構成するインタフェース48と接続されている。この場
合、通信インタフェース基板22は前記インタフェース48
以外にCPU50、ROM52、RAM54、LCD（Liquid Crystal Dis
play）53に接続されるLCDインタフェース55およびシリ
アルデータとパラレルデータとを相互に変換するインタ
フェース56とから構成され、これらの構成要素はバスラ
イン57によって相互に接続されている。なお、LCD53に
は、例えば、現在検査中である項目に対応する番号が表
示される。

前記通信インタフェース基板22は前記インタフェース
基板24を介して前記ロボットコントローラ18を構成する
ティーチングボックス用インタフェース59に接続されて
いる。そして、ティーチングボックス用インタフェース
59およびバスライン64を介してロボットコントローラ18
を構成するCPU62に導入されたデータ（なお、このデー
タが検査の開始を指令するデータである場合には、以
下、検査開始指令データという）に応答して当該CPU62
にバスライン64を介して接続されるROM66、RAM68等に記
憶されたデータに基づき所定の機能検査を開始する。こ
の検査機能の内容は、例えば、前記シーケンサ20を構成
するインタフェース45からインタフェース基板24を介し
て導入されたアナログ信号をA/D変換器を内蔵するポテ
ンショメータインタフェース72を介してデジタルデータ
に変換し、このデジタルデータが予めROM66に記憶され
ている基準となるデータの範囲内であるか否か等につい
てをCPU62が判断する内容である。

前記ロボットコントローラ18には前記したポテンショ
メータインタフェース72以外に図示しない外部機器を駆
動制御するために接続されるD/A変換器を内蔵するサー
ボインタフェース74およびその他のインタフェース76を
備えている。さらに、ロボットコントローラ18にはLCD
インタフェース77を介してLCD70が接続されており、こ
の場合、LCD70は機器の異常状態に係るデータを表示す
る機能を有している。さらに、前記ロボットコントロー
ラ18はRAM68のバックアップ電池80とバスライン64に接
続されるプリンタインタフェース82とを有しており、プ
リンタインタフェース82の出力データおよび電池80の電
圧信号は夫々前記シーケンサ20を構成するインタフェー
ス44、45に導入される。

さらに、ロボットコントローラ18は温度制御可能な恒
温槽84内に収容され、当該恒温槽84内に装着された温度
センサ87の温度データが前記インタフェース42に導入さ
れる。

このようにして、シーケンサ20に導入された信号ある
いはデータはシーケンサ20によって処理され、必要に応
じて処理装置14に送給され、外部装置であるフロッピィ
ディスク12にデータが記憶される。

また、検査装置10を構成する切換器26に電源トランス
25を介して導入されたAC100V電源は当該切換器26を介し
てロボットコントローラ18を構成する電源開閉器85を通
じて電源部86に導入され、当該電源部86によって所定の
電圧に変換されてロボットコントローラ18を構成する各
部に所定の電源が供給される。なお、前記切換器26は、
通常の場合、閉成状態とされており、ロボットコントロ
ーラ18に異常が発生した際には検査装置10を構成するシ
ーケンサ20の制御下に開成状態とされる構成とされてい
る。

本実施例に係る制御装置の検査方法が適用される制御
装置検査システムは基本的には以上のように構成される
ものであり、次にその動作について説明する。

先ず、恒温槽84内の内部温度を室温状態に設定する。
次に、ロボットコントローラ18の入力線および温度セン
サ87の出力線と検査装置10の入出力端子を図示しないコ
ネクタ等を用いて第２図に示す状態に電気的に接続する
（第１工程）とともにロボットコントローラ18の電源開
閉器85を閉成状態とする。なお、この状態においては切
換器26が開成状態とされているのでAC 100V電源はロボ
ットコントローラ18には未だ供給されない。

次いで、検査装置10と処理装置14の図示しない電源開
閉器を閉成状態とした後、図示しないリセットボタンス
イッチを一度操作する。これによって、シーケンサ20を
構成するROM38に記録された自動検査プログラムが起動
されCPU36の制御下にタイマ41がリセットされ経過時間
の計測を開始するとともにインタフェース44を介して切
換器26が閉成状態とされる。従って、この状態において
AC 100V電源がロボットコントローラ18に供給され、ロ
ボットコントローラ18が起動する。

次いで、先ず、第１に、通信インタフェース基板22を
介しての通信が正常に行われるか否かの検査が実行され
る。この場合、シーケンサ20から通信インタフェース基
板22を介してロボットコントローラ18を構成するティー
チングボックス用インタフェース59に検査信号として、
例えば、ビットパターンの異なる種々のデータが送信さ
れる（第２工程）と、CPU62はこのデータ、すなわち、
検査信号に応答すべく、ROM66に記録されている通信プ
ログラムに基づき当該データを解析して、この検査結果
に係る信号、この場合には受信したデータと同一のデー
タをティーチングボックス用インタフェース59、インタ
フェース基板24および通信インタフェース基板22を介し
てシーケンサ20に送信する（第３工程）。

そこで、シーケンサ20のCPU36は、RAM40に記録されて
いる送信データ、換言すれば、検査信号と、通信インタ
フェース基板22から受信したデータ、換言すれば、検査
結果に係るデータとが同一のデータであるか否かを判定
する。同一のデータである場合には、次の検査項目を実
行する。若し、ビットパターンが変わっていたり、ある
いはデータが所定時間を経過しても受信されなかった場
合には、インタフェース44を介して切換器26を開成状態
とする。なお、前記所定時間はタイマ41によって計測さ
れる。

これによって、ロボットコントローラ18にAC 100V電
源の供給が停止される。そして、所定時間経過後、シー
ケンサ20のCPU36はインタフェース44を介して再び切換
器26を閉成状態とする。これによって、AC 100V電源が
ロボットコントローラ18に再び供給され、ロボットコン
トローラ18は、また、動作を開始する。この操作によっ
て、所謂、電源の供給停止によるCPU62に係るリセット
処理がなされる。なお、検査結果に係るデータが機能の
異常を示すデータであると判定された場合には、シーケ
ンサ20のCPU36は、前記検査信号に係る異常の内容と温
度センサ87から導入されている周囲温度データとタイマ
41で計測された経過時間に係るデータをRAM40に記録し
ておく。なお、これらのデータは通信インタフェース基
板22、インタフェース基板24、ティーチングボックス用
インタフェース59を介してCPU62の制御下にRAM68にも記
録される。

そこで、再び前記検査信号、すなわち、ビットパター
ンの異なるデータを通信インタフェース基板22を介して
ロボットコントローラ18を構成するティーチングボック
ス用インタフェース59に送信し（第４公定）、前記した
検査と同一の検査を繰り返す。なお、再び検査結果に係
る信号が異常を示す信号であると検出された場合には再
び切換器26を開成してさらに閉成して、換言すれば、断
続して同一の検査を実行する。

すなわち、若し、１回目に異常状態が検出された場合
には同一の検査を所定回数、例えば５回行い、その後、
次の検査項目の試験を行う。なお、これらのデータはシ
ーケンサ20のRAM40およびロボットコントローラ18のRAM
68に前記した手順と同様の手順で記録される。

次に、LCD70の表示の確認を行う。この場合において
も、シーケンサ20から通信インタフェース基板22を介し
ティーチングボックス用インタフェース59を通じてLCD7
0の所定の表示にかかる検査信号としてのデータが出力
され、このデータはCPU62の制御下にバスライン64を介
してLCDインタフェース77を通じてLCD70に導入される。
そこで、LCDインタフェース77からLCD70に送出される出
力データに対応するデータがCPU62の制御下にティーチ
ングボックス用インタフェース59を介して通信インタフ
ェース基板22を通じてシーケンサ20に送信される。この
場合においてもシーケンサ20から送信したデータと、そ
の信号に応じて受信されたデータとが同一のデータであ
るか否かがCPU36の制御下に判断される。若し、異常が
検出された場合、すなわち、同一のデータでない場合に
と、前記した手順と同じように、切換器26を断続制御し
てAC 100V電源の供給を停止し、繰り返し検査を行う。
なお、検査結果に係るデータが機能の異常を示すデータ
であると判定された場合には、前記した場合と同様なデ
ータの処理を行い、その処理結果は前記と同様にシーケ
ンサ20のRAM40とロボットコントローラ18のRAM68に記録
される。

次に、ロボットコントローラ18を構成するポテンショ
メータインタフェース72の機能が正常か否かの確認がな
される。この場合、シーケンサ20を構成するCPU36の制
御下に、例えば、所定値に対応する検査信号としてのデ
ジタルデータがインタフェース45に導入される。インタ
フェース45には、第３図に示すように、バッファ45a、D
/A変換器45bおよびI/O45c等が配置され前記デジタルデ
ータがD/A変換器45bを介して正（＋）、負（−）のアナ
ログ信号に変換され、このアナログ信号がI/O45cに接続
されるインタフェース基板24内のリレー24a、24bの作用
下に、これに対応する接点24a₁、24b₁が交互に駆動され
ることでロボットコントローラ18内のポテンショメータ
インタフェース72に導入される。一方、シーケンサ20か
らポテンショメータインタフェース72の検査を行うため
の検査開始指令データ（図中、矢線Ａ方向に伝達され
る）が通信インタフェース基板22、インタフェース基板
24を介してロボットコントローラ18を構成するティーチ
ングボックス用インタフェース59に導入される。この検
査開始指令データによりCPU62はポテンショメータイン
タフェース72に導入されているアナログ信号を、これに
対応するデジタルデータに変換するとともに、予めROM6
6に記録されている基準データと前記デジタルデータと
を比較し当該デジタルデータが基準データ以内のデータ
であるか否かを判定し、その判定結果に係るデータ（図
中、矢線Ｂ方向に伝達される）をティーチングボックス
用インタフェース59、インタフェース基板24を介してシ
ーケンサ20に送出する。なお、この試験においても異常
が検出された場合には切換器26を断続して繰り返して試
験を行うことは同様である。

また、サーボインタフェース74およびその他のインタ
フェース76等の機能が正常か否かの確認が行われる。こ
の場合、前記のように、シーケンサ20から検査開始デー
タがロボットコントローラ18に導入された際、ROM66の
検査プログラムに基づきCPU62の作用下に、例えば、サ
ーボインタフェース74から８段階のアナログ信号が出力
され、このアナログ信号がインタフェース基板24を介し
てデジタルデータとされた後、このデータがCPU36の作
用下に、予めROM38に格納されている基準データと比較
される。この判定結果に係るデータはRAM40に記録さ
れ、あるいは通信インタフェース基板22、インタフェー
ス基板24を介してロボットコントローラ18を構成するRA
M68内に記録される。なお、この試験においても異常
（この場合、基準データの範囲外）と判定された場合に
は切換器26を断続して繰り返して試験を行うことは同様
である。

以上のようにして室温に相当する温度で試験を実施し
た後、次に、恒温槽84の温度を変化させて、この変化さ
せた温度で前記と同様の試験を行い、その後、再び室温
に戻してさらに同様の検査を行い、当該ロボットコント
ローラの検査を完了する。なお、検査終了時にはシーケ
ンサ20を構成するRAM40に記録された前記データ、すな
わち、異常の内容、ロボットコントローラ18に電源を供
給してから異常の発生を検出するまでの経過時間および
異常発生時における前記ロボットコントローラ18の周囲
温度に係るデータが処理装置14に転送されフロッピィデ
ィスク12に記録され、履歴データとして保存に供され
る。

［発明の効果］ 以上のように、本発明に係る制御装置の検査方法によ
れば、検査装置による制御装置の検査中に異常が起こっ
た場合には電源を断続して再検査するようにしている。
また、検査中に異常が発生した際にはそれまでの経過時
間、制御装置の周囲温度、異常内容等を記録するように
している。従って、本発明方法を適用した検査装置を用
いることにより制御装置の性能に関する履歴が蓄積出来
る利点が得られる。また、当該装置によれば検査中に異
常が発生した際にも検査を再び開始することが出来るの
で、異常によって検査作業が中断されずに全項目の試験
を連続して実施出来るという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に係る制御装置の検査方法が適用され
る一実施例の制御装置検査システムの基本的な構成図、 第２図は、第１図に示す制御装置検査システムの詳細構
成図、 第３図は、第１図および第２図に示す制御装置検査シス
テムの中、ポテンショメータインタフェースを検査する
際の説明図である。 10……検査装置、12……フロッピィディスク 14……処理装置、16……検査処理装置 18……ロボットコントローラ 66……ROM

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】制御装置と当該制御装置の機能を検査する
   検査装置とを電気的に接続し、制御装置に交流電源を供
   給した後、検査装置から制御装置に検査信号を送信する
   ことにより制御装置の機能の検査を行い、制御装置から
   検査結果に係る信号を検査装置に送信して、この検査装
   置内に前記検査結果に係る信号が表す検査結果を記録す
   る検査方法において、 前記検査結果が機能の異常を示す内容であると検査装置
   で判定された場合、検査装置は、制御装置への前記交流
   電源の供給を停止することにより、制御装置のCPUに係
   るリセットを行い、リセット後所定時間経過後に再び前
   記交流電源の供給を開始して、さらに、前記機能の異常
   となった検査項目を検査するための同一の検査信号を送
   信して複数回再検査を行い、再検査後に検査装置から次
   の検査項目に係る検査信号を送信して制御装置の検査を
   継続することを特徴とする制御装置の検査方法。
2. 【請求項２】請求項１記載の方法において、検査結果に
   係る信号が機能の異常を示す信号であると判定された場
   合に、当該異常の内容、制御装置に交流電源を供給して
   から異常の発生を検出するまでの経過時間および異常判
   定時における制御装置の周囲温度に係るデータを制御装
   置および（または）検査装置に記録することを特徴とす
   る制御装置の検査方法。