JPH0526952A - 電気特性検査装置 - Google Patents

電気特性検査装置

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JPH0526952A
JPH0526952A JP3179225A JP17922591A JPH0526952A JP H0526952 A JPH0526952 A JP H0526952A JP 3179225 A JP3179225 A JP 3179225A JP 17922591 A JP17922591 A JP 17922591A JP H0526952 A JPH0526952 A JP H0526952A
Authority
JP
Japan
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inspection
work
self
cpu
diagnosis
Prior art date
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Pending
Application number
JP3179225A
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English (en)
Inventor
Akihiko Hiraishi
彰彦 平石
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 稼働効率と信頼度の維持とを両立させること
ができる電気特性検査装置を提供する。 【構成】 自己診断装置18を備えているICの電気特
性検査装置10において、検査休止判定部20が設けら
れ、この判定部20による検査休止判定により前記自己
診断装置18が診断作業を自動的に実行するように構成
されている。 【効果】 自己診断作業は検査休止時間に実行されるた
め、ICの電気特性検査装置10における稼働効率は低
下しない。また、自己診断作業は検査休止の判定により
自動的に実行されるため、自己診断作業のし忘れや、人
為判断のミスまたは恣意的な自己診断作業の回避等々の
人為判断介在による信頼度の低下は防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電気特性検査装置、特
に、自己診断装置を備えている電気特性検査装置に関
し、例えば、半導体装置の製造工程において、製造され
た半導体集積回路装置(以下、ICという。)に対して
良品不良品の選別検査を実行するのに利用して有効なも
のに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程において、製造さ
れたICに対して良品不良品の選別検査を実行する電気
特性検査装置として、被検査物としてのICが電気的に
接続されるテスティングボードと、テスティングボード
にICを順次受け渡すハンドリング装置と、テスティン
グボードを介してICに順次電気的に接続される複数台
の計測モジュールと、これらを統括する中央処理ユニッ
ト(以下、CPUという。)とを備えているものがあ
る。このような電気特性検査装置においては、検査の信
頼度等を維持するために自己診断装置が組み込まれてい
る。
【0003】そして、従来の電気特性検査装置において
は、自己診断装置は次のような方法により、自己診断作
業を実行するように構成されている。
【0004】 前回の自己診断作業実行時点から、予
め設定された時間が経過すると、タイマにより自動的に
今回の自己診断作業が開始される。
【0005】 計測モジュール等の温度が予め設定さ
れた危険温度を超過した際、温度センサの検出結果に基
づいて自動的に自己診断作業が開始される。
【0006】 監視者の任意な判断により、適当な時
期に人為的に自己診断作業開始指令を受けて、開始され
る。
【0007】なお、電気特性検査装置を述べてある例と
しては、株式会社工業調査会発行「電子材料1990年
10月号別冊」1990年10月20日発行 P113
〜P129、がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記
およびの方法においては、電気特性検査装置の状況に
無関係に自己診断作業が開始されてしまうため、検査作
業が途中で中断され、電気特性検査装置の稼働効率が低
下されてしまうという問題点がある。
【0009】また、前記の方法においては、電気特性
検査装置の稼働効率は維持することができるが、電気特
性検査装置の信頼度の維持が不充分になる可能性がある
という問題点がある。
【0010】本発明の目的は、稼働効率と信頼度の維持
とを両立させることができる電気特性検査装置を提供す
ることにある。
【0011】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0012】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0013】すなわち、自己診断装置を備えている電気
特性検査装置において、検査休止判定部が設けられ、こ
の判定部による検査休止判定により前記自己診断装置が
診断作業を自動的に実行するように構成されていること
を特徴とする。
【0014】
【作用】前記した手段によれば、自己診断作業は検査休
止時間に実行されるため、電気特性検査装置の稼働効率
は低下しない。
【0015】また、自己診断作業は検査休止の判定によ
り自動的に実行されるため、自己診断作業指令のし忘れ
や、人為判断のミスまたは恣意的な自己診断作業の回避
等々の人為判断介在による信頼度の低下は防止されるこ
とになる。
【0016】
【実施例】図1は本発明の一実施例である電気特性検査
装置を示すブロック図、図2は自己診断作業と検査作業
との関係を示すステップ図、図3は検査休止判定作業を
示すフローチャート図である。
【0017】本実施例において、本発明に係る電気特性
検査装置は、ICの良品不良品を選別検査するものとし
て構成されている。このICの電気特性検査装置10
は、被検査物としてのIC1が電気的に接続されるテス
ティングボード(以下、ボードという。)11と、ボー
ド11に被検査物としてのIC1を順次受け渡すハンド
リング装置12と、ボード11を介してIC1に順次電
気的に接続される複数台の計測モジュール13と、各計
測モジュール13をボード11に電気的に接続するスイ
ッチ14と、これらを統括する中央処理ユニット(以
下、CPUという。)15とを備えており、これらは電
気回路または通信回路により互いに接続されている。そ
して、ボード11、ハンドリング装置12、各計測モジ
ュール13、スイッチ14およびCPU15の一部によ
り検査作業実行部が実質的に構成されている。
【0018】CPU15には入力装置16および出力装
置17が電気的または通信的に接続されている。入力装
置16は被検査物であるIC1の製品名や数量等の被検
査物に関するデータ(以下、製品データということがあ
る。)を、CPU15に入力するものとして構成されて
いる。CPU15はこの入力データに基づいてそのIC
1についての検査条件に関するデータ(以下、条件デー
タということがある。)を読み出し、各計測モジュール
13に適宜送信する。出力装置17は検査結果データを
モニタやプリンタ等により出力するようになっており、
検査結果データはCPU15により送信されて来る。
【0019】さらに、CPU15には自己診断装置18
およびキャリブレーション用基準器19が接続されてい
る。自己診断装置18はCPU15の指令により、キャ
リブレーション用基準器19の基準データと、各計測モ
ジュール13の現在の条件データとを比較して検査基準
値や能力等が低下ないしは悪化していないか、また、ど
の程度低下しているかを診断し、必要があれば治療を施
して、検査の信頼度を維持せしめるように構成されてい
る。
【0020】本実施例において、CPU15には検査休
止判定部20がプログラミングされており、この検査判
定部20は入力装置16、出力装置17、ハンドリング
装置12および各計測モジュール13等の各種データに
基づいて、後述するような作業により、検査休止期間を
判定するように構成されている。
【0021】次に作用を説明する。図2に示されている
ように、IC1について検査作業が開始されるに際し
て、これから検査されるIC1の製品名や検査個数等の
被検査物に関する製品データが、入力装置16によりC
PU15に入力される。
【0022】この被検査物に関する製品データに基づい
て、CPU15は予め記憶されているデータを読み出
し、所要の検査条件データを設定し、各計測モジュール
13やハンドリング装置12およびスイッチ14に適宜
送信することにより、検査作業を実行せしめる。
【0023】他方、被処理物に関する製品データが入力
されると、図3に示されているように、検査休止判定部
20はCPU15に入力された製品データに基づいて、
これから検査が実行される当該IC1についての総検査
所要時間を算出するとともに、タイマを始動させる。
【0024】その後、全てのIC1について所定の検査
作業が終了すると、被処理物としてのIC1の製品切換
作業(以下、製品切換作業ということがある。)実施さ
れる。この製品切換作業中は、電気特性検査装置10は
休止することになる。すなわち、実質的に非稼働の状態
になる。そして、本実施例においては、この休止期間中
に自己診断作業が実行される。
【0025】すなわち、検査作業が終了した時、図3に
示されているように、検査休止判定部20におけるタイ
マは「0」になる。
【0026】タイマが「0」になると、まず、検査休止
判定部20はハンドリング装置12に対してCPU15
からスタート指令が送信されているか否か、を確認す
る。スタート指令が送信されている場合は、ハンドリン
グ装置12によりIC1がボード11に受け渡されてい
る状況にあるため、検査作業が実行されていることを意
味する。したがって、確認ルーチンが繰り返される。
【0027】スタート指令が送信されていない場合に
は、検査休止判定部20はタイマを始動させるととも
に、タイマの積算が予め設定されたハンドリング休止時
間、例えば、5分間になったか否かの確認作業、を開始
する。ここで、ハンドリング装置12は製品切換作業期
間中以外は殆ど休むことなく稼働しており、ハンドリン
グ装置12が長時間休止している時期は、製品切換作業
中であると判定することができる。そして、このハンド
リング装置12の休止時間は、経験則やICの電気特性
検査装置10の仕様により予め求めることが可能であ
る。したがって、本実施例において、ハンドリング装置
12が5分間継続休止している状態は、製品切換作業期
間中であることが確認される。
【0028】検査作業が終了すると、検査結果データが
出力装置17により出力されるのが通常である。そこ
で、検査休止判定部20は検査結果データについての出
力指令がCPU15から送信されているか否を確認す
る。検査結果データが出力されている場合には、検査作
業は終了していることを意味するので、検査休止判定部
20は自己診断装置18に自己診断作業を開始させる。
【0029】そして、自己診断作業は、電気通信的に実
行されるため、機械的な作業等を伴う製品切換作業に比
べて、遙かに短時間に終了する。自己診断作業が終了
し、診断結果に異常がない場合には、自己診断装置18
は異常がない旨をCPU15に送信する。
【0030】その後、製品切換作業が終了すると、再
び、入力装置16により被検査物に関する製品データが
CPU15に入力され、以降、前記作業が繰り返される
ことにより、自己診断作業が検査作業の間の休止期間に
自動的に随時実行されることになる。
【0031】なお、自己診断装置18による自己診断作
業により、異常が発見されなかった場合には前述した通
り、次回の検査作業に自動的に移行することができる。
しかし、異常が発見され、しかも、自己治療不能の場合
には、自己診断装置18からの異常発見信号により、C
PU15はその後の検査作業を停止する。これにより、
検査の信頼度が維持されることになる。
【0032】人為的な作業による治療後、ICの電気特
性検査装置10は人為的な操作または自動的に前述した
元の作業の流れに戻される。
【0033】前記実施例によれば次の効果が得られる。 検査休止判定部が設けられ、この判定部の検査休止
判定に基づいて自己診断装置が自動的に診断作業を実行
するように構成することにより、自己診断作業は検査休
止時間に実行されるため、電気特性検査装置の稼働効率
が低下するのを防止することができる。
【0034】 自己診断作業は検査休止の判定により
自動的に実行されるため、自己診断作業のし忘れや、人
為判断のミスまたは恣意的な自己診断作業の回避等々の
人為判断介在による信頼度の低下を防止することができ
る。
【0035】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0036】例えば、検査休止判定部20は、ICの電
気特性検査装置10全体の検査休止を判定するように構
成するに限らず、各計測モジュール13毎に検査休止を
判定するように構成してもよい。
【0037】また、自己診断装置18は、1回の検査休
止判定によりICの電気特性検査装置10全体について
の診断作業を実行するように構成するに限らず、1回の
検査休止判定毎に各計測モジュール13のそれぞれにつ
いて診断作業を順次実行して行くように構成してもよ
い。
【0038】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるICの
電気特性検査技術に適用した場合について説明したが、
それに限定されるものではなく、半導体ウエハに作り込
まれた半導体装置やトランジスタ等について電気特性検
査を実施するウエハプローバ等、さらには、電子機器や
電子装置についての電気特性検査装置全般に適用するこ
とができる。
【0039】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0040】自己診断作業は検査休止時間に実行される
ため、電気特性検査装置の稼働効率の低下を防止するこ
とができる。また、自己診断作業は検査休止の判定によ
り自動的に実行されるため、自己診断作業のし忘れや、
人為判断のミスまたは恣意的な自己診断作業の回避等々
の人為判断介在による信頼度の低下を防止することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるICの電気特性検査装
置を示すブロック図である。
【図2】自己診断作業と検査作業との関係を示すステッ
プ図である。
【図3】検査休止判定作業を示すフローチャート図であ
る。
【符合の説明】
1…IC(被検査物)、10…ICの電気特性検査装
置、11…テスティングボード、112…ハンドリング
装置、13…計測モジュール、14…スイッチ、15…
中央処理ユニット(CPU)、16…入力装置、17…
出力装置、18…自己診断装置、19…キャリブレーシ
ョン用基準器、20…検査休止判定部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 自己診断装置を備えている電気特性検査
    装置において、 検査休止判定部が設けられ、この判定部による検査休止
    判定により前記自己診断装置が診断作業を自動的に実行
    するように構成されていることを特徴とする電気特性検
    査装置。
  2. 【請求項2】 前記検査休止判定部は、被検査物に関す
    るデータ入力作業の有無、検査結果データの出力作業の
    有無、および、被検査物の移送作業の有無に基づいて検
    査休止を判定するように構成されていることを特徴とす
    る請求項1記載の電気特性検査装置。
  3. 【請求項3】 前記検査休止判定部は、検査作業実行部
    の一部についての休止を判定するように構成されている
    ことを特徴とする請求項1記載の電気特性検査装置。
JP3179225A 1991-07-19 1991-07-19 電気特性検査装置 Pending JPH0526952A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3179225A JPH0526952A (ja) 1991-07-19 1991-07-19 電気特性検査装置

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JP3179225A JPH0526952A (ja) 1991-07-19 1991-07-19 電気特性検査装置

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JPH0526952A true JPH0526952A (ja) 1993-02-05

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ID=16062127

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JP3179225A Pending JPH0526952A (ja) 1991-07-19 1991-07-19 電気特性検査装置

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JP (1) JPH0526952A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11271398A (ja) * 1998-03-25 1999-10-08 Sharp Corp 半導体集積回路検査装置及びその故障検出方法
JP2009121979A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Yokogawa Electric Corp 半導体テスト装置
CN102495513A (zh) * 2011-12-19 2012-06-13 章建国 应用于摄像机夜晚激光立体照明的装置

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JPH11271398A (ja) * 1998-03-25 1999-10-08 Sharp Corp 半導体集積回路検査装置及びその故障検出方法
JP2009121979A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Yokogawa Electric Corp 半導体テスト装置
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