JPS5876906A - 制御装置の自動試験方法 - Google Patents
制御装置の自動試験方法Info
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- JPS5876906A JPS5876906A JP56173079A JP17307981A JPS5876906A JP S5876906 A JPS5876906 A JP S5876906A JP 56173079 A JP56173079 A JP 56173079A JP 17307981 A JP17307981 A JP 17307981A JP S5876906 A JPS5876906 A JP S5876906A
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- setting circuit
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（荀 技術分野の説明
本発明は制御装置の各種試験を行なう自動試験方法６二
−する。
−する。
（ｂ） 従来技術の説明
第１１１ｇ１（＝従来の自動試験方法で使用し九自動試
験装置のブロック寵を示し丸。 □ｓ１図で制ａｍ
置モあ°る被試験装置ムに接続された自動試験＊１ＩＩ
Ｂは、操作部ｌより試験開始指゛令信号を入力すると、
計算機部２よ）、切＃！４回路６へ、各試験項目偏一応
じ九試験回路を構成するための指令信号を、試験条件設
定回路３へ、試験電源の印加指令信号、まえは信号発生
器の印加指令を出力し、測定回路７よシの結果を表示装
置８ζ；て表示する。
験装置のブロック寵を示し丸。 □ｓ１図で制ａｍ
置モあ°る被試験装置ムに接続された自動試験＊１ＩＩ
Ｂは、操作部ｌより試験開始指゛令信号を入力すると、
計算機部２よ）、切＃！４回路６へ、各試験項目偏一応
じ九試験回路を構成するための指令信号を、試験条件設
定回路３へ、試験電源の印加指令信号、まえは信号発生
器の印加指令を出力し、測定回路７よシの結果を表示装
置８ζ；て表示する。
計算機部２の動作のフローを第２５ｉｌｌ ｌ：、示し
丸。
丸。
上述のよう一二被試験装置ム試験を行なう従来の自動試
験方法では、被試験装置ムの不具合、異常を容易−二速
やか（二検出できるが、不具合箇所の修理、調整を行な
うには、別途、試験装置ＩＩｌ！、捌定器９電源装置を
準備し、修理、＊整を行なったのち、再度自動試験装置
にて確認するなど、修理、 ａｍｌ；時間と装置が必要
であった＠ まえ、自動試験装置の精度を確認、′＃４整を行なう１
二も、別途試験装置、測定装置を準備し、確認調−する
必要があるなどの欠点があり九〇（Ｃ） 発明の目的 本発明は、自動試験装置ｌｌ二よ）、不具合、異常等を
検出された被試験装置の状態を観測可能とし調整９修理
が容易に蝋時間で行なえ、かつ１．試験装置の測定精度
を容易龜＝確認、ｌ１１整できる幽勤試（ｄ） 発明
の構成 以下本発明の一実施例を図面を引用しながら説明する。
験方法では、被試験装置ムの不具合、異常を容易−二速
やか（二検出できるが、不具合箇所の修理、調整を行な
うには、別途、試験装置ＩＩｌ！、捌定器９電源装置を
準備し、修理、＊整を行なったのち、再度自動試験装置
にて確認するなど、修理、 ａｍｌ；時間と装置が必要
であった＠ まえ、自動試験装置の精度を確認、′＃４整を行なう１
二も、別途試験装置、測定装置を準備し、確認調−する
必要があるなどの欠点があり九〇（Ｃ） 発明の目的 本発明は、自動試験装置ｌｌ二よ）、不具合、異常等を
検出された被試験装置の状態を観測可能とし調整９修理
が容易に蝋時間で行なえ、かつ１．試験装置の測定精度
を容易龜＝確認、ｌ１１整できる幽勤試（ｄ） 発明
の構成 以下本発明の一実施例を図面を引用しながら説明する。
第３図は本発明の自動試験方法（二側用する自動試験装
置の一実施例を示したブロック図で、試験の開始、試験
項目の選定等を操作する操作部１、試験の実行制御、演
算、結果の判定をする計算機部２、被試験装置（＝印加
する各Ｓ＊源を内蔵した試験′電源４、被試験ｆｉＩｉ
ｉに外部よ）印加する各種条件信号を発生する信号発生
器５、被試験装置内の測定を行なう測定回路７、試験項
目に対応して、試験電源、信号発生器、測定回路と、被
試験装置との接続を切換える切換回路６、試験条件の保
持を指示すスイッチ９、計算機部２の試験条件出力によ
り動作するリレー１６〜１９と前記リレ−１６〜１９０
接点、１６為〜１９ａ６二より試験電源４、および信号
発生器５の接続切換えと、スイッチ９に接続され、リレ
ー１６〜１９の動作条件を保持する前記リレー１６〜１
９の接点、１６ｋ）〜１９ｂ４二よｎ＊成し九保持回路
を有する試験条件設定回路３１％被試験装置Ａ−二接続
されるチェック端子１０よｐ構成される。
置の一実施例を示したブロック図で、試験の開始、試験
項目の選定等を操作する操作部１、試験の実行制御、演
算、結果の判定をする計算機部２、被試験装置（＝印加
する各Ｓ＊源を内蔵した試験′電源４、被試験ｆｉＩｉ
ｉに外部よ）印加する各種条件信号を発生する信号発生
器５、被試験装置内の測定を行なう測定回路７、試験項
目に対応して、試験電源、信号発生器、測定回路と、被
試験装置との接続を切換える切換回路６、試験条件の保
持を指示すスイッチ９、計算機部２の試験条件出力によ
り動作するリレー１６〜１９と前記リレ−１６〜１９０
接点、１６為〜１９ａ６二より試験電源４、および信号
発生器５の接続切換えと、スイッチ９に接続され、リレ
ー１６〜１９の動作条件を保持する前記リレー１６〜１
９の接点、１６ｋ）〜１９ｂ４二よｎ＊成し九保持回路
を有する試験条件設定回路３１％被試験装置Ａ−二接続
されるチェック端子１０よｐ構成される。
第４図は第３図（：示し九本発明の自動試験方法（二側
用する自動試験装置の試験条件設定回路３１の試験条件
の保持回路の他に、各試験条件の大切を指示するスイッ
チ２５〜２８、およびリレー２１〜２４を付加した試験
条件設定回路３２を有する自動試験装置である〇 第５図は８３図に示し九自動試験装置の試験条件設定回
路３１の試験条件の保持回路の低電；、発振回路１１、
および前記発振回路１１堪；よ〉動作するリレー１５お
よびリレー１５の接点１５麿鳴二よ）、試験条件の印加
のオン・オフを縄返す、リレー２１〜２４の回路を付加
した試験条件設定回路３Ｂ３を有する自動試験装置であ
る０ Ｉｓ６１１Ｉは第５図に示した自動試験装置の発振回路
１１の代９仁、試験条件印加スイッチ１２の入力１；よ
り、過挟峙性をＩＩＩ定するの（二十分な時間をパルス
幅とする１パルスを出力する発振回路１３を付加した試
験条件設定回路３３を有する自動試験装置である〇 以上第４〜第６図亀；示した自動試験装置は本発明の自
動試験方法で使用する自動試験装置である。
用する自動試験装置の試験条件設定回路３１の試験条件
の保持回路の他に、各試験条件の大切を指示するスイッ
チ２５〜２８、およびリレー２１〜２４を付加した試験
条件設定回路３２を有する自動試験装置である〇 第５図は８３図に示し九自動試験装置の試験条件設定回
路３１の試験条件の保持回路の低電；、発振回路１１、
および前記発振回路１１堪；よ〉動作するリレー１５お
よびリレー１５の接点１５麿鳴二よ）、試験条件の印加
のオン・オフを縄返す、リレー２１〜２４の回路を付加
した試験条件設定回路３Ｂ３を有する自動試験装置であ
る０ Ｉｓ６１１Ｉは第５図に示した自動試験装置の発振回路
１１の代９仁、試験条件印加スイッチ１２の入力１；よ
り、過挟峙性をＩＩＩ定するの（二十分な時間をパルス
幅とする１パルスを出力する発振回路１３を付加した試
験条件設定回路３３を有する自動試験装置である〇 以上第４〜第６図亀；示した自動試験装置は本発明の自
動試験方法で使用する自動試験装置である。
（ｅ） 発明の作用
以下本発明の作用について説明する。
本発明の第３図で示した自動試験装置では、スイッチ９
がオフの時、各試験項目毎６：計算機部２の出力１二よ
多動作する試験条件設定回路のリレー８、〜曳は、試験
項目の実行終了と同時１；オフとなり１被試験装置から
の信号もオフとなる。一方、スイッチ９がオンの状態で
開始され九試験項目では、例えばその試験条件として、
リレー島が動作して、試験電源を印加する場合、その試
験項目の実行が終了して、計算様部２からのリレ−８１
動作信号がオフしても、リレー−は、そのリレー接点ｒ
ｌとスイッチ９の接続４；よや、動作は保持されチェッ
ク端子１０よ）、被試験装置内の状態を観測することが
できる。
がオフの時、各試験項目毎６：計算機部２の出力１二よ
多動作する試験条件設定回路のリレー８、〜曳は、試験
項目の実行終了と同時１；オフとなり１被試験装置から
の信号もオフとなる。一方、スイッチ９がオンの状態で
開始され九試験項目では、例えばその試験条件として、
リレー島が動作して、試験電源を印加する場合、その試
験項目の実行が終了して、計算様部２からのリレ−８１
動作信号がオフしても、リレー−は、そのリレー接点ｒ
ｌとスイッチ９の接続４；よや、動作は保持されチェッ
ク端子１０よ）、被試験装置内の状態を観測することが
できる。
ｊＩ７図はＨａ図シー示した自動試験器の計算部２の動
作を示したフローチャートである。
作を示したフローチャートである。
１つの試験項目の中に複数の試験条件（例えば試験電源
４のａと接続して測定し九後、ａとの接続を切）次６；
ｂと接続して測定する。）を有する場合、第４図の例で
は試験条件保持スイッチ９をオン媚；シて試験を開始す
るとリレー１６．１７は計算機部２からの出力と同時−
二保持され、試験条件スイッチ２５をオンにすると初め
て、試験゛電源４の出力ａが被試験装＃ｊＬＡ ｌ二印
加され、その試験条件での被試験装置の状態をチェック
端子１０よ如観測できる、次Ｃ二、スイッチ２５をオン
−ニジてスイッチ２６をオン（ニすると、試験電源４の
出力すが被試験装置人に印加されその試験条件での状態
をチェック端子１０よ〉観測できる０過渡特性を測定す
る試験項目（例えば信号発生６ＢのＣの出力を印加した
時の被試験装置の過渡特性を測定する。）場合、第５図
の実施例では、試験条件保持スイッチ９をオン６ニして
試験を開始すると、計算機部２からの試験条件はリレー
１８（二よ）保持され、発振回路１１によυオン、オフ
を繰返えすリレー１５の接点１５ｍとリレー１８の接点
１８ｃ ｃ接続されたリレー２３は、信号発生器５の出
力Ｃを繰返えし被試験装置（二印加し、チェック端子１
０よ〉被試験装置の過渡特性を繰返えし観測できる。
４のａと接続して測定し九後、ａとの接続を切）次６；
ｂと接続して測定する。）を有する場合、第４図の例で
は試験条件保持スイッチ９をオン媚；シて試験を開始す
るとリレー１６．１７は計算機部２からの出力と同時−
二保持され、試験条件スイッチ２５をオンにすると初め
て、試験゛電源４の出力ａが被試験装＃ｊＬＡ ｌ二印
加され、その試験条件での被試験装置の状態をチェック
端子１０よ如観測できる、次Ｃ二、スイッチ２５をオン
−ニジてスイッチ２６をオン（ニすると、試験電源４の
出力すが被試験装置人に印加されその試験条件での状態
をチェック端子１０よ〉観測できる０過渡特性を測定す
る試験項目（例えば信号発生６ＢのＣの出力を印加した
時の被試験装置の過渡特性を測定する。）場合、第５図
の実施例では、試験条件保持スイッチ９をオン６ニして
試験を開始すると、計算機部２からの試験条件はリレー
１８（二よ）保持され、発振回路１１によυオン、オフ
を繰返えすリレー１５の接点１５ｍとリレー１８の接点
１８ｃ ｃ接続されたリレー２３は、信号発生器５の出
力Ｃを繰返えし被試験装置（二印加し、チェック端子１
０よ〉被試験装置の過渡特性を繰返えし観測できる。
を九、前記の過渡特性を測定する試験項目の場合、第６
図の実施例では、試験条件保持スイッチ９をオンＣニジ
て試験を開始すると、計算機部２からの試験条件はリレ
ー１８４二より保持され、試験条件印加スイッチ１２を
オンにすると、発振回路１３はリレー１５を一定時間動
作し、その間リレー２３は、信号発生器５の出力Ｃを被
試験装置嬬；印加し、チェック端子１０よシ被試験装置
の過渡特性を観測できる。再び観測したい場合は、スイ
ッチ１２を゛再度オン域＝すればよい。
図の実施例では、試験条件保持スイッチ９をオンＣニジ
て試験を開始すると、計算機部２からの試験条件はリレ
ー１８４二より保持され、試験条件印加スイッチ１２を
オンにすると、発振回路１３はリレー１５を一定時間動
作し、その間リレー２３は、信号発生器５の出力Ｃを被
試験装置嬬；印加し、チェック端子１０よシ被試験装置
の過渡特性を観測できる。再び観測したい場合は、スイ
ッチ１２を゛再度オン域＝すればよい。
本発明の自動試験方法６二使用する自動試験装置の試験
条件回路はリレー回路に限定されるものではない。
条件回路はリレー回路に限定されるものではない。
第３図、第５図（二示す実施例の場合、試験条件保持ス
イッチを直接計算機部２４二て入力し、試験条件設定回
路の機能を計算機部２のソフトウェア処理４：で実行す
れば、菖１図に示す従来の自動試験装置の試験条件設定
回路３にでも本発明は実施できる。
イッチを直接計算機部２４二て入力し、試験条件設定回
路の機能を計算機部２のソフトウェア処理４：で実行す
れば、菖１図に示す従来の自動試験装置の試験条件設定
回路３にでも本発明は実施できる。
また、同様に第４図および第６図１；示した実施例の場
合６二本各試験条件スイッチ２５．２６．２７゜２８、
試験条件印加スイッチ１２を計算機＠ ２４：直接入力
して、試験条件設定回路の機能をソフトウェア処理にて
実行すれば、第１図（：示す従来の自動試験装置の試験
条件設定回路でも本発明は実施できる。
合６二本各試験条件スイッチ２５．２６．２７゜２８、
試験条件印加スイッチ１２を計算機＠ ２４：直接入力
して、試験条件設定回路の機能をソフトウェア処理にて
実行すれば、第１図（：示す従来の自動試験装置の試験
条件設定回路でも本発明は実施できる。
さ６４二、この第４図Ｉ：おける実施例の場合、各試験
条件毎に設けたスイッチ２５〜２８の代シ４＝、試験項
目毎に試験条件の印加順序は定められているので、この
順序印加の進段を指示するスイッチを設けても同一機能
を有することができる０以上の第３図、第４ｆｉ、第６
図唾二示し九３つの実施例の機能を計算機部２のソフト
ウェア１引；て合せもった、自動試験装置の実施例の構
成を菖８図１；、計算機部２の作用を第９図の］ａ−６
＝示した。
条件毎に設けたスイッチ２５〜２８の代シ４＝、試験項
目毎に試験条件の印加順序は定められているので、この
順序印加の進段を指示するスイッチを設けても同一機能
を有することができる０以上の第３図、第４ｆｉ、第６
図唾二示し九３つの実施例の機能を計算機部２のソフト
ウェア１引；て合せもった、自動試験装置の実施例の構
成を菖８図１；、計算機部２の作用を第９図の］ａ−６
＝示した。
（０総合的な効果
以上の通〕本発明の自動試験方法（二よれば、自動試験
装置砿；試験条件の保持、試験条件の順序印加の手動操
作による印加、試験条件の反復印加の機能を付加させる
ことによｐ１被賦験ＷＬｉｌｉの不具合部の確認と修理
後の確ｗ！−調整を、第１０図に示す従来の自動試験装
置６二よる作業手順のように別途調整用ζ二装置を準備
し、接続変換勢を行なうことなく、第１１図で示す作業
手順のごとく短時間で容易４：実施することができ、自
動試験装置を修理、調整用−二も有効活用ができる。
装置砿；試験条件の保持、試験条件の順序印加の手動操
作による印加、試験条件の反復印加の機能を付加させる
ことによｐ１被賦験ＷＬｉｌｉの不具合部の確認と修理
後の確ｗ！−調整を、第１０図に示す従来の自動試験装
置６二よる作業手順のように別途調整用ζ二装置を準備
し、接続変換勢を行なうことなく、第１１図で示す作業
手順のごとく短時間で容易４：実施することができ、自
動試験装置を修理、調整用−二も有効活用ができる。
を九、自動試験装置の測定精度も容易鴫；確認でき自動
試験装置の保守に有効である。
試験装置の保守に有効である。
ｊＩ１１図は従来の自動試験方法で使用し九自動試験装
置のブロック図、第２図〜１ｇ６図は本発明の自動試験
方法で使用する自動試験Ｗｔ置のブロック図、第７図は
第２図の計算機部のフローチャート第８図は本発明の自
動試験方法で使用する他の自動試験ＷｌＫのブロック図
、第９＆Ａは第８図の計算機部のフローチャートである
。第１０図は従来の作業フロー金示した図、第１１図は
本発明の作業フローを示し九図。 ２．２′・・・計算機部 ３．３１．３２．３３・・・試験条件設定（９）路４・
・・試験電源 ５・・・信号発生器９・・・試験
条件保持スイッチ １０・・・チェック端子 １１．１３・・・発振回路
１２・・・試験条件印加スイッチ １４・・・試験条件進段スイッチ＠ （７３１７） 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （
ほか１名）１ 第１図 第４図 第５図 第６図 第７ｖＡ 第８図 第９図 第１０図 第１１図
置のブロック図、第２図〜１ｇ６図は本発明の自動試験
方法で使用する自動試験Ｗｔ置のブロック図、第７図は
第２図の計算機部のフローチャート第８図は本発明の自
動試験方法で使用する他の自動試験ＷｌＫのブロック図
、第９＆Ａは第８図の計算機部のフローチャートである
。第１０図は従来の作業フロー金示した図、第１１図は
本発明の作業フローを示し九図。 ２．２′・・・計算機部 ３．３１．３２．３３・・・試験条件設定（９）路４・
・・試験電源 ５・・・信号発生器９・・・試験
条件保持スイッチ １０・・・チェック端子 １１．１３・・・発振回路
１２・・・試験条件印加スイッチ １４・・・試験条件進段スイッチ＠ （７３１７） 代理人弁理士 則 近 憲 佑 （
ほか１名）１ 第１図 第４図 第５図 第６図 第７ｖＡ 第８図 第９図 第１０図 第１１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （リ 被試験装置と接続し、試験の実行側−と判定機能
を有する計算機部と、被試験装置（；印加する各種試験
電源、および信号発生器と、試験項目毎４＝被試験装置
への接続を切換える切換回路と、前記計算機部の出力に
よシ前記試験゛罐源・信号発生器の出力をオン・オフす
る試験条件設定回路を有する多数の試験項目を実行する
制御装置の自動試験装置（＝おいて、実行を開始した試
験項目の試験条件を、前記試験条件設定回路を外部操作
すること１二よ）、試験実行終了後も保持することを特
徴とする制御装置の自動試験方法０ （２）複数の試験項目の試験条件を、試験条件設定回路
を順次外部操作する毎仁、保持することを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の制御装置の自動試験方法〇 （３） 過渡特性を測定する試験項目の試験条件を繰
返し印加・リセットし、試験条件設定回路を繰返し外部
操作することによ）、過渡特性を繰返し測定することを
特徴とする特許請求の範囲１１１項記載の制＃装置の内
勤試験方法。 （４） 過渡特性を測定する試験項目の試験条件を逐
一印加・リセットし、試験条件設定回路を逐−鴫二外部
操作すること６二より、試験項目の過渡特性を都度測定
することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の制御
装置の自動試験方法〇
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56173079A JPS5876906A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 制御装置の自動試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56173079A JPS5876906A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 制御装置の自動試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5876906A true JPS5876906A (ja) | 1983-05-10 |
Family
ID=15953809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56173079A Pending JPS5876906A (ja) | 1981-10-30 | 1981-10-30 | 制御装置の自動試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5876906A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0322006A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-01-30 | Honda Motor Co Ltd | 制御装置の検査方法 |
| JPH03110461U (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-13 | ||
| CN102749916A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-10-24 | 中国铁道科学研究院机车车辆研究所 | 一种列车牵引系统控制单元的自动测试装置 |
-
1981
- 1981-10-30 JP JP56173079A patent/JPS5876906A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0322006A (ja) * | 1989-06-19 | 1991-01-30 | Honda Motor Co Ltd | 制御装置の検査方法 |
| JPH03110461U (ja) * | 1990-02-23 | 1991-11-13 | ||
| CN102749916A (zh) * | 2012-07-27 | 2012-10-24 | 中国铁道科学研究院机车车辆研究所 | 一种列车牵引系统控制单元的自动测试装置 |
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