JPH0319497A - 自動トランスデューサ励起源検査装置 - Google Patents
自動トランスデューサ励起源検査装置Info
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- JPH0319497A JPH0319497A JP2130424A JP13042490A JPH0319497A JP H0319497 A JPH0319497 A JP H0319497A JP 2130424 A JP2130424 A JP 2130424A JP 13042490 A JP13042490 A JP 13042490A JP H0319497 A JPH0319497 A JP H0319497A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
- G01D18/002—Automatic recalibration
- G01D18/006—Intermittent recalibration
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
先兜へ44
本発明は、プロセス・トランスデューサの自動較正に関
し、特に、トランスデューサの励起源の検査に関する.
トランスデューサ入力回路を較正するために、検査シス
テムもしくは装置は、代表的には、入力回路からトラン
スデューサを外し、それを基準値(電圧もしくは電流の
いずれか)に置き換える.トランスデューサもしくはそ
の励起源のいずれかの較正のために入力回路からトラン
スデューサを引き外すことは望ましいことではない.そ
の理由は、引き外し時間中、引き外されたトランスデュ
ーサが検出するよう意図されているプロセス変数の状態
を、システム・コントローラもしくはシステム制御器が
決定することができないからである.このことは、プロ
セス変数を連続的に監視することが大いに望まれる原子
力プラントの制御装置において特に重要である.較正装
直は、トランスデューサの引き外し時間を最小にするよ
うに発展してきた.このような装置の1つが米国特許第
4,642,636号明細書に示されており、その内容
は参照によりここにも組込まれている.第1図は、該米
国特許第4,842,836号明細書に開示されている
較正装置を実施したシスデムのブロック図である.第1
図において、抵抗温度装置すなわちRTDのようなトラ
ンスデューサ10がプロセス変数を感知する.励起電流
源15はRTD 1 0に定電流を供給する.励起t流
源15の例が米国特許第4,672,226号に示され
ており、その内容は参照によりここにも組込まれている
.リレー20<第1図)は、励起源15からの電流をR
TD 1 0に切り換えるか、もしくは、増幅器35に
基準信号を供給するために精密抵抗器25、30の1つ
のような精密抵抗器に切り換えるかのいずれかである.
リレー40は、増幅器35を、RTD 1 0もしくは
もう1つのリレー45のいずれかに接続する.リレー4
5は、次に、高い値のtlI密抵抗器25または低い値
の1密抵抗器30のいずれかを、リレー40を介して増
幅器35に接続する. 米国特許第4.700,174号明細書は、米国特許第
4,642,638号明細書により教示された較正装置
に対する改良を開示している.第2図は、該米国特許第
4,700,174号明細書に開示された較正装置を実
施した装置もしくはシステムのブロック図であり、その
内容は参照によりここにも組込まれている.第2図にお
いて、電流源15は、ダイオード50を介して並列に(
すなわち、競売的に)接続されている.米国特許第4,
672,228号明細書は、このような冗長的なもしく
は競売的な励起電流源装置の動作を説明している.励起
源15の競売的動作( auct ioneering
)は、RTD 1 0を通る電流を遮断すること無く
、励起源15の1つが取り除かれるのを許容する.RT
DIOからの信号は、検査リレー55及びマルチブレク
サ60を介して増幅器35に通る.調整を適用可能にす
るには、例えば端子65を介して原子力監視装置内に外
部検査信号が注入されるのを可能とするように、検査リ
レー55のような回路が該原子力監視装置に含まれるこ
とが必要である.かかる外部信号の注入の間、検査リレ
ー55は増幅器35からRTD 1 0を外し、監視さ
れているプロセス変数をオフラインとする.しかしなが
ら、正常な動作中には、米国特許第4,700,174
号明細書に詳細に説明されているようにシステムの較正
中でさえ、RTDIOはオフラインとされない,RTD
lOの状態がシステム・プロセッサにより検査された決
、マルチプレクサ60J.tFll密抵抗器25及び3
0を増幅器35に接続する. 第2図に開示されたシステムもしくは装置においては励
起電流源15を自動的に較正することは可能ではない.
代わりに、励起源15はジャンパ70を介して手動で検
査されなければならず、この検査結果はシステム・プロ
セッサに供給されて、励起源の次のチェックまで固定値
として記憶されなければならない.また、第2図のシス
テムでは、励起源15の1つを手動で取り除いて増幅器
35の出力を監視すること無しでは、励起源の冗!(す
なわち競売)特徴が役に立つか否かを決定することはで
きない. 魚』!414 本発明の目的は、トランスデューサ励起源を手動で検査
するための必要性を除去した自動励起源検査装置を提供
することである。
し、特に、トランスデューサの励起源の検査に関する.
トランスデューサ入力回路を較正するために、検査シス
テムもしくは装置は、代表的には、入力回路からトラン
スデューサを外し、それを基準値(電圧もしくは電流の
いずれか)に置き換える.トランスデューサもしくはそ
の励起源のいずれかの較正のために入力回路からトラン
スデューサを引き外すことは望ましいことではない.そ
の理由は、引き外し時間中、引き外されたトランスデュ
ーサが検出するよう意図されているプロセス変数の状態
を、システム・コントローラもしくはシステム制御器が
決定することができないからである.このことは、プロ
セス変数を連続的に監視することが大いに望まれる原子
力プラントの制御装置において特に重要である.較正装
直は、トランスデューサの引き外し時間を最小にするよ
うに発展してきた.このような装置の1つが米国特許第
4,642,636号明細書に示されており、その内容
は参照によりここにも組込まれている.第1図は、該米
国特許第4,842,836号明細書に開示されている
較正装置を実施したシスデムのブロック図である.第1
図において、抵抗温度装置すなわちRTDのようなトラ
ンスデューサ10がプロセス変数を感知する.励起電流
源15はRTD 1 0に定電流を供給する.励起t流
源15の例が米国特許第4,672,226号に示され
ており、その内容は参照によりここにも組込まれている
.リレー20<第1図)は、励起源15からの電流をR
TD 1 0に切り換えるか、もしくは、増幅器35に
基準信号を供給するために精密抵抗器25、30の1つ
のような精密抵抗器に切り換えるかのいずれかである.
リレー40は、増幅器35を、RTD 1 0もしくは
もう1つのリレー45のいずれかに接続する.リレー4
5は、次に、高い値のtlI密抵抗器25または低い値
の1密抵抗器30のいずれかを、リレー40を介して増
幅器35に接続する. 米国特許第4.700,174号明細書は、米国特許第
4,642,638号明細書により教示された較正装置
に対する改良を開示している.第2図は、該米国特許第
4,700,174号明細書に開示された較正装置を実
施した装置もしくはシステムのブロック図であり、その
内容は参照によりここにも組込まれている.第2図にお
いて、電流源15は、ダイオード50を介して並列に(
すなわち、競売的に)接続されている.米国特許第4,
672,228号明細書は、このような冗長的なもしく
は競売的な励起電流源装置の動作を説明している.励起
源15の競売的動作( auct ioneering
)は、RTD 1 0を通る電流を遮断すること無く
、励起源15の1つが取り除かれるのを許容する.RT
DIOからの信号は、検査リレー55及びマルチブレク
サ60を介して増幅器35に通る.調整を適用可能にす
るには、例えば端子65を介して原子力監視装置内に外
部検査信号が注入されるのを可能とするように、検査リ
レー55のような回路が該原子力監視装置に含まれるこ
とが必要である.かかる外部信号の注入の間、検査リレ
ー55は増幅器35からRTD 1 0を外し、監視さ
れているプロセス変数をオフラインとする.しかしなが
ら、正常な動作中には、米国特許第4,700,174
号明細書に詳細に説明されているようにシステムの較正
中でさえ、RTDIOはオフラインとされない,RTD
lOの状態がシステム・プロセッサにより検査された決
、マルチプレクサ60J.tFll密抵抗器25及び3
0を増幅器35に接続する. 第2図に開示されたシステムもしくは装置においては励
起電流源15を自動的に較正することは可能ではない.
代わりに、励起源15はジャンパ70を介して手動で検
査されなければならず、この検査結果はシステム・プロ
セッサに供給されて、励起源の次のチェックまで固定値
として記憶されなければならない.また、第2図のシス
テムでは、励起源15の1つを手動で取り除いて増幅器
35の出力を監視すること無しでは、励起源の冗!(す
なわち競売)特徴が役に立つか否かを決定することはで
きない. 魚』!414 本発明の目的は、トランスデューサ励起源を手動で検査
するための必要性を除去した自動励起源検査装置を提供
することである。
本発明のもう1つの目的は、トランスデューサ励起源の
冗長性を自動的に検査することができる自動トランスデ
ューサ励起源検査装置を提供することである. 本発明のさらにもうlつの目的は、トランスデューサ励
起源のオンライン検査を行うことができる自動トランス
デューサ励起源検査装置を提供することである. また、本発明のもう1つの目的は、トランスデューサ励
起源の冗長性のオンライン検査を行うことができる自動
励起源検査装置を提供することである. 上述並びに他の目的を連或するため、本発明によれば、
所定の時間に増幅器に信号を供給するためにトランスデ
ューサに接続可能な自動トランスデューサ励起源検査装
置であって, 励起源と、 電気素子と、 出力を有し、少なくとも1つの制御信号に従って、該出
力を前記トランスデューサ及び前記電気素子の1つに選
択的に接続すると共に、前記励起源を前記電気素子及び
前記トランスデューサの1つに選択的に接続する接続手
段と、 前記励起源を。前記所定の時間の1つの間に前記電気素
子に、かつ前記所定の時間のもう1つの間に前記トラン
スデューサに接続するように前記少なくとも1つの制御
信号を供給するための制御手段と、 を備えた自動トランスデューサ励起源検査装置が提供さ
れる. ・戸の 第3図は、本発明を具体化した自動トランスデューサ励
起源検査装置のブロック図である.第2図に示された装
置と同じ第3図の装置の素子は、第2図に示されたのと
同じ参照数字を有している.第3図において、励起源(
exeitation source)15は、例えば
RTD1 0に定電流を供給する.示されたように、励
起R15は、スイッチ75の入力に接続される.スイッ
チ75の第1の出力は、電気素子80に接続される,ス
イッチ75の第2の出力は、以後説明される励起源結合
手段50を介してRTD 1 0に接続可能である.制
御器もしくはコントローラ85は、制御信号をスイッチ
75に与える.この制御信号は励起源15からの電流を
RTD10または電気素子80のいずれかに供給するよ
うにする.本発明の好適な実施例においては、電気素子
80は、精密抵抗器を含んでいる.!気素子80は、第
2のスイッチ90の第1の入力に接続される.第2図に
示された検査リレー55に関して上述したように、第2
のスイッチ90の第2の入力は、端子65からの外部検
査信号を受信するように接続可能である.第2のスイッ
チ90は、制御器85によって与えられる制御信号に従
って、電気素子80または端子65のいずれかを第2の
スイッチ90の出力に接続する.制御器85は制御手段
を含んでおり、そして例えばプロセッサまたはシーケン
ス・ハードウェア回路を含み得る. 第3のスイッチ95は、RTD1 0または第2のスイ
ッチ90の出力のいずれかをマルチブレクサ手段60の
入力105に接続する.第3のスイッチ95の第lの入
力は、第3図に示されたRTD10に接続可能であり、
第3のスイッチ95の第2の入力は、第2のスイッチ9
0の出力に接続される.第3のスイッチ95は、制御器
85からの制御信号を受信し、そしてこの制御信号に従
って、第1の入力または第2の入力のいずれかをマルチ
プレクサ手段60に接続する.マルチブレクサ手段60
は、制御器85のような制御器によって与えられる少な
くとも1つの制御信号で制御可能である、一mの半導体
マルチブレクサまたは電気機械スイッチのようなどのよ
うな多重化素子をも含み得る.第3図に示されたように
、増幅器35は、マルチプレクサ手段60の出力110
を増幅する.増幅器35の出力は、プロセッサ(図示せ
ず)によってサンプリングされる. RTD 1 0の状態は、増幅器35の出力をサンプリ
ングすることによりプロセッサ(図示せず〉によって周
期的に検査される.プロセッサは、いくつかの他のトラ
ンスデューサの状態を検査するような他の仕事を有する
ので、RTD 1 0が増幅器35に連続的に接続され
ている必要はない.RTD 1 0の状態を検査するた
めにプロセッサが増幅器35の出力をサンプリングする
所定の時刻において、RTD 1 0が増幅器35に接
続されていれば充分である.かかる状態中、RTD 1
0はオンライン状態にある.何故ならば、プロセッサ
がRTD1 0の状態を検査することを必要とするその
時刻において、トランスデューサがオンラインで増幅器
35に接続されるからである.換言すれば、増幅器35
からのRTD 1 0の切り離しは、プロセッサにとっ
て透過的(transparent)である.かかる透
過性(transparency)を達成する1つの例
示的なサンプリング構造が米国特許第4,700、17
4号明細書に説明されている. 励起源15によって与えられる電流の大きさを検査する
ために、制御器85は、励起源15をスイッチ75の第
lの出力に接続し;第2のスイッチの第1の入力を第3
のスイッチ95の第2の入力に接続し;第3のスイッチ
95の第2の入力をマルチブレクサ手段60に接続し;
そしてマルチブレクサ入力105を出力110を介して
増幅器35に接続する,RTDIOがオンラインにある
ことを確実にするために、プロセッサがRTD10の状
態をサンプリングすることが必要ではない所定の時間中
に、これらの接続が為される.例えば、励起源15は、
プロセッサがすべてのトランスデューサをサンプリング
してしまって、従ってそのサンプリング・サイクルを完
了したときに検査されるか、またはトランスデューサの
サンプル間の時間中に検査され得る.増幅器35を介し
てプロセッサに高い及び低い基準電圧を与えるために、
マルチプレクサ千段60はまた電気基準素子25及び3
0のそれぞれの1つを出力1lOに周期的に接続し得る
.これらの素子を出力110に周期的に接続するための
1つの機構が米国特許第4.700,174号明細書に
述べられている.マルチブレクサ手段60と一緒に第1
、第2及び第3のスイッチ(75、90、95)は、制
御器85によって与えられる少なくとも1つの制御信号
に従って、出力110をRTD1 0及び電気素子80
の一方に選択的に接続し、そして励起源15を電気素子
80及びRTD 1 0の一方に選択的に接続するため
の接続手段を含んでいる. 第3図はまた、任意の付加的な励起源15をも示してい
る.この付加的な励起源15は、第4のスイッチ115
の入力に接続される.第4のスイッチ115の第1の出
力は、付加的な電気素子120に接続される.付加的な
電気素子120及び第4のスイッチ115は、励起源の
冗長性を含むことが望まれる場合に任意的に用いられる
.付加的な電気素子120は、スイッチ90及び95と
同様の態様で配列されるスイッチ(図示せず)を介して
、マルチプレクサ手段60にまたは付加的なマルチプレ
クサ手段(図示せず)に接続される.第4のスイッチ1
15の第2の出力は、源結台手段50を介してRTD
1 0に接続可能である.結合千段50は、例えば第3
図に示されたようなダイオードを含み得る.付加的な励
起源l5は、第4のスイッチ115及び源結合手段50
を介してRTD 1 0に結合されたとき、励起源冗長
性を提供する.励起源の冗長性は、概して米国特許第4
、672、228号明細書に述べられている.同時に、
第1及び第4のスイッチ(75、115)は、励起源の
冗長特性が検査されるのを可能とし、かつ励起源15の
作用または不作用状態が決定されるのを可能とする.例
えば、制御器85は、第3のスイッチ95がRTD 1
0をマルチブレクサ人力105に接続するようにし、
そしてマルチプレクサ手段60がマルチアレクサ人力1
05を出力110に接続するようにする.この状態で、
制御器85は、RTD 10を励起源15の一方に交互
に接続させる.励起源冗長特性が正当に動作しているな
らば、励起源15間でRTD10を切換えても、増幅器
35の出力に現れている現状のRTD 1 0の状態に
は影響しないであろう. 第4図は、本発明を実施した自動トランスデューサ励起
源検査装置の処理の流れ図である。通常の動作中、すな
わち処理ステップ125中、制御器85は、第1のスイ
ッチ75及び結合手段50を介して励起源15をRTD
1 0に接続する.同様に、制御器85は、付加的な
励起源15〈装置内に含まれているならば)を第4のス
イッチ115及び結合手段50を介してRTD 1 0
に接続する.第3のスイッチ95は、RTD 1 0を
マルチプレクサ入力105に接続するように設定される
.この通常の動作モードにおいては、第2のスイッチ9
0の状態は無関係であり、なぜならばRTD 1 0が
第3のスイッチ95を介してマルチプレクサ手段60に
接続されているからである.所定の時間において、プロ
セッサによってサンプリングするために、マルチプレク
サ60はマルチプレクサ入力105を出力110に、従
って増幅器35に接続する.それ故、RTD 1 0は
、オンラインであるようにプロセッサに見える.プロセ
ッサが例えば装置内のすべてのトランスデューサをサン
プリングした後、処理は判断ステップ130に進む.こ
のステップは、システム検査を行うべき時であるか否か
を判定する.システム検査は、オペレータの制御下で、
選択されたどのような時にでも生じ得、原子炉監視装置
においては、例えば1月に少なくとも一度行われる.シ
ステム検査を行うべき時ではないならば、次に、処理は
、通常動作モード・ステップ125に戻る.システム検
査を行うべき時ならば、処理は、競売的(auctio
neering)検査モード・ステップ135に進む.
このステップにおいて制御器85は交互に励起源15を
RTD 1 0に接続したり離したりする.同時に、増
幅器35の出力(第3のスイッチ95はその人力がマル
チプレクサ人力105に接続されるようにする)がサン
プリングされて、RTDIOの状態が増幅器35の出力
に現れるとき、励起源15の交互接続が該RTDの状態
に影響しないのを確認する. 励起源の冗長性(すなわち、競売性)が正当に作用して
いるのを確認した後、処理は、ステップ140に進む.
ステップ140において、第lのスイッチ75は、励起
源15を電気素子80;すなわち精密抵抗器に接続する
.第2のスイッチ90は、その第1の入力を第3のスイ
ッチ95の第2の入力に接続するように設定される.第
3のスイッチ95は、その第2の入力をマルチブレクサ
入力105に接続し、そして該マルチプレクサ手段60
は、出力110を介して該マルチブレクサ人力105を
増幅器35に接続する.従って、増幅器35の出力は、
励起源15によって与えられる電流の大きさを表わす. 増幅器35の出力をサンプリングした後、処理はステッ
プ145に進む.ステップ145において、第3のスイ
ッチ95は、その第2の入力をマルチブレクサ人力10
5に接続する.第2のスイッチ90は、端子65を第3
のスイッチ95の第2の入力に接続する.これらの接続
で、外部の検査信号がシステムもしくは装置内に注入さ
れ得、そしてマルチプレクサ60がマルチプレクサ入力
105を出力110に接続したとき、該外部の検査信号
は増幅器35の出力においてサンプリングされ得る.外
部信号の検査を完了した後、処理は、通常動作モードの
処理ステップ125に戻る.第5図は、電流ループ・ト
ランスミッタ送信器155に電力を供給するよう働く電
圧供給もしくは電源150を検査するための自動トラン
スデューサ励起源検査装置の実施例を示すブロック図で
あり、ここに、電流ループ・トランスミッタもしくは送
信器155は、温度または圧力のような、例えば制御目
的のために監視されるプロセス・パラメータの値に対応
する大きさの電流を発生するものである.トタンスミッ
タ155によって発生された電流は基準抵抗器160を
通して流れ、そして、通常の監視動作中、該抵抗器16
0を横切って生ずる電圧は、マルチプレクサ170を介
して、増幅器35に対応する増幅器を含んだバッファ及
び信号変換回路165に供給されてアナログ信号を生じ
、該アナログ信号は、それぞれのチャンネル175にお
いて、制御されているプロセスのための制御ループの部
分を形成するループ・プロセッサ(図示せず冫に供給さ
れる.長所的には、電流ループ・トランスミッタを含ん
だ回路内で発生され得る高電圧過渡に対して保護を与え
るために、ツェナー・ダイオード180が、電圧供給1
50及びトランスミッタ155間に直列に接続される。
冗長性を自動的に検査することができる自動トランスデ
ューサ励起源検査装置を提供することである. 本発明のさらにもうlつの目的は、トランスデューサ励
起源のオンライン検査を行うことができる自動トランス
デューサ励起源検査装置を提供することである. また、本発明のもう1つの目的は、トランスデューサ励
起源の冗長性のオンライン検査を行うことができる自動
励起源検査装置を提供することである. 上述並びに他の目的を連或するため、本発明によれば、
所定の時間に増幅器に信号を供給するためにトランスデ
ューサに接続可能な自動トランスデューサ励起源検査装
置であって, 励起源と、 電気素子と、 出力を有し、少なくとも1つの制御信号に従って、該出
力を前記トランスデューサ及び前記電気素子の1つに選
択的に接続すると共に、前記励起源を前記電気素子及び
前記トランスデューサの1つに選択的に接続する接続手
段と、 前記励起源を。前記所定の時間の1つの間に前記電気素
子に、かつ前記所定の時間のもう1つの間に前記トラン
スデューサに接続するように前記少なくとも1つの制御
信号を供給するための制御手段と、 を備えた自動トランスデューサ励起源検査装置が提供さ
れる. ・戸の 第3図は、本発明を具体化した自動トランスデューサ励
起源検査装置のブロック図である.第2図に示された装
置と同じ第3図の装置の素子は、第2図に示されたのと
同じ参照数字を有している.第3図において、励起源(
exeitation source)15は、例えば
RTD1 0に定電流を供給する.示されたように、励
起R15は、スイッチ75の入力に接続される.スイッ
チ75の第1の出力は、電気素子80に接続される,ス
イッチ75の第2の出力は、以後説明される励起源結合
手段50を介してRTD 1 0に接続可能である.制
御器もしくはコントローラ85は、制御信号をスイッチ
75に与える.この制御信号は励起源15からの電流を
RTD10または電気素子80のいずれかに供給するよ
うにする.本発明の好適な実施例においては、電気素子
80は、精密抵抗器を含んでいる.!気素子80は、第
2のスイッチ90の第1の入力に接続される.第2図に
示された検査リレー55に関して上述したように、第2
のスイッチ90の第2の入力は、端子65からの外部検
査信号を受信するように接続可能である.第2のスイッ
チ90は、制御器85によって与えられる制御信号に従
って、電気素子80または端子65のいずれかを第2の
スイッチ90の出力に接続する.制御器85は制御手段
を含んでおり、そして例えばプロセッサまたはシーケン
ス・ハードウェア回路を含み得る. 第3のスイッチ95は、RTD1 0または第2のスイ
ッチ90の出力のいずれかをマルチブレクサ手段60の
入力105に接続する.第3のスイッチ95の第lの入
力は、第3図に示されたRTD10に接続可能であり、
第3のスイッチ95の第2の入力は、第2のスイッチ9
0の出力に接続される.第3のスイッチ95は、制御器
85からの制御信号を受信し、そしてこの制御信号に従
って、第1の入力または第2の入力のいずれかをマルチ
プレクサ手段60に接続する.マルチブレクサ手段60
は、制御器85のような制御器によって与えられる少な
くとも1つの制御信号で制御可能である、一mの半導体
マルチブレクサまたは電気機械スイッチのようなどのよ
うな多重化素子をも含み得る.第3図に示されたように
、増幅器35は、マルチプレクサ手段60の出力110
を増幅する.増幅器35の出力は、プロセッサ(図示せ
ず)によってサンプリングされる. RTD 1 0の状態は、増幅器35の出力をサンプリ
ングすることによりプロセッサ(図示せず〉によって周
期的に検査される.プロセッサは、いくつかの他のトラ
ンスデューサの状態を検査するような他の仕事を有する
ので、RTD 1 0が増幅器35に連続的に接続され
ている必要はない.RTD 1 0の状態を検査するた
めにプロセッサが増幅器35の出力をサンプリングする
所定の時刻において、RTD 1 0が増幅器35に接
続されていれば充分である.かかる状態中、RTD 1
0はオンライン状態にある.何故ならば、プロセッサ
がRTD1 0の状態を検査することを必要とするその
時刻において、トランスデューサがオンラインで増幅器
35に接続されるからである.換言すれば、増幅器35
からのRTD 1 0の切り離しは、プロセッサにとっ
て透過的(transparent)である.かかる透
過性(transparency)を達成する1つの例
示的なサンプリング構造が米国特許第4,700、17
4号明細書に説明されている. 励起源15によって与えられる電流の大きさを検査する
ために、制御器85は、励起源15をスイッチ75の第
lの出力に接続し;第2のスイッチの第1の入力を第3
のスイッチ95の第2の入力に接続し;第3のスイッチ
95の第2の入力をマルチブレクサ手段60に接続し;
そしてマルチブレクサ入力105を出力110を介して
増幅器35に接続する,RTDIOがオンラインにある
ことを確実にするために、プロセッサがRTD10の状
態をサンプリングすることが必要ではない所定の時間中
に、これらの接続が為される.例えば、励起源15は、
プロセッサがすべてのトランスデューサをサンプリング
してしまって、従ってそのサンプリング・サイクルを完
了したときに検査されるか、またはトランスデューサの
サンプル間の時間中に検査され得る.増幅器35を介し
てプロセッサに高い及び低い基準電圧を与えるために、
マルチプレクサ千段60はまた電気基準素子25及び3
0のそれぞれの1つを出力1lOに周期的に接続し得る
.これらの素子を出力110に周期的に接続するための
1つの機構が米国特許第4.700,174号明細書に
述べられている.マルチブレクサ手段60と一緒に第1
、第2及び第3のスイッチ(75、90、95)は、制
御器85によって与えられる少なくとも1つの制御信号
に従って、出力110をRTD1 0及び電気素子80
の一方に選択的に接続し、そして励起源15を電気素子
80及びRTD 1 0の一方に選択的に接続するため
の接続手段を含んでいる. 第3図はまた、任意の付加的な励起源15をも示してい
る.この付加的な励起源15は、第4のスイッチ115
の入力に接続される.第4のスイッチ115の第1の出
力は、付加的な電気素子120に接続される.付加的な
電気素子120及び第4のスイッチ115は、励起源の
冗長性を含むことが望まれる場合に任意的に用いられる
.付加的な電気素子120は、スイッチ90及び95と
同様の態様で配列されるスイッチ(図示せず)を介して
、マルチプレクサ手段60にまたは付加的なマルチプレ
クサ手段(図示せず)に接続される.第4のスイッチ1
15の第2の出力は、源結台手段50を介してRTD
1 0に接続可能である.結合千段50は、例えば第3
図に示されたようなダイオードを含み得る.付加的な励
起源l5は、第4のスイッチ115及び源結合手段50
を介してRTD 1 0に結合されたとき、励起源冗長
性を提供する.励起源の冗長性は、概して米国特許第4
、672、228号明細書に述べられている.同時に、
第1及び第4のスイッチ(75、115)は、励起源の
冗長特性が検査されるのを可能とし、かつ励起源15の
作用または不作用状態が決定されるのを可能とする.例
えば、制御器85は、第3のスイッチ95がRTD 1
0をマルチブレクサ人力105に接続するようにし、
そしてマルチプレクサ手段60がマルチアレクサ人力1
05を出力110に接続するようにする.この状態で、
制御器85は、RTD 10を励起源15の一方に交互
に接続させる.励起源冗長特性が正当に動作しているな
らば、励起源15間でRTD10を切換えても、増幅器
35の出力に現れている現状のRTD 1 0の状態に
は影響しないであろう. 第4図は、本発明を実施した自動トランスデューサ励起
源検査装置の処理の流れ図である。通常の動作中、すな
わち処理ステップ125中、制御器85は、第1のスイ
ッチ75及び結合手段50を介して励起源15をRTD
1 0に接続する.同様に、制御器85は、付加的な
励起源15〈装置内に含まれているならば)を第4のス
イッチ115及び結合手段50を介してRTD 1 0
に接続する.第3のスイッチ95は、RTD 1 0を
マルチプレクサ入力105に接続するように設定される
.この通常の動作モードにおいては、第2のスイッチ9
0の状態は無関係であり、なぜならばRTD 1 0が
第3のスイッチ95を介してマルチプレクサ手段60に
接続されているからである.所定の時間において、プロ
セッサによってサンプリングするために、マルチプレク
サ60はマルチプレクサ入力105を出力110に、従
って増幅器35に接続する.それ故、RTD 1 0は
、オンラインであるようにプロセッサに見える.プロセ
ッサが例えば装置内のすべてのトランスデューサをサン
プリングした後、処理は判断ステップ130に進む.こ
のステップは、システム検査を行うべき時であるか否か
を判定する.システム検査は、オペレータの制御下で、
選択されたどのような時にでも生じ得、原子炉監視装置
においては、例えば1月に少なくとも一度行われる.シ
ステム検査を行うべき時ではないならば、次に、処理は
、通常動作モード・ステップ125に戻る.システム検
査を行うべき時ならば、処理は、競売的(auctio
neering)検査モード・ステップ135に進む.
このステップにおいて制御器85は交互に励起源15を
RTD 1 0に接続したり離したりする.同時に、増
幅器35の出力(第3のスイッチ95はその人力がマル
チプレクサ人力105に接続されるようにする)がサン
プリングされて、RTDIOの状態が増幅器35の出力
に現れるとき、励起源15の交互接続が該RTDの状態
に影響しないのを確認する. 励起源の冗長性(すなわち、競売性)が正当に作用して
いるのを確認した後、処理は、ステップ140に進む.
ステップ140において、第lのスイッチ75は、励起
源15を電気素子80;すなわち精密抵抗器に接続する
.第2のスイッチ90は、その第1の入力を第3のスイ
ッチ95の第2の入力に接続するように設定される.第
3のスイッチ95は、その第2の入力をマルチブレクサ
入力105に接続し、そして該マルチプレクサ手段60
は、出力110を介して該マルチブレクサ人力105を
増幅器35に接続する.従って、増幅器35の出力は、
励起源15によって与えられる電流の大きさを表わす. 増幅器35の出力をサンプリングした後、処理はステッ
プ145に進む.ステップ145において、第3のスイ
ッチ95は、その第2の入力をマルチブレクサ人力10
5に接続する.第2のスイッチ90は、端子65を第3
のスイッチ95の第2の入力に接続する.これらの接続
で、外部の検査信号がシステムもしくは装置内に注入さ
れ得、そしてマルチプレクサ60がマルチプレクサ入力
105を出力110に接続したとき、該外部の検査信号
は増幅器35の出力においてサンプリングされ得る.外
部信号の検査を完了した後、処理は、通常動作モードの
処理ステップ125に戻る.第5図は、電流ループ・ト
ランスミッタ送信器155に電力を供給するよう働く電
圧供給もしくは電源150を検査するための自動トラン
スデューサ励起源検査装置の実施例を示すブロック図で
あり、ここに、電流ループ・トランスミッタもしくは送
信器155は、温度または圧力のような、例えば制御目
的のために監視されるプロセス・パラメータの値に対応
する大きさの電流を発生するものである.トタンスミッ
タ155によって発生された電流は基準抵抗器160を
通して流れ、そして、通常の監視動作中、該抵抗器16
0を横切って生ずる電圧は、マルチプレクサ170を介
して、増幅器35に対応する増幅器を含んだバッファ及
び信号変換回路165に供給されてアナログ信号を生じ
、該アナログ信号は、それぞれのチャンネル175にお
いて、制御されているプロセスのための制御ループの部
分を形成するループ・プロセッサ(図示せず冫に供給さ
れる.長所的には、電流ループ・トランスミッタを含ん
だ回路内で発生され得る高電圧過渡に対して保護を与え
るために、ツェナー・ダイオード180が、電圧供給1
50及びトランスミッタ155間に直列に接続される。
ツェナー・ダイオード180のこの作用は、米国特許第
4,644、440号明細書に一層詳細に述べられてい
る. 本発明によると電圧供給もしくは電源150の出力は、
第1のDPDTリレー185の共通端子に接続され、該
第1のDPDTリレー185は、それぞれツエナー・ダ
イオード180と接地とに接続される第1の組の切換え
可能な接点を有する.リレー185の第2の組の切換え
可能な接点は、抵抗分圧器190のそれぞれの端に接続
される.第2のDPDTリレー195は、分圧器190
の2つの抵抗器の一方のそれぞれの端に接続される第1
の組の切換え可能な接点を有する.分圧器190の目的
は、電流ループ・トランスミッタ155からの出力がそ
の動作範囲の所定点にあるとき、抵抗器160を横切る
電圧と大きさにおいて比較可能な出力電圧を提供するこ
とである.リレー195の第2の組の切換え可能な接点
は、第2図に示された装置の端子65に供給されるもの
と同様の検査信号を与える検査入力&1200に接続さ
れる. リレー195の共通の端子は第3のDPDTリレー20
5の第1の組の切換え可能な接点に接続される. リレー205の第2の組の切換え可能な接点は抵抗器1
60を横切って接続され、そしてリレー205の共通の
端子は、マルチブレクサ170の1つの入力に接続され
る.マルチプレクサ170の他の2つの入力は線210
に接続され、該線210は、第2図の抵抗器25及び3
0によって供給されるものと同様で、また、米国特許第
4,700、174号明細書の第2A図に示された実施
例におけるマルチプレクサ54に供給されるものと同様
のオンライン較正基準信号を供給する.マルチプレクサ
170の種々の入力に与えられる信号は、米国特許第4
、700,174号明細書に述べられたR様でマルチプ
レクサの出力に切換え接続される. リレー185及び205が第5図に示された位置にある
場合、装置はその通常のオンライン態様で動作し、電源
150からトランスミッタ155に電力が与えられ、ト
ランスミッタ155の出力電流により抵抗器160を横
切って生じる電圧が1210を介して与えられる信号と
交互に、チャンネル175に供給される. チャンネル175と関連した要素、特に5回路165と
マルチプレクサ170を検査するために、リレー195
と205は示された位置とは反対の位置に切換えられ得
、その結果、外部の検査信号がマルチプレクサ170の
一方の入力に与えられる. 電源150の完全性を検査するためには、リレー185
と205は、示された位置とは反対の位置に切換えられ
るが、リレー195は示された位置に置かれ、これによ
り、分圧器190の接続された抵抗を横切って生じる電
圧が、マルチプレクサ170の一方の入力に与えられる
. リレー185、195及び205の制御は、第3図に示
された制御器85と同様の制御器により、第4図の流れ
図によって示されたような手続中に行われ得る. 或る状況下では,変化する負荷状態の下で電源150の
動作状態を検査することが望ましいかも知れない.これ
は、第6図に示すように、少なくとも1つの追加の分圧
器215を設けることにより達戒され得、ここに、該追
加の分圧器215は、分圧器190とは異なった全抵抗
を有するが、分圧比については、分圧器190により生
じる出力電圧に匹敵し得る出力電圧を供給するよう選択
されている.分圧器190及び215は、さらなるDP
DTリレー220を介して、リレー195の第1の切換
え可能な接点に選択的に接続され得る.第6図から分か
るように、分圧器190及び215は,或る与えられた
時刻において、一方の分圧器のみが、リレー185の第
2の切換え可能な接点を横切って、かつ電源150の出
力を横切って接続されるような態様で、リレー220に
接続される.リレー220は、他のリレーを制御するの
と同じ制御器からの信号によって、2つの位置間で切換
えられ得る.必要ならば、異なった抵抗値を有するさら
に別の分圧器が、さらに別のリレー段と一緒に設けられ
得る. 本発明による検査装置は、米国特許第 4,644,440号明細書に述べられた型の配列にお
けるような冗長の電圧供給を検査するために特別の有用
性を見出す.かかる配列は第7図に示されており、2つ
の電圧供給の各々が、第5図の点線で囲まれた要素を有
する回路配列225内に含まれており、該2つの電圧供
給の出力はツエナー・ダイオード180を介して一緒に
接続されて該2つの電圧供給間で電力を競合する.この
場合、電流ループ・トランスミッタ155からの出力電
流は、2つの基準抵抗器230及び235を通して直列
に導かれ、それら抵抗器の各々は回路配列225のそれ
ぞれの1つに接続される.各回路配列は、それぞれの出
力チャンネル240または245を有している. 第7図にさらに示されているように、回路配列225と
その関連のツエナー・ダイオード180とから成る各ユ
ニットは、差込みモジュールとして設けられており、こ
れにより、他の配列の電圧供給が電流ループ・トランス
ミッタ155を駆動し続けている間に、いずれかの配列
を取り替えるのを可能とする. 第5図及び第6図に示されたリレーは,半導体スイッチ
として置き換えられ得る. 以上、本発明の特定の実施例を説明したが、本発明の精
神から逸脱することなく、多くの変更が為され得るのを
理解すべきである.添付の請求の範囲は、かかる変更を
、本発明の本当の範囲並びに精神内にあるものとして包
摂するよう意図されている, 従って、ここに開示された実施例は、すべての点で説明
のためのものであり、制限的なものとして考慮されるべ
きではなく、発明の範.囲は、上述の説明よりもむしろ
添付の請求範囲により示され、そして該請求範囲と等価
な意味及び範囲内にあるすべての変更は従って該請求範
囲内に包含されるよう意図されている.
4,644、440号明細書に一層詳細に述べられてい
る. 本発明によると電圧供給もしくは電源150の出力は、
第1のDPDTリレー185の共通端子に接続され、該
第1のDPDTリレー185は、それぞれツエナー・ダ
イオード180と接地とに接続される第1の組の切換え
可能な接点を有する.リレー185の第2の組の切換え
可能な接点は、抵抗分圧器190のそれぞれの端に接続
される.第2のDPDTリレー195は、分圧器190
の2つの抵抗器の一方のそれぞれの端に接続される第1
の組の切換え可能な接点を有する.分圧器190の目的
は、電流ループ・トランスミッタ155からの出力がそ
の動作範囲の所定点にあるとき、抵抗器160を横切る
電圧と大きさにおいて比較可能な出力電圧を提供するこ
とである.リレー195の第2の組の切換え可能な接点
は、第2図に示された装置の端子65に供給されるもの
と同様の検査信号を与える検査入力&1200に接続さ
れる. リレー195の共通の端子は第3のDPDTリレー20
5の第1の組の切換え可能な接点に接続される. リレー205の第2の組の切換え可能な接点は抵抗器1
60を横切って接続され、そしてリレー205の共通の
端子は、マルチブレクサ170の1つの入力に接続され
る.マルチプレクサ170の他の2つの入力は線210
に接続され、該線210は、第2図の抵抗器25及び3
0によって供給されるものと同様で、また、米国特許第
4,700、174号明細書の第2A図に示された実施
例におけるマルチプレクサ54に供給されるものと同様
のオンライン較正基準信号を供給する.マルチプレクサ
170の種々の入力に与えられる信号は、米国特許第4
、700,174号明細書に述べられたR様でマルチプ
レクサの出力に切換え接続される. リレー185及び205が第5図に示された位置にある
場合、装置はその通常のオンライン態様で動作し、電源
150からトランスミッタ155に電力が与えられ、ト
ランスミッタ155の出力電流により抵抗器160を横
切って生じる電圧が1210を介して与えられる信号と
交互に、チャンネル175に供給される. チャンネル175と関連した要素、特に5回路165と
マルチプレクサ170を検査するために、リレー195
と205は示された位置とは反対の位置に切換えられ得
、その結果、外部の検査信号がマルチプレクサ170の
一方の入力に与えられる. 電源150の完全性を検査するためには、リレー185
と205は、示された位置とは反対の位置に切換えられ
るが、リレー195は示された位置に置かれ、これによ
り、分圧器190の接続された抵抗を横切って生じる電
圧が、マルチプレクサ170の一方の入力に与えられる
. リレー185、195及び205の制御は、第3図に示
された制御器85と同様の制御器により、第4図の流れ
図によって示されたような手続中に行われ得る. 或る状況下では,変化する負荷状態の下で電源150の
動作状態を検査することが望ましいかも知れない.これ
は、第6図に示すように、少なくとも1つの追加の分圧
器215を設けることにより達戒され得、ここに、該追
加の分圧器215は、分圧器190とは異なった全抵抗
を有するが、分圧比については、分圧器190により生
じる出力電圧に匹敵し得る出力電圧を供給するよう選択
されている.分圧器190及び215は、さらなるDP
DTリレー220を介して、リレー195の第1の切換
え可能な接点に選択的に接続され得る.第6図から分か
るように、分圧器190及び215は,或る与えられた
時刻において、一方の分圧器のみが、リレー185の第
2の切換え可能な接点を横切って、かつ電源150の出
力を横切って接続されるような態様で、リレー220に
接続される.リレー220は、他のリレーを制御するの
と同じ制御器からの信号によって、2つの位置間で切換
えられ得る.必要ならば、異なった抵抗値を有するさら
に別の分圧器が、さらに別のリレー段と一緒に設けられ
得る. 本発明による検査装置は、米国特許第 4,644,440号明細書に述べられた型の配列にお
けるような冗長の電圧供給を検査するために特別の有用
性を見出す.かかる配列は第7図に示されており、2つ
の電圧供給の各々が、第5図の点線で囲まれた要素を有
する回路配列225内に含まれており、該2つの電圧供
給の出力はツエナー・ダイオード180を介して一緒に
接続されて該2つの電圧供給間で電力を競合する.この
場合、電流ループ・トランスミッタ155からの出力電
流は、2つの基準抵抗器230及び235を通して直列
に導かれ、それら抵抗器の各々は回路配列225のそれ
ぞれの1つに接続される.各回路配列は、それぞれの出
力チャンネル240または245を有している. 第7図にさらに示されているように、回路配列225と
その関連のツエナー・ダイオード180とから成る各ユ
ニットは、差込みモジュールとして設けられており、こ
れにより、他の配列の電圧供給が電流ループ・トランス
ミッタ155を駆動し続けている間に、いずれかの配列
を取り替えるのを可能とする. 第5図及び第6図に示されたリレーは,半導体スイッチ
として置き換えられ得る. 以上、本発明の特定の実施例を説明したが、本発明の精
神から逸脱することなく、多くの変更が為され得るのを
理解すべきである.添付の請求の範囲は、かかる変更を
、本発明の本当の範囲並びに精神内にあるものとして包
摂するよう意図されている, 従って、ここに開示された実施例は、すべての点で説明
のためのものであり、制限的なものとして考慮されるべ
きではなく、発明の範.囲は、上述の説明よりもむしろ
添付の請求範囲により示され、そして該請求範囲と等価
な意味及び範囲内にあるすべての変更は従って該請求範
囲内に包含されるよう意図されている.
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定の時間に増幅器に信号を供給するためにトランスデ
ューサに接続可能な自動トランスデューサ励起源検査装
置であつて、 励起源と、 電気素子と、 出力を有し、少なくとも1つの制御信号に従って、該出
力を前記トランスデューサ及び前記電気素子の1つに選
択的に接続すると共に、前記励起源を前記電気素子及び
前記トランスデューサの1つに選択的に接続する接続手
段と、 前記励起源を、前記所定の時間の1つの間に前記電気素
子に、かつ前記所定の時間のもう1つの間に前記トラン
スデューサに接続するように前記少なくとも1つの制御
信号を供給するための制御手段と、 を備えた自動トランスデューサ励起源検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US35495189A | 1989-05-22 | 1989-05-22 | |
US354,951 | 1989-05-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0319497A true JPH0319497A (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=23395589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2130424A Pending JPH0319497A (ja) | 1989-05-22 | 1990-05-22 | 自動トランスデューサ励起源検査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0399725A1 (ja) |
JP (1) | JPH0319497A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE502006003275D1 (de) * | 2006-09-22 | 2009-05-07 | Siemens Ag | Erhöhung der Verfügbarkeit und Redundanz von Analogstromausgaben |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01229596A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | ディジタル制御装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4642636A (en) * | 1983-11-16 | 1987-02-10 | Westinghouse Electric Corp. | Method and apparatus for auto-calibration of signal conditioning electronics |
US4672226A (en) * | 1985-03-08 | 1987-06-09 | Westinghouse Electric Corp. | Redundant resistance temperature detector power supply system |
-
1990
- 1990-05-16 EP EP90305295A patent/EP0399725A1/en not_active Withdrawn
- 1990-05-22 JP JP2130424A patent/JPH0319497A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01229596A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | ディジタル制御装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0399725A1 (en) | 1990-11-28 |
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