JPH08114634A - 接触抵抗測定装置 - Google Patents
接触抵抗測定装置Info
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- JPH08114634A JPH08114634A JP25236994A JP25236994A JPH08114634A JP H08114634 A JPH08114634 A JP H08114634A JP 25236994 A JP25236994 A JP 25236994A JP 25236994 A JP25236994 A JP 25236994A JP H08114634 A JPH08114634 A JP H08114634A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 接触抵抗値の測定作業を自動化して、個人差
による測定値のばらつきおよび読み間違いなどにより生
じる測定ミスの問題を解消して、接触抵抗値を高い信頼
性で測定できるようにする。 【構成】 導体の接触部１に対して測定用電流を通電
し、接触部１の両端に生じる電圧をＡ／Ｄ変換し、その
電圧値を平均化し、平均電圧値を測定用電流の値で除算
して接触抵抗値を自動的に求める。 【効果】 個人差による測定値のばらつきや読み間違い
が発生せず、信頼性の高い測定結果が得られる。
による測定値のばらつきおよび読み間違いなどにより生
じる測定ミスの問題を解消して、接触抵抗値を高い信頼
性で測定できるようにする。 【構成】 導体の接触部１に対して測定用電流を通電
し、接触部１の両端に生じる電圧をＡ／Ｄ変換し、その
電圧値を平均化し、平均電圧値を測定用電流の値で除算
して接触抵抗値を自動的に求める。 【効果】 個人差による測定値のばらつきや読み間違い
が発生せず、信頼性の高い測定結果が得られる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、開閉機器の接触子同
士の接触抵抗など、導体の接触部における接触抵抗を測
定する接触抵抗測定装置に関する。
士の接触抵抗など、導体の接触部における接触抵抗を測
定する接触抵抗測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】遮断器、開閉器、断路器などの開閉機器
においては、接触子の異常などにより、接触子同士の接
触抵抗が増大すれば、大電流の通電時に接触部が発熱し
て事故に至るおそれがある。そのため、従来よりこれら
の開閉機器の保守点検時には接触子同士の接触抵抗を測
定している。
においては、接触子の異常などにより、接触子同士の接
触抵抗が増大すれば、大電流の通電時に接触部が発熱し
て事故に至るおそれがある。そのため、従来よりこれら
の開閉機器の保守点検時には接触子同士の接触抵抗を測
定している。
【０００３】このような接触抵抗の測定のために、従来
より４端子法による接触抵抗計が用いられている。図５
に接触抵抗計の基本回路を示す。図５において１は導体
接触部、２は直流電源、３は定電流制御器である。この
回路で、スイッチ４を閉じて、導体接触部１に定電流を
通電し、ＤＣ電位差計が接触抵抗１の両端に生じる電位
差を測定する。導体接触部１に流れる電流をＩcc、導体
接触部１に生じる電位差をＶR 、接触抵抗値をＲｊとす
れば、 ＶR ＝Ｒｊ×Ｉcc の関係が成り立ち、Ｉccが一定であれば、ＶR は接触抵
抗値Ｒｊに比例する。従って、Ｉccを所定値に設定し
て、ＶR を測定することによって、接触抵抗値を求め
る。
より４端子法による接触抵抗計が用いられている。図５
に接触抵抗計の基本回路を示す。図５において１は導体
接触部、２は直流電源、３は定電流制御器である。この
回路で、スイッチ４を閉じて、導体接触部１に定電流を
通電し、ＤＣ電位差計が接触抵抗１の両端に生じる電位
差を測定する。導体接触部１に流れる電流をＩcc、導体
接触部１に生じる電位差をＶR 、接触抵抗値をＲｊとす
れば、 ＶR ＝Ｒｊ×Ｉcc の関係が成り立ち、Ｉccが一定であれば、ＶR は接触抵
抗値Ｒｊに比例する。従って、Ｉccを所定値に設定し
て、ＶR を測定することによって、接触抵抗値を求め
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のディジタル型接
触抵抗計では、上記ＩccとＶR の値からＲｊを求め、デ
ィジタル表示する手段を備えている。また、測定対象に
応じて測定用電流を規定値にした上で接触抵抗値を測定
するために、測定用電流を測定し表示する手段と、その
値を調整する手段を備えている。すなわち、従来のディ
ジタル型接触抵抗計では、先ず、測定用電流を測定する
モードで電流値を読み取りつつ可変変圧器を調整し、所
望の一定電流が通電されていることを確認した後、接触
抵抗値を表示するモードに切り替えて、その表示を読み
取る。しかし、導体接触部の状態によっては、通電によ
って接触抵抗値が変動するため、その表示内容が安定し
たことを確認した上で値を読み取っていた。
触抵抗計では、上記ＩccとＶR の値からＲｊを求め、デ
ィジタル表示する手段を備えている。また、測定対象に
応じて測定用電流を規定値にした上で接触抵抗値を測定
するために、測定用電流を測定し表示する手段と、その
値を調整する手段を備えている。すなわち、従来のディ
ジタル型接触抵抗計では、先ず、測定用電流を測定する
モードで電流値を読み取りつつ可変変圧器を調整し、所
望の一定電流が通電されていることを確認した後、接触
抵抗値を表示するモードに切り替えて、その表示を読み
取る。しかし、導体接触部の状態によっては、通電によ
って接触抵抗値が変動するため、その表示内容が安定し
たことを確認した上で値を読み取っていた。
【０００５】このように、従来は測定電流の読み取りお
よびその調整作業が必要であり、また、変動する接触抵
抗値の表示を読み取る際、安定して継続的に表示される
値を測定結果として読み取り、そうでない過渡的に表示
される値は異常値として棄却するため、同一の被測定対
象であっても、測定者の癖によって、測定された接触抵
抗値にばらつきが生じる。また、測定者の読み間違いな
どによる測定ミスが入り込む余地もあった。
よびその調整作業が必要であり、また、変動する接触抵
抗値の表示を読み取る際、安定して継続的に表示される
値を測定結果として読み取り、そうでない過渡的に表示
される値は異常値として棄却するため、同一の被測定対
象であっても、測定者の癖によって、測定された接触抵
抗値にばらつきが生じる。また、測定者の読み間違いな
どによる測定ミスが入り込む余地もあった。
【０００６】この発明の目的は、接触抵抗値の測定作業
を自動化して、個人差による測定値のばらつきおよび読
み間違いなどにより生じる測定ミスの問題を解消して、
接触抵抗値を高い信頼性で測定できるようにした接触抵
抗測定装置を提供することにある。
を自動化して、個人差による測定値のばらつきおよび読
み間違いなどにより生じる測定ミスの問題を解消して、
接触抵抗値を高い信頼性で測定できるようにした接触抵
抗測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】接触抵抗値の測定を自動
化するために、請求項１に記載したように、導体の接触
部に対して測定用電流を通電する測定用電流通電手段
と、前記接触部の両端に生じる電圧を入力し、その電圧
をＡＤ変換して電圧値を求める手段と、一定時間に複数
回求められた前記電圧値を平均化して平均電圧値を求め
る平均電圧値抽出手段と、前記平均電圧値を前記測定用
電流の値で除算して前記接触部の接触抵抗値を求める手
段とを備える。
化するために、請求項１に記載したように、導体の接触
部に対して測定用電流を通電する測定用電流通電手段
と、前記接触部の両端に生じる電圧を入力し、その電圧
をＡＤ変換して電圧値を求める手段と、一定時間に複数
回求められた前記電圧値を平均化して平均電圧値を求め
る平均電圧値抽出手段と、前記平均電圧値を前記測定用
電流の値で除算して前記接触部の接触抵抗値を求める手
段とを備える。
【０００８】また、導体接触部に測定用電流を通電しな
い状態でも、接触抵抗測定装置内部の構成により、導体
接触部の両端に電圧が生じる場合や、測定用電流を通電
しない状態でも、導体接触部の両端に外部から電圧が生
じる場合に、これらの電圧がオフセット電圧として、測
定用電流の通電時に生じる接触部両端の電圧に加わる。
この問題を解消するため、請求項２に記載したように、
前記測定用電流通電手段が前記接触部に測定用電流を通
電していない状態で求められた前記平均電圧値をオフセ
ット値とし、前記測定用電流通電手段が前記接触部に測
定用電流を通電している状態で求められた前記平均電圧
値から前記オフセット値を差し引く、オフセット補正手
段を設ける。
い状態でも、接触抵抗測定装置内部の構成により、導体
接触部の両端に電圧が生じる場合や、測定用電流を通電
しない状態でも、導体接触部の両端に外部から電圧が生
じる場合に、これらの電圧がオフセット電圧として、測
定用電流の通電時に生じる接触部両端の電圧に加わる。
この問題を解消するため、請求項２に記載したように、
前記測定用電流通電手段が前記接触部に測定用電流を通
電していない状態で求められた前記平均電圧値をオフセ
ット値とし、前記測定用電流通電手段が前記接触部に測
定用電流を通電している状態で求められた前記平均電圧
値から前記オフセット値を差し引く、オフセット補正手
段を設ける。
【０００９】また、この発明では、導体の接触部に流れ
る通電電流が安定している状態で接触抵抗の測定を行う
ために、請求項３に記載したように、前記平均電圧値抽
出手段は、前記測定用電流通電手段が導体の接触部に通
電を開始してから一定時間経過後の前記電圧値を平均化
するものとする。
る通電電流が安定している状態で接触抵抗の測定を行う
ために、請求項３に記載したように、前記平均電圧値抽
出手段は、前記測定用電流通電手段が導体の接触部に通
電を開始してから一定時間経過後の前記電圧値を平均化
するものとする。
【００１０】さらに、この発明では、異常な測定値を適
度に棄却するために、請求項４に記載したように、前記
平均電圧値抽出手段は、前記電圧値を平均化する際、前
記電圧値から特異値を除く。
度に棄却するために、請求項４に記載したように、前記
平均電圧値抽出手段は、前記電圧値を平均化する際、前
記電圧値から特異値を除く。
【００１１】
【作用】請求項１に係る接触抵抗測定装置では、導体の
接触部に測定用電流が通電され、接触部の両端に生じる
電圧のＡＤ変換による電圧値が求められる。そして、一
定時間に複数回求められた前記電圧値が平均化されて平
均電圧値が求められ、さらに、その平均電圧値が測定用
電流の値で除算されて、導体接触部の接触抵抗値が求め
られる。このように測定作業が自動的に行われるため、
個人差による測定値のばらつきや読み間違いが発生せ
ず、信頼性の高い測定結果が得られる。
接触部に測定用電流が通電され、接触部の両端に生じる
電圧のＡＤ変換による電圧値が求められる。そして、一
定時間に複数回求められた前記電圧値が平均化されて平
均電圧値が求められ、さらに、その平均電圧値が測定用
電流の値で除算されて、導体接触部の接触抵抗値が求め
られる。このように測定作業が自動的に行われるため、
個人差による測定値のばらつきや読み間違いが発生せ
ず、信頼性の高い測定結果が得られる。
【００１２】請求項２に係る接触抵抗測定装置では、導
体の接触部に測定用電流が通電されていない状態で接触
部の両端に生じる電圧がオフセット値として求められ、
導体の接触部に測定用電流が通電されている状態で求め
られた前記平均電圧値からオフセット値が差し引かれ
て、オフセット分の補正が行われる。そのため、導体接
触部に測定用電流を通電しない状態で、導体接触部の両
端生じるオフセット電圧の影響を受けることなく、測定
精度の高い接触抵抗値が求められる。
体の接触部に測定用電流が通電されていない状態で接触
部の両端に生じる電圧がオフセット値として求められ、
導体の接触部に測定用電流が通電されている状態で求め
られた前記平均電圧値からオフセット値が差し引かれ
て、オフセット分の補正が行われる。そのため、導体接
触部に測定用電流を通電しない状態で、導体接触部の両
端生じるオフセット電圧の影響を受けることなく、測定
精度の高い接触抵抗値が求められる。
【００１３】請求項３に係る接触抵抗測定装置では、導
体接触部に通電が開始してから一定時間経過後の導体接
触部両端の平均電圧値が求められるため、導体の接触部
に流れる通電電流が安定している状態で接触抵抗が測定
され、測定精度の高い接触抵抗値が求められる。
体接触部に通電が開始してから一定時間経過後の導体接
触部両端の平均電圧値が求められるため、導体の接触部
に流れる通電電流が安定している状態で接触抵抗が測定
され、測定精度の高い接触抵抗値が求められる。
【００１４】請求項４に係る接触抵抗測定装置では、電
圧値を平均化する際、特異値が除かれるため異常な測定
値が適度に棄却され、測定精度の高い接触抵抗値が求め
られる。
圧値を平均化する際、特異値が除かれるため異常な測定
値が適度に棄却され、測定精度の高い接触抵抗値が求め
られる。
【００１５】
【実施例】この発明の実施例である接触抵抗測定装置の
構成を図１〜図４に示す。
構成を図１〜図４に示す。
【００１６】図１は接触抵抗測定装置の構成を示すブロ
ック図である。図１において１００は接触抵抗測定装置
であり、導体の接触部１の両端との間を電流ケーブル１
０１，１０１および電圧リード１０２，１０２を介して
接続している。接触抵抗測定装置１００内において、通
電用電源回路１１は可変定電流回路を含み、リレー接点
１２、電流ケーブル１０１，接触部１，電流ケーブル１
０１を介して接触部１に一定の測定用電流を通電する。
電圧入力回路１５は接触部１の両端に生じる電圧を入力
し、ＡＤコンバータの入力電圧レンジに適するように、
その電圧を一定ゲインで増幅または減衰させて電圧変換
を行う。ＡＤコンバータ１７は電圧入力回路１５の出力
信号をディジタル値に変換する。ＣＰＵ２０はＲＯＭ２
１に予め書き込んだプログラムを実行して、後述する各
種処理を行う。ＲＡＭ２２はＡ／Ｄ変換された各種デー
タの一時記憶領域などのワーキングエリアとして用い
る。タイマ回路２３は一定の時間待ちを行って、所定の
処理を行う際に、その一定時間を計時する。表示制御回
路２４は表示用メモリおよびそのメモリの内容に応じて
表示器２５に対して表示信号を発生する回路からなる。
ＣＰＵ２０はこの制御回路２４内の表示用メモリに対し
て所定の表示用データを書き込むことによって、表示器
２５に例えば接触抵抗値を表示する。キー２７はテンキ
ー、電流設定キー、しきい値設定キー、測定開始キーな
どの各種キーからなり、キー制御回路２６はこれらのキ
ー操作を読み取る。接点信号出力ポート１８はリレーの
励磁コイル１２′を制御する。ＣＰＵ２０はこの接点出
力ポート１８に所定値を出力することによってリレー接
点１２を開閉制御する。またＩ／Ｏポート１９は通電用
電源回路１１に対して測定用電流の切換信号を与える。
通電用電源回路１１はこの切換信号に応じた一定の測定
用電流を接触部１に通電させる。ＣＰＵ２０はＩ／Ｏポ
ート１９に所定のデータを設定することによって測定用
電流値を定める。
ック図である。図１において１００は接触抵抗測定装置
であり、導体の接触部１の両端との間を電流ケーブル１
０１，１０１および電圧リード１０２，１０２を介して
接続している。接触抵抗測定装置１００内において、通
電用電源回路１１は可変定電流回路を含み、リレー接点
１２、電流ケーブル１０１，接触部１，電流ケーブル１
０１を介して接触部１に一定の測定用電流を通電する。
電圧入力回路１５は接触部１の両端に生じる電圧を入力
し、ＡＤコンバータの入力電圧レンジに適するように、
その電圧を一定ゲインで増幅または減衰させて電圧変換
を行う。ＡＤコンバータ１７は電圧入力回路１５の出力
信号をディジタル値に変換する。ＣＰＵ２０はＲＯＭ２
１に予め書き込んだプログラムを実行して、後述する各
種処理を行う。ＲＡＭ２２はＡ／Ｄ変換された各種デー
タの一時記憶領域などのワーキングエリアとして用い
る。タイマ回路２３は一定の時間待ちを行って、所定の
処理を行う際に、その一定時間を計時する。表示制御回
路２４は表示用メモリおよびそのメモリの内容に応じて
表示器２５に対して表示信号を発生する回路からなる。
ＣＰＵ２０はこの制御回路２４内の表示用メモリに対し
て所定の表示用データを書き込むことによって、表示器
２５に例えば接触抵抗値を表示する。キー２７はテンキ
ー、電流設定キー、しきい値設定キー、測定開始キーな
どの各種キーからなり、キー制御回路２６はこれらのキ
ー操作を読み取る。接点信号出力ポート１８はリレーの
励磁コイル１２′を制御する。ＣＰＵ２０はこの接点出
力ポート１８に所定値を出力することによってリレー接
点１２を開閉制御する。またＩ／Ｏポート１９は通電用
電源回路１１に対して測定用電流の切換信号を与える。
通電用電源回路１１はこの切換信号に応じた一定の測定
用電流を接触部１に通電させる。ＣＰＵ２０はＩ／Ｏポ
ート１９に所定のデータを設定することによって測定用
電流値を定める。
【００１７】図２〜図４は図１に示したＣＰＵ２０の処
理手順を示すフローチャートである。まず、キーの読み
取りを行い、例えばテンキー（１０キー）が操作された
なら、これをレジスタＸに置数する（ｎ１→ｎ２→ｎ３
→ｎ４→ｎ５）。その後、電流設定キーが操作されたな
ら、置数された値を通電用電源回路（図１における１
１）へ出力する（ｎ３→ｎ６）。これにより測定用電流
値を定める。また、テンキーの操作によって置数が行わ
れた後、しきい値設定キーが操作されたなら、置数され
た値を、後述する異常判定用しきい値ＲＭとして記憶す
る（ｎ７→ｎ８）。もし測定開始キーが操作されたな
ら、図１に示したリレー接点１２を閉じて接触部１に測
定用電流を通電する（ｎ２→ｎ９）。
理手順を示すフローチャートである。まず、キーの読み
取りを行い、例えばテンキー（１０キー）が操作された
なら、これをレジスタＸに置数する（ｎ１→ｎ２→ｎ３
→ｎ４→ｎ５）。その後、電流設定キーが操作されたな
ら、置数された値を通電用電源回路（図１における１
１）へ出力する（ｎ３→ｎ６）。これにより測定用電流
値を定める。また、テンキーの操作によって置数が行わ
れた後、しきい値設定キーが操作されたなら、置数され
た値を、後述する異常判定用しきい値ＲＭとして記憶す
る（ｎ７→ｎ８）。もし測定開始キーが操作されたな
ら、図１に示したリレー接点１２を閉じて接触部１に測
定用電流を通電する（ｎ２→ｎ９）。
【００１８】その後、予め定めた時間ｔ１の時間待ちを
行って、図３に示すように、ループカウンタｉが０〜ｎ
について、ＡＤコンバータの変換値を読み取り、その値
に比例定数を乗じて接触部１の両端に生じる電圧Ｖ
（ｉ）を求め、これを記憶する。この比例定数は電圧入
力回路１５のゲインおよびＡＤコンバータ１７の入力電
圧対変換値のゲインにより定まる。これを順次ＲＡＭ２
２の所定の領域に記憶する。このようにして、接触部１
の両端に生じる電圧をｎ＋１回求める。その後、Ｖ
（０）〜Ｖ（ｎ）のうち最大値および最小値を抽出し、
この最大・最小値を除くＶ（０）〜Ｖ（ｎ）の平均値を
Ｖｍとして算出する。その後、リレー接点１２を開いて
測定用電流の通電を停止し、予め定めた一定時間ｔ２の
時間待ちを行う。その後、上述した手順と同様にして接
触部１両端の電圧値Ｖ（０）〜Ｖ（ｎ）を求め、そのう
ち最大・最小値を除く値についての平均値をＶｏとして
算出する。この値Ｖｏは接触部１に測定用電流を通電し
ていない状態で接触部１の両端に生じた電圧であり、オ
フセット電圧値である。
行って、図３に示すように、ループカウンタｉが０〜ｎ
について、ＡＤコンバータの変換値を読み取り、その値
に比例定数を乗じて接触部１の両端に生じる電圧Ｖ
（ｉ）を求め、これを記憶する。この比例定数は電圧入
力回路１５のゲインおよびＡＤコンバータ１７の入力電
圧対変換値のゲインにより定まる。これを順次ＲＡＭ２
２の所定の領域に記憶する。このようにして、接触部１
の両端に生じる電圧をｎ＋１回求める。その後、Ｖ
（０）〜Ｖ（ｎ）のうち最大値および最小値を抽出し、
この最大・最小値を除くＶ（０）〜Ｖ（ｎ）の平均値を
Ｖｍとして算出する。その後、リレー接点１２を開いて
測定用電流の通電を停止し、予め定めた一定時間ｔ２の
時間待ちを行う。その後、上述した手順と同様にして接
触部１両端の電圧値Ｖ（０）〜Ｖ（ｎ）を求め、そのう
ち最大・最小値を除く値についての平均値をＶｏとして
算出する。この値Ｖｏは接触部１に測定用電流を通電し
ていない状態で接触部１の両端に生じた電圧であり、オ
フセット電圧値である。
【００１９】その後、図４に示すように、上記Ｖｍから
Ｖｏを差し引いてオフセット補正を行った平均電圧値Ｖ
R を求め、さらにその値を測定用電流の値Ｉccで除算し
て接触部１の接触抵抗値Ｒｊを算出し、これを表示器に
表示する。続いて、図２におけるステップｎ８で記憶し
た異常判定用しきい値ＲＭと今回求めた接触抵抗値Ｒｊ
との大小比較を行い、Ｒｊ≦ＲＭであれば正常を表す旨
の表示を行い、Ｒｊ＞ＲＭであれば異常警報の表示を行
う。これにより、接触抵抗値の測定と同時に、その値が
正常であるか異常であるかの判定結果をも直ちに測定者
に知らせる。
Ｖｏを差し引いてオフセット補正を行った平均電圧値Ｖ
R を求め、さらにその値を測定用電流の値Ｉccで除算し
て接触部１の接触抵抗値Ｒｊを算出し、これを表示器に
表示する。続いて、図２におけるステップｎ８で記憶し
た異常判定用しきい値ＲＭと今回求めた接触抵抗値Ｒｊ
との大小比較を行い、Ｒｊ≦ＲＭであれば正常を表す旨
の表示を行い、Ｒｊ＞ＲＭであれば異常警報の表示を行
う。これにより、接触抵抗値の測定と同時に、その値が
正常であるか異常であるかの判定結果をも直ちに測定者
に知らせる。
【００２０】
【発明の効果】請求項１に係る接触抵抗測定装置によれ
ば、導体の接触部に対する測定用電流の通電、接触部の
両端に生じる電圧値の読み取り、その平均化、および平
均電圧値と測定用電流の値からの接触抵抗値の算出まで
の測定作業が自動的に行われるため、個人差による測定
値のばらつきや読み間違いが発生せず、信頼性の高い測
定結果が得られる。
ば、導体の接触部に対する測定用電流の通電、接触部の
両端に生じる電圧値の読み取り、その平均化、および平
均電圧値と測定用電流の値からの接触抵抗値の算出まで
の測定作業が自動的に行われるため、個人差による測定
値のばらつきや読み間違いが発生せず、信頼性の高い測
定結果が得られる。
【００２１】請求項２に係る接触抵抗測定装置では、導
体接触部に測定用電流を通電しない状態で、導体接触部
の両端生じるオフセット電圧の影響を受けることなく、
測定精度の高い接触抵抗値が求められる。
体接触部に測定用電流を通電しない状態で、導体接触部
の両端生じるオフセット電圧の影響を受けることなく、
測定精度の高い接触抵抗値が求められる。
【００２２】請求項３に係る接触抵抗測定装置では、導
体の接触部に流れる通電電流が安定している状態で接触
抵抗が測定され、測定精度の高い接触抵抗値が求められ
る。
体の接触部に流れる通電電流が安定している状態で接触
抵抗が測定され、測定精度の高い接触抵抗値が求められ
る。
【００２３】請求項４に係る接触抵抗測定装置では、電
圧値を平均化する際、特異値が除かれるため異常な測定
値が適度に棄却され、測定精度の高い接触抵抗値が求め
られる。
圧値を平均化する際、特異値が除かれるため異常な測定
値が適度に棄却され、測定精度の高い接触抵抗値が求め
られる。
【図１】この発明の実施例に係る接触抵抗測定装置の構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図２】図１に示すＣＰＵの処理手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】図１に示すＣＰＵの処理手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図４】図１に示すＣＰＵの処理手順を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図５】従来の接触抵抗計の基本回路図である。
１−導体の接触部 １３−電流検出抵抗 １００−接触抵抗測定装置 １０１−電流ケーブル １０２−電圧リード
Claims (4)
- 【請求項１】 導体の接触部に対して測定用電流を通電
する測定用電流通電手段と、 前記接触部の両端に生じる電圧を入力し、その電圧をＡ
Ｄ変換して電圧値を求める手段と、 一定時間に複数回求められた前記電圧値を平均化して平
均電圧値を求める平均電圧値抽出手段と、 前記平均電圧値を前記測定用電流の値で除算して前記接
触部の接触抵抗値を求める手段とを備えてなる接触抵抗
測定装置。 - 【請求項２】 前記測定用電流通電手段が前記接触部に
測定用電流を通電していない状態で求められた前記平均
電圧値をオフセット値とし、前記測定用電流通電手段が
前記接触部に測定用電流を通電している状態で求められ
た前記平均電圧値から前記オフセット値を差し引く、オ
フセット補正手段を設けたことを特徴とする請求項１記
載の接触抵抗測定装置。 - 【請求項３】 前記平均電圧値抽出手段は、前記測定用
電流通電手段が前記接触部に通電を開始してから一定時
間経過後の前記電圧値を平均化する請求項１または２記
載の接触抵抗測定装置。 - 【請求項４】 前記平均電圧値抽出手段は、前記電圧値
を平均化する際、前記電圧値から特異値を除くことを特
徴とする請求項１、２または３記載の接触抵抗測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25236994A JPH08114634A (ja) | 1994-10-18 | 1994-10-18 | 接触抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25236994A JPH08114634A (ja) | 1994-10-18 | 1994-10-18 | 接触抵抗測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08114634A true JPH08114634A (ja) | 1996-05-07 |
Family
ID=17236350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25236994A Pending JPH08114634A (ja) | 1994-10-18 | 1994-10-18 | 接触抵抗測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08114634A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6903554B2 (en) * | 2003-07-15 | 2005-06-07 | Carrier Corporation | Control of relay opening events |
| JP2008289265A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Mitsubishi Electric Corp | 充電制御回路及び携帯機器 |
| CN102087194A (zh) * | 2010-11-26 | 2011-06-08 | 清华大学 | 基于高频交流电的混凝土抗渗透性测量系统 |
| JP2012163496A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | East Japan Railway Co | レールボンド抵抗測定装置及びレールボンド抵抗測定方法 |
| CN102879647A (zh) * | 2012-09-14 | 2013-01-16 | 沈阳铁路信号有限责任公司 | Jyjxc-160/260有极加强继电器接点电阻测试台 |
| CN103149442A (zh) * | 2013-02-08 | 2013-06-12 | 哈尔滨工业大学 | 电触头材料接触电阻自动测试装置 |
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| JP2016173274A (ja) * | 2015-03-17 | 2016-09-29 | 日置電機株式会社 | ４探針測定プローブのゼロアジャスト補正治具 |
-
1994
- 1994-10-18 JP JP25236994A patent/JPH08114634A/ja active Pending
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| JP2016524158A (ja) * | 2013-06-28 | 2016-08-12 | ランディス＋ギア インコーポレイテッド | 電力量計内の素子抵抗の計測 |
| US9696357B2 (en) | 2013-06-28 | 2017-07-04 | Landis+Gyr, Inc. | Element resistance measurement in an electricity meter |
| JP2016173274A (ja) * | 2015-03-17 | 2016-09-29 | 日置電機株式会社 | ４探針測定プローブのゼロアジャスト補正治具 |
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