JP4040908B2 - インピーダンス測定装置 - Google Patents
インピーダンス測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4040908B2 JP4040908B2 JP2002145717A JP2002145717A JP4040908B2 JP 4040908 B2 JP4040908 B2 JP 4040908B2 JP 2002145717 A JP2002145717 A JP 2002145717A JP 2002145717 A JP2002145717 A JP 2002145717A JP 4040908 B2 JP4040908 B2 JP 4040908B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- constant current
- measurement object
- current
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 77
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 71
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 29
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000002847 impedance measurement Methods 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、いわゆる4端子法に従って測定対象体の抵抗値、キャパシタンスおよびインダクタンスのいずれか1つ以上を測定可能に構成されているインピーダンス測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
この種のインピーダンス測定装置として、図4に示す抵抗測定装置51が従来から知られている。同図に示す抵抗測定装置51は、直流定電流の測定用電流IDCを測定対象体5に供給する定電流源52と、測定対象体5の各端子における電圧V51,V52および定電流源52の出力電圧Voを計測するオペアンプ53と、測定用電流IDCの導通経路を切り替えるスイッチSW1,SW2,SW3と、計測された電圧V51,V52をディジタルデータに変換するA/D変換器(図示せず)と、スイッチSW1〜SW3を切替制御すると共にディジタルデータに変換された電圧V51,V52に基づいて測定対象体5の抵抗値を演算するCPU(図示せず)と、演算された抵抗値を表示する表示部(図示せず)とを備えている。
【0003】
この抵抗測定装置51では、測定対象体5の抵抗値を測定する場合、まず、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bを測定対象体5に接続した後、これらのプローブ27a,27b,31a,31bの接続確認試験を実行する。具体的には、CPUが、スイッチSW3,SW1をそれぞれオン状態およびオフ状態に制御して、その状態で、オペアンプ53を介して出力電圧Voを計測する。次いで、CPUは、スイッチSW3,SW1をそれぞれオフ状態およびオン状態に制御して、同様にして電圧V51を計測する。さらに、CPUは、スイッチSW1,SW2をそれぞれオフ状態およびオン状態に制御して、電圧V52を計測する。この場合、CPUは、出力電圧Voが定電流源52の出力飽和電圧に達しているときには、プローブ27aの断線、未接続または接触不良が生じている(以下、未接続および接触不良を総称して「未接続」ともいう)と判別し、電圧V51が出力電圧Voまたはその近傍値でないときには、プローブ31aの断線または未接続が生じていると判別する。また、電圧V52が定電流源52の出力飽和電圧に達しているときには、プローブ27bの断線または未接続が生じていると判別し、電圧V52が0Vまたはその近傍値でないときには、プローブ31bの断線が生じていると判別する。
【0004】
以上の接続確認試験を実行した後、すべてのプローブ27a,27b,31a,31bが断線していない状態で正常に接続されていると判別したときに、抵抗値測定を実行する。この場合、CPUは、スイッチSW1およびスイッチSW2を交互に繰り返しオン状態に制御することにより、オペアンプ53を介して電圧V51および電圧V52を交互に繰り返し計測する。次いで、CPUは、計測した電圧V51および電圧V52の差電圧を逐次演算し、この差電圧を測定用電流IDCの電流値で逐次除算することにより、除算結果を測定対象体5の抵抗値として表示部に逐次表示させる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、この抵抗測定装置51には、以下の問題点がある。すなわち、この抵抗測定装置51では、プローブ27a,27b,31a,31bの接続確認試験を行う場合、各スイッチSW1,SW2,SW3のオン・オフ状態として、SW1のみがオン、SW2のみがオン、SW3のみがオンの3つの状態に切り替えると共に、これら各状態において各電圧を計測する必要がある。このため、この抵抗測定装置51には、各プローブ27a,27b,31a,31bの断線または未接続の判別に長時間を要するという問題点がある。
【0006】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、電流供給用および電圧検出用の各プローブの接続確認試験を短時間で実施し得るインピーダンス測定装置を提供することを主目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく請求項1記載のインピーダンス測定装置は、電流供給用プローブを介して定電流を測定対象体に供給する定電流源と、電圧検出用プローブを介して入力した前記測定対象体の両端間電圧および前記定電流の電流値に基づいて当該測定対象体のインピーダンスを演算する演算制御部とを備えたインピーダンス測定装置であって、前記定電流源は、互いに電流値が異なる第1の定電流および第2の定電流を切り替えて前記測定対象体に供給可能に構成され、前記演算制御部は、前記第1の定電流が前記測定対象体に流れたときの第1の両端間電圧および前記第2の定電流が当該測定対象体に流れたときの第2の両端間電圧を前記両端間電圧としてそれぞれ測定すると共に、前記第1の両端間電圧に対する前記第2の両端間電圧の比と、前記第1の定電流の電流値に対する前記第2の定電流の電流値の比とが互いに等しいまたはほぼ等しいときに、前記電流供給用プローブおよび前記電圧検出用プローブが前記測定対象体に正常接続されていると判別し、当該比例関係が成り立たないときに、当該供給用プローブおよび当該電圧検出用プローブのうちのいずれか一方が当該測定対象体に対して未接続の状態であると判別する。この場合、このインピーダンス測定装置には、抵抗値を測定する抵抗測定装置、キャパシタンスを測定する容量測定装置、並びに、抵抗値、キャパシタンスおよびインダクタンスを測定するインピーダンス測定装置が含まれる。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係るインピーダンス測定装置を抵抗測定装置に適用した好適な実施の形態について説明する。
【0009】
図1に示すように、抵抗測定装置1は、定電流源2、演算制御部3および表示部4を備え、測定対象体5の抵抗値を測定可能に構成されている。
【0010】
定電流源2は、図1に示すように、直流基準電源(電圧Vr)21、オペアンプ22、基準抵抗23(抵抗値R1),24(抵抗値R2)、スイッチ25,26および電流供給用プローブ27a,27bを備えている。この場合、直流基準電源21は、グランドとオペアンプ22の非反転入力端子との間に接続されて、オペアンプ22の非反転入力端子に一定の電圧Vrを供給する。オペアンプ22の出力端子は電流供給用プローブ27aに接続されている。電流供給用プローブ27bは基準抵抗23の一端に接続されている。基準抵抗24は、基準抵抗23の他端とグランドとの間に接続されている。また、基準抵抗23は、その一端がスイッチ25を介してオペアンプ22の反転入力端子に接続されている。また、基準抵抗23は、その他端がスイッチ26を介してオペアンプ22の反転入力端子に接続されている。スイッチ25は、例えば、アナログスイッチで構成され、切替信号S1を入力したときにのみオン状態に移行する。また、スイッチ26は、例えば、アナログスイッチで構成され、切替信号S2を入力したときにのみオン状態に移行する。
【0011】
以上の構成により、電流供給用プローブ27a,27bが測定対象体5の各端子にそれぞれ接続された状態において、切替信号S1のみを入力した場合、電流供給用プローブ27a、測定対象体5、電流供給用プローブ27bおよびスイッチ25がオペアンプ22の負帰還ループを構成すると共に、オペアンプ22のいわゆるバーチャルショート特性に基づいて基準抵抗23,24の直列回路に電圧Vrが印加される。したがって、定電流源2は、測定対象体5に対して第1の定電流としての定電流I1(=Vr/(R1+R2))を供給する。一方、切替信号S2のみを入力した場合、電流供給用プローブ27a、測定対象体5、電流供給用プローブ27b、基準抵抗23およびスイッチ26がオペアンプ22の負帰還ループを構成し、同様にして基準抵抗24に電圧Vrが印加される。したがって、定電流源2は、測定対象体5に対して第2の定電流としての定電流I2(=Vr/R2)を供給する。
【0012】
演算制御部3は、電圧検出用プローブ31a,31b、差動アンプ32、A/D変換器33、CPU34を備えている。この場合、電圧検出用プローブ31aは、差動アンプ32の非反転入力端子に接続されている。また、電圧検出用プローブ31bは、差動アンプ32の反転入力端子に接続されている。差動アンプ32は、非反転入力端子および反転入力端子に入力される各電圧の差分電圧(測定対象体5の両端間電圧)Vdを出力する。A/D変換器33は、アナログ信号としての両端間電圧VdをディジタルデータDvに変換して出力する。CPU34は、スイッチ25,26に対して切替信号S1,S2をそれぞれ出力することにより、各スイッチ25,26のオン・オフ状態を制御する。また、CPU34は内部メモリ(図示せず)を備え、この内部メモリには、CPU34の動作を規定するためのプログラム、および切替信号S1,S2をそれぞれ出力したときに定電流源2から測定対象体5に供給される定電流I1,I2の電流値が予め記憶されている。さらに、CPU34は、測定対象体5の抵抗を測定する場合には、A/D変換器33によって出力されたディジタルデータDvが示す電圧値Vdを、定電流源2から現在供給されている定電流I1(またはI2)で除算することによって測定対象体5の抵抗値を演算し、演算した抵抗値を表示部4に表示させる。一方、CPU34は、各プローブ27a,27b,31a,31bの接続確認を実施する際には、切替信号S1,S2を順次出力すると共に、その都度、A/D変換器33によって出力されるディジタルデータDvが示す電圧値Vd1,Vd2を各切替信号S1,S2の出力状態に対応させて内部メモリに記憶する。また、CPU34は、この記憶した電圧値Vd1,Vd2に基づいて電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bの接続状態を確認して、確認結果を表示部4に表示させる。
【0013】
次に、この抵抗測定装置1の測定動作について図2を参照して説明する。
【0014】
最初に、測定対象体5にプローブ27a,27b,31a,31bを接続した状態で図外の測定開始スイッチを操作する。この際には、CPU34が、切替信号S1を定電流源2に出力することにより、定電流源2に対して測定対象体5に定電流I1を供給させる(ステップ101)。次に、CPU34は、切替信号S1を出力している状態において、A/D変換器33によって出力されたディジタルデータDvが示す電圧値(第1の両端間電圧)Vd1を切替信号S1の出力状態に対応させて内部メモリに記憶する(ステップ102)。次に、CPU34は、切替信号S1に代えて切替信号S2を定電流源2に出力することにより、定電流源2に対して測定対象体5に定電流I2を供給させる(ステップ103)。次いで、CPU34は、切替信号S2を出力している状態において、A/D変換器33によって出力されたディジタルデータDvが示す電圧値(第2の両端間電圧)Vd2を切替信号S2の出力状態に対応させて内部メモリに記憶する(ステップ104)。
【0015】
次いで、CPU34は、内部メモリに記憶した2つの電圧値Vd1,Vd2が共にゼロボルトであるか否かを判別する(ステップ105)。この場合、ゼロボルトのときには、定電流源2から測定対象体5に対して異なる定電流I1,I2を供給したにも拘わらず、2つの電圧値Vd1,Vd2が同じ一定値(ゼロボルト)のため、定電流源2から測定対象体5に対して定電流I1,I2の供給が行われておらず、かつ差動アンプ32の各入力端子間(反転入力端子および非反転入力端子の間)が測定対象体5で終端された状態であることを意味する(通常、差動アンプ32の各入力端子間がオープンに近い状態であれば、差動アンプ32は誘導による不安定な電圧値を出力する)。したがって、ゼロボルトの状態では、電流供給用プローブ27a,27bが未接続の状態で、かつ電圧検出用プローブ31a,31bは正常に接続されている。このため、CPU34は、両電圧値Vd1,Vd2が共にゼロボルトであると判別したときには、電流供給用プローブ27a,27bが未接続の状態であって、電圧検出用プローブ31a,31bは正常に接続されていると判別して、この判別結果を内部メモリに記憶する(ステップ106)。その後、後述するステップ111に移行する。
【0016】
ステップ105において、2つの電圧値Vd1,Vd2のうちの少なくとも一方がゼロボルトではないと判別したときには、CPU34は、Vd1:Vd2=I1:I2の関係(つまり、両端間電圧Dd1に対する両端間電圧Vd2の比と、定電流I1の電流値に対する定電流I2の電流値の比とが互いに等しい関係であって、その2つの比がほぼ等しい関係も含む)が成り立つか否かを判別する(ステップ107)。この場合、定電流源2から測定対象体5に対して異なる定電流I1,I2を供給した際に、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bが共に測定対象体5に正常に接続されている状態では、各電圧値Vd1,Vd2は定電流I1,I2の電流値に比例して変化する。一方、電流供給用プローブ27a,27bと測定対象体5との間の接触抵抗が増加した場合、定電流源2から測定対象体5に対して定電流I1,I2を供給した際に、オペアンプ22の電源電圧によって供給最大電流に上限値が存在するため、その上限値に制限されることがある。この際には、各電圧値Vd1,Vd2は定電流I1,I2の電流値に比例しては変化しない。また、電圧検出用プローブ31a,31bが測定対象体5に正常に接続されていない場合にも、各電圧値Vd1,Vd2は定電流I1,I2に比例して変化しないで、誘導による不安定な電圧となる。したがって、CPU34は、Vd1:Vd2=I1:I2との関係が成り立たないと判別したときには、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bのうちのいずれか一方が測定対象体5に対して未接続の状態であると判別する。したがって、より正確にプローブ27a,27b,31a,31bの接続状態を判別することができる。次いで、CPU34は、この判別結果を内部メモリに記憶し(ステップ108)、その後に、後述するステップ111に移行する。
【0017】
一方、CPU34は、Vd1:Vd2=I1:I2との関係が成り立つと判別したときには、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bが共に測定対象体5に正常に接続されていると判別し(ステップ109)、電圧値Vd1を定電流I1で除算することにより(または、電圧値Vd2を定電流I2で除算することにより)、測定対象体5の抵抗値を演算する(ステップ110)。次いで、CPU34は、演算した抵抗値とステップ109における判別結果とを内部メモリに記憶する。その後、後述するステップ111に移行する。
【0018】
最後に、CPU34は、ステップ111において、ステップ106、ステップ108およびステップ109において内部メモリに記憶した接続確認結果を表示部4に表示させる。また、CPU34は、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bが共に測定対象体5に正常に接続されている旨の接続確認結果を表示部4に表示させる際には、演算した測定対象体5の抵抗値も併せて表示させる。
【0019】
このように、この抵抗測定装置1によれば、測定対象体5に対して2種類の定電流I1,I2を供給すると共に、各定電流I1,I2の供給時における各電圧値(両端間電圧)Vd1,Vd2を測定し、これらの電圧値Vd1,Vd2および定電流I1,I2の電流値に基づいて、各プローブ27a,27b,31a,31bの接続確認を実施すると共に、接続確認結果が正常なときには併せて測定対象体5の抵抗値を演算することにより、従来の抵抗測定装置51よりも接続確認用の電圧測定回数を少なくすることができる(具体的には3回から2回に低減できる)。したがって、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bの接続確認をより短時間で実施することができる。
【0020】
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されず、その構成を適宜変更することができる。例えば、本発明の実施形態では、直流基準電源21を備えた定電流源2を使用して測定対象体5の抵抗値を測定する抵抗測定装置1を例に挙げて説明したが、測定対象体5のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置に適用することもできる。このインピーダンス測定装置の一例を、図3を参照して説明する。なお、抵抗測定装置1と同一の構成については同一の符号を付して、重複する説明を省略する。
【0021】
インピーダンス測定装置41は、定電流源42、演算制御部43および表示部4を備えている。この場合、定電流源42は、交流基準電源(電圧Vr)44、オペアンプ22、オペアンプ22用の帰還抵抗45a,45b,45c,45d(抵抗値はすべて同一)、基準抵抗23(抵抗値R1),24(抵抗値R2)、スイッチ25,26および電流供給用プローブ27a,27bを備えている。この定電流源42では、オペアンプ22が、スイッチ25,26のいずれか一方がオン状態に制御されることによって正帰還ループに組み込まれる基準抵抗に印加される電圧を常に電圧Vrに制御する。具体的には、スイッチ25がオン状態のときには、基準抵抗23および基準抵抗24の直列回路に印加される電圧を電圧Vrに制御する。また、スイッチ26がオン状態のときには、基準抵抗24に印加される電圧を電圧Vrに制御する。これにより、スイッチ25がオン状態のときには、定電流源42は、基準抵抗24、基準抵抗23、電流供給用プローブ27a、測定対象体5、電流供給用プローブ27bおよびグランドからなる電流経路に交流の定電流I3(=Vr/(R1+R2))を供給する。また、スイッチ26がオン状態のときには、定電流源42は、基準抵抗24、基準抵抗23、電流供給用プローブ27a、測定対象体5、電流供給用プローブ27bおよびグランドからなる電流経路に交流の定電流I4(=Vr/R2)を供給する。
【0022】
演算制御部43は、電圧検出用プローブ31a,31b、差動アンプ32、電圧検出用プローブ31aと差動アンプ32の非反転入力端子との間および電圧検出用プローブ31bと差動アンプ32の反転入力端子との間にそれぞれ配設されたコンデンサ46a,46b、A/D変換器33,47、CPU34を備えている。この場合、A/D変換器47は、交流基準電源44から出力される電圧Vrをアナログ−ディジタル変換してディジタルデータDvacをCPU34に出力する。CPU34は、A/D変換器33によって出力されるディジタルデータDv、およびA/D変換器47によって出力されるディジタルデータDvacを同一のタイミングで取得すると共に、各ディジタルデータDv,Dvacを内部メモリに記憶する。また、CPU34は、スイッチ25がオン状態のときには抵抗値(R1+R2)で電圧Vrを除算することによって測定対象体5に供給されている定電流I3の電流値を算出し、スイッチ26がオン状態のときには抵抗値R2で電圧Vrを除算することによって測定対象体5に供給されている定電流I4の電流値を算出して、両電流値を内部メモリに記憶する。また、CPU34は、算出した定電流I3,I4の各電流値と、その各電流値に対応する各電圧Vrと同一のタイミングでそれぞれ取得した各電圧Vdとに基づいて測定対象体5のインピーダンスを演算し、演算したインピーダンスを表示部4に表示する。
【0023】
このインピーダンス測定装置41でも、抵抗測定装置1と同様にして図2に示す測定処理を実施して、電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bの接続確認を実施すると共に、測定対象体5のインピーダンスを測定する。なお、インピーダンス測定自体は、測定用の定電流I1,I2に代えて交流の定電流I3,I4を使用する点が異なるものの、抵抗測定装置1による抵抗値測定と基本的に同じでかつ公知技術のため、その詳細説明を省略する。
【0024】
なお、本発明は、上述した本発明の実施の形態に示した構成に限定されない。例えば、本発明の実施の形態では、オペアンプ22の帰還ループ内に組み込まれる基準抵抗23,24の接続状態を切り替えることによって、測定対象体5に供給する定電流I1,I2(またはI3,I4)を切り替える構成を採用したが、オペアンプ2の帰還ループ内に組み込まれる基準抵抗を固定的に接続して、オペアンプ22の非反転入力端子に供給する直流または交流の電圧値を切り替えて測定対象体5に供給する定電流を切り替える構成を採用することもできる。また、抵抗測定装置1において、直流基準電源21に代えて交流基準電源を採用することもでき、この構成によれば、直流の定電流I1,I2に代えて交流定電流によって電流供給用プローブ27a,27bおよび電圧検出用プローブ31a,31bの接続確認を行うことができる。また、各定電流源2,42の構成は一例であって、例えば、定電流源42において、スイッチ25,26の接続点と帰還抵抗45bとの間にバッファアンプを配置するなど、その構成を適宜変更することが可能である。
【0025】
【発明の効果】
以上のように、請求項1記載のインピーダンス測定装置によれば、測定対象体に対して互いに電流値が異なる第1および第2の定電流を切り替えて供給すると共に、各定電流供給時における測定対象体の両端に発生する第1および第2の両端間電圧をそれぞれ測定し、第1の両端間電圧に対する第2の両端間電圧の比と、第1の定電流の電流値に対する第2の定電流の電流値の比とが互いに等しいまたはほぼ等しいときに、電流供給用プローブおよび電圧検出用プローブが測定対象体に正常接続されていると判別し、比例関係が成り立たないときに、供給用プローブおよび電圧検出用プローブのうちのいずれか一方が測定対象体に対して未接続の状態であると判別することにより、従来の抵抗測定装置51よりも接続確認用の電圧測定回数を少なくすることができる。したがって、電流供給用プローブおよび電圧検出用プローブの接続確認試験を短時間で実施することができると共に、より正確に両プローブの接続状態を判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の形態に係る抵抗測定装置1の回路図である。
【図2】 抵抗測定装置1の動作を説明するための測定処理のフローチャートである。
【図3】 本発明の実施の形態に係るインピーダンス測定装置41の回路図である。
【図4】 従来の抵抗測定装置51の回路図である。
【符号の説明】
1 抵抗測定装置
2,42 定電流源
3 演算制御部
5 測定対象体
27a,27b 電流供給用プローブ
31a,31b 電圧検出用プローブ
41 インピーダンス測定装置
Vd1,Vd2 両端間電圧
I1,I2,I3,I4 定電流
Claims (1)
- 電流供給用プローブを介して定電流を測定対象体に供給する定電流源と、電圧検出用プローブを介して入力した前記測定対象体の両端間電圧および前記定電流の電流値に基づいて当該測定対象体のインピーダンスを演算する演算制御部とを備えたインピーダンス測定装置であって、
前記定電流源は、互いに電流値が異なる第1の定電流および第2の定電流を切り替えて前記測定対象体に供給可能に構成され、
前記演算制御部は、前記第1の定電流が前記測定対象体に流れたときの第1の両端間電圧および前記第2の定電流が当該測定対象体に流れたときの第2の両端間電圧を前記両端間電圧としてそれぞれ測定すると共に、前記第1の両端間電圧に対する前記第2の両端間電圧の比と、前記第1の定電流の電流値に対する前記第2の定電流の電流値の比とが互いに等しいまたはほぼ等しいときに、前記電流供給用プローブおよび前記電圧検出用プローブが前記測定対象体に正常接続されていると判別し、当該比例関係が成り立たないときに、当該供給用プローブおよび当該電圧検出用プローブのうちのいずれか一方が当該測定対象体に対して未接続の状態であると判別するインピーダンス測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002145717A JP4040908B2 (ja) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | インピーダンス測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002145717A JP4040908B2 (ja) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | インピーダンス測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003337150A JP2003337150A (ja) | 2003-11-28 |
| JP4040908B2 true JP4040908B2 (ja) | 2008-01-30 |
Family
ID=29704915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002145717A Expired - Fee Related JP4040908B2 (ja) | 2002-05-21 | 2002-05-21 | インピーダンス測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4040908B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012098157A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Hioki Ee Corp | 抵抗測定装置 |
| JP5609722B2 (ja) * | 2011-03-15 | 2014-10-22 | オムロンヘルスケア株式会社 | 通電回路およびインピーダンス測定回路 |
| CN102680791B (zh) * | 2012-05-24 | 2015-05-13 | 重庆市防雷中心 | 一种降阻剂电阻率和工频电流耐受试验自动测试系统 |
| CN108152594B (zh) * | 2018-01-29 | 2024-04-19 | 中国工程物理研究院电子工程研究所 | 一种恒流源测试仪 |
| CN114636859B (zh) * | 2021-12-31 | 2025-05-16 | 南京泊纳莱电子科技有限公司 | 一种阻抗测量装置 |
-
2002
- 2002-05-21 JP JP2002145717A patent/JP4040908B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2003337150A (ja) | 2003-11-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9116177B2 (en) | Systems and methods for an open circuit current limiter | |
| JPH02504674A (ja) | ラムダ値検出方法 | |
| JP4040908B2 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JP2000201074A (ja) | A/d変換回路 | |
| JP4525995B2 (ja) | 生体インピーダンス測定装置 | |
| JP2020060562A (ja) | センサ及びセンサをチェックする方法 | |
| JP4208560B2 (ja) | インピーダンス測定装置 | |
| JP4777828B2 (ja) | 測定装置および検査装置 | |
| JPH0833213A (ja) | 二次電池の容量表示装置 | |
| JP3805478B2 (ja) | 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置 | |
| JPH0641174Y2 (ja) | 電圧−電流測定装置 | |
| JP2003344180A (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH0690270B2 (ja) | Icテスト用直流源の校正装置 | |
| JPH04370769A (ja) | A/d変換器を用いた電圧・電流信号の補正方法 | |
| JP2583024Y2 (ja) | 抵抗測定装置 | |
| JPH09145748A (ja) | 電流測定装置 | |
| JPS649594B2 (ja) | ||
| JP2595858B2 (ja) | 温度測定回路 | |
| JP3744875B2 (ja) | 電流測定装置 | |
| JP2554575B2 (ja) | 素子特性値測定装置 | |
| JPH04294501A (ja) | ポテンショメータ | |
| JP2000245705A (ja) | 生体インピーダンス測定装置 | |
| JP2004279171A (ja) | 入力回路および計測機器 | |
| JP2001133488A (ja) | 交流電圧測定装置及び方法 | |
| JPH0743624Y2 (ja) | 温度測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050519 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070420 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070508 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070629 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071106 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071108 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101116 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101116 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121116 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141116 Year of fee payment: 7 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |