JP2012098157A - 抵抗測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】回転機の巻線に抵抗測定回路を接続した状態で、温度上昇試験を行うことができ、しかも巻線の上昇温度の算出に必要なパラメータを自動的に取り込めるようにする。
【解決手段】抵抗測定回路１０に過電圧に対する保護回路２０を設けるとともに、過電圧検出回路４０と、温度測定回路５０とを備え、巻線ＭＣの初期抵抗値Ｒ１および冷媒温度（例えば周囲温度）から巻線ＭＣの冷状態の温度θ１を測定したのち、巻線ＭＣに所定時間通電し、その通電をオフとした温度上昇試験終了時における巻線ＭＣの抵抗値Ｒ２および冷媒温度θａを測定して、次式により、巻線ＭＣの上昇温度（θ２−θａ）を求める。
｛（Ｒ２−Ｒ１）／Ｒ１}×｛（ｋ＋θ１）＋θ１−θａ}
【選択図】図１

Description

本発明は、抵抗測定装置に関し、さらに詳しく言えば、回転機の巻線の上昇温度を抵抗法により測定する抵抗測定装置に関するものである。

ＪＩＳＣ４０３４の「７．温度上昇」の「７．６．２抵抗法による温度上昇の決定」によると、回転機の巻線の上昇温度θ２−θａは、次式にしたがって求められる。
θ２−θａ＝｛（Ｒ２−Ｒ１）／Ｒ１}×｛（ｋ＋θ１）＋θ１−θａ}
式中、θ１：初期抵抗Ｒ１を測定したときの巻線（冷状態）温度（℃），
θ２：温度上昇試験終了時における巻線温度（℃），
θａ：温度上昇試験終了時の冷媒温度（℃），
Ｒ１：温度θ１（冷状態）における巻線抵抗，
Ｒ２：温度上昇試験終了時の巻線抵抗，
ｋ：導線材料の０℃における抵抗の温度係数の逆数（銅に対しては、ｋ＝２３５，アルミニウムに対しては、特に取り決めがない限り、ｋ＝２２５を用いる。）

また、ＪＩＳＣ４０３４の「７．３．２温度上昇試験前の回転機の温度」には、巻線温度を抵抗の増加から決定する場合は、抵抗を温度上昇試験の前に測定するとき、温度計によって測定した巻線温度が、実際上その時点の冷媒温度と等しくなければならない、と規定されている。

この抵抗法によれば、埋込温度計（ＥＴＤ）法のように、巻線の中に温度計を埋め込むことなく、例えば特許文献１に記載されているような４端子法による抵抗測定器と温度計とを用いて、巻線の初期抵抗Ｒ１，初期抵抗Ｒ１を測定したときの巻線（冷状態）温度θ１，温度上昇試験終了時の巻線抵抗Ｒ２および温度上昇試験終了時の冷媒温度θａから、巻線の上昇温度θ２−θａが求められる。

特開２００５−６９７８６号公報

しかしながら、従来では、巻線に抵抗測定器を接続して巻線の初期抵抗Ｒ１を測定したのち、巻線に通電して巻線の温度を上昇させる際、抵抗測定器を保護するため、抵抗測定器を巻線から一旦はずして巻線に通電し、その後、巻線への通電を遮断してから、再度、巻線に抵抗測定器を接続して温度上昇試験終了時の巻線抵抗Ｒ２を測定するようにしており、そのつなぎ換えを手作業で行う場合には、通常、１０秒以上の時間がかかる。これでは、巻線の温度は時々刻々と低下していくため、正確な上昇温度を得ることができない。

したがって、本発明の課題は、回転機の巻線に抵抗測定回路を接続した状態で、温度上昇試験を行うことができ、しかも巻線の上昇温度の算出に必要なパラメータを自動的に取り込めるようにした抵抗測定装置を提供することにある。

上記課題を解決するため、本発明は、被測定抵抗体に測定電流を供給する定電流源および上記被測定抵抗体の電圧降下を検出する電圧測定部を有する抵抗測定回路と、上記抵抗測定回路の出力信号に基づいて上記被測定抵抗体の抵抗値を求めるとともに、所定のプログラムにしたがって動作する計測制御部とを含み、上記被測定抵抗体が回転機の巻線であり、上記巻線の上昇温度を抵抗法により測定する抵抗測定装置において、上記回転機の動電源より上記巻線に流される駆動電流から上記抵抗測定回路を保護する保護回路と、上記駆動電流により上記巻線に生ずる電圧を過電圧として検出する過電圧検出回路とを備え、上記計測制御部は、上記過電圧検出回路により上記過電圧が検出されたのち、上記過電圧が消失した時点を温度上昇試験終了時として、温度上昇試験終了時における上記巻線の抵抗値Ｒ２を求めることを特徴としている。

本発明の好ましい態様として、温度測定手段をさらに備えており、上記計測制御部は、上記温度上昇試験開始前の上記巻線の初期抵抗値Ｒ１を求めるとともに、上記温度測定手段より上記巻線の冷状態の温度θ１を得、かつ、上記温度測定手段より上記温度上昇試験終了時における冷媒温度θａを得て、上記温度上昇試験終了時における上記巻線の温度をθ２ として、上記巻線の上昇温度（θ２−θａ）を、次式（式中、ｋは導線材料の０℃における抵抗の温度係数の逆数）、
｛（Ｒ２−Ｒ１）／Ｒ１}×｛（ｋ＋θ１）＋θ１−θａ}
により算出する。

また、本発明の好ましい態様として、上記抵抗測定回路の上記巻線に対する結線状態を監視する結線チェック回路をさらに備え、上記計測制御部は、上記結線チェック回路にて上記結線状態が確認されたことを条件として、上記巻線の初期抵抗値Ｒ１を求めるとともに、上記温度測定手段より上記巻線の冷状態の温度θ１を得る。

上記巻線の冷状態の温度θ１について、上記温度測定手段より得られる上記温度上昇試験開始前の冷媒温度を、上記温度上昇試験開始前の上記巻線の冷状態の温度θ１として採用することができる。

本発明において、上記保護回路は、上記定電流源に対する第１保護回路として、上記定電流源に対して並列に接続された第１ダイオードと、上記定電流源の出力側に直列として接続された第２ダイオードおよび定電流ダイオードとを備える。

また、上記保護回路は、上記電圧測定部に対する第２保護回路として、上記電圧測定部の一方の入力ラインと他方の入力ラインとにそれぞれ接続された第１，第２抵抗素子と、上記一方の入力ラインと正電源および負電源との間にそれぞれ接続された第３，第４ダイオードと、上記他方の入力ラインと正電源および負電源との間にそれぞれ接続された第５，第６ダイオードとを備える。

上記保護回路に、上記過電圧検出回路の出力に応じてオン・オフするスイッチ回路が用いられてもよい。

また、上記過電圧検出回路は、上記巻線に接続される上記抵抗測定回路の接続ライン間に接続されたダイオードブリッジ回路と、上記ダイオードブリッジ回路に接続されたアッテネータの抵抗に現れる出力電圧と第１基準電圧とを比較する第１コンパレータとを含み、上記出力電圧が上記基準電圧よりも大きいときに過電圧状態と判定する。

また、上記結線チェック回路は、上記定電流源の振幅と第２基準電圧とを比較する第２コンパレータを有し、上記定電流源の振幅が上記基準電圧よりも大きい場合に、未接続状態と判定する

本発明によれば、抵抗測定回路に、回転機の電源より巻線に流される駆動電流から保護する保護回路が設けられているため、抵抗測定回路を巻線に接続した状態のままで温度上昇試験を行うことができ、また、駆動電流により巻線に生ずる電圧を過電圧として検出する過電圧検出回路を備えていることにより、計測制御部は、その過電圧検出回路により過電圧が検出されたのちで、過電圧が消失した時点を温度上昇試験終了時と判断して、タイムラグを生ずることなく、その温度上昇試験終了時における巻線の抵抗値Ｒ２を求めることができる。

また、温度測定手段をさらに備えた構成によれば、計測制御部は、温度上昇試験開始前における巻線の初期抵抗値Ｒ１を求める際に、温度測定手段より巻線の冷状態の温度θ１を取得でき、また、温度測定手段より温度上昇試験終了時における冷媒温度θａをも得ることができ、巻線の上昇温度の算出に必要なすべてのパラメータを自動的に取り込むことができる。

また、抵抗測定回路の巻線に対する結線状態を監視する結線チェック回路をさらに備えた構成によれば、計測制御部は、結線チェック回路にて結線状態が確認されたことを条件として、巻線の初期抵抗値Ｒ１を求めるとともに、温度測定手段より巻線の冷状態の温度θ１を得るため、温度上昇試験の信頼性が高められる。

また、温度上昇試験開始前の冷媒温度を、上記温度上昇試験開始前の上記巻線の冷状態の温度θ１として採用することにより、巻線温度測定用の温度検出素子を不要とするとができる。

本発明による抵抗測定装置を示すブロック図。 上記抵抗測定装置の構成をより詳しく示す回路図。

次に、図１および図２により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。

図１を参照して、この抵抗測定装置１の測定対象（被測定抵抗体）は、主として、電源（交流）Ｅより駆動電流が流される回転機の巻線ＭＣであり、巻線ＭＣの上昇温度をＪＩＳＣ４０３４の「７．温度上昇」の「７．６．２抵抗法による温度上昇の決定」に記載されている抵抗法により求める。

そのため、この実施形態に係る抵抗測定装置１は、抵抗測定回路１０と、抵抗測定回路１０の保護回路２０と、結線チェック回路３０と、過電圧検出回路（過電圧チェック回路とも言う）４０と、温度測定回路５０と、計測制御部６０とを備えている。

図２を併せて参照して、抵抗測定回路１０は、定電流源１１と、アンプＡ１からなる電圧測定部１２とを含み、この実施形態では２端子計測法が採用されている。すなわち、定電流源１１および電圧測定部１２は、ともに接触子Ｐ１，Ｐ２を介して巻線ＭＣに接続される。

定電流源１１から巻線ＭＣにほぼ一定の測定電流ＩＭを流し、これにより巻線ＭＣに生ずる電圧降下（巻線の抵抗値をＲとして「ＩＭ×Ｒ」）を電圧測定部１２で測定・増幅し、Ａ／Ｄコンバータ６１でデジタル信号に変換して、計測制御部６０に与える。計測制御部６０において、測定電流ＩＭは既知であるから、（ＩＭ×Ｒ）／ＩＭより、巻線ＭＣの抵抗値Ｒを算出する。

保護回路２０には、定電流源１１に対する第１保護回路２１と、電圧測定部１２に対する第２保護回路２２とが含まれている。

この実施形態において、定電流源１１の第１保護回路２１は、その出力側に直列に接続されたダイオードＤ５および定電流ダイオードＣＲＤと、定電流源１１に対して並列に接続されたダイオードＤ６とからなる。

ダイオードＤ５のカソード側が高電位のときは、ダイオードＤ５が逆バイアスとなり、定電流源１１が保護される。ダイオードＤ５のカソード側が低電位のときは、定電流ダイオードＣＲＤにより電流が制限され、定電流源１１の両端電圧は、ダイオードＤ６のオン電圧に制限される。なお、定電流ダイオードＣＲＤの制限電流は、測定電流ＩＭよりも大きく設定される。

電圧測定部１２の第２保護回路２２は、接触子Ｐ１，Ｐ２の電圧検出ラインに含まれる抵抗Ｒ３，Ｒ４と、電圧測定部１２の一方の入力ライン１２ａ側に接続されたダイオードＤ１，Ｄ２および電圧測定部１２の他方の入力ライン１２ｂ側に接続されたＤ３，Ｄ４とからなる。

この場合、ダイオードＤ１は、そのアノード側を入力ライン１２ａ側として、入力ライン１２ａと正電源▽との間に接続され、ダイオードＤ２は、そのカノード側を入力ライン１２ａ側として、入力ライン１２ａと負電源△との間に接続されている。

また、ダイオードＤ３は、そのアノード側を入力ライン１２ｂ側として、入力ライン１２ｂと正電源▽との間に接続され、ダイオードＤ４は、そのカノード側を入力ライン１２ｂ側として、入力ライン１２ｂと負電源△との間に接続されている。

各ダイオードＤ１〜Ｄ４の順方向通電電圧が０．６Ｖ以上として、接触子Ｐ１，Ｐ２間において、接触子Ｐ１の方に高い電圧が入った場合には、Ｐ１→Ｒ３→Ｄ１→正電源▽→装置内電源部（図示省略）→負電源△→Ｄ４→Ｒ４→Ｐ２という経路に電流が流れる。これにより、入力ライン１２ａの電圧は、「正電源電圧＋０．６Ｖ」より高くならず、電圧測定部１２が保護される。

例えば、正電源電圧が５Ｖであるとすれば、入力ライン１２ａの電圧は、５．６Ｖ以上にはならない。他方の入力ライン１２ｂについては、「負電源電圧−０．６Ｖ」より低くならず、例えば、負電源電圧が−５Ｖであるとすれば、入力ライン１２ｂの電圧は、−５．６Ｖ以下にはならない。

これに対して、接触子Ｐ２の方に高い電圧が入った場合には、Ｐ２→Ｒ４→Ｄ３→正電源▽→装置内電源部（図示省略）→負電源△→Ｄ２→Ｒ３→Ｐ１という経路に電流が流れる。これにより、入力ライン１２ｂの電圧は、「正電源電圧＋０．６Ｖ」より高くならず、また、入力ライン１２ａの電圧は、「負電源電圧−０．６Ｖ」より低くならないため、電圧測定部１２が保護される。

結線チェック回路３０は、定電流源１１の振幅ＶＭをモニタするアンプ３１とコンパレータ３２とからなり、モニタされた振幅ＶＭは、アンプ３１で所定に増幅されたのち、次段のコンパレータ３２で基準電圧ＶＲ１と比較される。

コンパレータ３２は、定電流源１１の振幅ＶＭが基準電圧ＶＲ１よりも大きい場合（ＶＭ＞ＶＲ１）に「未接続」と判定し、その信号（例えば、「Ｈｉ」信号）を計測制御部６０に与える。

過電圧検出回路４０は、温度上昇試験時に電源Ｅから巻線ＭＣに流される駆動電流により巻線ＭＣに生ずる電圧を過電圧として検出する回路である。

この実施形態において、過電圧検出回路４０は、接触子Ｐ１，Ｐ２間に接続された４つのダイオードＤ７〜Ｄ１０からなるダイオードブリッジ回路４１と、その出力段に接続されたアッテネータ用の抵抗Ｒ５，Ｒ６を含む分圧回路４２と、分圧回路４２の分圧電圧ＶＤを直流に変換するアンプ４３と、直流化された分圧電圧ＶＤと基準電圧ＶＲ２とを比較するコンパレータ４４とを備えている。

接触子Ｐ１側が高電位、Ｐ２側が低電位の過電圧が印加された場合、電流はＰ１→Ｄ７→Ｒ５→Ｒ６→Ｄ１０→Ｐ２へと流れる。これに対して、接触子Ｐ２側が高電位、Ｐ１側が低電位の過電圧が印加された場合には、電流はＰ２→Ｄ８→Ｒ５→Ｒ６→Ｄ９→Ｐ１へと流れる。

このようにして、抵抗Ｒ２にかかる電圧は一方向に整流され、抵抗Ｒ１，Ｒ２で分圧された分圧電圧ＶＤは、アンプ４３にて直流に変換されたのち、コンパレータ４４に与えられる。

コンパレータ４４は、入力された分圧電圧ＶＤと基準電圧ＶＲ２とを比較し、分圧電圧ＶＤが基準電圧ＶＲ２よりも大きい場合（ＶＤ＞ＶＲ２）に、巻線ＭＣに駆動電流が流されている活線状態と判定し、その信号（例えば、「Ｈｉ」信号）を計測制御部６０に与える。

温度測定回路５０は、熱電対素子やサーミスタ素子等からなる図示しない温度検出素子を備えた構成であってよい。ＪＩＳＣ４０３４の「７．３．２温度上昇試験前の回転機の温度」に規定されているように、温度上昇試験開始前の冷媒温度を、温度上昇試験開始前の巻線ＭＣの冷状態の温度θ１として採用してもよいことから、本発明では、温度検出素子を巻線ＭＣの冷媒温度（例えば周囲空気の温度）検出用の一つだけとしている。温度測定回路５０は、その検出温度を計測制御部６０に与える。

計測制御部６０には、好ましくはマイクロコンピュータやＣＰＵ（演算処理装置）が用いられ、抵抗測定回路１０からの出力に基づいて巻線ＭＣの抵抗値を算出するほか、結線チェック回路３０，過電圧検出回路４０および温度測定回路５０からの情報を得て、抵抗法による巻線ＭＣの上昇温度を求めるに必要な処理を行う。

次に、その動作の一例について説明する。なお、巻線ＭＣの温度上昇試験で得るパラメータは、巻線の初期抵抗Ｒ１および初期抵抗Ｒ１を測定したときの巻線（冷状態）温度θ１，温度上昇試験終了時の巻線抵抗Ｒ２，温度上昇試験終了時の冷媒温度（周囲温度）θａである。

この抵抗測定装置１の図示しない例えば電源スイッチが投入されると、結線チェック回路３０は動作状態となり、電源スイッチがオフにされないかぎり、常に結線チェックを行う。

定電流源１１の電流供給用の接触子Ｐ１，Ｐ２が巻線ＭＣにつなげられていない状態では、コンパレータ３１から計測制御部６０に「未接続」を意味する例えば「Ｈｉ」信号が出力される。

巻線ＭＣの温度上昇試験を行うにあたって、測定者は、回転機の電源Ｅをオフとして、接触子Ｐ１，Ｐ２を巻線ＭＣにつなぐ。これにより、結線チェック回路３０のコンパレータ３２の出力が「Ｈｉ」から「Ｌｏ」に転ずるため、計測制御部６０は、接触子Ｐ１，Ｐ２が巻線ＭＣに結線されたと認識する。

計測制御部６０は、コンパレータ３２の出力により、巻線ＭＣに対する結線が確認されたことを条件として、冷状態（駆動電流が流されていない状態）における巻線ＭＣの初期抵抗値Ｒ１を電圧測定部１２からの電圧検出情報に基づいて算出し、また、温度測定回路５０より、そのとき（巻線上昇温度試験前）の冷媒温度（周囲温度）を巻線ＭＣの冷状態での温度θ１として取り込む。そして、回転機の電源Ｅが投入されるのを待つ。

測定者が、回転機の電源Ｅを投入すると、過電圧検出回路４０のコンパレータ４４の出力が「Ｌｏ」から「Ｈｉ」に転ずる。これにより、計測制御部６０は回転機の電源Ｅが投入されたことを認識し、今度は、回転機の電源Ｅがオフにされるまで待つ。

すなわち、回転機の電源Ｅが投入されている間は、抵抗測定も温度測定も行わない。また、抵抗測定回路１０は保護回路２０により、過電圧から保護される。測定者は、巻線ＭＣの温度が十分に上昇したころを見計らって回転機の電源Ｅをオフにする。

これにより、過電圧検出回路４０のコンパレータ４４の出力が「Ｈｉ」から「Ｌｏ」に転ずるため、計測制御部６０は、温度上昇試験終了時の巻線抵抗Ｒ２を電圧測定部１２からの電圧検出情報に基づいて算出、また、温度測定回路５０より温度上昇試験終了時の冷媒温度（周囲温度）θａを取り込む。

そして、巻線ＭＣの上昇温度（θ２−θａ）を次式、
｛（Ｒ２−Ｒ１）／Ｒ１}×｛（ｋ＋θ１）＋θ１−θａ}
により算出し、図示しない表示部に表示する。なお、上昇温度（θ２−θａ）を表示する際に、抵抗値Ｒ１，Ｒ２や温度θ２，θａを併せて表示させてもよい。

このように、本発明によれば、回転機の巻線ＭＣに、抵抗測定回路１０を接続したままの状態で、巻線ＭＣの初期抵抗Ｒ１および温度上昇試験終了時の巻線抵抗Ｒ２の測定が行われ、また、それらの抵抗測定に伴って、巻線（冷状態）温度θ１および温度上昇試験終了時の冷媒温度θａが得られるため、信頼性の高い温度上昇試験を行うことができる。

より好ましい態様として、例えばタイマー等を用いて回転機の電源Ｅのオン・オフを併せて制御することもでき、これによれば、測定者による電源Ｅのオン・オフ切り替え作業も省略でき、測定の全自動化が可能となる。

なお、試験環境の温度がほぼ一定（例えば、恒温槽内での試験）の場合には、その温度を計測制御部６０に書き込んで、θａの温度測定を省略してもよい。

また、抵抗測定回路１０に対する保護回路として、過電圧検出回路４０のコンパレータ４４の出力に応じてオン・オフ（非電圧時にオン，過電圧時にオフ）するスイッチ回路が採用されてもよい。

また、結線チェックにおいて、ハンチング等による誤検出を防止するため、所定時間にわたって接続状態が確認された場合にのみ、計測制御部に接続情報を与えることが好ましい。同様に、過電圧検出においても、所定時間にわたって過電圧状態が確認された場合にのみ、計測制御部に過電圧情報を与えるようにすることもできる。

なお、この抵抗測定装置は、上記した抵抗法による巻線の上昇温度測定のみではなく、他の抵抗測定にも適用可能である。また、上記実施形態では２端子計測としているが、４端子計測であってもよい。

１ 抵抗測定装置
１０ 抵抗測定回路
１１ 定電流源
１２ 電圧測定部
２０ 保護回路
２１ 定電流源に対する第１保護回路
２２ 電圧測定部に対する第２保護回路
３０ 結線チェック回路
３１ コンパレータ
４０ 過電圧検出回路
４１ ダイオードブリッジ回路
４２ 分圧回路
４４ コンパレータ
５０ 温度測定回路
６０ 計測制御部
６１ Ａ／Ｄコンバータ
Ｅ 回転機の電源
ＭＣ 巻線
Ｐ１，Ｐ２ 巻線に対する接触子

Claims (9)

1. 被測定抵抗体に測定電流を供給する定電流源および上記被測定抵抗体の電圧降下を検出する電圧測定部を有する抵抗測定回路と、上記抵抗測定回路の出力信号に基づいて上記被測定抵抗体の抵抗値を求めるとともに、所定のプログラムにしたがって動作する計測制御部とを含み、上記被測定抵抗体が回転機の巻線であり、上記巻線の上昇温度を抵抗法により測定する抵抗測定装置において、
   上記回転機の電源より上記巻線に流される駆動電流から上記抵抗測定回路を保護する保護回路と、上記駆動電流により上記巻線に生ずる電圧を過電圧として検出する過電圧検出回路とを備え、
   上記計測制御部は、上記過電圧検出回路により上記過電圧が検出されたのち、上記過電圧が消失した時点を温度上昇試験終了時として、温度上昇試験終了時における上記巻線の抵抗値Ｒ２を求めることを特徴とする抵抗測定装置。
2. 温度測定手段をさらに備えており、上記計測制御部は、上記温度上昇試験開始前の上記巻線の初期抵抗値Ｒ１を求めるとともに、上記温度測定手段より上記巻線の冷状態の温度θ１を得、かつ、上記温度測定手段より上記温度上昇試験終了時における冷媒温度θａを得て、上記温度上昇試験終了時における上記巻線の温度をθ２ として、上記巻線の上昇温度（θ２−θａ）を、次式（式中、ｋは導線材料の０℃における抵抗の温度係数の逆数）、
   ｛（Ｒ２−Ｒ１）／Ｒ１}×｛（ｋ＋θ１）＋θ１−θａ}
   により算出することを特徴とする請求項１に記載の抵抗測定装置。
3. 上記抵抗測定回路の上記巻線に対する結線状態を監視する結線チェック回路をさらに備え、上記計測制御部は、上記結線チェック回路にて上記結線状態が確認されたことを条件として、上記巻線の初期抵抗値Ｒ１を求めるとともに、上記温度測定手段より上記巻線の冷状態の温度θ１を得ることを特徴とする請求項２に記載の抵抗測定装置。
4. 上記計測制御部は、上記温度測定手段より得られる上記温度上昇試験開始前の冷媒温度を、上記温度上昇試験開始前の上記巻線の冷状態の温度θ１として採用することを特徴とする請求項２または３に記載の抵抗測定装置。
5. 上記保護回路は、上記定電流源に対する第１保護回路として、上記定電流源に対して並列に接続された第１ダイオードと、上記定電流源の出力側に直列として接続された第２ダイオードおよび定電流ダイオードとを備えていることを特徴とする請求項１に記載の抵抗測定装置。
6. 上記保護回路は、上記電圧測定部に対する第２保護回路として、上記電圧測定部の一方の入力ラインと他方の入力ラインとにそれぞれ接続された第１，第２抵抗素子と、上記一方の入力ラインと正電源および負電源との間にそれぞれ接続された第３，第４ダイオードと、上記他方の入力ラインと正電源および負電源との間にそれぞれ接続された第５，第６ダイオードとを備えていることを特徴とする請求項１または５に記載の抵抗測定装置。
7. 上記保護回路は、上記過電圧検出回路の出力に応じてオン・オフするスイッチ回路からなることを特徴とする請求項１に記載の抵抗測定装置。
8. 上記過電圧検出回路は、上記巻線に接続される上記抵抗測定回路の接続ライン間に接続されたダイオードブリッジ回路と、上記ダイオードブリッジ回路に接続されたアッテネータの抵抗に現れる出力電圧と第１基準電圧とを比較する第１コンパレータとを含み、上記出力電圧が上記基準電圧よりも大きいときに過電圧状態と判定することを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の抵抗測定装置。
9. 上記結線チェック回路は、上記定電流源の振幅と第２基準電圧とを比較する第２コンパレータを有し、上記定電流源の振幅が上記基準電圧よりも大きい場合に、未接続状態と判定することを特徴とする請求項３に記載の抵抗測定装置。

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