JPH10227701A - 温度監視装置 - Google Patents

温度監視装置

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Publication number
JPH10227701A
JPH10227701A JP3353197A JP3353197A JPH10227701A JP H10227701 A JPH10227701 A JP H10227701A JP 3353197 A JP3353197 A JP 3353197A JP 3353197 A JP3353197 A JP 3353197A JP H10227701 A JPH10227701 A JP H10227701A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
transient
saturation
measured
thermometer
Prior art date
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Pending
Application number
JP3353197A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Futagami
功 二神
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP3353197A priority Critical patent/JPH10227701A/ja
Publication of JPH10227701A publication Critical patent/JPH10227701A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】過渡温度及び飽和温度を精度良く測定できる温
度監視装置を提供すること。 【解決手段】温度監視分野の温度上昇状態を監視する温
度監視装置において、前記温度監視分野が過渡温度範囲
では過渡温度計で測定し、前記温度監視分野が過渡温度
範囲から飽和温度範囲に温度上昇すると前記過渡温度計
より測定精度の大きい飽和温度計に切り替えて測定こと
で前記温度監視分野の昇温状態を精密に監視しているの
で、過渡温度と飽和温度を精度良く測定でき、また数時
間かかる昇温過程を常時目視することなく、自動的に温
度飽和を判定できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、温度上昇状態の監
視が必要な分野に適用される温度監視装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、機器の温度試験設備、鉄の焼き
なまし工程、炉の立上工程等では温度上昇状態を示す昇
温工程を監視することは非常に重要なことである。この
ような昇温工程の温度を監視するためには、図3に示す
ように過渡温度T0 範囲と飽和温度T1 範囲に大別され
ている。通常、過渡温度範囲は測定巾が広いが、飽和温
度範囲は測定巾が狭いことが知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来は1本
の温度計で過渡温度と飽和温度の両方を測定していたの
で良好な測定精度が得られなかった。また昇温工程で
は、飽和温度の判定が重要であるが、従来は記録計で温
度を記録して飽和温度か否かを目視判定していた。とこ
ろが、一般に飽和温度に達するまでは数時間かかる場合
があり、そのために操作員の負担が大きく効率上からも
改善が求められていた。さらに、周囲温度による影響で
飽和温度の判定が困難になる場合もあった。
【0004】本発明は上記問題を解決するためになされ
たもので、請求項1の目的は、過渡温度及び飽和温度を
精度良く測定できる温度監視装置を提供することにあ
る。請求項2の目的は、長時間目視することなく、かつ
周囲温度の影響も除去することにより操作員に負担を与
えることなく、正確に飽和を判定できる温度監視装置を
提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の請求項1は、温度監視分野の温度上昇状態
を監視する温度監視装置において、前記温度監視分野が
過渡温度範囲では過渡温度計で測定し、前記温度監視分
野が過渡温度範囲から飽和温度範囲に温度上昇すると前
記過渡温度計より測定精度の大きい飽和温度計に切り替
えて測定ことで前記温度監視分野の昇温状態を精密に監
視するようにしたことを特徴とする。
【0006】本発明の請求項2は、請求項1記載の温度
監視装置において、前記温度監視分野の周囲温度を測定
する周囲温度計を配置し、温度上昇中の周囲温度の変化
率が所定値以下となったことを条件に飽和温度範囲と判
定することを特徴とする。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照して説明する。図1は本発明の一実施例(請求項1
対応)の構成図である。同図において、1は過渡温度計
であり、2は過渡温度計1で測定された温度を電気量に
変換する変換器(MV/I)、3は飽和温度計であり、
4は飽和温度計3で測定された温度を電気量に変換する
変換器(MV/I)、5は警報設定器(A)、6は切替
器、6a,6bはその切替接点である。
【0008】次に、本実施例の作用について説明する。
昇温開始時は、警報設定器5はオフ,切替接点6aはオ
ン,切替接点6bはオフであるので、過渡温度計1で測
定された過渡温度T0 は、変換器2により電気量IT0
変換され,切替接点6aを経て出力される。時間が経過
して温度が昇温して飽和温度範囲に入ると、飽和温度計
3により飽和温度[(T1 −T′s)〜(T1 +T
s)]を測定する。このとき、警報設定器5がオンし警
報が発生し、これと同時に切替器6により切替接点が切
替えられる。すなわち、切替接点6aはオフ,切替接点
6bはオンとなるので、飽和温度計3で測定された飽和
温度T1 は、変換器4により電気量IT1に変換され,切
替接点6bを経て出力される。したがって、飽和温度T
1 がよりきめ細かく測定される。
【0009】図2は本発明の他の実施例(請求項2対
応)の構成図である。同図において、7は昇温温度計で
あり、8は昇温温度計7で測定された温度を電気量に変
換する変換器(MV/I)、9は周囲温度計であり、1
0は周囲温度計9で測定された温度を電気量に変換する
変換器(MV/I)、11は第1減算器(−)、12は
ディレイモジュール(DT)、13は第2減算器
(−)、14は比較器(LE)、15は表示器(I)で
ある。
【0010】次に、本実施例の作用について説明する。
昇温開始時は、昇温温度計7により測定された昇温温度
1 は変換器8により電気量IT1に変換され第1減算器
11に入力される。一方、周囲温度計9により測定され
た周囲温度Tは変換器10により電気量IT に変換され
第1減算器11に入力される。第1減算器11では(I
T1−IT )を計算する。これにより周囲温度分が除去さ
れる。ディレイモジュール12では(IT1−IT )を所
定時間だけ遅らせて順次出力する。したがって、この出
力は所定時間前の(IT1−IT )となるので、これをP
(IT1−IT )と表す。第2減算器13では[(IT1
T )−P(IT1−IT )]を出力する。これにより周
囲温度を除去した昇温温度の変化分が出力される。
【0011】比較器14では[(IT1−IT )−P(I
T1−IT )]入力が所定値以下になるとオンする。すな
わち[(IT1−IT )−P(IT1−IT )]の変化分が
所定値以下になるとオンして飽和が判定できることにな
り、これ以上昇温しないことが確認される。一方、表示
器15では変化分を表しており、これにより飽和の数値
確認及び飽和時期の予測を容易に知ることができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項1
によると、過渡温度と飽和温度を精度良く測定でき、ま
た数時間かかる昇温過程を常時目視することなく、自動
的に温度飽和を判定できる。さらに、請求項2による
と、判定に障害となる周囲温度の影響も除去してあり、
併せて温度の差分を順次表示することにより、飽和到達
時間の目安となるので、従来のような操作員に負担をか
けることがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成図。
【図2】本発明の他の実施例の構成図。
【図3】昇温状況を示す図。
【符号の説明】
1…過渡温度計、2,4…変換器、3…飽和温度計、5
…警報設定器、6…切替器、6a,6b…切替接点、7
…昇温温度計、8,10…変換器、9…周囲温度計、1
1,13…減算器、12…ディレイモジュール、14…
比較器、15…表示器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 温度監視分野の温度上昇状態を監視する
    温度監視装置において、前記温度監視分野が過渡温度範
    囲では過渡温度計で測定し、前記温度監視分野が過渡温
    度範囲から飽和温度範囲に温度上昇すると前記過渡温度
    計より測定精度の大きい飽和温度計に切り替えて測定こ
    とで前記温度監視分野の昇温状態を精密に監視するよう
    にしたことを特徴とする温度監視装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の温度監視装置において、
    前記温度監視分野の周囲温度を測定する周囲温度計を配
    置し、温度上昇中の周囲温度の変化率が所定値以下とな
    ったことを条件に飽和温度範囲と判定することを特徴と
    する温度監視装置。
JP3353197A 1997-02-18 1997-02-18 温度監視装置 Pending JPH10227701A (ja)

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JP3353197A JPH10227701A (ja) 1997-02-18 1997-02-18 温度監視装置

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JP3353197A JPH10227701A (ja) 1997-02-18 1997-02-18 温度監視装置

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Publication Number Publication Date
JPH10227701A true JPH10227701A (ja) 1998-08-25

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ID=12389141

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JP3353197A Pending JPH10227701A (ja) 1997-02-18 1997-02-18 温度監視装置

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JP (1) JPH10227701A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7947129B2 (en) 2003-06-06 2011-05-24 Sen Corporation, An Shi And Axcelis Company Ion source apparatus and cleaning optimized method thereof

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US7947129B2 (en) 2003-06-06 2011-05-24 Sen Corporation, An Shi And Axcelis Company Ion source apparatus and cleaning optimized method thereof

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