JP2592137B2 - 検査システム - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は検査システムに関し、一層詳細には、被検査
装置としての、例えば、ロボットコントローラの機能が
正常に動作するか否かを検査装置を利用して検査すると
ともにその検査結果を履歴情報として保存可能な検査シ
ステムに関する。

［従来の技術］ 従来から、被検査装置としての、例えば、ロボットコ
ントローラの検査は、先ず、ロボットコントローラを構
成する部品を搭載したプリント基板について単体で導通
を確認し、あるいは機能を確認し、さらに、当該プリン
ト基板を実装するロボットコントローラ本体についても
配線の接続が仕様書通りになされているか否かの確認等
を実施している。その後、前記プリント基板をロボット
コントローラ本体に組み込み、機能の確認検査を実施し
ている。

この機能の確認検査は、通常、流れ作業によって実施
され、その、各検査工程毎に専用の測定器あるいは検査
治具をロボットコントローラに接続している。なお、こ
のような機能検査を行うに際しては、ロボットコントロ
ーラ内部にも前記測定器あるいは検査治具の出力信号と
のインタフェースを整合させるための検査用基板が組み
込まれる。

次に、このようにして機能が確認された後のロボット
コントローラを温度試験用の恒温槽の中に収容して再び
機能の確認検査を行っている。

［発明が解決しようとする課題］ 然しながら、前記したように、流れ作業でロボットコ
ントローラの機能検査を行おうとすると、各工程におい
て専用の測定器あるいは検査治具の接続および切り離し
の作業を行う必要があり、これが極めて煩雑な作業であ
り、それによって製造コストが上昇するという問題点が
存在している。

さらに、例えば、製品改良等のために前記ロボットコ
ントローラに設計変更が生じた場合には、これを検査す
るための前記測定器あるいは検査治具等を改造する必要
が生じることから、作業能率が一層低下するという問題
点も指摘されている。

さらに、機能検査をする際には、検査用基板をロボッ
トコントローラ内に専用のI/Oを設けて取着しなければ
ならないことから、若し、温度試験中に不具合が検出さ
れた場合には、ロボットコントローラ自体の不具合であ
るか、検査用基板の不具合であるかということが直接的
に判別出来ないため、いずれの基板に起因する不具合で
あるかということについて、さらに原因究明作業を続行
しなければならないという不都合が生じている。その
上、検査用基板をロボットコントローラ内に取着するこ
とにより、当該ロボットコントローラの電源容量が変動
し、この変動に起因して、例えば、温度試験の際に機能
が停止するというような問題点も指摘されている。

本発明は前記の課題を解決するためなされたものであ
って、ロボットコントローラ側に所定の処理を実行する
ためのプログラムを内蔵したメモリ手段を備えること等
により、検査装置側のハードウエアおよびソフトウエア
が軽減出来、且つ全体としての検査時間を大幅に短縮す
ることを可能とする検査システムを提供することを目的
とする。

［課題を解決するための手段］ 前記の課題を解決するために、ロボットコントローラ
を被検査装置として検査する検査システムであって、 前記ロボットコントローラに汎用インタフェースを介
して接続されるとともに、前記ロボットコントローラの
ティーチングボックス用インタフェースにティーチング
ボックスに対応する機能を有する通信インタフェースを
介して接続される検査装置を備え、 この検査装置のメモリ手段には、前記ロボットコント
ローラの機能を検査するためのプログラムが格納され、 前記ロボットコントローラのメモリ手段には、このロ
ボットコントローラの機能を検査するためのプログラム
が格納され、 前記検査装置本体と前記ロボットコントローラとの間
のデジタル信号の送受が、前記通信インタフェースを介
して行われ、 前記検査装置本体と前記ロボットコントローラとの間
のアナログ信号の送受が、前記汎用インタフェースを介
して行われることを特徴とする。

［作用］ 前記のような構成からなる本発明に係る検査システム
では、例えば、シーケンス等の信号入出力制御手段から
検査信号としてのアナログ信号（連続値信号）および／
またはデジタル信号（２値信号）を直接あるいは通信イ
ンタフェース手段を介して被検査装置としてのロボット
コントローラに転送し、これらの信号を受信したロボッ
トコントローラは予め所定の検査を実行するためのプロ
グラムを内蔵したメモリ手段から処理内容を読み出して
所定の検査を実施することが出来る。

また、その検査を実施した後、処理結果に係る信号を
通信インタフェース手段を介して、あるいは直接的に前
記入出力制御手段に送信することにより、当該入出力制
御手段に前記処理結果に係る信号を記録することが出来
る。

［実施例］ 次に、本発明に係る検査システムについて好適な実施
例を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。

第１図は本実施例に係る検査システムの基本的な構成
図である。当該システムは基本的に検査装置10と外部記
憶装置として、例えば、フロッピィディスク12を利用す
るパーソナルコンピュータ等の処理装置14とからなる検
査処理装置16と、前記検査装置10に電気的に接続される
被検査装置であるロボットコントローラ18とから構成さ
れる。

前記検査処理装置16を構成する検査装置10はアナログ
信号および／またはデジタル信号を入出力する信号入出
力制御手段としてのシーケンサ20と、ティーチングボッ
クスに対応する機能を有する通信インタフェース手段と
しての通信インタフェース基板22と、バッファ、リレー
等を有するインタフェース基板24と、図示しないAC200V
電源に接続された電源トランス25から供給されるAC100V
電源を断続制御する開閉器26とから構成されている。

第２図は第１図に示す検査システムのさらに詳細な構
成を説明する図であり、図から諒解されるように、前記
処理装置14は中央処理部28とキーボード30、およびディ
スプレイ32からなり、当該処理装置14は前記シーケンサ
20を構成するインタフェース34により検査装置10と接続
される。シーケンサ20は前記インタフェース34の他にCP
U36、ROM38、RAM40、検査時間を計測するタイマ41、デ
ジタル信号を送受するインタフェース42、44およびアナ
ログ信号を受信するA/D変換器とアナログ信号を送信す
るD/A変換器等を内蔵するインタフェース45とを有し、
夫々の構成要素はバスライン46によって接続されてい
る。

前記インタフェース44は通信インタフェース基板22を
構成するインタフェース48と接続されている。この場
合、通信インタフェース基板22は前記インタフェース48
以外にCPU50、ROM52、RAM54、液晶ディスプレイであるL
CD53に接続されるLCDインタフェース55およびシリアル
データとパラレルデータとを相互に変換するインタフェ
ース56とから構成され、これらの構成要素はバスライン
57によって相互に接続されている。なお、LCD53によっ
て、例えば、現在検査中である項目に対応する番号が表
示される。

前記通信インタフェース基板22は前記インタフェース
基板24を介して前記ロボットコントローラ18を構成する
ティーチングボックス用インタフェース59に接続されて
いる。そして、ティーチングボックス用インタフェース
59およびバスライン64を介してロボットコントローラ18
を構成するCPU62に導入された信号（なお、この信号が
検査の開始を指令する信号である場合には、以下、検査
開始指令信号という）に応答して当該CPU62にバスライ
ン64を介して接続される本発明の要部に係るメモリ手段
であるROM66、RAM68等に記憶されたプログラムおよびデ
ータに基づき所定の機能検査を開始する。

この機能検査の内容は、例えば、前記シーケンサ20を
構成するインタフェース45からインタフェース基板24を
介して導入されたアナログ信号をA/D変換器が内蔵され
るポテンショメータインタフェース72を介してデジタル
信号に変換し、このデジタル信号が予めROM66にプログ
ラムとして記憶されている詳細を後述する基準となるデ
ータの範囲内であるか否か等についてをCPU62が判断す
る内容である。すなわち、ROM66には前記シーケンサ20
と連動して当該ロボットコントローラ18の機能を検査す
るための検査実行ソフトウエアが組み込まれ、さらにこ
の検査結果をRAM68に格納するための検査結果登録ソフ
トウエアが組み込まれている。

前記ロボットコントローラ18には前記したポテンショ
メータインタフェース72以外に図示しない外部機器を駆
動制御するために接続されるD/A変換器（図示せず）を
内蔵するサーボインタフェース74およびその他のインタ
フェース76を備えている。さらに、ロボットコントロー
ラ18にはLCDインタフェース77を介してLCD70が接続され
ており、この場合、LCD70は機器の異常状態に係るデー
タを表示する機能を有している。さらに、前記ロボット
コントローラ18はRAM68のバックアップ電池80とバスラ
イン64に接続されるプリンタインタフェース82とを有し
ており、プリンタインタフェース82の出力信号および電
池80の電圧信号は夫々前記シーケンサ20を構成するイン
タフェース44、45に、夫々、導入される。

さらに、ロボットコントローラ18は温度制御可能な恒
温槽84内に収容され、当該恒温槽84内に装着された温度
センサ86の温度データが前記シーケンサ20を構成するイ
ンタフェース42に導入される。

このようにして、シーケンサ20に導入された信号はシ
ーケンサ20によって処理され、必要に応じて処理装置14
に送給され、フロッピィディスク12等の外部記憶装置に
データが記憶される。この場合、シーケンサ20のROM38
には前記ロボットコントローラ18と連動して当該ロボッ
トコントローラ18の機能を検査するための検査実行ソフ
トウエアと、ロボットコントローラ18の検査終了時にそ
れまでの検査結果にかかる信号を処理装置14に接続され
るフロッピィディスク12に登録するための検査結果登録
ソフトウエアが組み込まれている。

一方、処理装置14を構成する図示しないROMには前記
検査実行ソフトウエアおよび検査結果登録ソフトウエア
の他に、例えば、月毎の不具合件数を棒グラフで表すと
ともに年度毎の不具合件数を折線グラフ等でディスプレ
イ32に表示することの出来る不良集計ソフトウエア、並
びに試験後のロボットコントローラの製造番号を管理し
て当該製造番号にかかるロボットコントローラの出荷先
等を記録する生産管理ソフトウエアが組み込まれてい
る。

また、検査装置10を構成する開閉器26に電源トランス
25を介して導入されたAC100V電源は当該開閉器26を介し
てロボットコントローラ18を構成する電源開閉器85を通
じて電源部87に導入され、当該電源部87によって所定の
電圧に変換されてロボットコントローラ18を構成する各
部に所定の電源が供給される。なお、前記開閉器26は、
通常の場合、閉成状態とされており、ロボットコントロ
ーラ18に異常が発生した際には検査装置10を構成するシ
ーケンサ20の制御下に開成状態とされる構成とされてい
る。

本実施例に係る検査システムは基本的には以上のよう
に構成されるものであり、次にその動作について説明す
る。

先ず、恒温槽84内の内部温度を室温状態に設定する。
次に、ロボットコントローラ18の入出力信号線および温
度センサ86の出力信号線と検査装置10の入出力端子を図
示しないコネクタ等を用いて第２図に示す状態に電気的
に接続するとともにロボットコントローラ18の電源開閉
器85を閉成状態とする。なお、この状態においては開閉
器26が開成状態とされているのでAC100V電源はロボット
コントローラ18には未だ供給されない。

次いで、検査装置10と処理装置14の図示しない電源開
閉器を閉成状態とした後、図示しないリセットボタンス
イッチを一度操作する。これによって、シーケンサ20を
構成するROM38に記録された検査実行プログラムが起動
されCPU36の制御下にタイマ41がリセットされ経過時間
の計測を開始するとともにインタフェース44を介して開
閉器26が閉成状態とされる。従って、この状態において
AC100V電源がロボットコントローラ18に供給され、ロボ
ットコントローラ18においてもROM66に記録された検査
実行プログラムが起動する。

次に、検査装置10とロボットコントローラ18間の通信
制御について第３図に示すフローチャートを参照しなが
ら説明する。

先ず、検査装置10を構成するシーケンサ20から第１の
検査信号にかかる第１の検査番号を通信インタフェース
基板22、インタフェース基板24を介してロボットコント
ローラ18を構成するティーチングボックス用インタフェ
ース59に出力する（STP1）。ここで、第１検査番号を表
すデータはパラレルデータであり、このパラレルデータ
がシーケンサ20を構成するRAM40からバスライン46、イ
ンタフェース44を介して通信インタフェース基板22を構
成するインタフェース48に導入された後、バスライン57
を介してインタフェース56に導入される。このインタフ
ェース56によって前記パラレルデータがシリアルデータ
に変換された後、インタフェース基板24を素通りしてテ
ィーチングボックス用インタフェース59に導入され当該
ティーチングボックス用インタフェース59でシリアルデ
ータが元のパラレルデータに再生される。なお、前記第
１検査信号の内容は、例えば、通信インタフェース基板
22の動作確認とロボットコントローラ18を構成するティ
ーチングボックス用インタフェース59、CPU62、ROM66、
RAM68およびバスライン64等の機能を確認するための数
種類からなるビットパターンデータである。

一方、ロボットコントローラ18を構成するCPU62は前
記第１検査番号にかかるデータがティーチングボックス
用インタフェース59に導入されたか否かを監視する（ST
P2）。

次いで、シーケンサ20から通信インタフェース基板2
2、インタフェース基板24を介してロボットコントロー
ラ18を構成するティーチングボックス用インタフェース
59に第１検査信号を出力する（STP3）。この信号は、前
記したように、数種類のビットパターンにかかる信号で
ある。

次に、前記第２ステップにおける監視結果において第
１検査番号がCPU62において導入されたと判断された場
合には、CPU62は前記第３ステップにおいて受信してい
る第１検査信号をティーチングボックス用インタフェー
ス59を介してRAM68内に記録する（STP4）。

次に、シーケンサ20から検査開始指令信号を前記と同
様の経路によりティーチングボックス用インタフェース
59に出力する（STP5）。この場合、CPU62は前記検査開
始指令信号が入力されたか否かを監視する（STP6）。

前記第６ステップにおける監視結果において、検査開
始指令信号がティーチングボックス用インタフェース59
に導入された際には、CPU62は前記第４ステップで記録
した第１の検査信号にかかるビットパターンデータが予
めROM66に格納されている検査用プログラムの値と同一
か否かの判定処理を行い、当該判定処理結果にかかるデ
ータ、この場合、同一であるか否かのデータをRAM68内
の前記第１検査番号に対応づけられたメモリアドレスに
記録しておく（STP7）。この際、表示手段としてのLCD7
0にはCPU62の作用下に前記第１検査番号と処理結果にか
かるデータに応じた表示、例えば、同一である場合には
“OK"または同一でない場合には“NG"の表示がななされ
ている。

次いで、RAM68に記録された処理結果にかかるデータ
と同一のデータをティーチングボックス用インタフェー
ス59からシリアルデータとして出力し、インタフェース
基板24および通信インタフェース基板22を構成するイン
タフェース56によりパラレルデータに変換し、インタフ
ェース48を介してシーケンサ20に出力する（STP8）。

この場合、シーケンサ20を構成するCPU36は前記処理
結果にかかるデータが出力されたか否かを監視する（ST
P9）。

そこで、第９ステップにおける監視結果において前記
処理結果にかかるデータが導入された際には、当該デー
タをシーケンサ20を構成するRAM40内に前記第１検査番
号と対応づけて記憶してく（STP10）。

次いで、シーケンサ20を構成するCPU36は検査番号に
１を加えて、この場合、第２検査番号を生成し（STP11
a）、さらに、この１を加えられた検査番号が最終の検
査番号に１を加えた値と同一であるかを確認し、同一で
ないと判断された場合には当該第２検査信号にかかる第
２検査番号を通信インタフェース基板22を介してロボッ
トコントローラ18に出力する（STP11b）。

このようにして、再び第１ステップから第２検査信号
にかかる試験がなされる。若し、前記第11bステップに
おける判断結果が成立した場合には検査が終了する。

そして、この検査終了時においてロボットコントロー
ラ18に対する検査結果データはシーケンサ20から検査結
果登録プログラムに基づき処理装置14に送信された後、
外部記憶手段であるフロッピィディスク12に記録され
る。

なお、前記第７ステップにおける処理結果が機能の異
常を示すデータ、この場合、ビットパターンデータが同
一のデータでないと判定された場合には、このデータを
受信したシーケンサ20はインタフェース44を介して開閉
器26を開成状態とする。すなわち、これによってロボッ
トコントローラ18に対するAC100V電源の供給が停止され
る。その後、開閉器26を、再び、閉成状態として、第１
ステップ乃至第７ステップを繰り返し、再検査を行うこ
とにより、偶発的なエラーによる誤った処理結果の記録
を排除することが出来る。なお、この際、機能の異常を
示すデータと、当該検査装置10を起動してこの機能の異
常を示すデータを取得するまでの経過時間および異常発
生時における周囲温度を合わせてRAM40に記憶してお
く。経過時間はタイマ41によって計測され、周囲温度は
温度センサ83によって計測され、インタフェース42を介
してシーケンサ20に導入されている。

また、前記第２検査番号にかかる第２検査信号の内容
が、例えば、ポテンショメータインタフェース72を検査
するための信号である場合には、所定電圧に係るアナロ
グ信号が当該ポテンショメータインタフェース72に導入
されることが必要であり、この場合には、当該アナログ
信号に対応するデジタル信号がCPU36によってROM38から
読み出されてシーケンサ20を構成するインタフェース45
に導入される。インタフェース45には、第４図に示すよ
うに、バッファ45a、D/A変換器45bおよびI/O 45cが組み
込まれており、前記デジタル信号がバッファ45a、D/A変
換器45bを介して正（＋）、負（−）のアナログ信号に
変換され、このアナログ信号がI/O 45cに接続されるイ
ンタフェース基板24内のリレー24a、24bの切換作用下
に、これに対応する接点24a₁、24b₁が交互に駆動される
ことで、ロボットコントローラ18のポテンショメータイ
ンタフェース72に導入される（前記第３ステップに対応
する）。なお、このアナログ信号は、第２検査番号が通
信インタフェース基板22、インタフェース基板24を介し
てロボットコントローラ18のCPU62に導入された際に
は、当該CPU62の作用下にこれに対応するデジタル信号
に変換されRAM68に記録される（前記第４ステップに対
応する）。

一方、シーケンサ20からポテンショメータインタフェ
ース72の検査を行うための検査開始指令信号（図中、矢
線Ａ方向に伝達される）が通信インタフェース基板22、
インタフェース基板24を介してロボットコントローラ18
を構成するティーチングボックス用インタフェース59に
導入される（前記第５ステップに対応する）。

この検査開始指令信号の入力確認（前記第６ステップ
に対応する）によりCPU62はRAM68に記録されている前記
アナログ信号に対応するデジタル信号と予めROM66に記
録されている基準データとを比較し前記デジタル信号が
基準データ以内の値であるか否かを判断し（前記第７ス
テップに対応する）、その判断結果に係るデータをティ
ーチングボックス用インタフェース59、インタフェース
基板24を介してシーケンサ20に送出する（図中、矢印Ｂ
方向に伝達される。前記第８ステップに対応する）。

そして、シーケンサ20に導入された判断結果に係るデ
ータはRAM40に前記第２検査番号と対応づけられて記録
され、その後、処理装置14に転送されフロッピィディス
ク12に格納される。なお、上記の検査においても異常が
検出された場合には開閉器26を断続して繰り返して試験
を行うことは同様である。

さらに、上述の検査において、検査時間はタイマ41に
よって監視され、予め定められた検査時間内に検査が終
了しなかった場合には、CPU36の作用下にインタフェー
ス44を介して開閉器26を開成状態としてロボットコント
ローラ18に対するAC100V電源の供給を停止し、所定時間
経過した後、再び開閉器26を閉成してロボットコントロ
ーラ18を起動し、さらに同一の試験を行うように構成し
てもよいことは勿論である。

第５図は第２図に示す検査システムにおいて、図示し
ないロボットの各軸を動作させるためのアナログ指令信
号を出力するサーボインタフェース74の機能を確認する
際のブロック図であり、以下、この図に基づいてサーボ
インタフェース74の検査について説明する。

先ず、シーケンサ20からインタフェース44、通信イン
タフェース基板22およびインタフェース基板24を介して
ロボットコントローラ18に前記サーボインタフェース74
の検査にかかる所定の検査番号を出力する。この場合、
ロボットコントローラ18を構成するCPU62は当該検査番
号がサーボインタフェース74を試験する信号であると判
断した場合には、ROM66から８種類のデジタル信号を読
み出す。この場合、８種類のデジタル信号は８レベルの
アナログ信号に対応するデータであり、図示しないD/A
変換器等から構成されるサーボインタフェース74を介し
てアナログ信号に変換され、インタフェース基板24を構
成する接点2c₁₁乃至24c₁₈を介してシーケンサ20を構成
するインタフェース45に導入される。この場合、インタ
フェース45はA/D変換器45dを含むものであり、これによ
って、デジタル信号とされたデータはバッファ45aを介
してシーケンサ20を構成するCPU36に導入され、当該デ
ジタル信号が予めROM38に記録されている基準となるデ
ータの範囲内の値であるか否かが判定される。この場
合、シーケンサ20はサーボ軸切換信号をバッファ45a、I
/O 45cを介してインタフェース基板24に送出する。これ
によって、インタフェース基板24に配置されたリレー24
c₁乃至24c₈が順次切り換えられ、これに対応して接点24
c₁₁乃至24c₁₈が順次切り換えられ、所定レベルのアナロ
グ信号がA/D変換器45dに順次導入されることによって前
記８種類のデジタル信号が１個毎にCPU36によって比較
判断処理される。

この判断結果に係るデータはシーケンサ20を構成する
RAM40に記録される。なお、この試験においても異常
（この場合、基準データの範囲外）と判断された場合に
は開閉器26を断続して繰り返し試験を行うことは同様で
ある。

第６図は第２図に示す検査システムにおいて、その他
のインタフェース76の機能を確認する際のブロック図で
あり、シーケンサ20からインタフェース基板24を介して
ロボットコントローラ18に前記その他のインタフェース
76の検査にかかる所定の検査番号を出力する。この場
合、ロボットコントローラ18を構成するCPU62は当該検
査番号がその他のインタフェース76a乃至76c（第６図参
照）を検査する信号であると判断した場合には、ROM66
から所定のデジタルデータを読み出す。このデジタルデ
ータは並列インタフェース76aからインタフェース基板2
4を構成する接点24d₁₁乃至24d₁₈を介してフィードバッ
クされ、ロボットコントローラ18を構成する入力インタ
フェース76cに導入される。この場合、CPU62は当該入力
インタフェース76を介して導入されたデジタル信号が予
めインタフェース76aから出力したデータと同一ビット
パターンのデータパターンであるか否かを判定し、その
判定結果にかかるデータをティーチングボックス用イン
タフェース59を介しインタフェース基板24、通信インタ
フェース基板22を通じてシーケンサ20に導入する。シー
ケンサ20はこの検査結果データをRAM40に記憶する。次
いで、シーケンサ20を構成するCPU36の作用下にインタ
フェース44内のバッファ45a、I/O 45cを介してインタフ
ェース基板24を構成するリレー24dが切り換えられ、こ
れによって、接点24d₁₁乃至24d₁₈と24d₂₁乃至24d₂₈の導
通状態が切り換えられる。そして、再び検査開始指令信
号がシーケンサ20から通信インタフェース基板22、イン
タフェース基板24を介してロボットコントローラ18に導
入されると、これによって、インタフェース76bにかか
る検査が実行される。なお、この検査結果に係るデータ
の処理は前記したインタフェース76aに係る処理と同様
に処理される。また、インタフェース76a乃至76cの検査
に際して、同一のビット位置に異常が検出された場合に
は、入力インタフェース76cに異常が発生しているもの
とされ、他方、異なるビット位置に異常が検出された場
合には出力インタフェース76a若しくは76bに異常が発生
しているものと判定される。

また、この試験においても異常と判定された場合には
開閉器26を断続して繰り返し試験を行う。

第７図は第２図に示す検査システムにおいてインタフ
ェース76のその他の機能を確認する際のブロック図であ
り、図は溶接出力信号のレベル変換について表わしてい
る。この場合、シーケンサ20から通信インタフェース基
板22、インタフェース基板24を介してロボットコントロ
ーラ18に導入された所定の検査番号と検査指令信号に基
づき、ロボットコントローラ18を構成するインタフェー
ス76dから複数の出力信号がインタフェース基板24のホ
トカプラIC10乃至IC17を構成するダイオードD10乃至D17
に導入される。そして、ダイオードD10乃至D17から光信
号がフォトトランジスタTR10乃至TR17に伝達され、この
フォトトランジスタTR10乃至TR17のコレクタから出力信
号が入力インタフェース76eに導入される。この場合、C
PU62はインタフェース76eから導入されたデータが基準
となるデータに対応するものであるか否かを判定する。
その他の処理は前記したのと同様であるので省略する。
なお、ダイオードD10乃至D17のアノード端子にはV₁が印
加され、フォトトランジスタTR10乃至TR17のエミッタ端
子は接地される。

第８図は第２図に示す検査システムにおいてさらにテ
ィーチングボックス90を前記ティーチングボックス用イ
ンタフェース59と接続し、当該ティーチングボックス90
とロボットコントローラ18との機能を検査する際のブロ
ック図である。

この場合においても、シーケンサ20からティーチング
ボックス90を検査するための検査番号と検査指令信号が
通信インタフェース基板22、インタフェース基板24を介
してティーチングボックス90およびロボットコントロー
ラ18に導入される。そして、シーケンサ20を構成するCP
U36の制御下にインタフェース45内のバッファ45a、I/O
45cを介してインタフェース基板24に搭載されるリレー2
4eが駆動されることにより接点24e₁または接点24e₂が交
互に切り換えられ、これによってロボットコントローラ
18のインタフェース76fからの信号F₁またはティーチン
グボックス90からの信号F₂が切り換えられてインタフェ
ース基板24を介して通信インタフェース基板22に導入さ
れ、従って、シーケンサ20に導入されることになる。

以上のようにして室温に相当する温度で検査を実施し
た後、次に、第２図に示す恒温槽84の温度を変化させ、
この変化させた温度で前記と同様の試験を複数回行い、
その後、再び室温に戻してさらに同様の検査を行い、当
該ロボットコントローラ18の検査を完了する。なお、検
査終了時には、シーケンサ20を構成するRAM40に記録さ
れた前記データ、すなわち、異常の内容、ロボットコン
トローラ18に電源を供給してから異常の発生を検出する
までの経過時間および異常発生時における前記ロボット
コントローラ18の周囲温度にかかるデータが処理装置14
に転送されフロッピィディスク12に記録され履歴データ
として保存に供される。

［発明の効果］ 以上のように、本発明に係る検査システムにおいて
は、ロボットコントローラ側に所定の処理を実行するた
めのプログラムを内蔵したメモリ手段を備えることによ
り検査装置側のハードウエアの構成およびソフトウエア
が軽減出来、ロボットコントローラを試験する際に検査
装置を交換する作業時間等が略皆無になることから、全
体としての検査時間を大幅に短縮することが出来る効果
が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の検査システムの基本的な
構成図、 第２図は、第１図に示す検査システムの詳細構成図、 第３図は、第１図および第２図に示すロボットコントロ
ーラとシーケンサとの通信方法を説明するフローチャー
ト、 第４図は、本発明に係る検査システムの中、ポテンショ
メータインタフェースを検査する際の説明図、 第５図は、本発明に係る検査システムの中、サーボイン
タフェースを検査する際の説明図、 第６図は、本発明に係る検査システムの中、その他のイ
ンタフェースを検査する際の説明図、 第７図は、本発明に係る検査システムにおいて、溶接用
出力信号のレベルを検査する際の説明図、 第８図は、本発明に係る検査システムにおいて、ティー
チングボックスを接続した際の検査動作を説明する図で
ある。 10……検査装置、12……フロッピィディスク 14……処理装置、16……検査処理装置 19……ロボットコントローラ 66……ROM

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小沢 哲也 埼玉県狭山市新狭山１―10―１ ホンダ エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 古林 実 埼玉県狭山市新狭山１―10―１ ホンダ エンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭59−174994（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−60395（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−135597（ＪＰ，Ａ)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ロボットコントローラを被検査装置として
   検査する検査システムであって、 前記ロボットコントローラに汎用インタフェースを介し
   て接続されるとともに、前記ロボットコントローラのテ
   ィーチングボックス用インタフェースにティーチングボ
   ックスに対応する機能を有する通信インタフェースを介
   して接続される検査装置を備え、 この検査装置のメモリ手段には、前記ロボットコントロ
   ーラの機能を検査するためのプログラムが格納され、 前記ロボットコントローラのメモリ手段には、このロボ
   ットコントローラの機能を検査するためのプログラムが
   格納され、 前記検査装置本体と前記ロボットコントローラとの間の
   デジタル信号の送受が、前記通信インタフェースを介し
   て行われ、 前記検査装置本体と前記ロボットコントローラとの間の
   アナログ信号の送受が、前記汎用インタフェースを介し
   て行われることを特徴とする検査システム。