KR19990017963U - 내부처리통신 경로 테스트 장치 및 그 방법 - Google Patents
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Abstract
본 고안의 목적은 프로세서의 제어에 따라 시험하고자 하는 IPC 경로를 선택하여 알람을 발생시키고 오류가 발생한 데이터를 파악하여 IPC 경로를 테스트하기 위한 것으로, 이러한 본 고안은 선택한 IPC 경로에서 클럭을 수신하여 고정데이터를 생성하고, 생성된 데이터를 IPC 경로를 통해 보낸 다음, 보낸 데이터와 지연된 데이터를 비교하여 에러가 발생하였는 가를 판별함으로써 IPC 경로를 테스트할 수 있게 되는 것이다.
Description
본 고안은 내부처리통신(Inter Processor Communication; 이하 "IPC"라 약칭한다) 경로의 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 프로세서의 제어에 따라 시험하고자 하는 IPC 경로를 선택하여 알람을 발생시키고 오류가 발생한 데이터를 파악하여 IPC 경로를 테스트할 수 있는 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로 IPC 통신은 프로세서들 사이에 통신하는 기법으로, 공유 기억 장치 방법과 메시지 시스템 방법이 있다. 공유 기억 장치 방법은 통신하는 프로세서들 사이에 어떤 변수를 공유하고, 이 공유 변수를 이용해서 정보를 교환하도록 하는 것이고, 메시지 시스템 방법은 통신을 제공하는 책임을 운영체제가 가지고 프로세서가 메시지를 교환할 수 있게 하는 것이다.
이러한 IPC 통신의 경로를 테스트하기 위한 종래의 IPC 경로 테스트 장치의 블록구성도는, 도1에 도시된 바와 같이, 프로세서와의 통신경로인 IPC를 시험할 보드인 PBA(Print Board Assembly)(1)와; 상기 PBA(1)와 오류측정기 간의 인터페이스를 수행하는 인터페이스부(2)와; 상기 인터페이스(2)와 연결되어 상기 PBA(1)의 BER(Bit Error Rate; 비트오류율)을 측정하기 위해 디지털 랜덤데이터를 발생하고 비교하는 오류측정기(3)로 구성되었다.
이와 같이 구성된 종래의 IPC 경로 테스트 장치는 테스트하고자하는 IPC의 해당 경로에 케이블을 연결하여 오류측정기(HP3764A)(3)에서 PBA(1)를 시험하도록 동작되었다.
그러나 다른 경로를 시험할 때는 각 포트별로 케이블을 이동시켜 가면서 시험해야 했기 때문에 불편하였고, 오류가 발생하였을 때 어떤 비트에서 오류가 발생한 지 알 수 없는 문제점이 있었다.
이에 본 고안은 상기와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로, 본 고안의 목적은 프로세서의 제어에 따라 시험하고자 하는 IPC 경로를 선택하여 알람을 발생시키고 오류가 발생한 데이터를 파악하여 IPC 경로를 테스트할 수 있는 IPC 경로 테스트 장치를 제공하는 데 있다.
또한 본 고안의 다른 목적은 프로세서의 제어에 따라 시험하고자 하는 IPC 경로를 선택하여 알람을 발생시키고 오류가 발생한 데이터를 파악하여 IPC 경로를 테스트할 수 있는 IPC 경로 테스트 방법을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 의한 IPC 경로 테스트 장치는,
IPC 경로 시험부에서 IPC 경로를 시험할 수 있도록 제어하는 프로세서와; 상기 프로세서의 제어를 받아 데이터클럭 알람부에서 IPC 클럭과 알람을 전송받고, 데이터경로 선택부에서 선택된 IPC 데이터경로를 테스트하는 IPC 경로 시험부와; 상기 IPC 경로 시험부에서 생성된 데이터를 PBA로 전송하고, 상기 PBA에서 IPC 클럭을 수신하여 IPC 경로 시험부로 전송하는 데이터클럭 알람부와; 상기 프로세서와의 통신경로인 IPC를 시험할 보드인 PBA와; 상기 데이터클럭 알람부에서 IPC 클럭을 전송받아 테스트할 IPC 데이터경로를 선택하는 데이터경로 선택부와; 상기 데이터경로 선택부에서 선택된 IPC 데이터경로에서 비트오류율을 측정하기 위해 디지털 랜덤데이터를 발생하고 비교하는 오류측정기로 이루어짐을 그 기술적 구성상의 특징으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 의한 IPC 경로 테스트 방법은,
내부처리통신 경로를 선택하여, 선택한 내부처리통신 경로에서 클럭을 수신하여 고정데이터를 생성하는 단계와; 상기 생성된 고정데이터를 직/병렬 변환시킨 다음, 내부처리통신 경로를 통해 데이터를 보내는 단계와; 상기 내부처리통신 경로를 통해 보내진 데이터와 지연된 데이터를 비교하여, 데이터에 에러가 발생하였는 가를 판별하는 단계와; 상기 데이터에 에러가 발생하면 에러가 발생한 데이터를 출력시켜 에러를 정정할 수 있도록 하는 단계로 이루어짐을 그 방법적 구성상의 특징으로 한다.
도 1은 종래 내부처리통신 경로 테스트 장치의 블록구성도,
도 2는 본 고안에 의한 내부처리통신 경로 테스트 장치의 블록구성도,
도 3은 도2에서 내부처리통신 경로 시험부의 상세회로도.
도 4는 본 고안에 의한 내부처리통신 경로 테스트 방법을 보인 흐름도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10: PBA 20: 데이터클럭 알람부
30: 데이터경로 선택부 40: IPC 경로 시험부
41: 직/병렬 변환부 42: IPC 데이터 처리부
43: 데이터 비교부 50: 오류측정기
60: 프로세서 70: TD-BUS 인터페이스부
이하, 상기와 같이 구성된 본 고안 IPC 경로 테스트 장치 및 그 방법의 기술적 사상에 따른 일 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도2는 본 고안에 의한 IPC 경로 테스트 장치의 블록구성도이다.
이에 도시된 바와 같이, IPC 경로 시험부(20)에서 IPC 경로를 시험할 수 있도록 제어하는 프로세서(10)와; 상기 프로세서(10)의 제어를 받아 데이터클럭 알람부(30)에서 IPC 클럭과 알람을 전송받고, 데이터경로 선택부(50)에서 선택된 IPC 데이터경로를 테스트하는 IPC 경로 시험부(20)와; 상기 IPC 경로 시험부(20)에서 생성된 데이터를 PBA(40)로 전송하고, 상기 PBA(40)에서 IPC 클럭을 수신하여 IPC 경로 시험부(20)로 전송하는 데이터클럭 알람부(30)와; 상기 프로세서(10)와의 통신경로인 IPC를 시험할 보드인 PBA(40)와; 상기 데이터클럭 알람부(30)에서 IPC 클럭을 전송받아 테스트할 IPC 데이터경로를 선택하는 데이터경로 선택부(50)와; 상기 데이터경로 선택부(50)에서 선택된 IPC 데이터경로에서 비트오류율을 측정하기 위해 디지털 랜덤데이터를 발생하고 비교하는 오류측정기(60)로 구성된다.
상기에서 IPC 경로 시험부(20)는, 도3에 도시된 바와 같이, 상기 프로세서(10)와 TD-BUS(Telephony Device Bus) 인터페이스부(11)를 통해 인터페이스하여 상기 프로세서(10)의 직렬데이터를 병렬데이터로 변환시키고, 데이터생성 비교부(23)의 병렬데이터를 직렬로 변환시키는 직/병렬 변환부(21)와; 상기 직/병렬 변환부의 병렬데이터인 IPC 알람발생 신호와 데이터선택 신호와 경로선택 신호를 수신하여 IPC 클럭과 데이터와 알람을 처리하는 IPC 데이터 처리부(22)와; 상기 IPC 데이터 처리부(22)에서 처리된 IPC 데이터를 수신하여 선택된 경로로 보내진 데이터를 지연시킨 데이터와 선택된 경로로 되돌아온 데이터를 비교하여 상기 오류측정기(60)로 전송하여 IPC 데이터를 테스트하는 데이터 비교부(23)로 구성된다.
도4는 본 고안에 의한 내부처리통신 경로 테스트 방법을 보인 흐름도이다.
이에 도시된 바와 같이, 내부처리통신 경로를 선택하여 내부처리통신 경로에서 클럭을 수신하여 고정데이터를 생성하는 단계(ST1)(ST2)와; 상기 생성된 고정데이터를 직/병렬 변환시킨 다음, 내부처리통신 경로를 통해 데이터를 보내는 단계(ST4)와; 상기 내부처리통신 경로를 통해 보내진 데이터와 지연된 데이터를 비교하여, 데이터에 에러가 발생하였는 가를 판별하는 단계(ST5)와; 상기 데이터에 에러가 발생하면 에러가 발생한 데이터를 출력시켜 에러를 정정할 수 있도록 하는 단계(ST6)로 구성된다.
이와 같이 구성된 본 고안에 의한 IPC 경로 테스트 장치 및 그 방법의 동작을 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.
먼저 초기에 전원-온되면 기본값으로 IPC 경로를 선택하는 초기값을 설정한다. 그래서 초기 상태에서는 IPC 클럭을 받아들이지 못하기 때문에 데이터를 만들어지지 않으며, 모든 경로에 대한 알람은 정상인 상태로 설정된다.
그러면 사용자는 프로세서(10)를 제어하여 총 8개의 IPC 경로 중 원하는 1개의 경로를 선택한다. 그리고 선택한 경로로부터 IPC 클럭을 수신한다(ST1). 그러면 이 클럭에 따라 IPC 경로 시험부(20)는 고정데이터(H'AA, H'55, H'00)를 생성한다(ST2). 이때 프로세서(10)는 어떤 형식의 데이터를 만들 것인가를 결정해준다.
이에 따라 테스트용 장비인 HP3764A와 같은 오류측정기(60)를 이용하여 시험하고자 하면 프로세서(10)를 제어하여 데이터 경로를 제어할 수 있게 된다. 그래서 IPC 경로를 선택하고 데이터의 형식이 지정되면, IPC 클럭과 데이터가 함께 선택된 IPC 경로를 통해 직/병렬 변환시켜 보낸다(ST3)(ST4). 그리고 선택된 경로를 통해 되돌아 온 데이터는 보내진 데이터를 지연시킨 데이터를 비교하여, 데이터에 에러가 발생하였는 지를 판별한다(ST5).
그래서 임의의 IPC 경로에 알람이 만들어지면 이를 직접 읽어보게 되고, 이 알람이 선택된 경로를 통해 보내어진다(ST6). 그래서 알람이 발생하면, 사용자는 시험하고자 하는 PBA(40)를 제어하여, IPC 경로를 막음으로써 IPC 데이터 처리부(22)의 이중화가 제대로 동작하는 지 확인할 수 있게 된다.
이처럼 IPC 경로를 테스트할 때 IPC 경로 시험부(20) 내에서의 동작을 상세히 살펴보면 다음과 같다.
먼저 프로세서(10)의 제어를 받은 IPC 경로 시험부(20)는 내부의 엔코딩 회로(도면상에 도시하지 않았다)를 사용하여 각 경로에 대한 선택 신호를 생성한다. 이 선택 회로의 로직(Logic) 내에는 Rx 알람이 포함되어 있기 때문에, 시험하고자 하는 경로에 알람이 발생되어 있으면 사용자가 선택하더라도 선택되지 않게 된다. 그래서 특정 경로가 선택되면 시험하고자 하는 PBA(40)로부터 IPC 클럭을 수신하고, 이를 이용하여 데이터(H'AA, H'55, H'00)를 만든다. 이렇게 만들어진 데이터를 모든 경로에 대해 송출하고, 수신단에 선택된 하나의 경로를 통해서만 받아들인다. 그러면 받아들여진 데이터는 데이터 비교부(23)에 입력된다. 이에 따라 데이터 비교부(23)는 일정한 시간이 지난 후부터 들어오는 데이터를 직/병렬 변환하여 비교하고, 첫 번째 에러가 발생하였을 때의 데이터 값을 유지하여, 사용자가 인식할 수 있도록 출력하게 되는 것이다.
이처럼 총 8개의 IPC 경로를 만들어 케이블을 미리 연결시켜 놓은 상태에서 프로세서의 제어에 의해 원하는 경로를 시험할 수 있고, 자체에 고정데이터를 생성하여 일정 시간의 지연후 비교할 수 있도록 하여 에러 발생시 어떤 비트에 에러가 발생했는 지를 쉽게 알 수 있어 경로에 디버깅(Debugging)이 용이해지게 되는 것이다.
이상에서 살펴본 바와 같이, 본 고안에 의한 IPC 경로 테스트 장치 및 그 방법은 IPC 경로를 시험할 때 IPC 경로에 이상이 있는 지를 고정 데이터를 발생시켜 시험함으로써 어떤 비트에 오류가 있는 지를 쉽게 찾을 수 있는 효과가 있다.
또한 종래의 시험하고자 하는 경로를 시험하고 다시 다음 시험경로를 시험하기 위해 케이블을 이동시켜야 하는 번거로움을 없애고, 프로그램을 통해 용이하게 IPC 경로 시험을 제어하여 전 경로의 시험시간을 단축시킬 수 있는 효과도 있게 된다.
Claims (3)
- 내부처리통신(IPC; Inter Processor Communication) 경로 시험부에서 IPC 경로를 시험할 수 있도록 제어하는 프로세서와;상기 프로세서의 제어를 받아 데이터클럭 알람부에서 IPC 클럭과 알람을 전송받고, 데이터경로 선택부에서 선택된 IPC 데이터경로를 테스트하는 IPC 경로 시험부와;상기 IPC 경로 시험부에서 생성된 데이터를 PBA(Print Board Assembly)로 전송하고, 상기 PBA에서 IPC 클럭을 수신하여 IPC 경로 시험부로 전송하는 데이터클럭 알람부와;상기 프로세서와의 통신경로인 IPC를 시험할 보드인 PBA와;상기 데이터클럭 알람부에서 IPC 클럭을 전송받아 테스트할 IPC 데이터경로를 선택하는 데이터경로 선택부와;상기 데이터경로 선택부에서 선택된 IPC 데이터경로에서 비트오류율을 측정하기 위해 디지털 랜덤데이터를 발생하고 비교하는 오류측정기로 구성된 것을 특징으로 하는 내부처리통신(IPC) 경로 테스트 장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 IPC 경로 시험부는,상기 프로세서와 TD-BUS(Telephony Device Bus) 인터페이스부를 통해 인터페이스하여 상기 프로세서의 직렬데이터를 병렬데이터로 변환시키고, 데이터생성 비교부의 병렬데이터를 직렬로 변환시키는 직/병렬 변환부와;상기 직/병렬 변환부의 병렬데이터인 IPC 알람발생 신호와 데이터선택 신호와 경로선택 신호를 수신하여 IPC 클럭과 데이터와 알람을 처리하는 IPC 데이터 처리부와;상기 IPC 데이터 처리부에서 처리된 IPC 데이터를 수신하여 선택된 경로로 보내진 데이터를 지연시킨 데이터와 선택된 경로로 되돌아온 데이터를 비교하여 상기 오류측정기로 전송하여 IPC 데이터를 테스트하는 데이터 비교부로 구성된 것을 특징으로 하는 내부처리통신(IPC) 경로 테스트 장치.
- 내부처리통신 경로를 선택하여, 선택한 내부처리통신 경로에서 클럭을 수신하여 고정데이터를 생성하는 단계와;상기 생성된 고정데이터를 직/병렬 변환시킨 다음, 내부처리통신 경로를 통해 데이터를 보내는 단계와;상기 내부처리통신 경로를 통해 보내진 데이터와 지연된 데이터를 비교하여, 데이터에 에러가 발생하였는 가를 판별하는 단계와;상기 데이터에 에러가 발생하면 에러가 발생한 데이터를 출력시켜 에러를 정정할 수 있도록 하는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 내부처리통신(IPC) 경로 테스트 방법.
Priority Applications (1)
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KR2019970031115U KR19990017963U (ko) | 1997-11-05 | 1997-11-05 | 내부처리통신 경로 테스트 장치 및 그 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
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KR2019970031115U KR19990017963U (ko) | 1997-11-05 | 1997-11-05 | 내부처리통신 경로 테스트 장치 및 그 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990017963U true KR19990017963U (ko) | 1999-06-05 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR2019970031115U KR19990017963U (ko) | 1997-11-05 | 1997-11-05 | 내부처리통신 경로 테스트 장치 및 그 방법 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR19990017963U (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100375300B1 (ko) * | 1998-12-16 | 2003-05-17 | 엘지전자 주식회사 | 통신장비의 데이타 입출력 측정방법 |
KR100429953B1 (ko) * | 1999-12-28 | 2004-05-03 | 엘지전자 주식회사 | 교환기에서 아이피씨 오류 발생 구간 검출 방법 및 그 장치 |
KR100431130B1 (ko) * | 1999-02-05 | 2004-05-12 | 엘지전자 주식회사 | 오류 검출 장치를 구비한 내부 통신망 노드 보드 |
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1997
- 1997-11-05 KR KR2019970031115U patent/KR19990017963U/ko not_active Application Discontinuation
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KR100431130B1 (ko) * | 1999-02-05 | 2004-05-12 | 엘지전자 주식회사 | 오류 검출 장치를 구비한 내부 통신망 노드 보드 |
KR100429953B1 (ko) * | 1999-12-28 | 2004-05-03 | 엘지전자 주식회사 | 교환기에서 아이피씨 오류 발생 구간 검출 방법 및 그 장치 |
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