KR20040050911A - 진정성 증명용의 광학구조체와 진정성 증명용 기록체 및확인방법 - Google Patents

진정성 증명용의 광학구조체와 진정성 증명용 기록체 및확인방법 Download PDF

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Abstract

기재(2)상에 복수의 미소광학 단위구역(4)을 가지는 광학구조체(3)가 설치되어 있다. 동일한 미소광학 단위구역(4)내에 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(A, B)이 복수 종류 배열되어 있다. 혹은, 인접하는 미소광학 단위구역(4)마다 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상을 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(A, B)이 수종류 배열되어 있다.

Description

진정성 증명용의 광학구조체와 진정성 증명용 기록체 및 확인방법 {OPTICAL STRUCTURE BODY FOR AUTHENTICATION, RECORDING MEDIUM FOR AUTHENTICATION, AND CONFIRMATION METHOD}
금융기관이 발행하는 예금용 카드, 또는 카드회사가 발행하는 크레디트 카드 등의 카드류에는, 그들의 진정성을 보증하는 의미에서 회절격자나 홀로그램이 적용되고 있는 것이 많다.
또, 유명 브랜드의 손목시계 등, 모조품이 나돌기 쉬운 고액상품 또는 그 케이스 등에도 역시 그것들의 진정성을 보증하는 의미에서, 회절격자나 홀로그램이 적용되고 있는 것이 많다.
회절격자나 홀로그램(이하, 홀로그램 등이라 칭함)이 상기의 예 이외의 여러 분야의 물품에도 적용되고 있는 이유는, 홀로그램 등이 제조 또는 복제의 곤란성을 가지고 있기 때문이다. 또, 외관적으로는 간섭색을 가지고 있어 주목하기 쉽고,의장적(意匠的)으로도 우수하며, 더욱이 경우에 따라서는 벗기려고 하면 파괴되고, 그 외에 전용할 수 없는 구조로 하는 것이 가능하다는 등의 장점을 갖고 있기 때문이다.
그러나, 홀로그램 등이 제조나 복제의 곤란성을 가지고 있다고는 해도, 그것들의 제조방법은 전문가 사이에서는 잘 알려져 있다. 이 때문에 위조된 경우에 있어서도 정밀한 가공기술을 이용하여 제조되기 때문에, 외관적으로는 진짜와 매우 유사한 것이 얻어져 위조된 것을 그것과 식별하는 것은 매우 곤란하다.
그래서, 종래 홀로그램 등의 위조에 대한 안전성을 더욱 높이려고 하는 시도가 여러 모로 행해지고 있다.
일본 특개평 제2000-3124호에는, 단색광이 조사되었을 때 그 투과회절광 또는 반사회절광이 진정(眞正)상품인 것을 나타내는 소정 화상을 투영하도록 구성된 제1 및 제2홀로그램 패턴이 각각 CGH(Computer Generated Hologram)로서 기록되어 있는 진정상품 표시상 투영데이터 기록된 광기록매체가 나타내어져 있다. 이 일본 특개평 제2000-3124호에 의하면, 단색광의 소정의 파장의 광을 조사하면, 소정의 영상이 투영되는지의 여부에 따라 용이하게 상품의 진위의 판정을 행할 수 있는 것이 개시되어 있다.
그렇지만, 상기의 종래기술에 있어서는 홀로그램의 어떤 구역이 크거나 또는 형성되어 있는 위치가 명료하기 때문에, 홀로그램의 존재 및 그 위치를 발견하여, 홀로그램의 해석을 용이하게 행할 수 있어 위조에 대한 안전성이 충분하다고는 할 수 없다.
본 발명은 진정성 증명용의 광학구조체 및 그 진정성 증명용의 광학구조체를 갖춘 진정성 증명용 기록체에 관한 것이다.
또, 본 발명은 이들 광학구조체, 또는 진정성 증명용 기록체가 가지는 광학구조체를 이용하여 행하는 진정성의 확인방법에 관한 것이다.
도 1은 본 발명의 진정성 증명용 기록체를 나타낸 평면도이고,
도 2는 원화상에 기초한 다치화된 깊이 정보를 얻는 흐름을 나타낸 도면,
도 3은 광학구조체내의 미소광학 단위구역의 배열을 나타낸 도면,
도 4는 미소광학 단위구역의 형상을 나타낸 도면,
도 5는 진정성의 확인방법을 설명하는 도면이다.
본 발명에 있어서는, 간섭성 광(coherent light)을 조사했을 때에 시각적으로 인식가능한 정보를 재생할 수 있는 동시에, 그 존재를 은폐하거나 또는 혼동될 수 있는 진정성 증명용의 광학구조체와 진정성 증명용 기록체 및 확인방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은, 진정성 증명용의 광학구조체에 있어서, 복수의 미소광학 단위구역을 갖추고, 각 미소광학 단위구역이 원(原)화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상(變換像)의 위상정보를 다치화(多値化)하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 각 미소광학 단위구역은 서로 다른 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 하나의 미소광학 단위구역과 이 미소광학 단위구역에 인접한 미소광학 단위구역은 각각 서로 다른 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 미소광학 단위구역의 길이는 0.3㎜ 이하인 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 미소광학 단위구역은 다각형 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 미소광학 단위구역은 문자, 숫자, 도형 또는 기호의 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체이다.
본 발명은, 진정성 증명용 기록체에 있어서, 기재(基材)와 기재에 설치된 광학구조체를 갖추고, 광학구조체는 복수의 미소광학 단위구역을 가지며, 각 미소광학 단위구역은 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용 기록체이다.
본 발명은, 복수의 미소광학 단위구역을 갖추고, 각 미소광학 단위구역은 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체를 이용한 진정성의 확인방법에 있어서, 기준상을 준비하는 공정과, 광학구조체에 간섭성 광을 조사하는 공정 및, 광학구조체로부터 재생된 상을 미리 준비한 기준상과 비교하여 차이의 판정을 행하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 진정성의 확인방법이다.
도 1은 본 발명을 그 바람직한 적용예의 하나인 예금용 카드, 또는 크리디트 카드 등의 카드류에 적용한 1실시예를 나타낸 평면도이다.
도 1에 있어서, 진정성 증명용 기록체(1)는 기재(2)와, 기재(2)에 적층된 진정성 증명용의 광학구조체(3)를 갖추고 있다. 또, 기재(2)의 상면과 광학구조체(3)의 상면이 동일평면으로 되도록 기재(2)내에 광학구조체(3)를 매립해도 좋다.
이들 적층된 기재(2)와 광학구조체(3)의 조합체의 더욱 상면에 광학구조체 (3)의 관찰 또는 그것이 가진 정보의 독출에 지장이 없는 한, 투명한 보호층(1a)을 부가해도 좋다.
기재(2)의 소재로는, 폴리염화비닐, 폴리에스테르, 폴리카보네이트, 폴리아미드, 폴리이미드, 셀룰로스디아세테이트, 셀룰로스트리아세테이트, 폴리스티렌계, 아크릴, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌 등의 수지 외에, 알루미늄, 동 등의 금속, 종이, 그리고 수지 또는 라텍스 등의 함침 종이 등의 단독, 혹은 복합체로 이루어진 시트 등을 이용할 수 있다.
내열성이 요구되는 경우, 기재(2)의 소재로서, 비정질 폴리에스테르 수지, 비정질 폴리에스테르 수지와 폴리카보네이트 수지의 블렌드 수지 등의 시트도 이용할 수 있다.
기재(2)의 두께는, 재질에 따라서도 다르지만, 통상 10㎛~5㎜정도의 범위이다. 진정성 증명용 기록체(1)가, 자기 카드의 기능을 가진 경우, 기재(2)가 ISO의규격에 준거한 것으로 하기 때문에, 그 두께는 0.76㎜로 되어 있다. 그리고, 기재(2)를 폴리염화비닐(이하, PVC)로 구성하는 경우, 통상 두께 280㎛의 백색 PVC시트를 코어시트로서 2매 겹치고, 그 양면에 각각 두께 100㎛의 투명 PVC시트를 오버시트로서 겹치며, 열프레스 등에 의해 적층하는 4층 구성의 기재(합계 두께 0.76㎜)가 이용되고 있다.
4층 구성의 기재(2)의 경우, 광학구조체(3)를 적층하는 위치는, 코어시트의 오버시트측, 오버시트의 코어시트측, 또는 오버시트의 노출면이 적당하다.
진정성 증명용의 광학구조체(3)는, 세밀히 보면 더욱이 미소광학 단위구역 (4)이 배열하여 구성된 것으로, 도 1에 나타낸 예에 있어서는 정방형의 미소광학 단위구역(4)이 종횡의 매트릭스모양으로 배열되어 있다.
광학구조체(3)의 크기는, 예컨대 수㎜∼수㎝ 정도이지만, 기재(2)의 전면을 덮는 크기여도 좋다.
광학구조체(3)를 구성하는 미소광학 단위구역(4)은, 시각적인 확인을 곤란하게 할 목적으로, 크기가 작은 쪽이 바람직하고, 구체적으로는 0.3㎜이하의 크기인 것이 바람직하다. 미소광학 단위구역(4)의 크기가 0.3㎜를 초과하는 경우, 미소광학 단위구역(4)이 시인될 가능성이 높아져 해석될 가능성이 생기기 때문이다. 또한, 미소광학 단위구역(4)의 크기는 정방형이면 한변의 길이, 장방형이면 긴변의 길이, 원이면 직경, 타원이면 장경(長徑) 등으로 나타내고, 그 외의 형상이면, 직경치수의 최대치로 나타내는 것으로 한다.
또, 미소광학 단위구역(4)의 크기는, 레이저빔의 직경보다도 충분히 작은 쪽이 바람직하고, 그 이유는 홀로그램의 재생을 위해 레이저광을 조사했을 때에 미소광학 단위구역(4)내의 모든 홀로그램 및 모든 회절격자의 재생이 가능해지기 때문이다.
미소광학 단위구역(4)의 크기는, 그 중에 적어도 2이상의 미소구역을 형성할 수 있는 한 작게 할 수 있지만, 양산에 지장이 없고, 재생된 상의 관찰이 쉬운 점에서 보면 10㎛이상인 것이 바람직하다.
미소광학 단위구역(4)은, 도 1내에 그 하나를 ○로 감싸서 아래쪽으로 인출하고, 또 다른 좌우로 늘어선 2개를 모서리를 둥글게 한 사각으로 감싸서 아래쪽으로 인출하고 있다. 어떠한 인출한 부분도 확대해서 나타낸 바와 같이, 더욱 세분화된 미소구역으로 이루어져 있고, 도 1에 나타낸 예에서는 각각의 미소광학 단위구역(4, 4a 또는 4b)이 종횡 모두 6등분으로 분할된 36개의 각각 정방형으로 되는 미소구역(5)으로 되어 있다.
아래쪽으로 향해 좌측으로 인출한 미소광학 단위구역(4)에서는, 36개의 미소구역(5)을, 미소광학 단위구역(4)의 중심을 통과하는 종횡의 선(상정상의 선)으로 분할함으로써, 9개씩의 미소구역(5)으로 이루어진 4개의 그룹(또는 군(群))이 형성되어 있다. 4개의 그룹중 정면에서 좌측 위쪽의 그룹중 및 정면에서 우측의 아래쪽의 그룹중 각각의 미소구역이 원화상(A)의 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(도면내에서 오른쪽 아래의 해칭을 실시하여 부호 A로 나타냄)으로 되어 있다. 또, 정면에서 우측 위쪽의 그룹중 및 정면에서 좌측 아래쪽의 그룹중 각각의 미소구역이 원화상(B)의 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(도면내에서 해칭을 실시하지 않고 부호 B로 나타냄)으로 되어 있다. 이 미소광학 단위구역(4)은 도면에도 일부 표현되어 있는 바와 같이, 종횡으로 같은 방향인 채로 배열하는 것이 바람직하다.
또, 아래쪽으로 향해 우측으로 인출한 2개의 미소광학 단위구역(4a, 4b)에서는, 예컨대 도면내 왼쪽의 원으로 둘러싸인 미소광학 단위구역(4a)중 각각의 미소구역이 원화상(A)의 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(도면내에서 오른쪽 아래의 해칭을 실시하여 부호 A로 나타냄)으로 되어 있다. 또, 도면내 오른쪽의 원으로 둘러싸인 미소광학 단위구역(4b)중 각각의 미소구역이 원화상(B)의 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역(도면내에서 해칭을 실시하지 않고 부호 B로 나타냄)으로 되어 있다. 이들 미소광학 단위구역(4a, 4b)은 도면에도 일부 표현되어 있는 바와 같이, 종횡 모두 교대로 반복하여 배열하는 것이 바람직하다.
미소구역(A, B)에, 원화상(A, B)에 기초하여 깊이로서 정보를 기록하는 수법에 대해 도 2를 인용하여 설명한다. 즉, 도 2에 나타낸 바와 같이, (1)∼(7)의 각 단계를 원화상의 종류마다 순차적으로 행함으로써, 미소구역(A, B)에 깊이의 정보를 기록한다.
(1) 먼저, 원화상을 형성한다. 원화상은 임의로 결정된 화상이면 좋고, 문자, 숫자, 도형 또는 기호 외에 그림, 애니메이션 또는 사진 등 어느 것에도 있을 수 있다.
(2) 다음으로, 원화상으로부터 컴퓨터를 이용하여 원화상을 푸리에 변환 처리함으로써, 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상을 작성한다.
(3) 진폭=1로 한다.
(4) 푸리에 역변환을 행한다.
(5) 진폭을 원래의 진폭으로 한다(위상은 그대로 한다).
이 후, (2)로 돌아가, [푸리에 변환-푸리에 역변환]을 반복한 후, 소정의 조건을 만족시키는 푸리에 변환상이 얻어졌다고 판단된 시점에서 정지한다.
(6) 정지 후, 위상데이터를 추출한다.
(7) 위상데이터의 다치화를 행하여 소정의 단수(段數)의 깊이 정보로 한다.
얻어진 깊이 정보는, 요약하면 [원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 얻어지는 깊이 정보]라고 말해야 하지만, 때때로 단축해서 [원화상에 기초하는 다치화된 깊이 정보]라고 말하기로 한다.
원화상(A) 및 원화상(B)에 기초하는 위상데이터의 다치화는, 예컨대 2치화, 4치화, 8치화 또는 16치화 등일 수 있지만, 8치화의 그레이팅의 이상적인 회절효율은 95.0%이기 때문에, 실용상은 충분하다는 점에서 2치화, 4치화 또는 8치화 정도가 바람직하다.
도 1의 예에서는, 원화상(A) 및 원화상(B)에 기초하는 다치화된 깊이 정보를 준비하고, 도 1에 나타낸 바와 같은 미소광학 단위구역(4)의 미소구역(A, B) 각각에 대응시켜 할당하고 나열한다. 이들 작업은, 광학 구조체(3)를 구성하는 다른 미소광학 단위구역(4)에도 행한다.
미소광학 단위구역(4)내의 각각의 미소구역(A, B)에 상기와 같은 다치화된깊이 정보를 할당할 때, 전자선 묘화장치나 그레이팅 플롯장치 등이 사용되어 감광성 수지로의 노광 및 현상에 의해 감광성 수지의 경화물의 표면의 미세한 요철(凹凸), 혹은 에칭성 기판상의 미소한 요철이 형성된다.
이것들을 그대로 광학 구조체(3)로서 사용하는 것도 물론 가능하지만, 통상은 후술하는 바와 같이 이것을 원형으로 해서 요철형을 제조하고, 얻어진 요철형을 이용하여 광학 구조체(3)를 대량 복제하여 사용하는 것이 바람직하다.
상기의 예에서는, 다른 원화상(A, B)에 기초하는 2종류의 다치화된 깊이 정보는, 미소광학 단위구역(4)의 4개의 그룹의 미소구역(A, B) 각각에 갖추어져 있거나, 또는 미소광학 단위구역(4a, 4b)내의 모든 미소구역(A, B) 각각에 갖추어져 있다. 최소한, 미소광학 단위구역(4, 4a, 4b)이 2개의 미소구역(A, B)을 가지고 있으면 좋다. 또, 미소광학 단위구역(4)내에 다른 원화상(A, B)에 기초하는 2종류의 다치화된 깊이 정보가 할당되어 있거나, 또는 1개의 미소광학 단위구역(4a)내의 미소구역(A)에는 같은 원화상, 예컨대 A에 기초하는 다치화된 깊이 정보가 할당되고, 인접한 미소광학 단위구역(4b)내의 미소구역(B)에는 다른 원화상, 예컨대 B에 기초하는 다치화된 깊이 정보가 할당되어 있으면 좋다. 이들 원화상에 기초하는 다치화된 깊이 정보의 종류는 임의로 증가시킬 수 있다.
원화상에 기초하는 다치화된 깊이 정보를 2종류 이상으로 함으로써, 홀로그램을 재생할 때의 간섭성 광의 조건, 예컨대 조사각도를 변경시키는 것 등이 가능해진다. 이 때문에, 해석이 더욱 곤란해지고, 또 재생상을 모두 확인하여 비로소 진정성이 증명되기 때문에, 진정성을 보증하는 능력, 즉 신뢰성이 보다 높아지는이점이 있다.
여러 형상일 수 있는 미소광학 단위구역(4)은 도 3의 (a)에 나타낸 바와 같이, 종횡의 매트릭스모양으로 조밀하게 배열하는 이외에, 도 3의 (b)에 나타낸 바와 같이 1행째(제일 위의 횡의 줄)를 기준으로 2행째 이후가 1/2 피치씩 어긋난 배열이나 1/3 피치씩 어긋난 배열도 있을 수 있다.
또, 미소광학 단위구역(4)은 도 4에 나타낸 바와 같이 삼각형(도 4의 (a)), 사각형, 오각형, 육각형(도 4의 (b)), …등의 다각형이여도 좋고, 다각형 이외의 기하학 형상, 예컨대 원이나 타원이여도 좋으며, 문자나 숫자 등의 형상(도 4의 (c))이나 임의의 도형이나 기호의 형상(도 4의 (d))이여도 좋다.
이 중, 다각형이나 원, 타원 등의 기하학적 형상은 원화상에 기초하는 다치화된 깊이 정보를 할당할 때의 처리가 용이하게 되는 점에서 바람직하고, 또 특히 다각형의 대표인 삼각형, 사각형 또는 육각형의 경우에는 조밀하게 배열하는 것이 용이하다.
또, 문자나 숫자, 임의의 도형이나 기호 등의 형상의 경우에는 형상이 판명되어도 외형 그 자체에 관심이 쏠리기 때문에, 내재하는 정보의 존재의 카무플라주(camouflage; 위장)로 되는 이점이 발생한다. 또, 이들 형상에 의미를 갖게 할 수도 있고, 위조방지책에 일조할 수도 있다.
미소광학 단위구역(4)의 형상에 관하여 도 3을 인용하여 설명한 이외의 양식으로 배열할 수도 있다.
도 4의 (a)에 나타낸 바와 같이, 삼각형의 경우에는 한변을 상측으로 하여 1행째를 구성한다. 다음으로, 2행째를 구성할 때에는 1행째의 인접하는 삼각형끼리의 사이에 삼각형의 일변을 하측으로 하여 배열한다. 그리고, 3행째 이후의 홀수행째는 1행째의 배열을 반복함으로써, 4행째 이후의 짝수행째는 2행째의 배열을 반복함으로써 조밀하게 배열할 수 있다.
혹은, 육각형의 경우 1열째(제일 좌측의 종의 줄)의 각 육각형의 상대하는 2변을 좌우방향으로 평행하게 되도록 하여 조밀하게 늘어 놓고, 2열째는 종방향으로 1/2 피치 어긋나게 하여 벌집모양으로 늘어 놓는다. 이러한 배열에 의해 조밀하게 배열할 수 있다.
미소광학 단위구역(4)이 도 4의 (c)에 나타낸 문자「A」형상의 경우나 도 4의 (d)에 나타낸 하트 형상의 경우에는, 인접하는 형상끼리의 사이에 극간을 만들지 않고 늘어 놓는 것은 어렵지만, 미소광학 단위구역(4) 자체가 작기 때문에, 극간도 또 육안으로의 시인(視認)이 곤란하여 반드시 조밀하게(극간없이) 배열하지 않아도 좋다.
단, 정방형 등의 다각형과 같이 조밀하게 늘어 놓을 수 있는 것은, 홀로그램의 재현성을 높게 할 수 있다는 점에서 바람직하다. 따라서, 다각형 이외의 형상의 경우도, 반복하여 단위의 면적내에 차지하는 미소광학 단위구역의 비율이 높은 쪽이 보다 바람직하다.
또, 광학구조체(3)의 형상도 도 1에 나타낸 바와 같은 사각형에 한정되는 것은 아니고, 광학구조체(4) 자체가 상기한 미소광학 단위구역(4)의 여러 형상으로서 열거한 형상이여도 좋다. 또, 임의의 광학구조체(3)의 형상내에미소광학단위구역(4)이 배열된 부분과 배열되지 않은 부분을 갖추고 있어도 좋다. 예컨대, 사각형의 광학구조체(3)내의 일정한 형상내에 미소광학 단위구역(4)이 배열되고, 다른 부분에는 미소광학 단위구역(4)이 배열되지 않음으로써, 문자모양으로 미소광학 단위구역(4)을 배열해도 좋다.
기재(2)상에 설치되는 광학구조체(3)는 공업적으로는 상술한 바와 같이 요철형을 제작하고, 얻어진 요철형을 이용하여 대량으로 복제함으로써 제조된 것이 바람직하다.
요철형으로서는, 감광성 수지를 이용하여 제조된 것이나 에칭성 기판상에 제조된 것을 금속도금을 반복하여 행하는 등에 의해 최초로 얻어진 요철형을 원형으로 하는 몇개의 복제용 요철형을 제작하여 사용해도 좋다.
대량으로 복제하는 경우, 바람직하게는 유동성의 전리방사선 경화성 수지(통상은, 자외선 경화성 수지)를 투명필름상에 도포한데다가 복제용 요철형의 미세요철을 갖춘 형면(型面)을 접촉시키고, 접촉을 유지한 채 전리방사선(자외선 경화성 수지라면 자외선)을 조사하여 전리방사선 경화성 수지를 경화시킴으로써 행하는 것이 바람직하다. 이러한 방법에 의해, 표면에 광학구조체의 미세요철이 복제된 전리방사선 경화성 수지의 경화수지막이 투명필름상에 적층된 적층체를 얻을 수 있다.
형성된 미세요철의 면에 통상 Al 등의 반사성의 금속박막이나, 경화수지막은 광의 굴절률이 다른 소재의 박막으로 이루어진 반사층을 미세요철을 따라 적층형성한다.
투명필름, 미세요철이 형성된 경화수지막 및 반사층이 차례로 적층된 적층체는 투명필름측 또는 반사층측을 감열접착제층 등의 접착제를 매개로 기재(2)와 적층한다. 이에 따라, 기재(2)와 광학구조체(3)를 갖춘 진정성 증명용 기록체 (1)를 얻을 수 있다.
혹은, 상기 투명필름과 미세요철이 형성된 경화수지막 사이를 박리가능하게 적층해 두고, 반사층측에 감열접착제층 등의 접착제를 매개로 기재(2)를 적층해도 좋다. 이 경우, 적층과 동시, 또는 적층후에 투명필름을 박리함으로써, 소위 전사방법을 이용하여 광학구조체(3)를 기재(2)상에 설치한다.
다음으로, 도 1을 인용하여 설명한 카드를 예로 진정성 증명의 확인방법을 설명한다. 도 5에 나타낸 바와 같이, 진정성 증명용 기록체(1)의 광학구조체(3)에 레이저 광원(11)을 이용하여 소정의 파장의 간섭성 광인 레이저광(12)을 조사한다. 레이저광(12)의 빔직경은 광학구조체(3)의 미소광학 단위구역(4)보다도 작게 해도 좋지만, 미소광학 단위구역(4)을 구성하는 미소구역(A, B)보다도 큰 것이 바람직하다.
이 조사에 의해, 미소광학 단위구역(4)에 미리 늘어 놓여져 있는 원화상(A, B)에 기초하는 다치화된 깊이 정보에 상당하는 홀로그램(a, b)이 재생된다. 이들 원화상(A, B)에 기초하는 다치화된 깊이 정보가 기록된 미소구역(A, B)은 백색광하에서는 희게 보이는 것이기 때문에, 종래의 홀로그램과 같이 구역을 크게 형성했을 때에 존재가 분명하게 되는 것을 피할 수 있다.
또, 재생된 홀로그램(a, b)을 총칭하여「재생된 상」이라 칭한다.
재생된 상을 미리 준비된 기준상과 비교하여 동일한지 또는 다른지의 판정을 행함으로써 진정성의 확인을 행할 수 있다.
따라서, 어떤 면(13)을 상정하면, 예컨대 정면에서 우측의 구역(13a)에서 홀로그램(a)을, 정면에서 좌측의 구역(13b)에서 홀로그램(b)을 관찰할 수 있다. 이 때문에, 면(13)을 박스의 상판(上板)으로 하고, 박스내에 레이저 광원(11) 및 진정성 증명용 기록체의 고정대(도시하지 않음)를 설치한 장치를 준비한다. 또, 박스의 상판(13)의 각 구역(13a, 13b)에 투과형 스크린을 설치해 둔다. 이에 따라, 이 장치를 이용하여 재생된 상을 판정하는 것이 가능하고, 진정성 증명용 기록체(1)의 진정성을 확인하는 것을 간편하게 행할 수 있다.
본 발명은 기본적으로는 이상에 서술한 구조를 갖춘 것이지만, 진정성 증명용 기록체(1)는 다음과 같은 요소를 갖추고 있는 것이 있을 수 있다.
도 1을 인용하여 설명한 카드류의 경우, 진정성 증명용 기록체(1)는 통상 자기 기록층을 갖추고 있는 것이 많다. 자기 기록층은 통상 5∼10㎜폭 정도의 스트라이프모양의 것으로, 기재(2)의 표면 또는 내부에 자기도료를 이용하여 도포함으로써 직접 설치할 수 있다. 혹은, 자기도료를 얇은 플라스틱 시트에 도포하고, 스트라이프모양으로 커트하여 붙이거나, 또는 임시의 기재시트에 박리가능하게 적층하여 준비된 자기기록층 전사시트를 이용하여 전사에 의해 자기기록층을 형성한다.
카드를 포함한 일반적인 기록체에 있어서는, 자기기록층을 갖추고 있는 것이 보통이다. 자기기록층의 기능은 광학기록층이나 IC 모듈 등으로 치환해도 좋다. 단, 광학기록층이나 IC 모듈이 갖추어져 있어도, 범용성이 있는 자기기록층을 갖추고 있는 것이 바람직하다.
또, 본 발명에서의 광학구조체(3)와는 달리 진정성 증명용 기록체(1)는 통상의 홀로그램 등(회절격자를 포함함)을 갖추고 있어도 좋고, 이렇게 하면 본 발명에서의 광학구조체(3)로의 주의와 관심을 딴데로 돌릴 수 있다.
본 발명의 진정성 증명용 기록체(1)에는 적당한 문자가 인쇄 등에 의해 실시되어 있어도 좋다. 문자로 표현하는 내용으로서는, 카드의 경우이면 그 발행회사, 카드의 명칭, 발행번호, 유효기한, 보유자의 이름, 또는 주의서 등이 있다. 이들 중 몇 개, 예컨대 발행번호, 유효기한 및 보유자의 이름을 엠보스 가공에 의한 요철에 의해 형성해도 좋다.
이 외에, 기재(2)에는 진정성 증명용 기록체(1)를 장식하기 위한 착색이나 모양이 실시되어 있어도 좋고, 착색이나 모양은 통상 인쇄에 의해 행해진다.
본 발명의 진정성 증명용 기록체(1)는 카드 용도로 적용하기 위한 것뿐만 아니라, 여러 물품을 기재(2)로 하여 그것들에 광학구조체(3)를 적층하여 사용할 수 있다.
물품에 따라, 진정성 증명용 기록체(1)는 물품 그 자체가 정보를 가진 기록체인 경우와, 물품 그 자체는 정보를 가지고 있지 않지만 광학구조체(3)를 적층함으로써 정보가 부여된 기록체인 경우가 있다.
본 발명의 진정성 증명용 기록체(1)는 ID(본인 확인)용의 카드이여도 좋고, 구체적으로는 은행 등의 예금카드, 크레디트 카드, 신분증명서 등이여도 좋다. 또, 반드시 카드형태는 아닌 수험표, 패스포트 등이여도 좋다.
진정성 증명용 기록체(1)는 지폐, 상품권, 주권, 증권, 예금통장, 승차권, 항공권 등 혹은 교통기관이나 공중통화용의 프리페이드 카드여도 좋다. 이것들에는 금액, 발행자, 발행번호 또는 주의서 등의 정보가 기록되어 있다.
본 발명의 진정성 증명용 기록체(1)는 광학구조체(3)를 적층함으로써 정보가 부여된 여러 물품이여도 좋다.
여러 물품으로는, 예컨대 고급 손목시계, 귀금속, 장신구 등의 소위 브랜드품으로 불리는 세계적으로 저명한 고급상품, 그것들의 수납상자나 케이스 등의 물품이여도 좋다. 이것들은 통상 고가의 것이기 때문에 위조의 대상으로 되기 쉬운 것이다. 경우에 따라, 상품에 달 수 있는 택도 진정성 증명용 기록체(1)의 기재(2)로 될 수 있다.
음악 소프트웨어, 영상 소프트웨어, 컴퓨터 소프트웨어, 또는 게임 소프트웨어 등이 기록된 기억매체, 그것들의 케이스 등의 물품을 기재(2)로서 이용하고, 이 기재(2)에 광학구조체(3)를 적층해도 좋다. 이것들은 반드시 고가의 것은 아니지만, 부정하게 대량 복제되어 시판되면 정규품의 판매원이 중대한 손해를 입을 우려가 있는 것이다.
어떠한 진정성 증명용 기록체(1)에 있어서도, 광학구조체 이외의 부분이 정보를 갖고 있는 경우와 정보를 갖고 있지 않은 경우에 관계없이 광학구조체(3)를 갖춤으로써, 광학구조체(3)의 진정성을 확인할 수 있다. 이에 따라, 광학구조체(3)를 갖춘 기재, 즉 진정성 증명용 기록체(1)의 진정성을 확인하는 것이 가능해진다.
본 발명에 의하면, 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역이 나열되어 있기 때문에, 통상의 관찰에 의해서는 홀로그램의 존재를 알 수 없고, 간섭성 광을 조사하여 비로소 재생이 가능한 홀로그램을 형성할 수 있다. 이 때문에, 위조에 대한 안전성이 높아지고 있고, 또 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 미소구역이 원화상의 다른 복수 종류이기 때문에, 홀로그램을 재생할 때의 간섭성 광의 조사각도 등을 변화시키는 것이 가능하게 되어 해석이 보다 곤란하게 된다. 더욱이, 진정성의 확인을 위해서는, 다른 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수 종류의 미소구역으로부터의 재생상을 모두 확인할 필요가 있어, 신뢰성이 보다 높아진 광학구조체를 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 광학구조체를 구성하는 미소광학 단위구역의 크기를 규정함으로써, 각각의 미소광학 단위구역의 존재가 시인되기 어렵고, 따라서 해석될 가능성이 극히 적어진 광학구조체를 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 미소광학 단위구역의 형상이 다각형이기 때문에, 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화한 깊이의 정보를 할당할 때의 처리가 용이해지고, 또 다각형의 대표인 삼각형, 사각형 또는 육각형의 경우에는 조밀하게 배열하는 것이 용이한 광학구조체를 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 미소광학 단위구역의 형상이 구체적인 형상이기 때문에, 내재하는 정보의 존재의 카무플라주로 되는 이점을 갖는 광학구조체를 제공할 수있다.
본 발명에 의하면, 상기 효과를 발휘할 수 있는 진정성 증명용 기록체를 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 광학구조체를 이용하여 재생된 상에 의해 진정성을 증명할 수 있는 진정성의 확인방법을 제공할 수 있다.

Claims (8)

  1. 진정성 증명용의 광학구조체에 있어서,
    복수의 미소광학 단위구역을 갖추고,
    각 미소광학 단위구역이 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  2. 제1항에 있어서, 각 미소광학 단위구역은 서로 다른 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  3. 제1항에 있어서, 하나의 미소광학 단위구역과 이 미소광학 단위구역에 인접한 미소광학 단위구역은, 각각 서로 다른 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  4. 제1항에 있어서, 미소광학 단위구역의 길이는 0.3㎜ 이하인 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  5. 제1항에 있어서, 미소광학 단위구역은 다각형 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  6. 제1항에 있어서, 미소광학 단위구역은 문자, 숫자, 도형 또는 기호의 형상을 갖는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체.
  7. 진정성 증명용 기록체에 있어서,
    기재와,
    기재에 설치된 광학구조체를 갖추고,
    광학구조체는 복수의 미소광학 단위구역을 가지며,
    각 미소광학 단위구역은 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용 기록체.
  8. 복수의 미소광학 단위구역을 갖추고, 각 미소광학 단위구역은 원화상의 푸리에 변환을 통해 얻어지는 푸리에 변환상의 위상정보를 다치화하여 깊이로서 기록한 복수의 미소구역을 가지는 것을 특징으로 하는 진정성 증명용의 광학구조체를 이용한 진정성의 확인방법에 있어서,
    기준상을 준비하는 공정과,
    광학구조체에 간섭성 광을 조사하는 공정 및,
    광학구조체로부터 재생된 상을 미리 준비한 기준상과 비교하여 차이의 판정을 행하는 공정을 구비한 것을 특징으로 하는 진정성의 확인방법.
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