KR20020031853A - Jedec 규격의 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식반도체 메모리 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (19)
- 클럭 신호에 동기되어 동작하는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,외부로부터 인가되는 명령어 신호를 수신하는 하나 이상의 명령어 입력 핀들;상기 명령어 신호를 수신하여, 상기 명령어 신호에 대응하는 디코딩된 명령어를 출력하는 명령어 디코더; 및상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 기입 명령어를 수신하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 기입 명령어를 출력하는 기입 명령어 레이턴시 제어부를 구비하며,상기 N은 0 이상의 정수 중의 어느 하나이고,상기 레이턴시 제어 신호는 확장 모드 레지스터 셋의 설정값에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제1 항에 있어서,상기 레이턴시 제어 신호는 제1, 제2 및 제3 제어 신호를 포함하며,상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 기입 명령어를 출력하는 제1 기입 지연 소자;상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 기입 명령어를 출력하는 제2 기입 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제1 기입 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제2 기입 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제3 기입 전송게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제2 항에 있어서, 상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 제1 기입 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 기입 전송게이트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 클럭 신호에 동기되어 동작하는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,외부로부터 인가되는 명령어 신호를 수신하는 하나 이상의 명령어 입력 핀들;상기 명령어 신호를 수신하여, 상기 명령어 신호에 대응하는 디코딩된 명령어를 출력하는 명령어 디코더; 및상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 독출 명령어를 수신하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 독출 명령어를 출력하는 독출 명령어 레이턴시 제어부를 구비하며,상기 N은 0 이상의 정수 중의 어느 하나이고,상기 레이턴시 제어 신호는 확장 모드 레지스터 셋의 설정값에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제4 항에 있어서,상기 레이턴시 제어 신호는 제1, 제2 및 제3 제어 신호를 포함하며,상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 독출 명령어를 출력하는 제1 독출 지연 소자;상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 독출 명령어를 출력하는 제2 독출 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제1 독출 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제2 독출 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제3 독출 전송게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제5 항에 있어서, 상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 제1 독출 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 독출 전송 게이트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 클럭 신호에 동기되어 동작하는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,외부로부터 인가되는 어드레스 신호를 수신하는 하나 이상의 어드레스 입력 핀들;상기 어드레스 신호를 수신하여, 상기 어드레스 신호가 칼럼 어드레스 신호이면, 상기 어드레스 신호를 칼럼 어드레스 신호로서 칼럼 어드레스 경로로 출력하는 칼럼 어드레스 결정부; 및상기 칼럼 어드레스 경로상에 위치하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부를 구비하며,상기 N은 0 이상의 정수 중의 어느 하나이고,상기 레이턴시 제어 신호는 확장 모드 레지스터 셋의 설정값에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제7 항에 있어서,상기 레이턴시 제어 신호는 제1, 제2 및 제3 제어 신호를 포함하며,상기 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부는상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 제1 칼럼 어드레스 지연 소자;상기 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 제2 칼럼 어드레스 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제1 칼럼 어드레스 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제2 칼럼 어드레스 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제3 칼럼 어드레스 전송게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제8 항에 있어서, 상기 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부는상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 제1 칼럼 어드레스 지연소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 칼럼 어드레스 전송게이트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제7 항에 있어서,상기 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치는 상기 칼럼 어드레스 신호의 레벨을 변환하는 칼럼 어드레스 버퍼를 더 구비하며,상기 칼럼 레이턴시 제어부는 상기 칼럼 어드레스 버퍼 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제7 항에 있어서,상기 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치는 상기 칼럼어드레스 신호를 디코딩하는 칼럼 어드레스 디코더를 더 구비하며,상기 칼럼 레이턴시 제어부는 상기 칼럼 어드레스 디코더 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 클럭 신호에 동기되어 동작하는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,외부로부터 인가되는 명령어 신호를 수신하는 하나 이상의 명령어 입력 핀들;상기 명령어 신호를 수신하여, 상기 명령어 신호에 대응하는 디코딩된 명령어를 출력하는 명령어 디코더;상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 기입 명령어를 수신하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 기입 명령어를 출력하는 기입 명령어 레이턴시 제어부; 및상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 독출 명령어를 수신하고, 상기 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 독출 명령어를 출력하는 독출 명령어 레이턴시 제어부를 구비하며상기 N은 0 이상의 정수 중의 어느 하나이고,상기 레이턴시 제어 신호는 확장 모드 레지스터 셋의 설정값에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리장치.
- 제12 항에 있어서,상기 레이턴시 제어 신호는 제1, 제2 및 제3 제어 신호를 포함하며,상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 기입 명령어를 출력하는 제1 기입 지연 소자;상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 기입 명령어를 출력하는 제2 기입 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제1 기입 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제2 기입 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제3 기입 전송게이트를 포함하고,상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 독출 명령어를 출력하는 제1 독출 지연 소자;상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 독출 명령어를 출력하는 제2 독출 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제1 독출 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제2 독출 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제3 독출 전송게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제13 항에 있어서,상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는 상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 제1 기입 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 기입 전송게이트를 더 포함하고,상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는 상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 제1 독출 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 독출 전송 게이트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 클럭 신호에 동기되어 동작하는 동기식 반도체 메모리 장치에 있어서,외부로부터 인가되는 명령어 신호를 수신하는 하나 이상의 명령어 입력 핀들;외부로부터 인가되는 어드레스 신호를 수신하는 하나 이상의 어드레스 입력 핀들;상기 명령어 신호를 수신하여, 상기 명령어 신호에 대응하는 디코딩된 명령어를 출력하는 명령어 디코더;상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 기입 명령어를 수신하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 기입 명령어를 출력하는 기입 명령어 레이턴시 제어부; 및상기 명령어 디코더에서 출력되는 상기 디코딩된 명령어들 중에서 독출 명령어를 수신하고, 소정의 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 독출 명령어를 출력하는 독출 명령어 레이턴시 제어부;상기 어드레스 신호를 수신하여, 상기 어드레스 신호가 칼럼 어드레스 신호이면, 상기 어드레스 신호를 칼럼 어드레스 신호로서 칼럼 어드레스 경로로 출력하는 칼럼 어드레스 결정부; 및상기 칼럼 어드레스 경로상에 위치하고, 상기 레이턴시 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 싸이클의 N/2 배만큼 지연하여 지연 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부를 구비하며,상기 N은 0 이상의 정수 중의 어느 하나이고,상기 레이턴시 제어 신호는 확장 모드 레지스터 셋의 설정값에 응답하여 활성화되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제15 항에 있어서,상기 레이턴시 제어 신호는 제1, 제2 및 제3 제어 신호를 포함하며,상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는상기 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 기입 명령어를 출력하는 제1 기입 지연 소자;상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 기입 명령어를 출력하는 제2 기입 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제1 기입 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제2 기입 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 기입 명령어를 상기 지연 기입 명령어로서 출력하는 제3 기입 전송게이트를 포함하고,상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는상기 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 독출 명령어를 출력하는 제1 독출 지연 소자;상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2예비 독출 명령어를 출력하는 제2 독출 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제1 독출 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제2 독출 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 독출 명령어를 상기 지연 독출 명령어로서 출력하는 제3 독출 전송게이트를 포함하며,상기 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부는상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 제1 칼럼 어드레스 지연 소자;상기 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 클럭 신호의 한 싸이클만큼 지연하여 제2 예비 칼럼 어드레스 신호를 출력하는 제2 칼럼 어드레스 지연 소자;상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제1 칼럼 어드레스 전송게이트;상기 제2 제어 신호에 응답하여, 상기 제1 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제2 칼럼 어드레스 전송게이트; 및상기 제3 제어 신호에 응답하여, 상기 제2 예비 칼럼 어드레스 신호를 상기 지연 칼럼 어드레스 신호로서 출력하는 제3 칼럼 어드레스 전송게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제16 항에 있어서,상기 기입 명령어 레이턴시 제어부는 상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 기입 명령어를 상기 제1 기입 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 기입 전송게이트를 더 포함하고,상기 독출 명령어 레이턴시 제어부는 상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 독출 명령어를 상기 제1 독출 지연 소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 독출 전송 게이트를 더 포함하며,상기 칼럼 어드레스 레이턴시 제어부는 상기 제1 제어 신호에 응답하여, 상기 칼럼 어드레스 신호를 상기 제1 칼럼 어드레스 지연소자의 입력 신호로서 출력하는 제4 칼럼 어드레스 전송게이트를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
- 제15 항에 있어서,상기 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치는 상기 칼럼 어드레스 신호의 레벨을 변환하는 칼럼 어드레스 버퍼를 더 구비하며,상기 칼럼 레이턴시 제어부는 상기 칼럼 어드레스 버퍼 내에 포함되는 것을 특징으로 하는 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치.
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Cited By (3)
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3908493B2 (ja) * | 2001-08-30 | 2007-04-25 | 株式会社東芝 | 電子回路及び半導体記憶装置 |
KR100425472B1 (ko) * | 2001-11-12 | 2004-03-30 | 삼성전자주식회사 | 동기식 반도체 메모리 장치의 출력 제어 신호 발생 회로및 출력 제어 신호 발생 방법 |
DE10343525B4 (de) * | 2002-09-27 | 2011-06-16 | Qimonda Ag | Verfahren zum Betreiben von Halbleiterbausteinen, Steuervorrichtung für Halbleiterbausteine und Anordnung zum Betreiben von Speicherbausteinen |
KR100495917B1 (ko) | 2002-11-20 | 2005-06-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고속 데이터 출력을 위한 파이프래치 회로 |
KR100540472B1 (ko) * | 2003-10-31 | 2006-01-11 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력에 관한 동작마진이 향상된 메모리 장치 |
JP4152308B2 (ja) * | 2003-12-08 | 2008-09-17 | エルピーダメモリ株式会社 | 半導体集積回路装置 |
KR100605590B1 (ko) * | 2004-05-10 | 2006-07-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치 |
KR100632611B1 (ko) * | 2004-11-15 | 2006-10-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 명령 디코더 |
DE102004063531B4 (de) * | 2004-12-30 | 2011-06-01 | Qimonda Ag | Halbleiter-Speicherbauelement, System mit Halbleiter-Speicherbauelement, und Verfahren zum Betrieb eines Halbleiter-Speicherbauelements |
KR100744042B1 (ko) * | 2005-09-28 | 2007-07-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치 |
KR100753081B1 (ko) * | 2005-09-29 | 2007-08-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 |
KR100671747B1 (ko) * | 2006-01-04 | 2007-01-19 | 삼성전자주식회사 | 개선된 애디티브 레이턴시를 가진 메모리 시스템 및제어방법 |
KR100753412B1 (ko) * | 2006-01-13 | 2007-08-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 커맨드 디코더 회로 |
US20070171735A1 (en) * | 2006-01-25 | 2007-07-26 | Jong-Hoon Oh | Latency circuit for semiconductor memories |
KR100799132B1 (ko) | 2006-06-29 | 2008-01-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 초기값변경이 가능한 모드레지스터셋회로. |
KR100868251B1 (ko) * | 2007-03-22 | 2008-11-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리장치 |
KR100892670B1 (ko) | 2007-09-05 | 2009-04-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로 |
US8898439B2 (en) * | 2009-07-17 | 2014-11-25 | Macronix International Co., Ltd. | Serial flash memory and address transmission method thereof |
KR101103068B1 (ko) | 2010-03-31 | 2012-01-06 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로 |
KR20120119348A (ko) * | 2011-04-21 | 2012-10-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 지연회로 및 메모리의 레이턴시 제어회로 및 신호 지연 방법 |
JP2013073651A (ja) | 2011-09-28 | 2013-04-22 | Elpida Memory Inc | 半導体装置 |
US9224442B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-12-29 | Qualcomm Incorporated | System and method to dynamically determine a timing parameter of a memory device |
US11270758B2 (en) | 2020-07-29 | 2022-03-08 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses, systems, and methods for system on chip replacement mode |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW349196B (en) * | 1996-10-18 | 1999-01-01 | Ibm | Cached synchronous DRAM architecture having a mode register programmable cache policy |
JPH10228772A (ja) * | 1997-02-18 | 1998-08-25 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
KR100274602B1 (ko) * | 1997-11-20 | 2000-12-15 | 윤종용 | 동기형 메모리 장치 |
-
2000
- 2000-10-24 KR KR10-2000-0062608A patent/KR100374637B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-05-02 US US09/847,791 patent/US6483769B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-13 TW TW090114259A patent/TW512344B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-07-24 JP JP2001223565A patent/JP4007776B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100590855B1 (ko) * | 2003-10-14 | 2006-06-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 전류 소모의 감소를 위한 반도체 메모리 소자 |
KR100818720B1 (ko) * | 2005-11-19 | 2008-04-01 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로, 제어 방법 및상기 레이턴시 제어 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치 |
KR100746229B1 (ko) * | 2006-07-07 | 2007-08-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 |
US7590013B2 (en) | 2006-07-07 | 2009-09-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Semiconductor memory devices having variable additive latency |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020048197A1 (en) | 2002-04-25 |
JP2002133866A (ja) | 2002-05-10 |
JP4007776B2 (ja) | 2007-11-14 |
US6483769B2 (en) | 2002-11-19 |
TW512344B (en) | 2002-12-01 |
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