JP4007776B2 - ポステッドcas機能を有する同期式半導体メモリ装置 - Google Patents

ポステッドcas機能を有する同期式半導体メモリ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4007776B2
JP4007776B2 JP2001223565A JP2001223565A JP4007776B2 JP 4007776 B2 JP4007776 B2 JP 4007776B2 JP 2001223565 A JP2001223565 A JP 2001223565A JP 2001223565 A JP2001223565 A JP 2001223565A JP 4007776 B2 JP4007776 B2 JP 4007776B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
control signal
read
word
write
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001223565A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002133866A (ja
Inventor
元 均 羅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2002133866A publication Critical patent/JP2002133866A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4007776B2 publication Critical patent/JP4007776B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は半導体装置に係り、特にクロック信号に同期して動作する同期式DRAM(SDRAM;Synchronous Dynamic Random Access Memory)に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、SDRAMは、外部から入力されるクロック信号に同期して読出しまたは書込み動作が制御される。半導体メモリ装置のうち、DRAMでは、ロウアドレスストローブ(Row Address Strobe;RAS)活性命令を与えた後、一定の時間が経過してから読出しまたは書込み命令などのCAS命令(CAS Command、CAS;Column Address Strobe)を与える。この時間がtRCDで表わされる時間である。すなわち、RAS活性命令を与えた後、tRCD時間が経過しなければ、読出しまたは書込み命令を与えることができない。SDRAMの場合、tRCDは通常2〜3クロックサイクルが要求される。一つのクロックサイクルをtCCで表わすため、tRCDは2〜3tCCとなる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、従来のSDRAMでは、SDRAMを制御するコントローラでtRCDを考慮して、RAS活性命令後に適切なタイミングで読出しまたは書込み命令を与えなければならない。かかる従来の方式はSDRAMを制御するコントローラまたはユーザがSDRAMのtRCD仕様を一々考慮しなければならないという面倒さがあるだけでなく、コントローラとSDRAMの命令語入力ピンまでのバス使用の効率を落とすという短所がある。これらの問題により、国際電子標準化機構であるJEDEC(Joint Electronic DeviceEngineering Council)で追加的なCASレイテンシ機能(ポステッドCAS機能とも呼ぶ)を要求して、規格化するに至った。JEDECはDDR(Double Data Rate)SDRAMのアップグレードされたバージョンであるDDR2 SDRAMにポステッドCAS機能を加えることを要求している。また、JEDEC規格では、SDRAMの拡張モードレジスタセット(Extended Mode Register Set、以下、EMRS)を通じて追加的なCASレイテンシを何tCCとするかを予め設定できるように要求している。
【0004】
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、その目的は、同期式DRAMと外部コントローラとの間のバス使用の効率を高めると共に、JEDECのポステッドCAS機能に対する要求事項を満足する同期式DRAMを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、クロック信号に同期して動作する同期式半導体メモリ装置、特にポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置が提供される。
【0006】
本発明の第1のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は、クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語が得られるように前記書込み命令語のタイミングが制御され、前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを備えることを特徴とする。
【0007】
本発明の第2のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は、クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記読出し命令語が得られるように前記読出し命令語のタイミングが制御され、前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は
前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを備えることを特徴とする。
【0008】
本発明の第3のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は、クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部と、読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語または前記読出し命令語が得られるように前記書込み命令語または前記読出し命令語のタイミングが制御され、前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを含み、前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は、前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを含むことを特徴とする。
【0009】
本発明の第4のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は、クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、外部から印加されるアドレス信号を受信する一つ以上のアドレス入力ピンと、前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部と、読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部と、前記アドレス信号を受信して、前記アドレス信号がカラムアドレス信号であれば、前記アドレス信号をカラムアドレス信号としてカラムアドレス経路に出力するカラムアドレス決定部と、カラムアドレス信号を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されてカラムアドレス信号の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記カラムアドレス経路上に位置し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記カラムアドレス信号を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力するカラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部とを備え、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語、前記読出し命令語または前記カラムアドレス信号が得られるように前記書込み命令語、前記読出し命令語または前記カラムアドレス信号のタイミングが制御され、前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを含み、前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は、前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを含み、前記カラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部は、前記カラムアドレス信号を1クロック遅延させて第1予備カラムアドレス信号を出力する第1カラムアドレス遅延素子と、前記第1予備カラムアドレス信号を1クロック遅延させて第2予備カラムアドレス信号を出力する第2カラムアドレス遅延素子と、前記第1制御信号に応答して、前記カラムアドレス信号を遅延なしに出力に伝送する第1カラムアドレス伝送ゲートと、前記第2制御信号に応答して、前記第1予備カラムアドレス信号を出力に伝送する第2カラムアドレス伝送ゲートと、前記第3制御信号に応答して、前記第2予備カラムアドレス 信号を出力に伝送する第3カラムアドレス伝送ゲートとを含むことを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明の望ましい実施の形態を説明するが、その前にポステッドCAS機能について詳細に説明する。
【0012】
前述のように、ポステッドCAS機能はJEDEC規格でその値を何tCCにするかをEMRSを利用してユーザが予め設定するようにしている。例えば、tRCDが3CLKであるSDRAMを使用するユーザを仮定する。ここで、単位CLKはクロックサイクルを表わす。SDRAMのユーザがRAS活性命令から3CLK後に書込みまたは読出し命令を与えたい場合には、EMRSでポステッドCASモードをモード0として設定すれば良い。この場合、SDRAMは内部的に書込みまたは読出し命令に追加的なCASレイテンシを与えない。ユーザがRAS活性命令から2CLK後に書込みまたは読出し命令を与えたい場合には、EMRSでポステッドCASモードをモード1として設定すれば良い。この場合、SDRAMは内部的に書込みまたは読出し命令に追加的な1CLKのCASレイテンシを与える。ユーザがポステッドCASモードをモード2として設定すれば、SDRAMは内部的に書込みまたは読出し命令に追加的な2CLKのCASレイテンシを与える。このポステッドCAS機能を有するSDRAMの動作は、図1によく示してある。
【0013】
図1は、SDRAMのポステッドCAS機能を説明するための図である。ここではtRCDを3CLK、CASレイテンシを3、バースト長を4と仮定する。そして、図1は読出し命令に対して追加的なCASレイテンシを与える場合の図である。
【0014】
図1(A)は、ポステッドCASモードをモード0として設定した場合のタイミング図である。モード0とは、追加的なCASレイテンシを与えない場合である。したがって、読出し命令RDはRAS活性化命令RAからtRCDの3CLK後に印加されなければならない。そして、読出しデータDQは読出し命令RDからCASレイテンシである3CLK後に出力される。
【0015】
図1(B)は、ポステッドCASモードをモード1として設定した場合のタイミング図である。モード1とは、追加的なCASレイテンシを1CLKとして与えた場合である。したがって、読出し命令RDはRAS活性化命令RAから2CLK後に印加されなければならない。そして、読出しデータDQは読出し命令RDからCASレイテンシ3CLKに追加的なCASレイテンシ1CLKを加えた4CLK後に出力される。
【0016】
図1(C)は、ポステッドCASモードをモード2として設定した場合のタイミング図である。モード2とは、追加的なCASレイテンシを2CLKとして与えた場合である。したがって、読出し命令RDはRAS活性化命令RAから1CLK後に印加されなければならない。そして、読出しデータDQは読出し命令RDからCASレイテンシ3CLKに追加的なCASレイテンシ2CLKを加えた5CLK後に出力される。これから分かるように、RAS活性化命令RAから読出しデータDQが出力される時点は一定である。しかし、ポステッドCAS機能を使用すれば、RAS活性化命令RAから読出し命令RDを印加する時点を調節できる。
【0017】
図2は、本発明の一実施の形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMを示した図である。これを説明すれば、本発明の一実施形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMは、一つ以上の命令語入力ピン110、命令語入力バッファ182,184,186,188、命令語デコーダ120、書込み命令語レイテンシ制御部140及び読出し命令語レイテンシ制御部160を備える。
【0018】
命令語入力ピン110には外部から命令語信号/CS,/RAS,/CAS,/WEが印加される。TTL(Transistor−Transistor Logic)に入力される命令語信号/CS,/RAS,/CAS,/WEは各々の命令語入力バッファ182,184,186,188でCMOS(Complementary MOS)レベルに変換される。命令語デコーダ120は命令語入力バッファ182,184,186,188を通じて入力される命令語信号PCS,PRAS,PCAS,PWSを受信しかつデコーディングして、命令語信号PCS,PRAS,PCAS,PWEに対応するデコーディングされた命令語PRAS_ACT,PREF,...,PREAD,PWRITEを出力する。
【0019】
書込み命令語レイテンシ制御部140は命令語デコーダ120から出力されるデコーディングされた命令語PRAS_ACT,PREF,...,PREAD,PWRITEのうち書込み命令語PWRITEを受信し、所定のレイテンシ制御信号に応答して、書込み命令語PWRITEを、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して書込み命令語PWA(書込み命令語PWRITEと区別するため、以下、遅延書込み命令語PWAという)として出力する。
【0020】
書込み命令語レイテンシ制御部140を具体的に調べてみれば、書込み命令語レイテンシ制御部140は第1、第2書込み遅延素子142,144及び第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4を含む。第1および第2書込み遅延素子142,144は各々、入力される信号をクロック信号の1サイクル1CLKだけ遅延させて出力する遅延素子である。そして、第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4は入力される制御信号に応答してゲートされる。第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4はPMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタが並列接続された構造である。すなわち、PMOSトランジスタのドレインとNMOSトランジスタのソース、PMOSトランジスタのソースとNMOSトランジスタのドレインとが相互接続される。そして、PMOSトランジスタ及びNMOSトランジスタのゲートには制御信号及びその反転信号、または制御信号の反転信号及びその制御信号が各々入力される。
【0021】
第1書込み伝送ゲートTGW1のNMOSトランジスタには第1制御信号PRCD0が入力され、第1書込み伝送ゲートTGW1のPMOSトランジスタには第1制御信号PRCD0の反転信号(インバータIVW1の出力)が入力される。したがって、第1書込み伝送ゲートTGW1は第1制御信号PRCD0が'ハイレベル'に活性化されればターンオンされ、第1制御信号PRCD0が'ローレベル'に非活性化されれば、ターンオフされる。第1伝送ゲートTGW1がターンオンされれば、書込み命令語PWRITEが直ちに遅延書込み命令語PWAに出力される。
【0022】
第2書込み伝送ゲートTGW2のNMOSトランジスタには第2制御信号PRCD1が入力され、第2書込み伝送ゲートTGW2のPMOSトランジスタには第2制御信号PRCD1の反転信号(インバータIVW2の出力)が入力される。したがって、第2書込み伝送ゲートTGW2は第2制御信号PRCD1が'ハイレベル'に活性化されればターンオンされ、第2制御信号PRCD1が'ローレベル'に非活性化されれば、ターンオフされる。第2書込み伝送ゲートTGW2がターンオンされれば、第1書込み遅延素子142の出力信号(第1予備書込み命令語)PREW1が遅延書込み命令語PWAに出力される。第3書込み伝送ゲートTGW3のNMOSトランジスタには第3制御信号PRCD2が入力され、第3書込み伝送ゲートTGW3のPMOSトランジスタには第3制御信号PRCD2の反転信号(インバータIVW3の出力)が入力される。したがって、第3書込み伝送ゲートTGW3は第3制御信号PRCD2が'ハイレベル'に活性化されればターンオンされ、第3制御信号PRCD2が'ローレベル'に非活性化されれば、ターンオフされる。第3書込み伝送ゲートTGW3がターンオンされれば、第2書込み遅延素子144の出力信号(第2予備書込み命令語)PREW2が遅延書込み命令語PWAに出力される。
【0023】
第4書込み伝送ゲートTGW4のPMOSトランジスタには第1制御信号PRCD0が入力され、第4書込み伝送ゲートTGW4のNMOSトランジスタには第1制御信号PRCD0の反転信号(インバータIVW4の出力)が入力される。したがって、第4書込み伝送ゲートTGW4は第1制御信号PRCD0が'ハイレベル'に活性化されればターンオフされ、第1制御信号PRCD0が'ローレベル'に非活性化されればターンオンされる。第4書込み伝送ゲートTGW4がターンオンされれば、書込み命令語PWRITEが第1書込み遅延素子142に入力される。
【0024】
追加的なCASレイテンシは同期式DRAM内のEMRSに貯蔵される情報ビットによって設定される。例えば、同期式DRAMのEMRS命令入力時に所定のアドレス信号に印加される値がEMRSに貯蔵されて追加的なCASレイテンシ値が決定される。そして、決定された追加的なCASレイテンシの値によって、これを制御するためのレイテンシ制御信号が活性化される。第1ないし第3制御信号がレイテンシ制御信号であって、EMRSに設定された追加的なCASレイテンシの値により、第1ないし第3制御信号のうち該当する一つの制御信号だけが'ハイレベル'に活性化され、残りは非活性化される。
【0025】
遅延書込み命令語PWAは本発明のポステッドCAS機能を有するSDRAMのデータ書込み動作過程を制御する書込み動作のマスタ信号であって、ポステッドCAS機能を有しない一般的なSDRAMにおける書込み命令語に該当する信号である。したがって、一般のSDRAMにおいて書込み命令語PWRITEが用いられる所に遅延書込み命令語PWAを使用することにより、本発明によるポステッドCAS機能を有するSDRAMの書込み動作過程は一般のSDRAMの書込み動作過程と内部的に同一になる。
【0026】
読出し命令語レイテンシ制御部160は命令語デコーダ120から出力されるデコーディングされた命令語のうち読出し命令語PREADを受信し、レイテンシ制御信号に応答して、読出し命令語PREADを、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して読出し命令語PCA(読出し命令語PREADと区別するため、以下、遅延読出し命令語PCAという)として出力する。
【0027】
読出し命令語レイテンシ制御部160の構成は書込み命令語レイテンシ制御部140のそれと同一である。但し、読出し命令語レイテンシ制御部160に入出力される信号が読出し命令語PREAD及び遅延読出し命令語PCAであるという点で書込み命令語レイテンシ制御部140と違いがある。
【0028】
読出し命令語レイテンシ制御部160を具体的に調べてみれば、読出し命令語レイテンシ制御部160は第1、第2読出し遅延素子162,164及び第1ないし第4読出し伝送ゲートTGR1〜TGR4を含む。第1および第2読出し遅延素子162,164は第1および第2書込み遅延素子142,144と同様に、入力される信号を各々、クロック信号の1サイクル1CLKだけ遅延させて出力する遅延素子である。第1ないし第4読出し伝送ゲートTGR1〜TGR4の構造は各々第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4と同一である。
【0029】
さらに、第1ないし第4読出し伝送ゲートTGR1〜TGR4に入力される各々の制御信号も第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4に入力される各々の制御信号と同一である。したがって、第1制御信号PRCD0が活性化されれば、第1読出し伝送ゲートTGR1がターンオンされ、読出し命令語PREADが直ちに遅延読出し命令語PCAに出力される。このとき、第4読出し伝送ゲートTGR4はターンオフされて、第1読出し遅延素子162には読出し命令語PREADが伝達されない。
【0030】
第2制御信号PRCD1が活性化されれば、第1制御信号PRCD0は非活性状態であるため、第4読出し伝送ゲートTGR4がターンオンされて、第1読出し遅延素子162に読出し命令語PREADが伝達される。また、第2読出し伝送ゲートTGR2がターンオンされて、第1読出し遅延素子162の出力信号(第1予備読出し命令語)PRER1が遅延読出し命令語PCAに出力される。
【0031】
第3制御信号PRCD2が活性化されれば、第2読出し遅延素子164の出力信号(第2予備読出し命令語)PRER2が遅延読出し命令語PCAに出力される。
【0032】
遅延読出し命令語PCAは本発明のSDRAMのデータ読出し動作過程を制御する読出し動作のマスタ信号であって、ポステッドCAS機能を有しない一般的なSDRAMにおける読出し命令語に該当する信号である。したがって、一般的なSDRAMにおいて読出し命令語PREADが用いられる所に遅延読出し命令語PCAを使用することにより、本発明によるポステッドCAS機能を有するSDRAMの読出し動作過程は一般のSDRAMの読出し動作過程と内部的に同一になる。
【0033】
図3は、本発明の他の実施の形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMを示した図である。これを説明すれば、本発明の他の実施の形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMは一つ以上のアドレス入力ピン210、アドレス入力バッファ200、ロウアドレス決定部242、カラムアドレス決定部244、カラムアドレスレイテンシ制御部220を備える。
【0034】
アドレス入力ピン210には外部からアドレス信号ADDRが印加される。アドレス入力バッファ200はアドレス入力ピン210を通じて入力されるTTLレベルであるアドレス信号ADDRをCMOSレベルに変換する。
【0035】
ロウアドレス決定部242は受信されるアドレス信号ADDRがロウアドレス信号であれば、これをロウアドレス経路に出力する。同様に、カラムアドレス決定部244は受信されるアドレス信号がカラムアドレスであれば、これをカラムアドレス経路に出力する。ロウアドレス信号RADDRはロウアドレス経路に沿って、ロウアドレスデコーダ(図示せず)に入力される。カラムアドレス信号CADDRはカラムアドレス経路に沿って最終的にはカラムアドレスデコーダ(図示せず)に入力される。
【0036】
ところで、本発明の他の実施の形態による同期式DRAMはカラムアドレス経路上に、すなわち、カラムアドレス決定部244の出力後、カラムアドレスデコーダ(図示せず)の前方にカラムアドレスレイテンシ制御部220を備える。
【0037】
カラムアドレスレイテンシ制御部220はカラムアドレス決定部244から出力されるカラムアドレス信号CADDRを受信して、レイテンシ制御信号に応答して、カラムアドレス信号CADDRを、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択してカラムアドレス信号PCADDR(カラムアドレス信号CADDRと区別するため、以下、遅延カラムアドレス信号PCADDRという)として出力する。
【0038】
カラムアドレスレイテンシ制御部220の構成も書込み命令語レイテンシ制御部140及び読出し命令語レイテンシ制御部160のそれと同一である。但し、カラムアドレスレイテンシ制御部220に入出力される信号がカラムアドレス信号CADDR及び遅延カラムアドレス信号PCADDRであるという点で書込み命令語レイテンシ制御部140及び読出し命令語レイテンシ制御部160と違いがある。
【0039】
カラムアドレスレイテンシ制御部220を具体的に調べてみれば、カラムアドレスレイテンシ制御部220は第1、第2カラムアドレス遅延素子222,224及び第1ないし第4カラムアドレス伝送ゲートTGA1〜TGA4を含む。第1および第2カラムアドレス遅延素子222,224の機能は第1および第2書込み遅延素子142,144の機能と同一である。また、第1ないし第4カラムアドレス伝送ゲートTGA1〜TGA4は第1ないし第4書込み伝送ゲートTGW1〜TGW4と同一の構造及び機能を有する。このため、ここでは、カラムアドレスレイテンシ制御部220の構成及び機能に対する詳細な説明は省略する。
【0040】
遅延カラムアドレス信号PCADDRはカラムアドレスデコーダ(図示せず)でデコーディングされて、データが書込みまたは読み出されるメモリセルのカラムを選ぶ。
【0041】
カラムアドレスレイテンシ制御部220は、図3の位置ではなく、カラムアドレス信号を受信する他の回路部に含まれうる。図3では、アドレス入力バッファ200後にロウアドレス信号であるか、それともカラムアドレス信号であるかが決定される。しかし、ロウアドレスバッファ及びカラムアドレスバッファが別々に具備される場合もある。この場合、カラムアドレスレイテンシ制御部220はカラムアドレスバッファに含まれうる。カラムアドレスデコーダがメインデコーダ及びプリデコーダに分けられれば、カラムアドレスレイテンシ制御部220はカラムアドレスメインデコーダまたはカラムアドレスプリデコーダ内に具現できる。
【0042】
前述した本発明の実施の形態では、各レイテンシ制御部140,160,220が2つの遅延素子を備える。したがって、設定可能な追加的なCASレイテンシの範囲が2CLKまでである。しかし、遅延素子の数は変更でき、これにより、設定可能な追加的なCASレイテンシの値の範囲も調節できる。
【0043】
また、上記の実施の形態は単なる例示的なものに過ぎず、この技術分野の通常の知識を有した者なら、これより各種の変形及び均等な他の実施の形態が可能であるということは言うまでもない。よって、本発明の真の技術的な保護範囲は特許請求の範囲の技術的な思想によって定まるべきである。
【0044】
【発明の効果】
本発明によって、同期式DRAMを使用する外部コントローラやユーザはRAS活性化命令後にCAS命令を印加するタイミングを調節できる。したがって、同期式DRAMと同期式DRAMを使用する外部コントローラとの間のバス使用の効率が高まる。そして、本発明の同期式DRAMはJEDECのポステッドCAS機能に対する要求事項を満足する。
【図面の簡単な説明】
【図1】同期式DRAMのポステッドCAS機能を説明するための図である。
【図2】本発明の一実施の形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMを示した図である。
【図3】本発明の他の実施の形態によるポステッドCAS機能を有する同期式DRAMを示した図である。
【符号の説明】
110 命令語入力ピン
120 命令語デコーダ
140 書込み命令語レイテンシ制御部
160 読出し命令語レイテンシ制御部

Claims (10)

  1. クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、
    外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、
    前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、
    書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、
    前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、
    この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語が得られるように前記書込み命令語のタイミングが制御され、
    前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、
    前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを備える
    ことを特徴とするポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  2. 前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を前記第1書込み遅延素子の入力信号として出力する第4書込み伝送ゲートをさらに備えることを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  3. クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、
    外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、
    前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、
    読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、
    前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、
    この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記読出し命令語が得られるように前記読出し命令語のタイミングが制御され、
    前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は
    前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、
    前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを備える
    ことを特徴とするポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  4. 前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を前記第1読出し遅延素子の入力信号として出力する第4読出し伝送ゲートをさらに備えることを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  5. クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、
    外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、
    前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、
    書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部と、
    読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部とを備え、
    前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、
    この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語または前記読出し命令語が得られるように前記書込み命令語または前記読出し命令語のタイミングが制御され、
    前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、
    前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを含み、
    前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、
    前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを含む
    ことを特徴とするポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  6. 前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を前記第1書込み遅延素子の入力信号として出力する第4書込み伝送ゲートをさらに含み、
    前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を前記第1読出し遅延素子の入力信号として出力する第4読出し伝送ゲートをさらに含むことを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  7. クロック信号に同期して動作し、ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に読出し又は書込み命令が入力される必要のある同期式半導体メモリ装置において、
    外部から印加される命令語信号を受信する一つ以上の命令語入力ピンと、
    外部から印加されるアドレス信号を受信する一つ以上のアドレス入力ピンと、
    前記命令語信号を受信して、前記命令語信号に対応するデコーディングされた命令語を出力する命令語デコーダと、
    書込み命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて書込み命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち書込み命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記書込み命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部と、
    読出し命令語を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されて読出し命令語の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記命令語デコーダから出力される前記デコーディングされた命令語のうち読出し命令語を受信し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記読出し命令語を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力する読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部と、
    前記アドレス信号を受信して、前記アドレス信号がカラムアドレス信号であれば、前記アドレス信号をカラムアドレス信号としてカラムアドレス経路に出力するカラムアドレス決定部と、
    カラムアドレス信号を遅延させる遅延素子と、追加的なレイテンシを制御する第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号により制御されてカラムアドレス信号の伝送を制御する伝送ゲートとからなり、前記カラムアドレス経路上に位置し、前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号に応じて、前記カラムアドレス信号を、遅延なし、1クロック遅延、2クロック遅延のいずれかを選択して出力するカラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部とを備え、
    前記第1制御信号、第2制御信号、第3制御信号は拡張モードレジスタセットの設定値に応答して活性化され、
    この第1、第2、第3制御信号によって制御される前記制御部により、前記ロウアドレスストローブ活性命令の入力後、tRCD時間後に前記書込み命令語、前記読出し命令語または前記カラムアドレス信号が得られるように前記書込み命令語、前記読出し命令語または前記カラムアドレス信号のタイミングが制御され、
    前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記書込み命令語を1クロック遅延させて第1予備書込み命令語を出力する第1書込み遅延素子と、
    前記第1予備書込み命令語を1クロック遅延させて第2予備書込み命令語を出力する第2書込み遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を遅延なしに出力に伝送する第1書込み伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備書込み命令語を出力に伝送する第2書込み伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備書込み命令語を出力に伝送する第3書込み伝送ゲートとを含み、
    前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は、
    前記読出し命令語を1クロック遅延させて第1予備読出し命令語を出力する第1読出し遅延素子と、
    前記第1予備読出し命令語を1クロック遅延させて第2予備読出し命令語を出力する第2読出し遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を遅延なしに出力に伝送する第1読出し伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備読出し命令語を出力に伝送する第2読出し伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備読出し命令語を出力に伝送する第3読出し伝送ゲートとを含み、
    前記カラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部は、
    前記カラムアドレス信号を1クロック遅延させて第1予備カラムアドレス信号を出力する第1カラムアドレス遅延素子と、
    前記第1予備カラムアドレス信号を1クロック遅延させて第2予備カラムアドレス信号を出力する第2カラムアドレス遅延素子と、
    前記第1制御信号に応答して、前記カラムアドレス信号を遅延なしに出力に伝送する第1カラムアドレス伝送ゲートと、
    前記第2制御信号に応答して、前記第1予備カラムアドレス信号を出力に伝送する第2カラムアドレス伝送ゲートと、
    前記第3制御信号に応答して、前記第2予備カラムアドレス信号を出力に伝送する第3カラムアドレス伝送ゲートとを含む
    ことを特徴とするポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  8. 前記書込み命令語の追加的なレイテンシの制御部は前記第1制御信号に応答して、前記書込み命令語を前記第1書込み遅延素子の入力信号として出力する第4書込み伝送ゲートをさらに含み、
    前記読出し命令語の追加的なレイテンシの制御部は前記第1制御信号に応答して、前記読出し命令語を前記第1読出し遅延素子の入力信号として出力する第4読出し伝送ゲートをさらに含み、
    前記カラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部は前記第1制御信号に応答して、前記カラムアドレス信号を前記第1カラムアドレス遅延素子の入力信号として出力する第4カラムアドレス伝送ゲートをさらに備えることを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  9. 前記ポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は前記カラムアドレス信号のレベルを変換するカラムアドレスバッファをさらに備え、
    前記カラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部は前記カラムアドレスバッファ内に含まれることを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
  10. 前記ポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置は前記カラムアドレス信号をデコーディングするカラムアドレスデコーダをさらに備え、
    前記カラムアドレスの追加的なレイテンシの制御部は前記カラムアドレスデコーダ内に含まれることを特徴とする請求項に記載のポステッドCAS機能を有する同期式半導体メモリ装置。
JP2001223565A 2000-10-24 2001-07-24 ポステッドcas機能を有する同期式半導体メモリ装置 Expired - Fee Related JP4007776B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2000P-62608 2000-10-24
KR10-2000-0062608A KR100374637B1 (ko) 2000-10-24 2000-10-24 Jedec 규격의 포스티드 카스 기능을 가지는 동기식반도체 메모리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002133866A JP2002133866A (ja) 2002-05-10
JP4007776B2 true JP4007776B2 (ja) 2007-11-14

Family

ID=19695122

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001223565A Expired - Fee Related JP4007776B2 (ja) 2000-10-24 2001-07-24 ポステッドcas機能を有する同期式半導体メモリ装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6483769B2 (ja)
JP (1) JP4007776B2 (ja)
KR (1) KR100374637B1 (ja)
TW (1) TW512344B (ja)

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3908493B2 (ja) * 2001-08-30 2007-04-25 株式会社東芝 電子回路及び半導体記憶装置
KR100425472B1 (ko) * 2001-11-12 2004-03-30 삼성전자주식회사 동기식 반도체 메모리 장치의 출력 제어 신호 발생 회로및 출력 제어 신호 발생 방법
DE10343525B4 (de) * 2002-09-27 2011-06-16 Qimonda Ag Verfahren zum Betreiben von Halbleiterbausteinen, Steuervorrichtung für Halbleiterbausteine und Anordnung zum Betreiben von Speicherbausteinen
KR100495917B1 (ko) 2002-11-20 2005-06-17 주식회사 하이닉스반도체 고속 데이터 출력을 위한 파이프래치 회로
KR100590855B1 (ko) * 2003-10-14 2006-06-19 주식회사 하이닉스반도체 전류 소모의 감소를 위한 반도체 메모리 소자
KR100540472B1 (ko) * 2003-10-31 2006-01-11 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력에 관한 동작마진이 향상된 메모리 장치
JP4152308B2 (ja) 2003-12-08 2008-09-17 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路装置
KR100605590B1 (ko) * 2004-05-10 2006-07-31 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력드라이버의 임피던스를 조정할 수 있는 반도체메모리 장치
KR100632611B1 (ko) * 2004-11-15 2006-10-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 명령 디코더
DE102004063531B4 (de) * 2004-12-30 2011-06-01 Qimonda Ag Halbleiter-Speicherbauelement, System mit Halbleiter-Speicherbauelement, und Verfahren zum Betrieb eines Halbleiter-Speicherbauelements
KR100744042B1 (ko) * 2005-09-28 2007-07-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체메모리소자의 내부 어드레스 생성장치
KR100753081B1 (ko) * 2005-09-29 2007-08-31 주식회사 하이닉스반도체 내부 어드레스 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자
KR100818720B1 (ko) * 2005-11-19 2008-04-01 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로, 제어 방법 및상기 레이턴시 제어 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치
KR100671747B1 (ko) * 2006-01-04 2007-01-19 삼성전자주식회사 개선된 애디티브 레이턴시를 가진 메모리 시스템 및제어방법
KR100753412B1 (ko) * 2006-01-13 2007-08-30 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 커맨드 디코더 회로
US20070171735A1 (en) * 2006-01-25 2007-07-26 Jong-Hoon Oh Latency circuit for semiconductor memories
KR100799132B1 (ko) 2006-06-29 2008-01-29 주식회사 하이닉스반도체 초기값변경이 가능한 모드레지스터셋회로.
KR100746229B1 (ko) * 2006-07-07 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
KR100868251B1 (ko) * 2007-03-22 2008-11-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
KR100892670B1 (ko) 2007-09-05 2009-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 프리차지 제어 회로
US8898439B2 (en) * 2009-07-17 2014-11-25 Macronix International Co., Ltd. Serial flash memory and address transmission method thereof
KR101103068B1 (ko) 2010-03-31 2012-01-06 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 어드레스 지연 회로
KR20120119348A (ko) * 2011-04-21 2012-10-31 에스케이하이닉스 주식회사 지연회로 및 메모리의 레이턴시 제어회로 및 신호 지연 방법
JP2013073651A (ja) 2011-09-28 2013-04-22 Elpida Memory Inc 半導体装置
US9224442B2 (en) 2013-03-15 2015-12-29 Qualcomm Incorporated System and method to dynamically determine a timing parameter of a memory device
US11270758B2 (en) * 2020-07-29 2022-03-08 Micron Technology, Inc. Apparatuses, systems, and methods for system on chip replacement mode

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW349196B (en) * 1996-10-18 1999-01-01 Ibm Cached synchronous DRAM architecture having a mode register programmable cache policy
JPH10228772A (ja) * 1997-02-18 1998-08-25 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体記憶装置
KR100274602B1 (ko) * 1997-11-20 2000-12-15 윤종용 동기형 메모리 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100374637B1 (ko) 2003-03-04
KR20020031853A (ko) 2002-05-03
US6483769B2 (en) 2002-11-19
US20020048197A1 (en) 2002-04-25
JP2002133866A (ja) 2002-05-10
TW512344B (en) 2002-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4007776B2 (ja) ポステッドcas機能を有する同期式半導体メモリ装置
US7801696B2 (en) Semiconductor memory device with ability to adjust impedance of data output driver
JP4216415B2 (ja) 半導体装置
US6147926A (en) Semiconductor memory device
US7019556B2 (en) Semiconductor memory device capable of adjusting impedance of data output driver
US7102939B2 (en) Semiconductor memory device having column address path therein for reducing power consumption
JPH09198875A (ja) 同期型半導体記憶装置
US7230864B2 (en) Circuit for generating data strobe signal of semiconductor memory device
US6198674B1 (en) Data strobe signal generator of semiconductor device using toggled pull-up and pull-down signals
US6160754A (en) Synchronous memory device of a wave pipeline structure
JP4953273B2 (ja) 半導体メモリ素子
US6249483B1 (en) Semiconductor memory device having a circuit for latching data from a data line of a data output path and a related data latching method
US6636443B2 (en) Semiconductor memory device having row buffers
US7586798B2 (en) Write circuit of memory device
US6407962B1 (en) Memory module having data switcher in high speed memory device
US20030053342A1 (en) Command decoder and decoding method for use in semiconductor memory device
JP4216778B2 (ja) 半導体装置
JP2008034098A (ja) 半導体装置
US7701799B2 (en) Semiconductor device
KR20090067794A (ko) 반도체 메모리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060306

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061002

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070104

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20070112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070417

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070717

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070814

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070828

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110907

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120907

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130907

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees