KR20010043657A - 주사형 공초점현미경 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 시료에 대한 집속광의 2차원주사범위를 지정하는 주사범위지정수단과,상기 주사범위지정수단에 의하여 지정된 2차원주사범위내에 있어서 상기 시료에 대하여 집속광을 2차원주사하는 2차원주사수단과,상기 2차원주사수단에 의하여 2차원주사된 집속광의 상기 시료로부터의 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나를 수광하는 수광수단과,상기 수광수단에 의하여 수광된 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나에 의거하여 상기 시료의 화상을 얻는 화상획득수단을 구비한 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
- 2차원주사범위내에 있어서 시료에 대하여 집속광을 2차원주사하는 2차원주사수단과,상기 2차원주사수단에 의하여 2차원주사된 집속광의 상기 시료로부터의 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나를 수광하는 수광수단과,상기 수광수단에 의하여 수광된 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나에 의거하여 얻어지는 시료의 화상데이터 중 데이터취득범위를 지정하는 데이터취득범위지정수단과,상기 수광수단에 의하여 수광된 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나에 의거하여 얻어지는 시료의 화상데이터 중 상기 데이터취득범위지정수단에 의하여 지정된 데이터취득범위의 화상데이터에 의거하여 상기 시료의 화상을 획득하는 화상획득수단을 구비한 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
- 시료에 대한 집속광의 2차원주사범위를 지정하는 주사범위지정수단과,상기 주사범위지정수단에 의하여 지정된 2차원주사범위내에 있어서 상기 시료에 대하여 집속광을 2차원주사하는 2차원주사수단과,상기 2차원주사수단에 의하여 2차원주사된 집속광의 상기 시료로부터의 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나를 수광하는 수광수단과,상기 수광수단에 의하여 수광된 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나에 의거하여 얻어지는 시료의 화상데이터 중 데이터취득범위를 지정하는 데이터취득범위지정수단과,상기 수광수단에 의하여 수광된 반사광, 형광 및 투과광 중의 어느 쪽인가 하나에 의거하여 얻어지는 시료의 화상데이터 중 상기 데이터취득범위지정수단에 의하여 지정된 데이터취득범위의 화상데이터에 의거하여 상기 시료의 화상을 취득하는 화상획득수단을 구비한 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
- 시료에 대하여 집속광을 2차원주사하는 2차원주사수단과,상기 시료에 대한 집속광의 초점위치를 조정하는 초점위치조정수단과,상기 초점위치조정수단에 의한 초점위치의 조정기간에 상기 2차원주사수단에 의한 2차원주사를 금지하는 제어수단을 구비한 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
- 제 4 항에 있어서,상기 제어수단은 상기 2차원주사수단의 1라인주사마다 출력되는 수평동기신호와 프레임주사마다 출력되는 수직동기신호를 관리하고, 상기 수직동기신호에 의해 초점위치조정수단에 의한 초점위치의 조정개시를 지시하는 동시에 상기 2차원주사수단에 의한 2차원주사를 금지하고, 상기 초점위치조정수단에 의한 초점위치의 조정종료를 기다려서 상기 2차원주사수단의 2차원주사를 개시시키는 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
- 제 5 항에 있어서,상기 제어수단은 또한 2차원주사수단의 수직동기신호에 계속해서 출력되는 제어신호를 관리하고, 상기 초점위치조정수단에 의한 초점위치의 조정종료가 상기 제어신호보다 전에 통지된 경우는 상기 2차원주사수단의 2차원주사를 금지하지 않고, 상기 초점위치조정수단에 의한 초점위치의 조정종료가 상기 제어신호보다 후에 통지된 경우는 상기 제어신호의 발생시점에서 상기 2차원주사수단의 2차원주사를 일시 금지하고, 상기 초점위치의 조정종료를 기다려서 상기 2차원주사수단의 2차원주사를 개시시키는 것을 특징으로 하는 주사형 공초점현미경.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP99-076720 | 1999-03-19 | ||
JP11076720A JP2000275528A (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 走査型共焦点顕微鏡 |
JP16243699A JP4384290B2 (ja) | 1999-06-09 | 1999-06-09 | 走査型共焦点顕微鏡 |
JP99-162436 | 1999-06-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010043657A true KR20010043657A (ko) | 2001-05-25 |
KR100689319B1 KR100689319B1 (ko) | 2007-03-09 |
Family
ID=26417858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020007012850A KR100689319B1 (ko) | 1999-03-19 | 2000-03-17 | 주사형 공초점현미경 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6317258B1 (ko) |
KR (1) | KR100689319B1 (ko) |
WO (1) | WO2000057231A1 (ko) |
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- 2000-03-17 KR KR1020007012850A patent/KR100689319B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-10-26 US US09/696,774 patent/US6317258B1/en not_active Expired - Lifetime
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WO2000057231A1 (fr) | 2000-09-28 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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