JPH08334698A - 光走査型顕微鏡 - Google Patents
光走査型顕微鏡Info
- Publication number
- JPH08334698A JPH08334698A JP7142189A JP14218995A JPH08334698A JP H08334698 A JPH08334698 A JP H08334698A JP 7142189 A JP7142189 A JP 7142189A JP 14218995 A JP14218995 A JP 14218995A JP H08334698 A JPH08334698 A JP H08334698A
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- JP
- Japan
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- sample
- scanning
- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料の方向と走査方向を容易かつ短時間で一
致させることができる光走査型顕微鏡を提供する。 【構成】 光源１０からの光を試料１に対して走査させ
るスキャニングユニット１３と、試料１からの光を検出
する検出手段１９とを備えた光走査型顕微鏡において、
スキャニングユニット１３から試料１に至る光路中に、
試料１に対する走査方向を回転させる回転手段２０を設
ける。
致させることができる光走査型顕微鏡を提供する。 【構成】 光源１０からの光を試料１に対して走査させ
るスキャニングユニット１３と、試料１からの光を検出
する検出手段１９とを備えた光走査型顕微鏡において、
スキャニングユニット１３から試料１に至る光路中に、
試料１に対する走査方向を回転させる回転手段２０を設
ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光走査型顕微鏡に関す
る。
る。
【０００２】
【従来の技術】一般に光走査型顕微鏡は、光源からの光
を試料に対して走査させるスキャニングユニットと、試
料からの光を検出する検出手段とを備えた構成になって
いる。この光走査型顕微鏡において、例えば細胞などの
高速の動きを見たい場合などには、時間分解能を向上さ
せるために、走査線数を減らして画像を作り出す時間を
短縮させる、いわゆるバンドスキャンが従来より行われ
ている。
を試料に対して走査させるスキャニングユニットと、試
料からの光を検出する検出手段とを備えた構成になって
いる。この光走査型顕微鏡において、例えば細胞などの
高速の動きを見たい場合などには、時間分解能を向上さ
せるために、走査線数を減らして画像を作り出す時間を
短縮させる、いわゆるバンドスキャンが従来より行われ
ている。
【０００３】図３は、比較的偏平した形状の試料１をス
テージ上の走査方向Ｘに対して斜めに置いた状態の画像
を示しており、幅Ｌ１は光走査型顕微鏡においてバンド
スキャンを行わずにフルスキャンさせたときの走査幅を
示し、幅Ｌ２はバンドスキャンさせたときの走査幅を示
している。バンドスキャンを行って走査幅をＬ２と狭め
ることにより、一画像を作り出すのに必要な時間はＬ２
/ Ｌ１に短縮し、試料１の細胞２の高速の動きなどを見
ることができるようになる。
テージ上の走査方向Ｘに対して斜めに置いた状態の画像
を示しており、幅Ｌ１は光走査型顕微鏡においてバンド
スキャンを行わずにフルスキャンさせたときの走査幅を
示し、幅Ｌ２はバンドスキャンさせたときの走査幅を示
している。バンドスキャンを行って走査幅をＬ２と狭め
ることにより、一画像を作り出すのに必要な時間はＬ２
/ Ｌ１に短縮し、試料１の細胞２の高速の動きなどを見
ることができるようになる。
【０００４】ところが、図示のように試料１がステージ
上の走査方向Ｘに対して斜めに置かれている場合にバン
ドスキャンを行うと、走査されない範囲における細胞
２’の様子は見ることはできない。そこで従来、このよ
うに試料１が走査方向Ｘに対して斜めに置かれている場
合には、試料１の長手方向を走査方向Ｘに一致させるべ
く、顕微鏡のステージに設けられている蛇の目リングを
回転させて試料１の方向を調整する方法、あるいは、回
転ステージを用いて直接試料１を回転させる方法が採用
されている。
上の走査方向Ｘに対して斜めに置かれている場合にバン
ドスキャンを行うと、走査されない範囲における細胞
２’の様子は見ることはできない。そこで従来、このよ
うに試料１が走査方向Ｘに対して斜めに置かれている場
合には、試料１の長手方向を走査方向Ｘに一致させるべ
く、顕微鏡のステージに設けられている蛇の目リングを
回転させて試料１の方向を調整する方法、あるいは、回
転ステージを用いて直接試料１を回転させる方法が採用
されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】細胞などの試料を観察
するような場合は、ステージには、試料に電気刺激等を
与えるための刺激装置や、試料の温度等の状態を一定に
保つためのチャンバ、このチャンバに保温水を供給する
シリコンチューブなどといった種々の機器が一体的に取
り付けられることが多い。このような場合は、ステージ
上に置かれている試料を簡単には動かすことができず、
実質的に試料を回転させることは不可能であり、バンド
スキャンの走査範囲内に試料を納めることができない。
するような場合は、ステージには、試料に電気刺激等を
与えるための刺激装置や、試料の温度等の状態を一定に
保つためのチャンバ、このチャンバに保温水を供給する
シリコンチューブなどといった種々の機器が一体的に取
り付けられることが多い。このような場合は、ステージ
上に置かれている試料を簡単には動かすことができず、
実質的に試料を回転させることは不可能であり、バンド
スキャンの走査範囲内に試料を納めることができない。
【０００６】また、蛇の目リングや回転ステージの回転
中心が、正確には視野中心と一致していないことが多
い。このため、特に高倍率で観察を行っている場合に蛇
の目リングや回転ステージを回転させた場合に、試料が
視野範囲から消えてしまうといった問題がある。試料が
視野範囲から消えた場合は、試料を探し出して再び視野
範囲に位置させなければならないが、試料を探し出す作
業は時間がかかり、しかも、探している間中、試料に余
計な光（励起光）を当てることになるので、試料にダメ
ージを与えてしまう。
中心が、正確には視野中心と一致していないことが多
い。このため、特に高倍率で観察を行っている場合に蛇
の目リングや回転ステージを回転させた場合に、試料が
視野範囲から消えてしまうといった問題がある。試料が
視野範囲から消えた場合は、試料を探し出して再び視野
範囲に位置させなければならないが、試料を探し出す作
業は時間がかかり、しかも、探している間中、試料に余
計な光（励起光）を当てることになるので、試料にダメ
ージを与えてしまう。
【０００７】従って本発明の目的は、試料の方向と走査
方向を容易かつ短時間で一致させることができる光走査
型顕微鏡を提供することにある。
方向を容易かつ短時間で一致させることができる光走査
型顕微鏡を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、光源からの光
を試料に対して走査させるスキャニングユニットと、試
料からの光を検出する検出手段とを備えた光走査型顕微
鏡において、前記スキャニングユニットから前記試料に
至る光路中に、前記試料に対する走査方向を回転させる
回転手段を設けたことを特徴とする。
を試料に対して走査させるスキャニングユニットと、試
料からの光を検出する検出手段とを備えた光走査型顕微
鏡において、前記スキャニングユニットから前記試料に
至る光路中に、前記試料に対する走査方向を回転させる
回転手段を設けたことを特徴とする。
【０００９】この本発明の光走査型顕微鏡において、前
記スキャニングユニットは、走査範囲を縮小することに
よって画像を作り出す時間を短縮させるバンドスキャン
が可能なものとすることができる。そして前記回転手段
は、前記光路の光軸を中心に回転可能に設けられたイメ
ージローテータ、もしくは複数枚のミラー群で構成する
こともできる。
記スキャニングユニットは、走査範囲を縮小することに
よって画像を作り出す時間を短縮させるバンドスキャン
が可能なものとすることができる。そして前記回転手段
は、前記光路の光軸を中心に回転可能に設けられたイメ
ージローテータ、もしくは複数枚のミラー群で構成する
こともできる。
【００１０】
【作用】本発明の光走査型顕微鏡によれば、例えば先に
図３で説明したように、ステージ上において試料が走査
方向に対して斜めに置かれているような場合は、回転手
段によって走査方向を回転させることにより、試料の方
向と走査方向を一致させることができる。
図３で説明したように、ステージ上において試料が走査
方向に対して斜めに置かれているような場合は、回転手
段によって走査方向を回転させることにより、試料の方
向と走査方向を一致させることができる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照しながら
説明する。試料に対してレーザ光を照射し、試料から発
せられた蛍光を観察する蛍光観察型の顕微鏡について説
明する。図１は、本発明の第一実施例にかかる光走査型
顕微鏡の光路図である。レーザ光源１０から出射された
レーザ光は、導入光学系１１内のダイクロイックミラー
１２で反射して、スキャニングユニット１３に導入され
る。スキャニングユニュト１３は、例えばガルバノスキ
ャナを二つ備え、レーザ光源１０からスキャニングユニ
ット１３に導入されたレーザ光を二次元に走査させる。
このようにスキャニングユニット１３によって走査され
たレーザ光はリレー光路１４、ミラー１５、および対物
レンズ１６を介して、ステージ１７上の試料１に照射さ
れる。また、試料１からの蛍光は、対物レンズ１６、ミ
ラー１５、リレー光路１４、およびスキャニングユニッ
ト１３を介し、導入光学系１１内のダイクロイックミラ
ー１２を透過した後、結像レンズ１８を通って、例えば
フォトマルチプライヤ、ＣＣＤカメラなどの検出手段１
９に導入される。
説明する。試料に対してレーザ光を照射し、試料から発
せられた蛍光を観察する蛍光観察型の顕微鏡について説
明する。図１は、本発明の第一実施例にかかる光走査型
顕微鏡の光路図である。レーザ光源１０から出射された
レーザ光は、導入光学系１１内のダイクロイックミラー
１２で反射して、スキャニングユニット１３に導入され
る。スキャニングユニュト１３は、例えばガルバノスキ
ャナを二つ備え、レーザ光源１０からスキャニングユニ
ット１３に導入されたレーザ光を二次元に走査させる。
このようにスキャニングユニット１３によって走査され
たレーザ光はリレー光路１４、ミラー１５、および対物
レンズ１６を介して、ステージ１７上の試料１に照射さ
れる。また、試料１からの蛍光は、対物レンズ１６、ミ
ラー１５、リレー光路１４、およびスキャニングユニッ
ト１３を介し、導入光学系１１内のダイクロイックミラ
ー１２を透過した後、結像レンズ１８を通って、例えば
フォトマルチプライヤ、ＣＣＤカメラなどの検出手段１
９に導入される。
【００１２】以上のような光走査型顕微鏡において、ス
キャニングユニット１３から試料１に至るリレー光路１
４中に、試料１に対する走査方向を回転させる回転手段
としてのイメージローテータ２０が設けられている。イ
メージローテータ２０は、例えばダブプリズムで構成さ
れる。また、図示はしないが、このイメージローテータ
２０を光軸２１を中心にして回転させる駆動手段を備え
る。駆動手段は手動でも良いが、ステッピングモータな
どを備えた電動の駆動手段でも良い。その駆動手段の稼
働によってイメージローテータ２０が光軸２１を中心に
θ゜回転すると、前記スキャニングユニット１３によっ
て走査されたレーザ光に、その２倍の回転角２θ゜が与
えられ、これにより、試料１に対する走査方向は２θ゜
回転する。
キャニングユニット１３から試料１に至るリレー光路１
４中に、試料１に対する走査方向を回転させる回転手段
としてのイメージローテータ２０が設けられている。イ
メージローテータ２０は、例えばダブプリズムで構成さ
れる。また、図示はしないが、このイメージローテータ
２０を光軸２１を中心にして回転させる駆動手段を備え
る。駆動手段は手動でも良いが、ステッピングモータな
どを備えた電動の駆動手段でも良い。その駆動手段の稼
働によってイメージローテータ２０が光軸２１を中心に
θ゜回転すると、前記スキャニングユニット１３によっ
て走査されたレーザ光に、その２倍の回転角２θ゜が与
えられ、これにより、試料１に対する走査方向は２θ゜
回転する。
【００１３】さて、この実施例の光走査型顕微鏡におい
て、レーザ光源１０から出射されたレーザ光は、スキャ
ニングユニット１３によって走査され、試料１に照射さ
れる。そして、試料１からの蛍光は、デスキャニング
後、ピンホールを通過して検出手段１９で検出される。
ここで、ステージ１７上の試料１が走査方向Ｘに対して
斜めに置かれている場合は、検出手段１９で検出された
画像は、図３に示すようになる。このように試料１の長
手方向と走査方向Ｘが一致していない状態でバンドスキ
ャンを行って走査幅をＬ２に狭めると、バンドスキャン
からはみ出た走査されない範囲における細胞２’の様子
は見ることはできない。
て、レーザ光源１０から出射されたレーザ光は、スキャ
ニングユニット１３によって走査され、試料１に照射さ
れる。そして、試料１からの蛍光は、デスキャニング
後、ピンホールを通過して検出手段１９で検出される。
ここで、ステージ１７上の試料１が走査方向Ｘに対して
斜めに置かれている場合は、検出手段１９で検出された
画像は、図３に示すようになる。このように試料１の長
手方向と走査方向Ｘが一致していない状態でバンドスキ
ャンを行って走査幅をＬ２に狭めると、バンドスキャン
からはみ出た走査されない範囲における細胞２’の様子
は見ることはできない。
【００１４】そこで、このように試料１と走査方向Ｘが
一致していない場合は、イメージローテータ２０を光軸
２１を中心に回転させてスキャニングユニット１３の走
査方向を適宜変え、試料１の長手方向に一致させる。図
３にも示されるように、通常は、試料１は画像の中央、
即ち視野中心の近傍に映るようにステージ１７上で位置
決めされているので、このようにスキャニングユニット
１３の走査方向を変えると、それに伴って試料１は画像
の中央近傍に映ったまま回転する。こうして、画像を見
ながらイメージローテータ２０の回転量を適当なものと
することによって、検出手段１９で検出される画像は、
図４に示すように、試料１が中央に位置し、かつ、試料
１の長手方向と走査方向Ｘ’とが一致したものとなる。
なお、イメージローテータ２０の回転角度と走査方向の
回転角度は、１：２の関係にあるので、具体的には、試
料１の長手方向と走査方向に生じている角度のずれの半
分の角度にイメージローテータ２０の回転量を調整すれ
ばよいことになる。これにより、試料１の全体を幅Ｌ２
の範囲内に納めることが可能となり、バンドスキャンを
行った場合に、試料１の全体を走査することができ、細
胞２の高速の動きなどを良好に見ることが可能となる。
一致していない場合は、イメージローテータ２０を光軸
２１を中心に回転させてスキャニングユニット１３の走
査方向を適宜変え、試料１の長手方向に一致させる。図
３にも示されるように、通常は、試料１は画像の中央、
即ち視野中心の近傍に映るようにステージ１７上で位置
決めされているので、このようにスキャニングユニット
１３の走査方向を変えると、それに伴って試料１は画像
の中央近傍に映ったまま回転する。こうして、画像を見
ながらイメージローテータ２０の回転量を適当なものと
することによって、検出手段１９で検出される画像は、
図４に示すように、試料１が中央に位置し、かつ、試料
１の長手方向と走査方向Ｘ’とが一致したものとなる。
なお、イメージローテータ２０の回転角度と走査方向の
回転角度は、１：２の関係にあるので、具体的には、試
料１の長手方向と走査方向に生じている角度のずれの半
分の角度にイメージローテータ２０の回転量を調整すれ
ばよいことになる。これにより、試料１の全体を幅Ｌ２
の範囲内に納めることが可能となり、バンドスキャンを
行った場合に、試料１の全体を走査することができ、細
胞２の高速の動きなどを良好に見ることが可能となる。
【００１５】この実施例の光走査型顕微鏡によれば、イ
メージローテータ２０を適宜回転させることによって、
スキャニングユニット１３の走査方向を試料１の長手方
向に一致させることができ、試料１は回転させる必要が
ない。従って、ステージに刺激装置や保温チャンバなど
が取り付けられているような場合であっても、何等支障
無く走査方向を任意の角度に自由に調整できる。また、
通常は、試料１の中心は画像の中央に一致しており、こ
のようにスキャニングユニット１３の走査方向を変えて
も試料１は画像の中央近傍に映ったまま回転するので、
図４に示すような画像が、イメージローテータ２０の回
転量を画像を見ながら調整するだけで容易に得ることが
できる。
メージローテータ２０を適宜回転させることによって、
スキャニングユニット１３の走査方向を試料１の長手方
向に一致させることができ、試料１は回転させる必要が
ない。従って、ステージに刺激装置や保温チャンバなど
が取り付けられているような場合であっても、何等支障
無く走査方向を任意の角度に自由に調整できる。また、
通常は、試料１の中心は画像の中央に一致しており、こ
のようにスキャニングユニット１３の走査方向を変えて
も試料１は画像の中央近傍に映ったまま回転するので、
図４に示すような画像が、イメージローテータ２０の回
転量を画像を見ながら調整するだけで容易に得ることが
できる。
【００１６】次に図２は、本発明の第二実施例にかかる
光走査型顕微鏡の光路図である。先に図１において説明
した第一実施例が、試料１に対する走査方向を回転させ
る回転手段としてイメージローテータ２０を用いたのに
対して、この第二実施例では、試料１に対する走査方向
を回転させる回転手段を複数枚のミラー群で構成した点
が相違している。但し、回転手段を除けば、第一実施例
と第二実施例の構成は同様であるので、図２において図
１と同じ構成要素には図１と同じ符号を付することによ
り、説明は省略する。
光走査型顕微鏡の光路図である。先に図１において説明
した第一実施例が、試料１に対する走査方向を回転させ
る回転手段としてイメージローテータ２０を用いたのに
対して、この第二実施例では、試料１に対する走査方向
を回転させる回転手段を複数枚のミラー群で構成した点
が相違している。但し、回転手段を除けば、第一実施例
と第二実施例の構成は同様であるので、図２において図
１と同じ構成要素には図１と同じ符号を付することによ
り、説明は省略する。
【００１７】この第二実施例では、回転手段は何れも全
反射型の三枚のミラー２５、２６、２７で構成される。
これらミラー２５、２６、２７は、スキャニングユニッ
ト１３からミラー１５に至るリレー光路１４中において
光軸２１を中心に一体的に回転する構成になっている。
先の第一実施例と同様に、図示はしないが、これらミラ
ー２５、２６、２７を光軸２１を中心にして一体的に回
転させる駆動手段を備える。駆動手段は手動でも良く、
また、ステッピングモータなどを備えた電動の駆動手段
でも良い。これら三枚のミラー２５、２６、２７を光軸
２１を中心に回転させることによって、スキャニングユ
ニット１３による走査方向に回転角度を与えることがで
きる。この第二実施例の光走査型顕微鏡によっても、先
に説明した第一実施例の光走査型顕微鏡の場合と同様
に、ミラー２５、２６、２７を一体的に回転させること
によって、スキャニングユニット１３の走査方向を試料
１の長手方向に一致させることができ、図４に示すよう
な画像を容易に得ることができる。
反射型の三枚のミラー２５、２６、２７で構成される。
これらミラー２５、２６、２７は、スキャニングユニッ
ト１３からミラー１５に至るリレー光路１４中において
光軸２１を中心に一体的に回転する構成になっている。
先の第一実施例と同様に、図示はしないが、これらミラ
ー２５、２６、２７を光軸２１を中心にして一体的に回
転させる駆動手段を備える。駆動手段は手動でも良く、
また、ステッピングモータなどを備えた電動の駆動手段
でも良い。これら三枚のミラー２５、２６、２７を光軸
２１を中心に回転させることによって、スキャニングユ
ニット１３による走査方向に回転角度を与えることがで
きる。この第二実施例の光走査型顕微鏡によっても、先
に説明した第一実施例の光走査型顕微鏡の場合と同様
に、ミラー２５、２６、２７を一体的に回転させること
によって、スキャニングユニット１３の走査方向を試料
１の長手方向に一致させることができ、図４に示すよう
な画像を容易に得ることができる。
【００１８】しかも、第二実施例のように回転手段をミ
ラー群で構成すると、試料１に照射されるレーザ光（励
起光）と、試料１から発生された蛍光とが、波長の違い
による光路差を生じることが無く、検出手段１９で得た
画像が鮮明になるといった特徴がある。なお、ミラー群
の回転角度と走査方向の回転角度の関係は、ミラーの枚
数によって異なったものとなる。
ラー群で構成すると、試料１に照射されるレーザ光（励
起光）と、試料１から発生された蛍光とが、波長の違い
による光路差を生じることが無く、検出手段１９で得た
画像が鮮明になるといった特徴がある。なお、ミラー群
の回転角度と走査方向の回転角度の関係は、ミラーの枚
数によって異なったものとなる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、スキャニングユニット
の走査方向と試料の方向を、ステージや試料を回転させ
ないで容易に短時間で一致させることができる。オペレ
ータは、画像の中央近傍に映った試料を見ながら走査方
向を一致させるだけで良いから、操作は極めて簡単であ
る。
の走査方向と試料の方向を、ステージや試料を回転させ
ないで容易に短時間で一致させることができる。オペレ
ータは、画像の中央近傍に映った試料を見ながら走査方
向を一致させるだけで良いから、操作は極めて簡単であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一実施例にかかる光走査型顕微鏡の
光路図である。
光路図である。
【図２】本発明の第二実施例にかかる光走査型顕微鏡の
光路図である。
光路図である。
【図３】操作方向を回転させる前の状態における試料の
画像である。
画像である。
【図４】操作方向を回転させた後の状態における試料の
画像である。
画像である。
１ 試料 １０ 光源 １３ スキャニングユニット ２０ イメージローテータ ２１ 光軸 ２５、２６、２７ ミラー
Claims (4)
- 【請求項１】 光源からの光を試料に対して走査させる
スキャニングユニットと、試料からの光を検出する検出
手段とを備えた光走査型顕微鏡において、 前記スキャニングユニットから前記試料に至る光路中
に、前記試料に対する走査方向を回転させる回転手段を
設けたことを特徴とする、光走査型顕微鏡。 - 【請求項２】 前記スキャニングユニットは、走査範囲
を縮小することによって画像を作り出す時間を短縮させ
るバンドスキャンが可能なものである、請求項１に記載
の光走査型顕微鏡。 - 【請求項３】 前記回転手段は、前記光路の光軸を中心
に回転可能に設けられたイメージローテータである、請
求項１または２に記載の光走査型顕微鏡。 - 【請求項４】 前記回転手段は、前記光路の光軸を中心
に回転可能に設けられた複数枚のミラー群で構成され
る、請求項１に記載の光走査型顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7142189A JPH08334698A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光走査型顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7142189A JPH08334698A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光走査型顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334698A true JPH08334698A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15309463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7142189A Pending JPH08334698A (ja) | 1995-06-08 | 1995-06-08 | 光走査型顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08334698A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6317258B1 (en) | 1999-03-19 | 2001-11-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning confocal microscope |
| US6738189B1 (en) * | 1996-12-24 | 2004-05-18 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Microscope for measuring an object from a plurality of angular positions |
| DE102012019464A1 (de) | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung |
-
1995
- 1995-06-08 JP JP7142189A patent/JPH08334698A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6738189B1 (en) * | 1996-12-24 | 2004-05-18 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Microscope for measuring an object from a plurality of angular positions |
| US6317258B1 (en) | 1999-03-19 | 2001-11-13 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning confocal microscope |
| US6437910B1 (en) | 1999-03-19 | 2002-08-20 | Olympus Optical Co., Ltd. | Scanning confocal microscope |
| DE102012019464A1 (de) | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Konfokales Auflicht-Rastermikroskop zur Multifleck-Abtastung |
| WO2014049127A1 (de) | 2012-09-28 | 2014-04-03 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Konfokales auflicht-rastermikroskop zur multifleck-abtastung |
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