KR102239151B1 - 일체형 히터 및 그 제조방법 - Google Patents

일체형 히터 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR102239151B1
KR102239151B1 KR1020207017699A KR20207017699A KR102239151B1 KR 102239151 B1 KR102239151 B1 KR 102239151B1 KR 1020207017699 A KR1020207017699 A KR 1020207017699A KR 20207017699 A KR20207017699 A KR 20207017699A KR 102239151 B1 KR102239151 B1 KR 102239151B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
trench
layer
heater
manufacturing
Prior art date
Application number
KR1020207017699A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200076761A (ko
Inventor
모함마드 노스라티
패트릭 마르가비오
케빈 스미스
커트 잉글리쉬
Original Assignee
와틀로 일렉트릭 매뉴팩츄어링 컴파니
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 와틀로 일렉트릭 매뉴팩츄어링 컴파니 filed Critical 와틀로 일렉트릭 매뉴팩츄어링 컴파니
Publication of KR20200076761A publication Critical patent/KR20200076761A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102239151B1 publication Critical patent/KR102239151B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/10Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor
    • H05B3/18Heating elements characterised by the composition or nature of the materials or by the arrangement of the conductor the conductor being embedded in an insulating material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q1/00Details of, or arrangements associated with, antennas
    • H01Q1/02Arrangements for de-icing; Arrangements for drying-out ; Arrangements for cooling; Arrangements for preventing corrosion
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/02Details
    • H05B3/03Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/20Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater
    • H05B3/22Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible
    • H05B3/26Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor mounted on insulating base
    • H05B3/265Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor mounted on insulating base the insulating base being an inorganic material, e.g. ceramic
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00Ohmic-resistance heating
    • H05B3/20Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater
    • H05B3/22Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible
    • H05B3/28Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor embedded in insulating material
    • H05B3/283Heating elements having extended surface area substantially in a two-dimensional plane, e.g. plate-heater non-flexible heating conductor embedded in insulating material the insulating material being an inorganic material, e.g. ceramic
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02NELECTRIC MACHINES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H02N13/00Clutches or holding devices using electrostatic attraction, e.g. using Johnson-Rahbek effect
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B2203/00Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
    • H05B2203/013Heaters using resistive films or coatings
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B2203/00Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
    • H05B2203/016Heaters using particular connecting means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B2203/00Aspects relating to Ohmic resistive heating covered by group H05B3/00
    • H05B2203/017Manufacturing methods or apparatus for heaters

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Resistance Heating (AREA)
  • Surface Heating Bodies (AREA)

Abstract

히터를 제조하는 방법은 기판을 제공하는 단계, 기판에 적어도 하나의 트렌치를 형성하는 단계, 기능 요소를 형성하기 위해 기판 및 적어도 하나의 트렌치에 기능 물질을 증착하는 단계, 및 기능 요소와 접촉하는 전기 단자를 제공하는 단계를 포함한다.

Description

일체형 히터 및 그 제조방법
본 개시는 일반적으로 전기 히터에 관한 것이며, 보다 상세하게는 보다 균일한 구조 및 보다 균일한 가열 성능을 가진 전기 히터 및 그 제조방법에 관한 것이다.
이 섹션에서 기재된 내용은 본 개시와 관련된 배경 기술을 제공할 뿐이며, 종래 기술을 구성하지 않을 수 있다.
전기 히터는 일반적으로 기판, 기판 상에 배치된 유전체층, 유전체층 상에 배치된 저항 가열층, 및 저항 가열층 상에 배치된 보호층을 포함한다. 유전체층, 저항 가열층, 및 보호층은 대략 “기능층”으로 불릴 수 있다. 표면 또는 기판 상으로 물질을 증착시킴으로써, 전기 히터의 하나 이상의 기능층은 막(film) 형태일 수 있다.
미시적 규모(microscopic scale)에서, 기판 표면 상의 기존 형상 또는 트렌치(trench)로 인하여 증착된 막은 고르지 않은 표면을 가질 수 있다. 증착된 막의 상면을 편평하게 하고 보다 균일한 기능층의 성능을 제공하기 위해, 증착된 막의 상면은 일반적으로 평탄화 공정을 거친다.
그러나, 평탄화 공정은 바람직하지 않게는 증착된 막으로부터 물질을 지나치게 제거하여, 최종의 증착된 막의 두께가 설계 두께로부터 벗어나게 할 수 있다. 또한, 증착된 막이 전기 요소가 내장된 유전체층인 경우, 유전체층의 감소된 두께로 인해 상기 막의 유전체 무결성(dielectric integrity)이 손상되고, 전기 히터의 성능 저하를 야기한다.
일 양태에서, 히터를 제조하는 방법이 제공된다. 상기 방법은 기판을 제공하는 단계; 기판에 적어도 하나의 트렌치를 형성하는 단계; 기능 요소를 형성하기 위해 기판 및 적어도 하나의 트렌치에 기능 물질을 증착하여 단계; 및 기능 요소와 접촉하는 전기 단자를 제공하는 단계;를 포함한다.
추가적인 적용 가능 영역은 본 명세서에서 제공되는 설명으로부터 명백해질 것이다. 본 명세서의 설명 및 특정 실시예는 단지 예시의 목적을 위한 것이며, 본 개시의 범위를 제한하려는 의도가 아님을 이해해야 한다.
본 개시의 방법들에 의해 제조된 전기 히터는 내장된 가열 회로 및 내장된 라우팅 회로, 및 기판 전체에 걸쳐 보다 평면적인 복수의 기능층들을 구비한다. 따라서, 상기 전기 히터는 보다 균일한 구조 및 보다 균일한 가열 성능을 가질 수 있다.
본 개시는 상세한 설명 및 첨부 도면으로부터 보다 완전히 이해될 것이다:
도 1은 본 개시의 교시에 따라 제조된 전기 히터의 단면도이다;
도 2a 내지 도 2c는 본 개시의 교시에 따른 도 1의 전기 히터의 히터층을 제조하는 단계를 도시하는 도면이다;
도 2d는 본 개시의 교시에 따른 도 1의 전기 히터의 라우팅층을 제조하는 단계를 도시하는 도면이다; 그리고
도 3은 본 개시의 교시에 따른 전기 히터를 제조하는 방법의 일 변형예의 단계들을 도시하는 도면이다.
동일하거니 대응하는 참조 부호는 첨부 도면의 여러 도면들에 걸쳐 동일하거나 대응하는 구성들을 나타낸다.
이하 설명들은 본질적으로 예시적인 것일 뿐이며, 본 개시를 제한하거나 본 개시의 응용 또는 사용을 제한하려는 의도는 아니다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 교시에 따라 제조된 전기 히터(10)는 히터층(12), 라우팅층(14), 히터층(12)과 라우팅층(14) 사이에 배치된 접착층(16), 및 히터층(12) 상에 배치된 보호층(17)을 포함한다. 접착층(16)은 히터층(12)을 라우팅층(14)에 접착시킨다. 보호층(17)은 히터층(12)을 전기적으로 절연시킨다.
히터층(12)은 적어도 하나의 트렌치(20)를 정의하는 기판(18), 및 트렌치(20) 내에 배치된 적어도 하나의 저항 가열 요소(22)를 포함한다. 복수의 트렌치(20)들이 기판(18)에 형성되면, 복수의 가열 영역을 정의하기 위해 복수의 저항 가열 요소(22)들이 복수의 트렌치(20)들 내에 배치될 수 있다. 트렌치(20)는 복수의 제1 트렌치 섹션(21)들 및 전기 단자을 위한 확대된 트렌치 영역을 갖는 적어도 두 개의 제2 트렌치 섹션(24)을 정의할 수 있다. 트렌치(20)는 약 1 내지 10 미크론(micron)의 깊이, 바람직하게는 약 3 내지 5 미크론의 깊이를 정의한다.
저항 가열 요소(22)는 확대된 트렌치 영역을 갖는 제2 트렌치 섹션(24) 내에 배치된 적어도 두 개의 단자 패드(26)들을 포함한다. 저항 가열 요소(22)는 몰리브덴, 텅스텐, 백금 또는 이들의 합금으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 저항 물질을 포함한다. 또한, 저항 가열 요소(22)의 저항 물질은 저항 가열 요소(22)가 히터 및 온도 센서로서 기능하도록 충분한 온도 저항 계수(temperature coefficient of resistance, TCR) 특성을 가질 수 있다.
히터층(12)은, 저항 가열 요소(22)의 단자 패드(26)들과 직접 접촉하며 단자 패드(26)들로부터 기판(18) 및 접착층(16)을 통해 라우팅층(14)으로 연장되는 한 쌍의 단자 핀(28)들을 더 포함한다.
라우팅층(14)은 적어도 하나의 트렌치(32)를 정의하는 기판(30), 및 트렌치 (32)내에 배치된 라우팅 요소(34)를 포함한다. 응용분야에 따라 하나 이상의 라우팅 요소(34)들이 제공될 수 있다. 라우팅 요소(34)는 히터층(12)의 저항 가열 요소(22)를 외부 전원(미도시)에 연결하는 기능을 한다. 라우팅층(14)의 트렌치(32)는 히터층(12)의 트렌치(20)의 제2 트렌치 섹션(24)에 대응하는 적어도 2개의 트렌치 섹션(33)을 포함할 수 있다. 라우팅층(14)은, 적어도 2개의 트렌치 섹션(33) 내에 위치하며 라우팅 요소(34)로부터 기판(30)을 통해 기판(30)의 하면(38)을 넘어 연장되는 한 쌍의 단자 핀(36)들을 더 포함한다. 라우팅층(14)의 단자 핀(36)들은 히터층(12)의 단자 핀(28)들과 정렬되고 접촉한다.
히터층(12)의 기판(18) 및 라우팅층(14)의 기판(30)은 질화알루미늄(Aluminum Nitride) 및 산화알루미늄(Aluminum Oxide)과 같은 세라믹 물질을 포함할 수 있다.
도 2a 내지 도 2e를 참조하면, 도 1의 전기 히터(10)를 제조하는 방법(100)은 (도 2a 내지 도 2d에 도시된 바와 같은) 히터층(12)을 제조하는 서브-공정 및 (도 2e에 도시된 바와 같은) 라우팅층(14)을 제조하는 서브-공정을 포함하고, 이어서 (또한 도 2e에 도시된 바와 같이) 히터층(12)과 라우팅층(14)을 함께 접착시키는 단계를 포함한다. 상기 2개의 서브-공정들은 동시에 또는 하나씩 차례로 수행될 수 있다.
히터층(12)을 제조하는 서브-공정에서, 단계(102)에서 블랭크(blank) 형태의 기판(18)이 제공된다. 기판(18)은 대향하는 제1 면(40) 및 제2 면(42)을 갖는다. 단계(104)에서, 제1 면(40) 상에는 예컨대 증착에 의해 하드 마스크 층(46)이 형성된다.
다음으로, 단계(106)에서 포토레지스트 층(photoresist layer)(48)이 하드 마스크 층(hard mask layer)(46) 상에 증착된다. 단계(108)에서 포토레지스트 층(48)이 식각되어 하드 마스크 층(46) 상에 포토레지스트 패턴(50)을 형성한다. 이 단계에서, 포토레지스트 층(48)을 패터닝하기 위한 포토 마스크(미도시)가 포토레지스트 층(48) 위에 배치되고, 자외선(UV) 광이 포토 마스크를 통해 포토레지스트 층(48) 상에 조사되어 UV 광에 노광된 포토레지스트 층(48)의 부분들을 현상하고, 이어서 포토레지스트 층(48)의 노광된 부분 또는 노광되지 않은 부분을 식각하여 포토레지스트 패턴(50)을 형성한다. 포토레지스트 층(48)의 노광된 부분이 식각되고 제거되거나 또는 노광되지 않은 부분이 식각되고 제거되는지에 따라 포토레지스트 패턴(50)은 포지티브 패턴 또는 네거티브 패턴일 수 있다.
도 2b를 참조하면, 단계(110)에서 하드 마스크 패턴(52)을 형성하기 위해 포토레지스트 패턴(50)을 마스크로 이용하여 하드 마스크 층(46)을 식각한다. 그 후, 단계(112)에서, 포토레지스트 패턴(50)을 제거하고 하드 마스크 패턴(52)을 기판(18)의 제1 면(40) 상에 남겨둔다. 하드 마스크 패턴(52)은 적어도 2개의 확대된 개구(54)를 포함한다.
다음으로, 단계(114)에서 기판(18)에 적어도 하나의 트렌치(20)를 형성하기 위해 하드 마스크 패턴(52)을 마스크로 이용하여 기판(18)의 제1 면(40) 상에서 식각 공정이 수행된다. 트렌치(20)는 복수의 제1 트렌치 섹션(21) 및 확대된 영역들을 갖는 적어도 2개의 제2 트렌치 섹션(24)을 정의한다. 상기 적어도 2개의 제2 트렌치 섹션(24)은 하드 마스크 패턴(52)의 적어도 2개의 확대된 개구(54)에 대응한다. 적어도 하나의 트렌치(20)는 레이저 제거 공정, 기계 가공(machining), 3D 소결(sintering)/프린팅(printing)/적층 가공(additive manufacturing), 그린 상태(green state), 몰딩(molding), 워터젯(waterjet), 하이브리드 레이저/워터, 건식 플라즈마 식각에 의해 형성 될 수 있다.
단계(114)에서, 트렌치(20)가 기판(18)에 형성된 후, 하드 마스크 패턴(52)이 제거되고 기판(18)이 세정되어 기판(18)의 제1 면(40) 상에 원하는 트렌치 패턴을 구비한 트렌치(20)를 갖는 기판(18)을 형성한다.
트렌치(20)들의 개수 및 확대된 제2 트렌치 섹션(24)들의 개수는 트렌치(20)에 형성될 저항 가열 요소(22)의 가열 영역의 개수에 의존한다. 트렌치(20)의 제1 및 제2 트렌치 섹션(21 및 24)의 깊이 및 폭은 저항 가열 요소(22)의 원하는 기능 및 성능에 의존한다. 예를 들어, 하나의 트렌치(20)만이 기판(18)에 형성되면, 트렌치(20)는 일정하거나 변화된 깊이 및/또는 폭을 가질 수 있다. 복수의 트렌치(20)들이 기판(18)에 형성되면, 트렌치(20)들 중 일부는 더 넓고, 나머지들은 더 좁을 수 있고; 트렌치(20)들 중 일부는 더 깊고, 나머지들은 더 얕을 수 있다.
도 2c를 참조하면, 단계(118)에서, 원하는 트렌치 패턴을 구비한 트렌치(20)가 기판(18)에 형성된 후, 기판(18)을 관통하는 패드 개구(62) 및 비아 홀(64)을 형성하기 위해 트렌치(20)의 확대된 제2 트렌치 섹션(24)들 각각에서 기계 가공 공정이 수행된다. 패드 개구(62)는 비아 홀(64)과 확대된 제2 트렌치 섹션(24) 사이에 배치된다. 비아 홀(64)은 패드 개구(62)로부터 기판(18)의 제2 면(42)까지 연장된다.
그 후, 단계(122)에서 저항 물질(66)이 기판(18)의 제1 면(40) 및 트렌치(20)에 증착된다. 일 예로서, 저항 물질(66)은 기판(18) 상에 그리고 트렌치(20) 내에 형성될 수 있다.
단계(124)에서, 저항 물질(66)은 열처리된다. 일 예로서, 트렌치(20) 내에 그리고 기판(18)의 제1 면(40) 상에 배치된 저항 물질(66)을 갖는 기판(18)은 어닐링(annealing)을 위해 노(furnace) 내에 배치될 수 있다.
도 2d를 참조하면, 단계(126)에서, 저항 물질(66)이 열처리된 후 기판(18)의 제1 면(40)이 노출될 때까지 초과의 저항 물질(66)을 제거하도록 저항 물질(66) 상에서 화학적 기계적 연마/평탄화(CMP) 공정이 수행되고, 이를 통해 트렌치(20)에 저항 가열 요소(22)를 형성한다. 이 단계에서, 기판(18)의 제1 면(40)은 노출되고, 어떠한 저항 물질(66)에 의해서도 커버되지 않는다. 트렌치(20)에 잔류하는 저항 물질(66)은 기판(18)의 제1 면(40)과 동일한 높이의 상면(67)을 갖는 저항 가열 요소(22)를 형성한다.
마지막으로, 단계(128)에서 기판(18)의 제1 면(40) 및 저항 가열 요소(22)의 상면(67) 상에 보호층(17)이 형성된다. 보호층(17)은 저항 가열 요소(22)를 전기적으로 절연시킨다. 미리 형성된 보호층을 기판(18)에 접착시킴으로써 기판(18) 상에 보호층(17)을 형성할 수 있다. 접착 공정은 브레이징(brazing) 공정 또는 글래스 프릿 접착(glass frit bonding) 공정일 수 있다. 대안적으로, 다수의 트렌치(20)들이 기판(18)에 형성되면, 트렌치(20)들 중 일부, 바람직하게는 기판(18)의 주변부 주위에 위치한 트렌치들은 접착제로 채워져 상기 트렌치(20)들의 일부 내의 접착제가 기판(18)과 보호층(17)을 접착시킬 수 있다. 기판(18) 상에 보호층(17)이 형성된 후, 히터층(12)이 완성된다.
전술한 바와 같이, 트렌치(20)의 깊이 및 폭은 트렌치(20)의 길이를 따라 변하도록 구성될 수 있다. 다양한 깊이 및 폭를 이용하여, 트렌치(20)는 저항 가열 요소(22)가 그 길이를 따라 다양한 두께 및 폭으로 형성될 수 있게 하고, 이로써 저항 가열 요소(22)의 길이에 따른 가변적인 전력량을 획득한다. 또한, 저항 가열 요소(22)의 형상을 정의하기 위해 트렌치(20)를 사용함으로써, 동일한 트렌치의 다양한 부분들에 다양한 물질을 증착하거나 또는 동일한 트렌치(20)에 2개 이상의 물질층을 증착하는 것이 가능하다. 예를 들어, 먼저 저항 물질이 트렌치(20)에 증착된 후, 저항 물질의 상부에 접착제를 증착시킬 수 있다. 따라서, 트렌치(20) 내의 물질들은 그 위의 보호층을 접착시키기 위한 접착제로서 이용될 수도 있다. 또한 공학적 층들 또는 도핑된 물질들이 트렌치(20)의 다양한 부분들에 증착되어 그 길이를 따라 다양한 물질 속성을 갖는 저항 가열 요소를 획득할 수 있다.
도 2e를 참조하면, 라우팅층(14)을 제조하는 서브-공정이 라우팅 물질을 관통하는 비아 홀을 가공하는 단계를 포함하고 보호층을 접착하는 단계를 포함하지 않는 것을 제외하고는, 라우팅층(14)을 제조하는 서브-공정은 전술한 히터층(12)을 제조하는 서브-공정의 단계들과 유사한 단계들을 포함한다. 또한, 히터층(12)과 라우팅층(14)은 서로 다른 기능을 갖기 때문에, 저항 가열 요소(22) 및 라우팅 요소(34)를 형성하기 위한 물질이 상이하다.
보다 구체적으로, 라우팅층(14)을 제조하는 서브-공정은 도 2a 내지 도 2d와 관련하여 전술한 바와 같이 단계(102) 내지 단계(126)와 유사한 단계를 포함한다. 그러므로, 이러한 단계들에 대한 상세한 설명은 명료성을 위해 여기에서 생략된다. 라우팅층(14)의 트렌치(32)를 채우는 물질은 히터층(12)의 트렌치(20)를 채우는 물질과 상이하다. 히터층(12)은 열을 발생시키도록 구성되며, 따라서 기판(18)의 트렌치(20)를 채우는 물질은 열을 발생시키기 위해 비교적 높은 저항률을 갖는 저항 물질이다. 라우팅층(14)에서, 기판(30)의 트렌치(32)를 채우는 물질은 히터층(12)의 저항 가열 요소(22)를 외부 전원에 전기적으로 연결하기 위해 비교적 높은 전도성을 갖는 전도성 물질이다.
또한, 라우팅층(14)의 기판(30)은 히터층(12)의 기판(18)의 트렌치(20)와 상이한 트렌치 패턴을 갖는 트렌치(32)를 구비한다. 도 2e에서 도시된 바와 같이, 라우팅층(14)의 트렌치(32)는 히터층(12)의 트렌치(20)보다 넓은 것으로 도시되어 있다.
도 2e를 참조하면, 단계(130)에서 라우팅 물질은 열처리되고 평탄화되어, 라우팅 요소(34)를 형성한다. 이 단계에서, 기판(30)의 상면은 라우팅 요소(34)의 상면과 동일 평면에 있다. 히터층(12)과 유사하게, 라우팅층(14)은 한 쌍의 단자 핀(36)들 및 라우팅 요소(34)의 적어도 두 부분에 연결된 한 쌍의 단자 단부(69)들을 포함한다.
다음으로, 라우팅 요소(34)의 상면으로부터 단자 단부(69)들까지 연장되는 한 쌍의 비아 홀(68)들을 형성하도록 라우팅 요소(34)는 기계 가공된다. 그 후, 히터층(12)은 라우팅층(14)의 상부에 배치된다. 기판(18)의 제2 면(42)을 넘어 연장되는 히터층(12)의 단자 핀(28)들은 비아 홀(68)에 삽입되어, 히터층(12)의 단자 핀(28)들은 라우팅층(14)의 단자 단부(69)와 접촉한다. 따라서, 히터층(12)의 저항 가열 요소(22)는 라우팅 요소(34)에 전기적으로 연결되고, 차례로 라우팅 요소(34)는 외부 전원에 전기적으로 연결된다.
도 3을 참조하여, 본 개시의 교시에 따라 전기 히터를 제조하는 방법(200)의 일 변형예를 설명한다. 이 방법은 기판의 트렌치를 채우는 기능 물질의 타입에 따라 정전기 척의 전극층 및 RF 안테나 층과 같은 또 다른 전기 컴포넌트를 형성하기 위해 적용될 수 있다.
상기 방법(200)은, 단계(202)에서 기판(70)을 제공하고 적어도 하나의 트렌치(72)를 기판(70)에 형성하는 것으로 시작한다. 기판(70)은 질화알루미늄(Aluminum Nitride, AlN)을 포함할 수 있다. 이 단계에서, 상기 적어도 하나의 트렌치는 하드 마스크 패턴을 사용하지 않고, 레이저 제거/커팅 공정, 마이크로 비드 블라스팅(micro bead blasting), 기계 가공(machining), 3D 소결(sintering)/프린팅(printing)/적층 가공(additive manufacturing), 그린 상태(green state), 몰딩(molding), 워터젯(waterjet), 하이브리드 레이저/워터, 또는 건식 플라즈마 식각과 같은 기계적 방법에 의해 형성될 수 있다. 마이크로 비드 블라스팅 공정이 이용되는 경우, 비드의 입자 크기는 100um 미만, 바람직하게는 50um 미만이다.
다음으로, 단계(204)에서, 제1 금속을 포함하는 제1 기능 물질(74)이 트렌치(72) 내와 기판(70)의 상면 상에 채워진다. 제1 기능 물질(74)은 적층 공정(layered process)에 의해 형성될 수 있고, 특히 상기 적층 공정은 후막(thick film), 박막(thin film), 용사(thermal spray) 또는 졸-겔(sol-gel)과 관련된 공정들을 이용하여 기판 또는 또 다른 층에 물질을 도포 또는 축적하는 것을 포함한다. 대안적으로, 제1 기능 물질(74)은 도 2c의 단계(122)와 관련하여 전술한 바와 같이, 브레이즈 리플로우 공정(braze reflow process)을 이용하여 기판(70) 상과 트렌치(72) 내에 증착될 수 있다. 예를 들어, 제1 기능 물질(74)은, 기판(70) 상에 금속 호일을 배치한 다음, 금속 호일을 용융시켜 용융된 물질이 트렌치(72)를 채우고 기판의 상면으로 리플로우(reflow)하도록 함으로써 형성될 수 있다.
다음으로, 도 2c와 관련하여 설명한 단계(124)와 유사하게, 단계(204)에서, 제1 기능 물질(74)은 예컨대 어닐링에 의해 열처리될 수 있다. 그 후, 단계(206)에서 초과의 제1 기능 물질(74)이 기판(70)으로부터 제거되고, 제1 기능 요소(76)를 형성하기 위해 제1 기능 물질(74)을 기판(70)의 적어도 하나의 트렌치(72) 내에 남겨둔다. 제거 공정은 화학적-기계적 공정(chemical-mechanical process, CMP), 식각 또는 연마 공정일 수 있다. 그 다음, 단계(208)에서 유전체층(dielectric layer)(78)이 제1 기능적 요소(76) 및 기판(70) 상에 증착된다.
다음으로, 단계(210)에서, 제1 기능 요소(76)의 일부분을 노출시키도록 적어도 하나의 비아(79)가 적어도 두 개의 대응 위치에서 유전체층(78)을 관통하여 형성된다. 비아(79)는 비아 홀(80) 및 트렌치(82)를 포함할 수 있다. 이 단계는 유전체층(78)에 트렌치(82)를 형성하는 단계, 및 유전체층(78)을 통해 그리고 제1 기능 요소(76) 내로 비아 홀(80)을 형성하는 단계를 포함한다. 트렌치(82)는 비아 홀(80)이 형성되기 전 또는 후에 형성될 수 있다. 비아(79)는 레이저 커팅에 의해 형성될 수 있다. 트렌치(82)는 대략 100 nm 내지 100 um 범위의 깊이를 가질 수 있다.
단계(212)에서, 제2 기능 물질(84)이 제1 기능 요소 물질(76)과 접촉하도록 제2 기능 물질(84)은 비아 홀(80) 및 트렌치(82)를 포함하는 비아(79)와 유전체층(78)의 상면에 증착된다.
단계(214)에서, 초과의 제2 기능 물질(84)은 유전체층(78)으로부터 제거되고, 제1 기능 요소(76)에 대한 전기 단자를 형성하기 위해 비아(79) 내에 제2 기능 물질(84)을 남겨둔다. 이 단계에서, 트렌치(80)에 잔류하는 제2 기능 물질(84)은 제2 기능 요소(86)를 형성한다. 제거 단계 이후 제2 기능 물질(84)의 상면은 유전체층(78)의 상면과 동일 평면에 있다. 대안적으로, 제2 기능 물질(84)은 원하는 프로파일을 형성하도록 식각될 수 있다.
전기 히터를 형성하기 위해 상기 방법(200)이 이용될 때, 제1 기능 요소(76)는 저항 가열 요소일 수 있고, 제2 기능 요소(86)는 저항 가열 요소와 외부 전원을 연결하기 위한 라우팅 요소일 수 있다. 상기 방법(200)이 정전척의 전극층을 형성하기 위해 이용될 때, 제1 기능 요소(76)는 전극 요소일 수 있고, 제2 기능 요소(86)는 전극 요소와 외부 전원을 연결하기 위한 라우팅 요소일 수 있다.
대안적으로, 제1 기능 요소(76)가 라우팅 요소로 구성될 수 있고, 반면에 제2 기능 요소가 저항 가열 요소 또는 전극 요소로 구성될 수 있다. 이 경우, 비아 홀(80)은 제1 기능 요소(76)와 동일한 재료 또는 원하는 전기 전도를 위한 다른 물질로 채워질 수 있다.
그 후 선택적으로, 단계(216)에서 제1 포스트 홀(90) 또는 제2 포스트 홀(92)이 형성될 수 있다. 제1 포스트 홀(90)은 유전체층(92) 및 하부의 제1 기능 요소(76)를 통해 연장된다. 제2 포스트 홀(92)은 제2 기능 요소(86)를 통해 연장된다. 제1 및 제 2 포스트 홀(90, 92)은 레이저 커팅 공정 또는 비드 블라스팅 공정에 의해 형성될 수 있다.
제1 기능 요소(76) 및/또는 제2 기능 요소(86)를 또 다른 전기 컴포넌트, 예컨대 또 다른 히터층, 튜닝(tuning)층, 온도감지층, 냉각층, 전극층 및/또는 RF 안테나층에 연결하기 위해 추가의 단자 핀(미도시)이 제1 포스트 홀(90) 및/또는 제2 포스트 홀(92)에 삽입될 수 있다. 결과적으로, 추가의 히터층, 튜닝층, 냉각층, 전극층, 또는 RF 안테나층은 상기 동일한 라우팅 요소 및 외부 전원에 연결될 수 있다. 추가의 히터층, 튜닝층, 냉각층, 전극층, RF 안테나층은 도 2a 내지 도 3과 관련하여 설명된 방법(100 또는 200)들에 의해 제조될 수 있다.
도 2a 내지 도 2e와 관련하여 개시된 방법(100)에 대해, 본 개시의 방법은 히터층(12) 및 라우팅층(14)을 제조하는 서브-공정을 포함하는 것으로 설명되었지만, 상기 방법(100)은 유사한 단계를 사용하여 하나 이상의 추가의 전기 컴포넌트를 제조하는 하나 이상의 추가의 서브-공정을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 방법(100)은 또 다른 히터층, 튜닝층, 냉각층, 전극층 및 RF 안테나층 등을 제조하기 위한 서브-공정을 더 포함할 수 있다.
대안적으로, 히터층(12)을 제조하는 서브-공정은 트렌치 내에 다른 재료를 채움으로써 또 다른 전기 컴포넌트를 형성하는데 이용될 수 있다. 예를 들어, 펠티에(Peltier) 물질이 기판의 트렌치에 채워지면, 냉각층이 형성될 수 있다. 전극 물질이 트렌치에 채워지면, 정전척용 전극층이 형성될 수 있다. 적절한 RF 안테나 물질이 트렌치에 채워지면, RF 안테나층이 형성될 수 있다. 비교적 낮은 열 전도성을 갖는 물질이 트렌치에 채워지면, 열 배리어(thermal barrier) 층이 형성될 수 있다. 상대적으로 높은 열 전도성을 갖는 물질이 트렌치에 채워지면, 열 스프레더(thermal spreader)가 형성될 수 있다.
본 개시의 방법(100, 200)들에 의해 제조된 전기 히터(10)는 내장된 가열 회로 및 내장된 라우팅 회로, 및 기판 전체에 걸쳐 보다 평면적인 복수의 기능층들을 구비한다. 따라서, 상기 전기 히터는 보다 균일한 구조 및 보다 균일한 가열 성능을 가질 수 있다.
상기 개시는 예시들로서 설명되고 도시된 실시예에 제한되지 않음을 유의해야 한다. 매우 다양한 변형예들이 설명되었으며, 더 많은 것은 당업자의 지식의 부분들이다. 이들 및 추가의 변형들뿐만 아니라 기술적 균등물들에 의한 어떠한 교체들도 본 개시 및 본 특허의 보호범위를 이탈하지 않은 채 상기 설명들과 도면들에 추가될 수 있다.

Claims (20)

  1. 모놀리식(monolithic) 몸체의 기판을 제공하는 단계;
    상기 기판에 적어도 하나의 트렌치(trench)를 형성하는 단계;
    상기 기판 및 상기 적어도 하나의 트렌치에 기능 물질을 증착하는 단계;
    기능 요소를 형성하기 위해 상기 기판의 상기 적어도 하나의 트렌치 내에 상기 기능 물질을 남기도록 상기 기판으로부터 초과의 기능 물질을 제거하는 단계; 및
    상기 기능 요소와 접촉하는 전기 단자를 제공하는 단계;를 포함하고,
    상기 적어도 하나의 트렌치를 형성하는 단계는 증착 및 하드 마스크 식각 공정을 이용함으로써 달성되며,
    상기 증착 및 하드 마스크 식각 공정은,
    상기 기판 상에 하드 마스크를 증착하는 단계;
    상기 하드 마스크 상에 포토레지스트 층을 증착하는 단계;
    상기 하드 마스크 상에 포토레지스트 층을 현상하는 단계;
    패턴을 형성하기 위해 상기 하드 마스크를 통해 식각하는 단계;
    상기 포토레지스트 층을 제거하는 단계;
    상기 적어도 하나의 트렌치를 형성하기 위해 상기 패턴을 통해 상기 기판 내로 식각하는 단계; 및
    상기 하드 마스크를 제거하는 단계;를 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 기능 요소 상의 적어도 두 개의 대응 위치들에서 상기 기판을 통해 적어도 하나의 비아를 형성하는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    전기 단자가 상기 기능 요소와 접촉하도록 상기 적어도 하나의 비아 내에 상기 전기 단자를 제공하는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 기판 상에 유전체층을 증착하는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 기능 물질은, 상기 기능 물질이 상기 기판 및 상기 적어도 하나의 트렌치에 증착된 후에 열처리되는, 히터를 제조하는 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 초과의 기능 물질을 제거하는 단계는, 화학적-기계적 공정(chemical-mechanical process, CMP), 식각, 및 연마로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나의 공정을 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 트렌치는, 레이저 제거 공정, 비드 블라스팅(micro bead blasting) 공정, 기계 가공(machining), 3D 소결(sintering)/프린팅(printing)/적층 가공(additive manufacturing), 그린 상태(green state), 몰딩(molding), 워터젯(waterjet), 하이브리드 레이저/워터, 및 건식 플라즈마 식각으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 하나의 공정에 의해 형성된, 히터를 제조하는 방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 기능 물질은, 적층 공정(layered process)을 이용하여 상기 기판 및 상기 적어도 하나의 트렌치에 증착되는, 히터를 제조하는 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 적층 공정은, 후막(thick film), 박막(thin film), 용사(thermal spray) 및 졸-겔(sol-gel)로 이루어진 그룹으로부터 선택된, 히터를 제조하는 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 기능 물질은, 브레이즈 리플로우 공정(braze reflow process)을 이용하여 증착되는, 히터를 제조하는 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 기능 물질은, 상기 기판 상으로 그리고 상기 적어도 하나의 트렌치 내로 금속 호일(metal foil)을 용융시켜 증착되는, 히터를 제조하는 방법.
  13. 제1항에 있어서,
    제2 트렌치를 형성하고 제2 트렌치 내로 호일을 용융시키는 단계; 및
    상기 용융된 물질을 이용하여 상기 기능 요소를 또 다른 기판 또는 전기 컴포넌트에 접착시키는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 제2 트렌치는 상기 기판의 주변부를 따라 형성되는, 히터를 제조하는 방법.
  15. 제1항에 있어서,
    라우팅층을 형성하는 단계 및 상기 라우팅층과 히터를 접착시키는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  16. 제1항에 있어서,
    튜닝(tuning)층을 형성하는 단계 및 상기 튜닝 층을 히터에 접착시키는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  17. 제1항에 있어서,
    상기 기능 요소를 통해 비아를 형성하는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 비아 내에 단자 핀을 형성하는 단계;를 더 포함하는, 히터를 제조하는 방법.
  19. 제1항의 방법에 따라 제조된 히터.
  20. 제19항에 있어서,
    상기 기판은 질화알루미늄 및 산화알루미늄의 그룹으로부터의 세라믹이고, 상기 기능 물질은 몰리브덴, 텅스텐, 백금 또는 이들의 합금으로 이루어진 그룹으로부터 선택된 저항 물질인, 히터.
KR1020207017699A 2017-11-21 2018-11-19 일체형 히터 및 그 제조방법 KR102239151B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/819,028 US10681778B2 (en) 2017-11-21 2017-11-21 Integrated heater and method of manufacture
US15/819,028 2017-11-21
PCT/US2018/061754 WO2019103959A1 (en) 2017-11-21 2018-11-19 Integrated heater and method of manufacture

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200076761A KR20200076761A (ko) 2020-06-29
KR102239151B1 true KR102239151B1 (ko) 2021-04-12

Family

ID=64755704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020207017699A KR102239151B1 (ko) 2017-11-21 2018-11-19 일체형 히터 및 그 제조방법

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10681778B2 (ko)
JP (1) JP2021504924A (ko)
KR (1) KR102239151B1 (ko)
CN (1) CN111602464B (ko)
DE (1) DE112018005956B4 (ko)
TW (1) TWI688064B (ko)
WO (1) WO2019103959A1 (ko)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10707144B2 (en) * 2018-09-10 2020-07-07 Raytheon Company Thermal boundary control
WO2021172262A1 (ja) * 2020-02-26 2021-09-02 日本碍子株式会社 セラミックヒータ及びその製法
KR102299028B1 (ko) * 2020-03-19 2021-09-07 주식회사와이테크 온도 센서 내장형 세라믹 히터 및 이의 제작 방법
KR102412408B1 (ko) * 2021-11-10 2022-06-23 (주)에타 저항값 조정이 가능한 세라믹 히터의 제조방법
JP2024013384A (ja) * 2022-07-20 2024-02-01 日本発條株式会社 ヒータユニット
WO2024050334A1 (en) * 2022-08-29 2024-03-07 Watlow Electric Manufacturing Company 3d printed heater system

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007134088A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックスヒーターおよびセラミックスヒーターの製造方法
JP2012009337A (ja) * 2010-06-25 2012-01-12 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックスヒータ
WO2014148590A1 (ja) * 2013-03-22 2014-09-25 吉野川電線株式会社 電熱ヒータおよびその製造方法

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3011528B2 (ja) * 1992-03-24 2000-02-21 日本碍子株式会社 半導体加熱用セラミックスヒーター及びその製造方法
JPH08315965A (ja) * 1994-09-29 1996-11-29 Tokyo Electron Ltd 加熱装置及びその製造方法、並びに処理装置
JPH08138845A (ja) 1994-11-07 1996-05-31 Hattori Hiiteingu Kogyo Kk 石英ガラスヒータ及びその製造方法
JP3567678B2 (ja) * 1996-05-05 2004-09-22 征一郎 宮田 通電発熱体
JPH1074760A (ja) * 1996-08-30 1998-03-17 Sony Corp 配線形成方法
GB9619461D0 (en) * 1996-09-18 1996-10-30 Electrotech Ltd Method of processing a workpiece
TW353762B (en) 1996-10-21 1999-03-01 Dainippon Printing Co Ltd Transfer sheet, and pattern-forming method
JP3562328B2 (ja) * 1998-07-17 2004-09-08 Jfeスチール株式会社 コークス炉の炉壁の補修方法
US6207553B1 (en) 1999-01-26 2001-03-27 Advanced Micro Devices, Inc. Method of forming multiple levels of patterned metallization
US6444557B1 (en) 2000-03-14 2002-09-03 International Business Machines Corporation Method of forming a damascene structure using a sacrificial conductive layer
JP2002025758A (ja) 2000-05-02 2002-01-25 Ibiden Co Ltd ホットプレートユニット
US6323121B1 (en) 2000-05-12 2001-11-27 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Fully dry post-via-etch cleaning method for a damascene process
US6284619B1 (en) 2000-06-29 2001-09-04 International Business Machines Corporation Integration scheme for multilevel metallization structures
US6798073B2 (en) 2001-12-13 2004-09-28 Megic Corporation Chip structure and process for forming the same
US20060183055A1 (en) 2005-02-15 2006-08-17 O'neill Mark L Method for defining a feature on a substrate
WO2007041428A2 (en) 2005-09-30 2007-04-12 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Process to fabricate integrated mwir emitter
JP4334005B2 (ja) * 2005-12-07 2009-09-16 新光電気工業株式会社 配線基板の製造方法及び電子部品実装構造体の製造方法
US7696455B2 (en) 2006-05-03 2010-04-13 Watlow Electric Manufacturing Company Power terminals for ceramic heater and method of making the same
JP2009105289A (ja) * 2007-10-24 2009-05-14 Tokyo Electron Ltd Cu配線の形成方法
KR100955540B1 (ko) * 2008-04-16 2010-04-30 임기주 발열 판재 및 그 제조방법
US9245792B2 (en) 2008-07-25 2016-01-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method for forming interconnect structures
US8481892B2 (en) 2009-03-30 2013-07-09 Ngk Insulators, Ltd. Ceramic heater and method for producing same
US8637794B2 (en) 2009-10-21 2014-01-28 Lam Research Corporation Heating plate with planar heating zones for semiconductor processing
US20120085747A1 (en) 2010-10-07 2012-04-12 Benson Chao Heater assembly and wafer processing apparatus using the same
CA2847342C (en) * 2011-08-30 2016-10-04 Watlow Electric Manufacturing Company Method of manufacturing a high definition heater system
US10163668B2 (en) 2011-08-30 2018-12-25 Watlow Electric Manufacturing Company Thermal dynamic response sensing systems for heaters
JP2013077631A (ja) * 2011-09-29 2013-04-25 Ulvac Japan Ltd 半導体装置の製造方法、半導体装置
JPWO2013047323A1 (ja) * 2011-09-30 2015-03-26 株式会社アルバック 半導体装置の製造方法、半導体装置
JP2013171940A (ja) * 2012-02-20 2013-09-02 Ulvac Japan Ltd 半導体装置の製造方法
US9478447B2 (en) 2012-11-26 2016-10-25 Applied Materials, Inc. Substrate support with wire mesh plasma containment
KR101993782B1 (ko) 2012-12-24 2019-07-02 한국전자통신연구원 양면 마이크로 가스 센서 및 그의 제조방법
JP5911179B2 (ja) 2013-08-21 2016-04-27 信越化学工業株式会社 立体形状のセラミックスヒーター
JP2015151026A (ja) * 2014-02-14 2015-08-24 大日本印刷株式会社 電熱配線パターンの製造方法および電熱配線基材
US9337124B1 (en) 2014-11-04 2016-05-10 Hrl Laboratories, Llc Method of integration of wafer level heat spreaders and backside interconnects on microelectronics wafers
KR101523325B1 (ko) * 2015-02-04 2015-05-28 에스맥 (주) 투명 히터 및 이의 제조 방법
JP6690918B2 (ja) 2015-10-16 2020-04-28 日本特殊陶業株式会社 加熱部材、静電チャック、及びセラミックヒータ
JP6643353B2 (ja) * 2015-11-12 2020-02-12 京セラ株式会社 ヒータ
CN205648021U (zh) * 2016-05-30 2016-10-12 京东方科技集团股份有限公司 加热器、传感器及智能终端

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007134088A (ja) * 2005-11-08 2007-05-31 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックスヒーターおよびセラミックスヒーターの製造方法
JP2012009337A (ja) * 2010-06-25 2012-01-12 Shin Etsu Chem Co Ltd セラミックスヒータ
WO2014148590A1 (ja) * 2013-03-22 2014-09-25 吉野川電線株式会社 電熱ヒータおよびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE112018005956B4 (de) 2024-05-23
US10681778B2 (en) 2020-06-09
CN111602464B (zh) 2023-01-24
KR20200076761A (ko) 2020-06-29
TWI688064B (zh) 2020-03-11
US20190159293A1 (en) 2019-05-23
CN111602464A (zh) 2020-08-28
TW201926599A (zh) 2019-07-01
DE112018005956T8 (de) 2021-03-11
DE112018005956T5 (de) 2020-08-06
JP2021504924A (ja) 2021-02-15
WO2019103959A1 (en) 2019-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102239151B1 (ko) 일체형 히터 및 그 제조방법
US11751289B2 (en) Integrated heater and method of manufacture
JP5329733B2 (ja) 基板の2つの面間の電気的接続および製造工程
US7814651B2 (en) Method for fabricating a through-hole interconnection substrate
CN100456467C (zh) 具有导电穿透通道的硅芯片载体及其制造方法
TW200842933A (en) Method for forming semiconductor device
SE1050461A1 (sv) Metoder för tillverkning av en startsubstratskiva för halvledartillverkning, med skivgenomgående anslutningar
EP2182560A2 (en) Method for manufacturing piezoelectric device
KR101159697B1 (ko) 글래스 웨이퍼 기반의 침습형 전극 제작방법
JP6674677B2 (ja) チップ部品およびその製造方法
CN103887189A (zh) 用于制造芯片布置的方法和芯片布置
KR100730871B1 (ko) 반도체장치의 제조방법
JP7170151B2 (ja) 集積化ヒーターとその製造方法
CN104240881A (zh) 阵列型片式电阻器及其制造方法
US20150200034A1 (en) Graphene interposer and method of manufacturing such an interposer
TW571426B (en) Manufacturing method of non-optical etched thin film resistor
US7206474B2 (en) Heating of trenches in an optical bubble switch
TWI313875B (ko)
JP4374117B2 (ja) 半導体装置の製造方法及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant