KR101823762B1 - 집적 회로를 테스트하는 디바이스 및 방법 - Google Patents

집적 회로를 테스트하는 디바이스 및 방법 Download PDF

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Abstract

집적 회로는 제 1 전력 유닛과, 제 2 전력 유닛과, 선택 스위치를 포함한다. 제 1 전력 유닛은 제 1 출력 전압을 생성하고 제 1 부하 핀에 연결된다. 제 1 부하 핀은 제 1 부하에 연결된다. 제 2 전력 유닛은 제 2 출력 전압을 생성하고 제 2 부하 핀에 연결된다. 제 2 부하 핀은 제 2 부하에 연결된다. 선택 스위치는 선택 신호에 따라 제 1 출력 전압 또는 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력한다.

Description

집적 회로를 테스트하는 디바이스 및 방법{DEVICES AND METHODS FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS}
본 개시는 일반적으로 집적 회로를 테스트하는 방법 및 디바이스에 관한 것으로, 더 자세하게는, 테스트 조건을 적용함으로써 집적 회로를 테스트하고, 상이한 핀을 사용함으로써 테스트 항목을 측정하는 방법 및 디바이스에 관한 것이다.
집적 회로가 최종 테스트(FT) 프로세스에 있을 때, 패키지 집적 회로는 보통 패키지 집적 회로의 기능이 정상인지 아닌지를 테스트하기 위해 집적 회로 소켓에 배치된다. 전력 집적 회로가 최종 테스트 프로세스에 있을 때는, 보통, 부하 전류가 전력 집적 회로로부터 인출되고, 그 후 그 출력 전압이 사양을 만족시키는지 여부에 대해 확인이 이루어지는 것이 필요하다. 따라서, 우리는 집적 회로를 테스트하는 효과적인 디바이스 및 방법을 필요로 한다.
상기 문제를 해결하기 위해, 본 발명은 테스트 조건을 적용함으로써 집적 회로를 테스트하고, 상이한 핀을 사용함으로써 테스트 항목을 측정하는 방법 및 디바이스를 제공한다.
일 실시예에서, 집적 회로는 제 1 전력 유닛, 제 2 전력 유닛 및 선택 스위치를 포함한다. 제 1 전력 유닛은 제 1 출력 전압을 생성하고, 제 1 부하 핀에 연결되며, 제 1 부하 핀은 제 1 부하에 연결된다. 제 2 전력 유닛은 제 2 출력 전압을 생성하고, 제 2 부하 핀에 연결되고, 제 2 부하 핀은 제 2 부하에 연결된다. 선택 스위치는 선택 신호에 따라 제 1 출력 전압 또는 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력한다.
집적 회로의 일 실시예에 따르면, 선택 스위치는 멀티플렉서이다.
집적 회로의 일 실시예에 따르면, 제 1 부하 및 제 2 부하의 각각은 저항기 또는 전자 부하이다.
집적 회로의 일 실시예에 따르면, 선택 스위치는 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 직렬로 더 출력한다.
일 실시예에서, 집적 회로를 테스트하는 디바이스는 집적 회로, 집적 회로 소켓, 전압계 및 프로세서를 포함한다. 집적 회로는 제 1 전력 유닛, 제 2 전력 유닛 및 선택 스위치를 포함한다. 제 1 전력 유닛은 제 1 출력 전압을 생성하고, 제 1 부하 핀에 연결된다. 제 2 전력 유닛은 제 2 출력 전압을 생성하고, 제 2 부하 핀에 연결된다. 선택 스위치는 선택 신호에 따라 제 1 출력 전압 또는 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력한다. 집적 회로 소켓은 집적 회로 슬롯, 제 1 부하 프로브 및 제 2 부하 프로브를 포함한다. 집적 회로는 집적 회로 슬롯에 분리 가능하게 배치된다. 제 1 부하 프로브는 제 1 부하 핀에 연결되고 제 1 부하에 연결된다. 제 2 부하 프로브는 제 2 부하 핀에 연결되고 제 2 부하에 연결된다. 전압계는 전압 프로브에 연결되고, 측정 신호에 따라 전압 프로브의 전압을 측정하여 전압 신호를 생성하는 프로세서는 선택 신호 및 측정 신호를 생성하고, 전압 신호를 수신한다.
집적 회로 테스트 디바이스의 일 실시예에 따르면, 선택 스위치는 멀티플렉서이다.
집적 회로 테스트 디바이스의 일 실시예에 따르면, 제 1 부하 및 제 2 부하의 각각은 저항기 또는 전자 부하이다.
집적 회로 테스트 디바이스의 일 실시예에 따르면, 프로세서는 또한 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 순차적으로 출력하기 위해, 테스트 로직에 따라 선택 신호 및 측정 신호를 생성하고, 제 1 전압 및 제 2 전압을 순차적으로 측정하며, 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 레지스터에 저장한다.
일 실시예에서, 상기와 같은 집적 회로 테스트 디바이스에 적용된 집적 회로 테스트 방법은, 제 1 부하 및 제 2 부하에 의해 제 1 전력 유닛 및 제 2 전력 유닛으로부터 제 1 부하 전류 및 제 2 부하 전류를 각각 인출하는 단계와, 선택 신호에 따라 제 1 출력 전압 또는 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력하는 단계와, 측정 신호에 따라 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 측정하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 집적 회로 테스트 방법은, 선택 신호에 의해 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 순차적으로 출력하는 단계와, 측정 신호에 의해 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 순차적으로 측정하는 단계와, 제 1 출력 전압 및 제 2 출력 전압을 레지스터에 저장하는 단계를 더 포함한다.
상세한 설명은 첨부되는 도면을 참조하여 다음의 실시예에서 이루어진다.
본 발명은 첨부되는 도면을 참조하여 이어지는 상세한 설명 및 예를 읽음으로써 더 완전히 이해될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 디바이스의 개략도이고,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로의 블럭도이고,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 디바이스의 개략도이고,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 방법의 흐름도이다.
다음의 설명은 본 발명을 실시하는, 최선으로 계획된 형태인 것이다. 본 명세서는 본 발명의 일반적인 원리를 예시하기 위해 이루어진 것이고 제한적인 의미로 해석되어서는 안된다. 본 발명의 범위는 첨부되는 청구범위를 참조하는 것에 의해 결정된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 디바이스의 개략도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 집적 회로 테스트 디바이스(100)는 집적 회로(110), 집적 회로 소켓(120), 부하(130) 및 전압계(140)를 포함한다. 집적 회로(110)는 집적 회로 소켓(120)에 분리 가능하게 배치되고, 집적 회로(110)의 핀(111)은 집적 회로 소켓(120)의 프로브(121)에 연결된다. 부하(130)가 부하 전류 I를 인출하는 경우, 전압계(140)는 프로브(121)를 통해 집적 회로(110)에 의해 생성된 출력 전압을 측정한다.
그러나, 프로브(121)를 통해 흐르는 부하 전류 I에 의해 전압 강하가 초래되기 때문에, 전압계(140)에 의해 측정된 전압은 집적 회로(110)에 의해 생성된 실제 출력 전압보다 낮게 전압 강하가 이루어진다. 부하 전류 I가 클수록, 생성된 전압 강하도 더 크고, 또한 초래되는 측정 오류도 더 현저해진다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로의 블럭도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 집적 회로(200)는 제 1 전력 유닛(201), 제 2 전력 유닛(202) 및 선택 스위치(203)를 포함하고, 공급 전압(도 2에 도시되지 않음)에 의해 공급된다. 제 1 전력 유닛(201)은 제 1 출력 전압 V1을 생성하고, 제 1 부하 핀(204)에 연결된다. 제 2 전력 유닛(202)은 제 2 출력 전압 V2를 생성하고, 제 2 부하 핀(205)에 연결된다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 집적 회로(200)는 복수의 전력 유닛을 포함하고, 제 1 전력 유닛(201) 및 제 2 전력 유닛(202)이 여기에 예시된다.
선택 스위치(203)는 선택 신호 SC에 따라 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2를 전압 핀(206)으로 출력한다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 집적 회로(200)는 패키지 집적 회로이고, 제 1 부하 핀(204), 제 2 부하 핀(205), 전압 핀(206)은 집적 회로(200)의 출력 핀이다.
제 1 부하 핀(204)에 연결되는 제 1 부하(210)는 제 1 전력 유닛(201)으로부터 제 1 부하 전류 I1을 인출하도록 구성된다. 제 2 부하 핀(205)에 연결되는 제 2 부하(220)는 제 2 전력 유닛(202)으로부터 제 2 부하 전류 I2를 인출하도록 구성된다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 각각의 제 1 부하(210) 및 제 2 부하(220)는 저항을 갖는 저항기이고, 제 1 부하 전류 I1 및 제 2 부하 전류 I2는 대응하는 저항에 의해 분할된 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2에 의해 각각 결정된다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 각각의 제 1 부하(210) 및 제 2 부하(220)는 전자 부하이고, 전자 부하는 제 1 부하 전류 I1 및 제 2 부하 전류 I2를 수동으로 설정할 수 있다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 제 1 부하(210) 및 제 2 부하(220)는 저항기, 전자 부하 및 저항기와 전자 부하의 임의의 조합일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 선택 스위치(203)는 멀티플렉서이다. 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 선택 스위치(203)는 임의의 타입의 스위치일 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2를 선택하도록 선택 스위치(203)를 제어하기 위해, 선택 신호 SC가 내부 집적 회로(Inter-Integrated Circuit, I2C)에 의해 생성된다. 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 선택 신호 SC는 최근 공지된 또는 장래에 발명되는 임의의 종류의 신호 생성 방법에 의해 생성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 선택 스위치(203)는 테스트 로직에 따라 제 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2를 전압 핀(206)으로 순차적으로 출력한다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 선택 스위치(203)는 테스트 로직에 따라 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2를 전압 핀(206)으로 사용자에 의해 설정된 순서로 출력한다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 집적 회로(200)는 복수의 전력 유닛을 포함하고, 선택 스위치(203)는 테스트 로직에 따라 복수의 전력 유닛에 의해 행성된 출력 전압을 순차적으로 출력한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 디바이스의 개략도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 집적 회로 테스트 디바이스(300)는 집적 회로(310), 집적 회로 소켓(320), 제 1 부하(330), 제 2 부하(340), 전압계(350) 및 프로세서(360)를 포함한다. 도 3의 집적 회로(310)는 도 2의 집적 회로(200)와 동일하다. 집적 회로(310)는 제 1 전력 유닛(201), 제 2 전력 유닛(202), 선택 스위치(203), 제 1 부하 핀(204), 제 2 부하 핀(205) 및 전압 핀(206)을 포함한다.
집적 회로 소켓(320)은 제 1 부하 프로브(321), 제 2 부하 프로브(322), 전압 프로브(323) 및 집적 회로 슬롯(324)을 포함한다. 집적 회로(310)는 집적 회로 슬롯(324)에 분리 가능하게 배치된다. 제 1 부하 핀(204)은 제 1 부하 프로브(321)를 통해 제 1 부하(330)에 연결되고, 제 2 부하 핀(205)은 제 2 부하 프로브(322)를 통해 제 2 부하(340)에 연결된다. 전압 핀(206)은 전압 프로브(323)를 통해 전압계(350)에 연결된다.
제 1 전력 유닛(201) 및 제 2 전력 유닛(202)은 제 1 부하 프로브(321) 및 제 2 부하 프로브(322)를 통해 제 1 부하(330) 및 제 2 부하(340)에 각각 연결되기 때문에, 제 1 부하(330)는 제 1 전력 유닛으로부터 제 1 부하 전류 I1을 인출하고, 제 2 부하(340)는 제 2 전력 유닛(202)으로부터 제 2 부하 전류 I2를 인출한다.
프로세서(360)는 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2를 집적 회로(310)의 전압 핀(313)에 출력한다. 프로세서(360)는 측정 신호 SM에 의해, 전압계(350)가 전압 프로브(323)의 전압을 측정하고, 그 후 전압계(350)가 전압 신호 SV를 프로세서(360)로 출력하도록 더 제어한다. 프로세서는 전압 신호 SV 및 생성된 선택 신호 SC에 따라 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2의 전압값을 결정한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 프로세서(360)는 테스트 로직에 따라 선택 신호 SC 및 측정 신호 SM을 생성하여, 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2를 전압 핀(206)으로 순차적으로 출력하고, 전압 프로브(323)로 출력되는 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2를 순차적으로 측정한다. 측정된 제 1 출력 전압 V1 및 측정된 제 2 출력 전압 V2는 레지스터(도 3에 도시되지 않음)에 저장된다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 선택 스위치(203)는 테스트 로직에 따라 사용자에 의해 설정된 순서로 제 1 출력 전압 V1 및 제 2 출력 전압 V2를 순차적으로 전압 핀(206)으로 출력한다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 집적 회로(310)는 복수의 전력 유닛을 포함한다. 선택 스위치(203)는 테스트 로직에 따라 복수의 전력 유닛의 복수의 출력 전압을 전압 핀(206)으로 순차적으로 출력하고, 전압 프로브(323)로 출력된 출력 전압을 순차적으로 측정한다. 측정된 복수의 출력 전압은 레지스터(도 3에 도시되지 않음)에 저장된다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 제 1 부하(330) 및 제 2 부하(340)의 각각은 전자 부하이다. 전자 부하는 제 1 부하 전류 I1 및 제 2 부하 전류 I2를 수동으로 설정할 수 있다. 본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 제 1 부하(330) 및 제 2 부하(340)는 저항기, 전자 부하 및 저항기와 전자 부하의 임의의 조합일 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 집적 회로 테스트 방법의 흐름도이다. 도 4의 다음의 설명은 상세한 설명을 위해 도 3과 함께 수반된다. 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 부하(330)는 우선 제 1 전력 유닛(201)으로부터 제 1 부하 전류 I1을 인출하도록 구성되고, 제 2 부하(340)는 제 2 전력 유닛(202)으로부터 제 2 부하 전류 I2를 인출하도록 구성된다(단계 S1).
그 후, 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2가 선택 핀(206)으로 출력된다(단계 S2). 마지막으로, 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2가 측정 신호 SM에 따라 측정된다(단계 S3).
본 발명의 또 다른 실시예에 따르면, 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2가 단계 S2에서 선택 신호 SC에 따라 순차적으로 출력된다. 단계 S3에서 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2가 측정 신호 SM에 따라 순차적으로 측정되고, 측정된 제 1 출력 전압 V1 또는 제 2 출력 전압 V2가 레지스터에 저장된다.
도 3의 제 1 전력 유닛(201)이 일례로서 취해진다. 제 1 출력 전압 V1이 선택 신호 SC에 의해 전압 핀(206)으로 출력되도록 선택되면, 제 1 부하(330)는 제 1 전력 유닛(201)으로부터 제 1 부하 전류 I1을 인출한다. 전압계(350)가 제 1 부하 프로브(321)에서 제 1 출력 전압 V1을 측정하면, 제 1 부하 전류 I1 및 제 1 부하 프로브(321)의 저항에 의해 초래된 전압 강하는, 측정된 제 1 전압 V1을 부정확하게 하고, 그것은 제 1 부하 전류 I1이 더 큰 경우 더 나빠진다.
그러나, 본 발명은 선택 스위치(203)에 의해 전압 핀(206)으로 제 1 출력 전압 V1을 출력하고, 전압계(350)에 의해 제 1 출력 전압 V1을 전압 프로브(323)를 통해 측정하는 방법을 제공한다. 따라서, 전압계(350)에 의해 측정된 제 1 출력 전압은 V1은, 측정된 제 1 전압 V1을 제 1 전력 유닛(201)에 의해 실제로 생성된 것보다 더 낮게 하는 제 1 부하 전류 I1 및 제 1 부하 프로브(321)의 저항에 의해 초래되는 전압 강하의 영향을 받지 않는다.
또한, 집적 회로 소켓(320)은 단지 테스트 목적으로 구성되기 때문에, 테스트된 집적 회로(310)는 실제 애플리케이션에서는 인쇄 회로 기판에 용접된다. 따라서, 제 1 부하 프로브(321) 및 제 2 부하 프로브(322)에 의해 초래된 전압 강하는 실제 애플리케이션에서는 존재하지 않는다. 부가하여, 제 1 부하 프로브(321) 및 제 2 부하 프로브(322)에 의한 전압 강하에 의해 초래된 부정확한 측정은 본 발명의 집적 회로 테스트 디바이스(300)에 의해 회피될 수 있다.
본 발명은 예시로서, 그리고 바람직한 실시예의 관점에서 설명되었지만, 본 발명은 여기에 한정되지 않음이 이해될 것이다. 당업자는 여전히 본 발명의 범위 및 정신에서 벗어나지 않고 여러가지 변경 및 수정을 할 수 있다. 따라서, 본 발명의 범위는 다음의 청구범위 및 그 등가물에 의해 정의되고 보호되어야 한다.

Claims (10)

  1. 집적 회로로서,
    제 1 출력 전압을 생성하도록 구성되고 제 1 부하 핀에 연결된 제 1 전력 회로 - 상기 제 1 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 1 부하에 연결됨 - 와,
    제 2 출력 전압을 생성하도록 구성되고 제 2 부하 핀에 연결된 제 2 전력 회로 - 상기 제 2 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 2 부하에 연결됨 - 와,
    선택 신호에 따라 상기 제 1 출력 전압 또는 상기 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력하도록 구성된 선택 스위치를 포함하는
    집적 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 선택 스위치는 멀티플렉서인
    집적 회로.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 부하 및 상기 제 2 부하의 각각은 저항기 또는 전자 부하인
    집적 회로.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 선택 스위치는 또한 상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 상기 전압 핀으로 순차적으로 출력하도록 더 구성되는
    집적 회로.
  5. 집적 회로 테스트 디바이스로서,
    제 1 출력 전압을 생성하도록 구성되고 제 1 부하 핀에 연결된 제 1 전력 회로와, 제 2 출력 전압을 생성도록 구성되고 제 2 부하 핀에 연결된 제 2 전력 회로와, 선택 신호에 따라 상기 제 1 출력 전압 또는 상기 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력도록 구성된 선택 스위치를 포함하는 집적 회로와,
    상기 집적 회로를 수용하도록 구성된 집적 회로 슬롯 - 상기 집적 회로는 상기 집적 회로 슬롯에 배치될 때 분리 가능함 - 과, 상기 제 1 부하 핀에 연결된 제 1 부하 프로브 - 상기 제 1 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 1 부하에 연결되도록 구성됨 - 와, 상기 제 2 부하 핀에 연결된 제 2 부하 프로브 - 상기 제 2 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 2 부하에 연결되도록 구성됨 - 를 포함하는 집적 회로 소켓과,
    전압 프로브에 연결되고, 측정 신호에 따라 상기 전압 프로브의 전압을 측정하고 전압 신호를 생성하도록 구성된 전압계와,
    상기 선택 신호 및 상기 측정 신호를 생성하고 상기 전압 신호를 수신하도록 구성된 프로세서
    를 포함하는 집적 회로 테스트 디바이스.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 선택 스위치는 멀티플렉서인
    집적 회로 테스트 디바이스.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 부하 및 상기 제 2 부하의 각각은 저항기 또는 전자 부하인
    집적 회로 테스트 디바이스.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 프로세서는, 또한
    테스트 로직에 따라, 상기 선택 신호 및 상기 측정 신호를 생성하고,
    상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 상기 전압 핀으로 순차적으로 출력하며,
    상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 순차적으로 측정하고,
    상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 레지스터에 저장하도록
    더 구성되는,
    집적 회로 테스트 디바이스.
  9. 집적 회로 테스트 디바이스에 적용된 집적 회로 테스트 방법으로서 - 상기 집적 회로 테스트 디바이스는 집적 회로와, 집적 회로 소켓과, 전압계와, 프로세서를 포함하고, 상기 집적 회로는 제 1 출력 전압을 생성하도록 구성되고 제 1 부하 핀에 연결된 제 1 전력 회로와, 제 2 출력 전압을 생성도록 구성되고 제 2 부하 핀에 연결된 제 2 전력 회로와, 선택 신호에 따라 상기 제 1 출력 전압 또는 상기 제 2 출력 전압을 전압 핀으로 출력도록 구성된 선택 스위치를 포함하며, 상기 집적 회로 소켓는 상기 집적 회로를 수용하도록 구성된 집적 회로 슬롯 - 상기 집적 회로는 상기 집적 회로 슬롯에 배치될 때 분리 가능함 - 과, 상기 제 1 부하 핀에 연결된 제 1 부하 프로브 - 상기 제 1 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 1 부하에 연결되도록 구성됨 - 와, 상기 제 2 부하 핀에 연결된 제 2 부하 프로브 - 상기 제 2 부하 핀은 상기 집적 회로의 외부의 제 2 부하에 연결되도록 구성됨 - 를 포함하고, 상기 전압계는 전압 프로브에 연결되고, 측정 신호에 따라 상기 전압 프로브의 전압을 측정하고 전압 신호를 생성하도록 구성되고, 상기 프로세서는 상기 선택 신호 및 상기 측정 신호를 생성하고 상기 전압 신호를 수신하도록 구성됨 - ,
    상기 제 1 부하 및 상기 제 2 부하에 의해 상기 제 1 전력 회로 및 상기 제 2 전력 회로로부터 제 1 부하 전류 및 제 2 부하 전류를 각각 인출하는 단계와,
    상기 프로세서에 의해, 상기 선택 신호에 따라 상기 제 1 출력 전압 또는 상기 제 2 출력 전압을 상기 전압 핀으로 출력하는 단계와,
    상기 프로세서에 의해, 상기 측정 신호에 따라 상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 측정하는 단계를 포함하는
    집적 회로 테스트 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 프로세서에 의해, 상기 선택 신호에 따라서 상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 순차적으로 출력하는 단계와,
    상기 프로세서에 의해, 상기 측정 신호에 따라서 상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 순차적으로 측정하는 단계와,
    상기 프로세서에 의해, 상기 제 1 출력 전압 및 상기 제 2 출력 전압을 레지스터에 저장하는 단계
    를 더 포함하는 집적 회로 테스트 방법.
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