CN105067988A - 集成电路、集成电路测试装置以及方法 - Google Patents

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Abstract

一种集成电路、集成电路测试装置以及方法。该集成电路，包括：第一电源单元、第二电源单元以及选择开关。第一电源单元输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚，第一负载引脚耦接至第一负载。第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚，第二负载引脚耦接至第二负载。选择开关根据一选择信号，选择第一输出电压以及第二输出电压输出至电压引脚。

Description

集成电路、集成电路测试装置以及方法
技术领域
本发明涉及一种集成电路测试装置以及方法，涉及一种利用不同引脚同时施加测试条件并且测量测试项目的集成电路测试装置以及方法。
背景技术
在最终测试(FinalTest，FT)集成电路(IntegratedCircuit，IC)的时候，往往都会将封装后的集成电路放置在集成电路插座(ICsocket)中，以测试封装后的集成电路是否功能正常。针对功率集成电路进行最终测试时，通常需要抽取负载电流后，再测量负载后的输出电压是否符合规格要求。因此，我们需要一个有效率的集成电路测试装置以及方法。
发明内容
有鉴于此，本发明提出一种集成电路，包括：一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚，其中上述第一负载引脚耦接至一第一负载。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚，其中上述第二负载引脚耦接至一第二负载。上述选择开关，根据一选择信号，选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。
根据本发明的一实施例，上述选择开关为一多工器。
根据本发明的一实施例，上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。
根据本发明的一实施例，上述选择开关还根据一测试逻辑，序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚。
本发明还提出一种集成电路测试装置，包括：一集成电路、一集成电路插座、一电压计以及一处理器。上述集成电路包括：一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚。上述选择开关根据一选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。上述集成电路插座包括：一集成电路插槽、一第一负载探针、一第二负载探针以及一电压探针。上述集成电路插槽可分离地容置上述集成电路。上述第一负载探针耦接至上述第一负载引脚且耦接至一第一负载。上述第二负载探针耦接至上述第二负载引脚且耦接至一第二负载。上述电压探针耦接至上述电压引脚。上述电压计耦接至上述电压探针，根据一测量信号测量上述电压探针的电压值而发出一电压信号。上述处理器产生上述选择信号以及上述测量信号，并接收上述电压信号。
根据本发明的一实施例，上述选择开关为一多工器。
根据本发明的一实施例，上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。
根据本发明的一实施例，上述处理器还根据一测试逻辑输出上述选择信号以及上述测量信号，以序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚，且序列地测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压，并将上述第一输出电压以及上述第二输出电压存储于一暂存器。
本发明还提出一种集成电路测试方法，适用于上述的集成电路测试装置，包括：利用上述第一负载以及上述第二负载，分别对上述第一电源单元以及上述第二电源单元抽取一第一电流以及一第二电流；根据上述选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至上述电压引脚；以及根据上述测量信号测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压。
根据本发明的一实施例，集成电路测试方法还包括：利用上述选择信号序列输出上述第一输出电压以及上述第二输出电压；利用上述测量信号，序列测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压；以及将上述第一输出电压以及上述第二输出电压的电压值存储于一暂存器。
附图说明
图1是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图；
图2是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路的方块图；
图3是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图；以及
图4是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试方法的流程图。
【符号说明】
100、300集成电路测试装置
110、200、310集成电路
111引脚
120集成电路插座
121探针
130负载
140电压计
201第一电源单元
202第二电源单元
203选择开关
204第一负载引脚
205第二负载引脚
206电压引脚
210、330第一负载
220、340第二负载
320集成电路插座
321第一负载探针
322第二负载探针
323电压探针
324集成电路插槽
350电压计
360处理器
SC选择信号
SM测量信号
SV电压信号
I负载电流
I1第一负载电流
I2第二负载电流
V1第一输出电压
V2第二输出电压
S1～S3步骤流程
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特例举一优选实施例，并配合附图，来作详细说明如下：
以下将介绍根据本发明所述的优选实施例。必须要说明的是，本发明提供了许多可应用的发明概念，在此所公开的特定实施例，仅是用于说明达成与运用本发明的特定方式，而不可用以局限本发明的范围。
图1是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图。如图1所示，集成电路测试装置100包括集成电路110、集成电路插座120、负载130以及电压计140。集成电路110可分离地容置于集成电路插座120中，并且集成电路110的引脚111耦接至集成电路插座120的探针121。当负载130抽取负载电流I时，电压计140通过探针121以测量集成电路110所输出的电压。
然而，由于负载电流I流经探针121会造成压降，使得电压计140所测量到的电压将比实际集成电路110所输出的输出电压低了上述压降。若负载电流I更大时，所产生的电压压降也越大，造成的测量误差也越显著。
图2是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路的方块图。如图2所示，集成电路200包括第一电源单元201、第二电源单元202以及选择开关203，并接受一供应电压(图2并未显示)的供电。第一电源单元201输出第一输出电压V1且耦接至第一负载引脚204，第二电源单元202输出第二输出电压V2且耦接至第二负载引脚205。根据本发明的另一实施例，集成电路200可具有多个电源单元，在此仅以第一电源单元201以及第二电源单元202作为范例。
选择开关203根据选择信号SC选择第一输出电压V1以及第二输出电压V2中的一个，输出至电压引脚206。根据本发明的一实施例，集成电路200为封装后的集成电路，第一负载引脚204、第二负载引脚205以及电压引脚206为集成电路200的输出引脚。
第一负载210耦接至第一负载引脚204，用以对第一电源单元201抽取第一负载电流I1。第二负载220耦接至第二负载引脚205，用以对第二电源单元202抽取第二负载电流I2。
根据本发明的一实施例，第一负载210以及第二负载220分别为一电阻，具有一电阻值，所抽取的第一负载电流I1以及第二负载电流I2，分别根据第一输出电压V1以及第二输出电压V2除以电阻值所决定。
根据本发明的另一实施例，第一负载210以及第二负载220分别为一电子式负载(electronicload)，其中电子式负载可以手动设定抽取的第一负载电流I1以及第二负载电流I2的大小。根据本发明的另一实施例，第一负载210以及第二负载220可以为电阻、电子式负载以及电阻与电子式负载的任意组合。
根据本发明的一实施例，选择开关203为一多工器。根据本发明的另一实施例，选择开关203可为其他任意型式的开关。根据本发明的一实施例，选择信号SC利用内部整合电路(Inter-IntegratedCircuit，I2C)所产生，以控制选择开关203选择第一输出电压V1以及第二输出电压V2中的一个。根据本发明的另一实施例，可利用各种目前已知以及将来发明的各种信号产生方式，产生选择信号SC。
根据本发明的一实施例，选择开关203还根据一测试逻辑，序列地输出上第一输出电压V1以及第二输出电压V2至电压引脚206。根据本发明的另一实施例，选择开关203可根据测试逻辑，并根据使用者所设定的序列依序输出第一输出电压V1以及第二输出电压V2至电压引脚206。根据本发明的另一实施例，集成电路200具有多个电源单元，选择开关203根据测试逻辑，序列地输出多个电源单元的输出电压。
图3是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图。如图3所示，集成电路测试装置300包括集成电路310、集成电路插座320、第一负载330、第二负载340、电压计350以及处理器360。图3的集成电路310与图2的集成电路200相同，集成电路310包括图2的第一电源单元201、第二电源单元202、选择开关203、第一负载引脚204、第二负载引脚205以及电压引脚206。
集成电路插座320包括第一负载探针321、第二负载探针322、电压探针323以及集成电路插槽324，集成电路310可分离式的容置于集成电路插槽324中，并且第一负载探针321将第一负载引脚204耦接至第一负载330，第二负载探针322将第二负载引脚205耦接至第二负载340，电压探针323将电压引脚206耦接至电压计350。
由于第一电源单元201以及第二电源单元202分别通过第一负载探针321以及第二负载探针322耦接至第一负载330以及第二负载340，因此第一负载330对第一电源单元201抽取第一负载电流I1，第二负载340对第二电源单元202抽取第二负载电流I2。
处理器360利用选择信号SC，将第一输出电压V1以及第二输出电压V2中的一个输出至集成电路310的电压引脚313。处理器360还利用测量信号SM，控制电压计350测量电压探针323的电压值并发出电压信号SV至处理器360，处理器360根据电压信号SV以及所发出的选择信号SC，得知第一输出电压V1以及第二输出电压V2的电压值。
根据本发明的一实施例，处理器360根据一测试逻辑输出选择信号SC以及测量信号SM，以序列地将第一输出电压V1以及第二输出电压V2输出至电压引脚313，且序列地测量输出于电压探针323的第一输出电压V1以及第二输出电压V2，并将测量的第一输出电压V1以及第二输出电压V2存储于暂存器(图3并未显示)中。根据本发明的另一实施例，选择开关203可根据测试逻辑，并根据使用者所设定的序列依序输出第一输出电压V1以及第二输出电压V2至电压引脚206。
根据本发明的另一实施例，集成电路310具有多个电源单元，选择开关203根据测试逻辑，序列地输出多个电源单元的多个输出电压至电压引脚206，且序列地测量输出于电压探针323的输出电压，并将测量的多个输出电压存储于暂存器(图3并未显示)中。
根据本发明的另一实施例，第一负载330以及第二负载340分别为一电子式负载(electronicload)，其中电子式负载可以手动设定抽取的第一负载电流I1以及第二负载电流I2的大小。根据本发明的另一实施例，第一负载330以及第二负载340可以为电阻、电子式负载以及电阻与电子式负载的任意组合。
图4是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试方法的流程图。以下针对图4的流程图的叙述，将搭配图3的方块图予以详细说明。如图4所示，首先利用第一负载330对第一电源单元201抽取第一负载电流I1，利用第二负载340对第二电源单元202抽取第二负载电流I2(步骤S1)。
接着，根据选择信号SC，选择将第一输出电压V1以及第二输出电压V2中的一个输出至电压引脚206(步骤S2)。最后，根据测量信号SM，测量第一输出电压V1以及第二输出电压V2(步骤S3)。
根据本发明的一实施例，步骤S2中还利用选择信号SC序列输出第一输出电压V1以及第二输出电压V2，并在步骤S3中利用测量信号SM，序列测量第一输出电压V1以及第二输出电压V2，并将测量的第一输出电压V1以及第二输出电压V2存储于暂存器中。
以图3的第一电源单元201为例，当选择信号SC选择第一输出电压V1输出至电压引脚206时，第一负载330对第一电源单元201抽取第一负载电流I1，若电压计350在第一负载探针321测量第一输出电压V1的话，第一负载电流I1与第一负载探针321的阻抗所造成的压降将使得测量的第一输出电压V1不准确，若是第一负载电流I1时更大的话尤甚。
然而，本发明利用选择开关203将第一输出电压V1导引至电压引脚206，利用电压计350通过电压探针323而测量得到。因此，电压计350所测量到的第一输出电压V1不受到第一负载电流I1与第一负载探针321所产成的压降的影响，而使得测量值低于实际第一电源单元201所输出的第一输出电压V1。
再者，由于集成电路插座320仅仅用于测试使用，在实际应用集成电路310时，待测的集成电路310焊接于印刷电路板上，因此第一负载探针321以及第二负载探针322所造成的压降在实际应用上并不存在。并且，根据本发明所述的集成电路测试装置300可轻易避开因第一负载探针321以及第二负载探针322的压降所造成的测量不准确的影响。
以上叙述许多实施例的特征，使本领域技术人员能够清楚理解本说明书的形态。本领域技术人员能够理解其可利用本发明揭示内容为基础以设计或更动其他工艺及结构而完成相同于上述实施例的目的和/或达到相同于上述实施例的优点。本领域技术人员亦能够理解不脱离本发明的精神和范围的等效构造可在不脱离本发明的精神和范围内作任意的更动、替代与润饰。

Claims (10)

1.一种集成电路，包括：
第一电源单元，输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚，其中上述第一负载引脚耦接至第一负载；
第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚，其中上述第二负载引脚耦接至第二负载；以及
选择开关，根据选择信号，选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至电压引脚。
2.如权利要求1所述的集成电路，其中上述选择开关为多工器。
3.如权利要求1所述的集成电路，其中上述第一负载以及上述第二负载为电阻或电子式负载。
4.如权利要求1所述的集成电路，其中上述选择开关还根据测试逻辑，序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚。
5.一种集成电路测试装置，包括：
集成电路，包括：
第一电源单元，输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚；
第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚；以及
选择开关，根据一选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至电压引脚；
集成电路插座，包括：
集成电路插槽，可分离地容置上述集成电路；
第一负载探针，耦接至上述第一负载引脚且耦接至第一负载；
第二负载探针，耦接至上述第二负载引脚且耦接至第二负载；以及
电压探针，耦接至上述电压引脚；
电压计，耦接至上述电压探针，根据测量信号测量上述电压探针的电压值而发出电压信号；以及
处理器，产生上述选择信号以及上述测量信号，并接收上述电压信号。
6.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述选择开关为多工器。
7.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述第一负载以及上述第二负载为电阻或电子式负载。
8.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述处理器还根据一测试逻辑输出上述选择信号以及上述测量信号，以序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚，且序列地测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压，并将上述第一输出电压以及上述第二输出电压存储于暂存器。
9.一种集成电路测试方法，适用于如权利要求5所述的集成电路测试装置，包括：
利用上述第一负载以及上述第二负载，分别对上述第一电源单元以及上述第二电源单元抽取第一电流以及第二电流；
根据上述选择信号，选择将上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至上述电压引脚；以及
根据上述测量信号，测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压。
10.如权利要求9所述的集成电路测试方法，还包括：
利用上述选择信号序列输出上述第一输出电压以及上述第二输出电压；
利用上述测量信号，序列测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压；以及
将上述第一输出电压以及上述第二输出电压的电压值存储于暂存器。
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